JPH10144768A - Wafer transfer jig and manufacture of semiconductor thereby - Google Patents

Wafer transfer jig and manufacture of semiconductor thereby

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JPH10144768A
JPH10144768A JP30192096A JP30192096A JPH10144768A JP H10144768 A JPH10144768 A JP H10144768A JP 30192096 A JP30192096 A JP 30192096A JP 30192096 A JP30192096 A JP 30192096A JP H10144768 A JPH10144768 A JP H10144768A
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JP
Japan
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wafer
semiconductor
semiconductor wafer
transfer jig
storage
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JP30192096A
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Japanese (ja)
Inventor
Yuichi Naganuma
裕一 長沼
Ryoichi Aoyanagi
良一 青柳
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a wafer transfer jig which is capable of preventing foreign objects from adhering to a wafer and causing less damage to the wafer. SOLUTION: A jig 2 is composed of wafer guide paths 2a which are correspondent to the wafer partitioning section 3b of a wafer carrier 3 and the wafer partitioning section of a half carrier 4 respectively, the opposed walls 2b, the opposed wall supports 2c which link the walls 2b, and a recess and a projection which position the jig 2 to the wafer carrier 3 and the half carrier 4. When a semiconductor wafer 1 is transferred from the wafer carrier 3 to the half carrier 4 and vice versa by the jig 2, the jig 2 is provided adjacent to and between the wafer carrier 3 and the half carrier 4 as positioned by the recess and the projection to the carriers 3 and 4 so as to guide a semiconductor wafer 1.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造技術に
関し、特に、洗浄工程において半導体ウェハを移載する
際に半導体ウェハの損傷を低減するウェハ移載治具およ
びそれを用いる半導体製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing technique, and more particularly to a wafer transfer jig for reducing damage to a semiconductor wafer when transferring a semiconductor wafer in a cleaning process, and a semiconductor manufacturing method using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】以下に説明する技術は、本発明を研究、
完成するに際し、本発明者によって検討されたものであ
り、その概要は次のとおりである。
2. Description of the Related Art The technology described below studies the present invention,
Upon completion, they were examined by the inventor, and the outline is as follows.

【0003】半導体ウェハの製造工程で用いるウェハキ
ァリア(半導体ウェハの収容ケース)には、半導体ウェ
ハ全体を覆う形状のキャリアと、半導体ウェハの半分程
度を覆う(半導体ウェハの露出部を多くした)形状のキ
ャリア(以降、ハーフキャリアと呼ぶ)とがある。
[0003] A wafer carrier (semiconductor wafer storage case) used in a semiconductor wafer manufacturing process has a carrier that covers the entire semiconductor wafer and a carrier that covers about half of the semiconductor wafer (the exposed portion of the semiconductor wafer is increased). There is a carrier (hereinafter, referred to as a half carrier).

【0004】ここで、半導体ウェハの洗浄工程において
は、ウェハキァリアが半導体ウェハ全体を覆っている
と、洗浄の際に半導体ウェハに異物が付着し易い(また
は付着している異物が取れにくい)ことにより、半導体
ウェハの露出部を多くした前記ハーフキャリアを用いる
場合が多い。
Here, in the semiconductor wafer cleaning step, if the wafer carrier covers the entire semiconductor wafer, foreign substances are likely to adhere to the semiconductor wafer during cleaning (or the adhered foreign substances are difficult to remove). In many cases, the half carrier in which the exposed portion of the semiconductor wafer is increased is used.

【0005】さらに、このハーフキャリアを使用して半
導体ウェハを洗浄する場合、エピタキシャル成長などの
所定の処理を終えかつこの半導体ウェハを収容したウェ
ハキァリア(この場合、結晶ケースともいう)から洗浄
用のハーフキャリアに半導体ウェハを移してハーフキャ
リアごと洗浄を行う。
Further, when a semiconductor wafer is cleaned by using the half carrier, a predetermined process such as epitaxial growth is completed, and a half carrier for cleaning is removed from a wafer carrier (in this case, also referred to as a crystal case) accommodating the semiconductor wafer. Then, the semiconductor wafer is transferred and the entire half carrier is cleaned.

【0006】なお、洗浄工程などで用いるウェハキァリ
アについては、例えば、特開平7−17589号公報に
開示されている。
The wafer carrier used in the cleaning step and the like is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-17589.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところが、前記した技
術において、ウェハキァリアから洗浄用のハーフキャリ
アに半導体ウェハを移す場合、半導体ウェハの露出部が
多い、すなわちウェハ仕切り部の距離が短いと、半導体
ウェハの移動が不安定になり、それぞれの半導体ウェハ
が水平に移動しにくくなる。
However, in the above technique, when the semiconductor wafer is transferred from the wafer carrier to the cleaning half carrier, if the semiconductor wafer has many exposed portions, that is, if the distance of the wafer partitioning portion is short, the semiconductor wafer cannot be removed. Becomes unstable, and it becomes difficult for each semiconductor wafer to move horizontally.

【0008】これにより、移動の際に半導体ウェハ同士
が接触して半導体ウェハが損傷したり、半導体ウェハに
異物が付着するという問題が発生する。
As a result, there arises a problem that the semiconductor wafers are brought into contact with each other during the movement and the semiconductor wafers are damaged, or foreign substances adhere to the semiconductor wafers.

【0009】また、半導体ウェハを移動させる際に、自
動式のウェハ移載装置を用いると、コストが高く、さら
に、前記ウェハ移載装置が大形になるため、スペースの
有効活用ができないという問題も発生する。
Further, when an automatic wafer transfer device is used to move a semiconductor wafer, the cost is high and the size of the wafer transfer device is large, so that the space cannot be effectively used. Also occurs.

【0010】本発明の目的は、半導体ウェハの移動時の
異物の付着やその損傷を低減するウェハ移載治具および
それを用いる半導体製造方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a wafer transfer jig which reduces the attachment of foreign substances and the damage thereof during the movement of a semiconductor wafer, and a semiconductor manufacturing method using the same.

【0011】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
SUMMARY OF THE INVENTION Among the inventions disclosed in the present application, the outline of a representative one will be briefly described.
It is as follows.

【0013】すなわち、本発明のウェハ移載治具は、半
導体ウェハを収容する第1および第2収容ケースのウェ
ハ仕切り部に対応したウェハ案内通路部をそれぞれに有
しかつ対向する壁部と、前記壁部を連結しかつ対向する
壁部支持部と、前記第1および第2収容ケースと位置決
めを行う位置決め手段とを有し、前記第1および第2収
容ケース間で前記半導体ウェハを移動させる際に、前記
第1および第2収容ケースの間に隣接配置され、かつ前
記位置決め手段により前記第1および第2収容ケースと
位置決めされて前記半導体ウェハを案内するものであ
る。
That is, the wafer transfer jig of the present invention has a wall portion having a wafer guide passage portion corresponding to a wafer partition portion of the first and second storage cases for storing semiconductor wafers, and a wall portion facing each other. A wall support unit that connects the wall units and opposes each other; and a positioning unit that positions the first and second storage cases, and moves the semiconductor wafer between the first and second storage cases. In this case, the semiconductor wafer is guided adjacent to the first and second storage cases and positioned by the positioning means with the first and second storage cases.

【0014】これにより、ウェハ移載治具の位置決め手
段によって第1および第2収容ケースとの位置決めを行
うとともにウェハ移載治具のウェハ案内通路部によって
半導体ウェハを案内しながら半導体ウェハを移動させる
ことができる。
Thus, the semiconductor wafer is moved while the semiconductor wafer is guided by the wafer guide passage portion of the wafer transfer jig while the positioning of the first and second storage cases is performed by the positioning means of the wafer transfer jig. be able to.

【0015】その結果、各々の半導体ウェハがずれずに
ほぼ水平を維持した状態で移動することができ、移動の
際の半導体ウェハ同士の接触を防ぐことができる。
As a result, each semiconductor wafer can be moved in a state where it is maintained substantially horizontal without displacement, and contact between the semiconductor wafers during movement can be prevented.

【0016】したがって、移動時に半導体ウェハに傷が
付くことを防止できるため、半導体ウェハの損傷を低減
できる。
Therefore, it is possible to prevent the semiconductor wafer from being damaged during the movement, thereby reducing damage to the semiconductor wafer.

【0017】さらに、本発明のウェハ移載治具は、前記
位置決め手段が前記第1および第2収容ケースの開口端
部に設けられた凹部または凸部と嵌合する凸部もしくは
凹部であり、かつ前記位置決め手段が前記壁部と前記壁
部支持部とによって相反する方向を向いて形成された2
つの治具開口端部に設けられているものである。
Further, in the wafer transfer jig of the present invention, the positioning means is a projection or a recess fitted to a depression or a projection provided at an opening end of the first and second storage cases. And wherein the positioning means is formed by the wall and the wall support so as to face in opposite directions.
It is provided at the end of one jig opening.

【0018】また、本発明の半導体製造方法は、前記ウ
ェハ移載治具を用いるものであり、前記半導体ウェハを
収容した第1収容ケースを準備し、前記半導体ウェハに
所定の処理を行う際に前記半導体ウェハを収容する第2
収容ケースを準備し、前記第1および第2収容ケースの
ウェハ仕切り部に対応したウェハ案内通路部をそれぞれ
に有しかつ対向する壁部と、前記壁部を連結しかつ対向
する壁部支持部とを有する前記ウェハ移載治具を準備
し、前記第1および第2収容ケースの間に前記ウェハ移
載治具を隣接配置し、前記位置決め手段によって前記第
1および第2収容ケースと前記ウェハ移載治具とを位置
決めするとともに、前記ウェハ移載治具により前記半導
体ウェハを案内して前記第1収容ケースから前記第2収
容ケースに移動させるものである。
Further, the semiconductor manufacturing method of the present invention uses the wafer transfer jig, and prepares a first accommodation case accommodating the semiconductor wafer, and performs a predetermined process on the semiconductor wafer. A second housing the semiconductor wafer
A housing case is prepared, and a wall guide portion having a wafer guide passage portion corresponding to a wafer partition portion of the first and second storage cases, and a wall portion facing the wall portion, and a wall support portion connecting the wall portions and facing each other. Preparing the wafer transfer jig having the following, disposing the wafer transfer jig adjacent to between the first and second storage cases, and positioning the first and second storage cases and the wafer by the positioning means. In addition to positioning the transfer jig, the semiconductor wafer is guided by the wafer transfer jig and moved from the first storage case to the second storage case.

【0019】さらに、本発明の半導体製造方法は、前記
ウェハ移載治具により案内して前記第2収容ケースに前
記半導体ウェハを収容した後、前記第2収容ケースから
前記ウェハ移載治具を離脱し、前記第2収容ケースごと
前記半導体ウェハを洗浄するものである。
Further, in the semiconductor manufacturing method according to the present invention, after the semiconductor wafer is housed in the second housing case guided by the wafer transfer jig, the wafer transfer jig is moved from the second housing case. The semiconductor wafer is removed and the semiconductor wafer is cleaned together with the second storage case.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0021】図1は本発明によるウェハ移載治具の構造
の実施の形態の一例を示す斜視図、図2は本発明のウェ
ハ移載治具を用いた半導体ウェハの移載状態の実施の形
態の一例を一部破断して示す側面図、図3は本発明のウ
ェハ移載治具を用いた半導体ウェハの移載状態の実施の
形態の一例を示す斜視図、図4は本発明のウェハ移載治
具を用いた半導体ウェハの移載状態の実施の形態の一例
を一部破断して示す側面図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of an embodiment of the structure of a wafer transfer jig according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of a semiconductor wafer transfer state using the wafer transfer jig of the present invention. FIG. 3 is a perspective view showing an example of an embodiment of a transfer state of a semiconductor wafer using a wafer transfer jig of the present invention, and FIG. It is a side view which shows an example of embodiment of the state of transfer of the semiconductor wafer using the wafer transfer jig, which is partially cut away.

【0022】本実施の形態におけるウェハ移載治具2
は、半導体ウェハ1をその収容ケース間で移し替えする
際に、2つの前記収容ケースを中継し、かつ半導体ウェ
ハ1の移動を案内するものである。
Wafer transfer jig 2 in the present embodiment
When the semiconductor wafer 1 is transferred between the storage cases, the two storage cases are relayed and the movement of the semiconductor wafer 1 is guided.

【0023】なお、本実施の形態では、2つの前記収容
ケースのうち第1収容ケースが半導体ウェハ1を収容し
た際に半導体ウェハ1の全体を覆うウェハキァリア3
で、第2収容ケースが半導体ウェハ1を収容した際にそ
の半分程度を覆うハーフキャリア4の場合について説明
する。
In the present embodiment, the wafer carrier 3 that covers the entire semiconductor wafer 1 when the first of the two housing cases houses the semiconductor wafer 1.
The case where the second storage case is the half carrier 4 that covers about half of the semiconductor wafer 1 when it is stored will be described.

【0024】つまり、ウェハキァリア3(第1収容ケー
ス)は、そのウェハ収容部3aが半導体ウェハ1の全体
を覆う程度の深さで形成されたものであり、また、ハー
フキャリア4(第2収容ケース)は、そのウェハ収容部
4aが半導体ウェハ1の半分程度を覆う深さで形成され
たものである。
That is, the wafer carrier 3 (first storage case) is formed so as to have a depth such that the wafer storage portion 3a covers the entire semiconductor wafer 1 and the half carrier 4 (second storage case). ) Is formed in such a depth that the wafer accommodating portion 4 a covers about half of the semiconductor wafer 1.

【0025】したがって、本実施の形態においては、ハ
ーフキャリア4のウェハ収容部4aの方がウェハキァリ
ア3のウェハ収容部3aよりも浅く形成されている。
Therefore, in the present embodiment, the wafer accommodating portion 4a of the half carrier 4 is formed shallower than the wafer accommodating portion 3a of the wafer carrier 3.

【0026】本実施の形態におけるウェハ移載治具2の
構成は、半導体ウェハ1を収容するウェハキァリア3お
よびハーフキャリア4のウェハ仕切り部3b,4bに対
応したウェハ案内通路部2aをそれぞれに有しかつ対向
する壁部2bと、壁部2bを連結しかつ対向する壁部支
持部2cと、ウェハキァリア3およびハーフキャリア4
と位置決めを行う位置決め手段とからなり、ウェハキァ
リア3とハーフキャリア4との間で半導体ウェハ1を移
動させる際に、ウェハキァリア3およびハーフキャリア
4の間に隣接配置され、かつ前記位置決め手段によりウ
ェハキァリア3およびハーフキャリア4と位置決めされ
て半導体ウェハ1を案内するものである。
The configuration of the wafer transfer jig 2 in the present embodiment has a wafer carrier 3 accommodating the semiconductor wafer 1 and a wafer guide passage 2a corresponding to the wafer partitions 3b, 4b of the half carrier 4, respectively. An opposing wall 2b; an opposing wall support 2c connecting the wall 2b and opposing; a wafer carrier 3 and a half carrier 4;
When the semiconductor wafer 1 is moved between the wafer carrier 3 and the half carrier 4, the wafer carrier 3 and the half carrier 4 are disposed adjacent to each other. The semiconductor wafer 1 is guided by being positioned with the half carrier 4.

【0027】すなわち、ウェハ移載治具2は、図1に示
すように、2つの壁部2bと2つの壁部支持部2cとか
らなる箱形のものであり、内部の対向する両側に半導体
ウェハ1(図2参照)の移動を案内する複数のウェハ案
内通路部2aが設けられている。
That is, as shown in FIG. 1, the wafer transfer jig 2 is a box-shaped one having two wall portions 2b and two wall support portions 2c. A plurality of wafer guide passages 2a for guiding the movement of the wafer 1 (see FIG. 2) are provided.

【0028】なお、本実施の形態においては、前記位置
決め手段がウェハキァリア3の開口端部3cに設けられ
た凹部3dと凸部3e、もしくは、ハーフキャリア4の
開口端部4cに設けられた凹部4dと凸部4eとに嵌合
する凸部2eおよび凹部2dである。
In the present embodiment, the positioning means is provided with the concave portion 3d and the convex portion 3e provided at the opening end 3c of the wafer carrier 3, or the concave portion 4d provided at the opening end 4c of the half carrier 4. The projection 2e and the recess 2d fit into the projection 4e.

【0029】さらに、前記位置決め手段である凸部2e
と凹部2dとが、壁部2bと壁部支持部2cとによって
相反する方向を向いて形成された2つの治具開口端部2
fに設けられており、本実施の形態においては、図1に
示すように、2つ(両側)の治具開口端部2fの各々の
角部に、2つの凸部2eと2つの凹部2dが設けられて
いる。
Further, the projection 2e as the positioning means is provided.
Jig opening ends 2 formed by the wall 2b and the wall support 2c in opposite directions.
f, and in the present embodiment, as shown in FIG. 1, two convex portions 2e and two concave portions 2d are provided at each corner of two (both sides) jig opening ends 2f. Is provided.

【0030】また、本実施の形態は、ハーフキャリア4
のウェハ収容部4aの方がウェハキァリア3のウェハ収
容部3aよりも浅く形成されている場合であるため、半
導体ウェハ1を移動させる際には、ウェハ収容部4aが
浅く形成されたハーフキャリア4の開口端部4cにウェ
ハ移載治具2が着脱自在に取り付けられる。
In this embodiment, the half carrier 4
Since the wafer accommodating portion 4a is formed shallower than the wafer accommodating portion 3a of the wafer carrier 3, when the semiconductor wafer 1 is moved, the wafer carrier 4a of the half carrier 4 having the shallower wafer accommodating portion 4a is formed. The wafer transfer jig 2 is detachably attached to the opening end 4c.

【0031】ここで、ウェハ移載治具2は、耐薬品性に
富んだ材料、例えば、PTFE(ポリテトラフロロエチ
レン)などのフッ素系樹脂によって形成されている。
Here, the wafer transfer jig 2 is formed of a material having high chemical resistance, for example, a fluorine-based resin such as PTFE (polytetrafluoroethylene).

【0032】さらに、ウェハ移載治具2において、内部
の対向する両側すなわち対向する2つの壁部2bのそれ
ぞれの内側に設けられた複数のウェハ案内通路部2a
は、半導体ウェハ1の厚さよりも多少大きい幅を有した
溝状のものであり、これにより、1枚1枚の半導体ウェ
ハ1の移動を案内する。
Further, in the wafer transfer jig 2, a plurality of wafer guide passages 2a provided on both sides facing each other, that is, inside each of two opposed walls 2b.
Is a groove having a width slightly larger than the thickness of the semiconductor wafer 1, and guides the movement of each semiconductor wafer 1.

【0033】また、ウェハキァリア3およびハーフキャ
リア4は、半導体製造工程において半導体ウェハ1の搬
送や洗浄などを行う際に一度に複数の半導体ウェハ1を
収容するものであり、ウェハ移載治具2と同様に、耐薬
品性に富んだ材料、例えば、PTFEなどのフッ素系樹
脂によって形成されている。
The wafer carrier 3 and the half carrier 4 accommodate a plurality of semiconductor wafers 1 at a time when the semiconductor wafers 1 are transported or washed in a semiconductor manufacturing process. Similarly, it is formed of a material having high chemical resistance, for example, a fluorine-based resin such as PTFE.

【0034】次に、本実施の形態による半導体製造方法
について説明する。
Next, the semiconductor manufacturing method according to the present embodiment will be described.

【0035】なお、前記半導体製造方法は、ウェハ移載
治具2を用いるものであり、本実施の形態においては、
エピタキシャル成長を終えた半導体ウェハ1をウェハ移
載治具2を用いてウェハキァリア3からハーフキャリア
4に移し、ハーフキャリア4ごと半導体ウェハ1を洗浄
した後、半導体ウェハ1を再びウェハキァリア3に移す
場合について説明する。
The semiconductor manufacturing method uses the wafer transfer jig 2, and in this embodiment,
A description will be given of a case where the semiconductor wafer 1 after the epitaxial growth is transferred from the wafer carrier 3 to the half carrier 4 using the wafer transfer jig 2, the semiconductor wafer 1 is cleaned together with the half carrier 4, and then the semiconductor wafer 1 is transferred to the wafer carrier 3 again. I do.

【0036】さらに、本実施の形態においては、ウェハ
キァリア3とハーフキャリア4との間で半導体ウェハ1
を移動させる際に、図2に示すウェハ移載装置5を用い
て半導体ウェハ1を移動させる場合について説明する。
Further, in the present embodiment, the semiconductor wafer 1 is placed between the wafer carrier 3 and the half carrier 4.
The case where the semiconductor wafer 1 is moved using the wafer transfer device 5 shown in FIG.

【0037】ここで、ウェハ移載装置5は、水平な移載
面5bを備えかつ半導体ウェハ1の移動が行われる板状
の移載台5aと半導体ウェハ1を押す押圧手段であるプ
ッシャー5cとからなるものである。
Here, the wafer transfer device 5 includes a plate-shaped transfer table 5a having a horizontal transfer surface 5b and on which the semiconductor wafer 1 is moved, and a pusher 5c as pressing means for pressing the semiconductor wafer 1. It consists of

【0038】なお、プッシャー5cの少なくとも半導体
ウェハ1との接触部は、PTFEなどのフッ素系樹脂に
よって形成されている。
Note that at least the contact portion of the pusher 5c with the semiconductor wafer 1 is formed of a fluorine resin such as PTFE.

【0039】また、本実施の形態においては、プッシャ
ー5cを用いて手動で半導体ウェハ1を押す場合につい
て説明する。
In this embodiment, a case where the semiconductor wafer 1 is manually pushed using the pusher 5c will be described.

【0040】すなわち、本実施の形態のウェハ移載装置
5は、手動で半導体ウェハ1を移動させるものである。
That is, the wafer transfer device 5 of the present embodiment is for manually moving the semiconductor wafer 1.

【0041】ただし、ウェハ移載装置5は、自動式のも
のであってもよく、プッシャー5cを自動で動作させて
半導体ウェハ1を移動させるものであってもよい。
However, the wafer transfer device 5 may be of an automatic type, or may be of a type that moves the semiconductor wafer 1 by automatically operating the pusher 5c.

【0042】半導体ウェハ1を移動させる手順について
説明すると、まず、ウェハ移載装置5を準備するととも
に、エピタキシャル成長工程を終えた複数の半導体ウェ
ハ1を第1収容ケースであるウェハキァリア3に収容す
る。
The procedure for moving the semiconductor wafer 1 will be described. First, a wafer transfer device 5 is prepared, and a plurality of semiconductor wafers 1 having undergone the epitaxial growth step are housed in a wafer carrier 3 as a first housing case.

【0043】つまり、複数の半導体ウェハ1を収容した
ウェハキァリア3を準備する。
That is, a wafer carrier 3 containing a plurality of semiconductor wafers 1 is prepared.

【0044】続いて、半導体ウェハ1を収容する第2収
容ケースであるハーフキャリア4を準備する。
Subsequently, a half carrier 4 as a second housing case for housing the semiconductor wafer 1 is prepared.

【0045】さらに、ウェハキァリア3のウェハ仕切り
部3bおよびハーフキャリア4のウェハ仕切り部4bに
対応したウェハ案内通路部2aをそれぞれに有しかつ対
向する壁部2bと、壁部2bを連結しかつ対向する壁部
支持部2cとを有するウェハ移載治具2を準備する。
Further, a wall guide 2a corresponding to the wafer partition 3b of the wafer carrier 3 and the wafer partition 4b of the half carrier 4, respectively, is provided. A wafer transfer jig 2 having a wall supporting portion 2c to be prepared is prepared.

【0046】なお、ウェハキァリア3とハーフキャリア
4とでは、ハーフキャリア4の方がウェハ収容部4aが
浅く形成されているため、ハーフキャリア4の開口端部
4cにウェハ移載治具2を着脱自在に取り付ける。
Since the wafer carrier 3 and the half carrier 4 have a shallower wafer accommodating portion 4a in the half carrier 4, the wafer transfer jig 2 can be detachably attached to the open end 4c of the half carrier 4. Attach to

【0047】この際、ウェハ移載治具2の治具開口端部
2fの角部に設けられた凸部2eおよび凹部2dを、ハ
ーフキャリア4の開口端部4cの角部に設けられた凹部
4dおよび凸部4eとそれぞれ嵌合させる。
At this time, the convex portion 2e and the concave portion 2d provided at the corner of the jig opening end 2f of the wafer transfer jig 2 are replaced with the concave portion provided at the corner of the opening end 4c of the half carrier 4. 4d and the protrusion 4e are fitted respectively.

【0048】これにより、ウェハ移載治具2のウェハ案
内通路部2aとハーフキャリア4のウェハ仕切り部4b
との位置を合わせてハーフキャリア4にウェハ移載治具
2を着脱自在に取り付けることができる。
Thus, the wafer guide passage 2a of the wafer transfer jig 2 and the wafer partition 4b of the half carrier 4
And the wafer transfer jig 2 can be removably attached to the half carrier 4.

【0049】続いて、半導体ウェハ1を収容したウェハ
キァリア3と、ウェハ移載治具2を取り付けたハーフキ
ャリア4とをそれぞれ位置決めしてウェハ移載装置5の
移載台5aの移載面5b上に載置する。
Subsequently, the wafer carrier 3 accommodating the semiconductor wafer 1 and the half carrier 4 to which the wafer transfer jig 2 is attached are positioned respectively on the transfer surface 5b of the transfer table 5a of the wafer transfer device 5. Place on.

【0050】この時、ウェハ移載治具2においてハーフ
キャリア4と嵌合させた治具開口端部2fと反対側の治
具開口端部2fを、ウェハキァリア3の開口端部3cと
対向させて配置する。
At this time, in the wafer transfer jig 2, the jig opening end 2 f opposite to the jig opening end 2 f fitted with the half carrier 4 is opposed to the opening end 3 c of the wafer carrier 3. Deploy.

【0051】その後、移載面5b上で、ハーフキャリア
4と嵌合させた治具開口端部2fと反対側の治具開口端
部2fの角部に設けられた凸部2eおよび凹部2dを、
ウェハキァリア3の開口端部3cの角部に設けられた凹
部3dおよび凸部3eとそれぞれ嵌合させる。
Thereafter, on the transfer surface 5b, the convex portion 2e and the concave portion 2d provided at the corner of the jig opening end 2f opposite to the jig opening end 2f fitted with the half carrier 4 are formed. ,
The concave portions 3d and the convex portions 3e provided at the corners of the opening end 3c of the wafer carrier 3 are fitted respectively.

【0052】これにより、移載台5aの移載面5b上に
おいて、ウェハ移載治具2がウェハキァリア3とハーフ
キャリア4との間でお互いに位置決めされるとともに隣
接配置されたことになる。
Thus, on the transfer surface 5b of the transfer table 5a, the wafer transfer jigs 2 are positioned between the wafer carrier 3 and the half carrier 4 and are arranged adjacent to each other.

【0053】その後、移載台5aに形成された案内溝5
dに沿って手動でプッシャー5cを動作させる。
Thereafter, the guide groove 5 formed in the transfer table 5a
The pusher 5c is manually operated along d.

【0054】つまり、案内溝5dに沿ってプッシャー5
cを動かしていき、ウェハキァリア3に収容された複数
の半導体ウェハ1にプッシャー5cを接触させる。
That is, the pusher 5 extends along the guide groove 5d.
By moving c, the pusher 5 c is brought into contact with the plurality of semiconductor wafers 1 housed in the wafer carrier 3.

【0055】さらに、プッシャー5cを動かすことによ
り、図3に示すように複数の半導体ウェハ1を同時に移
動させ、ウェハキァリア3からハーフキャリア4に移
す。
Further, by moving the pusher 5c, a plurality of semiconductor wafers 1 are simultaneously moved as shown in FIG. 3, and are transferred from the wafer carrier 3 to the half carrier 4.

【0056】なお、半導体ウェハ1が移動してウェハ移
載治具2内を通る際には、ウェハ案内通路部2aによっ
て半導体ウェハ1を案内する。
When the semiconductor wafer 1 moves and passes through the wafer transfer jig 2, the semiconductor wafer 1 is guided by the wafer guide passage 2a.

【0057】その後、全ての半導体ウェハ1が確実にハ
ーフキャリア4のウェハ収容部4aに納まるまでプッシ
ャー5cを押す。
Thereafter, the pusher 5c is pushed until all the semiconductor wafers 1 are securely accommodated in the wafer accommodating portion 4a of the half carrier 4.

【0058】その結果、ウェハ移載治具2によって半導
体ウェハ1を案内しながら、半導体ウェハ1をハーフキ
ャリア4に移すことができる。
As a result, the semiconductor wafer 1 can be transferred to the half carrier 4 while guiding the semiconductor wafer 1 by the wafer transfer jig 2.

【0059】続いて、半導体ウェハ1の移動終了後、プ
ッシャー5cを元の所定位置に戻すとともに、半導体ウ
ェハ1を収容したハーフキャリア4を移載面5bから外
し、その後、ハーフキャリア4からウェハ移載治具2を
離脱させる。
Subsequently, after the movement of the semiconductor wafer 1 is completed, the pusher 5c is returned to the original predetermined position, the half carrier 4 containing the semiconductor wafer 1 is removed from the transfer surface 5b, and then the wafer is transferred from the half carrier 4. The mounting jig 2 is detached.

【0060】さらに、所定の洗浄装置まで半導体ウェハ
1を収容したハーフキャリア4を搬送し、前記洗浄装置
によって、半導体ウェハ1をハーフキャリア4ごと洗浄
する。
Further, the half carrier 4 containing the semiconductor wafer 1 is transported to a predetermined cleaning device, and the semiconductor wafer 1 is cleaned together with the half carrier 4 by the cleaning device.

【0061】洗浄終了後、半導体ウェハ1を収容したハ
ーフキャリア4に再度ウェハ移載治具2を取り付け、図
4に示すように、再びウェハ移載装置5を用いて、ハー
フキャリア4に収容された半導体ウェハ1をウェハキァ
リア3に移す。
After the cleaning is completed, the wafer transfer jig 2 is attached again to the half carrier 4 containing the semiconductor wafer 1 and, as shown in FIG. The semiconductor wafer 1 is transferred to a wafer carrier 3.

【0062】なお、この際の半導体ウェハ1の移載方法
は、前記したウェハキァリア3からハーフキャリア4に
半導体ウェハ1を移動させる際の半導体ウェハ1の移載
方法と同様である。
The method of transferring the semiconductor wafer 1 at this time is the same as the method of transferring the semiconductor wafer 1 when the semiconductor wafer 1 is moved from the wafer carrier 3 to the half carrier 4.

【0063】これにより、洗浄を終えた半導体ウェハ1
をウェハキァリア3に移すことができる。
As a result, the semiconductor wafer 1 after the cleaning is completed.
Can be transferred to the wafer carrier 3.

【0064】続いて、所定の処理(次工程)を行う場所
に洗浄済みの半導体ウェハ1を収容したウェハキァリア
3を搬送する。
Subsequently, the wafer carrier 3 containing the cleaned semiconductor wafer 1 is transported to a place where a predetermined process (the next step) is performed.

【0065】本実施の形態のウェハ移載治具および半導
体製造方法によれば、以下のような作用効果が得られ
る。
According to the wafer transfer jig and the semiconductor manufacturing method of the present embodiment, the following operational effects can be obtained.

【0066】すなわち、ウェハ移載治具2が、ウェハキ
ァリア3およびハーフキャリア4のウェハ収容部3a,
4aに対応したウェハ案内通路部2aと、ウェハキァリ
ア3およびハーフキャリア4と位置決めを行う位置決め
手段である凹部2dおよび凸部2eとを有することによ
り、凹部2dと凸部2eとによってウェハキァリア3お
よびハーフキャリア4と位置決めを行うとともにウェハ
案内通路部2aによって半導体ウェハ1を案内しながら
ウェハキァリア3とハーフキャリア4との間で半導体ウ
ェハ1を移動させることができる。
That is, the wafer transfer jig 2 moves the wafer carrier 3 and the
4a, and a concave portion 2d and a convex portion 2e as positioning means for positioning the wafer carrier 3 and the half carrier 4 with the wafer carrier 3 and the half carrier 4. 4, the semiconductor wafer 1 can be moved between the wafer carrier 3 and the half carrier 4 while guiding the semiconductor wafer 1 by the wafer guide passage 2a.

【0067】これにより、各々の半導体ウェハ1がずれ
ずにほぼ水平を維持した状態で移動することができ、移
動の際の半導体ウェハ1同士の接触を防ぐことができ
る。
As a result, each semiconductor wafer 1 can be moved in a state where it is maintained substantially horizontal without displacement, and contact between the semiconductor wafers 1 during movement can be prevented.

【0068】したがって、移動時に半導体ウェハ1に傷
が付くことを防止できるため、半導体ウェハ1の損傷を
低減できる。
Therefore, it is possible to prevent the semiconductor wafer 1 from being damaged during the movement, so that damage to the semiconductor wafer 1 can be reduced.

【0069】その結果、半導体ウェハ1の歩留りを向上
させることができる。
As a result, the yield of semiconductor wafer 1 can be improved.

【0070】なお、前記位置決め手段が凹部2dおよび
凸部2eであるとともに、前記位置決め手段がウェハ移
載治具2の相反する方向を向いて形成された2つの治具
開口端部2fに設けられていることにより、ウェハキァ
リア3とハーフキャリア4とウェハ移載治具2とを容易
にかつ高精度に位置決めすることができる。
The positioning means is a concave part 2d and a convex part 2e, and the positioning means is provided at two jig opening ends 2f formed in opposite directions of the wafer transfer jig 2. Accordingly, the wafer carrier 3, the half carrier 4, and the wafer transfer jig 2 can be easily and accurately positioned.

【0071】また、ウェハキァリア3およびハーフキャ
リア4においてそのウェハ収容部4aが浅く形成された
ハーフキャリア4の開口端部4cにウェハ移載治具2が
着脱自在に取り付けられて半導体ウェハ1を案内するこ
とにより、移動時の半導体ウェハ1の露出部を減少させ
ることができる。
Further, in the wafer carrier 3 and the half carrier 4, the wafer transfer jig 2 is detachably attached to the opening end 4c of the half carrier 4 in which the wafer accommodating portion 4a is formed shallowly, and guides the semiconductor wafer 1. Thereby, the exposed portion of the semiconductor wafer 1 during movement can be reduced.

【0072】これにより、移動の際に半導体ウェハ1が
他の部材と接触することを防止できるとともに、半導体
ウェハ1に異物が付着することを低減できる。
As a result, the semiconductor wafer 1 can be prevented from coming into contact with other members during the movement, and the adhesion of foreign matter to the semiconductor wafer 1 can be reduced.

【0073】さらに、ハーフキャリア4の開口端部4c
にウェハ移載治具2が着脱自在に取り付けられて半導体
ウェハ1を案内することにより、ハーフキャリア4ごと
半導体ウェハ1を洗浄する際にも、移動後ウェハ移載治
具2をハーフキャリア4から容易に取り外すことができ
る。
Further, the opening end 4c of the half carrier 4
The wafer transfer jig 2 is detachably attached to the semiconductor wafer 1 to guide the semiconductor wafer 1, so that even when the semiconductor wafer 1 is cleaned together with the half carrier 4, the wafer transfer jig 2 is moved from the half carrier 4 after the movement. Can be easily removed.

【0074】また、移載台5aと押圧手段であるプッシ
ャー5cとを有するウェハ移載装置5を用い、かつウェ
ハキァリア3とハーフキャリア4との間でウェハ移載治
具2を介して半導体ウェハ1を移動させる際に、手動で
かつプッシャー5cによって半導体ウェハ1を押すこと
により、ウェハ移載装置5の構造を簡略化することがで
きる。
Further, the semiconductor wafer 1 is provided between the wafer carrier 3 and the half carrier 4 via the wafer transfer jig 2 by using the wafer transfer device 5 having the transfer table 5a and the pusher 5c as the pressing means. By moving the semiconductor wafer 1 manually and by the pusher 5c, the structure of the wafer transfer device 5 can be simplified.

【0075】これにより、ウェハ移載装置5にかかるコ
ストを大幅に減らすことができるとともに、ウェハ移載
装置5を小型化することもできるため、スペースを有効
活用することもできる。
As a result, the cost of the wafer transfer device 5 can be greatly reduced, and the size of the wafer transfer device 5 can be reduced, so that the space can be effectively used.

【0076】以上、本発明者によってなされた発明を発
明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記発明の実施の形態に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言う
までもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments of the present invention, the present invention is not limited to the embodiments of the present invention, and does not depart from the gist of the invention. It is needless to say that various changes can be made.

【0077】例えば、前記実施の形態においては、ウェ
ハ移載治具2の両側の治具開口端部2fに位置決め手段
として各々2つの凹部2dと2つの凸部2eとが設けら
れている場合を説明したが、前記位置決め手段は、ウェ
ハキァリア3およびハーフキャリア4の凹部3d,4d
または凸部3e,4eに応じて全て凹部2dもしくは全
て凸部2eであってもよい。
For example, in the above-described embodiment, a case where two concave portions 2d and two convex portions 2e are provided as positioning means at the jig opening ends 2f on both sides of the wafer transfer jig 2, respectively. As described above, the positioning means includes the concave portions 3 d and 4 d of the wafer carrier 3 and the half carrier 4.
Alternatively, all the concave portions 2d or all the convex portions 2e may be used according to the convex portions 3e and 4e.

【0078】また、前記実施の形態においては、第1収
容ケースがウェハキァリア3で、かつ第2収容ケースが
ハーフキャリア4の場合について説明したが、前記第2
収容ケースはウェハキァリア3であってもよい。
In the above embodiment, the case where the first storage case is the wafer carrier 3 and the second storage case is the half carrier 4 has been described.
The storage case may be a wafer carrier 3.

【0079】すなわち、ウェハ移載治具2が2つのウェ
ハキァリア3間に隣接配置され、一方のウェハキァリア
3から他方のウェハキァリア3に半導体ウェハ1を移す
際に、これを中継して案内するものであってもよい。
That is, the wafer transfer jig 2 is arranged adjacent to the two wafer carriers 3, and relays and guides the semiconductor wafer 1 when transferring the semiconductor wafer 1 from one wafer carrier 3 to the other wafer carrier 3. You may.

【0080】さらに、前記実施の形態では、半導体製造
工程において、エピタキシャル成長を終えた半導体ウェ
ハ1をウェハキァリア3からハーフキャリア4に移動さ
せ、その後、ハーフキャリア4ごと半導体ウェハ1を洗
浄する場合について説明したが、前記エピタキシャル成
長や洗浄は、半導体製造工程における他の工程であって
もよい。
Further, in the above-described embodiment, the case where the semiconductor wafer 1 after the epitaxial growth is moved from the wafer carrier 3 to the half carrier 4 in the semiconductor manufacturing process, and then the semiconductor wafer 1 together with the half carrier 4 is washed has been described. However, the epitaxial growth and cleaning may be another process in the semiconductor manufacturing process.

【0081】すなわち、半導体製造工程において如何な
る工程であっても、ウェハキァリア3からハーフキャリ
ア4に半導体ウェハ1を移す際に、あるいはウェハキァ
リア3間で半導体ウェハ1を移す際には、前記実施の形
態におけるウェハ移載治具2を用いることができる。
That is, in any process in the semiconductor manufacturing process, when transferring the semiconductor wafer 1 from the wafer carrier 3 to the half carrier 4 or when transferring the semiconductor wafer 1 between the wafer carriers 3, The wafer transfer jig 2 can be used.

【0082】なお、ウェハ移載治具2は、洗浄液などに
対する耐薬品性を有しかつ半導体ウェハ1に悪影響を及
ぼさない材料であれば、フッ素系樹脂以外の他の材料に
よって形成されていてもよい。
The wafer transfer jig 2 may be made of any material other than the fluorine-based resin as long as the material has chemical resistance to a cleaning liquid or the like and does not adversely affect the semiconductor wafer 1. Good.

【0083】[0083]

【発明の効果】本願によって開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
Advantageous effects obtained by typical ones of the inventions disclosed by the present application will be briefly described as follows.
It is as follows.

【0084】(1).第1および第2収容ケースのウェ
ハ仕切り部に対応したウェハ案内通路部と、第1および
第2収容ケースと位置決めを行う位置決め手段とを有し
たウェハ移載治具を用いて、半導体ウェハを第1および
第2収容ケース間で移動させることにより、各々の半導
体ウェハがずれずにほぼ水平を維持した状態で移動する
ことができ、移動の際の半導体ウェハ同士の接触を防ぐ
ことができる。
(1). Using a wafer transfer jig having a wafer guide passage portion corresponding to the wafer partitioning portion of the first and second storage cases and a positioning means for positioning the first and second storage cases, the semiconductor wafer is moved to the second position. By moving the semiconductor wafer between the first and second storage cases, each semiconductor wafer can be moved in a state where it is maintained substantially horizontal without shifting, and contact between the semiconductor wafers during movement can be prevented.

【0085】(2).(1)により、移動時に半導体ウ
ェハに傷が付くことを防止できるため、半導体ウェハの
損傷を低減できる。その結果、半導体ウェハの歩留りを
向上させることができる。
(2). According to (1), it is possible to prevent the semiconductor wafer from being damaged during the movement, so that damage to the semiconductor wafer can be reduced. As a result, the yield of the semiconductor wafer can be improved.

【0086】(3).位置決め手段が凹部または凸部で
あるとともに、位置決め手段がウェハ移載治具の相反す
る方向を向いて形成された2つの治具開口端部に設けら
れていることにより、第1収容ケースと第2収容ケース
とウェハ移載治具とを容易にかつ高精度に位置決めする
ことができる。
(3). The positioning means is a concave portion or a convex portion, and the positioning means is provided at two jig opening ends formed so as to face in opposite directions of the wafer transfer jig. The two housing cases and the wafer transfer jig can be easily and accurately positioned.

【0087】(4).移載台と押圧手段とを有するウェ
ハ移載装置を用い、かつ第1収容ケースと第2収容ケー
スとの間でウェハ移載治具を介して半導体ウェハを移動
させる際に、手動式のウェハ移載装置を用いることによ
り、ウェハ移載装置の構造を簡略化することができる。
これにより、ウェハ移載装置にかかるコストを大幅に減
らすことができるとともに、ウェハ移載装置を小型化す
ることもできるため、スペースを有効活用することがで
きる。
(4). When a semiconductor wafer is moved between a first housing case and a second housing case via a wafer transfer jig using a wafer transfer device having a transfer table and a pressing unit, a manual wafer By using the transfer device, the structure of the wafer transfer device can be simplified.
Accordingly, the cost of the wafer transfer device can be significantly reduced, and the size of the wafer transfer device can be reduced, so that the space can be effectively used.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるウェハ移載治具の構造の実施の形
態の一例を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an example of an embodiment of the structure of a wafer transfer jig according to the present invention.

【図2】本発明のウェハ移載治具を用いた半導体ウェハ
の移載状態の実施の形態の一例を一部破断して示す側面
図である。
FIG. 2 is a side view, partially broken away, showing an example of an embodiment of a semiconductor wafer transfer state using the wafer transfer jig of the present invention.

【図3】本発明のウェハ移載治具を用いた半導体ウェハ
の移載状態の実施の形態の一例を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing an example of an embodiment of a semiconductor wafer transfer state using the wafer transfer jig of the present invention.

【図4】本発明のウェハ移載治具を用いた半導体ウェハ
の移載状態の実施の形態の一例を一部破断して示す側面
図である。
FIG. 4 is a partially cutaway side view showing an example of an embodiment of a semiconductor wafer transfer state using the wafer transfer jig of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体ウェハ 2 ウェハ移載治具 2a ウェハ案内通路部 2b 壁部 2c 壁部支持部 2d 凹部(位置決め手段) 2e 凸部(位置決め手段) 2f 治具開口端部 3 ウェハキァリア(第1収容ケース) 3a ウェハ収容部 3b ウェハ仕切り部 3c 開口端部 3d 凹部 3e 凸部 4 ハーフキャリア(第2収容ケース) 4a ウェハ収容部 4b ウェハ仕切り部 4c 開口端部 4d 凹部 4e 凸部 5 ウェハ移載装置 5a 移載台 5b 移載面 5c プッシャー(押圧手段) 5d 案内溝 Reference Signs List 1 semiconductor wafer 2 wafer transfer jig 2a wafer guide passage 2b wall 2c wall support 2d concave (positioning means) 2e convex (positioning means) 2f jig opening end 3 wafer carrier (first storage case) 3a Wafer accommodating section 3b Wafer partitioning section 3c Open end 3d Concave section 3e Convex section 4 Half carrier (second accommodating case) 4a Wafer accommodating section 4b Wafer partition section 4c Open end 4d concave section 4e Convex section 5 Wafer transfer device 5a Transfer Table 5b Transfer surface 5c Pusher (pressing means) 5d Guide groove

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体ウェハを移動させる際にこれを案
内するウェハ移載治具であって、 前記半導体ウェハを収容する第1および第2収容ケース
のウェハ仕切り部に対応したウェハ案内通路部をそれぞ
れに有しかつ対向する壁部と、 前記壁部を連結しかつ対向する壁部支持部と、 前記第1および第2収容ケースと位置決めを行う位置決
め手段とを有し、 前記第1および第2収容ケース間で前記半導体ウェハを
移動させる際に、前記第1および第2収容ケースの間に
隣接配置され、かつ前記位置決め手段により前記第1お
よび第2収容ケースと位置決めされて前記半導体ウェハ
を案内することを特徴とするウェハ移載治具。
1. A wafer transfer jig for guiding a semiconductor wafer when moving the semiconductor wafer, comprising: A first wall and a second wall that are respectively provided and opposed to each other; a wall support that connects the walls and faces each other; and a positioning unit that positions the first and second housing cases. When the semiconductor wafer is moved between the two storage cases, the semiconductor wafer is disposed adjacent to the first and second storage cases and positioned by the positioning means with the first and second storage cases. A wafer transfer jig characterized by being guided.
【請求項2】 請求項1記載のウェハ移載治具であっ
て、前記位置決め手段が前記第1および第2収容ケース
の開口端部に設けられた凹部または凸部と嵌合する凸部
もしくは凹部であり、かつ前記位置決め手段が前記壁部
と前記壁部支持部とによって相反する方向を向いて形成
された2つの治具開口端部に設けられていることを特徴
とするウェハ移載治具。
2. The wafer transfer jig according to claim 1, wherein said positioning means fits into a concave portion or a convex portion provided at an opening end of said first and second storage cases. A concave portion, and the positioning means is provided at two jig opening ends formed in opposite directions by the wall portion and the wall portion supporting portion. Utensils.
【請求項3】 請求項1または2記載のウェハ移載治具
であって、前記第1および第2収容ケースにおいて両者
のウェハ収容部の深さが異なる際に、前記ウェハ収容部
が浅く形成された収容ケースの開口端部に着脱自在に取
り付けられて前記半導体ウェハを案内することを特徴と
するウェハ移載治具。
3. The wafer transfer jig according to claim 1, wherein the first and second storage cases have a shallower wafer storage portion when the two wafer storage portions have different depths. A wafer transfer jig, which is detachably attached to the open end of the storage case and guides the semiconductor wafer.
【請求項4】 請求項1,2または3記載のウェハ移載
治具を用いる半導体製造方法であって、 前記半導体ウェハを収容した第1収容ケースを準備し、 前記半導体ウェハに所定の処理を行う際に前記半導体ウ
ェハを収容する第2収容ケースを準備し、 前記第1および第2収容ケースのウェハ仕切り部に対応
したウェハ案内通路部をそれぞれに有しかつ対向する壁
部と、前記壁部を連結しかつ対向する壁部支持部とを有
する前記ウェハ移載治具を準備し、 前記第1および第2収容ケースの間に前記ウェハ移載治
具を隣接配置し、 前記位置決め手段によって前記第1および第2収容ケー
スと前記ウェハ移載治具とを位置決めするとともに、前
記ウェハ移載治具により前記半導体ウェハを案内して前
記第1収容ケースから前記第2収容ケースに移動させる
ことを特徴とする半導体製造方法。
4. A semiconductor manufacturing method using the wafer transfer jig according to claim 1, wherein a first housing case housing the semiconductor wafer is prepared, and a predetermined process is performed on the semiconductor wafer. When performing, a second storage case for storing the semiconductor wafer is prepared, and a wall portion having a wafer guide passage portion corresponding to a wafer partition portion of each of the first and second storage cases and facing the wall; Preparing a wafer transfer jig having a wall connecting portion and an opposed wall support portion, arranging the wafer transfer jig adjacent to between the first and second storage cases, and The first and second storage cases and the wafer transfer jig are positioned, and the semiconductor wafer is guided by the wafer transfer jig to transfer the semiconductor wafer from the first storage case to the second storage case. Semiconductor manufacturing method characterized by be.
【請求項5】 請求項4記載の半導体製造方法であっ
て、前記第2収容ケースのウェハ収容部の深さが前記第
1収容ケースのウェハ収容部の深さより浅く形成されて
いる際に、前記第2収容ケースの開口端部に前記ウェハ
移載治具を着脱自在に取り付けるとともに、前記第1お
よび第2収容ケースの間に前記ウェハ移載治具を隣接配
置して前記半導体ウェハを案内することを特徴とする半
導体製造方法。
5. The semiconductor manufacturing method according to claim 4, wherein a depth of the wafer storage portion of the second storage case is smaller than a depth of the wafer storage portion of the first storage case. The wafer transfer jig is detachably attached to the open end of the second storage case, and the wafer transfer jig is arranged adjacent to the first and second storage cases to guide the semiconductor wafer. A semiconductor manufacturing method.
【請求項6】 請求項4または5記載の半導体製造方法
であって、前記ウェハ移載治具により案内して前記第2
収容ケースに前記半導体ウェハを収容した後、前記第2
収容ケースから前記ウェハ移載治具を離脱し、前記第2
収容ケースごと前記半導体ウェハを洗浄することを特徴
とする半導体製造方法。
6. The semiconductor manufacturing method according to claim 4, wherein said second wafer is guided by said wafer transfer jig.
After storing the semiconductor wafer in the storage case, the second
The wafer transfer jig is detached from the storage case, and the second
A method for manufacturing a semiconductor, comprising: cleaning the semiconductor wafer together with the accommodation case.
【請求項7】 請求項4,5または6記載の半導体製造
方法であって、前記半導体ウェハの移動が行われる移載
台と前記半導体ウェハを押す押圧手段とを有するウェハ
移載装置を準備し、前記移載台上に前記第1収容ケース
と前記第2収容ケースとその両者間に隣接配置する前記
ウェハ移載治具とを各々位置決めして載置した後、前記
第1収容ケースに収容された前記半導体ウェハを前記押
圧手段によって押圧し、前記ウェハ移載治具によって前
記半導体ウェハを案内して前記第1収容ケースから前記
第2収容ケースに前記半導体ウェハを移動させることを
特徴とする半導体製造方法。
7. The semiconductor manufacturing method according to claim 4, 5 or 6, further comprising preparing a wafer transfer device having a transfer table on which the semiconductor wafer is moved and pressing means for pressing the semiconductor wafer. After positioning and placing the first storage case, the second storage case, and the wafer transfer jig adjacent to each other on the transfer table, the first storage case and the second storage case are stored in the first storage case. Pressing the semiconductor wafer by the pressing means, guiding the semiconductor wafer by the wafer transfer jig, and moving the semiconductor wafer from the first storage case to the second storage case. Semiconductor manufacturing method.
【請求項8】 請求項7記載の半導体製造方法であっ
て、前記押圧手段を用いて手動で前記半導体ウェハを押
すことを特徴とする半導体製造方法。
8. The semiconductor manufacturing method according to claim 7, wherein the semiconductor wafer is manually pressed by using the pressing means.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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