JPH10175158A - 半導体研磨装置 - Google Patents
半導体研磨装置Info
- Publication number
- JPH10175158A JPH10175158A JP33694396A JP33694396A JPH10175158A JP H10175158 A JPH10175158 A JP H10175158A JP 33694396 A JP33694396 A JP 33694396A JP 33694396 A JP33694396 A JP 33694396A JP H10175158 A JPH10175158 A JP H10175158A
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- JP
- Japan
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- polishing
- polishing cloth
- wafer
- movable
- level block
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体研磨装置において、研磨クロスの磨耗
後に研磨クロス交換のために定盤から研磨クロスを剥が
す作業には熟練を要し、誰にでも容易にできる作業では
なかった。また研磨クロスを定盤から剥離させる時に破
けてしまうと、装置内にダストを飛散し問題であった。
かかる場合でも容易かつ安全に定盤から研磨クロスを剥
離できることを目的とする。 【解決手段】 半導体研磨装置において、研磨面の定盤
2を複数個に分割し、制御装置8とセンサー4a、4
b、4cによって可動定盤1を種々の研磨クロス3の性
質に合った制御により相対的に任意な位置に移動する。
後に研磨クロス交換のために定盤から研磨クロスを剥が
す作業には熟練を要し、誰にでも容易にできる作業では
なかった。また研磨クロスを定盤から剥離させる時に破
けてしまうと、装置内にダストを飛散し問題であった。
かかる場合でも容易かつ安全に定盤から研磨クロスを剥
離できることを目的とする。 【解決手段】 半導体研磨装置において、研磨面の定盤
2を複数個に分割し、制御装置8とセンサー4a、4
b、4cによって可動定盤1を種々の研磨クロス3の性
質に合った制御により相対的に任意な位置に移動する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体製造工程にお
いて使用される研磨装置に関するもので、特に半導体ウ
エハーを平坦化しかつ鏡面状に研磨する工程に使用され
るものである。
いて使用される研磨装置に関するもので、特に半導体ウ
エハーを平坦化しかつ鏡面状に研磨する工程に使用され
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体研磨装置の概略を図8に示
す。かかる研磨装置は一般に、上部表面に研磨クロス3
を配置した回転可能な定盤2と、下面に半導体ウエハー
20を吸着し該ウエハーを研磨クロスの方向に加圧しな
がら保持するウエハー保持部19と、該ウエハー20と
研磨クロス3の間に研磨剤18を供給する研磨剤供給ノ
ズル17とを具備する。
す。かかる研磨装置は一般に、上部表面に研磨クロス3
を配置した回転可能な定盤2と、下面に半導体ウエハー
20を吸着し該ウエハーを研磨クロスの方向に加圧しな
がら保持するウエハー保持部19と、該ウエハー20と
研磨クロス3の間に研磨剤18を供給する研磨剤供給ノ
ズル17とを具備する。
【0003】定盤は通常研磨面である上部表面が水平に
なるように配置され、研磨クロスは定盤2の上部表面に
取外し可能に密着して配置される。被加工半導体ウエハ
ー20はウエハー保持部19の平坦な下面に研磨すべき
面を下向きにして真空吸着させる。ウエハーの研磨すべ
き面が研磨クロスに対置するようにウエハー保持部19
を研磨クロス3の上部に配置し、ウエハー20と研磨ク
ロス3の接触面に研磨剤粒子が液体に分散された研磨剤
18を供給しながら定盤2および必要があればウエハー
保持部19を回転し、ウエハー20に加重を加えながら
回転させることにより、ウエハ−を均等に押圧しながら
ウエハー表面を研磨する。
なるように配置され、研磨クロスは定盤2の上部表面に
取外し可能に密着して配置される。被加工半導体ウエハ
ー20はウエハー保持部19の平坦な下面に研磨すべき
面を下向きにして真空吸着させる。ウエハーの研磨すべ
き面が研磨クロスに対置するようにウエハー保持部19
を研磨クロス3の上部に配置し、ウエハー20と研磨ク
ロス3の接触面に研磨剤粒子が液体に分散された研磨剤
18を供給しながら定盤2および必要があればウエハー
保持部19を回転し、ウエハー20に加重を加えながら
回転させることにより、ウエハ−を均等に押圧しながら
ウエハー表面を研磨する。
【0004】かかる研磨方法においては、ウエハーの研
磨処理を続けるに従って研磨クロス3の表面は劣化し、
また変形する場合がある。このため研磨クロスは定期的
に交換する必要がある。そこで交換を容易にするため、
研磨クロス3としては研磨クロスの一方の面に粘着剤を
付着させた粘着タイプの研磨クロスを使用する。そし
て、使用時には定盤の表面にこの粘着剤によって研磨ク
ロスを固定し、研磨クロスの表面が劣化した場合に作業
者が定番2の研磨面から劣化した研磨クロスを手作業で
剥がし新しい研磨クロスと交換する方法が採られてい
る。
磨処理を続けるに従って研磨クロス3の表面は劣化し、
また変形する場合がある。このため研磨クロスは定期的
に交換する必要がある。そこで交換を容易にするため、
研磨クロス3としては研磨クロスの一方の面に粘着剤を
付着させた粘着タイプの研磨クロスを使用する。そし
て、使用時には定盤の表面にこの粘着剤によって研磨ク
ロスを固定し、研磨クロスの表面が劣化した場合に作業
者が定番2の研磨面から劣化した研磨クロスを手作業で
剥がし新しい研磨クロスと交換する方法が採られてい
る。
【0005】しかし、研磨クロス3は薄くて破れやす
く、(具体的には厚さは一般的に約0.5 〜3mm であり材
質はポリウレタンまたはポリウレタン含浸ポリエステル
からなっている)、また研磨剤(一般的には超高純度シ
リカをアルカリ溶液中に分散させもの)が浸透して濡れ
ており作業性が悪いため、交換作業には熟練を要してい
た。さらに、研磨クロスの交換の作業中に研磨クロスが
破れてしまう場合がある。研磨クロスが破れると研磨装
置内に研磨クロスの一部がダストとして飛散し問題とな
っていた。
く、(具体的には厚さは一般的に約0.5 〜3mm であり材
質はポリウレタンまたはポリウレタン含浸ポリエステル
からなっている)、また研磨剤(一般的には超高純度シ
リカをアルカリ溶液中に分散させもの)が浸透して濡れ
ており作業性が悪いため、交換作業には熟練を要してい
た。さらに、研磨クロスの交換の作業中に研磨クロスが
破れてしまう場合がある。研磨クロスが破れると研磨装
置内に研磨クロスの一部がダストとして飛散し問題とな
っていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように半導
体研磨装置においては研磨クロスを定期的に交換する必
要があるが、この交換作業には熟練を要し誰にでもでき
るものではなかった。さらに、研磨クロスの交換作業中
に研磨クロスが破れてしまった場合、装置内をダストに
より汚染することが問題となっていた。
体研磨装置においては研磨クロスを定期的に交換する必
要があるが、この交換作業には熟練を要し誰にでもでき
るものではなかった。さらに、研磨クロスの交換作業中
に研磨クロスが破れてしまった場合、装置内をダストに
より汚染することが問題となっていた。
【0007】本発明の目的は上記の問題を解決し、研磨
クロスの交換作業を安全にかつ簡単に行うことができ、
交換作業時間を短縮して装置を停止させる時間を短く
し、単位時間あたりの生産ロット数を増加させることの
できる半導体研磨装置および研磨クロスの剥離方法を提
供することにある。
クロスの交換作業を安全にかつ簡単に行うことができ、
交換作業時間を短縮して装置を停止させる時間を短く
し、単位時間あたりの生産ロット数を増加させることの
できる半導体研磨装置および研磨クロスの剥離方法を提
供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明による半導体研磨
装置は、表面に粘着タイプの研磨クロスを貼り付けた定
盤とウエハー保持部により保持されたウエハーを対置さ
せ、研磨クロスとウエハーとの間に研磨剤を供給し、ウ
エハーに荷重を加えながらウエハーを回転させることに
よりウエハー表面を研磨する半導体研磨装置において、
粘着タイプの研磨クロスを定盤の研磨面から容易に剥離
させることができるように、定盤の研磨面を複数個に分
割したものである。この複数個に分割された定盤は、個
々に相対的に移動する機構を持つことにより、研磨クロ
スに適切な張力を加え、研磨クロスを簡単に定盤の研磨
面から引き剥がすことができるようにしたものである。
さらに、この分割された定盤は個々に任意の高さに移動
する機構を持ち、分割された定盤の上下動により研磨ク
ロスに張力を加え、研磨クロスを定盤の研磨面から引き
剥がすことができるようにしたものである。また、本発
明による半導体研磨装置は、複数個に分割された定盤を
それぞれ制御する制御装置を具備して確実に研磨クロス
の取り外し作業を行うものである。さらに、複数個に分
割された定盤を制御する制御装置は、定盤移動のための
データを記憶する記憶部を有し、このため、種類の異な
る種々の研磨クロスに対しても適切な剥離処理を容易に
行うことができる。
装置は、表面に粘着タイプの研磨クロスを貼り付けた定
盤とウエハー保持部により保持されたウエハーを対置さ
せ、研磨クロスとウエハーとの間に研磨剤を供給し、ウ
エハーに荷重を加えながらウエハーを回転させることに
よりウエハー表面を研磨する半導体研磨装置において、
粘着タイプの研磨クロスを定盤の研磨面から容易に剥離
させることができるように、定盤の研磨面を複数個に分
割したものである。この複数個に分割された定盤は、個
々に相対的に移動する機構を持つことにより、研磨クロ
スに適切な張力を加え、研磨クロスを簡単に定盤の研磨
面から引き剥がすことができるようにしたものである。
さらに、この分割された定盤は個々に任意の高さに移動
する機構を持ち、分割された定盤の上下動により研磨ク
ロスに張力を加え、研磨クロスを定盤の研磨面から引き
剥がすことができるようにしたものである。また、本発
明による半導体研磨装置は、複数個に分割された定盤を
それぞれ制御する制御装置を具備して確実に研磨クロス
の取り外し作業を行うものである。さらに、複数個に分
割された定盤を制御する制御装置は、定盤移動のための
データを記憶する記憶部を有し、このため、種類の異な
る種々の研磨クロスに対しても適切な剥離処理を容易に
行うことができる。
【0009】さらに、表面に粘着タイプの研磨クロスを
貼り付けた研磨面を複数個に分割した定盤とウエハー保
持部により保持されたウエハーを対置させ、研磨クロス
とウエハーとの間に研磨剤を供給し、ウエハーに荷重を
加えながらウエハーを回転させることによりウエハー表
面を研磨する半導体研磨装置において、前記複数個に分
割された研磨面を移動させることにより研磨面から研磨
クロスを剥がす剥離方法を提供するものである。
貼り付けた研磨面を複数個に分割した定盤とウエハー保
持部により保持されたウエハーを対置させ、研磨クロス
とウエハーとの間に研磨剤を供給し、ウエハーに荷重を
加えながらウエハーを回転させることによりウエハー表
面を研磨する半導体研磨装置において、前記複数個に分
割された研磨面を移動させることにより研磨面から研磨
クロスを剥がす剥離方法を提供するものである。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施形態を以下に
図1を用いて説明する。第1の実施形態における半導体
研磨装置の定盤は、粘着タイプの研磨クロス3を貼り付
ける研磨面の中央部を分割し、研磨面に対して垂直方向
に移動する中央部の可動定盤1と、それを保持する固定
定盤2から構成されている。通常の動作状態では、可動
定盤1と固定定盤2の各研磨面は同一平面を成し、研磨
クロス3はその上に水平になるようにそして取り外し可
能に接着されている。
図1を用いて説明する。第1の実施形態における半導体
研磨装置の定盤は、粘着タイプの研磨クロス3を貼り付
ける研磨面の中央部を分割し、研磨面に対して垂直方向
に移動する中央部の可動定盤1と、それを保持する固定
定盤2から構成されている。通常の動作状態では、可動
定盤1と固定定盤2の各研磨面は同一平面を成し、研磨
クロス3はその上に水平になるようにそして取り外し可
能に接着されている。
【0011】図1は研磨クロスを定盤から取外す工程に
おいて、可動定盤1が上昇し始めた状態を示す。研磨ク
ロス3を剥がす際には、例えば円形の可動定盤1の研磨
面の高さを徐々に高くして可動定盤の上方から均一に研
磨クロスに張力を加え、固定定盤2上の研磨クロスを中
央部から順次周辺部方向に引き剥がすことにより行う。
図1は固定定盤2上の研磨クロスが中央部付近において
一部剥離を開始している状態を示している。
おいて、可動定盤1が上昇し始めた状態を示す。研磨ク
ロス3を剥がす際には、例えば円形の可動定盤1の研磨
面の高さを徐々に高くして可動定盤の上方から均一に研
磨クロスに張力を加え、固定定盤2上の研磨クロスを中
央部から順次周辺部方向に引き剥がすことにより行う。
図1は固定定盤2上の研磨クロスが中央部付近において
一部剥離を開始している状態を示している。
【0012】図1において、可動定盤1の上昇は、エア
シリンダ5内にポンプ7によって高圧エアを送り込むこ
とによって行われる。これらの制御は、可動定盤1の下
端部の位置を3個のレベルセンサ4a、4b、4cによ
り検出し、切り替えバルブ6の開閉を制御する制御装置
8によって行われる。固定定盤2上の研磨クロスが剥離
されれば、後の可動定盤1上の研磨クロスの剥離は手作
業でも容易に行うことができる。
シリンダ5内にポンプ7によって高圧エアを送り込むこ
とによって行われる。これらの制御は、可動定盤1の下
端部の位置を3個のレベルセンサ4a、4b、4cによ
り検出し、切り替えバルブ6の開閉を制御する制御装置
8によって行われる。固定定盤2上の研磨クロスが剥離
されれば、後の可動定盤1上の研磨クロスの剥離は手作
業でも容易に行うことができる。
【0013】逆に可動定盤1を下降させるときには、例
えばバルブ6を解放しエアシリンダ5内のエアを抜くこ
とによって行う。本発明の第2の実施形態を図2を用い
ながら説明する。第2の実施形態は、第1の実施形態と
同様の構造を持ちながら可動定盤1の形状を変えたもの
である。
えばバルブ6を解放しエアシリンダ5内のエアを抜くこ
とによって行う。本発明の第2の実施形態を図2を用い
ながら説明する。第2の実施形態は、第1の実施形態と
同様の構造を持ちながら可動定盤1の形状を変えたもの
である。
【0014】第2の実施形態の半導体研磨装置は、粘着
タイプの研磨クロス(図中では見やすさの便から研磨ク
ロスを省略してあるが、本来は研磨面の上面に位置す
る。)を貼り付ける研磨面を十字型に分割し、これを研
磨面に対して垂直方向に移動する可動定盤1と、それを
保持する固定定盤2から構成されている。またここで可
動定盤と固定定盤という呼び方を用いているが、可動定
盤と固定定盤の移動は相対的なものであって、第2の実
施形態において前記可動定盤1が固定されていて前記固
定定盤2が下方へ移動しても研磨クロスの剥離は可能で
あり、また前記可動定盤1が上方へ移動し、前記固定定
盤2が下方へ移動するというように、両者が相対的に移
動しても研磨クロス(前記同様図中では省略してあ
る。)の剥離が可能なのはいうまでもない。
タイプの研磨クロス(図中では見やすさの便から研磨ク
ロスを省略してあるが、本来は研磨面の上面に位置す
る。)を貼り付ける研磨面を十字型に分割し、これを研
磨面に対して垂直方向に移動する可動定盤1と、それを
保持する固定定盤2から構成されている。またここで可
動定盤と固定定盤という呼び方を用いているが、可動定
盤と固定定盤の移動は相対的なものであって、第2の実
施形態において前記可動定盤1が固定されていて前記固
定定盤2が下方へ移動しても研磨クロスの剥離は可能で
あり、また前記可動定盤1が上方へ移動し、前記固定定
盤2が下方へ移動するというように、両者が相対的に移
動しても研磨クロス(前記同様図中では省略してあ
る。)の剥離が可能なのはいうまでもない。
【0015】なお図2(a)で示される本発明の第2の
実施例の斜視図では、見やすいように便宜上研磨クロス
を省いてあるが、実際は各々の定盤の相対的な垂直方向
移動によって一部剥離を開始している状態においては、
可動定盤1もしくは固定定盤2の上に研磨クロスが位置
するものである。
実施例の斜視図では、見やすいように便宜上研磨クロス
を省いてあるが、実際は各々の定盤の相対的な垂直方向
移動によって一部剥離を開始している状態においては、
可動定盤1もしくは固定定盤2の上に研磨クロスが位置
するものである。
【0016】研磨クロスを押し上げる定盤1または定盤
2の面積が大きいこと、および押し上げる部分が定盤の
中央部のみならず周辺部にも配置されることにより、更
に研磨クロスの破損を防止でき、安定した研磨クロスの
剥離を行うことができる。
2の面積が大きいこと、および押し上げる部分が定盤の
中央部のみならず周辺部にも配置されることにより、更
に研磨クロスの破損を防止でき、安定した研磨クロスの
剥離を行うことができる。
【0017】可動定盤1の形状は、第1の実施形態の円
形および第2の実施形態の十字型に限定されるものでは
なく、様々な形状のものに置き換えられるのはいうまで
もない。
形および第2の実施形態の十字型に限定されるものでは
なく、様々な形状のものに置き換えられるのはいうまで
もない。
【0018】本発明の第3の実施形態を図3を用いなが
ら説明する。第3の実施形態は、第1の実施形態と同様
の構造を持ちながら可動定盤1を複数個設けるものであ
る。第3の実施形態の半導体研磨装置は、第1の実施形
態および第2の実施形態と同様粘着タイプの研磨クロス
3を貼り付ける研磨面を複数の部分に分割したものであ
るが、研磨面に対して垂直方向に移動可能な複数の可動
定盤1と、それを保持する固定定盤2から構成されてい
る。通常の動作状態では、複数の可動定盤1と固定定盤
2の各研磨面は同一平面を成し、研磨クロス3はその上
に水平になるようにそして取り外し可能に接着されてい
る。図3は2つの可動定盤1が上昇し始めた状態を示
す。固定定盤2上の研磨クロスが2つの可動定盤1の周
囲部において一部剥離を開始している状態を示してい
る。
ら説明する。第3の実施形態は、第1の実施形態と同様
の構造を持ちながら可動定盤1を複数個設けるものであ
る。第3の実施形態の半導体研磨装置は、第1の実施形
態および第2の実施形態と同様粘着タイプの研磨クロス
3を貼り付ける研磨面を複数の部分に分割したものであ
るが、研磨面に対して垂直方向に移動可能な複数の可動
定盤1と、それを保持する固定定盤2から構成されてい
る。通常の動作状態では、複数の可動定盤1と固定定盤
2の各研磨面は同一平面を成し、研磨クロス3はその上
に水平になるようにそして取り外し可能に接着されてい
る。図3は2つの可動定盤1が上昇し始めた状態を示
す。固定定盤2上の研磨クロスが2つの可動定盤1の周
囲部において一部剥離を開始している状態を示してい
る。
【0019】第3の実施形態においても第1の実施形態
と同様研磨クロス3を剥がす際には、各可動定盤1の研
磨面の高さを徐々に高くして、各可動定盤1により上方
から均一に研磨クロスに張力を加え、研磨クロスを可動
定盤部から順次その周辺部方向に引き剥がすことにより
行われる。各可動定盤1の上昇は、エアシリンダ5内に
ポンプ7によって高圧エアを送り込むことによって行
う。これらの制御は、各可動定盤1の下端部の位置をそ
れぞれ3個のレベルセンサ4a、4b、4cにより検出
し、各切り替えバルブ6の開閉を制御する制御装置8に
よって行われる。逆に可動定盤1を下降させるときに
は、バルブ6を解放しエアシリンダ5内のエアを抜くこ
とによって行う。
と同様研磨クロス3を剥がす際には、各可動定盤1の研
磨面の高さを徐々に高くして、各可動定盤1により上方
から均一に研磨クロスに張力を加え、研磨クロスを可動
定盤部から順次その周辺部方向に引き剥がすことにより
行われる。各可動定盤1の上昇は、エアシリンダ5内に
ポンプ7によって高圧エアを送り込むことによって行
う。これらの制御は、各可動定盤1の下端部の位置をそ
れぞれ3個のレベルセンサ4a、4b、4cにより検出
し、各切り替えバルブ6の開閉を制御する制御装置8に
よって行われる。逆に可動定盤1を下降させるときに
は、バルブ6を解放しエアシリンダ5内のエアを抜くこ
とによって行う。
【0020】可動定盤を複数個設けることにより複数の
部分において剥離を開始できるなど様々な剥離方法、剥
離形態が可能となり、種類の異なる研磨クロスの剥離に
対しても柔軟に対応することができる。
部分において剥離を開始できるなど様々な剥離方法、剥
離形態が可能となり、種類の異なる研磨クロスの剥離に
対しても柔軟に対応することができる。
【0021】また複数の可動定盤1は互いに同じ動きを
することに限定されておらず、例えば複数設けた可動定
盤1の端の方から順に徐々に高さを増していくなど様々
な形態が可能であることはいうまでもない。
することに限定されておらず、例えば複数設けた可動定
盤1の端の方から順に徐々に高さを増していくなど様々
な形態が可能であることはいうまでもない。
【0022】本発明の第4の実施形態を図4を用いなが
ら説明する。第4の実施形態は、第1の実施形態と同様
の構造を持ちながら可動定盤を複数個設け、一つの可動
定盤1bにもう一つの可動定盤1aを内蔵して設けるよ
うに構成したものである。
ら説明する。第4の実施形態は、第1の実施形態と同様
の構造を持ちながら可動定盤を複数個設け、一つの可動
定盤1bにもう一つの可動定盤1aを内蔵して設けるよ
うに構成したものである。
【0023】第4の実施形態の半導体研磨装置は、粘着
タイプの研磨クロス3を貼り付ける研磨面を可動部分1
aとその周囲の可動部分1bと固定部分2に分割したも
ので、研磨面に対して垂直方向に移動できる可動定盤1
aとそれ自身垂直方向に移動可能でしかも可動定盤1a
を保持する可動定盤1bと、この可動定盤1bを保持す
る固定定盤2から構成されている。第1の実施形態と同
様通常の動作状態では、可動定盤1aと可動定盤1bお
よび固定定盤2の各研磨面は同一平面を成し、研磨クロ
ス3はその上に水平になるようにそして取り外し可能に
接着されている。図4は可動定盤1a及び可動定盤1b
が同時に上昇し始めた状態を示す。固定定盤2上の研磨
クロスが可動定盤1aにおいて一部剥離を開始している
状態を示している。
タイプの研磨クロス3を貼り付ける研磨面を可動部分1
aとその周囲の可動部分1bと固定部分2に分割したも
ので、研磨面に対して垂直方向に移動できる可動定盤1
aとそれ自身垂直方向に移動可能でしかも可動定盤1a
を保持する可動定盤1bと、この可動定盤1bを保持す
る固定定盤2から構成されている。第1の実施形態と同
様通常の動作状態では、可動定盤1aと可動定盤1bお
よび固定定盤2の各研磨面は同一平面を成し、研磨クロ
ス3はその上に水平になるようにそして取り外し可能に
接着されている。図4は可動定盤1a及び可動定盤1b
が同時に上昇し始めた状態を示す。固定定盤2上の研磨
クロスが可動定盤1aにおいて一部剥離を開始している
状態を示している。
【0024】研磨クロス3を剥がす際には、可動定盤1
aおよび可動定盤1bの研磨面の高さを徐々に高くして
可動定盤1aおよび可動定盤1bにより上方から均一に
研磨クロス張力を加え、研磨クロスを中央部から順次周
辺部方向に引き剥がすことにより行われる。可動定盤1
aおよび可動定盤1bの上昇は、エアシリンダ5内にポ
ンプ7によって高圧エアを送り込むことによって行う。
これらの制御は、可動定盤1の下端部の位置を6個のレ
ベルセンサ4a、4b、4c、4d、4e、4fにより
検出し、切り替えバルブ6の開閉を制御する制御装置8
によって行われる。逆に可動定盤1aおよび可動定盤1
bを下降させるときには、バルブ6を解放しエアシリン
ダ5内のエアを抜くことによって行う。
aおよび可動定盤1bの研磨面の高さを徐々に高くして
可動定盤1aおよび可動定盤1bにより上方から均一に
研磨クロス張力を加え、研磨クロスを中央部から順次周
辺部方向に引き剥がすことにより行われる。可動定盤1
aおよび可動定盤1bの上昇は、エアシリンダ5内にポ
ンプ7によって高圧エアを送り込むことによって行う。
これらの制御は、可動定盤1の下端部の位置を6個のレ
ベルセンサ4a、4b、4c、4d、4e、4fにより
検出し、切り替えバルブ6の開閉を制御する制御装置8
によって行われる。逆に可動定盤1aおよび可動定盤1
bを下降させるときには、バルブ6を解放しエアシリン
ダ5内のエアを抜くことによって行う。
【0025】可動定盤を二重にして設けることにより、
研磨クロスにかかる張力を分散できるなど、様々な剥離
方法、剥離形態が可能になり、種類の異なる研磨クロス
の剥離に対し柔軟に対応することができる。また、複数
個設けた可動定盤1a、可動定盤1bの動き方は上記に
限定されるわけではなく、可動定盤1bを上昇させた後
で可動定盤1aを上昇させるなど、種々の方法が可能で
あることはいうまでもない。
研磨クロスにかかる張力を分散できるなど、様々な剥離
方法、剥離形態が可能になり、種類の異なる研磨クロス
の剥離に対し柔軟に対応することができる。また、複数
個設けた可動定盤1a、可動定盤1bの動き方は上記に
限定されるわけではなく、可動定盤1bを上昇させた後
で可動定盤1aを上昇させるなど、種々の方法が可能で
あることはいうまでもない。
【0026】本発明の第5の実施形態を図5を用いなが
ら説明する。本発明の第5の実施形態は、第1の実施形
態と同様の構造を持ちながら第1の実施形態の可動定盤
1の可動部分に対し回転運動を加えることができるよう
にしたものである。
ら説明する。本発明の第5の実施形態は、第1の実施形
態と同様の構造を持ちながら第1の実施形態の可動定盤
1の可動部分に対し回転運動を加えることができるよう
にしたものである。
【0027】本発明の半導体研磨装置は、粘着タイプの
研磨クロス3を貼り付ける研磨面の中央部を分割し、こ
れを研磨面に対して垂直方向に移動する可動定盤11
と、その中に内蔵される回転用のモータ9、可動定盤1
1の上部に回転用金属板10、そして可動定盤11を保
持する固定定盤2から構成されている。
研磨クロス3を貼り付ける研磨面の中央部を分割し、こ
れを研磨面に対して垂直方向に移動する可動定盤11
と、その中に内蔵される回転用のモータ9、可動定盤1
1の上部に回転用金属板10、そして可動定盤11を保
持する固定定盤2から構成されている。
【0028】研磨クロス3を剥がす際には、可動定盤1
1の研磨面の高さを徐々に高くして金属板10の上方か
ら均一に研磨クロス張力を加え、研磨クロスを中央部か
ら順次周辺部方向に引き剥がすことにより行われる。可
動定盤11の上昇は、エアシリンダ5内にポンプ7によ
って高圧エアを送り込むことによって行う。これらの制
御は、可動定盤11の下端部の位置を3個のレベルセン
サ4a、4b、4cにより検出し、切り替えバルブ6の
開閉を制御する制御装置8によって行われる。逆に可動
定盤11を下降させるときには、バルブ6を解放しエア
シリンダ5内のエアを抜くことによって行う。
1の研磨面の高さを徐々に高くして金属板10の上方か
ら均一に研磨クロス張力を加え、研磨クロスを中央部か
ら順次周辺部方向に引き剥がすことにより行われる。可
動定盤11の上昇は、エアシリンダ5内にポンプ7によ
って高圧エアを送り込むことによって行う。これらの制
御は、可動定盤11の下端部の位置を3個のレベルセン
サ4a、4b、4cにより検出し、切り替えバルブ6の
開閉を制御する制御装置8によって行われる。逆に可動
定盤11を下降させるときには、バルブ6を解放しエア
シリンダ5内のエアを抜くことによって行う。
【0029】また研磨クロスの剥離を促進させるため
に、必要に応じて可動定盤11上の金属板10をモータ
9を使って回転させることができる。以上のように可動
定盤を複数に分割し、かつ必要に応じて可動定盤11の
みに回転運動を加味することにより、可動定盤11上の
研磨クロスも手作業によらずに剥離できるなど、様々な
剥離方法、剥離形態が可能になり、種々の研磨クロスの
剥離に対し柔軟に対応することができる。
に、必要に応じて可動定盤11上の金属板10をモータ
9を使って回転させることができる。以上のように可動
定盤を複数に分割し、かつ必要に応じて可動定盤11の
みに回転運動を加味することにより、可動定盤11上の
研磨クロスも手作業によらずに剥離できるなど、様々な
剥離方法、剥離形態が可能になり、種々の研磨クロスの
剥離に対し柔軟に対応することができる。
【0030】また第5の実施形態の半導体研磨装置の可
動定盤11は、上下運動に回転運動を加えて螺旋運動を
するものであるが、単独で螺旋運動をする機構を用いる
ことも可能であることはいうまでもない。また金属板1
0の材質は、耐薬品(研磨剤等)性があれば良く、種々
の材料を用いることが可能であることはいうまでもな
い。さらに、複数個に分割された定盤を制御する制御装
置8は、定盤移動のためのデータを記憶する記憶部を有
することができ、このため、種類の異なる種々の研磨ク
ロスに対しても適切な剥離処理を容易に行うことができ
る。例として図7に高さ制御の例を図7に示す。図7
は、第1の実施形態において可動定盤1が行った駆動の
位置(高さ)と時間との関係を表したものである。可動
定盤1はこの特性図に示されるように、単なる等速度運
動ではなく、研磨クロスの性質に対応して適切に制御さ
れる。図7に示されるような制御データは様々な研磨ク
ロスについて作成される。第1の実施形態の例でいえ
ば、半導体研磨装置の可動定盤1、レベルセンサー4
a,4b,4cおよび制御装置8を用いて、種々の研磨
クロスに対して最適の剥離プロセスを採用できることは
いうでもない。
動定盤11は、上下運動に回転運動を加えて螺旋運動を
するものであるが、単独で螺旋運動をする機構を用いる
ことも可能であることはいうまでもない。また金属板1
0の材質は、耐薬品(研磨剤等)性があれば良く、種々
の材料を用いることが可能であることはいうまでもな
い。さらに、複数個に分割された定盤を制御する制御装
置8は、定盤移動のためのデータを記憶する記憶部を有
することができ、このため、種類の異なる種々の研磨ク
ロスに対しても適切な剥離処理を容易に行うことができ
る。例として図7に高さ制御の例を図7に示す。図7
は、第1の実施形態において可動定盤1が行った駆動の
位置(高さ)と時間との関係を表したものである。可動
定盤1はこの特性図に示されるように、単なる等速度運
動ではなく、研磨クロスの性質に対応して適切に制御さ
れる。図7に示されるような制御データは様々な研磨ク
ロスについて作成される。第1の実施形態の例でいえ
ば、半導体研磨装置の可動定盤1、レベルセンサー4
a,4b,4cおよび制御装置8を用いて、種々の研磨
クロスに対して最適の剥離プロセスを採用できることは
いうでもない。
【0031】本発明の第6の実施形態を図6を用いなが
ら説明する。本発明の第6の実施形態は、可動定盤12
の構造が第1の実施形態とは違い、ネジ13をモーター
の動力で回転させ、可動定盤12を上下運動させるもの
である。また、長さ可変式シャーシ15はシャーシ14
の中に一部内蔵されており、モータ16の回転によりシ
ャーシ14を回転させながらシャーシ14の長さを変え
させて上下運動をさせる構造になっている。また第1の
実施形態と同様に、制御装置8がレベルセンサー4a、
4b、4cを使って可動定盤12を制御することによ
り、様々な研磨クロス3に対応することができる。
ら説明する。本発明の第6の実施形態は、可動定盤12
の構造が第1の実施形態とは違い、ネジ13をモーター
の動力で回転させ、可動定盤12を上下運動させるもの
である。また、長さ可変式シャーシ15はシャーシ14
の中に一部内蔵されており、モータ16の回転によりシ
ャーシ14を回転させながらシャーシ14の長さを変え
させて上下運動をさせる構造になっている。また第1の
実施形態と同様に、制御装置8がレベルセンサー4a、
4b、4cを使って可動定盤12を制御することによ
り、様々な研磨クロス3に対応することができる。
【0032】定盤を複数に分割し、可動定盤の上下動を
モータによる回転運動により行うことにより複雑な制御
が容易になり、様々な剥離方法、剥離形態が可能にな
り、種々の研磨クロスの剥離に対し柔軟に対応すること
ができる。
モータによる回転運動により行うことにより複雑な制御
が容易になり、様々な剥離方法、剥離形態が可能にな
り、種々の研磨クロスの剥離に対し柔軟に対応すること
ができる。
【0033】このようにエアシリンダー以外の駆動装置
を用いて可動定盤を動作させることによっても、本発明
の研磨クロスの剥離において上記実施の形態と同様の効
果を有することができ、その他の駆動装置としては油
圧、ラックとピニオン、カムシャフト、リンク等を用い
ても可能であることはいうまでもない。
を用いて可動定盤を動作させることによっても、本発明
の研磨クロスの剥離において上記実施の形態と同様の効
果を有することができ、その他の駆動装置としては油
圧、ラックとピニオン、カムシャフト、リンク等を用い
ても可能であることはいうまでもない。
【0034】
【発明の効果】本発明の半導体研磨装置を用いることに
より、容易に研磨クロスを剥がし交換することができ、
クロスを破いて装置内にダストを飛散することがなく、
研磨クロスの交換時間の短縮によって作業者の作業軽減
ができ、また作業効率および生産効率の向上がはかれ
る。また、本発明を実施するのに従来のように熟練を要
することなく、安全にかつ容易に作業が可能である。
より、容易に研磨クロスを剥がし交換することができ、
クロスを破いて装置内にダストを飛散することがなく、
研磨クロスの交換時間の短縮によって作業者の作業軽減
ができ、また作業効率および生産効率の向上がはかれ
る。また、本発明を実施するのに従来のように熟練を要
することなく、安全にかつ容易に作業が可能である。
【図1】本発明の第1の実施形態に係る半導体研磨装置
を示す断面図。
を示す断面図。
【図2】本発明の第2の実施形態に係る半導体研磨装置
を示す斜視図及び上面図。
を示す斜視図及び上面図。
【図3】本発明の第3の実施形態に係る半導体研磨装置
を示す断面図。
を示す断面図。
【図4】本発明の第4の実施形態に係る半導体研磨装置
を示す断面図。
を示す断面図。
【図5】本発明の第5の実施形態に係る半導体研磨装置
を示す断面図。
を示す断面図。
【図6】本発明の第6の実施形態に係る半導体研磨装置
を示す断面図。
を示す断面図。
【図7】本発明の第1の実施形態に係る可動定盤のシー
ケンスの一例を示す図。
ケンスの一例を示す図。
【図8】従来の半導体研磨装置を示す断面図。
1…可動定盤 2…固定定盤 3…研磨クロス 4a、4d…上限センサー 4b、4e…原点センサー 4c、4f…下限センサー 5…エアシリンダー 6…切り替えバルブ 7…ポンプ 8…制御装置 9…モータ 10…金属板 11…可動定盤 12…可動定盤 13…ネジ 14…シャーシ 15…長さ可変式シャーシ 16…モータ 17…研磨剤供給ノズル 18…研磨剤 19…ウエハー保持部 20…ウエハー
フロントページの続き (72)発明者 本間 勉 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社内 (72)発明者 土屋 忠利 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社内 (72)発明者 成嶋 孝志 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社内 (72)発明者 山田 明弘 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社内
Claims (6)
- 【請求項1】表面に粘着タイプの研磨クロスを貼り付け
た定盤とウエハー保持部により保持されたウエハーを対
置させ、研磨クロスとウエハーとの間に研磨剤を供給
し、ウエハーに荷重を加えながらウエハーを回転させる
ことによりウエハー表面を研磨する半導体研磨装置にお
いて、前記定盤を複数個に分割したことを特徴とする半
導体研磨装置。 - 【請求項2】前記複数個に分割した定盤を個々に相対的
に移動する機構を持つことを特徴とする請求項1記載の
半導体研磨装置。 - 【請求項3】前記複数個に分割した定盤の研磨面を個々
に任意の高さに移動する機構を持つことを特徴とする請
求項1または請求項2記載の半導体研磨装置。 - 【請求項4】前記複数個に分割した定盤を移動する機構
を制御する制御装置を具備することを特徴とする請求項
2または請求項3記載の半導体研磨装置。 - 【請求項5】前記複数個に分割された定盤を制御する前
記制御装置が定盤移動のためのデータを記憶する記憶部
を有することを特徴とする請求項4記載の半導体研磨装
置。 - 【請求項6】表面に粘着タイプの研磨クロスを貼り付け
た研磨面を複数個に分割した定盤とウエハー保持部によ
り保持されたウエハーを対置させ、研磨クロスとウエハ
ーとの間に研磨剤を供給し、ウエハーに荷重を加えなが
らウエハーを回転させることによりウエハー表面を研磨
する半導体研磨装置において、前記複数個に分割した定
盤の研磨面を移動させることにより研磨面から研磨クロ
スを剥がすことを特徴とする研磨クロスの剥離方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33694396A JPH10175158A (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | 半導体研磨装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33694396A JPH10175158A (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | 半導体研磨装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10175158A true JPH10175158A (ja) | 1998-06-30 |
Family
ID=18304064
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33694396A Withdrawn JPH10175158A (ja) | 1996-12-17 | 1996-12-17 | 半導体研磨装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10175158A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014119598A1 (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-07 | 株式会社 荏原製作所 | 研磨装置、研磨パッド貼り付け方法、及び研磨パッド張り替え方法 |
CN104968472A (zh) * | 2013-01-31 | 2015-10-07 | 株式会社荏原制作所 | 研磨装置、研磨垫的贴附方法及研磨垫的更换方法 |
-
1996
- 1996-12-17 JP JP33694396A patent/JPH10175158A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014119598A1 (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-07 | 株式会社 荏原製作所 | 研磨装置、研磨パッド貼り付け方法、及び研磨パッド張り替え方法 |
CN104968472A (zh) * | 2013-01-31 | 2015-10-07 | 株式会社荏原制作所 | 研磨装置、研磨垫的贴附方法及研磨垫的更换方法 |
TWI607499B (zh) * | 2013-01-31 | 2017-12-01 | Ebara Corp | Polishing device, polishing pad attachment method, and polishing pad replacement method |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040302 |