JPH1010322A - 偏光板検査装置およびその検査方法 - Google Patents
偏光板検査装置およびその検査方法Info
- Publication number
- JPH1010322A JPH1010322A JP16752096A JP16752096A JPH1010322A JP H1010322 A JPH1010322 A JP H1010322A JP 16752096 A JP16752096 A JP 16752096A JP 16752096 A JP16752096 A JP 16752096A JP H1010322 A JPH1010322 A JP H1010322A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polarizing plate
- inspection
- image
- inspected
- defect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Polarising Elements (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 一枚づつ目視にて検査する効率の悪さや、検
査時間が被検査偏光板の大きさに影響されることによる
非効率を改善し、生産効率の向上を図った液晶表示装置
の偏光板検査装置およびその検査方法を提供する。 【解決手段】 本発明の偏光板検査装置１０は、光を出
射する光源１１、光学フィルタ１２、基準となる無欠陥
偏光板１３、被検査偏光板１４を設置する被検査偏光板
設置部１５、投射レンズ１６および検査像を映写するス
クリーン１７などにより構成される。そして、光源１１
から出射した光を、無欠陥偏光板１３および被検査偏光
板１４に投射し、投射レンズ１６によって被検査偏光板
１４の全体像をスクリーン１７に映出するようにした。
これにより、塵埃や瑕等の欠陥箇所の大きさや程度がよ
く識別できるようになり、検査の判断が容易になる。
査時間が被検査偏光板の大きさに影響されることによる
非効率を改善し、生産効率の向上を図った液晶表示装置
の偏光板検査装置およびその検査方法を提供する。 【解決手段】 本発明の偏光板検査装置１０は、光を出
射する光源１１、光学フィルタ１２、基準となる無欠陥
偏光板１３、被検査偏光板１４を設置する被検査偏光板
設置部１５、投射レンズ１６および検査像を映写するス
クリーン１７などにより構成される。そして、光源１１
から出射した光を、無欠陥偏光板１３および被検査偏光
板１４に投射し、投射レンズ１６によって被検査偏光板
１４の全体像をスクリーン１７に映出するようにした。
これにより、塵埃や瑕等の欠陥箇所の大きさや程度がよ
く識別できるようになり、検査の判断が容易になる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は偏光板の検査装置お
よびその検査方法に関し、更に詳しくは、液晶表示装置
に使用される偏光板の検査工程を改良することにより、
検査効率の向上を図った液晶表示装置の偏光板検査装置
およびその検査方法に関する。
よびその検査方法に関し、更に詳しくは、液晶表示装置
に使用される偏光板の検査工程を改良することにより、
検査効率の向上を図った液晶表示装置の偏光板検査装置
およびその検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】液晶表示装置はフラットな構造や低消費
電力に特徴があり、液晶プロジェクタや液晶モニタ付き
ビデオカメラに代表される液晶表示装置付き電子機器等
に実用化され普及しつつある。図２は本発明に係わる液
晶表示装置の基本的な構成を示す図であり、図における
液晶表示装置１は、対向基板２および駆動基板３から大
略構成されている。
電力に特徴があり、液晶プロジェクタや液晶モニタ付き
ビデオカメラに代表される液晶表示装置付き電子機器等
に実用化され普及しつつある。図２は本発明に係わる液
晶表示装置の基本的な構成を示す図であり、図における
液晶表示装置１は、対向基板２および駆動基板３から大
略構成されている。
【０００３】対向基板２には、図示を省略したＲ、Ｇ、
Ｂのカラーフィルタ（カラー液晶装置の場合）や透明電
極４Ａ等が形成されている。駆動基板３には、互いに絶
縁された走査線と信号線が形成されていて、その交差部
には各画素駆動用の薄膜トランジスタ（図示省略）が形
成されるとともに、透明電極４Ｂ等が形成されている。
かかる構造を有する液晶表示装置はアクティブマトリク
ス型と呼ばれる。
Ｂのカラーフィルタ（カラー液晶装置の場合）や透明電
極４Ａ等が形成されている。駆動基板３には、互いに絶
縁された走査線と信号線が形成されていて、その交差部
には各画素駆動用の薄膜トランジスタ（図示省略）が形
成されるとともに、透明電極４Ｂ等が形成されている。
かかる構造を有する液晶表示装置はアクティブマトリク
ス型と呼ばれる。
【０００４】これら対向基板２および駆動基板３は、そ
れぞれの製造工程において製造された後、所定の間隔を
もって対向配置されるとともに、スペーサ（図示省略）
を挟持してシール材５によって接合され、図示を省略し
た注入孔から液晶６を注入して製造される。その後、こ
の液晶表示装置は偏光板貼着工程に移され、ガラス基板
の両面に偏光板７Ａ、７Ｂを貼着することにより、上記
構成の液晶表示装置１が完成される。
れぞれの製造工程において製造された後、所定の間隔を
もって対向配置されるとともに、スペーサ（図示省略）
を挟持してシール材５によって接合され、図示を省略し
た注入孔から液晶６を注入して製造される。その後、こ
の液晶表示装置は偏光板貼着工程に移され、ガラス基板
の両面に偏光板７Ａ、７Ｂを貼着することにより、上記
構成の液晶表示装置１が完成される。
【０００５】前述の偏光板貼着工程に使用される偏光板
７は、何れも図示を省略したが、ＰＶＡ（ポリビニルア
ルコール）を３〜５倍に延伸して偏光基体を作り、この
偏光基体を両側から保護するＴＡＣ（トリアセチルセル
ロース）と貼り合わせることにより製造される。続い
て、切断工程に移されて各パネルサイズに切断され、ラ
ベラー加工工程によって透明キャリアテープ８（同図
（ｂ）参照）に貼り合わされる。
７は、何れも図示を省略したが、ＰＶＡ（ポリビニルア
ルコール）を３〜５倍に延伸して偏光基体を作り、この
偏光基体を両側から保護するＴＡＣ（トリアセチルセル
ロース）と貼り合わせることにより製造される。続い
て、切断工程に移されて各パネルサイズに切断され、ラ
ベラー加工工程によって透明キャリアテープ８（同図
（ｂ）参照）に貼り合わされる。
【０００６】このように加工された偏光板７は、偏光板
検査工程に移され、５０〜１００枚の単位で全数検査さ
れる。すなわち、従来の偏光板の検査は、被検査偏光板
７を顕微鏡に一枚づつセットし、目視にて偏光板７の塵
埃や瑕等の不良箇所Ｃの検査がなされる。なお、本発明
の対象となる液晶表示装置の偏光板は、例示した構造に
限られるものではなく、単に例示したにすぎない。
検査工程に移され、５０〜１００枚の単位で全数検査さ
れる。すなわち、従来の偏光板の検査は、被検査偏光板
７を顕微鏡に一枚づつセットし、目視にて偏光板７の塵
埃や瑕等の不良箇所Ｃの検査がなされる。なお、本発明
の対象となる液晶表示装置の偏光板は、例示した構造に
限られるものではなく、単に例示したにすぎない。
【０００７】しかしながら、このような従来の偏光板検
査方式では、偏光板７を一枚づつ目視にて検査している
ため、検査に時間を費やし非効率である。また、偏光板
７一枚あたりの面積が大きくなるにつれて、更に多くの
検査時間が必要となり検査数量に限界がある。このこと
は、液晶表示装置の生産効率を低下させるとともに、液
晶表示装置の製造コストを上昇させるという問題点があ
る。
査方式では、偏光板７を一枚づつ目視にて検査している
ため、検査に時間を費やし非効率である。また、偏光板
７一枚あたりの面積が大きくなるにつれて、更に多くの
検査時間が必要となり検査数量に限界がある。このこと
は、液晶表示装置の生産効率を低下させるとともに、液
晶表示装置の製造コストを上昇させるという問題点があ
る。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる問題点
に鑑みてなされたもので、その課題は、液晶表示装置に
使用される偏光板の検査工程において、一枚づつ目視に
て検査する効率の悪さや、検査時間が被検査偏光板の大
きさに影響されることによる非効率を改善し、生産効率
の向上を図った液晶表示装置の偏光板検査装置およびそ
の検査方法を提供することである。
に鑑みてなされたもので、その課題は、液晶表示装置に
使用される偏光板の検査工程において、一枚づつ目視に
て検査する効率の悪さや、検査時間が被検査偏光板の大
きさに影響されることによる非効率を改善し、生産効率
の向上を図った液晶表示装置の偏光板検査装置およびそ
の検査方法を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上述した本発明の課題を
解決するために以下の手段を講じた。すなわち、光を出
射する光源と、光源から出射した光の光学処理を行う
（熱線領域のカット等）光学手段と、基準となる無欠陥
偏光板と、被検査偏光板を設置する被検査偏光板設置手
段とを備えた。更に光源から検査光として出射され、光
学手段、無欠陥偏光板および被検査偏光板を透過した検
査像を拡大して投射する投射手段と、この検査像を映写
する映写手段とを備えた。
解決するために以下の手段を講じた。すなわち、光を出
射する光源と、光源から出射した光の光学処理を行う
（熱線領域のカット等）光学手段と、基準となる無欠陥
偏光板と、被検査偏光板を設置する被検査偏光板設置手
段とを備えた。更に光源から検査光として出射され、光
学手段、無欠陥偏光板および被検査偏光板を透過した検
査像を拡大して投射する投射手段と、この検査像を映写
する映写手段とを備えた。
【００１０】また、本発明の偏光板検査装置は、映写手
段に映写された検査像を撮像する撮像手段と、撮像手段
によって撮像された検査像を処理する処理手段とを備え
た。そして、この処理手段によって検査像と予め設定さ
れた基準像との比較・検査を行うことにより、被検査偏
光板の検査を自動的に行うことができる。
段に映写された検査像を撮像する撮像手段と、撮像手段
によって撮像された検査像を処理する処理手段とを備え
た。そして、この処理手段によって検査像と予め設定さ
れた基準像との比較・検査を行うことにより、被検査偏
光板の検査を自動的に行うことができる。
【００１１】上述した本発明の偏光板の検査は、以下の
工程により行われる。すなわち、光を出射する光出射工
程と、光出射工程にて出射された光の光学処理を行う光
学処理工程と、基準となる無欠陥偏光工程と、被検査偏
光板を設置する被検査偏光板設置工程と、光出射工程か
ら出射され、光学処理工程、無欠陥偏光工程および被検
査偏光板を透過した検査像を拡大して投射する投射工程
と、検査像を映写する映写工程とを含む。そして、映写
工程に拡大して映写された該検査像を用いて被検査偏光
板の検査を行うことを特徴とする。
工程により行われる。すなわち、光を出射する光出射工
程と、光出射工程にて出射された光の光学処理を行う光
学処理工程と、基準となる無欠陥偏光工程と、被検査偏
光板を設置する被検査偏光板設置工程と、光出射工程か
ら出射され、光学処理工程、無欠陥偏光工程および被検
査偏光板を透過した検査像を拡大して投射する投射工程
と、検査像を映写する映写工程とを含む。そして、映写
工程に拡大して映写された該検査像を用いて被検査偏光
板の検査を行うことを特徴とする。
【００１２】本発明の偏光板検査装置およびその検査方
法によれば、光源から出射した光を、基準となる無欠陥
偏光板とともに被検査偏光板を投射レンズで拡大し、被
検査偏光板の全体像がスクリーンに拡大して投影される
ようにしたため、塵埃や瑕等の欠陥箇所の大きさや程度
がよく識別できるようになり、目視による判断が容易と
なる。また、被検査偏光板の全面が同時に見渡せること
から、検査時間が被検査偏光板の大きさに影響されるこ
となく、効率的な検査を行うことができる。
法によれば、光源から出射した光を、基準となる無欠陥
偏光板とともに被検査偏光板を投射レンズで拡大し、被
検査偏光板の全体像がスクリーンに拡大して投影される
ようにしたため、塵埃や瑕等の欠陥箇所の大きさや程度
がよく識別できるようになり、目視による判断が容易と
なる。また、被検査偏光板の全面が同時に見渡せること
から、検査時間が被検査偏光板の大きさに影響されるこ
となく、効率的な検査を行うことができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な実施の形
態につき添付図面を参照して説明する。
態につき添付図面を参照して説明する。
【００１４】図１を参照して本発明の偏光板検査装置の
構成を説明する。図１は本発明の偏光板検査装置の概略
構成を模式的に示す断面図である。
構成を説明する。図１は本発明の偏光板検査装置の概略
構成を模式的に示す断面図である。
【００１５】本発明の偏光板検査装置１０は、光を出射
するハロゲンランプやメタルハライドランプ等の光源１
１、光学手段たる光学フィルタ１２、基準となる無欠陥
偏光板１３、被検査偏光板１４を設置する被検査偏光板
設置部１５、投射手段としての投射レンズ１６、および
検査像を映写する映写手段たるスクリーン１７などによ
り構成される。
するハロゲンランプやメタルハライドランプ等の光源１
１、光学手段たる光学フィルタ１２、基準となる無欠陥
偏光板１３、被検査偏光板１４を設置する被検査偏光板
設置部１５、投射手段としての投射レンズ１６、および
検査像を映写する映写手段たるスクリーン１７などによ
り構成される。
【００１６】本発明の偏光板検査装置およびその検査方
法を説明する。
法を説明する。
【００１７】本発明の偏光板検査装置１０の光源１１か
ら出射した光は、光学フィルタ１２により熱線領域をカ
ットされ、無欠陥偏光板１３に照射される。無欠陥偏光
板１３は、後述する被検査偏光板１４の偏光軸に対して
９０度回転して設定されている。被検査偏光板設置部１
５には、被検査偏光板１４が無欠陥偏光板１３の偏光軸
と９０度回転して設置される。なお、被検査偏光板１４
が無欠陥偏光板１３の偏光軸の設置角度は、上述した例
に限らず任意に変更可能である。
ら出射した光は、光学フィルタ１２により熱線領域をカ
ットされ、無欠陥偏光板１３に照射される。無欠陥偏光
板１３は、後述する被検査偏光板１４の偏光軸に対して
９０度回転して設定されている。被検査偏光板設置部１
５には、被検査偏光板１４が無欠陥偏光板１３の偏光軸
と９０度回転して設置される。なお、被検査偏光板１４
が無欠陥偏光板１３の偏光軸の設置角度は、上述した例
に限らず任意に変更可能である。
【００１８】被検査偏光板１４を経た検査像は投射レン
ズ１６によってスクリーン１７上に拡大投射され結像す
る。スクリーン１７としては反射式でも透過式の何れで
も良い。投射レンズ１６はフォーカス調整機能を有して
おり、スクリーン１７に映写される検査像は投射レンズ
１６にてフォーカス調整がなされる。そして、偏光板の
全体が検査像としてスクリーン１７に鮮明に投影される
ようになり、塵埃や瑕等の欠陥箇所の大きさや程度がよ
く識別できるようになる。
ズ１６によってスクリーン１７上に拡大投射され結像す
る。スクリーン１７としては反射式でも透過式の何れで
も良い。投射レンズ１６はフォーカス調整機能を有して
おり、スクリーン１７に映写される検査像は投射レンズ
１６にてフォーカス調整がなされる。そして、偏光板の
全体が検査像としてスクリーン１７に鮮明に投影される
ようになり、塵埃や瑕等の欠陥箇所の大きさや程度がよ
く識別できるようになる。
【００１９】すなわち、その具体的効果として、 １．被検査偏光板の欠陥箇所の検査時間が、従来の一枚
づつ目視にて検査する方法より短縮できる。 ２．投射レンズなどの検査装置の構造上の制約の許す限
り、被検査偏光板の大きさに柔軟に対応できる。 ３．本発明の偏光板検査装置は偏光板の全体を投影する
ため、検査時間が被検査偏光板の大きさに影響されな
い。 ４．本発明の偏光板検査装置は偏光板の全体を投影する
ため、塵埃や瑕等の大きさが視覚的に捉えやすく、判定
がし易い。等を挙げることができる。
づつ目視にて検査する方法より短縮できる。 ２．投射レンズなどの検査装置の構造上の制約の許す限
り、被検査偏光板の大きさに柔軟に対応できる。 ３．本発明の偏光板検査装置は偏光板の全体を投影する
ため、検査時間が被検査偏光板の大きさに影響されな
い。 ４．本発明の偏光板検査装置は偏光板の全体を投影する
ため、塵埃や瑕等の大きさが視覚的に捉えやすく、判定
がし易い。等を挙げることができる。
【００２０】また、スクリーン１７の前面にＣＣＤカメ
ラ（図示省略）を設置して検査像を撮像し、同じく図示
を省略した処理手段のメモリに、予め不良となる基準像
を記憶しておき、処理手段によって検査像と基準像を比
較することにより、偏光板検査を自動化することも可能
である。
ラ（図示省略）を設置して検査像を撮像し、同じく図示
を省略した処理手段のメモリに、予め不良となる基準像
を記憶しておき、処理手段によって検査像と基準像を比
較することにより、偏光板検査を自動化することも可能
である。
【００２１】本発明は前記実施の形態例に限定されず、
種々の実施形態を採ることができる。例えば、前記実施
の形態例では一例として前面照射型の光学装置を用いた
偏光板検査装置を例示したが、検査像をスクリーンの裏
面から照射する背面照射型の光学装置を用いても良い。
また、本発明は前記実施の形態例に限定されず、様々な
形態に発展できることは言うまでもない。
種々の実施形態を採ることができる。例えば、前記実施
の形態例では一例として前面照射型の光学装置を用いた
偏光板検査装置を例示したが、検査像をスクリーンの裏
面から照射する背面照射型の光学装置を用いても良い。
また、本発明は前記実施の形態例に限定されず、様々な
形態に発展できることは言うまでもない。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の偏光板検
査装置およびその検査方法によれば、光源から出射した
光を、無欠陥偏光板および被検査偏光板に投射し、投射
レンズによって被検査偏光板の全体像が映出されるよう
にスクリーンに拡大投影するようにしたため、塵埃や瑕
等の欠陥箇所の大きさや程度がよく識別できるようにな
り、検査の判断が容易となる。特に、被検査偏光板の全
体像がスクリーンに映出されるため、検査時間が被検査
偏光板の面積に影響されず、大型の偏光板も小型の偏光
板と同様の検査時間で検査することが可能となる。これ
により、偏光板の検査効率が向上するとともに、液晶表
示装置トータルの生産効率が向上する効果がある。
査装置およびその検査方法によれば、光源から出射した
光を、無欠陥偏光板および被検査偏光板に投射し、投射
レンズによって被検査偏光板の全体像が映出されるよう
にスクリーンに拡大投影するようにしたため、塵埃や瑕
等の欠陥箇所の大きさや程度がよく識別できるようにな
り、検査の判断が容易となる。特に、被検査偏光板の全
体像がスクリーンに映出されるため、検査時間が被検査
偏光板の面積に影響されず、大型の偏光板も小型の偏光
板と同様の検査時間で検査することが可能となる。これ
により、偏光板の検査効率が向上するとともに、液晶表
示装置トータルの生産効率が向上する効果がある。
【００２３】また、本発明の偏光板検査装置およびその
検査方法によれば、スクリーンに被検査偏光板の全体像
が投影されるため、塵埃や瑕等の大きさが視覚的に捉え
やすくなり、ＣＣＤカメラ等を用いた自動検査も容易と
なる。
検査方法によれば、スクリーンに被検査偏光板の全体像
が投影されるため、塵埃や瑕等の大きさが視覚的に捉え
やすくなり、ＣＣＤカメラ等を用いた自動検査も容易と
なる。
【図１】 本発明の偏光板検査装置の概略構成を模式的
に示す断面図である。
に示す断面図である。
【図２】 本発明に係わる液晶表示装置の基本的な構成
を示す図であり、（ａ）は液晶表示装置の模式的な断面
図、（ｂ）は液晶表示装置に使用される偏光板の上面図
である。
を示す図であり、（ａ）は液晶表示装置の模式的な断面
図、（ｂ）は液晶表示装置に使用される偏光板の上面図
である。
１…液晶表示装置、２…対向基板、３…駆動基板、４
Ａ，４Ｂ…透明電極、５…シール材、６…液晶、７，７
Ａ，７Ｂ…偏光板、８…透明キャリアテープ、１０…本
発明の偏光板検査装置、１１…光源、１２…光学フィル
タ、１３…無欠陥偏光板、１４…被検査偏光板、１５…
被検査偏光板設置部、１６…投射レンズ、１７…スクリ
ーン
Ａ，４Ｂ…透明電極、５…シール材、６…液晶、７，７
Ａ，７Ｂ…偏光板、８…透明キャリアテープ、１０…本
発明の偏光板検査装置、１１…光源、１２…光学フィル
タ、１３…無欠陥偏光板、１４…被検査偏光板、１５…
被検査偏光板設置部、１６…投射レンズ、１７…スクリ
ーン
Claims (4)
- 【請求項１】 光を出射する光源と、 光の光学処理を行う光学手段と、 基準となる無欠陥偏光手段と、 被検査偏光板を設置する被検査偏光板設置手段と、 光源から出射され、光学手段、無欠陥偏光手段および被
検査偏光板を透過した検査像を拡大して投射する投射手
段と、 該検査像を映写する映写手段とを具備することを特徴と
する偏光板検査装置。 - 【請求項２】 映写手段に映写された検査像を撮像する
撮像手段と、撮像手段によって撮像された該検査像を処
理する処理手段とを備え、処理手段によって該検査像と
予め設定された基準像との比較・検査を行うことによ
り、被検査偏光板の検査を自動的に行うことを特徴とす
る請求項１に記載の偏光板検査装置。 - 【請求項３】 光を出射する光出射工程と、 光の光学処理を行う光学処理工程と、 基準となる無欠陥偏光工程と、 被検査偏光板を設置する被検査偏光板設置工程と、 光出射工程から出射され、光学処理工程、無欠陥偏光工
程および被検査偏光板を透過した検査像を拡大して投射
する投射工程と、 該検査像を映写する映写工程とを含み、 映写工程に拡大して映写された該検査像を用いて被検査
偏光板の検査を行うことを特徴とする偏光板検査方法。 - 【請求項４】 映写手段に映写された検査像を撮像する
撮像工程と、撮像工程によって撮像された該検査像を処
理する処理工程とを含み、処理工程によって該検査像と
予め設定された基準像との比較・検査を行うことによ
り、被検査偏光板の検査を自動的に行うことを特徴とす
る請求項３に記載の偏光板検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16752096A JPH1010322A (ja) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | 偏光板検査装置およびその検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16752096A JPH1010322A (ja) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | 偏光板検査装置およびその検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1010322A true JPH1010322A (ja) | 1998-01-16 |
Family
ID=15851223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16752096A Pending JPH1010322A (ja) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | 偏光板検査装置およびその検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1010322A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005283564A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-13 | Optimax Technology Corp | 光学膜のテスト装置 |
| CN102279094A (zh) * | 2011-03-16 | 2011-12-14 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种标定偏振片透光轴的装置及方法 |
-
1996
- 1996-06-27 JP JP16752096A patent/JPH1010322A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005283564A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-13 | Optimax Technology Corp | 光学膜のテスト装置 |
| CN102279094A (zh) * | 2011-03-16 | 2011-12-14 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种标定偏振片透光轴的装置及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101286534B1 (ko) | 액정표시장치의 검사장치 및 검사방법 | |
| TWI328111B (en) | Test system and test method using virtual review | |
| JP2008045959A (ja) | 液晶表示パネルの検査装置及び検査方法 | |
| US10169855B2 (en) | Method and device for detecting defects on a display subtrate | |
| WO2019061608A1 (zh) | 一种面板点灯机、面板点灯测试系统及测试方法 | |
| JP2005043341A (ja) | パネル検査装置 | |
| JP2004233184A (ja) | 液晶パネルの偏光板貼付け精度検査方法 | |
| JP3378795B2 (ja) | 表示装置の検査装置および検査方法 | |
| JP2004198163A (ja) | 保護フィルム粘着偏光板の欠陥検査方法 | |
| CN110398198B (zh) | 柔性显示板检查用夹具及利用其的检查装置 | |
| JP2008040201A (ja) | 液晶パネル検査方法及び装置 | |
| JPH1010322A (ja) | 偏光板検査装置およびその検査方法 | |
| KR20150000580A (ko) | 엘이디 백라이트 시스템을 이용한 액정 디스플레이 패널의 광학영상검사시스템 | |
| KR102037050B1 (ko) | 표시장치용 비전검사 시스템 및 이의 검사방법 | |
| KR20070006480A (ko) | 실 라인 검사 장치 및 이를 이용한 실 라인 검사 방법 | |
| JP2002341345A (ja) | 平面表示装置の製造方法、及びこのためのバックライトの検査方法 | |
| JP2008216810A (ja) | 液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法 | |
| JP2005241586A (ja) | 光学フィルムの検査装置および光学フィルムの検査方法 | |
| JP2931505B2 (ja) | マトリクス型表示装置に用いられるカラーフィルタの検査装置及び検査方法 | |
| KR20140139929A (ko) | 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법 | |
| JP2824101B2 (ja) | 表示装置の欠陥修正装置 | |
| JP2000066164A (ja) | 基板外観検査装置 | |
| JP3932873B2 (ja) | 液晶パネルの検査装置及び検査方法 | |
| JP2019158442A (ja) | 表示パネル検査システムおよび表示パネル検査方法 | |
| JP2003177371A (ja) | 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法 |