JPH10130865A - Substrate with hard carbon film and its forming method - Google Patents

Substrate with hard carbon film and its forming method

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JPH10130865A
JPH10130865A JP9216319A JP21631997A JPH10130865A JP H10130865 A JPH10130865 A JP H10130865A JP 9216319 A JP9216319 A JP 9216319A JP 21631997 A JP21631997 A JP 21631997A JP H10130865 A JPH10130865 A JP H10130865A
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JP
Japan
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substrate
intermediate layer
hard carbon
film
forming
Prior art date
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Application number
JP9216319A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoichi Domoto
洋一 堂本
Hitoshi Hirano
均 平野
Keiichi Kuramoto
慶一 蔵本
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a substrate coated with a hard carbon film having excellent adhesion property of the film to the substrate and excellent peeling resistance by forming an intermediate layer comprising Al, Cr or oxide, nitrides, carbides of these on a substrate and then forming a hard carbon film thereon. SOLUTION: An intermediate layer 32 essentially comprising at least one kind of Al, Cr, Sn, Co and B or oxides, nitrides or carbides of these is formed on a substrate 31. This intermediate layer 32 is formed by sputtering to 50 to 8000Å thickness while high frequency voltage is applied on the substrate 31 to produce <=-20V self bias voltage. Then a hard carbon film 33 having a diamond structure is formed by CVD or the like to 50 to 5000Å thickness on the intermediate layer 32. As for the substrate 31, a metal essentially comprising Ni or Al used for a blade of an electric shaver, stainless steel, cast iron for sliding member, steel, iron alloy, nonferrous metal material, ceramics, noble metal material and carbon can be used.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、硬質炭素被膜を表
面に形成した硬質炭素被膜基板及びその形成方法に関す
るものであり、電気シェーバーの外刃及び内刃、並びに
光磁気ディスク、薄膜磁気ヘッド、及び表面弾性波(S
AW)デバイス等に用いられる保護膜、リソグラフィー
用反射防止膜、コンプレッサーなどの摺動部品に用いら
れる保護膜、太陽電池の構成層、装飾品、及び光学部品
等に用いられる硬質炭素被膜及びその形成方法に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a hard carbon coating substrate having a hard carbon coating formed on its surface and a method for forming the same, and more particularly, to an outer blade and an inner blade of an electric shaver, a magneto-optical disk, a thin-film magnetic head, and the like. And surface acoustic waves (S
AW) A protective film used for devices and the like, an antireflection film for lithography, a protective film used for sliding parts such as a compressor, a constituent layer of a solar cell, a decorative article, and a hard carbon film used for optical parts and the like, and formation thereof. It is about the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、基板上に直接ダイヤモンド状
被膜を形成すると、ダイヤモンド状被膜と基板との密着
性が良くないことが知られており、このような問題を解
決するため、Siを中間層としてダイヤモンド状被膜と
基板との間に設けることが提案されている(特開平2−
182880号公報、特開平3−115572号公報、
特開平1−138611号公報等)。
2. Description of the Related Art Conventionally, it has been known that if a diamond-like coating is formed directly on a substrate, the adhesion between the diamond-like coating and the substrate is not good. It has been proposed to provide a layer between the diamond-like coating and the substrate (Japanese Patent Laid-Open No. Hei 2-
182880, JP-A-3-115572,
JP-A-1-138611, etc.).

【0003】また、電気シェーバー刃等に用いられるN
iまたはAlを主成分とする金属もしくは合金、または
ステンレス鋼などの基板に対しても、Si、Ru、Ge
などの中間層を介して硬質炭素被膜を形成することによ
り密着性が改善されることが開示されている(特開平7
−41386号公報、特開平7−316818号公
報)。
In addition, N used for electric shaver blades and the like
Si, Ru, Ge can also be applied to a metal or alloy containing i or Al as a main component, or a substrate such as stainless steel.
It is disclosed that the adhesion is improved by forming a hard carbon film through an intermediate layer such as that described in Japanese Patent Application Laid-Open No.
-41386, JP-A-7-316818).

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術の中間層
を、基板とダイヤモンド状炭素被膜などの硬質炭素被膜
との間に設けることにより、密着性を高め、耐剥離性を
改善することができるが、技術の豊富化及び種々の技術
的局面における応用を考慮して、その他の材料を中間層
として用い、基板に対する密着性を向上し、耐剥離性を
改善することが求められている。
By providing the intermediate layer of the prior art described above between the substrate and a hard carbon coating such as a diamond-like carbon coating, the adhesion can be increased and the peeling resistance can be improved. However, in view of enrichment of technology and application in various technical aspects, it is required to use other materials as an intermediate layer to improve adhesion to a substrate and improve peel resistance.

【0005】本発明の目的は、このような要望を満たす
ものであり、硬質炭素被膜の基板に対する密着性を高
め、耐剥離性が改善された硬質炭素被膜基板及びその形
成方法を提供することにある。
An object of the present invention is to satisfy such a demand, and to provide a hard carbon coating substrate with improved adhesion of the hard carbon coating to the substrate and improved peel resistance, and a method of forming the same. is there.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の硬質炭素被膜基
板は、基板と、該基板上に設けられ、Al、Cr、S
n、Co、及びB、並びにこれらの酸化物、窒化物、及
び炭化物からなるグループより選ばれる少なくとも一種
を主成分とする中間層と、前記中間層上に設けられる硬
質炭素被膜とを備えている。
According to the present invention, there is provided a hard carbon coated substrate according to the present invention, comprising: a substrate; and Al, Cr, S
an intermediate layer mainly composed of at least one selected from the group consisting of n, Co, and B, and oxides, nitrides, and carbides thereof; and a hard carbon coating provided on the intermediate layer. .

【0007】本発明における中間層の形成方法は特に限
定されるものではないが、例えば、スパッタリング法に
より形成することができる。スパッタリング法により形
成する場合、高周波電圧を基板に印加し、基板に自己バ
イアスを発生させながら基板上に中間層を形成すること
が好ましい。基板に発生する自己バイアス電圧として
は、−20V以下であることが好ましい。中間層を形成
する際の自己バイアス電圧を−20V以下とすることに
より、硬質炭素被膜の基板に対する密着性をさらに高め
ることができる。
The method of forming the intermediate layer in the present invention is not particularly limited, but it can be formed by, for example, a sputtering method. When the intermediate layer is formed by a sputtering method, it is preferable to apply a high-frequency voltage to the substrate and generate a self-bias on the substrate to form the intermediate layer on the substrate. The self-bias voltage generated on the substrate is preferably -20V or less. By setting the self-bias voltage at the time of forming the intermediate layer to −20 V or less, the adhesion of the hard carbon coating to the substrate can be further increased.

【0008】また、本発明における中間層は、その他の
物理的蒸着法や、化学気相成長法等により形成してもよ
い。また金属単体からなる中間層を形成する場合には、
メッキにより中間層を形成してもよい。
Further, the intermediate layer in the present invention may be formed by other physical vapor deposition, chemical vapor deposition, or the like. When forming an intermediate layer made of a simple metal,
The intermediate layer may be formed by plating.

【0009】本発明における硬質炭素被膜とは、非晶質
のダイヤモンド状被膜及び結晶性部分を含むダイヤモン
ド状被膜を含むものであり、さらには結晶性のダイヤモ
ンド被膜を含むものである。
The hard carbon coating in the present invention includes an amorphous diamond coating and a diamond coating containing a crystalline portion, and further includes a crystalline diamond coating.

【0010】本発明において、硬質炭素被膜の形成方法
は、特に限定されるものではないが、例えばCVD法に
より形成することができる。例えば、プラズマCVD法
を用いて形成することができる。この硬質炭素被膜の形
成においても、中間層の形成と同様に、基板に高周波電
圧を印加し、基板に自己バイアス電圧を発生させながら
硬質炭素被膜を形成することが好ましい。自己バイアス
電圧としては、−20V以下が好ましい。またプラズマ
CVD法におけるプラズマ発生手段としては、例えば、
電子サイクロトロン共鳴(ECR)プラズマCVD装置
等を用いることができる。このような装置を用いること
により、プラズマの密度をさらに上げることができ、低
温で高品質の硬質炭素被膜を形成することができる。
In the present invention, the method of forming the hard carbon film is not particularly limited, but it can be formed by, for example, a CVD method. For example, it can be formed using a plasma CVD method. Also in the formation of the hard carbon film, it is preferable to apply a high-frequency voltage to the substrate and generate the self-bias voltage on the substrate, as in the formation of the intermediate layer, to form the hard carbon film. The self-bias voltage is preferably −20 V or less. Examples of the plasma generating means in the plasma CVD method include, for example,
An electron cyclotron resonance (ECR) plasma CVD apparatus or the like can be used. By using such an apparatus, the density of the plasma can be further increased, and a high-quality hard carbon film can be formed at a low temperature.

【0011】本発明の硬質炭素被膜基板は、例えば、電
気シェーバーの外刃及び内刃に適用することができるも
のである。電気シェーバーの外刃及び内刃は、多くの場
合、NiまたはAlを主成分とする金属もしくは合金、
またはステンレス鋼などから形成されている。従って、
本発明においては、基板として、これらの材質からなる
基板を用いることができる。
The hard carbon coated substrate of the present invention can be applied to, for example, an outer blade and an inner blade of an electric shaver. The outer blade and the inner blade of the electric shaver are often made of a metal or alloy mainly containing Ni or Al,
Or it is formed from stainless steel or the like. Therefore,
In the present invention, a substrate made of these materials can be used as the substrate.

【0012】また、基板は、電気シェーバーの外刃及び
内刃に限定されるものではなく、光磁気ディスク、薄膜
磁気ヘッド、及び表面弾性波(SAW)デバイスに適用
することができ、これらの保護膜として硬質炭素被膜を
形成することができる。また、リソグラフィー法におけ
る露光の際の反射防止膜として硬質炭素被膜を形成して
もよい。さらに、回転圧縮機などのコンプレッサーの摺
動部品における保護膜、太陽電池における保護膜などの
構成層、光学部品や装飾品の一部として硬質炭素被膜を
形成してもよい。
Further, the substrate is not limited to the outer blade and inner blade of the electric shaver, but can be applied to a magneto-optical disk, a thin-film magnetic head, and a surface acoustic wave (SAW) device. A hard carbon film can be formed as a film. Further, a hard carbon film may be formed as an antireflection film at the time of exposure in the lithography method. Further, a hard carbon film may be formed as a protective film on a sliding part of a compressor such as a rotary compressor, a constituent layer such as a protective film in a solar cell, or a part of an optical part or a decorative article.

【0013】従って、本発明における基板の材質として
は、モニクロ鋳鉄などの鋳鉄、高速度工具鋼などの鋼、
SUS304などのステンレス鋼、鉄系合金、非鉄金属
材料、セラミックス、貴金属材料、及びカーボンなどが
挙げられる。非鉄金属材料及びセラミックスとしては、
Ti、Al、Zr、Si、W、Mo、In、Ta、F
e、Ni、Co、Mn、Cr、及びZnの単体あるいは
合金または焼結体と、それらの酸化物、窒化物、及び炭
化物が挙げられる。貴金属材料としては、Au、Ag、
Pt、Ru、及びPdが挙げられる。また、カーボンに
は、アルミニウム含浸カーボンが含まれる。
Therefore, the material of the substrate in the present invention includes cast iron such as monicro cast iron, steel such as high speed tool steel, and the like.
Examples include stainless steel such as SUS304, ferrous alloys, non-ferrous metal materials, ceramics, precious metal materials, and carbon. As non-ferrous metal materials and ceramics,
Ti, Al, Zr, Si, W, Mo, In, Ta, F
e, Ni, Co, Mn, Cr, and Zn alone or in the form of an alloy or sintered body, and their oxides, nitrides, and carbides. As the noble metal materials, Au, Ag,
Pt, Ru, and Pd. The carbon includes aluminum-impregnated carbon.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】図1は、本発明に従う一実施例の
硬質炭素被膜基板を示す断面図である。図1を参照し
て、基板31の上には、中間層32が形成されており、
中間層32の上に硬質炭素被膜であるダイヤモンド状被
膜33が形成されている。中間層32の厚みとしては、
50〜8000Åが好ましく、さらに好ましくは、50
〜4000Åである。またダイヤモンド状被膜33の厚
みとしては50〜5000Å程度が好ましく、さらに好
ましくは50〜3000Å程度である。
FIG. 1 is a sectional view showing a hard carbon coated substrate according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, an intermediate layer 32 is formed on a substrate 31,
A diamond-like coating 33 which is a hard carbon coating is formed on the intermediate layer 32. As the thickness of the intermediate layer 32,
It is preferably 50 to 8000 °, more preferably 50 to 8000 °.
440004. The thickness of the diamond-like coating 33 is preferably about 50 to 5000 °, and more preferably about 50 to 3000 °.

【0015】図2は、電気シェーバーの外刃及び内刃に
本発明を適用した実施例を示す断面図である。図2を参
照して、外刃の基板41の上には、中間層42が設けら
れており、この中間層42の上に硬質炭素被膜であるダ
イヤモンド状被膜43が設けられている。図3は、外刃
の基板41の平面形状を示す平面図である。図3に示す
ように、外刃の基板41には髭を捉えるための孔41a
が形成されている。
FIG. 2 is a sectional view showing an embodiment in which the present invention is applied to an outer blade and an inner blade of an electric shaver. Referring to FIG. 2, an intermediate layer 42 is provided on substrate 41 of the outer cutter, and a diamond-like coating 43 which is a hard carbon coating is provided on intermediate layer 42. FIG. 3 is a plan view showing the planar shape of the substrate 41 of the outer blade. As shown in FIG. 3, a hole 41a for catching a beard is formed in the substrate 41 of the outer blade.
Are formed.

【0016】図2に戻り、外刃の基板41の内側には、
内刃が設けられている。内刃の基板51の上には中間層
52が設けられており、中間層52の上には硬質炭素被
膜であるダイヤモンド状被膜53が設けられている。図
4は、内刃の基板51を示す正面図であり、図2の紙面
に沿う方向から見た図である。図4に示すように、内刃
の基板51の先端部分には、断面が先端に向かって広が
るテーパ状の傾斜(図2参照)を有した傾斜面51aが
形成されている。図2に戻り、このような内刃が外刃の
内側で矢印に示す方向に摺動することにより、孔41a
に捉えられた髭を切断する。
Returning to FIG. 2, inside the substrate 41 of the outer blade,
An inner blade is provided. An intermediate layer 52 is provided on the inner blade substrate 51, and a diamond-like coating 53, which is a hard carbon coating, is provided on the intermediate layer 52. FIG. 4 is a front view showing the substrate 51 of the inner blade, as viewed from a direction along the plane of FIG. As shown in FIG. 4, an inclined surface 51 a having a tapered inclination (see FIG. 2) whose cross section increases toward the distal end is formed at the distal end portion of the substrate 51 of the inner blade. Returning to FIG. 2, when the inner blade slides inside the outer blade in the direction shown by the arrow, the hole 41a is formed.
Cut the beard caught in the.

【0017】図5は中間層及び硬質炭素被膜を1つの装
置内で形成することができる薄膜形成装置を示す概略断
面図である。図5を参照して、真空チャンバー8には、
プラズマ発生室4が設けられている。プラズマ発生室4
には、導波管2の一端が取り付けられており、導波管2
の他端には、マイクロ波供給手段1が設けられている。
マイクロ波供給手段1で発生したマイクロ波は、導波管
2及びマイクロ波導入窓3を通って、プラズマ発生室4
に導かれる。プラズマ発生室4には、プラズマ発生室4
内にアルゴン(Ar)ガスなどの放電ガスを導入させる
ための放電ガス導入管5が設けられている。またプラズ
マ発生室4の周囲には、プラズマ発生磁界発生装置6が
設けられている。マイクロ波による高周波磁界と、プラ
ズマ磁界発生装置6からの磁界を作用させることによ
り、プラズマ発生室4内に高密度のプラズマが形成され
る。
FIG. 5 is a schematic sectional view showing a thin film forming apparatus capable of forming an intermediate layer and a hard carbon film in one apparatus. Referring to FIG. 5, the vacuum chamber 8 includes:
A plasma generation chamber 4 is provided. Plasma generation chamber 4
Has one end of the waveguide 2 attached thereto.
At the other end, a microwave supply means 1 is provided.
The microwave generated by the microwave supply means 1 passes through the waveguide 2 and the microwave introduction window 3 and passes through the plasma generation chamber 4.
It is led to. The plasma generation chamber 4 includes a plasma generation chamber 4
A discharge gas introduction pipe 5 for introducing a discharge gas such as an argon (Ar) gas therein is provided therein. A plasma generation magnetic field generator 6 is provided around the plasma generation chamber 4. A high-density plasma is formed in the plasma generation chamber 4 by applying a high-frequency magnetic field generated by a microwave and a magnetic field from the plasma magnetic field generator 6.

【0018】真空チャンバー8内には筒状の基板ホルダ
ー12が設けられている。この筒状の基板ホルダー12
は、真空チャンバー8の壁面に対し垂直に設けられた軸
(図示せず)の回りに回転自在に設けられている。基板
ホルダー12の周面には、複数の基板13が等しい間隔
で装着されている。基板ホルダー12には、高周波電源
10が接続されている。
A cylindrical substrate holder 12 is provided in the vacuum chamber 8. This cylindrical substrate holder 12
Is rotatably provided around an axis (not shown) provided perpendicular to the wall surface of the vacuum chamber 8. A plurality of substrates 13 are mounted on the peripheral surface of the substrate holder 12 at equal intervals. The high frequency power supply 10 is connected to the substrate holder 12.

【0019】基板ホルダー12の周囲には、金属製の筒
状のシールドカバー14が所定の距離隔てて設けられて
いる。このシールドカバー14は、接地電極に接続され
ている。このシールドカバー14は、被膜を形成すると
きに、基板ホルダー12に印加されるRF電圧によって
被膜形成箇所以外の基板ホルダー12と真空チャンバー
8との間で放電が発生するのを防止するため設けられて
いる。基板ホルダー12とシールドカバー14との間の
間隙は、気体分子の平均自由行程以下の距離となるよう
に配置されている。気体分子の平均自由行程は、何らか
の原因で発生したイオン及び電子が電界により加速さ
れ、衝突せずに移動できる平均距離と同じあるいはそれ
以下の距離である。従って、基板ホルダー12とシール
ドカバー14との間隙を気体分子の平均自由行程以下に
することにより、イオン及び電子が気体分子と衝突する
確率を小さくし、連鎖的に電離が進行するのを防止して
いる。基板ホルダー12とシールドカバー14との間隙
は、特に気体分子の平均自由行程の1/10以下の距離
にすることが好ましい。本実施例の装置では、基板ホル
ダー12とシールドカバー14との間の間隙を気体分子
の平均自由行程の1/10以下である約5mmとしてい
る。
Around the substrate holder 12, a metal cylindrical shield cover 14 is provided at a predetermined distance. This shield cover 14 is connected to a ground electrode. The shield cover 14 is provided to prevent a discharge from occurring between the substrate holder 12 and the vacuum chamber 8 other than the portion where the film is formed due to the RF voltage applied to the substrate holder 12 when the film is formed. ing. The gap between the substrate holder 12 and the shield cover 14 is arranged to have a distance equal to or less than the mean free path of the gas molecules. The mean free path of a gas molecule is equal to or less than the average distance that ions and electrons generated for some reason can be accelerated by an electric field and move without collision. Therefore, by setting the gap between the substrate holder 12 and the shield cover 14 to be equal to or less than the mean free path of the gas molecules, the probability of collision of ions and electrons with the gas molecules is reduced, and ionization is prevented from progressing in a chain. ing. The gap between the substrate holder 12 and the shield cover 14 is preferably set to a distance of 1/10 or less of the mean free path of gas molecules. In the apparatus of the present embodiment, the gap between the substrate holder 12 and the shield cover 14 is set to about 5 mm, which is 1/10 or less of the mean free path of gas molecules.

【0020】シールドカバー14の上方には、第1の開
口部15が形成されている。この第1の開口部15を通
って、プラズマ発生室4から引き出されたプラズマが基
板ホルダー12に装着された基板13に放射されるよう
になっている。真空チャンバー8内には、反応ガス導入
管16が設けられている。この反応ガス導入管16の先
端は、第1の開口部15の上方に位置する。
Above the shield cover 14, a first opening 15 is formed. The plasma extracted from the plasma generation chamber 4 is emitted to the substrate 13 mounted on the substrate holder 12 through the first opening 15. A reaction gas introduction pipe 16 is provided in the vacuum chamber 8. The tip of the reaction gas introduction pipe 16 is located above the first opening 15.

【0021】図6は、この反応ガス導入管16の先端部
分近傍を示す平面図である。図6を参照して、反応ガス
導入管16は、外部から真空チャンバー内にCH4 ガス
を導入するガス導入部16aと、このガス導入部16a
と垂直方向に接続されたガス放出部16bとから構成さ
れている。ガス放出部16bは、基板ホルダー12の回
転方向Aに対して垂直方向に配置され、かつ第1の開口
部15の上方の回転方向の上流側に位置するように設け
られている。ガス放出部16bには、下方に向けて約4
5°の方向に複数の孔21が形成されている。本実施例
では、8個の孔21が形成されている。孔21の間隔
は、中央から両側に向かうに従い徐々に狭くなるように
形成されている。このような間隔で孔21を形成するこ
とより、ガス導入部16aから導入されたCH4 ガスが
それぞれの孔21からほぼ均等に放出される。
FIG. 6 is a plan view showing the vicinity of the tip portion of the reaction gas introduction pipe 16. Referring to FIG. 6, a reaction gas introduction pipe 16 includes a gas introduction section 16a for introducing CH 4 gas from the outside into the vacuum chamber, and a gas introduction section 16a.
And a gas discharge portion 16b connected in the vertical direction. The gas releasing portion 16b is disposed perpendicular to the rotation direction A of the substrate holder 12, and is provided so as to be located upstream of the first opening 15 in the rotation direction. The gas discharge part 16b has a downward
A plurality of holes 21 are formed in a direction of 5 °. In this embodiment, eight holes 21 are formed. The space between the holes 21 is formed so as to gradually decrease from the center toward both sides. By forming the holes 21 at such intervals, the CH 4 gas introduced from the gas introduction unit 16a is almost uniformly discharged from each hole 21.

【0022】再び図5を参照して、第1の開口部15と
反対側のシールドカバー14の下方には、第2の開口部
17が形成されている。第2の開口部17の下方には、
中間層を構成する材料原子からなるターゲット18が設
けられている。このターゲット18には、ターゲット1
8をスパッタリングするための高周波電源19が接続さ
れている。このターゲット18及び高周波電源19によ
り、中間層を形成する手段が構成されている。従って、
図5に示す装置においては、第1の開口部15の位置に
おいて、プラズマCVD法により硬質炭素被膜が形成さ
れ、第2の開口部17の位置において、スパッタリング
法により中間層が形成される。図5に示すような装置を
用いることにより、一度に複数の基板に対して薄膜形成
を行うことができる。
Referring to FIG. 5 again, a second opening 17 is formed below shield cover 14 opposite to first opening 15. Below the second opening 17,
A target 18 made of material atoms constituting the intermediate layer is provided. The target 18 includes a target 1
A high frequency power supply 19 for sputtering 8 is connected. The target 18 and the high-frequency power supply 19 constitute a means for forming an intermediate layer. Therefore,
In the apparatus shown in FIG. 5, a hard carbon film is formed at the position of the first opening 15 by the plasma CVD method, and an intermediate layer is formed at the position of the second opening 17 by the sputtering method. By using an apparatus as shown in FIG. 5, a thin film can be formed on a plurality of substrates at once.

【0023】実施例1(中間層:B) 図5に示す装置を用いて、中間層及びダイヤモンド状被
膜を形成した。真空チャンバー8内のArガス分圧を
1.5×10-3Torrとし、ターゲット18としてB
を用い、ターゲット18に投入する電力を200Wと
し、基板に発生するバイアス電圧が−50Vとなるよう
に基板ホルダーに高周波電圧を印加しながら、Ni基板
13の上にBからなる中間層を形成した。30分間形成
することにより、膜厚約0.05μmの中間層を形成し
た。なお、Ni基板13は、基板ホルダー12の周面に
24個等しい間隔で装着されている。また、基板ホルダ
ー12を約10rpmの速度で回転させながら、基板1
3上に中間層を形成した。
Example 1 (Intermediate layer: B) An intermediate layer and a diamond-like film were formed using the apparatus shown in FIG. The partial pressure of Ar gas in the vacuum chamber 8 was set to 1.5 × 10 −3 Torr,
And an intermediate layer made of B was formed on the Ni substrate 13 while applying a high frequency voltage to the substrate holder so that the power applied to the target 18 was 200 W and the bias voltage generated on the substrate was -50 V. . By forming for 30 minutes, an intermediate layer having a thickness of about 0.05 μm was formed. Note that 24 Ni substrates 13 are mounted on the peripheral surface of the substrate holder 12 at equal intervals. While rotating the substrate holder 12 at a speed of about 10 rpm,
An intermediate layer was formed on No.3.

【0024】次に、中間層を形成したNi基板13の上
に、硬質炭素被膜であるダイヤモンド状被膜を形成し
た。真空チャンバー8内を10-5〜10-7Torrに調
整し、ECRプラズマ発生装置の放電ガス導入管5から
Arガスを5.7×10-4Torrで供給するととも
に、マイクロ波供給手段1から2.45GHz、100
Wのマイクロ波を供給して、プラズマ発生室4内に形成
されたArプラズマを基板13の表面に放射した。これ
と同時に、基板13に発生する自己バイアスが−50V
となるように、高周波電源10から13.56MHzの
RF電圧を基板ホルダー12に印加した。反応ガス導入
管16からは、CH4 ガスを1.3×10-3Torrで
供給した。この工程をおよそ15分間継続し、基板13
の表面に膜厚1000Åのダイヤモンド状被膜を形成し
た。
Next, a diamond-like film as a hard carbon film was formed on the Ni substrate 13 on which the intermediate layer was formed. The inside of the vacuum chamber 8 is adjusted to 10 -5 to 10 -7 Torr, and Ar gas is supplied at 5.7 × 10 -4 Torr from the discharge gas introduction pipe 5 of the ECR plasma generator, and from the microwave supply means 1. 2.45 GHz, 100
By supplying a microwave of W, Ar plasma formed in the plasma generation chamber 4 was radiated to the surface of the substrate 13. At the same time, the self-bias generated on the substrate 13 is -50V
An RF voltage of 13.56 MHz was applied to the substrate holder 12 from the high frequency power supply 10 so that CH 4 gas was supplied from the reaction gas introduction pipe 16 at 1.3 × 10 −3 Torr. This process is continued for about 15 minutes, and the substrate 13
A diamond-like film having a thickness of 1000 ° was formed on the surface of.

【0025】実施例2(中間層:Bの窒化物) 実施例1と同様に、図5に示す装置を用い、Arガス分
圧1.5×10-3Torr、N2 ガス分圧5.0×10
-4Torrとし、ターゲットとしてBを用い、ターゲッ
ト投入電力を200Wとして、Ni基板13の上に、B
の窒化物からなる中間層を形成した。なお、基板に発生
するバイアス電圧が−50Vとなるように基板ホルダー
にRF電圧を印加した。40分間中間層を形成すること
により、膜厚約0.05μmのBNからなる中間層を形
成した。次に、上記実施例1と同様にして膜厚1000
Åのダイヤモンド状被膜をこの上に形成した。
Example 2 (Intermediate layer: nitride of B) As in Example 1, the apparatus shown in FIG. 5 was used, and the partial pressure of Ar gas was 1.5 × 10 −3 Torr, and the partial pressure of N 2 gas was 5. 0x10
-4 Torr, B was used as the target, and the target input power was set to 200 W.
Was formed. Note that an RF voltage was applied to the substrate holder so that the bias voltage generated on the substrate was -50 V. By forming the intermediate layer for 40 minutes, an intermediate layer made of BN having a thickness of about 0.05 μm was formed. Next, a film thickness of 1000
A diamond-like film of Å was formed thereon.

【0026】実施例3(中間層:Alの酸化物) 実施例1と同様に、図5に示す装置を用い、Arガス分
圧1.5×10-3Torr、O2 ガス分圧1.0×10
-3Torrとし、ターゲットとしてAlを用い、ターゲ
ット投入電力を400Wとして、Ni基板13の上に、
Alの酸化物からなる中間層を形成した。なお、基板に
発生するバイアス電圧が−50Vとなるように基板ホル
ダーにRF電圧を印加した。30分間中間層を形成する
ことにより、膜厚約0.04μmの中間層を形成した。
次に、上記実施例1と同様にして膜厚1000Åのダイ
ヤモンド状被膜をこの上に形成した。
Example 3 (Intermediate layer: oxide of Al) As in Example 1, the apparatus shown in FIG. 5 was used, and the partial pressure of Ar gas was 1.5 × 10 −3 Torr, and the partial pressure of O 2 gas was 1. 0x10
-3 Torr, Al as a target, and a target input power of 400 W.
An intermediate layer made of Al oxide was formed. Note that an RF voltage was applied to the substrate holder so that the bias voltage generated on the substrate was -50 V. An intermediate layer having a thickness of about 0.04 μm was formed by forming the intermediate layer for 30 minutes.
Next, a diamond-like film having a thickness of 1000 ° was formed thereon in the same manner as in Example 1.

【0027】実施例4(中間層:Crの窒化物) 実施例1と同様に、図5に示す装置を用い、Arガス分
圧1.5×10-3Torr、N2 ガス分圧1.0×10
-3Torrとし、ターゲットとしてCrを用い、ターゲ
ット投入電力を400Wとして、Ni基板13の上に、
Crの窒化物からなる中間層を形成した。なお、基板に
発生するバイアス電圧が−50Vとなるように基板ホル
ダーにRF電圧を印加した。30分間中間層を形成する
ことにより、膜厚約0.05μmの中間層を形成した。
次に、上記実施例1と同様にして膜厚1000Åのダイ
ヤモンド状被膜をこの上に形成した。
Example 4 (Intermediate layer: nitride of Cr) As in Example 1, the apparatus shown in FIG. 5 was used, and the partial pressure of Ar gas was 1.5 × 10 −3 Torr, and the partial pressure of N 2 gas was 1. 0x10
-3 Torr, Cr was used as the target, and the target input power was 400 W.
An intermediate layer made of Cr nitride was formed. Note that an RF voltage was applied to the substrate holder so that the bias voltage generated on the substrate was -50 V. An intermediate layer having a thickness of about 0.05 μm was formed by forming the intermediate layer for 30 minutes.
Next, a diamond-like film having a thickness of 1000 ° was formed thereon in the same manner as in Example 1.

【0028】実施例5(中間層:Snの酸化物) 実施例1と同様に、図5に示す装置を用い、Arガス分
圧1.5×10-3Torr、O2 ガス分圧1.0×10
-3Torrとし、ターゲットとしてSnを用い、ターゲ
ット投入電力を400Wとして、Ni基板13の上に、
Snの酸化物からなる中間層を形成した。なお、基板に
発生するバイアス電圧が−50Vとなるように基板ホル
ダーにRF電圧を印加した。30分間中間層を形成する
ことにより、膜厚約0.04μmの中間層を形成した。
次に、上記実施例1と同様にして膜厚1000Åのダイ
ヤモンド状被膜をこの上に形成した。
Example 5 (Intermediate Layer: Sn Oxide) As in Example 1, the apparatus shown in FIG. 5 was used, and the partial pressure of Ar gas was 1.5 × 10 −3 Torr, and the partial pressure of O 2 gas was 1. 0x10
-3 Torr, Sn as a target, and a target input power of 400 W.
An intermediate layer made of Sn oxide was formed. Note that an RF voltage was applied to the substrate holder so that the bias voltage generated on the substrate was -50 V. An intermediate layer having a thickness of about 0.04 μm was formed by forming the intermediate layer for 30 minutes.
Next, a diamond-like film having a thickness of 1000 ° was formed thereon in the same manner as in Example 1.

【0029】実施例6(中間層:Co) 実施例1と同様に、図5に示す装置を用い、Arガス分
圧1.5×10-3Torrとし、ターゲットとしてCo
を用い、ターゲット投入電力を400Wとして、Ni基
板13の上に、Coからなる中間層を形成した。なお、
基板に発生するバイアス電圧が−50Vとなるように基
板ホルダーにRF電圧を印加した。30分間中間層を形
成することにより、膜厚約0.05μmの中間層を形成
した。次に、上記実施例1と同様にして膜厚1000Å
のダイヤモンド状被膜をこの上に形成した。
Example 6 (Intermediate layer: Co) In the same manner as in Example 1, an apparatus shown in FIG. 5 was used, an Ar gas partial pressure was set to 1.5 × 10 −3 Torr, and Co was used as a target.
And an intermediate layer made of Co was formed on the Ni substrate 13 at a target input power of 400 W. In addition,
An RF voltage was applied to the substrate holder so that the bias voltage generated on the substrate became -50V. An intermediate layer having a thickness of about 0.05 μm was formed by forming the intermediate layer for 30 minutes. Next, in the same manner as in the first embodiment, a film thickness of 1000
Was formed thereon.

【0030】比較例 比較として、Ni基板の上に中間層を形成せずに、直接
ダイヤモンド状被膜を形成した。なおダイヤモンド状被
膜の形成条件は実施例1と同様にした。
Comparative Example As a comparison, a diamond-like coating was formed directly on a Ni substrate without forming an intermediate layer. The conditions for forming the diamond-like coating were the same as in Example 1.

【0031】以上のようにして得られた実施例1〜6及
び比較例について密着性を評価した。密着性の評価は、
ビッカース圧子を用いた一定荷重(荷重=1kg)の押
し込み試験により行った。サンプル数を50個とし、N
i基板上のダイヤモンド状被膜に剥離が発生した個数を
数えて評価した。表1はこの結果を示す。
The adhesiveness of each of Examples 1 to 6 and Comparative Examples obtained as described above was evaluated. The evaluation of adhesion is
The test was performed by a pushing test using a Vickers indenter under a constant load (load = 1 kg). With 50 samples, N
The number of peeled diamond-like films on the i-substrate was counted and evaluated. Table 1 shows the results.

【0032】[0032]

【表1】 [Table 1]

【0033】表1の結果から明らかなように、本発明に
従い中間層を形成した実施例1〜6は、比較例に比べ剥
離発生個数が著しく少なくなっている。従って、本発明
に従う中間層を設けることによりダイヤモンド状被膜の
密着性が向上していることがわかる。
As is clear from the results shown in Table 1, in Examples 1 to 6 in which the intermediate layer was formed according to the present invention, the number of occurrences of peeling was significantly smaller than in Comparative Examples. Therefore, it can be seen that the adhesion of the diamond-like coating is improved by providing the intermediate layer according to the present invention.

【0034】図7は、回転圧縮機の一般的な構造を示す
概略断面図である。図7において、101は密閉容器、
102は図示しない電動機によって駆動されるクランク
軸、103はクランク軸102の偏心部に取り付けられ
たローラであり、このローラ103はモニクロ鋳鉄から
構成されている。
FIG. 7 is a schematic sectional view showing a general structure of a rotary compressor. In FIG. 7, 101 is a closed container,
Reference numeral 102 denotes a crankshaft driven by an electric motor (not shown), and reference numeral 103 denotes a roller attached to an eccentric portion of the crankshaft 102, and the roller 103 is made of monochrome cast iron.

【0035】104はローラ103を収納した円筒状シ
リンダであり、このシリンダ104は鋳鉄から構成され
ている。105は後述するベーン106が往復運動する
ために設けられたシリンダ溝、106は円筒状シリンダ
104内の空間を高圧部と低圧部に仕切るためのベーン
であり、このベーン106は高速度工具鋼(SKH5
1)から構成されている。
Reference numeral 104 denotes a cylindrical cylinder containing the roller 103, and this cylinder 104 is made of cast iron. Reference numeral 105 denotes a cylinder groove provided for reciprocating a vane 106 described later. Reference numeral 106 denotes a vane for partitioning a space in the cylindrical cylinder 104 into a high-pressure part and a low-pressure part. SKH5
1).

【0036】107はベーン106をローラ103側に
付勢するためのバネである。108は円筒状シリンダ1
04内へ冷媒を供給する吸入管、109は円筒状シリン
ダ104内部で圧縮され圧力及び温度が上昇した冷媒を
圧縮機外部に吐出する吐出管である。
Reference numeral 107 denotes a spring for urging the vane 106 toward the roller 103. 108 is a cylindrical cylinder 1
A suction pipe 109 for supplying the refrigerant into the inside of the cylinder 04 and a discharge pipe 109 for discharging the refrigerant compressed inside the cylindrical cylinder 104 and having an increased pressure and temperature to the outside of the compressor.

【0037】上述のように構成された回転圧縮機の動作
説明を以下に行う。電動機によって、クランク軸102
が駆動され、クランク軸102の偏心部に取り付けられ
たローラ103は、円筒状シリンダ104内を円周に沿
って回転する。ベーン106は高圧ガス、及びバネ10
7の付勢を受けているため、このローラ103の回転に
伴ってベーン106は、ローラ103内の外周面と常時
接触しながら、シリンダ溝105内を往復運動する。
The operation of the rotary compressor configured as described above will be described below. The electric motor drives the crankshaft 102
Is driven, and the roller 103 attached to the eccentric portion of the crankshaft 102 rotates inside the cylindrical cylinder 104 along the circumference. Vane 106 is a high pressure gas and spring 10
7, the vane 106 reciprocates in the cylinder groove 105 while constantly contacting the outer peripheral surface of the roller 103 with the rotation of the roller 103.

【0038】この運動を連続的に繰り返すことによっ
て、円筒状シリンダ104内へ吸入管108を介して吸
い込まれた冷媒が、円筒状シリンダ104内部で圧縮さ
れ、圧力及び温度が上昇した後、吐出管9を介して回転
圧縮機外部に吐出される。
By repeating this movement continuously, the refrigerant sucked into the cylindrical cylinder 104 via the suction pipe 108 is compressed inside the cylindrical cylinder 104, and after the pressure and temperature rise, the discharge pipe The fluid is discharged to the outside of the rotary compressor via the compressor 9.

【0039】図8は、本発明の第1の局面に従う硬質炭
素被膜を形成したベーン106の概略断面図である。ベ
ーン106の上には中間層161が形成され、この中間
層161の上に硬質炭素被膜162が形成されている。
FIG. 8 is a schematic cross-sectional view of the vane 106 having the hard carbon film formed thereon according to the first aspect of the present invention. An intermediate layer 161 is formed on the vane 106, and a hard carbon coating 162 is formed on the intermediate layer 161.

【0040】図9は、本発明の第1の局面に従う硬質炭
素被膜を形成したローラ103の概略断面図である。ロ
ーラ103の上には、中間層131が形成され、この中
間層131の上に硬質炭素被膜132が形成されてい
る。
FIG. 9 is a schematic sectional view of roller 103 having a hard carbon film formed thereon according to the first aspect of the present invention. An intermediate layer 131 is formed on the roller 103, and a hard carbon coating 132 is formed on the intermediate layer 131.

【0041】図10は、本発明の第1の局面に従う硬質
炭素被膜を形成したシリンダ溝105の概略断面図であ
る。シリンダ溝105の内面の上には中間層151が形
成され、この中間層151の上に硬質炭素被膜152が
形成されている。
FIG. 10 is a schematic sectional view of cylinder groove 105 having a hard carbon film formed thereon according to the first aspect of the present invention. An intermediate layer 151 is formed on the inner surface of the cylinder groove 105, and a hard carbon coating 152 is formed on the intermediate layer 151.

【0042】次に、図8に示すベーン106上に形成し
た硬質炭素被膜について、密着性の評価試験を行った。
図5に示す装置を用い、Arガス分圧1.5×10-3
orrとし、ターゲットとしてCrを用い、ターゲット
投入電力を400Wとして、ベーン106の上にCrか
らなる中間層を形成した。なお、基板に発生するバイア
ス電圧が−50Vとなるように、基板ホルダーにRF電
力を印加した。30分間中間層を形成することにより、
膜厚約0.05μmの中間層を形成した。
Next, an evaluation test of the adhesion was performed on the hard carbon film formed on the vane 106 shown in FIG.
Using the apparatus shown in FIG. 5, the partial pressure of Ar gas is 1.5 × 10 −3 T
The intermediate layer made of Cr was formed on the vane 106 at orr, Cr was used as the target, and the power supplied to the target was 400 W. Note that RF power was applied to the substrate holder so that the bias voltage generated on the substrate was -50 V. By forming the intermediate layer for 30 minutes,
An intermediate layer having a thickness of about 0.05 μm was formed.

【0043】次に、上記実施例1と同様にして、中間層
161の上に、75分間で、膜厚約5000Åのダイヤ
モンド状被膜162を形成した。得られた硬質炭素被膜
について、密着性の評価試験を行った。密着性の評価
は、先端半径0.1mmのダイヤモンド球面圧子を用い
た一定荷重(荷重=500g)の押し込み試験により行
った。サンプル数を50個とし、ベーン106上の硬質
炭素被膜162に剥離が発生した個数を数えて評価し
た。なお、比較として、Crからなる中間層161を形
成せずに、直接ベーン106上に自己バイアス電圧−5
0VとなるようにRF電圧を基板ホルダーに印加しなが
ら硬質炭素被膜を形成し、この硬質炭素被膜についても
同様に密着性の評価試験を行った。評価結果を表2に示
す。
Next, a diamond-like film 162 having a thickness of about 5000 ° was formed on the intermediate layer 161 for 75 minutes in the same manner as in Example 1 described above. The obtained hard carbon film was subjected to an adhesion evaluation test. The evaluation of the adhesion was performed by an indentation test under a constant load (load = 500 g) using a diamond spherical indenter having a tip radius of 0.1 mm. The number of samples was set to 50, and the number of peeled hard carbon films 162 on the vanes 106 was counted and evaluated. For comparison, the self-bias voltage −5 was directly applied on the vane 106 without forming the intermediate layer 161 made of Cr.
A hard carbon film was formed while applying an RF voltage to the substrate holder so that the voltage became 0 V, and an evaluation test of adhesion was similarly performed on the hard carbon film. Table 2 shows the evaluation results.

【0044】[0044]

【表2】 [Table 2]

【0045】表2から明らかなように、Crからなる中
間層161をベーン106上に形成しない場合には、自
己バイアス電圧を−50Vにしても、硬質炭素被膜16
2の剥離発生個数は45個と多く、一方Crからなる中
間層161をベーン106上に形成し、自己バイアス電
圧を−50Vで中間層161の上に硬質炭素被膜162
を形成した場合には、硬質炭素被膜162の剥離発生個
数は5個に減少した。
As is apparent from Table 2, when the intermediate layer 161 made of Cr is not formed on the vane 106, the hard carbon coating 16
2 is as large as 45, while an intermediate layer 161 made of Cr is formed on the vane 106, and a hard carbon film 162 is formed on the intermediate layer 161 at a self-bias voltage of -50V.
Was formed, the number of occurrences of peeling of the hard carbon coating 162 was reduced to five.

【0046】上記の各実施例では、中間層をスパッタリ
ングにより形成しているが、本発明はこのような形成方
法に限定されるものではなく、蒸着法などその他の物理
的薄膜形成法やCVD法などの化学気相成長法あるいは
メッキ法などにより形成してもよい。また、図5に示す
装置に限定されるものでなく、中間層と硬質炭素被膜を
それぞれ別の装置で形成してもよい。
In each of the above embodiments, the intermediate layer is formed by sputtering. However, the present invention is not limited to such a forming method, and other physical thin film forming methods such as a vapor deposition method and a CVD method can be used. Alternatively, it may be formed by a chemical vapor deposition method such as, or a plating method. Further, the present invention is not limited to the apparatus shown in FIG. 5, and the intermediate layer and the hard carbon coating may be formed by different apparatuses.

【0047】[0047]

【発明の効果】本発明に従う中間層を、基板と硬質炭素
被膜の間に設けることにより、硬質炭素被膜の密着性が
向上し、耐剥離性が改善される。
By providing the intermediate layer according to the present invention between the substrate and the hard carbon coating, the adhesion of the hard carbon coating is improved and the peel resistance is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に従う一実施例を示す断面図。FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment according to the present invention.

【図2】本発明を電気シェーバー刃の外刃及び内刃に適
用した実施例を示す断面図。
FIG. 2 is a sectional view showing an embodiment in which the present invention is applied to an outer blade and an inner blade of an electric shaver blade.

【図3】電気シェーバー刃の外刃の平面形状を示す平面
図。
FIG. 3 is a plan view showing a planar shape of an outer blade of the electric shaver blade.

【図4】電気シェーバー刃の内刃を示す正面図。FIG. 4 is a front view showing an inner blade of the electric shaver blade.

【図5】本発明に従う実施例において中間層及び硬質炭
素被膜を形成する装置を示す概略構成図。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing an apparatus for forming an intermediate layer and a hard carbon film in an embodiment according to the present invention.

【図6】図5に示す装置における反応ガス導入管の先端
部分近傍を示す平面図。
FIG. 6 is a plan view showing the vicinity of the tip of a reaction gas introduction pipe in the apparatus shown in FIG. 5;

【図7】回転圧縮機の一般的な構造を示す概略断面図。FIG. 7 is a schematic sectional view showing a general structure of a rotary compressor.

【図8】本発明に従う硬質炭素被膜を形成したベーンを
示す概略断面図。
FIG. 8 is a schematic sectional view showing a vane on which a hard carbon coating according to the present invention is formed.

【図9】本発明に従う硬質炭素被膜を形成したローラの
概略断面図。
FIG. 9 is a schematic sectional view of a roller on which a hard carbon film is formed according to the present invention.

【図10】本発明に従う硬質炭素被膜を形成したシリン
ダ溝を示す概略断面図。
FIG. 10 is a schematic sectional view showing a cylinder groove on which a hard carbon coating according to the present invention is formed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

31…基板 32…中間層 33…硬質炭素被膜 41…電気シェーバー刃の外刃の基板 42…中間層 43…硬質炭素被膜 51…電気シェーバー刃の内刃の基板 52…中間層 53…硬質炭素被膜 103…ローラ 105…シリンダ溝 106…ベーン 131,151,161…中間層 132,152,162…硬質炭素被膜 DESCRIPTION OF SYMBOLS 31 ... Substrate 32 ... Intermediate layer 33 ... Hard carbon coating 41 ... Outer blade substrate of electric shaver blade 42 ... Intermediate layer 43 ... Hard carbon coating 51 ... Inner blade substrate of electric shaver blade 52 ... Intermediate layer 53 ... Hard carbon coating 103: Roller 105: Cylinder groove 106: Vane 131, 151, 161: Intermediate layer 132, 152, 162: Hard carbon coating

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板と、前記基板上に設けられ、Al、
Cr、Sn、Co、及びB、並びにこれらの酸化物、窒
化物、及び炭化物からなるグループより選ばれる少なく
とも一種を主成分とする中間層と、 前記中間層上に設けられる硬質炭素被膜とを備える硬質
炭素被膜基板。
1. A substrate, provided on the substrate, wherein Al,
An intermediate layer mainly composed of at least one selected from the group consisting of Cr, Sn, Co, and B, and oxides, nitrides, and carbides thereof; and a hard carbon coating provided on the intermediate layer. Hard carbon coated substrate.
【請求項2】 前記基板が、NiまたはAlを主成分と
する金属もしくは合金、またはステンレス鋼からなる基
板である請求項1に記載の硬質炭素被膜基板。
2. The hard carbon coated substrate according to claim 1, wherein said substrate is a substrate made of a metal or alloy containing Ni or Al as a main component, or stainless steel.
【請求項3】 前記基板が電気シェーバー刃の基板であ
る請求項1または2に記載の硬質炭素被膜基板。
3. The hard carbon coated substrate according to claim 1, wherein the substrate is an electric shaver blade substrate.
【請求項4】 前記基板が、鋳鉄、鋼、ステンレス鋼、
鉄系合金、非鉄金属材料、セラミックス、貴金属材料、
またはカーボンからなる基板である請求項1に記載の硬
質炭素被膜基板。
4. The method according to claim 1, wherein the substrate is cast iron, steel, stainless steel,
Ferrous alloys, non-ferrous metal materials, ceramics, precious metal materials,
2. The hard carbon coated substrate according to claim 1, which is a substrate made of carbon.
【請求項5】 前記基板が摺動部品の基板である請求項
1、2または4に記載の硬質炭素被膜基板。
5. The hard carbon-coated substrate according to claim 1, wherein the substrate is a substrate of a sliding component.
【請求項6】 前記中間層がスパッタリング法により形
成された中間層である請求項1〜5のいずれか1項に記
載の硬質炭素被膜基板。
6. The hard carbon coated substrate according to claim 1, wherein the intermediate layer is an intermediate layer formed by a sputtering method.
【請求項7】 請求項1〜6のいずれか1項に記載の硬
質炭素被膜基板を形成する方法であって、 前記基板に発生する自己バイアス電圧が−20V以下と
なるように高周波電圧を前記基板に印加しながら前記中
間層をスパッタリング法により前記基板上に形成するこ
とを特徴とする硬質炭素被膜基板の形成方法。
7. The method for forming a hard carbon-coated substrate according to claim 1, wherein the high-frequency voltage is adjusted so that a self-bias voltage generated on the substrate is −20 V or less. A method for forming a hard carbon-coated substrate, wherein the intermediate layer is formed on the substrate by a sputtering method while being applied to the substrate.
JP9216319A 1996-06-09 1997-08-11 Substrate with hard carbon film and its forming method Pending JPH10130865A (en)

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