JPH10115669A - テストデータの作成方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】部品を搭載した装置の論理シミュレーション結
果から、論理矛盾がなくテスタ動作とマッチする部品動
作確認用のテストデータを自動作成する。 【解決手段】論理シミュレーション実行部３００で、部
品を搭載した電子的装置のシミュレーションを行なう。
再論理シミュレーション用入力信号編集部４００は、結
果ファイル３１０から対象部品の入力信号を抽出し、入
力信号間の各変化点の間隔を対象部品の最大遅延時間以
上に編集する。再論理シミュレーション用単品化論理回
路処理部５００は、装置全体の論理回路から対象部品に
単品化した論理回路を生成する。再論理シミュレーショ
ン実行部６００は、最大遅延時間で編集した入力信号を
単品化した論理回路に与えて論理シミュレーションを行
なう。テストデータ編集部７００は、再論理シミュレー
ション結果の入力信号を動作確認テストの入力データ、
出力信号を観測結果に対する期待値に編集する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント板等に搭
載された電子部品の試験装置に関し、特に部品動作の確
認に必要なテストデータの作成方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】装置に搭載された部品の動作を確認する
ためには、対象部品の入力信号とその入力信号に対応す
る出力信号とからなるテストデータが必要になる。通
常、テストデータは論理シミュレーション結果を利用
し、入力信号と期待値を求めて作成する。これを部品に
入力し、その出力が期待値と同じになることを確認す
る。

【０００３】プリント板に搭載された部品の動作を確認
する方法として、一般的にプリント板に搭載された部品
ごとにテストデータを作成し、単品の動作をテストする
インサーキットテストと呼ばれる方法がよく知られてい
る。この方法に使用するテストデータは、対象部品の動
作仕様及びテスタのタイミング仕様に基づいて作成され
る。しかし、テストデータの作成には時間がかかるの
で、製品寿命の短い電子部品のテスト方法としては問題
があった。

【０００４】このため、特開平３−１５８７７６号公報
に記載のように、インサーキットテスト用のテストデー
タを、論理シミュレーション結果を利用して作成する方
法が実現されている。ここでは、論理シミュレーション
を実施するときに、テスタのタイミング仕様やプリント
板に搭載された部品の接続状態を考慮して入力データを
作成し、論理シミュレーションの結果がテスタのタイミ
ング仕様を満足していることを確認している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記のように、プリン
ト板に搭載された部品の動作を確認するテストデータ
を、論理シミュレーションによって作成する場合に、テ
スタのタイミング仕様を考慮しないと、論理シミュレー
ション結果とその結果から編集した動作確認用テストデ
ータによるテスタ動作との間で矛盾が発生する。

【０００６】図２は、従来のテストデータの作成で、論
理シミュレーション結果をそのまま利用し、論理シミュ
レーション結果とテスタ動作の間に不一致を生じる一例
を説明している。同図（ａ）では、論理シミュレーショ
ン用の入力信号Ａ，Ｂで、回路の論理動作から信号の変
化を任意に設定している。同図（ｂ）では、対象部品
（２入力ＯＲ）に入力信号Ａ，Ｂを与えて論理シミュレ
ーションを実施し、出力端子に出力信号Ｃを得ている。

【０００７】同図（ｃ）は、論理シミュレーション結果
で、入力信号Ａ，Ｂと出力信号Ｃからなる。図示のよう
に、入力Ａに論理値〔１１〕、入力Ｂに入力Ａの変化か
ら素子レディｔｄの時間内に変化が発生する論理値〔０
１〕を与えると、出力ＣはＯＲの素子ディレイｔｄだけ
遅れて立ち上がる。この論理シミュレーション結果に対
し、入力信号の変化点の直前に設定した抽出ポイント
１，２，３から入／出力信号のデータを抽出すると、同
図（ｅ）の動作確認用テストデータが作成される。ちな
みに、Ａの論理値は〔１１０〕、Ｂの論理値は〔０１
１〕、Ｃの論理値は〔００１〕となる。

【０００８】同図（ｆ）は、テスタの動作を示す。テス
タの入力Ａ，Ｂは、論理シミュレーションによる入力信
号Ａ，Ｂの論理値〔１１０〕と〔０１１〕をテスタレー
ト（ここでは、４μｓ）で印加する。テスタの出力Ｃ
は、対象部品ＯＲの素子ディレイｔｄだけ遅れて立ち上
がる。このとき、テスタによる観測値はテスタスキュー
ｔｓ（１μｓ程度）だけ遅れたタイミングで検出され、
第１回目、第２回目の観測値Ｃは“１・１”となり、論
理シミュレーション結果によるテストデータの期待値Ｃ
“０・０”と一致しない。

【０００９】このように、論理シミュレーションの結果
をそのまま用いたのでは、テスタ動作に誤りがあるの
か、対象部品の動作に異常があるのか識別できず、テス
タによる部品動作の確認ができない。

【００１０】また、テスタレートやテスタスキューによ
るテスタの動作タイミングに対して、一般には対象部品
の素子ディレイｔｄがかなり短いので、同図（ｆ）の動
作が維持されている。しかし、単位部品の素子の集積が
膨大となって、ｔｄ≧ｔｓになると、仮に、テスタの動
作が正常でもテスタの観測結果に矛盾を生じる場合があ
る。従って、テストデータはテスタ動作とのタイミング
も考慮する必要がある。

【００１１】このように、論理シミュレーション結果を
そのまま利用したのでは、必ずしも正確な動作確認用テ
ストデータを得ることができない。従って、論理シミュ
レーションの結果を利用する場合、従来はこれらの事情
を考慮して、人手によって論理シミュレーション結果か
ら入力データを修正していた。

【００１２】しかし、単位部品の集積度や伝搬経路によ
って遅延時間ｔｄの長さは様々であり、一方でテスタ動
作とのマッチングもはかる必要があり、テストデータの
作成には経験豊富な人手と時間を必要としていた。ま
た、不適当な修正によっ、てテストデータの品質が低下
するなどの問題があった。

【００１３】本発明の目的は、従来技術の問題点に鑑
み、論理シミュレーション結果をそのまま利用でき、結
果的に論理の矛盾を解消しテスタ動作とのマッチングを
可能にする、テストデータの自動生成方法及び装置を提
供することにある。これによれば、インサーキットテス
タ用のテストデータの作成作業が効率化でき、テストデ
ータの品質を向上できる。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記の目的は、部品を搭
載した電子的装置の論理シミュレーションを行ない、そ
の結果を利用して部品毎の動作を確認するテストデータ
を作成する方法において、前記論理シミュレーションの
結果から対象部品の１または複数の入力信号を抽出し、
この入力信号または入力信号間の各変化点の間隔を前記
対象部品の最大遅延時間以上に編集し、この編集した入
力信号による再論理シミュレーションの結果から、前記
対象部品の入力信号及び出力信号を抽出し、前者を動作
確認テストの入力データ、後者をテストの観測結果に対
する期待値とすることによって達成される。

【００１５】前記対象部品は可検査性を単位とし、複数
の素子から構成されて複数の信号伝搬経路を有している
場合に、前記最大遅延時間には素子ディレイの積算値が
最大となる信号伝搬経路の遅延時間を採用する。

【００１６】本発明の構成によれば、再論理シミュレー
ションの入力信号の変化のタイミングを、対象部品の最
大遅延時間以上に延長しているので、テスタ動作とのマ
ッチングもはかれる。

【００１７】上記の目的は、また、部品を搭載した電子
的装置の論理シミュレーションを行ない、その結果を利
用して対象部品毎の動作をテスタによって確認するため
のテストデータを作成する方法において、記憶されてい
る論理シミュレーション用の入力信号または論理シミュ
レーション結果の入力信号から、対象部品に関する１ま
たは複数の入力信号を抽出し、この入力信号または入力
信号間の各変化点の間隔を前記対象部品の最大遅延時間
程度またはそれ以上に変更し、一方、前記電子的装置の
全体論理回路から前記対象部品に単品化した論理回路を
生成する単品化処理を行ない、前記変更した入力信号と
前記単品化した論理回路による再論理シミュレーション
を行ない、その結果から前記対象部品の入力信号及び出
力信号を抽出し、前者を動作確認テストの入力データ、
後者を該テストの観測結果に対する期待値として編集す
ることによって達成される。

【００１８】すなわち、部品ごとに論理動作から設定し
た論理シミュレーション用の入力信号を用いた論理シミ
ュレーションの結果から、対象部品の入力信号を抽出し
て最大遅延時間に基づく編集を行なった上で、単品化処
理した対象部品に対する再論理シミュレーションを行な
う。あるいは、部品ごとに論理動作から設定した論理シ
ミュレーション用の入力信号から対象部品の入力信号を
抽出し、それに直接、最大遅延時間による編集を行な
い、単品化処理した対象部品に対する再論理シミュレー
ションを行なう。

【００１９】これによれば、人手を一切介在することな
く、論理シミュレーション結果を用いたテストデータの
作成が実現できる。また、単品化処理によって、内部回
路の接続に対するカット処理等も可能になるので、複雑
な回路構成の場合にも論理シミュレーションの正確な結
果が取得でき、検査の質的向上が可能になる。

【００２０】さらに、論理シミュレーション及び再論理
シミュレーションの入力信号、出力信号には、入出力兼
用ピンの入出力信号を動作中の切換条件に基づいて、入
力信号または出力信号として抽出するので、入出力兼用
ピンを持つ部品構成にも適用できる効果がある。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面にしたがって詳細に説明する。図１は、一実施例によ
るテストデータ作成装置の構成図である。本装置におい
ては、論理シミュレーション結果をそのまま利用する時
の矛盾を解消するために、テストデータ作成装置本体２
００を構成する中央処理装置（ＣＰＵ）の機能として、
再論理シミュレーション用入力信号編集部４００と、再
論理シミュレーション用単品化論理回路処理部５００
と、再論理シミュレーション実行部６００を付加した点
に特徴がある。以下、本テストデータ作成装置の構成と
動作を説明する。

【００２２】論理図入力部１００は、テストデータ作成
対象部品が搭載されている装置（たとえば、プリント板
単位）の全体論理図１２０を入力し、論理接続情報ファ
イル１３０を作成する。この中には、テストデータを作
成する対象部品の指定情報１１０を含んでいる。なお、
本実施例における部品の単位は可検査性から定まり、部
品単位に信号の入力ピン及び出力ピンあるいは入出力ピ
ンを具備している。

【００２３】論理シミュレーション実行部３００は論理
シミュレーション用入力信号ファイル１４０、論理接続
情報ファイル１３０、部品の動作をソフトウェアで記述
したソフトウェアモデラファイル２１０、実部品を利用
したハードウェアモデラ２２０を基に、論理シミュレー
ションを実行して、結果を論理シミュレーション結果フ
ァイル３１０に格納する。なお、論理シミュレーション
用入力信号ファイル１４０には、装置の入力信号、即
ち、装置入力端と直接に接続される部品の入力信号が登
録されている。

【００２４】再論理シミュレーション用入力信号編集部
４００は、論理シミュレーション結果ファイル３１０か
ら、対象部品の入力信号名、出力信号名及び、入出力信
号名を抽出し、対象部品の入力・出力・入出力信号情報
ファイル４１０に格納する。

【００２５】ここで、対象部品に入出力信号端子がある
場合、その入出力信号の入力状態／出力状態を判別する
必要があり、部品ごとに入出力信号の入力状態／出力状
態の切換条件が登録されている入出力切換条件ファイル
３３０と、論理接続情報ファイル１３０を参照し、それ
を基に入出力信号の入力信号を抽出してファイル４１０
に格納する。

【００２６】再論理シミュレーション用入力信号編集部
４００は、抽出した対象部品の入力信号を部品の遅延特
性やテスタの動作タイミング（テストレート、スキュー
等）を考慮して、後述するように編集し、再論理シミュ
レーション用入力信号ファイル５１０に格納する。

【００２７】再論理シミュレーション用単品化論理回路
処理部５００は、論理接続情報ファイル１３０から対象
部品に限定、すなわち単品化した論理回路、即ち論理シ
ミュレーション用の論理接続情報を作成し、再論理シミ
ュレーション用論理接続情報ファイル５２０に格納す
る。再論理シミュレーション実行部６００は、再論理シ
ミュレーション用の論理接続情報と入力信号に基づい
て、論理シミュレーションを実行し、結果を再論理シミ
ュレーション結果ファイル６１０に格納する。

【００２８】テストデータ編集部７００は、入力・出力
・入出力信号情報ファイル４１０の情報に基づき、再論
理シミュレーション結果から対象部品の入力信号、出力
信号及び入出力信号を抽出し、入力信号および入力状態
の入出力信号については、テスタの入力信号として、ま
た、出力信号および出力状態の入出力信号については、
テスタ出力の観測値を評価する期待値として編集し、動
作確認用テストデータファイル７１０に格納する。

【００２９】図３は、テストデータ作成装置の概略の処
理手順を示すフローチャートである。ステップＳ１で
は、プリント板に搭載されている装置の全体論理図を入
力し（Ｓ１１）、テストデータを作成する必要のある対
象部品を指定する（Ｓ１２）。対象部品には、装置の全
部品を指定してもよい。

【００３０】ステップＳ２では、入力された全体論理図
とその部品の動作をソフトウェアで記述したソフトウェ
アモデラ、実部品を利用したハードウェアモデラに、論
理シミュレーションの入力信号、すなわち装置の入力信
号を与えて論理シミュレーションを実行する。

【００３１】ステップＳ３では、Ｓ２の論理シミュレー
ション結果から、再論理シミュレーション用の入力信号
を生成する。即ち、対象部品の入力信号を抽出し（Ｓ２
１）、その入力信号または入力信号間の各変化点の間隔
を対象部品の最大遅延時間ｔｍ程度以上に引き延ばして
編集する（Ｓ２２）。

【００３２】このテストデータによれば、前の入力変化
による出力応答が得られていない間に後の入力変化を与
えることがないので、テスタの動作に矛盾を生じること
がない。また、テスタ動作とのマッチングをはかる上で
は、ｔｍ＜ｔｓの関係を必要とするが、通常のテスタ動
作は部品の動作に比べて緩慢であり、この関係は維持さ
れている。これらにより、正常な部品であれば論理シミ
ュレーション結果の期待値とテスタの観測値が一致し、
部品動作の確認が可能になる。

【００３３】ステップＳ４では、全体論理図から対象部
品に単品化した再論理シミュレーション用の論理回路を
生成する。何となれば、全体論理回路と接続状態での対
象部品（の論理回路）に入力信号を与えて再論理シミュ
レーションを実行したのでは、入力信号が対象部品に伝
搬するまでに他の部品の影響による伝搬ディレイを受け
て、対象部品の最大遅延時間に基づいて編集した入力信
号の変化点にずれを生じるためである。対象部品に単品
化した論理回路の生成については後述する。

【００３４】ステップＳ５では、対象部品に限定した論
理回路に、ステップＳ３で生成した論理シミュレーショ
ン用の入力信号を与え、再論理シミュレーションを実行
する。そして、ステップＳ６で、再論理シミュレーショ
ン結果を基に、対象部品の入力信号及び出力信号を抽出
し、動作確認用テストデータに編集する。この動作確認
用テストデータを利用して、インサーキットテスタによ
る部品個々の動作テストが実行される。

【００３５】以下、各ステップを詳細に説明する。図４
は、装置の全体論理図の一例と、その論理接続情報ファ
イルのデータ構成を示す。同図（ａ）の全体論理図１２
０では、装置の入力端と出力端の間に部品Ａ、部品Ｂ、
部品Ｃが接続されている。

【００３６】同図（ｂ）の論理接続情報ファイル１３０
には、部品毎のピン、入力ピン／出力ピン／入出力ピン
をＩ、Ｏ、Ｂで表す属性、ピンの接続信号名が論理図入
力部１００を介して格納されている。接続信号が同一の
ピン番号は一方が入力、他方が出力の接続関係にある。
また、テストデータ作成対象となる部品が指示される
と、論理接続情報ファイル１３０のテストデータ作成の
要否情報欄に「要」が設定される。

【００３７】図５は、論理シミュレーション実行部の動
作を示す説明図である。まず、論理接続情報ファイル１
３０から、論理図全体の各部品の全信号名と属性を取り
出し、その中から、装置の入力、出力信号名を抽出す
る。

【００３８】次に、論理シミュレーション用入力信号フ
ァイル１４０から、装置の入力信号である信号名Ａ１−
Ｐ，Ａ２−Ｐと入力信号を抽出し、抽出したＡ１−Ｐ，
Ａ２−Ｐの信号波形を論理シミュレーション用の入力信
号とし、ソフトウェアモデラファイル２１０又はハード
ウェアモデラファイル２２０あるいはそれらの合成から
なるモデルによる論理シミュレーションを実行し、論理
シミュレーション結果ファイル３１０に結果の出力が行
なわれる。

【００３９】論理シミュレーション結果ファイル３１０
には、装置の入力信号、出力信号及び装置に搭載されて
いる全部品の入力信号波形、出力信号波形が、部品の信
号名に対応して格納される。さらに、論理シミュレーシ
ョンの結果から、各部品の信号伝搬時間を求めその最大
遅延時間を部品名毎に格納する。なお、市販部品のよう
に、その最大遅延時間ｔｍが分かっている場合には、論
理接続情報ファイル１３０に予め登録しておいてもよ
い。

【００４０】図６は、伝搬ディレイの説明図である。同
図（ａ）のように、部品ＢがＯＲ素子からなるセルＤ
と、ＢＵＦ素子とＡＮＤ素子からなるセルＥの複合回路
からなる場合、同図（ｂ）のように部品Ｂに複数の信号
伝搬経路が存在する。即ち、部品の１番ピン〜素子Ａ〜
部品の５番ピンによる伝搬経路Ａ、部品の２番ピン〜素
子Ａ〜部品の５番ピンによる伝搬経路Ｂ、部品の３番ピ
ン〜素子Ｂ〜素子Ｃ〜部品の６番ピンによる伝搬経路
Ｃ、部品の４番ピン〜素子Ｃ〜部品の６番ピンによる伝
搬経路Ｄが存在する。各経路は含まれる素子レディの違
いから入力から出力までの遅延時間が異なり、全ての伝
搬経路の遅延時間の内、最大となるものを部品Ｂの最大
遅延時間として登録している。

【００４１】図７は、再論理シミュレーション用入力信
号編集部の動作の詳細を示す説明図である。再論理シミ
ュレーション用入力信号編集部４００は、論理接続情報
ファイル１３０から対象部品の信号名、属性を抽出し、
入力・出力・入出力信号情報ファイル４１０に格納する
（Ｓ３１１）。

【００４２】この例では、入力信号として属性ＩのＩＮ
１，ＩＮ２、出力信号として属性ＯのＯＵＴ１，ＯＵＴ
２、入出力信号として属性ＢのＢＵＳ１，ＢＵＳ２をそ
れぞれ抽出する。対象部品の抽出信号に、属性Ｂの入出
力信号が存在する場合は、入出力切換条件ファイル３３
０から対象部品の入出力信号に対する切換条件を抽出
し、ファイル４１０に格納する（Ｓ３１２）。この例で
は、入出力信号ＢＵＳ１に対する入出力切換条件はＩ
（ＩＮ１ １）であり、ＢＵＳ２に対する入出力切換条
件はＯ（ＩＮ２ ０）であり、この詳細は後述する。

【００４３】また、ファイル４１０に登録されている信
号名および入出力切換条件を基に、論理シミュレーショ
ン実行後の論理シミュレーション結果ファイル３１０か
ら、対象部品の入力ピン及び、入力状態である入出力ピ
ンの入力信号を抽出し、ファイル４１０に格納する（Ｓ
３１３）。

【００４４】図８は、部品の入出力ピンの入出力切換動
作の説明図である。同図（ａ）において、部品の入出力
信号Ｅは入力信号Ｄの条件に応じて、入力状態または出
力状態に変化する。例えば、入力信号Ｄが０のとき、入
出力信号Ｅは出力状態となり、入力信号Ｄが１のとき、
入出力信号Ｅは入力状態となる。

【００４５】同図（ｂ）に、入出力信号Ｅの切換条件を
示す。切換条件の記述内容は、部品の入出力ピン番号に
対して、入力状態（Ｉｎ）になる場合の条件または出力
状態（Ｏｕｔ）になる場合の条件を定義する。このと
き、入力状態の条件が指定された場合は、その条件以外
の場合は出力状態になることを意味する。また、逆に出
力状態の条件が指定された場合は、その条件以外の場合
は、入力状態になることを意味する。この記述内容は、
ファイル４１０の入出力切換条件欄に格納する。

【００４６】次に、論理シミュレーション結果ファイル
３１０から対象部品の最大遅延時間ｔｍを取り込み（Ｓ
３２１）、ファイル４１０の入力信号波形または波形間
の各変化点の間隔を、最大遅延時間ｔｍ程度またはそれ
以上となるように編集し、再論理シミュレーション用入
力信号ファイル５１０に格納する（Ｓ３２２）。なお、
切換条件によって、入力状態となっている場合の入出力
信号はその波形の変化点を、他の入力信号の変化点との
間で同様に延長する。

【００４７】図９は、再論理シミュレーション用単品化
回路処理部の動作を示す説明図である。対象部品単体の
テストデータを作成するためには、再論理シミュレーシ
ョン用入力信号を対象部品の入力に与える必要がある。
このとき、対象部品が装置に搭載された接続状態、即ち
入力ピンや出力ピンに他の部品が接続されている論理回
路に対して論理シミュレーションを行なうと、それら他
の部品の影響による伝搬ディレイが含まれて、テスタイ
ミング仕様とのマッチングが保証されなくなる。このた
め、ステップＳ４１〜Ｓ４７の手順によって、対象部品
の入出力から他の部品を除外し、再論理シミュレーショ
ン用に単品化した論理回路を生成する。

【００４８】図１０に、装置に搭載された対象部品の接
続状態と、他の部品を除外した再論理シミュレーション
用の論理回路を示す。同図（ａ）のように、対象部品Ｂ
には、その入力側に部品Ａ、電源Ｖｃｃ２５２、内部回
路を含む自己結線接続２５４や内部回路によるループ接
続２５５とともに、シミュレーションのハードウェアモ
デラも接続されている。出力側には、部品Ｃとソフトウ
ェアモデラが接続されている。

【００４９】このため、論理接続情報ファイル１３０か
ら対象部品の入出力状態情報を抽出し（Ｓ４１）、ステ
ップＳ４２〜Ｓ４７の手順によって対象部品のみに単品
化した論理回路を生成する。

【００５０】入出力状態情報とは、対象部品の入力が直
接ＶｃｃやＧＮＤに接続されている状態、同一信号が対
象部品の複数の入力に接続されている状態（自己結
線）、対象部品の出力が他の部品を経由して再び対象部
品の入力に接続されている状態（ループ接続）、対象部
品の入力又は出力がソフトウェアモデラやハードウェア
モデラに接続されている状態などである。

【００５１】この入出力状態情報の抽出は、論理接続情
報ファイル１３０の接続信号から求める。例えば、自己
結線接続の状態情報は、１つの信号が対象部品の複数の
入力となる状態であり、対象部品の入力に接続される全
信号名をチエックすることで抽出できる。また、ループ
接続の状態情報は、対象部品の出力が直接または他の部
品を経由して対象部品の入力となる状態であり、対象部
品の出力信号名を基に、その接続先を次々とトレース
し、その結果が対象部品の入力に接続されるかをチエッ
クすることで抽出できる。

【００５２】次に、対象部品の入力の内、ＶｃｃやＧＮ
Ｄに直接接続されている入力はそのままとする（Ｓ４
２，Ｓ４３）。論理シミュレーション時は、Ｖｃｃの入
力はＨｉｇｈレベルに、ＧＮＤの入力はＬｏｗレベルに
固定される。また、自己結線されている入力はその内部
回路（ソフトウェアモデラ／ハードウェアモデラを含
む）を除外して、装置の入力と直接に接続する（Ｓ４
４）。

【００５３】ループ接続が存在すると、テスタの動作が
緩慢のためゲートループ経路上の信号変化に追従でき
ず、動作確認時に出力が不安定となって正常なテストを
実施できない。そこでループ接続の入出力を抽出し、ル
ープをカット処理し、カットしたループの入力側には常
に不確定値Ｘ’の印加、出力側にはテスタでのマスク処
理をそれぞれ指示する（Ｓ４５）。さらに、対象部品が
他の部品やその内部回路と接続されている入力及び出力
は、装置の入力、出力と直接に接続する（Ｓ４６）。

【００５４】このように接続変更した対象部品単品の論
理接続情報は、再論理シミュレーション用論理接続情報
ファイル５２０に格納される（Ｓ４７）。図１０（ｂ）
に、対象部品に単品化した接続情報による論理回路の模
式図を示す。

【００５５】図１１は、再論理シミュレーション実行部
の動作を示す説明図である。再論理シミュレーション用
論理接続情報ファイル５２０から、単品に限定された対
象部品の信号名と属性を抽出する（Ｓ５１）。このと
き、単品に限定された対象部品の入力信号と出力信号
は、それぞれ装置の入力信号と出力信号となる。

【００５６】次に、再論理シミュレーション用入力信号
ファイル５１０から、対象部品の再論理シミュレーショ
ン用の入力信号と不確定値Ｘ’の値を抽出する（Ｓ５
２，Ｓ５３）。この入力信号は、前タイミングの入力信
号による回路安定後（対象部品の最大遅延時間後）に、
後タイミングの入力信号が印加されるように、入力の変
化点を遅延してある。また、対象部品の元の接続情報に
ループ接続が存在しない場合は、不確定値Ｘ’は不要に
なる。

【００５７】図１２は、テストデータ編集部の動作を示
す説明図である。テストデータ編集部７００は、入力・
出力・入出力信号情報ファイル４１０から、対象部品の
入力信号名、出力信号名及び入出力信号名を抽出し（Ｓ
６１）、入出力信号名がある場合は入出力切換条件も抽
出する（Ｓ６２）。

【００５８】次に、再論理シミュレーション結果ファイ
ル６１０から、対象部品の各入力ピンの入力信号と、対
象部品に入出力ピンのある場合は入力状態時の入出力信
号を抽出する（Ｓ６３，Ｓ６４）。同様にして、再論理
シミュレーション結果ファイル６１０から、対象部品の
各出力ピンの出力信号と、入出力ピンのある場合は出力
状態時の入出力信号を抽出する（Ｓ６５，Ｓ６６）。

【００５９】このように抽出した入力信号及び入力状態
の入出力信号については、テスタが装置の入力端子に与
える入力信号として、また、出力信号および出力状態の
入出力信号については、テスタが装置の出力端子からの
出力信号を観測するときの期待値信号として編集し、動
作確認用テストデータファイル７１０に格納する。

【００６０】図１３は、本実施例によるテストデータ作
成装置の具体的な動作例を示す説明図である。従来の問
題点の説明に用いたと同じ対象部品（図２）への適用例
で、再論理シミュレーションの動作を説明する。

【００６１】（ａ）は、論理シミュレーション結果から
抽出した対象部品の入力信号Ａ、Ｂで、装置に入力され
た信号に順次応答した各部品の論理動作のみを反映して
いる。つぎに、入力信号Ａの変化点Ａ１、Ａ２と、入力
信号Ｂの変化点Ｂ１、Ｂ２を、相互に前の変化点に対し
て後の変化点を、対象部品の最大遅延時間ｔｍだけ遅ら
せる。（ｃ）は、各変化点を遅延した後の入力信号Ａ、
Ｂの波形を示している。変化点Ａ１とＢ１、Ｂ１とＡ
２、Ａ２とＢ２の間隔がそれぞれ最大遅延時間ｔｍに設
定されている。

【００６２】この入力信号Ａ、Ｂを、単品化処理された
対象部品（ＯＲ素子）の入力として、再論理シミュレー
ションを実行する。（ｅ）は、再論理シミュレーション
結果を示す。入力信号Ａが変化点Ａ１で立ち上がると、
出力信号ＣがＯＲ素子のディレイｔｄだけ遅れて、変化
点Ｃ１で立ち上がる。ここで、ｔｍ＞ｔｄに設定されて
いるので、出力信号Ｃの変化（Ｃ１）後に入力信号Ｂが
変化（Ｂ１）する。

【００６３】従って、入力信号の変化の直前に抽出ポイ
ントを設定して、再論理シミュレーション結果ファイル
（ｅ）より入力信号と出力信号を抽出すると、（ｇ）に
示すように、Ａの論理値は〔１１０〕、Ｂの論理値は
〔０１１〕、Ｃの論理値は〔１１１〕となる。即ち、入
力Ａ、Ｂが１・０に対して出力Ｃは１となり、入力Ａ、
Ｂが１・１に対して出力Ｃは１となる。

【００６４】（ｈ）はテスタの動作を示す。入力信号
Ａ、Ｂは再論理シミュレーションによる論理値を、最大
遅延時間ｔｍ（ｎｓのオーダ）より十分大きなテスタレ
ート（ここでは、４μｓ）に引き延ばして入力する。出
力Ｃは素子ディレイｔｄだけ遅れて立ち上がる。

【００６５】このとき、テスタの観測値はテスタスキュ
ー（ｔｓ）分遅れたタイミングで検出されるため、最初
の観測タイミングでのＣの観測値は１、次の観測タイミ
ングでも１となり、再論理シミュレーション結果の論理
値１／１と一致する。つまり、正しい動作確認用テスト
データが作成されていることになる。

【００６６】以上に説明した実施形態では、論理シミュ
レーションの結果から抽出した入力信号に最大遅延時間
に基づく編集を行ない、この編集した入力信号を用いて
単品化処理した対象部品の論理回路に限定した再論理シ
ミュレーションを行なっている。しかし、過去データの
参照などによって、部品毎の論理動作に対応する入力信
号が設定されている場合は、直ちに対象部品の入力信号
を抽出し、これに最大遅延時間に基づく編集を加え、単
品化処理した対象部品の論理回路に限定した論理シミュ
レーションを行なうようにしてもよい。

【００６７】また、上記実施形態における論理シミュレ
ーション部を、再論理シミュレーションにも兼用できる
ように構成することも可能である。

【００６８】

【発明の効果】本発明によれば、論理シミュレーション
結果の入力信号間における各変化点の間隔を対象部品の
最大遅延時間以上に変更し、この変更した入力信号によ
る再論理シミュレーションを実行し、その結果から直接
に動作確認用のテストデータを生成するので、人手を一
切介在することがない。

【００６９】また、再論理シミュレーションに際し、プ
リント基板など装置に搭載された対象部品に対し、他の
部品等による影響を排除する単品化処理を行なうので、
前記最大遅延時間を考慮した再論理シミュレーションの
結果が正確に取得でき、検査の質的向上を可能にする。
例えば、ループ接続に対する単品化処理等も実現できる
ので、複雑な回路構成にも適用できる効果がある。

【００７０】さらに、論理シミュレーション及び再論理
シミュレーションの入力信号、出力信号には、入出力兼
用ピンの入出力信号を動作中の切り換え条件に基づい
て、入力信号または出力信号として抽出するので、入出
力兼用の入出力ピンを持つ構成においても適用できる効
果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態によるテストデータ作成装
置の構成図。

【図２】従来のテストデータ作成方法での問題点を示す
説明図。

【図３】本発明の一実施形態によるテストデータ作成方
法を示すフローチャート。

【図４】全体論理図の一例とその論理接続情報のファイ
ル構成を示す説明図。

【図５】論理シミュレーション実行部の動作を示す説明
図。

【図６】複数素子による対象部品の論理図と、その伝搬
経路における素子ディレイの状況を示す説明図。

【図７】再論理シミュレーション用入力信号編集部の動
作を示す説明図。

【図８】部品の入出力ピンの入出力切換動作と、切換条
件を示す説明図。

【図９】再論理シミュレーション用単品化回路処理部の
単品化処理動作を示す説明図。

【図１０】対象部品の単品化処理の前後を示す論理回路
図。

【図１１】再論理シミュレーション実行部の動作を示す
説明図。

【図１２】テストデータ編集部の動作を示す説明図。

【図１３】本テストデータ作成装置の具体的な動作例を
示す説明図。

【符号の説明】

１００…論理図入力部、１１０…対象部品の指定部、１
２０…論理図、１３０…論理接続情報ファイル、１４０
…論理シミュレーション用入力信号ファイル、２００…
テストデータ作成装置本体（ＣＰＵ）、２１０…ソフト
ウェアモデラファイル、２２０…ハードウェアモデラ、
３００…論理シミュレーション実行部、３１０…論理シ
ミュレーション結果ファイル、３３０…入出力切換条件
ファイル、４００…再論理シミュレーション用入力信号
編集部、４１０…対象部品の入力・出力・入出力情報フ
ァイル、５００…再論理シミュレーション用単品化論理
回路処理部、５１０…再論理シミュレーション用入力信
号ファイル、５２０…再論理シミュレーション用論理接
続情報ファイル、６００…再論理シミュレーション実行
部、６１０…再論理シミュレーション結果ファイル、７
００…テストデータ編集部、７１０…動作確認用テスト
データファイル。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 榊原 哲 茨城県日立市大みか町五丁目２番１号 日 立プロセスコンピュータエンジニアリング 株式会社内 (72)発明者 二村 圭洋 茨城県日立市大みか町五丁目２番１号 日 立プロセスコンピュータエンジニアリング 株式会社内 (72)発明者 河村 敏明 茨城県日立市大みか町五丁目２番１号 日 立プロセスコンピュータエンジニアリング 株式会社内 (72)発明者 田嶋 淳哉 茨城県日立市大みか町五丁目２番１号 株 式会社日立製作所大みか工場内

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 部品を搭載した電子的装置の論理シミュ
   レーションを行ない、その結果を利用して部品毎の動作
   を確認するテストデータを作成する方法において、 前記論理シミュレーションの結果から対象部品に入力す
   る１または複数の入力信号を抽出し、この入力信号また
   は入力信号間の各変化点の間隔を前記対象部品に固有の
   最大遅延時間以上となるように編集し、この編集した入
   力信号による再論理シミュレーションの結果から、前記
   対象部品の入力信号及び出力信号を抽出し、前者を動作
   確認テストの入力データ、後者を該テストの観測結果に
   対する期待値とすることを特徴とするテストデータの作
   成方法。
2. 【請求項２】 請求項１において、 前記対象部品が複数の素子から構成され複数の信号伝搬
   経路を有している場合に、前記最大遅延時間は素子ディ
   レイの積算値が最大となる信号伝搬経路の遅延時間に相
   当することを特徴とするテストデータの作成方法。
3. 【請求項３】 請求項１または２において、 前記論理シミュレーション及び前記再論理シミュレーシ
   ョンの結果を編集する場合に、入出力切換条件を予め与
   えることにより、入出力兼用ピンの入出力信号を、前記
   入出力切換条件に基づいて入力信号または出力信号とし
   て抽出することを特徴とするテストデータの作成方法。
4. 【請求項４】 請求項１、２または３において、 前記再論理シミュレーションは、前記電子的装置の全体
   論理回路から前記対象部品に限定する単品化処理を行な
   い、単品化された論理回路に前記最大遅延時間に基づい
   て編集した入力信号を与えて実行することを特徴とする
   テストデータの作成方法。
5. 【請求項５】 部品を搭載した電子的装置の論理シミュ
   レーションを行ない、その結果を利用して対象部品毎の
   動作をテスタによって確認するためのテストデータを作
   成する方法において、 記憶されている論理シミュレーション用の入力信号か
   ら、対象部品に入力する１または複数の入力信号を抽出
   し、この入力信号または入力信号間の変化点の間隔を前
   記対象部品に固有の最大遅延時間程度またはそれ以上に
   変更し、 前記電子的装置の全体論理回路から前記対象部品に限定
   した論理回路を生成する単品化処理を行ない、 前記変更した入力信号によって前記単品化処理した論理
   回路による論理シミュレーションを行ない、その結果か
   ら前記対象部品の入力信号及び出力信号を抽出し、前者
   を動作確認テストの入力データ、後者を該テストの観測
   結果に対する期待値として編集することを特徴とするテ
   ストデータの作成方法。
6. 【請求項６】 請求項４または５において、 前記単品化処理は、前記対象部品における信号伝搬の最
   大値が前記最大遅延時間と同等となるように前記論理回
   路を生成することを特徴とするテストデータの作成方
   法。
7. 【請求項７】 請求項６において、 前記論理回路は、前記対象部品が内部回路を通して自己
   結線されている入力又は、他の部品にも接続されている
   入力または出力が、前記内部回路を除外して直接に前記
   電子的装置の入力または出力と接続するように生成する
   ことを特徴とするテストデータの作成方法。
8. 【請求項８】 請求項６または７において、 前記論理回路は、前記対象部品が入力と出力間に前記内
   部回路を通して接続されている場合に、その内部回路を
   カットし、その入力に固定の不確定値信号の印加指示、
   その出力に前記テスタでのマスク指示を与えるように生
   成することを特徴とするテストデータの作成方法。
9. 【請求項９】 部品を搭載した電子的装置の論理図の論
   理接続情報ファイル、前記装置の入力信号が登録されて
   いる論理シミュレーション用入力信号ファイル及び、指
   示された対象部品の論理接続情報と入力信号を抽出して
   論理シミュレーションを実行する論理シミュレーション
   実行部を備え、この論理シミュレーションの結果を利用
   して対象部品毎の動作を確認するテストデータに編集す
   るテストデータの作成装置において、 前記論理シミュレーションの結果から前記対象部品の入
   力信号を抽出し、入力信号または入力信号間の変化点の
   時間間隔を前記対象部品の最大遅延時間程度に変更する
   入力信号編集部と、前記論理図の論理接続情報ファイル
   を参照し前記対象部品に単品化した論理回路を生成する
   単品化処理部と、この単品化した論理回路に対し前記変
   更した入力信号を与えて再論理シミュレーションを行な
   う再論理シミュレーション部と、前記再論理シミュレー
   ションの結果から抽出した入力信号と出力信号を、動作
   確認用テスタのテストデータとするテストデータ編集部
   を設けたことを特徴とするテストデータの作成装置。