JPH10170548A - 多ピンプローブユニット - Google Patents

多ピンプローブユニット

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JPH10170548A
JPH10170548A JP8352199A JP35219996A JPH10170548A JP H10170548 A JPH10170548 A JP H10170548A JP 8352199 A JP8352199 A JP 8352199A JP 35219996 A JP35219996 A JP 35219996A JP H10170548 A JPH10170548 A JP H10170548A
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Yukiya Kanda
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ピンプローブと多数のピンプローブを支持す
る構造とを共に簡単なものにして、部材の加工時間やユ
ニットの組み立てに要する時間を短く、大量生産に適す
るようにし、更に部材の加工精度も高めて均一ピッチを
得易くする。 【解決手段】 各ピンプローブ48に直線棒を用い、そ
れ等の各ピンプローブ48を一定距離離して配置した2
個の径の大きな球50と径の小さな球52との各中心を
通って貫通するガイド穴54、56内に挿通し、それ等
の大球50を隣接する球同士がいずれも接触して線状に
並び、又小球52を球同士がいずれも接触して線状に並
んで、大球列と小球列が平行となるように支持する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はX−Y方式インサー
キットテスタ等の回路基板検査装置に備える多ピンプロ
ーブユニットに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、実装基板即ち多数の電子部品等を
半田付けしたプリント基板はインサーキットテスタを用
いて、その基板の必要な測定点に適宜ピンプローブの先
端を接触させ、それ等の各部品の有無を電気的に検出
し、或いは各部品の特性値を電気的に測定して基板の良
否の判定を行っている。特に、X−Y方式インサーキッ
トテスタでは被検査基板を載せて固定する測定台上にX
−Yユニットを設置し、そのX軸方向に可動するアーム
の上にY軸方向に可動するZ軸ユニットを備え、そのZ
軸ユニットにアクチュエータを備えてピンプローブをZ
軸方向に可動可能に支持している。そして、検査時には
X−Yユニットを制御して、ピンプローブを基板の上方
からX軸、Y軸、Z軸方向にそれぞれ適宜移動し、予め
設定した各測定点に順次接触する。
【0003】しかも、検査時には通常1部品毎に複数個
の測定点を同時に測定しなければならないので、インサ
ーキットテスタに測定点の数に一致する複数個のX−Y
ユニットを備え付け、各X−Yユニットを個々的に制御
して、それ等に備えたピンプローブの移動をそれぞれ行
なっている。それ故、検査のスピードを上げ難い。その
上、基板上には通常リード(ピン)ピッチの異なる多種
類のICが実装されているので、特にICを検査する場
合等に問題がある。そこで、本出願人は先に特願平6−
172136号としてICの検査をスピード化するた
め、絶縁ベースに多数のピンプローブを互いに離して先
端が直線状に並ぶように備え付けた多ピンプローブユニ
ットを採用し、その多ピンプローブユニットをZ軸ユニ
ットに設置して、各ピンプローブをICに備えられてい
る多数のリード又はそれ等のリードが接続すべき対応す
る多数のパターンに同時に接触させた後に、順次必要な
測定を行う方法を提示した。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな多ピンプローブユニットを構成する絶縁ベース10
は図6に示すような正面形状を有し、その上端部付近と
下端部にそれぞれ正面方向にほぼ一定幅で均等に突出す
るアーチ状の支持部12、14を設け、そこには点線で
示す位置に多数例えば13本のピンプローブをそれぞれ
差し込むための上下に貫通する支持穴16(16a、…
…16m)、18(18a、……18m)を配設してあ
る。そして、ベース10に対し、各ピンプローブを対応
する穴16、18にそれぞれ差し込み、各ピンプローブ
の中心線20(20a、……20m)が一点鎖線で示す
位置にくるように配置する。しかも、これ等の各支持穴
16、18は全てのピンプローブの本体(金属棒)をそ
れぞれ突出させた時にそれ等の先端間が均一ピッチにな
るような角度にする。それ故、ベース10の構造が複雑
となり、高精度の加工が難しく、加工に時間が掛かる等
の問題がある。
【0005】又、各支持穴16、18に差し込むピンプ
ローブ22も図7に示すような複雑な構造を備えてい
る。それ故、部材の加工や組立てに時間が掛かるばかり
でなく、精度高く作らないと均一ピッチが得られない。
なお、24がエアシリンダー、26、28がそのエアシ
リンダー24の管壁に開けたエア供給口と排出口、30
がエアシリンダー24の内部に収納したピストン、32
がそのピストン30と一体に結合している金属棒、34
がその金属棒32の突出後退を案内するガイド、36が
金属棒32を後退する方向に付勢する圧縮コイルスプリ
ング、38が計測部との接続用端子である。
【0006】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、第1にピンプローブと多数のピ
ンプローブを支持する構造とを共に簡単なものにして、
部材の加工時間やユニットの組み立てに要する時間を短
く大量生産に適するようにし、更に部材の加工精度も高
めて均一ピッチを得ることのできる多ピンプローブユニ
ットを提供することを目的とする。又、第2に多数のピ
ンプローブを所定位置にそれぞれ配設する組み立て時間
を短くし、しかも任意のピンプローブの交換を簡単に行
える多ピンプローブユニットを提供することを目的とす
る。
【0007】又、第3に多数のピンプローブを所定位置
に正確にそれぞれ配設して、一層均一のピッチを得るこ
とのできる多ピンプローブユニットを提供することを目
的とする。又、第4に駆動部を分離、独立させることの
できるコンパクトで取り扱いの容易な多ピンプローブユ
ニットを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第1目的に対応する多ピンプローブユニッ
トではベースに多数のピンプローブを扇状に並べて、そ
れ等の隣接する2本のピンプローブをいずれも先端間の
距離を短く、後端間の距離を長く配置して支持する。そ
して、各ピンプローブにいずれも直線棒を用い、それ等
の各ピンプローブを一定距離離して配置した2個の径の
大きな球と径の小さな球との各中心を通って貫通するガ
イド穴内にそれぞれ挿通して、その両球によってピンプ
ローブの移動を案内させ、それ等の大球を隣接する球同
士がいずれも接触して線状に並び、又小球を隣接する球
同士がいずれも接触して線状に並んで、大球列と小球列
が平行となるように支持する。
【0009】又、第2目的に対応する多ピンプローブユ
ニットではベースに各大球の一部をそれぞれ収納する線
状溝と各小球の一部をそれぞれ収納する線状溝を平行と
なるように設け、それ等の線状溝に収納した大球、小球
を押圧により所定位置にそれぞれ支持し、その押圧の解
除により所定位置からそれぞれ解放する押圧・解除手段
を備え付ける。なお、押圧手段として各線状溝の所定位
置に各球を押し込むように押圧する引張コイルスプリン
グ付き押圧部材を用い、更に隣接する各球がいずれも接
触するように押圧する圧縮コイルスプリング付き押圧部
材を用いるとよい。
【0010】又、第3目的に対応する多ピンプローブユ
ニットでは各大球を大径の筒内に収納し、又各小球を小
径の筒内に収納して大球列と小球列を形成し、それ等の
大、小筒に大、小球を貫くピンプローブが挿通するガイ
ド穴を対応させてそれぞれ設け、それ等の大、小筒をベ
ースで支持する。
【0011】又、第4目的に対応する多ピンプローブユ
ニットではベースに各ピンプローブの後端部を支持する
後端部支持部材を固定し、その後端部支持部材に各ピン
プローブの後端部が挿通するガイド穴を設け、それ等の
各ピンプローブの後端部にピンプローブを常に後方に付
勢し、所定位置で止めるストッパー付き付勢手段を設け
る。なお、ストッパー付き付勢手段としてピンプローブ
の先端付近にストッパーとなる端子兼用の鍔状部材を固
定し、その鍔状部材と大球との間にピンプローブの後端
部に巻回した付勢手段となる圧縮コイルスプリングを介
在するとよい。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に基づいて、本発
明の実施の形態を説明する。図1は本発明を適用したX
−Y方式インサーキットテスタのZ軸に備える多ピンプ
ローブユニットとそれ等の各ピンプローブを駆動するエ
アシリンダ群とを示す前側押圧手段等を省略した概略正
面図、図2はその右側押圧手段等を省略した概略右側面
図である。図中、40は多ピンプローブユニット、4
2、44はその左右側面側に配置したプラスチック製等
の絶縁ベース、46はそれ等のベース42、44と一体
に結合した背面側の絶縁ベースである。なお、これ等の
絶縁ベース42、44、46は全体を射出成形等により
同時に一体に成形してもよいし、個別に成形した後に組
み立てて一体に結合してもよい。
【0013】又、48(48a、……48m)はいずれ
も超硬合金製等の金属棒からなるピンプローブ、50
(50a、……50m)はそれ等の各ピンプローブ48
を支持するセラミックス等の絶縁体からなる径の大きな
球、52(52a、……52m)は同質の径の小さな球
である。これ等の各ピンプローブ48は図3に示すよう
な直線棒にし、先端を鋭く突出させ、後端に丸みを設け
る。又、大球50と小球52にはピンプローブ48を挿
通するため、図4に示すように中心を通って貫通するガ
イド穴54、56をそれぞれ設ける。なお、各ガイド穴
54、56の内径はいずれも等しくし、ピンプローブ4
8を各ガイド穴54、56に挿通して自在に前進、後退
の移動ができるようにするため、ピンプローブ48の外
径より僅かに大きくする。
【0014】これ等の多数即ち13本のピンプローブ4
8をベース42、44、46に備え付ける場合、各ピン
プローブ48を一定距離離して配置した2個の大球5
0、小球52によってその後端寄り部分と先端寄り部分
の2箇所をそれぞれ案内させ、更に全ての大球50を隣
接する球同士がいずれも接触して直線状に並び、又全て
の小球52を隣接する球同士がいずれも接触して直線状
に並んで、大球列と小球列とが平行となるように支持し
なければならない。何故なら、多数のピンプローブ48
を扇状に並べて、それ等の隣接する2本のピンプローブ
48をいずれも先端間の距離を短く、後端間の距離を長
く配置する必要があるからである。
【0015】そこで、背面側ベース46にはその正面の
上端部と下端部とに各大球50の一部をそれぞれ収納す
るV形に凹んだ直線溝58と各小球52の一部をそれぞ
れ収納するV形に凹んだ直線溝60とを平行に配置して
設ける。すると、各大球50と各小球52とを対応する
直線溝58、60にそれぞれ一部ずつ入れることにより
大球列と小球列とを直線状に並べて平行に配置できる。
【0016】又、右側ベース44にはその上端部寄り部
分と下端部とに、直線溝58に収納した隣接する大球5
0同士がいずれも接触するように右から左方向に押圧
し、その押圧を解除できる側方押圧・解除手段62と、
直線溝60に収納した隣接する小球52同士がいずれも
接触するように右から左方向に押圧し、その押圧を解除
できる側方押圧・解除手段64とをそれぞれ設ける。そ
して、前者の側方押圧・解除手段62には圧縮コイルス
プリング66付きの押圧部材68を用い、後者の押圧・
解除手段64には圧縮コイルスプリング70付きの押圧
部材72を用いる。なお、両押圧部材68、72はいず
れも球を直接押す拡張した頭部と右側ベース44に設け
た貫通穴に挿通し支持されている棒状の足部とから構成
し、それ等の各足部のベース44より突出する頭部側部
分に圧縮コイルスプリング66、70をそれぞれ巻回す
る。
【0017】これ等の両側方押圧・解除手段62、64
を用いて、右端にある大球50mと小球52mとをそれ
ぞれ押すと、大球列と小球列をそれぞれ押すことにな
り、左端にある大球50aと小球52aとをいずれも左
側ベース42の上端部寄り部分と下端部とにそれぞれ押
し付けることができる。又、全ての大球50と小球52
が各直線溝58、60から抜け落ちるのを防止するた
め、それ等の大球50と小球52を各直線溝58、60
の所定位置にそれぞれ押し込むように前から後方向に押
圧し、その押圧を解除できる後方押圧・解除手段74、
76をそれぞれ設ける。
【0018】そして、前者の後方押圧・解除手段74に
は例えば引張コイルスプリング78付きの押圧部材80
を用い、後者の後方押圧・解除手段76には例えば引張
コイルスプリング82付きの押圧部材84を用いる。し
かも、両押圧部材80、84は全ての大球50と小球5
2とをそれぞれ列毎に一度に押圧できるようにするた
め、いずれも細長い部材にし、その部材80の両端部に
引張コイルスプリング78の一端をそれぞれ止め、又、
部材84の両端部にも引張コイルスプリング82の一端
をそれぞれ止める。なお、各引張コイルスプリング7
8、82の他端は多ピンプローブユニット40を備え付
けるZ軸ユニットのベース等に固定する。
【0019】このようにして、ベース42、44、46
に直線溝58、60を設け、押圧・解除手段62、6
4、74、76を備え付けると、大球列と小球列に対す
る押圧とその解放を自在に行えるため、ベース42、4
4、46の所定位置に13本のピンプローブ48をそれ
ぞれ配置して備え付ける組み立て時間を短縮化できる。
しかし、そのままでは13本のピンプローブ48を扇状
に並べて、それ等の隣接する2本のピンプローブ48を
いずれも先端間の距離を短く、後端間の距離を長く配置
しても、各ピンプローブ48が対となる大球50、小球
52からそれぞれ抜け落ちてしまい、所定の位置を保つ
ことができない。そこで、左右の側面ベース42、44
に各ピンプローブ48の後端部を挿通するガイド穴86
(86a……、86m)をそれぞれ対応させて設けたア
ーチ状の後端部支持部材88を掛け渡してその両端部を
ビス90等によりそれぞれ固定する。
【0020】又、これ等の各ピンプローブ48の後端部
にストッパー92付きの付勢手段94をそれぞれ備え付
ける。そして、ストッパー92には例えば屈曲した端子
部を有するステンレス製等の鍔状部材を用い、付勢手段
94には例えば圧縮コイルスプリングを用いる。しか
も、計測部と接続する端子兼用鍔状部材92はピンプロ
ーブ48の後端近傍にろう付け等により固定し、圧縮コ
イルスプリング94はその鍔状部材92と大球50との
間に介在してピンプローブ48の後端部付近に巻回す
る。すると、ピンプローブ48を常に後方に付勢し、そ
の後端部が不使用時に少し支持部材88から後方に突出
する所定位置でピンプローブ48を支持できる。なお、
鍔状部材92は後端部支持部材88の当然内側に設置す
る。
【0021】このようにして、多ピンプローブユニット
40を構成すると、各ピンプローブ48を直線棒にし、
それ等のガイドに大球50と小球52を用い、それ等の
大球50と小球52を押圧してベース42、44、46
に支持する構造を基本にするため、各ピンプローブ48
とそれ等のピンプローブ48を支持する構造が簡単なも
のになる。しかも、ベース42、44、46、ピンプロ
ーブ48、大球50、小球52等の部材の加工時間やユ
ニット40の組み立てに要する時間を短くし、更に部材
の加工精度も高めて均一ピッチを得ることができる。な
お、全てのピンプローブ48を突出させた時に先端間が
均一ピッチになるようにする。
【0022】そして、多ピンプローブユニット40の各
ピンプローブ48を駆動する駆動部96を分離、独立さ
せると、多ピンプローブユニット40をコンパクトで取
り扱い易いものにできる。その際、駆動部96にはZ軸
ユニットのベースで支持し、各ピンプローブ48に対応
させてエアシリンダー98(98a、……98m)を備
え付ける。なお、100は空気供給孔等を有するシリン
ダー、102はピストン、104は先端を拡張したピス
トンロッド、106はピストンロッド104を常に後退
する方向に付勢する圧縮コイルスプリングである。
【0023】検査時にはこれ等の多ピンプローブユニッ
ト40と駆動部96とをX−YユニットのZ軸ユニット
に備え付けた後、そのX−Yユニットを制御する。する
と、被検査物たる例えばICの多数のリードの上方に各
ピンプローブ48を対応させてそれぞれ配置できる。そ
こで、各エアシリンダ98を一度に駆動し、各ピストン
ロッド104の先端部で対応するピンプローブ48の後
端をそれぞれ押し、ピンプローブ48を突出させて先端
を対応するリード上に当接する。すると、適宜数の直接
測定の対象としたピンプローブ48に計測部より電圧を
印加し、又は電流を流す等して測定を行える。因みに、
破損したピンプローブ48の交換をする場合は大球列と
小球列に対する押圧を解除して大球50と小球52を解
放し、任意のピンプローブ48を一対の大球50、小球
52と圧縮コイルスプリング94を取り付けたユニット
状態のまま取り外して、新たな同一ユニットと交換する
等すればよく、ピンプローブの交換を簡単に行える。
【0024】なお、上記実施の形態では多数のピンプロ
ーブ48をベース42、44、46に備え付ける際、各
ピンプローブ48の移動を案内する多数の大球50と小
球52を直接ベース46に設けた対応する直線溝58、
60内にそれぞれ収納して大球列と小球列を形成し、更
に押圧・解除手段62、64、74、76を用いて支持
したが、図5に示すように多数の大球50を全て大径の
直線筒108の内部に収納し、又多数の小球52を全て
小径の直線筒110の内部に収納して大球列と小球列を
形成し、それ等の大、小筒108、110に大、小球5
0、52を貫くピンプローブ48が挿通するガイド穴1
12(112a、……112m)、114(114a、
……114m)を対応させてそれぞれ設け、それ等の
大、小筒108、110をベース42、44、46に同
様に支持してもよい。
【0025】後者の場合には大、小筒108、110に
多数の大、小球50、52を全て収納し支持するため、
大、小球50、52の所定位置からのずれを一層良く防
止できる。それ故、多数の各ピンプローブ48を所定位
置に正確にそれぞれ保つことができ、均一ピッチを一層
得易くなる。なお、大、小筒108、110の両端には
隣接する大球50同士がいずれも接触し、又隣接する小
球52同士がいずれも接触するように保つ支持蓋116
(116a、116b)、118(118a、118
b)をそれぞれ備え付ける。又、各ピンプローブ48の
挿通を容易にするため、大、小筒108、110の内径
を大、小球50、52の外径より僅かに大きくして、
大、小筒108、110の内部で大、小球50、52が
ある程度自在に回転できるようにする。
【0026】又、上記実施の形態では背面ベース46に
直線溝58、60を平行に設けることにより、大球列と
小球列をそれぞれ直線状にし、それ等の大球列と小球列
を平行に配置して支持する場合について説明したが、そ
のような各溝をそれぞれ径の大きな円弧溝にして平行に
設け、大球列と小球列をそれぞれ大円弧状にし、それ等
の大球列と小球列を平行に配置して支持することもでき
る。そして、収納筒108、110を使用する場合には
弾力性を有するものを用い円弧状に曲げて使用する。
【0027】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、請求項1
記載の発明では各ピンプローブにいずれも直線棒を用
い、それ等の各ピンプローブのガイドにピンプローブが
挿通する中心を通るガイド穴をそれぞれ有する一対の
大、小球を用いて、それ等のピンプローブを挿通した大
球列と小球列とを一定距離離して平行に支持するため、
ピンプローブと多数のピンプローブを支持する構造とを
共に簡単なものにして、部材の加工やユニットの組み立
てに要する時間を短くし、大量生産に適するようにでき
る。しかも、部材の加工精度を高めて均一ピッチを得易
くできる。
【0028】又、請求項2記載の発明ではベースに設け
た平行な直線溝の内部に大球と小球を一部ずつ収納して
大球列と小球列とを形成し、それ等の大、小球列に対し
て押圧・解除手段を用いるため、多数の大、小球に対す
る押圧とその解除が可能となり、多数のピンプローブを
所定位置にそれぞれ配設する組み立て時間を短くし、し
かも任意のピンプローブの交換を簡単に行える。
【0029】又、請求項3記載の発明では、多数の大、
小球を大、小筒内にそれぞれ収納して大、小球列を形成
するため、大、小球の所定位置からのずれを一層良く防
止できる。それ故、多数の各ピンプローブを所定位置に
正確にそれぞれ配設して一層均一のピッチを得ることが
できる。
【0030】又、請求項4記載の発明では、ベースに各
ピンプローブの後端部を挿通するガイド穴付きの後端部
支持部材を固定し、それ等の各後端部にピンプローブを
常に後方に付勢し、所定位置で止めるストッパー付き付
勢手段をそれぞれ備え付けるため、各ピンプローブを駆
動する駆動部を分離、独立させることが可能になり、多
ピンプローブユニットをコンパクトで取り扱いの容易な
ものにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したX−Y方式インサーキットテ
スタのZ軸ユニットに備える多ピンプローブユニットと
それ等の各ピンプローブを駆動する駆動部たるエアシリ
ンダー群とを示す前側押圧手段等を省略した概略正面図
である。
【図2】同多ピンプローブユニットとエアシリンダー群
とを示す右側押圧手段等を省略した概略右側面図であ
る。
【図3】同多ピンプローブユニットに備えるピンプロー
ブを示す正面図である。
【図4】同多ピンプローブユニットに備える大球と小球
を示す正面図である。
【図5】同X−Y方式インサーキットテスタのZ軸ユニ
ットに備える多ピンプローブユニットの他の一形態の要
部を示す正面図である。
【図6】従来のX−Y方式インサーキットテスタのZ軸
ユニットに備える多ピンプローブユニットを構成する絶
縁ベースの概略正面図である。
【図7】同多ピンプローブユニットに備えるピンプロー
ブの断面図である。
【符号の説明】
40…多ピンプローブユニット 42、44…左右側面
ベース 46…背面ベース 48…ピンプローブ 5
0、52…大、小球 54、56、86、112、11
4…ガイド穴 58、60…直線溝 62、64…側方
押圧・解除手段66、70、94、106…圧縮コイル
スプリング 68、72、80、84…押圧部材 7
4、76…後方押圧・解除手段 78、82…引張コイ
ルスプリング88…後端部支持部材 92…端子兼用鍔
状部材 96…駆動部 98…エアシリンダー 10
8、110…大、小筒 116、118…支持蓋

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ベースに多数のピンプローブを扇状に並
    べて、それ等の隣接する2本のピンプローブをいずれも
    先端間の距離を短く、後端間の距離を長く配置し支持し
    てなる多ピンプローブユニットにおいて、上記各ピンプ
    ローブにいずれも直線棒を用い、それ等の各ピンプロー
    ブを一定距離離して配置した2個の径の大きな球と径の
    小さな球との各中心を通って貫通するガイド穴内にそれ
    ぞれ挿通し、その両球によってピンプローブの移動を案
    内させ、それ等の大球を隣接する球同士がいずれも接触
    して線状に並び、又小球を隣接する球同士がいずれも接
    触して線状に並んで、大球列と小球列が平行となるよう
    に支持することを特徴とする多ピンプローブユニット。
  2. 【請求項2】 ベースに各大球の一部をそれぞれ収納す
    る線状溝と各小球の一部をそれぞれ収納する線状溝を平
    行となるように設け、それ等の線状溝に収納した大球、
    小球を押圧により所定位置にそれぞれ支持し、その押圧
    の解除により所定位置からそれぞれ解放する押圧・解除
    手段を備え付けることを特徴とする請求項1記載の多ピ
    ンプローブユニット。
  3. 【請求項3】 各大球を大径の筒内に収納し、又各小球
    を小径の筒内に収納して大球列と小球列を形成し、それ
    等の大、小筒に大、小球を貫くピンプローブが挿通する
    ガイド穴をそれぞれ設け、それ等の大、小筒をベースで
    支持することを特徴とする請求項1記載の多ピンプロー
    ブユニット。
  4. 【請求項4】 ベースに各ピンプローブの後端部を支持
    する後端部支持部材を固定し、その後端部支持部材に各
    ピンプローブの後端部が挿通するガイド穴を設け、それ
    等の各ピンプローブの後端部にピンプローブを常に後方
    に付勢し、所定位置で止めるストッパー付き付勢手段を
    設けることを特徴とする請求項1、2、又は3記載の多
    ピンプローブユニット。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2016057296A (ja) * 2014-09-10 2016-04-21 矢崎総業株式会社 導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法
CN113109598A (zh) * 2021-03-30 2021-07-13 渭南高新区木王科技有限公司 一种分体式单头探针筛板铆压机构

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016057296A (ja) * 2014-09-10 2016-04-21 矢崎総業株式会社 導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法
CN113109598A (zh) * 2021-03-30 2021-07-13 渭南高新区木王科技有限公司 一种分体式单头探针筛板铆压机构
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