JPH10123067A - 多孔質体の欠陥検査方法 - Google Patents

多孔質体の欠陥検査方法

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JPH10123067A
JPH10123067A JP27465896A JP27465896A JPH10123067A JP H10123067 A JPH10123067 A JP H10123067A JP 27465896 A JP27465896 A JP 27465896A JP 27465896 A JP27465896 A JP 27465896A JP H10123067 A JPH10123067 A JP H10123067A
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JP
Japan
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defect
porous body
light
fluorescent paint
ceramic filter
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Withdrawn
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JP27465896A
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English (en)
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Yutaka Takayanagi
豊 高柳
Hideo Tsunoda
英雄 角田
Hiroshi Shiibashi
啓 椎橋
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95692Patterns showing hole parts, e.g. honeycomb filtering structures

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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 多孔質体の欠陥を確実に検出することができ
る検査方法を実現する。 【解決手段】 被検査物体である多孔質体1の表面に蛍
光塗料3を塗布した後、その表面に光を照射し、照射し
た光の反射光より上記多孔質体1の表面に存在する欠陥
11を検出するものとする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、流動床ボイラのハ
ニカム型セラミックスフィルタ等に適用される多孔質体
の欠陥検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】流動床ボイラは、ボイラで発生する燃焼
ガスをガスタービンに送って再燃焼させるが、ガスター
ビンに送る前にサイクロンあるいはフィルタで燃焼ガス
中の灰を除去する必要があり、この灰の除去には一般に
ハニカム型セラミックスフィルタが使われている。
【0003】このハニカム型セラミックスフィルタは、
図2(a)に示すように内筒5と逆洗用内筒6とクリー
ンガスダクト7が設けられた剛性のパック4に納めら
れ、図2(b)に示すように下部のリブ2が押さえ金物
8a,8bとボルト10によりパック4壁面に保持さ
れ、パッキン9によりシールされており、灰を含む燃焼
ガスをその下部から導入し、濾過する。
【0004】また、このセラミックスフィルタ1は、使
用するにつれてフィルタ表面に灰が付着し、圧損が増大
する。そのため、図3(a)に示すように定期的に通常
の運転時と反対方向の圧力をかけて付着灰を除去する逆
洗運転をする必要があり、この逆洗時は、逆洗圧力を瞬
間的にかけるため、セラミックスフィルタには逆洗空気
による動圧や振動力等が作用する。
【0005】上記ハニカム型セラミックスフィルタは、
もともと強度特性が不足する多孔質体のセラミックスか
らなるものであるため、わずかな亀裂や凹凸が強度低下
に大きく影響し、破損を招くことがある。
【0006】そのため、上記ハニカム型セラミックスフ
ィルタに逆洗空気による荷重が作用すると、図3(b)
に示すように、パック4壁面に固定されたリブ2と本体
の付け根部分に曲げ応力が発生し、リブ付け根から破損
するおそれがある。
【0007】材料の亀裂等を検出する通常の検査技術と
しては、PT法による欠陥検査方法などがあるが、これ
は緻密体においてのみ有効で、多孔質体においては全体
が染色されるため、欠陥を見分けることが困難である。
そのため、従来のハニカム型セラミックスフィルタの取
り付け時の検査においては、目視による大きな欠陥調査
しか行われていなかった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来のハニカム型セラ
ミックスフィルタの取り付け時の検査は、前記のように
目視検査しか行われておらず、確実に欠陥を検出するこ
とが困難であった。
【0009】本発明は、上記課題を解決するため、曲げ
応力が最も作用するフィルタのリブと本体の付け根部分
に、破損の原因となる欠陥があるか否かを見極めること
ができる検査方法を提案しようとするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明に
係る多孔質体の欠陥検査方法においては、被検査物体で
ある多孔質体の表面に蛍光塗料を塗布した後、光を照射
し、その反射光より上記多孔質体の表面に存在する欠陥
を検出することを特徴としている。
【0011】上記において、蛍光塗料が塗布された多孔
質体の表面に光を照射すると、多孔質体の表面が滑らか
な場合は、光をよく反射してその表面は発光したように
映し出され、亀裂や凹凸が存在する部分については内部
に光がこもって暗く強調される。
【0012】そのため、多孔質体の表面に存在する欠陥
については、それが微小なものであっても確実に検出す
ることが可能となり、多孔質体にかかる負荷により微小
欠陥を起点として生じる多孔質体の破損を未然に防止す
ることが可能となり、多孔質体の格段の信頼性の向上が
可能となる。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態に係るハニ
カム型セラミックスフィルタの欠陥検出方法について、
図1により説明する。
【0014】図1に示す本実施形態に係る欠陥検出方法
においては、多孔質体であるハニカム型セラミックスフ
ィルタ1の付け根部分の表面に水性顔料を用いた蛍光塗
料(商品名:ZEBRA製OPTEX OP−100)
3を塗布した後、光を照射し、その反射光より欠陥11
を検出している。
【0015】上記において、蛍光塗料3は光の反射性が
非常に良好なため、図1(b)に示すように滑らかな表
面は発光したように映し出され、亀裂や凹凸等の欠陥1
1が存在する部分についてはその内部に光がこもって暗
く強調される。その結果、欠陥11の判断が容易に行え
るようになった。
【0016】本実施形態においては、蛍光塗料3の色調
による欠陥検出の容易さの程度を判定するため、判定試
験を実施しており、その試験の結果は表1に示す通りで
あった。
【0017】
【表1】
【0018】この結果より、緻密体においては暗めの色
が亀裂調査に有効で、多孔質になるほど薄めの色が適し
ていることが判明し、ハニカム型セラミックスフィルタ
1については、黄色の蛍光塗料3が最適であることが判
った。
【0019】
【発明の効果】本発明の多孔質体の欠陥検査方法におい
ては、被検査物体である多孔質体の表面に蛍光塗料を塗
布した後、その表面に光を照射し、照射した光の反射光
より上記多孔質体の表面に存在する欠陥を検出するもの
としたことによって、多孔質体の表面に存在する欠陥に
ついては、それが微小なものであっても確実に検出する
ことが可能となり、多孔質体にかかる負荷により微小欠
陥を起点として生じる多孔質体の破損を未然に防止する
ことが可能となり、多孔質体の格段の信頼性の向上が可
能となる。なお、多孔質体がハニカム型セラミックスフ
ィルタの場合には、逆洗時の破損を未然に防止すること
が可能となり、これにより、多孔質体の信頼性が格段に
向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態に係る多孔質体の欠陥検
査方法についての説明図で、(a)は施工手順、(b)
は多孔質体に光を照射した状態の説明図である。
【図2】ハニカム型セラミックスフィルタの説明図で、
(a)はパックに納められた通常の運転時の状態、
(b)はパックへの取り付け部の詳細説明図である。
【図3】ハニカム型セラミックスフィルタの逆洗時の説
明図で、(a)は逆洗空気の流れの状態、(b)は逆洗
時にセラミックフィルタにかかる負荷の説明図である。
【符号の説明】
1 ハニカム型セラミックスフィルタ 2 リブ 3 蛍光塗料 11 欠陥

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査物体である多孔質体の表面に蛍光
    塗料を塗布した後、光を照射し、その反射光より上記多
    孔質体の表面に存在する欠陥を検出することを特徴とす
    る多孔質体の欠陥検査方法。
JP27465896A 1996-10-17 1996-10-17 多孔質体の欠陥検査方法 Withdrawn JPH10123067A (ja)

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