JPH10162596A - アナログfifoメモリ及びスイッチング素子 - Google Patents

アナログfifoメモリ及びスイッチング素子

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JPH10162596A
JPH10162596A JP9129919A JP12991997A JPH10162596A JP H10162596 A JPH10162596 A JP H10162596A JP 9129919 A JP9129919 A JP 9129919A JP 12991997 A JP12991997 A JP 12991997A JP H10162596 A JPH10162596 A JP H10162596A
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memory
analog
circuit
bus
memory bus
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志郎 道正
Naoshi Yanagisawa
直志 柳沢
Hidehiko Kurimoto
秀彦 栗本
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 アナログFIFOメモリとして、書き込み時
と読み出し時とにおけるアナログ信号の誤差をなくし
て、書き込まれたアナログ信号が精度良く読み出せるよ
うにする。 【解決手段】 メモリセル10からメモリバス13を介
してアナログ信号を読み出す動作の前に、メモリバス1
3の寄生容量61に蓄積された電荷が除去されるよう、
メモリバス13を所定の電位に設定するリセット動作を
行う。入力手段15によって書き込み回路2とメモリバ
ス13とを切り離すと共に出力手段16によって読み出
し回路3とメモリバス13とを接続した状態で、読み出
し回路3のスイッチ32をオン状態にする。このとき読
み出し回路3の演算増幅器33の正相及び逆相入力端子
33a,33bは同一電位になるので、第1及び第2の
バス配線13A,13Bは同一電位になる。このため、
寄生容量61の電荷は放電される。各メモリセル10の
スイッチ12はオフ状態にしているので、容量素子11
に蓄積された,アナログ信号を表す電荷は保持されたま
まである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はアナログFIFOメ
モリに関するものであり、特に書き込み時と読み出し時
とにおけるアナログ信号の誤差を無くして、アナログF
IFOメモリの精度を向上させる技術に属する。
【0002】
【従来の技術】周知のとおり、従来のテレビ信号処理技
術はアナログ回路を用いて実現されている。テレビ信号
処理技術の中でも、近年、最も発展してきた技術がY/
C分離技術である。Y/C分離とは、カラーテレビ信号
から輝度信号(Y信号)と色差信号(C信号)とを分離
する技術である。Y/C分離は、従来アナログバンドパ
スフィルタやアナログバンドエリミネーションフィルタ
を用いて行われていたが、近年カラーテレビ信号の性質
を巧妙に利用したY/C分離が実現されるようになって
きた。
【0003】図26を用いて前記のY/C分離を説明す
る。図26(a)はNTSCカラーテレビ信号の周波数
スペクトルを表す図である。図26(a)に示すよう
に、NTSCカラーテレビ信号のうち輝度信号の周波数
スペクトルは、DCから4.2MHz付近までNTSC
カラーテレビ信号の水平同期信号の周波数で変調されて
分布している。これに対し色差信号の周波数スペクトル
は、3.57954Mzを中心に輝度信号に対してちょ
うど入れ子になるように、同様にNTSCカラーテレビ
信号の水平同期信号の周波数で変調されて分布してい
る。したがって、この輝度信号(Y信号)と色差信号
(C信号)とを分離するためには、図26(b)に示す
ような伝達関数を持つフィルタを実現すればよい。
【0004】このためには、図27(a)に示すよう
に、NTSCカラーテレビ信号(NTSC Compo
site)をこのNTSCカラーテレビ信号の水平同期
信号の一周期だけ遅延させて、元のNTSCカラーテレ
ビ信号と加算又は減算すればよい。すなわち前記のよう
なY/C分離を実現するためには、NTSCカラーテレ
ビ信号の水平同期信号の一周期だけ遅延させるために、
アナログのメモリ回路が必要になる。
【0005】従来は、このようなアナログのメモリ回路
としてはCCD回路が用いられていた。ところが、CC
D回路は、バイポーラトランジスタやCMOSトランジ
スタを製造するシリコンプロセスとは別のプロセス技術
を用いて製造されるため、バイポーラトランジスタやC
MOSトランジスタと同一のシリコンウエハ上に形成で
きないという問題があった。このため従来のTV信号L
SIでは、図27(b)に示すように、CCD回路で構
成したアナログメモリを外づけにしてNTSCカラーテ
レビ信号処理回路を実現しなければならなかった。
【0006】そこで、アナログFIFOメモリをバイポ
ーラトランジスタやCMOSトランジスタ回路によって
構成して、図27(c)に示すような1チップTV信号
LSIを実現しようとする試みがなされてきた。
【0007】図28(a)は従来のアナログFIFOメ
モリの基本構成を示す図である(Ken A. Nishimura et
al."A Monolithic Analog Video Comb Filter in 1.2-
μm CMOS",IEEE Journal of Solid-State Circuite,Vo
l.28,No.12,December 1993,pp1331-1339に開示)。図2
8(a)において、1はメモリセル10が接続されたメ
モリバス13A,13Bを備えたメモリバス回路、2は
メモリバス回路1のメモリセル10に入力信号を書き込
む,スイッチトキャパシタサンプルホールド(SCS
H)回路20と演算増幅器25を備えた書き込み回路、
3はメモリバス回路1のメモリセル10から出力信号を
読み出す読み出し回路である。メモリバス回路1は書き
込み回路2からの信号入力を制御する入力手段15及び
読み出し回路3への信号出力を制御する出力手段16を
備えている。ここでは図28(a)に示す従来のアナロ
グFIFOメモリは、図28(b)に示すようなハイア
クティブな二相クロック信号φ1,φ2によって駆動さ
れるものとする。
【0008】クロック信号φ1がアクティブなときは、
SCSH回路20はスイッチ22a,22cをオン状態
にして容量素子21に入力アナログ信号をサンプルホー
ルドする。さらに出力手段16のスイッチ16A,16
Bがオン状態になりメモリバス13A,13Bはともに
アナロググランド電位になるので、メモリセル10の容
量素子11に蓄えられた電荷は電荷保存則に従い読み出
し回路3の容量素子31に転送される。
【0009】次にクロック信号φ2がアクティブになる
と、SCSH回路20はスイッチ22b,22dをオン
状態にし、容量素子21の両端はアナロググランド電位
になるため、容量素子21の電荷は電荷保存則に従いメ
モリセル10の容量素子11に転送される。もちろんこ
のとき入力手段15のスイッチ15A,15Bはオン状
態になっている。またこのとき、読み出し回路3のアナ
ログスイッチ32もオン状態になり、容量素子31に蓄
積された電荷は放電される。再びクロック信号φ1がア
クティブになると、前回と同様にメモリセル10の容量
素子11に蓄えられた電荷が電荷保存則に従って容量素
子31に転送される。
【0010】このような動作によって、SCSH回路2
0によってサンプリングされたアナログ信号がメモリセ
ル10に一旦蓄えられ、読み出し回路3の容量素子31
まで転送される。ここで、容量素子21の容量値をC
1、入力信号電圧をVinとすると、容量素子21に蓄
えられる電荷量Qinは次のようになる。 Qin=Vin・C1 …(1) メモリセル10の容量素子11には容量素子21に蓄積
された電荷がそのまま転送されるので、同じ電荷量Qi
nが蓄えられる。さらに容量素子11に蓄えられた電荷
が読み出し回路3に転送されるので、このとき容量素子
31の両端に生じる電圧Voutは、容量素子31の容
量値をC3とすると、次のようになる。 Vout=Vin・C1/C3 …(2)
【0011】
【発明が解決しようとする課題】前記のような動作は理
想的でありこのような動作が実現できれば従来の回路で
も何ら問題はないが、実際には、従来のアナログFIF
Oメモリには、書き込まれたアナログ信号が読み出し時
において必ずしも正確に再現できない、すなわち書き込
み時と読み出し時とにおいてアナログ信号に誤差が生じ
てしまうという問題があった。
【0012】このようなアナログ信号の誤差が生じる原
因としては、大きく2つが考えられる。
【0013】まず1つは、メモリバス間に存在する配線
間容量等の寄生容量による電荷の蓄積である。
【0014】図28に示す従来のアナログFIFOメモ
リにおいて、配線間容量61が存在する場合には、クロ
ック信号φ1がアクティブのときに(すなわち書き込み
動作のときに)書き込み回路2の容量素子21からメモ
リセル10の容量素子11に転送されるべき電荷の一部
が配線間容量61に蓄積されてしまう。配線間容量61
に蓄えられた電荷は、クロック信号φ2がアクティブに
なると(すなわち読み出し動作のときに)そのまま読み
出し回路3に転送される。言い換えると、書き込み動作
のときに配線間容量61に蓄積された電荷は、続く読み
出し動作のときにメモリバス回路1から出力されてしま
うことになる。
【0015】一方、アナログFIFOメモリでは、リー
ドモディファイライト動作、すなわちメモリセルからア
ナログ信号を読み出した後にこのメモリセルに新たなア
ナログ信号を書き込むという動作を行うので、メモリセ
ルのアドレスは、メモリセルにアナログ信号が書き込ま
れた後に変更される。図28に示すような従来のアナロ
グFIFOメモリでは、クロック信号φ1がアクティブ
になってからクロック信号φ2がアクティブになるまで
の間に、メモリセルのアドレスが変化する。
【0016】したがって、書き込み動作のときに配線間
容量61に蓄積された電荷が続く読み出し動作のときに
出力されるということは、この読み出し動作によって本
来読み出すべき,過去に一のメモリセルに書き込まれた
アナログ信号に、直前の書き込み動作によって他のメモ
リセルに書き込まれるべきアナログ信号の一部が加わっ
て、メモリバス回路2から出力されることを意味する。
すなわち、アナログFIFOメモリから読み出されたア
ナログ信号は、この読み出し動作の直前の書き込み動作
によって配線間容量61に蓄積された電荷に相当する誤
差を含むことなる。
【0017】例えば、過去に一のメモリセルに蓄えられ
た電荷をQmとすると、電荷Qmが前記一のメモリセル
から正常に読み出された場合には、出力電圧Voutは
次のようになるはずである。 Vout=Qm/C3 …(3) ところが配線間容量Cpが存在する場合には、読み出し
動作の直前の書き込み動作によってアナログ信号Vsが
他のメモリセル(容量値をC2とする)に書き込まれた
とすると、次のような電荷Qpが配線間容量Cpに蓄え
られることになる。 Qp=C1・Vs・Cp/(Cp+C2) …(4) したがって、前記一のメモリセルの読み出し動作のとき
には、この電荷Qpによって生じる電圧が式(3)に示
す電圧値に加算されて出力されるので、出力電圧Vou
tは次のようになってしまう。 Vout=Qm/C3 +(C1/C3)・Vin・Cp/(Cp+C2) …(5)
【0018】そしてもう1つの原因は、読み出し動作と
書き込み動作とにおけるメモリバスの電位差、及び読み
出し動作毎のメモリバスの電位のばらつきである。
【0019】図28に示す従来のアナログFIFOメモ
リにおいて、クロック信号φ2がアクティブになり書き
込み回路2の容量素子21からメモリセル10の容量素
子11への電荷の転送が完了したとき(すなわち書き込
み動作が終了したとき)、メモリバス13Aの電位はア
ナロググランド電位になる一方、メモリバス13Bの電
位Vbは次のようになる。 Vb=Vang+Vin …(6) ここで、Vangはアナロググランド電位であり、Vi
nは書き込まれたアナログ信号電位である。すなわち、
読み出し動作開始時のメモリバス13Bの電位は、直前
に書き込まれたアナログ信号の影響を受けて変化する。
【0020】一方、メモリセル10からアナログ信号が
読み出されたときはメモリバス13A,13Bの電位は
ともにアナロググランド電位になるので、書き込み動作
開始時にはメモリバス13A,13Bの電位はともにア
ナロググランド電位である。
【0021】すなわち、読み出し動作と書き込み動作と
において、メモリバス13Bの電位が異なることにな
る。しかも、読み出し動作におけるメモリバス13Bの
電位はその直前の書き込み動作によって書き込まれたア
ナログ信号の影響を受けるので、読み出し動作毎にばら
つくことになる。
【0022】アナログFIFOメモリをシリコンプロセ
スによって製造した場合、メモリバスは通常、予め見積
もることが困難な多くの寄生容量を有している。このた
め、メモリセルからアナログ信号を読みだすときに、メ
モリバスの寄生容量に蓄えられた電荷も一緒に読み出さ
れてしまう可能性があり、すでに説明したように、メモ
リバスの電位は読み出し動作と書き込み動作とで異な
り、しかも読み出し動作毎にばらつくので、メモリバス
の寄生容量に起因する誤差がアナログ信号に生じてしま
うことになる。
【0023】このように、従来のアナログFIFOメモ
リでは、メモリバスの配線間容量等の寄生容量の影響に
よって、書き込まれたアナログ信号が読み出し時におい
て必ずしも正確に再現できない、すなわち書き込み時と
読み出し時とにおいてアナログ信号に誤差が生じてしま
うという問題があった。
【0024】前記の問題に鑑み、本発明は、アナログF
IFOメモリとして、書き込み時と読み出し時とにおけ
るアナログ信号の誤差を減らして、書き込まれたアナロ
グ信号が精度良く読み出せるようにすることを目的とす
る。
【0025】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
め、請求項1の発明が講じた解決手段は、入力したアナ
ログ信号を所定の時間遅延させて入力順に出力するアナ
ログFIFOメモリとして、アナログ信号を記憶する複
数のメモリセルと、各メモリセルに接続され、アナログ
信号を転送するメモリバスとを有するメモリバス回路を
備え、各メモリセルに対して所定の順に、前記メモリバ
スを介してアナログ信号を読み出す読み出し動作及び前
記メモリバスを介してアナログ信号を書き込む書き込み
動作を行うものであり、読み出し動作を行う前に、前記
メモリバスの寄生容量に蓄積された電荷が除去されるよ
う、前記メモリバスを所定の電位に設定するリセット動
作を行うものである。
【0026】請求項1の発明によると、読み出し動作の
前にメモリバスを所定の電位に設定するリセット動作を
行うことによって、メモリバスの寄生容量に蓄積された
電荷が除去され、また読み出し動作毎のメモリバス電位
のばらつきがなくなるので、メモリバスの寄生容量の影
響を受けることなく、メモリセルからアナログ信号を読
み出すことができる。したがって、書き込み時と読み出
し時とにおけるアナログ信号の誤差を減らすことがで
き、書き込まれたアナログ信号を精度良く読み出すこと
が可能になる。
【0027】そして、請求項2の発明では、前記請求項
1のアナログFIFOメモリにおけるメモリセルは、ア
ナログ信号を電荷の形で蓄積する容量素子と、前記容量
素子と前記メモリバスとの接続状態を切替制御するスイ
ッチとを備え、前記スイッチは、当該メモリセルがアナ
ログ信号の読み出し及び書き込みを行う対象として選択
されたとき、読み出し動作及び書き込み動作時にオン状
態になるものとする。
【0028】また、請求項3の発明では、前記請求項2
のアナログFIFOメモリにおいて、前記メモリバス回
路のメモリセルに、前記メモリバスを介してアナログ信
号を書き込む書き込み回路と、前記メモリバス回路のメ
モリセルから、前記メモリバスを介してアナログ信号を
読み出す読み出し回路とを備え、前記メモリバス回路
は、前記書き込み回路とメモリバスとを、書き込み動作
時は導通状態にする一方、読み出し動作時は非導通状態
にする入力手段と、前記読み出し回路とメモリバスと
を、読み出し動作時は導通状態にする一方、書き込み動
作時は非導通状態にする出力手段とを備えたものであ
り、リセット動作時において、前記メモリバス回路は、
入力手段によって書き込み回路とメモリバスとを非導通
状態にすると共に出力手段によって読み出し回路とメモ
リバスとを導通状態にし、かつ、メモリバスに接続され
た全てのメモリセルのスイッチをオフ状態にする一方、
前記読み出し回路は、前記出力手段を介してメモリバス
と接続されたアナログ信号入力端子を所定の電位に設定
するものである。
【0029】そして、請求項4の発明では、前記請求項
3のアナログFIFOメモリにおいて、前記メモリバス
は、第1及び第2のバス配線によって構成されており、
前記読み出し回路は、逆相入力端子が前記第1のバス配
線と前記出力手段を介して接続される一方、正相入力端
子が前記第2のバス配線と前記出力手段を介して接続さ
れ、かつ所定の電位に設定された演算増幅器と、前記演
算増幅器の逆相入力端子と出力端子との間に設けられ、
アナログ信号を電荷の形で蓄積する容量素子と、前記演
算増幅器の逆相入力端子と出力端子との間に前記容量素
子と並列に設けられ、前記演算増幅器の逆相入力端子と
出力端子との接続状態を切替制御するスイッチとを備
え、前記スイッチは、リセット動作時においてオン状態
になる一方、読み出し動作時及び書き込み動作時におい
てオフ状態になるものとする。
【0030】さらに、請求項5の発明では、前記請求項
4のアナログFIFOメモリにおける読み出し回路は、
前記スイッチの代わりに、前記演算増幅器の逆相入力端
子と前記所定の電位を有する電源との接続状態を切替制
御する第1のスイッチと、前記演算増幅器の出力端子と
前記所定の電位を有する電源との接続状態を切替制御す
る第2のスイッチとを備えたものであり、前記第1及び
第2のスイッチは、リセット動作時においてオン状態に
なる一方、読み出し動作時及び書き込み動作時において
オフ状態になるものとする。
【0031】請求項5の発明によると、読み出し回路の
演算増幅器の逆相入力端子及び出力端子は、リセット動
作において、単に短絡されるのでなく所定の電位を有す
る電源に接続されるので、読み出し回路がリセット動作
時に発振することを防止することができる。
【0032】また、請求項6の発明では、前記請求項1
のアナログFIFOメモリは、前記メモリバス回路をそ
れぞれ有する複数のメモリ部を備えたものとし、前記複
数のメモリ部は、読み出し動作及び書き込み動作を並行
して行い、かつ一のメモリ部が読み出し動作を行うと
き、他のメモリ部が書き込み動作を行うものであり、各
メモリ部は、読み出し動作を行う前にリセット動作を行
うものとする。
【0033】請求項6の発明によると、書き込み動作や
読み出し動作に用いる時間を減らすことなくリセット動
作を行うことが可能になるので、高精度及び低消費電力
を両立させたアナログFIFOメモリを実現することが
できる。
【0034】そして、請求項7の発明では、前記請求項
6のアナログFIFOメモリにおいて、前記複数のメモ
リ部のうち一のメモリ部がリセット動作を行い、続いて
読み出し動作を行うとき、他のメモリ部は書き込み動作
を行うものとする。
【0035】また、請求項8の発明では、前記請求項6
のアナログFIFOメモリにおいて、前記複数のメモリ
部のうち一のメモリ部が読み出し動作を行うとき、他の
メモリ部は書き込み動作を行い、続いてリセット動作を
行うものとする。
【0036】さらに、請求項9の発明では、前記請求項
6のアナログFIFOメモリにおいて、前記複数のメモ
リ部の個数は3以上であり、前記複数のメモリ部のうち
一のメモリ部が読み出し動作を行い、かつ他のメモリ部
が書き込み動作を行うとき、前記一及び他のメモリ部以
外のメモリ部がリセット動作を行うものとする。
【0037】また、請求項10の発明では、前記請求項
1のアナログFIFOメモリは、前記メモリバス回路を
複数個備え、この複数のメモリバス回路のうち一のメモ
リバス回路に対して読み出し動作及び書き込み動作を行
ったとき、次に、前記一のメモリバス回路以外のメモリ
バス回路に対して読み出し動作及び書き込み動作を行う
ものであり、一のメモリバス回路に対して読み出し動作
及び書き込み動作を行うとき、次に読み出し動作及び書
き込み動作を行う他のメモリバス回路に対してリセット
動作を行うものとする。
【0038】請求項11の発明によると、書き込み動作
や読み出し動作に用いる時間を減らすことなくリセット
動作を行うことが可能になるので、高精度及び低消費電
力を両立させたアナログFIFOメモリを実現すること
ができる。
【0039】さらに、請求項11の発明では、前記請求
項10のアナログFIFOメモリにおいて、各メモリバ
ス回路のメモリセルに対して、垂直アドレッシングを行
うものとする。
【0040】また、請求項12の発明が講じた解決手段
は、入力したアナログ信号を所定の時間遅延させて入力
順に出力するアナログFIFOメモリとして、アナログ
信号を記憶する複数のメモリセルと、各メモリセルに接
続され、アナログ信号を転送するメモリバスとを有する
メモリバス回路を備え、前記メモリセルは、アナログ信
号を電荷の形で蓄積する容量素子と、前記容量素子とメ
モリバスとの接続状態を切替制御するスイッチとを有
し、前記スイッチは、当該メモリセルがアナログ信号の
読み出し及び書き込みを行う対象として選択されたと
き、読み出し動作及び書き込み動作時にオン状態になる
ものであり、前記メモリバス回路は、前記メモリバスに
接続された容量素子を有するダミーメモリセルをさらに
備えているものである。
【0041】請求項12の発明によると、メモリバスに
接続された容量素子を有するダミーメモリセルによって
アナログ信号書き込み時のメモリセルの容量が見かけ上
大きくなるので、メモリバスの寄生容量によって生じる
電荷転送誤差の影響を相対的に小さくすることができ
る。したがって、メモリバスの寄生容量がアナログFI
FOメモリの入出力特性に及ぼす影響を低減させること
ができる。
【0042】そして、請求項13の発明では、前記請求
項12のアナログFIFOメモリにおいて、前記ダミー
メモリセルは、前記メモリバスの両端に前記複数のメモ
リセルを挟むように設けられているものとする。
【0043】請求項13の発明によると、読み出し及び
書き込み対象のメモリセルのレイアウト上の位置による
メモリバスのインピーダンスの変化が減少するため、メ
モリバス回路のセトリング特性を安定させることが可能
になり、アナログFIFOメモリの入出力特性を改善す
ることができる。
【0044】また、請求項14の発明が講じた解決手段
は、入力したアナログ信号を所定の時間遅延させて入力
順に出力するアナログFIFOメモリとして、アナログ
信号を記憶する複数のメモリセルと、各メモリセルに接
続され、かつアナログ信号を転送するメモリバスとを備
え、前記メモリセルは、アナログ信号を蓄積する素子
と、この素子とメモリバスとの接続状態を切替制御する
スイッチとを有し、前記スイッチは、ドレイン及びソー
スのうち一方がメモリバスに接続されると共に他方が前
記素子に接続され、かつ、ゲートに制御信号が入力され
るMOSトランジスタによって構成されており、前記M
OSトランジスタは、このMOSトランジスタのドレイ
ンからソースに漏れる電気力線が遮断されるよう、ドレ
インとソースとの間にゲートが挿入されたレイアウトパ
ターンを有するものである。
【0045】請求項14の発明によると、メモリセルの
スイッチとして用いるMOSトランジスタに寄生するド
レイン−ソース間容量が格段に小さくなるので、メモリ
バスの寄生容量そのものを減らすことができる。
【0046】また、請求項15の発明が講じた解決手段
は、前記請求項14の発明をアナログFIFOメモリ以
外の用途にも適用するものであり、素子と信号線との接
続状態を切替制御するスイッチング素子として、ドレイ
ン及びソースのうち一方が前記素子に接続されると共に
他方が前記信号線に接続され、ゲートに制御信号が入力
されるMOSトランジスタによって構成されており、前
記MOSトランジスタは、このMOSトランジスタのド
レインからソースに漏れる電気力線が遮断されるよう、
ドレインとソースとの間にゲートが挿入されたレイアウ
トパターンを有するものである。
【0047】請求項15の発明によると、MOSトラン
ジスタに寄生するドレイン−ソース間容量が格段に小さ
くなるので、素子及び信号線に生じる寄生容量を大幅に
減らすことができる。
【0048】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)図1は本発明の第1の実施形態に係
るアナログFIFOメモリを示す図であり、(a)は構
成の概略を示す図、(b)は動作の概略を示す図であ
る。
【0049】本実施形態に係るアナログFIFOメモリ
は、図1(a)に示すように、アナログ信号を記憶する
メモリセルが接続されたメモリバスを有するメモリバス
回路1、メモリセルにメモリバスを介してアナログ信号
を書き込む書き込み回路2、及びメモリセルからメモリ
バスを介してアナログ信号を読み出す読み出し回路3に
よって構成されている。
【0050】本実施形態に係るアナログFIFOメモリ
において特徴的なことは、読み出し動作の前に、メモリ
バスの寄生容量に蓄積された電荷を取り除くリセット動
作を行うことである。すなわち図1(b)に示すよう
に、本実施形態に係るアナログFIFOメモリの動作
は、基本的にリセット、読み出し及び書き込みの3つに
分けられる。まずリセット動作によってメモリバスをリ
セットし、次に読み出し動作によって、リセットしたメ
モリバスに接続されたメモリセル(アドレスm)からア
ナログ信号を読み出す。このとき、アナログ信号が読み
出されたメモリセルに蓄積されている電荷量は0になる
ので、次に書き込み動作によって、このメモリセルに入
力信号を書き込む。
【0051】従来のアナログFIFOメモリでは、メモ
リバスの寄生容量の存在によって、アナログFIFOメ
モリから読み出されるアナログ信号がその直前にアナロ
グFIFOメモリに書き込まれたアナログ信号の影響を
受けてしまうという問題があった。したがって、直前に
書き込まれたアナログ信号の影響を排除するために、メ
モリバスをリセットする動作をアナログ信号の読み出し
動作の前に行う。
【0052】図2はメモリバス回路1の構成の一例を示
す回路図である。図2において、10はアナログ信号を
記憶するメモリセル、13は第1及び第2のバス配線1
3A,13Bからなるメモリバス、15は書き込み回路
2とメモリバス13との接続状態を制御する入力手段、
16は読み出し回路3とメモリバス13との接続状態を
制御する出力手段である。メモリセル10は第1及び第
2のバス配線13A,13B間に直列に接続された,ア
ナログ信号を電荷の形で蓄積する容量素子11及びスイ
ッチ12を有しており、スイッチ12はメモリセルスイ
ッチ駆動信号S1及びメモリセル選択信号SLに従って
動作するスイッチ制御手段12cによってオンオフを切
替制御される。入力手段15はスイッチ15A,15B
を有しており、スイッチ15A,15Bは入力スイッチ
駆動信号S2及びメモリセル選択信号SLに従って動作
するスイッチ制御手段15cによってオンオフを切替制
御される。出力手段16はスイッチ16A,16Bを有
しており、スイッチ16A,16Bは出力スイッチ駆動
信号S3及びメモリセル選択信号SLに従って動作する
スイッチ制御手段16cによってオンオフを切替制御さ
れる。
【0053】メモリバスのリセットとは、図2に示すよ
うなメモリバス回路1を例にとると、第1及び第2のバ
ス配線13A,13Bの電位を同一電位又は一定電位差
にする動作のことである。これによりメモリバス13の
寄生容量に蓄積される電荷は0又は一定になり、アナロ
グ信号の読み出し動作において、直前に書き込まれたア
ナログ信号の影響を受けることはなくなる。
【0054】図3(a)は書き込み回路2の構成の一例
を示す図であり、図3(b)は読み出し回路3の構成の
一例を示す図である。図3(a)に示すように、書き込
み回路2はスイッチトキャパシタサンプルホールド回路
(SCSH回路)20及び演算増幅器25によって構成
されており、SCSH回路20は入力信号を電荷の形で
一旦蓄積する容量素子21、及びスイッチ22a,22
b,22c,22dからなる。スイッチ22a,22c
は第1の書き込みスイッチ駆動信号S4によってオンオ
フを切替制御される一方、スイッチ22b,22dは第
2の書き込みスイッチ駆動信号S5によってオンオフを
切替制御される。また図3(b)に示すように、読み出
し回路3は出力信号を電荷の形で一旦蓄積する容量素子
31、スイッチ32及び演算増幅器33によって構成さ
れている。スイッチ32は読み出しスイッチ駆動信号S
6によってオンオフを切替制御される。
【0055】本実施形態に係るアナログFIFOメモリ
のリセット動作、読み出し動作及び書き込み動作につい
て図4〜図6を用いて説明する。
【0056】図4〜図6は図1(a)の概略構成におい
て図2及び図3の回路構成を用いたときの本実施形態に
係るアナログFIFOメモリの構成を示す図である。図
4はリセット動作のときの状態を、図5は読み出し動作
のときの状態を、図6は書き込み動作のときの状態をそ
れぞれ示している。また61はメモリバス13の寄生容
量であって第1及び第2のバス配線13A,13B間の
配線間容量である。なお図4〜図6において、説明を簡
単にするために、メモリセル10は1個のみを示してお
り、また各スイッチの制御に関わる制御手段及び信号は
省略している。
【0057】本実施形態に係るリセット動作では、第1
のバス配線13Aと第2のバス配線13Bを所定の電位
(例えばアナロググランド電位)にし、さらに読み出し
回路3において演算増幅器33と並列に接続された容量
素子31の電荷量を0にする。このようなリセット動作
によって、第1及び第2のバス配線13A,13Bは同
一電位になるため、第1及び第2のバス配線13A,1
3Bの配線間容量61に蓄積された電荷量は0になる。
さらに、読み出し動作開始時と書き込み動作開始時とに
おいて第1及び第2のバス配線13A,13Bの電位が
等しくなるため、第1及び第2のバス配線13A,13
B間の配線間容量61の影響を受けることなくメモリセ
ル10から電荷の読み出しを行うことができる。
【0058】本実施形態に係るリセット動作には読み出
し回路3を利用する。すなわち図4に示すように、リセ
ット動作において、メモリバス回路1の入力手段15の
スイッチ15A,15Bをオフ状態にすると共に出力手
段16のスイッチ16A,16Bをオン状態にし、また
メモリバス13に接続された全てのメモリセル10のス
イッチ12をオフ状態にする。さらに読み出し回路3の
スイッチ32をオン状態にする。このとき、読み出し回
路3の演算増幅器33の逆相及び正相入力端子33a,
33bは同一電位になり、これによって、読み出し回路
3の演算増幅器33の逆相及び正相入力端子33a,3
3bに出力手段16を介してそれぞれ接続された,メモ
リバス回路1の第1及び第2のバス配線13A,13B
は同一電位になる。このため、配線間容量61に蓄えら
れた電荷は放電され、配線間容量61の電荷量は0にな
る。このようにして、本実施形態に係るアナログFIF
Oメモリにおけるリセット動作が完了する。
【0059】次にリセット動作に引き続いて読み出し動
作が行われる。図5に示すように、読み出し動作におい
て、読み出し回路3のスイッチ32をオフ状態にして演
算増幅器33のリセット状態を解除する。この後、メモ
リセル10のスイッチ12をオン状態にし、メモリセル
10の容量素子11に蓄積された電荷を読み出し回路3
の容量素子31に転送する。電荷の転送が完了すると、
メモリバス回路1の第1及び第2のバス配線13A,1
3Bは再び同一電位になる。このようにして、読み出し
動作が完了する。
【0060】またリセット動作及び読み出し動作におい
て、書き込み回路2のSCSH回路20において、スイ
ッチ22a,22cをオン状態にすると共にスイッチ2
2b,22dをオフ状態にする。これによって、入力ア
ナログ信号が電荷の形でSCSH回路20の容量素子2
1に蓄積される。
【0061】次に読み出し動作に引き続いて書き込み動
作が行われる。図6に示すように、書き込み動作におい
て、メモリバス回路1の入力手段15のスイッチ15
A,15Bをオン状態にすると共に、出力手段16のス
イッチ16A,16Bをオフ状態にする。一方、書き込
み回路2のSCSH回路20において、スイッチ22
b,22dをオン状態にすると共にスイッチ22a,2
2cをオフ状態にする。このとき、書き込み回路2の演
算増幅器25によって、SCSH回路20の容量素子2
1に蓄積された電荷がメモリセル10の容量素子11ま
で転送される。
【0062】(第1の実施形態の変形例)図7は図3
(b)に示す通常のアナログFIFOメモリの読み出し
回路3に代えて用いられる、本変形例に係る読み出し回
路3Aの構成を示す図である。図7に示す本変形例に係
る読み出し回路3Aでは、通常のアナログFIFOメモ
リの読み出し回路3におけるスイッチ32に代えて、演
算増幅器33の逆相入力端子33a及び出力端子33c
をアナロググランド電源に接続するか否かを切替制御す
る第1及び第2のスイッチ32A,32Bが設けられて
いる。第1及び第2のスイッチ32A,32Bは、共
に、読み出しスイッチ駆動信号S6によって制御され
る。
【0063】図3(b)に示す読み出し回路3におい
て、スイッチ32の役割は演算増幅器33の逆相入力端
子33aと出力端子33cとを短絡し、逆相入力端子3
3a及び出力端子33cの電位をアナロググランド電位
にして容量素子31の電荷量を0にすることである。と
ころが、逆相入力端子33aと出力端子33cとを短絡
すると、読み出し回路3が不安定になり発振してしまう
可能性がある。
【0064】図3(b)に示すような容量素子31によ
って帰還がかけられた演算増幅器33では、容量素子3
1の逆相入力端子33a側の電荷が固定されたときは、
容量素子31の電荷は動けなくなるため演算増幅器33
の状態も安定する。このことは、演算増幅器33の状態
が無条件に安定になることを示している。言い換える
と、SCSH回路20のように演算増幅器25の逆相入
力端子25aと出力端子25cとの間に並列接続された
容量に電荷を転送する回路では、電荷を転送し終わった
とき回路は必ず安定状態になり、発振状態になることは
ない。
【0065】すなわち図3(b)に示すような読み出し
回路3が不安定状態になるすなわち発振状態に陥る可能
性があるのは、スイッチ32がオン状態になったときで
ある。
【0066】そこで図7に示す本変形例に係る読み出し
回路3Aでは、演算増幅器33の逆相入力端子33aと
出力端子33cとを短絡するとき、逆相入力端子33a
及び出力端子33cを共に直接アナロググランド電源に
接続することによって、その電位を強制的にアナロググ
ランド電位にすることを特徴とする。
【0067】すなわち図7に示す読み出し回路3Aにお
いて、演算増幅器33の逆相入力端子33aと出力端子
33cとを短絡するときは、第1及び第2のスイッチ3
2A,32Bを共にオン状態にして逆相入力端子33a
及び出力端子33cの電位を共にアナロググランド電位
にすることによって、回路をリセットする。このような
方式によって、演算増幅器33の逆相入力端子33aと
出力端子33cとを短絡するとき、その電位がアナログ
グランド電源によって強制的にアナロググランド電位に
固定されることになる。したがって、いかなる状態でも
発振する危険性のない安定した読み出し回路3Aが実現
できる。
【0068】なお本発明の第1の実施形態は、複数個の
メモリセル10を有する複数のメモリバス回路1を備え
たアナログFIFOメモリにも容易に適用することがで
きる。
【0069】図8はアナログFIFOメモリを複数メモ
リバス構成にした場合の回路構成の一例を示す図であ
り、書き込み回路2と読み出し回路3との間に複数のメ
モリバス回路1が並列に構成されたものを示している。
なお図8では書き込み回路2との接続端子4a,4b及
び読み出し回路3との接続端子5a,5bを示してお
り、書き込み回路2と読み出し回路3は図示を省略して
いる。
【0070】図8において、41はメモリセル選択信号
SLを出力するアドレス発生回路である。メモリセル選
択信号SLは、行アドレス選択信号SR1〜SR3と列
アドレス選択信号SC1〜SC3との2つに分かれる。
ここでは各信号は全てローアクティブであるものとして
いるので、入力手段15のスイッチ制御手段15cはO
Rゲート15dによって実現されると共に出力手段16
のスイッチ制御手段16cはORゲート16dによって
実現される。すなわち、入力手段15において、行アド
レス選択信号SR1〜SR3と入力スイッチ駆動信号S
2とが共に“L”のときスイッチ15A,15Bがオン
状態になり、出力手段16において、行アドレス選択信
号SR1〜SR3と出力スイッチ駆動信号S3とが共に
“L”のときスイッチ16A,16Bがオン状態にな
る。言い換えると、行アドレス選択信号SR1〜SR3
によって選択されたメモリバス回路1のみが、入力手段
15のスイッチ15A,15B及び出力手段16のスイ
ッチ16A,16Bをオン状態にすることができる。
【0071】次にメモリセル10のスイッチ12の駆動
方法について説明する。メモリセル10のスイッチ12
は、ORゲート12d,12eによって生成される,行
アドレス選択信号SR1〜SR3のうちの1つと列アド
レス選択信号SC1〜SC3のうちの1つとメモリセル
スイッチ駆動信号S1との論理和信号によって駆動され
る。したがって、行アドレス選択信号と列アドレス選択
信号により選択されたメモリセル10のみがメモリセル
スイッチ駆動信号S1をスイッチ12に伝達することが
できる。例えば図8において行アドレス選択信号SR2
と列アドレス選択信号SC2とが“L”になったときに
は、メモリセル10xのみがメモリセルスイッチ駆動信
号S1をスイッチ12に伝達することができる。すなわ
ち、行アドレス選択信号と列アドレス選択信号によって
メモリバス回路1とメモリセル10とを自由に選択する
ことができるので、任意のメモリセル10に対してアナ
ログ信号の書き込み読み出しを行うことができる。
【0072】図9はアナログFIFOメモリの具体的な
アドレッシング手法を説明するための図である。図9で
はm行n列のメモリセルを備えたアナログFIFOメモ
リを示している。図9において、42aはm進カウンタ
であってメモリアドレスの上位ビットを指定する上位カ
ウンタ、42bはn進カウンタであってメモリアドレス
の下位ビットを指定する下位カウンタであり、上位カウ
ンタ42a及び下位カウンタ42bによってアドレス信
号発生回路が構成されている。下位カウンタ42bは外
部から与えられるクロックに従ってインクリメント動作
を行う。また43は下位カウンタ42bの桁あふれ信号
であり、上位カウンタ42aはこの桁あふれ信号43に
従ってインクリメント動作を行う。
【0073】すなわち、メモリアドレスは下位カウンタ
42bのインクリメント動作によって順に(1,1)、
(1,2)、(1,3)と進み、(1,n)までいくと
下位カウンタ42bから桁あふれ信号43が出力される
ので上位カウンタ42aがインクリメント動作を行い、
これによって(2,1)がメモリアドレスとして指定さ
れる。同様にして(m,n)までメモリアドレスが指定
された後、再び(1,1)に戻る。したがって、各メモ
リセルに書き込まれたアナログ信号は、下位カウンタ4
2bに与えられるクロックの周期をTとすると、(m*
n*T)後に読み出されることになる。
【0074】本実施形態におけるメモリセルアドレス切
り替えのタイミングは、図1に示すように、メモリセル
に信号を書き込んだ後である。すなわち、入力されたア
ナログ信号をメモリセルに書き込んだ後に次のメモリセ
ルがアクセスされ、リセット動作の後にアナログ信号が
読み出される。このときこのメモリセルには、前記の説
明のとおり(m*n*T)前に書き込まれたアナログ信
号が格納されている。したがって、図9に示すようなア
ドレッシングによって、遅延時間が(m*n*T)のア
ナログFIFOメモリとして動作することになる。
【0075】(第2の実施形態)図10は本発明の第2
の実施形態に係るアナログFIFOメモリの構成の概略
を示す図である。図10に示すように、本発明の第2の
実施形態に係るアナログFIFOメモリは、同一構成か
らなる第1及び第2のメモリ部101a,101bを備
えており、第1及び第2のメモリ部101a,101b
はそれぞれ、アナログ信号を記憶するメモリセルが接続
されたメモリバスを有するメモリバス回路1、メモリセ
ルにメモリバスを介してアナログ信号を書き込む書き込
み回路2、メモリセルからメモリバスを介してアナログ
信号を読み出す読み出し回路3によって構成されてい
る。
【0076】また5は第1及び第2のメモリ部101
a,101bから出力されたアナログ信号をサンプルホ
ールドするサンプルホールド回路であり、51は第1及
び第2のメモリ部101a,101bから出力されたア
ナログ信号を電荷の形で蓄積する容量素子、52aは第
1のメモリ部101aと容量素子51との接続/非接続
を切替制御するスイッチ、52bは第2のメモリ部10
1bと容量素子51との接続/非接続を切替制御するス
イッチ、53はバッファアンプである。スイッチ52a
は第1のサンプルホールドスイッチ駆動信号S7によっ
て制御される一方、スイッチ52bは第2のサンプルホ
ールドスイッチ駆動信号S8によって制御される。
【0077】図11は図10に示す本実施形態に係るア
ナログFIFOメモリの動作の概略を示す図である。図
11に示すように、本実施形態に係るアナログFIFO
メモリにおいて、第1及び第2のメモリ部101a,1
01bは共に第1の実施形態と同様に、リセット動作、
読み出し動作及び書き込み動作を繰り返し行う。また第
1及び第2のメモリ部101a,101bは並列動作
し、クロック信号に同期して、一方が書き込み動作を行
う間に他方がリセット動作及び読み出し動作を行う。こ
の結果、クロック周期毎にアナログ信号の入出力が行わ
れる。
【0078】図10及び図11に示すように、本実施形
態では、アナログFIFOメモリを同一の構成からなる
2つのメモリ部101a,101bに分けて、それぞれ
並列動作させている。このような並列構成は、例えばT
V信号の遅延用に用いる場合に極めて有効である。この
ことについて説明する。
【0079】図29は従来のアナログFIFOメモリの
動作の概略を示す図である。図29に示すように、従来
のアナログFIFOメモリではクロック周期毎にアナロ
グ信号の読み出し動作及び書き込み動作を行う。すなわ
ち、読み出し動作や書き込み動作に割り当て可能な時間
はクロック周期の半分ということになる。通常、NTS
Cカラー信号をアナログFIFOメモリを用いて遅延す
る場合は、クロック周期は約70nsである。したがっ
て、読み出し動作や書き込み動作に割り当て可能な時間
は約35nsになる。この時間内にアナログ信号の読み
出しや書き込みを行うためにはアナログFIFOメモリ
に対して非常な高速動作が要求され、この時間内に、さ
らにリセット動作等の読み出しや書き込み以外の動作を
実施することは事実上不可能である。
【0080】本実施形態に係るアナログFIFOメモリ
では、2つのメモリ部101a,101bを並列構成し
て読み出し動作と書き込み動作とを並列に実行するの
で、従来と比べて2倍の時間を読み出し動作や書き込み
動作に割り当てることができ、読み出し動作の前にリセ
ット動作を実行可能な時間の余裕を作ることができる。
したがって、例えばTV信号の遅延用に用いる場合で
も、読み出し動作の前にリセット動作を実行することが
できる。
【0081】本実施形態に係るアナログFIFOメモリ
の具体的な動作について図12〜図17を用いて詳しく
説明する。
【0082】図12は図10の概略構成において図2及
び図3の回路構成を用いたときの本実施形態に係るアナ
ログFIFOメモリの構成を示す図である。また図12
では各スイッチを制御する制御信号も併せて図示してい
る。なお説明を簡単にするために、第1及び第2のメモ
リ部101a,101bのメモリセル10はそれぞれ1
個のみを示している。
【0083】図12に示すように、制御信号M1R1
は、第1のメモリ部101aにおいて、書き込み回路2
の第1の書き込みスイッチ駆動信号S4及びメモリセル
回路1の出力スイッチ駆動信号S3として与えられる一
方、第2のメモリ部101bにおいて、書き込み回路2
の第2の書き込みスイッチ駆動信号S5及びメモリセル
回路1の入力スイッチ駆動信号S2として与えられる。
すなわち、制御信号M1R1によって、第1のメモリ部
101aでは書き込み回路2のスイッチ22a,22
c、及びメモリセル回路1のスイッチ16A,16Bが
制御される一方、第2のメモリ部101bでは書き込み
回路2のスイッチ22b,22d、及びメモリセル回路
1のスイッチ15A,15Bが制御される。
【0084】一方、制御信号M2R1は、第1のメモリ
部101aにおいて、書き込み回路2の第2の書き込み
スイッチ駆動信号S5及びメモリセル回路1の入力スイ
ッチ駆動信号S2として与えられる一方、第2のメモリ
部101bにおいて、書き込み回路2の第1の書き込み
スイッチ駆動信号S4及びメモリセル回路1の出力スイ
ッチ駆動信号S3として与えられる。すなわち、制御信
号M2R1によって、第1のメモリ部101aでは書き
込み回路2のスイッチ22b,22d、及びメモリセル
回路1のスイッチ15A,15Bが制御される一方、第
2のメモリ部101bでは書き込み回路2のスイッチ2
2a,22c、及びメモリセル回路1のスイッチ16
A,16Bが制御される。
【0085】また制御信号M1R2は、第1のメモリ部
101aの読み出し回路3の読み出しスイッチ駆動信号
S6及びサンプルホールド回路5の第2のサンプルホー
ルドスイッチ駆動信号S8として与えられる。すなわ
ち、制御信号M1R2によって、第1のメモリ部101
aの読み出し回路3のスイッチ32及びサンプルホール
ド回路5のスイッチ52bが制御される。
【0086】一方、制御信号M2R2は、第2のメモリ
部101bの読み出し回路3の読み出しスイッチ駆動信
号S6及びサンプルホールド回路5の第1のサンプルホ
ールドスイッチ駆動信号S7として与えられる。すなわ
ち、制御信号M2R2によって、第2のメモリ部101
aの読み出し回路3のスイッチ32及びサンプルホール
ド回路5のスイッチ52aが制御される。
【0087】また制御信号M1R3は第1のメモリ部1
01aのメモリバス回路1のメモリセルスイッチ駆動信
号S1として与えられ、制御信号M2R1と共にORゲ
ート12fに入力される。第1のメモリ部101aのメ
モリセル10のスイッチ12は、制御信号M1R3,M
2R1の論理和信号によって制御される。一方、制御信
号M2R3は第2のメモリ部101bのメモリバス回路
1のメモリセルスイッチ駆動信号S1として与えられ、
制御信号M1R1と共にORゲート12fに入力され
る。第2のメモリ部101bのメモリセル10のスイッ
チ12は、制御信号M2R3,M1R1の論理和信号に
よって制御される。
【0088】図13は図12に示すアナログFIFOメ
モリを制御する各制御信号の時間変化を示す図である。
図13において、制御信号は全てローアクティブな信号
であるあるものとしている。またM1Addressは
第1のメモリ部101aのメモリセルアドレスであり、
M2Addressは第2のメモリ部101bのメモリ
セルアドレスである。
【0089】図13に示すように、図12に示すアナロ
グFIFOメモリの動作は、各制御信号の時間変化に従
って、4つのモードMODE1〜MODE4に分けられ
る。図14〜図17は図12に示すアナログFIFOメ
モリの各モードMODE1〜MODE4における状態を
示す図である。図12に示すアナログFIFOメモリの
各モードにおける動作を、図14〜図17を用いて説明
する。
【0090】(MODE1)まずMODE1では、第1
のメモリ部101aは読み出し動作のためのメモリバス
13のリセット動作及び入力アナログ信号のサンプリン
グを行い、一方、第2のメモリ部101bは書き込み動
作を行う。
【0091】メモリバス13のリセット動作には読み出
し回路3を利用する。すなわち図14に示すように、第
1のメモリ部101aにおいて、読み出し回路3のスイ
ッチ32をオン状態にするとともに出力手段16のスイ
ッチ16A,16Bをオン状態にする。すると、第1の
バス配線13Aと第2のバス配線13Bは共にアナログ
グランド電位になり、さらに容量素子31に蓄えられる
電荷も0になる。このとき、メモリセル10のスイッチ
12は容量素子11がリセットされないようにオフ状態
になっている。また、これと同時にSCSH回路20の
スイッチ22a,22cがオン状態になることによっ
て、入力アナログ信号が容量素子21にサンプリングさ
れる。
【0092】一方、第2のメモリ部101bにおいて、
SCSH回路20のスイッチ22b,22dがオン状態
になり、かつ、入力手段15のスイッチ15A,15B
がオン状態になるので、容量素子21の電荷がメモリバ
ス13を介してメモリセル10の容量素子11に転送さ
れる。すなわち書き込み動作が行われる。さらにこのと
き、サンプルホールド回路5のスイッチ52bがオン状
態になることによって、読み出し回路3の出力アナログ
信号がサンプルホールド回路5の容量素子51にサンプ
リングされる。
【0093】(MODE2)次にMODE2では、第1
のメモリ部101aは読み出し動作を行う。すなわち図
15に示すように、第1のメモリ部101aにおいて、
読み出し回路3のスイッチ32はオフ状態になると共に
メモリセル10のスイッチ12がオン状態になり、これ
によって、メモリセル10の容量素子11の電荷はメモ
リバス13を介して読み出し回路3の容量素子31に転
送される。
【0094】一方、第2のメモリ部101bは引き続き
書き込み動作を行うが、サンプルホールド回路5はスイ
ッチ52bがオフ状態になることによって、ホールド状
態になる。
【0095】(MODE3)MODE3ではMODE1
とは逆に、第1のメモリ部101aは書き込み動作を行
い、一方、第2のメモリ101bは読み出し動作のため
のメモリバス13のリセット動作及び入力アナログ信号
のサンプリングを行う。
【0096】すなわち図16に示すように、第1のメモ
リ部101aにおいて、SCSH回路20のスイッチ2
2b,22dがオン状態になると共に入力手段15のス
イッチ15A,15Bはオン状態になるので、書き込み
回路2の容量素子21の電荷がメモリバス13を介して
メモリセル10の容量素子11に転送される。さらにこ
のとき、サンプルホールド回路5のスイッチ52aがオ
ン状態になることによって、読み出し回路3の出力アナ
ログ信号がサンプルホールド回路5の容量素子51にサ
ンプリングされる。
【0097】一方、第2のメモリ部101bにおいて、
読み出し回路3のスイッチ32をオン状態にすると共に
出力手段16のスイッチ16A,16Bをオン状態にす
ることによって、メモりバス13、及び読み出し回路3
の容量素子32はリセットされる。これと同時にSCS
H回路20のスイッチ22a、22cがオン状態になる
ことによって、入力アナログ信号が書き込み回路2の容
量素子21にサンプリングされる。
【0098】(MODE4)最後にMODE4では、M
ODE2とは逆に、第2のメモリ部101bが読み出し
動作を行う。すなわち図17に示すように、第2のメモ
リ部101bにおいて、読み出し回路3のスイッチ32
がオフ状態になると共にメモリセル10のスイッチ12
がオン状態になることによって、メモリセル10の容量
素子11に蓄積された電荷がメモリバス13を介して読
み出し回路3の容量素子31に転送される。一方、第1
のメモリ部101aは引き続き書き込み動作を行うが、
サンプルホールド回路5はスイッチ52aがオフ状態に
なることによってホールド状態になる。
【0099】このような各モードMODE1〜MODE
4における動作を繰り返すことによって、図11に示す
ような本実施形態に係るアナログFIFOメモリの動作
を実現することができる。
【0100】なお、並列動作する第1及び第2のメモリ
部101a,101bのうち、一方が読み出し動作を行
う間に他方が書き込み動作及びリセット動作を行うよう
に、各制御信号によって制御してもかまわない。
【0101】また、メモリバス回路1をそれぞれ有する
メモリ部を3個以上設けて、並列動作させてもよい。こ
の場合は例えば、一のメモリ部が書き込み動作を行うと
き、他のメモリ部が読み出し動作を行うようにし、この
間にまた別のメモリ部がリセット動作を行うようにすれ
ばよい。
【0102】(第3の実施形態)図18は本発明の第3
の実施形態に係るアナログFIFOメモリの構成の概略
を示す図である。図18に示すように、本発明の第3の
実施形態に係るアナログFIFOメモリは、アナログ信
号を記憶するメモリセルが接続されたメモリバスを有す
るメモリバス回路1を複数個備えている。また6は読み
出し回路3から出力されたアナログ信号をサンプルホー
ルドするサンプルホールド回路であり、61は読み出し
回路3から出力されたアナログ信号を電荷の形で蓄積す
る容量素子、62は読み出し回路3と容量素子61との
接続/非接続を切替制御するスイッチ、63はバッファ
アンプである。
【0103】図19は本実施形態に係るアナログFIF
Oメモリにおけるメモリセルのアドレッシングを示す図
である。本実施形態に係るアナログFIFOメモリで
は、図19に示すように、メモリバス回路1におけるメ
モリセル10の並びに対して垂直な方向にメモリセル1
0のアドレッシングを行う,いわゆる垂直アドレッシン
グを採用する。
【0104】本実施形態に係るアナログFIFOメモリ
も、読み出し動作の前にリセット動作を行う点では第1
の実施形態と同様である。本実施形態において特徴的な
ことは、メモリバスをリセットする動作をアナログ信号
を書き込む動作と並行して行うことである。この点につ
いて説明する。
【0105】アナログFIFOメモリが扱う信号がビデ
オ信号であるとすると、アナログFIFOメモリのサン
プリング周期は約70nsになる。したがって、メモリ
バスのリセット動作、並びにアナログ信号の読み出し動
作及び書き込み動作を70nsの間に完了させる必要が
ある。すなわち各動作は約23ns以内に完了させなけ
ればならず、このとき書き込み回路2や読み出し回路3
で用いる演算増幅器に要求されるGB積は1GHzにも
及ぶことになるが、この値はとても現実的なものではな
い。
【0106】したがって、本実施形態では、リセット動
作と書き込み動作とを並行して行い、この後に読み出し
動作を行うことによって、アナログFIFOメモリをビ
デオ信号の遅延用に用いたときでも、各動作に対して約
35nsの時間を割り当てることを可能にする。これに
よって、書き込み回路2及び読み出し回路3の演算増幅
器の負担を軽減することができ、消費電力を削減するこ
とができる。
【0107】リセット動作と書き込み動作とを並行して
行うためには、アナログ信号をメモリセルに書き込む期
間にメモリバスのリセットも同時に行わなければならな
い。ところが当然のことながら、同じメモリバスについ
て書き込み動作とリセット動作とを同時に実行すること
はできないので、本実施形態では図19に示すように、
垂直アドレッシングを採用することによって、書き込み
動作とリセット動作とを並行して実行可能にする。垂直
アドレッシングを採用することによって、一のメモリバ
ス回路1にアナログ信号を書き込む動作と他のメモリバ
ス回路1をリセットする動作とを並行して行うことがで
きる。
【0108】図20を用いて本実施形態に係るアナログ
FIFOメモリの動作について説明する。図20に示す
アナログFIFOメモリは4個のメモリバス回路1A,
1B,1C,1Dを備えており、図20(a)から
(d)の順に各スイッチは動作する。図20では、オン
状態になったスイッチに○を付している。
【0109】まず図20(a)に示すように、メモリバ
ス回路1Aにおいて入力手段15のスイッチがオン状態
になると共に一のメモリセル10のスイッチがオン状態
になり、スイッチがオン状態になったこのメモリセル1
0にアナログ信号が書き込まれる。一方、次にアナログ
信号が読み出されるメモリバス回路1Bでは出力手段1
6のスイッチがオン状態になり、かつ読み出し回路3の
スイッチ32もオン状態になるので、メモリバス回路1
Bのメモリバス13はリセットされる。すなわちメモリ
バス回路1Aに対する書き込み動作とメモリバス回路1
Bに対するリセット動作とが並行して行われる。
【0110】次に図20(b)に示すように、メモリバ
ス回路1Bに対して読み出し動作が行われる。読み出し
回路3のスイッチ32がオフ状態になると共に、メモリ
バス回路1Bの一のメモリセル10のスイッチがオン状
態になるので、スイッチがオン状態になったメモリセル
10からアナログ信号が読み出される。
【0111】次に図20(c)に示すように、読み出し
動作が行われたメモリバス回路1Bに対して書き込み動
作が行われる。メモリバス回路1Bの入力手段15のス
イッチがオン状態になると共に一のメモリセル10のス
イッチがオン状態になり、スイッチがオン状態になった
このメモリセル10にアナログ信号が書き込まれる。一
方、次にアナログ信号が読み出されるメモリバス回路1
Cに対してリセット動作が行われる。メモリバス回路1
Cでは出力手段16のスイッチがオン状態になり、か
つ、読み出し回路3のスイッチ32もオン状態になるの
で、メモリバス回路1Cのメモリバス13はリセットさ
れる。すなわちメモリバス回路1Bに対する書き込み動
作とメモリバス回路1Cに対するリセット動作とが並行
して行われる。
【0112】次に図20(d)に示すように、メモリバ
ス回路1Cに対して読み出し動作が行われる。読み出し
回路3のスイッチ32がオフ状態になると共に、メモリ
バス回路1Cの一のメモリセル10のスイッチがオン状
態になるので、スイッチがオン状態になったメモリセル
10からアナログ信号が読み出される。
【0113】図20から分かるように、本実施形態に係
るアナログFIFOメモリでは、メモリセルに対して垂
直にアドレッシングを行うことによって、一のメモリバ
ス回路に対する書き込み動作と前記一のメモリバス回路
の次に読み出し動作を行う他のメモリバス回路に対する
リセット動作とを並行して行うことを可能にしている。
本実施形態に係る技術的思想は、メモリバスに対して垂
直にアドレッシングを実行することによって、書き込み
動作とリセット動作とを並行して行うことを可能にし、
各動作における動作時間を十分に確保することによっ
て、演算増幅器の動作速度を低減し、その消費電力を低
減させることにある。
【0114】なお、必ずしも垂直アドレッシングを採用
しなくても、複数のメモリバス回路のうち一のメモリバ
ス回路に対して読み出し動作及び書き込み動作を行った
とき、次に、前記一のメモリバス回路以外のメモリバス
回路に対して読み出し動作及び書き込み動作を行うよう
にメモリセルのアドレスを指定すれば、本実施形態と同
様に、書き込み動作とリセット動作とを並行して行うこ
とが可能になる。
【0115】図21は本実施形態に係るアナログFIF
Oメモリの具体的な構成方法を示す図である。なお図2
1では書き込み回路2との接続端子4a,4b及び読み
出し回路3との接続端子5a,5bを示しており、書き
込み回路2と読み出し回路3は図示を省略している。図
21に示すように、本実施形態に係る方式を実行させる
ために、書き込み動作を駆動する信号Saを生成する書
き込み制御手段71と、読み出し動作を駆動する信号S
bを生成する読み出し制御手段72と、リセット動作を
駆動する信号Scを生成するリセット制御手段73と、
読み出し動作及び書き込み動作を行うメモリバスを指定
する信号SA1を生成する第1のメモリバス指定手段7
4と、リセット動作を行うメモリバスを指定する信号S
A2を生成する第2のメモリバス指定手段75とを設け
ている。
【0116】図22は図21に示すアナログFIFOメ
モリの動作を示すタイミングチャートであり、信号S
a,Sb,Scの時間変化及び信号SA1,SA2が指
定するメモリバスのアドレスの時間変化を示している。
ここでは、信号は全てローアクティブであるものとして
いる。
【0117】リセット動作を行うメモリバスは、常に、
次に読み出し動作及び書き込み動作を行うメモリバスで
あればよい。したがって、第2のメモリバス指定手段7
5によって生成された信号SA2が指定するメモリバス
のアドレスは、第1のメモリバス指定手段74によって
生成された信号SA1が指定するメモリバスの次のメモ
リバスのアドレスとする。
【0118】各メモリバス回路1の入力手段15は、第
1のメモリバス指定手段74によって生成された信号S
A1によってアドレス指定された場合にのみ、書き込み
制御手段71によって生成された駆動信号Saによって
スイッチ15A,15Bを駆動する。また各メモリバス
回路1の出力手段16は、第1のメモリバス指定手段7
5によって生成された信号SA1によってアドレス指定
された場合は読み出し制御手段72によって生成された
駆動信号Sbによってスイッチ16A,16Bを駆動す
る一方、第2のメモリバス指定手段75によって生成さ
れた信号SA2によってアドレス指定された場合はリセ
ット制御手段73によって生成された駆動信号Scによ
って、スイッチ16A,16Bを駆動する。図21に示
すような回路構成において図22に示すような制御を行
うことによって、図20に示すような各動作が具体的に
実現される。
【0119】(第4の実施形態)図23は本発明の第4
の実施形態に係るアナログFIFOメモリの構成を示す
回路図である。本発明の第4の実施形態では、図23に
示すように、メモリセル回路1において、第1及び第2
のバス配線13A,13B間に予めダミー容量素子12
1を設けている。ダミー容量素子121によってダミー
メモリセル120が構成されている。
【0120】ここで、ダミー容量素子121の容量値を
Cd、第1及び第2のバス配線13A,13B間の配線
間容量61の容量値をCp、メモリセル10の容量素子
11の容量値をCc、読み出し回路3の容量素子31の
容量値をCc、書き込み回路2の容量素子21の容量値
を(Cc+Cd)とする。このとき、入力アナログ信号
の電圧がVinであるとすると、書き込み回路2の容量
素子21に蓄えられる電荷Q1は、次のようになる。 Q1=Vin(Cc+Cd) …(7) この電荷Q1は書き込み動作において、メモリセル10
の容量素子11とダミー容量素子121と配線間容量6
1とに、容量値に応じて分かれて蓄積される。このとき
メモリセル10の容量素子11に蓄積される電荷Q2
は、次のようになる。 Q2=Vin(Cc+Cd)Cc/(Cc+Cd+Cp) …(8)
【0121】メモリセル10の容量素子11に蓄積され
た以外の、ダミー容量素子121及び配線間容量61に
蓄えられた電荷は、リセット動作によって第1及び第2
のバス配線13A,13Bがリセットされるのでなくな
る。このため、読み出し動作において読み出し回路3の
容量素子31に転送される電荷はメモリセル10の容量
素子11に蓄積された電荷Q2のみになるので、この電
荷Q2によって生じる出力電圧Voutは、次のように
なる。 Vout=Q2・Cc =Vin・(Cc+Cd)/(Cc+Cd+Cp) =Vin/(1+Cp/(Cc+Cd)) …(9) すなわち、式(9)から、配線間容量61が出力電圧V
outに及ぼす影響は次のような式で表されることが分
かる。 Cp/(Cc+Cd) …(10) つまり、配線間容量61が出力電圧Voutに及ぼす影
響はダミー容量素子121の存在によって小さくなり、
ダミー容量素子121の容量値Cdが大きければ大きい
ほど、配線間容量61が出力電圧Voutに及ぼす影響
は小さくなることがわかる。
【0122】以上説明したように本実施形態によると、
メモリバスに接続された容量素子を有するダミーメモリ
セルを設けることによって、メモリバスの寄生容量がア
ナログFIFOメモリの入出力動作に及ぼす影響を低減
することができる。
【0123】本実施形態は第2の実施形態と組み合わせ
ることによって、より顕著な効果を得ることができ、例
えばTV信号の遅延用にアナログFIFOメモリを用い
る場合でも、メモリバスの寄生容量の影響を低減するこ
とができる。
【0124】式(10)から明らかなように、ダミー容
量素子121の容量値Cdが大きければ大きいほど、配
線間容量61が出力電圧Voutに及ぼす影響が小さく
なる。ところがダミー容量素子121の容量値Cdを大
きくした場合には、これに応じて、書き込み回路2から
メモリセル10に電荷を転送する際のセトリング時間を
大きくとる必要が生じる。従来のアナログFIFOメモ
リでは、例えばTV信号の遅延用に用いる場合には回路
を高速動作させる必要があるため、書き込み回路2から
メモリセル10に電荷を転送する際のセトリング時間を
大きくとることは実際には極めて困難であった。
【0125】ところが第2の実施形態によると、第1及
び第2のメモリ部101a,101bの並列動作によっ
て、書き込み動作に割り当てられた時間が従来の2倍に
なるので、書き込み回路2からメモリセル10に電荷を
転送する際のセトリング時間を十分大きくとることがで
きる。このためダミー容量素子121の容量値Cdを、
メモリバスの寄生容量がアナログFIFOメモリの入出
力動作に及ぼす影響を低減するのに十分な大きさにする
ことができる。
【0126】(第5の実施形態)第4の実施形態は、メ
モリバスに予めダミーメモリセルを設けておくことによ
ってメモリバスの寄生容量の影響を低減するものであっ
た。本発明の第5の実施形態は、第4の実施形態で示し
たダミーメモリセルのレイアウト上の配置位置を工夫す
ることによって、読み出し及び書き込みの対象となるメ
モリセルの位置によるアナログFIFOメモリの入出力
特性のばらつきを抑制するものである。
【0127】図24(a)は本発明の第5の実施形態に
係るアナログFIFOメモリのメモリバス回路1の構成
を示す回路図である。本実施形態では、図24(a)に
示すように、第4の実施の形態で示したダミーメモリセ
ル120を2つに分割し、ダミーメモリセル130とし
てメモリバス13の両端にメモリセル10を挟み込むよ
うに配置する。ダミーメモリセル130は、メモリセル
10の容量素子11と同じ容量値をもつダミー容量素子
131、及びメモリセル10のスイッチ12のオン抵抗
と同じ抵抗値を持つ抵抗素子132を備えている。本実
施形態では、このダミーメモリセル130をメモリバス
13の両端になるべく多く並列に配置する。
【0128】図24(b)は図24(a)に示すメモリ
バス回路1において1個のメモリセル10のスイッチが
オン状態になった場合の等価回路を示す図である。図2
4((b)において、第1及び第2のバス配線13A,
13Bの配線抵抗をRbとし、メモリセル10の1個あ
たりのスイッチ抵抗と容量値をそれぞれR1,Cmとす
る。
【0129】メモリバス13には複数個のメモリセル1
0が接続されているので、いずれのメモリセル10に電
荷を転送するかによって電荷の転送経路が物理的に異な
ってくる。メモリバス13のインピーダンスの変化が最
も大きいのは、読み出し及び書き込みの対象となるメモ
リセル10の位置が、メモリバス13の最も入力側から
最も出力側に変化した場合である。このときのメモリバ
ス13のインピーダンスの変化を計算する。
【0130】いま、ダミーメモリセル130はメモリバ
ス13の入力側端に(y−1)個、、出力側端にx個配
置されているものとする。読み出し及び書き込みの対象
となるメモリセル10の位置が最も入力側であるとき、
メモリバス13の入力側端にダミーメモリセル130を
含めたメモリセルがy個、出力側端にダミーセル130
を含めたメモリセルがx個並列に接続されていることに
なる。この場合、メモリバス13の入力側からみたイン
ピーダンスZ1は次のようになる。 Z1={2Rb・x(R1+1/sCm)+(R1+1/sCm)2} /{2Rb・xy+(x+y)(R1+1/sCm)} …(11) 一方、読み出し及び書き込みの対象となるメモリセル1
0の位置が最も出力側であるとき、メモリバス13の入
力側端にダミーメモリセル130を含めたメモリセルが
(y−1)個、出力側端にダミーセル130を含めたメ
モリセルが(x+1)個並列に接続されていることにな
る。ここで、メモリバス13の入力側端に配置されたダ
ミーメモリセル130の個数と、出力側端に配置された
ダミーメモリセル130の個数とが等しいものとする
と、 y−1=x …(12) となるので、メモリバス13の入力側端にダミーメモリ
セル130を含めたメモリセルがx個、出力側端にダミ
ーセル130を含めたメモリセルがy個並列に接続され
ていることになる。この場合のメモリバス13の入力側
からみたインピーダンスZ2は、式(11)のxとyと
を入れ替えることによって計算でき、次のようになる。 Z2={2Rb・y(R1+1/sCm)+(R1+1/sCm)2} /{2Rb・xy+(x+y)(R1+1/sCm)} …(13) したがって、読み出し及び書き込みの対象となるメモリ
セル10の位置が、メモリバス13の最も入力側から最
も出力側に変化した場合のインピーダンスの変化Zc
は、式(13)に示すインピーダンスZ2から式(1
1)に示すインピーダンスZ1を引くことによって、次
のように求められる。 Zc=2Rb(R1+1/sCm) /{2Rb・xy+(x+y)(R1+1/sCm)} …(14) ここで、R1>>Rbであれば、式(14)は次のよう
に近似される。 Zc=2Rb/(x+y) …(15) 式(15)から分かるように、インピーダンスの変化Z
cに対する配線抵抗Rbの影響は1/(x+y)に低減
される。すなわち、メモリバス13の両端にメモリセル
10を挟み込むようにダミーメモリセル130を配置す
ることによって、読み出し及び書き込みの対象となるメ
モリセル10の位置によるメモリバス13のインピーダ
ンスの変化を抑制することができる。
【0131】以上説明したように、本実施形態による
と、ダミーメモリセルをメモリバスの両端に設けること
によってメモリバスのインピーダンスを平均化すること
ができるので、読み出し及び書き込み対象のメモリセル
の位置によるアナログFIFOメモリの入出力特性のば
らつきを抑制することができ、読み出し及び書き込み対
象のメモリセルの位置によらず安定した入出力特性を実
現することができる。
【0132】(第6の実施形態)本発明の第6の実施形
態はメモリバスの寄生容量そのものを低減するトランジ
スタのレイアウトに関するものである。
【0133】図25は本発明の第6の実施形態を説明す
るための図であり、同図中、(a)は従来のトランジス
タのレイアウトを示す図、(b)は本実施形態に係るト
ランジスタのレイアウトを示す図、(c)はメモリセル
のスイッチとして用いられたトランジスタに寄生するド
レイン−ソース間容量を示す模式図である。
【0134】メモリバスに寄生する配線間容量を減少さ
せるためにはメモリバス配線間の距離をできるだけ大き
くとればよい。ところが図25(c)に示すように、メ
モリセル10のスイッチ12を構成するCMOSトラン
ジスタ12Aには、レイアウト上必然的にドレイン−ソ
ース間容量146が生じる。すると、メモリセル10の
容量素子11とCMOSトランジスタ12Aのドレイン
−ソース間容量146との直列接続からなる配線間容量
がメモリバスに寄生することになり、この配線間容量の
容量値はほぼドレイン−ソース間容量146の容量値に
なる。このような配線間容量は、CMOSトランジスタ
12Aのドレイン−ソース間容量146をなくさない限
りなくなることはなく、またこのような配線間容量はメ
モリセル10の数が多くなればなるほど増加するので、
メモリセル10を多数集積してアナログFIFOメモリ
を構成する場合には大きな問題となる。
【0135】そこで本実施形態では、ドレイン−ソース
間に電気力線が走らないようなトランジスタのレイアウ
トを提案する。そもそも容量とは、電気力線が一の電極
から他の電極に走ることによって形成される。したがっ
て、電気力線が走らなければ容量が形成されることはな
い。本実施形態ではこの点に着目し、ドレイン−ソース
間にゲート電極をレイアウトしてドレイン及びソースか
ら発生する電気力線をゲート電極上に終端させることに
よって、ドレイン−ソース間に電気力線が走ることを防
止し、ドレイン−ソース間容量が形成されないようにす
る。
【0136】図25(a)に示すように、従来のトラン
ジスタのレイアウトでは、ドレイン143とソース14
1との間のゲート電極144が配置されていない部分に
おいて電気力線145がドレイン−ソース間を走るの
で、ドレイン−ソース間により容量が形成されてしま
う。
【0137】これに対して本実施形態に係るトランジス
タのレイアウトでは、図25(b)に示すように、ドレ
イン143とソース141との間にゲート電極144が
隙間なく配置されるので、電気力線がドレイン−ソース
間を走ることを防止することができる。このようなレイ
アウトによって、ドレイン−ソース間容量の発生を防い
でいる。
【0138】以上説明したように、本実施形態による
と、メモリセルのスイッチ素子として用いるCMOSト
ランジスタにおいて、ドレイン−ソース間を電気力線が
走らないようなレイアウトにすることによってドレイン
−ソース間容量の形成を防止することができる。これに
よって、メモリバスに寄生する寄生容量そのものを小さ
くすることができる。
【0139】なお本実施形態に係るトランジスタのレイ
アウトは、アナログFIFOメモリのメモリセルのスイ
ッチとして用いられるトランジスタについてのみ適用さ
れるものではなく、素子と信号線との接続状態を切替制
御するスイッチング素子として用いられるトランジスタ
であれば適用することができ、本実施形態と同様の効果
が得られる。
【0140】図30は本発明に係るリセット動作の効果
を示す図であり、同図中、(a)はリセット動作を行わ
ないときのアナログFIFOメモリの周波数特性、
(b)は本発明に係るリセット動作を行ったときのアナ
ログFIFOメモリの周波数特性である。図30から分
かるように、本発明に係るリセット動作を行うことによ
って、アナログFIFOメモリの周波数特性は平坦にな
り、従来よりもアナログFIFOメモリの入出力特性が
改善される。
【0141】
【発明の効果】以上のように本発明によると、読み出し
動作の前にメモリバスを所定の電位に設定するリセット
動作を行うことによって、メモリバスの寄生容量の影響
を受けることなく、メモリセルからアナログ信号を読み
出すことができる。したがって、書き込み時と読み出し
時とにおけるアナログ信号の誤差を減らすことができ、
書き込まれたアナログ信号を精度良く読み出すことが可
能になる。
【0142】また並列構成や垂直アドレッシングを採用
することによって、書き込み動作や読み出し動作に用い
る時間を減らすことなくリセット動作を行うことが可能
になる。したがって、高精度及び低消費電力を両立させ
たアナログFIFOメモリを得ることができる。
【0143】また、ダミーメモリセルを設けることによ
って、メモリセルの寄生容量がアナログFIFOメモリ
の入出力特性に及ぼす影響を低減させることができる。
さらに、メモリセルのスイッチとして用いるMOSトラ
ンジスタのレイアウトパターンを改善することによっ
て、メモリバスの寄生容量そのものを減らすことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係るアナログFIF
Oメモリを示す図であり、(a)は構成の概略を示す
図、(b)は動作の概略を示す図である。
【図2】メモリバス回路の構成の一例を示す図である。
【図3】(a)は書き込み回路の構成の一例を示す図で
あり、(b)は読み出し回路の構成の一例を示す図であ
る。
【図4】本発明の第1の実施形態に係るアナログFIF
Oメモリの構成を示す図であり、リセット動作のときの
状態を示す図である。
【図5】本発明の第1の実施形態に係るアナログFIF
Oメモリの構成を示す図であり、読み出し動作のときの
状態を示す図である。
【図6】本発明の第1の実施形態に係るアナログFIF
Oメモリの構成を示す図であり、書き込み動作の時の状
態を示す図である。
【図7】本発明の第1の実施形態の変形例に係る読み出
し回路の構成を示す図である。
【図8】本発明の第1の実施形態に係るアナログFIF
Oメモリを複数メモリバス構成にした場合の回路構成を
示す図である。
【図9】m行n列のメモリセルを備えたアナログFIF
Oメモリにおける具体的なアドレッシング手法を示す図
である。
【図10】本発明の第2の実施形態に係るアナログFI
FOメモリの構成の概略を示す図である。
【図11】図10に示す本発明の第2の実施形態に係る
アナログFIFOメモリの動作の概略を示す図である。
【図12】本発明の第2の実施形態に係るアナログFI
FOメモリの構成、及び各スイッチを制御する制御信号
を示す図である。
【図13】図12に示す本発明の第2の実施形態に係る
アナログFIFOメモリを制御する各制御信号の時間変
化を示す図である。
【図14】図12に示す本発明の第2の実施形態に係る
アナログFIFOメモリのMODE1における状態を示
す図である。
【図15】図12に示す本発明の第2の実施形態に係る
アナログFIFOメモリのMODE2における状態を示
す図である。
【図16】図12に示す本発明の第2の実施形態に係る
アナログFIFOメモリのMODE3における状態を示
す図である。
【図17】図12に示す本発明の第2の実施形態に係る
アナログFIFOメモリのMODE4における状態を示
す図である。
【図18】本発明の第3の実施形態に係るアナログFI
FOメモリの構成の概略を示す図である。
【図19】本発明の第3の実施形態に係るアナログFI
FOメモリのアドレッシングを示す図である。
【図20】(a)〜(d)は本発明の第3の実施形態に
係るアナログFIFOメモリの動作を示す図である。
【図21】本発明の第3の実施形態に係るアナログFI
FOメモリの具体的な構成を示す図である。
【図22】図21に示す本発明の第3の実施形態に係る
アナログFIFOメモリの動作を示すタイミングチャー
トである。
【図23】本発明の第4の実施形態に係るアナログFI
FOメモリの構成を示す図である。
【図24】(a)は本発明の第5の実施形態に係るアナ
ログFIFOメモリのメモリバス回路の構成を示す図で
あり、(b)は(a)に示すメモリバス回路において1
個のメモリセルのスイッチがオン状態になったときの等
価回路を示す図である。
【図25】本発明の第6の実施形態を説明するための図
であり、(a)は従来のトランジスタのレイアウトを示
す図、(b)は本実施形態に係るトランジスタのレイア
ウトを示す図、(c)はメモリセルのスイッチとして用
いられたトランジスタに寄生するドレイン−ソース間容
量を示す模式図である。
【図26】(a)はNTSCカラーTV信号の周波数ス
ペクトルを表す図であり、(b)はYC分離フィルタの
周波数特性を示す図である。
【図27】(a)はNTSCカラーTV信号に対してY
C分離を行うための回路の概略構成、(b)はCCD回
路を外付けしたTV信号LSIの概略構成、(c)は1
チップTV信号LSIの概略構成である。
【図28】(a)は従来のアナログFIFOメモリの基
本構成を示す図であり、(b)は(a)に示すアナログ
FIFOメモリを駆動するクロック信号を示すタイミン
グチャートである。
【図29】従来のアナログFIFOメモリの動作の概略
を示す図である。
【図30】本発明に係るリセット動作の効果を示す図で
あり、(a)はリセット動作を行わないときのアナログ
FIFOメモリの周波数特性、(b)は本発明に係るリ
セット動作を行ったときのアナログFIFOメモリの周
波数特性である。
【符号の説明】
1,1A,1B,1C,1D メモリセル回路 2 書き込み回路 3 読み出し回路 10 メモリセル 11 容量素子 12 スイッチ 12A MOSトランジスタ 13 メモリバス 13A 第1のバス配線 13B 第2のバス配線 15 入力手段 16 出力手段 31 容量素子 32 スイッチ 32A 第1のスイッチ 32B 第2のスイッチ 33 演算増幅器 33a 逆相入力端子 33b 正相入力端子 33c 出力端子 101a 第1のメモリ部 101b 第2のメモリ部 120 ダミーメモリセル 121 ダミー容量素子 130 ダミーメモリセル 131 ダミー容量素子 141 ソース 143 ドレイン 144 ゲート 145 電気力線

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力したアナログ信号を所定の時間遅延
    させて入力順に出力するアナログFIFOメモリであっ
    て、 アナログ信号を記憶する複数のメモリセルと、各メモリ
    セルに接続され、アナログ信号を転送するメモリバスと
    を有するメモリバス回路を備え、 各メモリセルに対して所定の順に、前記メモリバスを介
    してアナログ信号を読み出す読み出し動作及び前記メモ
    リバスを介してアナログ信号を書き込む書き込み動作を
    行うものであり、 読み出し動作を行う前に、前記メモリバスの寄生容量に
    蓄積された電荷が除去されるよう、前記メモリバスを所
    定の電位に設定するリセット動作を行うことを特徴とす
    るアナログFIFOメモリ。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のアナログFIFOメモリ
    において、 前記メモリセルは、アナログ信号を電荷の形で蓄積する
    容量素子と、前記容量素子と前記メモリバスとの接続状
    態を切替制御するスイッチとを備え、 前記スイッチは、当該メモリセルがアナログ信号の読み
    出し及び書き込みを行う対象として選択されたとき、読
    み出し動作及び書き込み動作時にオン状態になるもので
    あることを特徴とするアナログFIFOメモリ。
  3. 【請求項3】 請求項2記載のアナログFIFOメモリ
    において、 前記メモリバス回路のメモリセルに、前記メモリバスを
    介してアナログ信号を書き込む書き込み回路と、 前記メモリバス回路のメモリセルから、前記メモリバス
    を介してアナログ信号を読み出す読み出し回路とを備
    え、 前記メモリバス回路は、 前記書き込み回路とメモリバスとを、書き込み動作時は
    導通状態にする一方、読み出し動作時は非導通状態にす
    る入力手段と、 前記読み出し回路とメモリバスとを、読み出し動作時は
    導通状態にする一方、書き込み動作時は非導通状態にす
    る出力手段とを備えたものであり、 リセット動作時において、 前記メモリバス回路は、入力手段によって書き込み回路
    とメモリバスとを非導通状態にすると共に出力手段によ
    って読み出し回路とメモリバスとを導通状態にし、か
    つ、メモリバスに接続された全てのメモリセルのスイッ
    チをオフ状態にする一方、前記読み出し回路は、前記出
    力手段を介してメモリバスと接続されたアナログ信号入
    力端子を所定の電位に設定することを特徴とするアナロ
    グFIFOメモリ。
  4. 【請求項4】 請求項3記載のアナログFIFOメモリ
    において、 前記メモリバスは、第1及び第2のバス配線によって構
    成されており、 前記読み出し回路は、 逆相入力端子が前記第1のバス配線と前記出力手段を介
    して接続される一方、正相入力端子が前記第2のバス配
    線と前記出力手段を介して接続されると共に所定の電位
    に設定された演算増幅器と、 前記演算増幅器の逆相入力端子と出力端子との間に設け
    られ、アナログ信号を電荷の形で蓄積する容量素子と、 前記演算増幅器の逆相入力端子と出力端子との間に前記
    容量素子と並列に設けられ、前記演算増幅器の逆相入力
    端子と出力端子との接続状態を切替制御するスイッチと
    を備え、 前記スイッチは、リセット動作時においてオン状態にな
    る一方、読み出し動作時及び書き込み動作時においてオ
    フ状態になるとを特徴とするアナログFIFOメモリ。
  5. 【請求項5】 請求項4記載のアナログFIFOメモリ
    において、 前記読み出し回路は、前記スイッチの代わりに、前記演
    算増幅器の逆相入力端子と前記所定の電位を有する電源
    との接続状態を切替制御する第1のスイッチと、前記演
    算増幅器の出力端子と前記所定の電位を有する電源との
    接続状態を切替制御する第2のスイッチとを備え、 前記第1及び第2のスイッチは、リセット動作時におい
    てオン状態になる一方、読み出し動作時及び書き込み動
    作時においてオフ状態になることを特徴とするアナログ
    FIFOメモリ。
  6. 【請求項6】 請求項1記載のアナログFIFOメモリ
    において、 前記メモリバス回路をそれぞれ有する複数のメモリ部を
    備え、 前記複数のメモリ部は、読み出し動作及び書き込み動作
    を並行して行い、かつ一のメモリ部が読み出し動作を行
    うとき、他のメモリ部が書き込み動作を行うものであ
    り、 各メモリ部は、読み出し動作を行う前にリセット動作を
    行うことを特徴とするアナログFIFOメモリ。
  7. 【請求項7】 請求項6記載のアナログFIFOメモリ
    において、 前記複数のメモリ部のうち一のメモリ部がリセット動作
    を行い、続いて読み出し動作を行うとき、他のメモリ部
    は書き込み動作を行うことを特徴とするアナログFIF
    Oメモリ。
  8. 【請求項8】 請求項6記載のアナログFIFOメモリ
    において、 前記複数のメモリ部のうち一のメモリ部が読み出し動作
    を行うとき、他のメモリ部は書き込み動作を行い、続い
    てリセット動作を行うことを特徴とするアナログFIF
    Oメモリ。
  9. 【請求項9】 請求項6記載のアナログFIFOメモリ
    において、 前記複数のメモリ部の個数は3以上であり、 前記複数のメモリ部のうち一のメモリ部が読み出し動作
    を行い、かつ他のメモリ部が書き込み動作を行うとき、
    前記一及び他のメモリ部以外のメモリ部がリセット動作
    を行うことを特徴とするアナログFIFOメモリ。
  10. 【請求項10】 請求項1記載のアナログFIFOメモ
    リにおいて、 前記メモリバス回路を複数個備え、この複数のメモリバ
    ス回路のうち一のメモリバス回路に対して読み出し動作
    及び書き込み動作を行ったとき、次に、前記一のメモリ
    バス回路以外のメモリバス回路に対して読み出し動作及
    び書き込み動作を行うものであり、 一のメモリバス回路に対して読み出し動作及び書き込み
    動作を行うとき、次に読み出し動作及び書き込み動作を
    行う他のメモリバス回路に対してリセット動作を行うこ
    とを特徴とするアナログFIFOメモリ。
  11. 【請求項11】 請求項10記載のアナログFIFOメ
    モリにおいて、 各メモリバス回路のメモリセルに対して、垂直アドレッ
    シングを行うものであることを特徴とするアナログFI
    FOメモリ。
  12. 【請求項12】 入力したアナログ信号を所定の時間遅
    延させて入力順に出力するアナログFIFOメモリであ
    って、 アナログ信号を記憶する複数のメモリセルと、各メモリ
    セルに接続され、アナログ信号を転送するメモリバスと
    を有するメモリバス回路を備え、 前記メモリセルは、アナログ信号を電荷の形で蓄積する
    容量素子と、前記容量素子とメモリバスとの接続状態を
    切替制御するスイッチとを有し、前記スイッチは、当該
    メモリセルがアナログ信号の読み出し及び書き込みを行
    う対象として選択されたとき、読み出し動作及び書き込
    み動作時にオン状態になるものであり、 前記メモリバス回路は、前記メモリバスに接続されたダ
    ミー容量素子を有するダミーメモリセルをさらに備えて
    いることを特徴とするアナログFIFOメモリ。
  13. 【請求項13】 請求項12記載のアナログFIFOメ
    モリにおいて、 前記ダミーメモリセルは、前記メモリバスの両端に前記
    複数のメモリセルを挟むように設けられていることを特
    徴とするアナログFIFOメモリ。
  14. 【請求項14】 入力したアナログ信号を所定の時間遅
    延させて入力順に出力するアナログFIFOメモリであ
    って、 アナログ信号を記憶する複数のメモリセルと、各メモリ
    セルに接続され、かつアナログ信号を転送するメモリバ
    スとを備え、 前記メモリセルは、アナログ信号を蓄積する素子と、こ
    の素子とメモリバスとの接続状態を切替制御するスイッ
    チとを有し、前記スイッチは、ドレイン及びソースのう
    ち一方がメモリバスに接続されると共に他方が前記素子
    に接続され、かつ、ゲートに制御信号が入力されるMO
    Sトランジスタによって構成されており、 前記MOSトランジスタは、このMOSトランジスタの
    ドレインからソースに漏れる電気力線が遮断されるよ
    う、ドレインとソースとの間にゲートが挿入されたレイ
    アウトパターンを有することを特徴とするアナログFI
    FOメモリ。
  15. 【請求項15】 素子と信号線との接続状態を切替制御
    するスイッチング素子であって、 ドレイン及びソースのうち一方が前記素子に接続される
    と共に他方が前記信号線に接続され、ゲートに制御信号
    が入力されるMOSトランジスタによって構成されてお
    り、 前記MOSトランジスタは、このMOSトランジスタの
    ドレインからソースに漏れる電気力線が遮断されるよ
    う、ドレインとソースとの間にゲートが挿入されたレイ
    アウトパターンを有することを特徴とするスイッチング
    素子。
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JP2007036872A (ja) * 2005-07-28 2007-02-08 Sanyo Electric Co Ltd アナログメモリ回路及びビデオ信号処理装置
CN100383839C (zh) * 2004-11-26 2008-04-23 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 移位寄存系统、移位寄存方法和显示装置驱动电路
WO2022102402A1 (ja) * 2020-11-10 2022-05-19 ソニーグループ株式会社 半導体装置

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