JPH10102246A - スパッタリング装置のマグネトロンカソード電極 - Google Patents

スパッタリング装置のマグネトロンカソード電極

Info

Publication number
JPH10102246A
JPH10102246A JP27522996A JP27522996A JPH10102246A JP H10102246 A JPH10102246 A JP H10102246A JP 27522996 A JP27522996 A JP 27522996A JP 27522996 A JP27522996 A JP 27522996A JP H10102246 A JPH10102246 A JP H10102246A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnet
target
soft magnetic
cathode electrode
film thickness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP27522996A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3919266B2 (ja
Inventor
Tsukasa Kobayashi
司 小林
Tomoo Uchiyama
智雄 内山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Anelva Corp
Original Assignee
Anelva Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anelva Corp filed Critical Anelva Corp
Priority to JP27522996A priority Critical patent/JP3919266B2/ja
Publication of JPH10102246A publication Critical patent/JPH10102246A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3919266B2 publication Critical patent/JP3919266B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
    • H01J37/3405Magnetron sputtering
    • H01J37/3408Planar magnetron sputtering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3411Constructional aspects of the reactor
    • H01J37/345Magnet arrangements in particular for cathodic sputtering apparatus
    • H01J37/3455Movable magnets

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の細長い磁石ユニットを備える磁石組立
体をターゲットに対して往復運動可能にして、かつ、磁
石ユニットの内側磁石と外側磁石の間の軟磁性体をター
ゲット表面に垂直な方向に移動可能にすることで、ター
ゲット表面上のプラズマ密度を均一にして、大型の矩形
基板上の膜厚分布の均一性を良好にする。 【解決手段】 磁石組立体に含まれる5個の磁石ユニッ
ト52のそれぞれは、内側磁石54と外側磁石56とヨ
ーク58とで構成されていて、磁石ベース60上に固定
されている。磁石ベース60は左右方向に往復運動でき
る。内側磁石54と外側磁石56の間には、磁界強度調
節用の軟磁性体製のシャントバー78が配置されてい
る。一つの磁石ユニット52には4個のシャントバー7
8があり、これらのシャントバー78は合計6個のサー
ボモータ80によって独立して上下方向に移動可能であ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、スパッタリング
装置のターゲットの裏側に配置した磁石組立体をターゲ
ットに対して往復運動させる形式のマグネトロンカソー
ド電極に関するものである。
【0002】
【従来の技術】スパッタリング装置では各種の電極構造
が提案されているが、その中でも、マグネトロン方式の
電極が工業的に最も多く使用される。その理由は、成膜
速度が大きく生産性が高いからである。従来のマグネト
ロン方式の電極には様々なタイプが存在する。現在のと
ころ、平板状のターゲットを備えた平板マグネトロンカ
ソードが工業的に有用である。近年、特に液晶表示装置
の製造用として、大面積の基板上に、均一な膜厚分布で
均質に成膜することが要求されている。この要求を満た
すスパッタリング装置として、カソード電極を静止状態
にして、基板を連続的に移動させながら成膜を行う方式
がある。しかし、この装置は、ロードロック室や、加熱
室、搬送用緩衝空間、スパッタ室等を備える必要があ
り、装置が巨大化する傾向があった。また、ターゲット
面上にスパッタされない領域が残るため、ゴミなどのパ
ーティクルが発生し、液晶表示装置の歩留まりを低下さ
せていた。さらに、ターゲットの不均一消耗による不経
済性やスパッタ膜の膜質不均一性も問題となった。
【0003】最近では、上記各問題を解決するために、
基板とカソード電極の両方を静止させて、ターゲットの
消耗領域を広くしたスパッタリング装置が検討されてい
る。特にマグネトロンカソードに注目すると、例えば特
開平5−239640号公報に開示された装置では、複
数の磁石ユニットで構成された磁石組立体をターゲット
に対して往復運動させて、ターゲットにおけるエロージ
ョン分布の均一性を改善している。また、特開平4−3
29874号公報や特開平5−9724号公報に開示さ
れた装置でも、単一の磁石ユニットを往復運動させる類
似例が開示されている。
【0004】上記の従来装置によれば、磁石組立体を往
復運動させることによりターゲットの表面でのエロージ
ョン領域が拡大するため、ターゲットの利用率が向上
し、エロージョンの遍在を少なくできる。また、基板に
形成される薄膜の膜厚の均一性及び膜質の均質性が向上
し、さらに、ターゲット面上の堆積膜に起因して発生す
るパーティクルを抑制する利点も有する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような成膜装置で
まず問題になるのは、膜厚分布の均一性である。液晶表
示装置製造のための基板の大きさは年々大型化し、最近
では550mm×650mm程度に達している。膜厚分
布の均一性(±%値)を、(膜厚最大値−膜厚最小値)÷
(膜厚最大値+膜厚最小値)×100%で定義すると、液
晶表示装置の製造に用いるためには基板面内の膜厚分布
均一性を±5%程度にする必要がある。
【0006】次に、従来のスパッタリング装置の膜厚分
布の問題点を説明する。図8は5個の磁石ユニットを有
する従来のマグネトロンカソード電極の正面断面図であ
る。下向きの基板10に対向して矩形のターゲット12
が上向きに配置されている。ターゲット12の裏側には
裏板14が設置され、真空室の一部を形成している。裏
板14は絶縁スペーサ16をはさんで真空壁の一部18
に固定されている。ターゲット12の周辺にはシールド
20が設けられ、裏板14がスパッタされるのを防いで
いる。裏板14の後ろ側には5個の磁石ユニット22が
設置され、これらの磁石ユニット22はターゲット表面
上にトンネル状の磁力線を形成する。各磁石ユニット2
2は図8の紙面に垂直な方向に長辺を有するような矩形
の形状であり、上面にS極が現れるような内側磁石24
と、上面にN極が現れるような外側磁石26とからな
る。これらの磁石の裏側にはヨーク27が固定されてい
る。そして、5個の磁石ユニット22は磁石ベース28
の上に固定されている。磁石ベース28は図8の左右方
向(矢印30の方向)に往復運動可能であり、これに伴
い、トンネル状の磁力線により形成されるプラズマも左
右に往復運動する。このような往復運動により、ターゲ
ット全面が消耗するような構造となっている。そして、
基板10の下面に薄膜32が堆積する。
【0007】このようなマグネトロンカソードを用いて
450mm×550mmサイズのガラス基板上に成膜を
行った場合の膜厚分布を図9に示す。この図9は、上記
基板の表面のうち、中央の400mm×500mmの領
域についての膜厚分布を等高線で表示したものである。
図中の等高線の数字は、最大膜厚を100%とした場合
の百分率である。基板の長辺方向(図の左右方向)が磁
石組立体の往復運動方向(矢印30の方向)と一致して
いる。矩形の磁石ユニットの長辺方向は、基板の短辺方
向(図の上下方向)と一致している。なお、図9の膜厚
分布は、図8に示す下向きの基板10に成膜してから、
これをひっくり返して、上から観察したものである。一
見して分かるように、膜厚の厚い部分が図9の右上と左
下に現れている。そして、ターゲット・基板間距離を短
くすると、このような膜厚分布の偏りが強調されること
が分かっている。
【0008】膜厚分布にこのような偏りが現れるのは、
放電強度分布に偏りが生じるためである。すなわち、図
8のマグネトロンカソードを上から見た場合に、矩形の
ターゲット12の左上と右下の領域(基板上の膜厚が厚
くなる部分に対向する領域)で放電強度が強くなり、こ
の放電強度分布が膜厚分布に反映したものである。放電
強度が偏る現象は、成膜室の形状に起因している訳では
ない。成膜室の形状をターゲットに対して対称性良好に
形成しても、図9に示すような膜厚分布の偏りが発生す
る。そして、磁石ユニットの磁極の極性配置を反対(内
側磁石の表面をN極、外側磁石の表面をS極)にする
と、放電強度の偏り状況が変化して、図9とは逆に、膜
厚の厚い領域が基板の左上と右下に現れるようになる。
したがって、この偏り現象はマグネトロン放電中の電子
のドリフト運動に関連したものであることが推測される
が、その詳しい発生機構は不明である。
【0009】図9では、膜厚分布の均一性は±10%程
度であり、液晶表示装置製造のために必要とされている
±5%の均一性に達していない。特に、図9の左右両端
部での膜厚減少が大きく、これが膜厚分布の均一性を低
下させる大きな原因となっている。左右両端部での膜厚
減少の理由は次の通りである。図8のマグネトロンカソ
ード電極では、ターゲットのエロージョン領域をできる
だけ広くとるために、磁石ユニットをターゲットの左右
両端に近い位置まで移動させている。磁石ユニットがタ
ーゲットの左右両端に近づくと、トンネル状の磁力線に
沿って形成されるプラズマは、ターゲットの端部付近に
存在するシールド20によって減衰させられる。これに
より、基板の左右両端部で膜厚が減少するという現象が
起きる。これを防ぐには、磁石ユニットをシールド20
に近づけないようにすればよいが、こうすると、ターゲ
ットのエロージョン領域が狭くなるため、基板の所定領
域内での膜厚分布の均一性が確保できない。さらに、タ
ーゲットのエロージョン領域が狭くなると、ターゲット
周辺にエロージョンの生じない領域が発生して、この部
分で逆に膜の堆積が起こり、やがてこれが剥離してパー
ティクルの原因になる。また、エロージョン領域が狭く
なるのをカバーするためにターゲットを大きくすること
によって膜厚分布の均一性を確保しようとすれば、装置
全体が大きくなってしまう。
【0010】本発明はこのような問題点を解決するため
になされたものであり、その目的は、大面積基板用のマ
グネトロンスパッタリング装置のカソード電極におい
て、膜厚分布の均一性を確保する妨げになっていた二つ
の欠点、すなわち膜厚分布の偏りと基板端部で生じる膜
厚減少とを解消して、膜厚分布の均一性を確保できるマ
グネトロンカソード電極を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明のマグネトロン
カソード電極は、複数の細長い磁石ユニットを備える磁
石組立体をターゲットに対して往復運動可能にして、か
つ、磁石ユニットの内側磁石と外側磁石の間に軟磁性体
を配置して、この軟磁性体をターゲット表面に垂直な方
向に移動可能にしている。磁石ユニットは細長い矩形を
しており、その長辺は前記往復運動の方向に対して垂直
である。前記軟磁性体は、磁石ユニットの長辺方向に沿
った位置に応じてターゲット表面からの距離が変化でき
るようになっている。さらに好ましくは、前記往復運動
に連動して、軟磁性体がターゲット表面に垂直な方向に
周期的に運動するようになっている。
【0012】この発明によれば、軟磁性体による磁界強
度調節機能により、ターゲット表面における磁界強度を
均一にすることができて、放電強度の偏りを是正するこ
とができ、基板上の膜厚分布が良好になる。
【0013】次に、本発明の構成要素のひとつである軟
磁性体について説明する。強磁性体は、大きく分けると
硬磁性体と軟磁性体とに分類される。硬磁性体は、外部
磁場によって磁化されにくいが、いったん磁化すると消
しにくく、磁気的なエネルギーを蓄えることができる。
これとは逆に、軟磁性体は、外部磁場をかけると容易に
磁化し、磁束の通路として適した性質をもっているが、
外部磁場を取り去ると磁気が消失し、磁気的なエネルギ
ーをほとんど蓄えることができない。換言すれば、硬磁
性体は保磁力が大きく、軟磁性体は透磁率が大きくてヒ
ステリシス損が小さい。このように、軟磁性体は透磁率
が大きくて磁束の通路として適しているので、磁界中に
軟磁性体を挿入すれば磁束は軟磁性体を通過するように
なって、軟磁性体の周囲の空間の磁界強度は減少する。
したがって、この軟磁性体は磁界強度調節機能を果たす
のに適している。本発明で使用する軟磁性体について
は、特に透磁率が大きな軟磁性体(例えば商品名:パー
マロイ)を使う必要は必ずしもなく、耐腐蝕性を考慮し
て、SUS430・ステンレス鋼あたりが適している。
【0014】
【発明の実施の形態】図1は、本発明のマグネトロンカ
ソード電極の一実施形態の正面断面図である。真空容器
の一部の壁部34に絶縁スペーサ36を介してカソード
ボディ38が取り付けられている。カソードボディ38
の上部には裏板40が取り付けられている。このカソー
ドボディ38と裏板40により、真空容器の壁面の一部
が構成されていて、大気と真空室内とが隔てられてい
る。裏板40の表面には所定の材質のターゲット42が
インジウム等の低融点ろう材により接着されている。タ
ーゲット42の周辺には、ターゲット以外の部分がスパ
ッタされるのを防ぐためにシールド43が設けられてい
る。裏板40の大気側には裏板40とターゲット42を
冷却するための水冷ジャケット44が設けられている。
この水冷ジャケット44の内部には、裏板40全体を均
一に冷却するために、全域にわたって水路46が設けら
れている。この水路46に対して、給水パイプ48から
冷却水が導入され、排水パイプ50からターゲット冷却
後の冷却水が排出される。
【0015】水冷ジャケット44の背後には5個の磁石
ユニット52からなる磁石組立体が配置されている。各
磁石ユニット52は、内側磁石54と外側磁石56とヨ
ーク58とで構成されている。磁極の配置は、内側磁石
54のターゲット側の表面がS極、外側磁石56のター
ゲット側の表面がN極になっている。各磁石ユニット5
2は共通の磁石ベース60上に固定されている。磁石ベ
ース60はガイドレール62に拘束されて図1の左右方
向(矢印61の方向)にのみ運動できる構造になってい
る。すなわち、磁石ベース60は、支柱ピン64とクラ
ンクアーム66とピン68とを介して回転円板70に接
続されている。この回転円板70はモータ72の出力軸
に結合されている。モータ72が回転すると回転円板7
0が回転し、アーム66のクランク運動によって、回転
円板70の円運動が支柱ピン64の左右方向の往復運動
に変換される。これにより、磁石ベース60が左右方向
に往復運動する。回転円板70上にはピン68を固定す
る穴が、回転中心からの距離を変えて複数設けられてお
り、ピン68の位置を変えることによって磁石ベース6
0の往復運動の振幅を変えることができる。モータ72
はカソード電極全体を覆うカソードカバー74に固定さ
れている。カソードボディ38と裏板40とターゲット
42と水冷ジャケット44は電気的に接続されていて、
かつ、他の部分からは絶縁されている。カソードボディ
38には外部の電源76から電力が供給される。
【0016】この実施形態に特徴的なことは、各磁石ユ
ニットの内側磁石54と外側磁石56の間に、軟磁性体
でできたシャントバー78が配置されていることであ
る。このシャントバー78はサーボモータ80の直線運
動型の出力軸82に結合されている。サーボモータ80
が回転すると、その出力軸82は、回転することなく図
1の上下方向(矢印79の方向)に移動する。サーボモ
ータ80の本体は磁石ベース60に固定されている。ま
た、その出力軸82は、磁石ベース60とヨーク58に
は接触しない構造となっている。サーボモータ80の回
転角度を制御することにより、シャントバー78の上下
位置を調節できる。
【0017】図2は、図1の一番右側に位置する磁石ユ
ニット52を拡大して示した斜視図である。図3はその
平面図である。これらの図において、内側磁石54とこ
れを取り囲む外側磁石56との間には、矩形の磁石ユニ
ットの長辺方向に延びる2個の長辺側シャントバー78
aと、短辺方向に延びる2個の短辺側シャントバー78
bの、合計4個のシャントバーが配置されている。そし
て、2個の長辺側シャントバー78aのそれぞれには、
その長手方向に間隔をおいて2個のサーボモータ80a
の出力軸が結合されている。また、2個の短辺側シャン
トバー78bのそれぞれには、各1個のサーボモータ8
0bの出力軸が結合されている。
【0018】図4は、図3のA−A線断面図である。短
辺側シャントバー78bにサーボモータ80bの出力軸
82が結合しているのがよく分かる。短辺側シャントバ
ー78bはフッ素樹脂製の2枚のガイド84の間に摺動
可能に配置されている。これらのガイド84はヨーク5
8に固定されている。
【0019】図5(A)は、図3のB−B線断面図であ
る。長辺側シャントバー78aの長手方向に間隔をおい
た2か所のそれぞれにサーボモータ80aの出力軸82
が結合されているのがよく分かる。これらの2個のサー
ボモータ80aの出力軸82の直線移動量を独立に調整
することで、長辺側シャントバー78aをターゲット表
面に対して任意に傾斜させることができる。図5(A)
では長辺側シャントバー78aの図面の上部が下部より
もターゲット表面から離れるように傾斜している。図3
に示すように、この長辺側シャントバー78aも、短辺
側シャントバーと同様に、フッ素樹脂製のガイド84の
間に摺動可能に配置されている。なお、図2の斜視図で
は、図面の繁雑を避けるために、ガイド84の図示は省
略してある。
【0020】図5(B)は、長辺側シャントバー78a
とサーボモータ80aの出力軸82との結合部分を拡大
して示した断面図である。長辺側シャントバー78aに
は座ぐり86が形成され、座ぐり86の底部には貫通孔
が形成されている。この座ぐり86にコイルバネ88を
挿入して、このコイルバネ88にネジ90を通してい
る。そして、ネジ90の先端を上述の貫通孔を通してか
らサーボモータの出力軸82の先端のメネジにネジ込ん
で固定している。短辺側シャントバー78bについても
同様の構造を用いてサーボモータの出力軸に固定してい
る。図3には、長辺側シャントバー78aと短辺側シャ
ントバー78bとに形成された合計6個の座ぐり86の
位置と、それに対応するサーボモータ80a、80bの
位置とが示されている。
【0021】この実施形態では、図3に示すように、一
つの磁石ユニットに対して、2個の長辺側シャントバー
78aと2個の短辺側シャントバー78bとが配置さ
れ、これらのシャントバーに対して、合計6個のサーボ
モータが設置されている。そして、これらのサーボモー
タは独立に制御可能となっている。シャントバー78
a、78bのためのサーボモータ80a、80bと、磁
石ベース60を往復運動させるモータ72(図1を参
照)は、一つのコンピュータによって集中して制御され
ている。
【0022】シャントバー78a、78bは、ターゲッ
ト上の磁界強度を調節する働きがある。すなわち、シャ
ントバーがターゲットに近づくと、内側磁石54と外側
磁石56の上面の磁極から発生しているトンネル状の磁
束がシャントバーに多く吸収され、ターゲット面上の磁
界強度が減少する。一方、シャントバーとターゲットの
間の距離が大きくなると、シャントバーによる磁束吸収
効果が減少し、ターゲット面上の磁界強度は増加する。
【0023】次に、各磁石ユニット内での4個のシャン
トバーの相対的な上下関係をどのように調節するのかに
ついて説明する。従来技術の問題点で指摘したように、
図9に示したような膜厚分布の偏りは、図8のマグネト
ロンカソードを上から見た場合に、矩形のターゲット1
2の左上と右上の領域(基板上の膜厚が厚くなる部分に
対向する領域)で放電強度が強くなる傾向を反映したも
のである。この放電強度の偏りを無くすためには、放電
が集中する場所の磁界強度を小さくしてやればよい。磁
界強度が小さくなれば、トンネル状の磁力線に拘束され
て周回運動を行う電子のドリフト速度が大きくなって電
子の滞在時間が短くなるために、放電のプラズマ密度も
減少する。そして、所望の領域で磁界強度を減少させる
には、シャントバーをターゲットに近づければよい。
【0024】図1のマグネトロンカソードを上から見た
場合に、ターゲット42の左上と右下の領域で放電強度
を減少させるには、この領域で磁界強度を減少させれば
よく、それには次のようにする。まず、最も右側に位置
する磁石ユニットにおいて、2個の長辺側シャントバー
78aについて、図5(A)に示すように、図の下側の
方が上側よりもターゲットに近づくように傾斜させる。
また、下側の短辺側シャントバーを上側の短辺側シャン
トバーよりもターゲットに近づける。また、これとは逆
に、最も左側に位置する磁石ユニットでは、2個の長辺
側シャントバーについて、上側の方が下側よりもターゲ
ットに近づくように傾斜させる。また、上側の短辺側シ
ャントバーを下側の短辺側シャントバーよりもターゲッ
トに近づける。シャントバーの上下位置をこのように調
節することにより、図1のマグネトロンカソードを上か
ら見た場合に、ターゲット42の左上と右下の領域で磁
界強度が減少し、放電の偏り傾向を打ち消すことができ
る。
【0025】なお、左右方向の中央部分の3個の磁石ユ
ニットにおいては、左右両端の磁石ユニットの場合とは
異なり、各シャントバーの上下位置は各磁石ユニット内
では左右及び上下対称に調節してある。しかし、内側磁
石及び外側磁石として、ターゲット上に強い磁界を発生
できるような強力な磁石を用いた場合には、ターゲット
上の左上と右下に放電が偏る傾向がより強くなる。その
場合には、左右両端から二番目の二つの磁石ユニットに
ついても、左右両端の磁石ユニットと同様にシャントバ
ーの上下位置を調節することで、放電の均一性を良好に
できる。
【0026】さらに、この実施形態では、従来技術の問
題点であった基板の左右両端付近で膜厚が減少する傾向
を解決するために、磁石ベース60の往復運動に同期さ
せて、左右両端の磁石ユニットのシャントバーの上下位
置を周期的に変化させている。この様子を図6を用いて
説明する。図6(A)は、往復運動する磁石ベース60
が最も右側に来た瞬間におけるシャントバー78の上下
位置を示したものである。最も右側に位置する磁石ユニ
ットのシャントバー78は、他の磁石ユニットのものに
比べて、より下側に位置している。そのため、最も右側
の磁石ユニットに対応する場所の磁界強度は他の場所に
比べて大きくなる。なお、この場合(磁石ベースの往復
運動に連動したシャントバーの周期的運動)は、最も右
側にある磁石ユニット内の4個のシャントバーは、図5
で説明したような相対的な上下位置関係を保ったまま
で、平行移動させている。
【0027】図6(B)は磁石ベースがターゲット42
の左右方向中央に来た瞬間を示したものである。図6
(A)で下に移動していた最も右側の磁石ユニットのシ
ャントバー78は、上方に少し移動し、また、最も左側
の磁石ユニットのシャントバーは多少下方に移動し、全
体として左右対称の配置となっている。
【0028】図6(C)は磁石ベースが最も左側に来た
瞬間を示したものである。この場合は、図6(A)の場
合と逆に、最も左側に位置する磁石ユニット内のシャン
トバーが最も下の位置になっている。また、最も右側の
磁石ユニットのシャントバー78は図6(B)に比べて
さらに上昇している。
【0029】このように、磁石ベースの往復運動に同期
させてシャントバー78の上下位置を動かすことによ
り、磁石がターゲット端部のシールド43に近づいた場
合に、近づいた側のターゲット端部の磁界強度が増加す
る。これにより、ターゲット端部のプラズマ密度が増加
する効果がある。一方で、従来技術の問題点で述べたよ
うに、トンネル状の磁力線に沿って形成されるプラズマ
は、ターゲット端部に存在するシールド43により減衰
させられる傾向がある。したがって、プラズマ密度が増
加する要因と減少する要因とが丁度釣り合うことにな
り、往復運動時の磁石ベースの位置にかかわらず、プラ
ズマ密度を一定にすることができる。これにより、基板
の端部で膜厚が減少する傾向を防止でき、均一な膜厚分
布を有する薄膜を基板上に形成できる。
【0030】なお、本実施形態では、成膜時に、5個あ
る磁石ユニットの内、左右方向の中央部分の3個の磁石
ユニット内のシャントバーは固定しており、磁石ベース
の往復運動に同期させて動かすことはしていない。これ
らの中央部分の磁石ユニットにおいては、磁石ユニット
間のシャントバーの相対的上下位置は、基板上の膜厚分
布が均一になるように適当に調節されて、その状態で固
定されている。本実施形態の場合には、中央部分の3個
の磁石ユニットのうち、両側に位置する磁石ユニット
(図6の右側から2番目と4番目の磁石ユニット)のシ
ャントバーを、中央の磁石ユニット(右側から3番目の
磁石ユニット)のシャントバーよりも相対的に高くする
ことによって、良好な膜厚分布が得られている。中央部
分の複数の磁石ユニット間におけるシャントバーの最適
な上下関係は、スパッタ室の構造などの影響を受けて装
置毎に変化するようであり、装置毎に実験で確認する必
要がある。なお、長期にわたって成膜を繰り返した場
合、ターゲットが消耗することによりターゲットと各磁
石ユニット間の距離も変化し、ターゲット上の磁界分布
も変化することがある。そのような理由で基板上の膜厚
分布の均一性が劣化した場合には、中央部分の3個の磁
石ユニット内のシャントバーの上下位置を適当に調節し
直すことにより、再び膜厚分布の均一性を回復すること
ができる。
【0031】図7は、この実施形態のマグネトロンカソ
ード電極を用いて450mm×550mmサイズの基板
上に成膜を行った場合の膜厚分布を示したものである。
この図7は、上記基板の表面のうち、中央の400mm
×500mmの領域についての膜厚分布を等高線で表示
したものである。図中の等高線の数字は、最大膜厚を1
00%とした場合の百分率である。この膜厚分布から分
かるように、従来技術の問題点であった、膜厚分布の偏
りや、基板の左右両端での膜厚の減少といった欠点が解
消され、膜厚分布の均一性は約±5%におさまってい
る。
【0032】この発明は上述の実施形態に限定されず、
次のような変更が可能である。 (1)上述の実施形態ではカソード電極に5個の磁石ユ
ニットを設けているが、5個以外の任意の個数の磁石ユ
ニットを設けてもよい。 (2)内側磁石と外側磁石の間に配置する軟磁性体の形
状としては、上述の実施形態で述べたような棒状のシャ
ントバーの形態のほかに、板状などのその他の形状を採
用してもよい。 (3)上述の実施形態では、各磁石ユニットに4個の軟
磁性体を配置しているが、4個以外の任意の個数にする
ことができる。
【0033】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、磁
石組立体をターゲットに対して往復運動可能にして、か
つ、磁石ユニットの内側磁石と外側磁石の間の軟磁性体
をターゲット表面に垂直な方向に移動可能にしているの
で、ターゲット表面の磁界強度を均一にできて、放電強
度(プラズマ密度)の偏りを是正することができ、基板
上の膜厚分布が良好になる。したがって、大面積基板用
のスパッタリング装置においても、均一な放電を発生さ
せることができ、大型の基板上の膜厚分布を均一にでき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のマグネトロンカソード電極の一実施形
態の正面断面図である。
【図2】図1のカソード電極の最も右側に位置する磁石
ユニットの斜視図である。
【図3】図2のカソード電極の平面図である。
【図4】図3のA−A線断面図である。
【図5】図3のB−B線断面図と、その一部拡大図であ
る。
【図6】磁石ベースの往復運動とシャントバーの上下運
動との連動関係を示した工程図である。
【図7】図1のマグネトロンカソード電極を用いて作製
した薄膜の膜厚分布を示した等高線図である。
【図8】従来の大面積基板用マグネトロンカソード電極
の正面断面図である。
【図9】図8に示す従来のマグネトロンカソード電極を
用いて作製した薄膜の膜厚分布を示した等高線図であ
る。
【符号の説明】 40 裏板 42 ターゲット 43 シールド 52 磁石ユニット 54 内側磁石 56 外側磁石 58 ヨーク 60 磁石ベース 62 ガイドレール 70 回転円板 72 モータ 78 シャントバー 80 サーボモータ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ターゲットの裏側に配置された磁石組立
    体と、この磁石組立体をターゲットに対して往復運動さ
    せる運動機構とを備える、スパッタリング装置のマグネ
    トロンカソード電極において、次の(イ)〜(ヘ)の特
    徴を備えるマグネトロンカソード電極。 (イ)前記磁石組立体は、細長い矩形の形状をした複数
    の磁石ユニットを含む。 (ロ)前記複数の磁石ユニットは、その長辺が互いに隣
    り合うように互いに平行に配置されている。 (ハ)各磁石ユニットは、ターゲットに対向する表面側
    に磁極を有する細長い内側磁石と、ターゲットに対向す
    る表面側に磁極を有していて前記内側磁石を取り囲む外
    側磁石とを含み、前記内側磁石の磁極と前記外側磁石の
    磁極は互いに逆極性になっている。 (ニ)前記磁石組立体は、前記磁石ユニットの長辺方向
    に垂直な方向に往復運動できる。 (ホ)前記複数の磁石ユニットのうち、少なくとも、前
    記往復運動の方向の両端側に配置される二つの磁石ユニ
    ットにおいて、前記内側磁石と前記外側磁石の間に、磁
    場調節用の軟磁性体が配置されている。 (ヘ)前記軟磁性体は、ターゲット表面に垂直な方向に
    移動できる。
  2. 【請求項2】 前記軟磁性体は、磁石ユニットの長辺方
    向に沿った位置に応じてターゲット表面からの距離が変
    化可能な移動構造になっていることを特徴とする請求項
    1記載のマグネトロンカソード電極。
  3. 【請求項3】 前記軟磁性体は、磁石ユニットの長辺方
    向に沿って延びる二つの長辺側軟磁性体と、磁石ユニッ
    トの短辺方向に沿って延びる二つの短辺側軟磁性体とか
    らなり、前記各長辺側軟磁性体には、その長手方向に間
    隔をおいて2個の垂直移動機構が結合され、前記各短辺
    側軟磁性体には1個の垂直移動機構が結合され、一つの
    磁石ユニットに含まれる4個の軟磁性体を垂直移動させ
    る合計6個のこれらの垂直移動機構は互いに独立に駆動
    できることを特徴とする請求項1記載のマグネトロンカ
    ソード電極。
  4. 【請求項4】 前記磁石組立体の前記往復運動に連動し
    て、前記軟磁性体がターゲット表面に垂直な方向に周期
    的に運動することを特徴とする請求項1記載のマグネト
    ロンカソード電極。
  5. 【請求項5】 前記磁石組立体に含まれるすべての磁石
    ユニットに前記軟磁性体が配置されていることを特徴と
    する請求項1記載のマグネトロンカソード電極。
JP27522996A 1996-09-27 1996-09-27 スパッタリング装置のマグネトロンカソード電極 Expired - Lifetime JP3919266B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27522996A JP3919266B2 (ja) 1996-09-27 1996-09-27 スパッタリング装置のマグネトロンカソード電極

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27522996A JP3919266B2 (ja) 1996-09-27 1996-09-27 スパッタリング装置のマグネトロンカソード電極

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10102246A true JPH10102246A (ja) 1998-04-21
JP3919266B2 JP3919266B2 (ja) 2007-05-23

Family

ID=17552511

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27522996A Expired - Lifetime JP3919266B2 (ja) 1996-09-27 1996-09-27 スパッタリング装置のマグネトロンカソード電極

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3919266B2 (ja)

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000248360A (ja) * 1999-03-01 2000-09-12 Sharp Corp マグネトロンスパッタ装置
JP2001107233A (ja) * 1999-10-13 2001-04-17 Shin Etsu Chem Co Ltd マグネトロンスパッタリング装置及びスパッタリング方法
JP2001254175A (ja) * 2000-01-24 2001-09-18 Senken Kan 平板マグネトロンスパッタリング装置
US6585870B1 (en) 2000-04-28 2003-07-01 Honeywell International Inc. Physical vapor deposition targets having crystallographic orientations
KR20030058332A (ko) * 2001-12-31 2003-07-07 엘지.필립스 엘시디 주식회사 스퍼터링 장치
JP2004019006A (ja) * 2002-06-18 2004-01-22 Hannstar Display Corp マグネトロンスパッタリング装置
KR100710801B1 (ko) * 2000-05-25 2007-04-23 삼성전자주식회사 균일한 막질 형성을 위한 스퍼터링 장치
WO2007052737A1 (ja) 2005-11-04 2007-05-10 Shinmaywa Industries, Ltd. マグネトロンスパッタリング装置用の磁石構造体およびカソード電極ユニット並びにマグネトロンスパッタリング装置
US7368041B2 (en) * 2000-02-23 2008-05-06 Oc Oerlikon Balzers Ag Method for controlling plasma density or the distribution thereof
JP2008514810A (ja) * 2004-09-28 2008-05-08 オー・ツェー・エリコン・バルザース・アクチェンゲゼルシャフト マグネトロンで成膜された基板を製造する方法、およびマグネトロンスパッタ源
JP2010111915A (ja) * 2008-11-06 2010-05-20 Ulvac Japan Ltd スパッタ装置
US8608918B2 (en) 2005-09-29 2013-12-17 Shinmaywa Industries, Ltd. Magnet structure and cathode electrode unit for magnetron sputtering, and magnetron sputtering system
WO2015158679A1 (en) * 2014-04-18 2015-10-22 Soleras Advanced Coatings Bvba Sputter system for uniform sputtering
CN105506565A (zh) * 2014-10-20 2016-04-20 昆山国显光电有限公司 磁控溅射设备及其磁体装置
US10658162B2 (en) 2017-03-08 2020-05-19 Toshiba Memory Corporation Semiconductor manufacturing apparatus
US11479848B2 (en) * 2020-01-08 2022-10-25 Tokyo Electron Limited Film forming apparatus and method

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000248360A (ja) * 1999-03-01 2000-09-12 Sharp Corp マグネトロンスパッタ装置
JP2001107233A (ja) * 1999-10-13 2001-04-17 Shin Etsu Chem Co Ltd マグネトロンスパッタリング装置及びスパッタリング方法
JP2001254175A (ja) * 2000-01-24 2001-09-18 Senken Kan 平板マグネトロンスパッタリング装置
US7368041B2 (en) * 2000-02-23 2008-05-06 Oc Oerlikon Balzers Ag Method for controlling plasma density or the distribution thereof
US6585870B1 (en) 2000-04-28 2003-07-01 Honeywell International Inc. Physical vapor deposition targets having crystallographic orientations
KR100710801B1 (ko) * 2000-05-25 2007-04-23 삼성전자주식회사 균일한 막질 형성을 위한 스퍼터링 장치
KR20030058332A (ko) * 2001-12-31 2003-07-07 엘지.필립스 엘시디 주식회사 스퍼터링 장치
JP2004019006A (ja) * 2002-06-18 2004-01-22 Hannstar Display Corp マグネトロンスパッタリング装置
JP2008514810A (ja) * 2004-09-28 2008-05-08 オー・ツェー・エリコン・バルザース・アクチェンゲゼルシャフト マグネトロンで成膜された基板を製造する方法、およびマグネトロンスパッタ源
US8608918B2 (en) 2005-09-29 2013-12-17 Shinmaywa Industries, Ltd. Magnet structure and cathode electrode unit for magnetron sputtering, and magnetron sputtering system
EP1944388A1 (en) * 2005-11-04 2008-07-16 Shinmaywa Industries, Ltd. Magnet structure for magnetron sputtering system, cathode electrode unit and magnetron sputtering system
EP1944388A4 (en) * 2005-11-04 2011-11-02 Shinmaywa Ind Ltd MAGNETIC STRUCTURE FOR MAGNETIC SPINDLE SYSTEM, CATHODE ELECTRODE UNIT AND MAGNETIC SPONGE SYSTEM
WO2007052737A1 (ja) 2005-11-04 2007-05-10 Shinmaywa Industries, Ltd. マグネトロンスパッタリング装置用の磁石構造体およびカソード電極ユニット並びにマグネトロンスパッタリング装置
JP2010111915A (ja) * 2008-11-06 2010-05-20 Ulvac Japan Ltd スパッタ装置
WO2015158679A1 (en) * 2014-04-18 2015-10-22 Soleras Advanced Coatings Bvba Sputter system for uniform sputtering
BE1021296B1 (nl) * 2014-04-18 2015-10-23 Soleras Advanced Coatings Bvba Sputter systeem voor uniform sputteren
CN106463327A (zh) * 2014-04-18 2017-02-22 索雷拉斯高级涂料公司 用于均匀溅镀的溅镀系统
JP2017511429A (ja) * 2014-04-18 2017-04-20 ソレラス・アドヴァンスト・コーティングス・ビーヴイビーエー 均一スパッタリングのためのスパッタシステム
CN105506565A (zh) * 2014-10-20 2016-04-20 昆山国显光电有限公司 磁控溅射设备及其磁体装置
CN105506565B (zh) * 2014-10-20 2018-04-13 昆山国显光电有限公司 磁控溅射设备及其磁体装置
US10658162B2 (en) 2017-03-08 2020-05-19 Toshiba Memory Corporation Semiconductor manufacturing apparatus
US11479848B2 (en) * 2020-01-08 2022-10-25 Tokyo Electron Limited Film forming apparatus and method

Also Published As

Publication number Publication date
JP3919266B2 (ja) 2007-05-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH10102246A (ja) スパッタリング装置のマグネトロンカソード電極
TWI421363B (zh) Magnetron sputtering method
US8500975B2 (en) Method and apparatus for sputtering onto large flat panels
US4892633A (en) Magnetron sputtering cathode
US5069772A (en) Apparatus for coating substrates by means of a magnetron cathode
JPH10219443A (ja) マグネトロンスパッタリング源及びその操作方法
US6146509A (en) Inverted field circular magnetron sputtering device
KR100345924B1 (ko) 평판 마그네트론 스퍼터링 장치
JP3879009B2 (ja) スパッタリングカソード
JP3798039B2 (ja) スパッタ装置のマグネトロンカソード電極
JP6048319B2 (ja) マグネトロンスパッタ装置
JP3590460B2 (ja) マグネトロンスパッタ用カソード電極
KR20210010741A (ko) 증착 장치
US5182001A (en) Process for coating substrates by means of a magnetron cathode
US20120024694A1 (en) Triangular Scanning Magnet in Sputtering Tool Moving Over Larger Triangular Target
JPH02194171A (ja) マグネトロンスパッタリング源
JP3411312B2 (ja) マグネトロン・スパッタカソードおよび膜厚分布の調整方法
JPH03257159A (ja) ダイポールリング型磁気回路を用いたスパッタ装置
KR20140080154A (ko) 마그네트론 및 이를 포함하는 마그네트론 스퍼터링 장치
KR100963413B1 (ko) 마그네트론 스퍼터링 장치
JPH10102247A (ja) スパッタリング装置及び方法
JPH11350129A (ja) マグネトロンスパッタ装置
JPH0967668A (ja) スパッタターゲット
JPH1121666A (ja) スパッタリング装置のマグネトロンカソード
CN111868877A (zh) 磁控溅射源和涂覆系统布置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061030

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061107

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061228

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070213

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100223

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100223

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100223

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110223

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120223

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130223

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term