JPH0991705A - 追記型光ディスク装置およびその制御方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 データ記録の安定性が良好であり、かつ、安
価な追記型光ディスク装置およびその制御方法を提供す
ることを目的としている。 【解決手段】 データ記録前にテスト領域において試し
書きして最適記録パワーＰ０を得て、データ記録中は、
その最適記録パワーＰ０と同じような記録状態となるよ
うに実記録パワーＰ１を制御しているので、記録された
データの信頼性が向上し、長時間の連続記録動作が行わ
れた場合でも、安定した記録品質が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光源の半導体レー
ザ素子の記録パワーを多段階に制御する記録パワー制御
手段と、記録時の光ディスクからの反射光を検出する反
射光検出手段と、光ディスクからの再生信号のアシンメ
トリを検出するアシンメトリ検出手段を備え、記録時の
上記反射光検出手段の検出信号に基づいて、光ディスク
に対するデータ記録状態を判別する追記型光ディスク装
置およびその制御方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、追記型光ディスク（例えば、Ｗ
ＯＲＭ型光ディスクあるいはＣＤ−Ｒ（書込可能なＣＤ
（コンパクト・ディスク）））を記憶媒体として用いる
追記型光ディスク装置では、追記型光ディスクにデータ
を記録するとき、レーザビームのパワーが変動すると情
報が確実に記録できないので、レーザビームの強度が一
定になるように、記録時のパワーを制御していた。

【０００３】しかしながら、次に示すような原因によ
り、レーザビームの強度が一定でも最適なピット形状を
得られない場合がある。なお、ピット（小孔）とは、追
記型光ディスクに形成される記録情報をあらわす。

【０００４】・記録媒体の特性のばらつき ・光学系に対する記録媒体の傾きなどの変化 ・温度変化による記録媒体の特性の変化 ・温度変化による半導体レーザ素子（光源素子）の波長
変化による記録特性の変化

【０００５】そこで、従来、例えば、特開平６−７６２
８８号公報に開示されているもののように、記録時にレ
ーザビームの記録媒体からの反射光の強度変化を検出し
て、記録媒体に照射するレーザビームの強度を変更する
ことで、最適なピット形状を得ようとするものが提案さ
れている。

【０００６】この従来方法では、次のような手順を採用
している。

【０００７】（ｉ） 記録媒体上のテスト領域（試し書
き領域）において、レーザビームの強度を変化させなが
らテストデータを記録する。このとき、同時に、記録媒
体からの反射光強度を測定して記憶する。また、反射光
強度は、必要に応じ、ピット形成時のレーザパワーが強
いとき（記録レベル（またはピットレベル））や、レー
ザパワーが弱いとき（ランドレベル）のものを測定す
る。

【０００８】（ｉｉ） アシンメトリが最も小さくなる
レーザビームで記録したときの反射光強度測定結果か
ら、反射光強度の目標値Ｍを定める。

【０００９】（ｉｉｉ） 記録媒体上に実際のデータを
記録しながら反射光強度を測定し、その値が目標値Ｍに
一致するように、レーザビームの強度を変化させる。

【００１０】ここで、アシンメトリとは、図２６に示す
ように、記録データを再生したときの再生信号の振幅の
ゼロレベルよりプラス側の振幅値Ａと、マイナス側の振
幅値Ｂを用い、次の式(I)によって求められる値であ
る。

【００１１】 （アシンメトリ）＝（（（Ｂ−Ａ）／（Ｂ＋Ａ））／２）×１００（％） ・・・（Ｉ）

【００１２】アシンメトリが小さいときは、再生信号の
プラス側の振幅値とマイナス側の振幅値の差が少なく、
したがって、再生信号の波形が良好な場合であり、再生
信号からデータを抽出するときの処理の安定性が良好に
なる。また、特開平６−７６２８８号公報には、アシン
メトリの最適値は、例えば、−４〜７（％）の値である
と示されている。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来装置には、次のような不都合を生じていた。

【００１４】すなわち、従来装置では、テスト領域にテ
ストデータを記録し、そのテスト領域でのデータ記録時
だけ反射光強度を検出して目標値としていたため、反射
光強度の測定回数が限定され、したがって、正しく目標
値Ｍを定めることができず、測定結果が不安定になると
いう不都合を生じる。

【００１５】また、短いテスト領域内で多くのデータを
得るためには、高速のアナログ／デジタル変換器が必要
であり、とくに、上述した従来装置のように、必要に応
じてピットレベルとランドレベルをそれぞれ求める場合
には、サンプルホールド回路とアナログ／デジタル変換
器を２系統必要とするので、装置コストが高くなるとい
う不都合も生じる。

【００１６】本発明は、かかる実情に鑑みてなされたも
のであり、データ記録の安定性が良好であり、かつ、安
価な追記型光ディスク装置およびその制御方法を提供す
ることを目的としている。

【００１７】

【課題を解決するための手段】本発明は、光源の半導体
レーザ素子の記録パワーを多段階に制御する記録パワー
制御手段と、記録時の光ディスクからの反射光を検出す
る反射光検出手段と、光ディスクからの再生信号のアシ
ンメトリを検出するアシンメトリ検出手段を備え、記録
時の上記反射光検出手段の検出信号に基づいて、光ディ
スクに対するデータ記録状態を判別する追記型光ディス
ク装置において、実際のデータ記録に先立ち、光ディス
クの所定領域に設定されているテスト領域に、上記記録
パワー制御手段により記録パワーを多段階に切り替えな
がらテストデータを記録し、おのおのの記録パワー毎に
記録したテストデータを再生したときに、上記アシンメ
トリ検出手段が検出したアシンメトリに応じてデータ記
録時の最適記録パワーを決定し、実際のデータ記録中
は、上記最適記録パワーでデータ記録を開始し、データ
記録開始直後に上記反射光検出手段の検出信号に基づい
て記録状態目標値を算出し、それ以降、上記反射光検出
手段の検出信号に基づいて算出した記録状態指数が上記
記録状態目標値に一致するように、上記記録パワー制御
手段の記録パワーを調整するようにしたものである。ま
た、光源の半導体レーザ素子の記録パワーを多段階に制
御する記録パワー制御手段と、記録時の光ディスクから
の反射光を検出する反射光検出手段と、光ディスクから
の再生信号のアシンメトリを検出するアシンメトリ検出
手段を備え、記録時の上記反射光検出手段の検出信号に
基づいて、光ディスクに対するデータ記録状態を判別す
る追記型光ディスク装置において、実際のデータ記録に
先立ち、光ディスクの所定領域に設定されているテスト
領域に、上記記録パワー制御手段により記録パワーを多
段階に切り替えながらテストデータを記録し、おのおの
の記録パワー毎に記録したテストデータを再生したとき
に、上記アシンメトリ検出手段が検出したアシンメトリ
に応じてデータ記録時の最適記録パワーを決定し、実際
のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録を
開始し、データ記録開始直後の少なくとも光ディスクの
１回転期間中に上記反射光検出手段から得られた複数の
検出信号に基づいて記録状態目標値を算出し、それ以
降、上記反射光検出手段の検出信号に基づいて算出した
記録状態指数が上記記録状態目標値に一致するように、
上記記録パワー制御手段の記録パワーを調整するように
したものである。また、データ記録中における前記記録
状態指数の算出は、少なくとも光ディスクの１回転期間
中に前記反射光検出手段から得られた複数の検出信号に
基づいて行うとよい。

【００１８】また、光源の半導体レーザ素子の記録パワ
ーを多段階に制御する記録パワー制御手段と、記録時の
光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段と、
光ディスクからの再生信号のアシンメトリを検出するア
シンメトリ検出手段を備え、記録時の上記反射光検出手
段の検出信号に基づいて、光ディスクに対するデータ記
録状態を判別する追記型光ディスク装置において、光デ
ィスクからの再生信号に基づいて光ディスクに生じてい
る欠陥を検出する欠陥検出手段を備え、実際のデータ記
録に先立ち、光ディスクの所定領域に設定されているテ
スト領域に、上記記録パワー制御手段により記録パワー
を多段階に切り替えながらテストデータを記録し、おの
おのの記録パワー毎に記録したテストデータを再生した
ときに、上記アシンメトリ検出手段が検出したアシンメ
トリに応じてデータ記録時の最適記録パワーを決定し、
実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記
録を開始し、データ記録開始直後に上記反射光検出手段
から得られる検出信号のうち、上記欠陥検出手段が欠陥
を検出中に得られたもの以外の所定数の検出信号に基づ
いて記録状態目標値を算出し、それ以降、上記反射光検
出手段の検出信号に基づいて算出した記録状態指数が上
記記録状態目標値に一致するように、上記記録パワー制
御手段の記録パワーを調整するようにしたものである。
また、データ記録中における前記記録状態指数の算出
は、前記反射光検出手段から得られる検出信号のうち、
前記欠陥検出手段が欠陥を検出中に得られたもの以外の
所定数の検出信号に基づいて行うとよい。

【００１９】また、前記反射光検出手段は、反射光信号
を検出する受光素子と、上記受光素子の受光信号をサン
プリングするサンプルホールド回路と、上記サンプルホ
ールド回路のサンプリング信号の発生タイミングを変化
するサンプルホールド信号生成回路を備え、データ記録
開始直後、上記サンプルホールド信号生成回路により上
記サンプルホールド回路のサンプリング信号の発生タイ
ミングを変化させ、上記サンプルホールド回路から出力
される信号の変化点を検出した上記サンプリング信号の
発生タイミングに、上記サンプルホールド回路のサンプ
リング信号の発生タイミングを設定するようにしたもの
である。

【００２０】また、前記反射光検出手段は、反射光信号
を検出する受光素子と、上記受光素子の受光信号を増幅
する可変利得増幅器と、上記可変利得増幅器の出力信号
をデジタル信号に変換するアナログ／デジタル変換器を
備え、データ記録開始直後、上記可変利得増幅器の出力
が所定範囲の値になるように、上記可変利得増幅器の利
得を調整するようにしたものである。

【００２１】また、光源の半導体レーザ素子の記録パワ
ーを多段階に制御する記録パワー制御手段と、記録時の
光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段と、
光ディスクからの再生信号のアシンメトリを検出するア
シンメトリ検出手段を備え、記録時の上記反射光検出手
段の検出信号に基づいて、光ディスクに対するデータ記
録状態を判別する追記型光ディスク装置において、実際
のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設定さ
れているテスト領域に、上記記録パワー制御手段により
記録パワーを多段階に切り替えながらテストデータを記
録し、おのおのの記録パワー毎に記録したテストデータ
を再生したときに、上記アシンメトリ検出手段が検出し
たアシンメトリが最小になる記録パワーをデータ記録時
の最適記録パワーに設定するとともに、記録パワーに対
する上記反射光検出手段の検出信号の率をあらわす指数
が、記録パワーの変化に従って単調的に変化している単
調性の有無を調べ、上記単調性がありと判断された場合
には、実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデ
ータ記録を開始し、データ記録開始直後に上記反射光検
出手段の検出信号に基づいて記録状態目標値を算出し、
それ以降、上記反射光検出手段の検出信号に基づいて算
出した記録状態指数が上記記録状態目標値に一致するよ
うに、上記記録パワー制御手段の記録パワーを調整し、
上記単調性がないと判断された場合には、実際のデータ
記録中は、上記最適記録パワーを保持してデータ記録す
るようにしたものである。

【００２２】また、光源の半導体レーザ素子の記録パワ
ーを多段階に制御する記録パワー制御手段と、記録時の
光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段と、
光ディスクからの再生信号のアシンメトリを検出するア
シンメトリ検出手段を備え、記録時の上記反射光検出手
段の検出信号に基づいて、光ディスクに対するデータ記
録状態を判別する追記型光ディスク装置において、実際
のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設定さ
れているテスト領域に、上記記録パワー制御手段により
記録パワーを多段階に切り替えながらテストデータを記
録し、おのおのの記録パワー毎に記録したテストデータ
を再生したときに、上記アシンメトリ検出手段が検出し
たアシンメトリが最小になる記録パワーをデータ記録時
の最適記録パワーに設定するとともに、記録パワーに対
する上記反射光検出手段の検出信号の率をあらわす指数
が、記録パワーの変化に従って単調的に変化している単
調性の有無を調べ、上記単調性がありと判断された場合
には、実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデ
ータ記録を開始し、データ記録開始直後の少なくとも光
ディスクの１回転期間中に上記反射光検出手段から得ら
れた複数の検出信号に基づいて記録状態目標値を算出
し、それ以降、上記反射光検出手段の検出信号に基づい
て算出した記録状態指数が上記記録状態目標値に一致す
るように、上記記録パワー制御手段の記録パワーを調整
し、上記単調性がないと判断された場合には、実際のデ
ータ記録中は、上記最適記録パワーを保持してデータ記
録するようにしたものである。

【００２３】また、光源の半導体レーザ素子の記録パワ
ーを多段階に制御する記録パワー制御手段と、記録時の
光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段と、
光ディスクからの再生信号のアシンメトリを検出するア
シンメトリ検出手段を備え、記録時の上記反射光検出手
段の検出信号に基づいて、光ディスクに対するデータ記
録状態を判別する追記型光ディスク装置において、光デ
ィスクからの再生信号に基づいて光ディスクに生じてい
る欠陥を検出する欠陥検出手段を備え、実際のデータ記
録に先立ち、光ディスクの所定領域に設定されているテ
スト領域に、上記記録パワー制御手段により記録パワー
を多段階に切り替えながらテストデータを記録し、おの
おのの記録パワー毎に記録したテストデータを再生した
ときに、上記アシンメトリ検出手段が検出したアシンメ
トリが最小になる記録パワーをデータ記録時の最適記録
パワーに設定するとともに、記録パワーに対する上記反
射光検出手段の検出信号の率をあらわす指数が、記録パ
ワーの変化に従って単調的に変化している単調性の有無
を調べ、上記単調性がありと判断された場合には、実際
のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録を
開始し、データ記録開始直後に上記反射光検出手段から
得られる検出信号のうち、上記欠陥検出手段が欠陥を検
出中に得られたもの以外の所定数の検出信号に基づいて
記録状態目標値を算出し、それ以降、上記反射光検出手
段の検出信号に基づいて算出した記録状態指数が上記記
録状態目標値に一致するように、上記記録パワー制御手
段の記録パワーを調整し、上記単調性がないと判断され
た場合には、実際のデータ記録中は、上記最適記録パワ
ーを保持してデータ記録するようにしたものである。ま
た、前記記録パワーの変化は、所定の範囲内に制限する
ようにするとよい。また、前記記録パワーの制限範囲
は、前記最適記録パワーを設定してから記録状態指数を
算出したときまでの温度変化に基づいて設定するとよ
い。

【００２４】また、記録時の反射光の大きさに基づい
て、光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記
型光ディスク装置の制御方法において、実際のデータ記
録に先立ち、光ディスクの所定領域に設定されているテ
スト領域に、記録パワーを多段階に切り替えながらテス
トデータを記録し、おのおのの記録パワー毎に記録した
テストデータを再生したときに、その再生信号のアシン
メトリに応じてデータ記録時の最適記録パワーを決定
し、実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデー
タ記録を開始し、データ記録開始直後に検出した光ディ
スクから反射光に基づいて記録状態目標値を算出し、そ
れ以降、適宜なタイミングで光ディスクから反射光に基
づいて記録状態指数を算出し、その算出した記録状態指
数が上記記録状態目標値に一致するように、記録パワー
を調整するようにしたものである。

【００２５】また、記録時の反射光の大きさに基づい
て、光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記
型光ディスク装置の制御方法において、実際のデータ記
録に先立ち、光ディスクの所定領域に設定されているテ
スト領域に、記録パワーを多段階に切り替えながらテス
トデータを記録し、おのおのの記録パワー毎に記録した
テストデータを再生したときに、その再生信号のアシン
メトリに応じてデータ記録時の最適記録パワーを決定
し、実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデー
タ記録を開始し、データ記録開始直後の少なくとも光デ
ィスクの１回転期間中に検出した光ディスクからの反射
光に基づいて記録状態目標値を算出し、それ以降、光デ
ィスクからの反射光に基づいて算出した記録状態指数が
上記記録状態目標値に一致するように、記録パワーを調
整するようにしたものである。

【００２６】また、記録時の反射光の大きさに基づい
て、光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記
型光ディスク装置の制御方法において、実際のデータ記
録に先立ち、光ディスクの所定領域に設定されているテ
スト領域に、記録パワーを多段階に切り替えながらテス
トデータを記録し、おのおのの記録パワー毎に記録した
テストデータを再生したときに、その再生信号のアシン
メトリに応じてデータ記録時の最適記録パワーを決定
し、実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデー
タ記録を開始し、データ記録開始直後に、欠陥のない領
域から得た光ディスクからの反射光に基づいて記録状態
目標値を算出し、それ以降、光ディスクからの反射光に
基づいて算出した記録状態指数が上記記録状態目標値に
一致するように、記録パワーを調整するようにしたもの
である。

【００２７】また、記録時の反射光の大きさに基づい
て、光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記
型光ディスク装置の制御方法において、実際のデータ記
録に先立ち、光ディスクの所定領域に設定されているテ
スト領域に、記録パワーを多段階に切り替えながらテス
トデータを記録し、おのおのの記録パワー毎に記録した
テストデータを再生したときに、その再生信号のアシン
メトリが最小になる記録パワーをデータ記録時の最適記
録パワーに設定するとともに、記録パワーに対する上記
反射光検出手段の検出信号の率をあらわす指数が、記録
パワーの変化に従って単調的に変化している単調性の有
無を調べ、上記単調性がありと判断された場合には、実
際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録
を開始し、データ記録開始直後に検出した光ディスクか
ら反射光に基づいて記録状態目標値を算出し、それ以
降、適宜なタイミングで光ディスクから反射光に基づい
て記録状態指数を算出し、その算出した記録状態指数が
上記記録状態目標値に一致するように、記録パワーを調
整し、上記単調性がないと判断された場合には、実際の
データ記録中は、上記最適記録パワーを保持してデータ
記録するようにしたものである。

【００２８】また、記録時の反射光の大きさに基づい
て、光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記
型光ディスク装置の制御方法において、実際のデータ記
録に先立ち、光ディスクの所定領域に設定されているテ
スト領域に、記録パワーを多段階に切り替えながらテス
トデータを記録し、おのおのの記録パワー毎に記録した
テストデータを再生したときに、その再生信号のアシン
メトリが最小になる記録パワーをデータ記録時の最適記
録パワーに設定するとともに、記録パワーに対する上記
反射光検出手段の検出信号の率をあらわす指数が、記録
パワーの変化に従って単調的に変化している単調性の有
無を調べ、上記単調性がありと判断された場合には、実
際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録
を開始し、データ記録開始直後の少なくとも光ディスク
の１回転期間中に検出した光ディスクからの反射光に基
づいて記録状態目標値を算出し、それ以降、光ディスク
からの反射光に基づいて算出した記録状態指数が上記記
録状態目標値に一致するように、記録パワーを調整し、
上記単調性がないと判断された場合には、実際のデータ
記録中は、上記最適記録パワーを保持してデータ記録す
るようにしたものである。

【００２９】また、記録時の反射光の大きさに基づい
て、光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記
型光ディスク装置の制御方法において、実際のデータ記
録に先立ち、光ディスクの所定領域に設定されているテ
スト領域に、記録パワーを多段階に切り替えながらテス
トデータを記録し、おのおのの記録パワー毎に記録した
テストデータを再生したときに、その再生信号のアシン
メトリが最小になる記録パワーをデータ記録時の最適記
録パワーに設定するとともに、記録パワーに対する上記
反射光検出手段の検出信号の率をあらわす指数が、記録
パワーの変化に従って単調的に変化している単調性の有
無を調べ、上記単調性がありと判断された場合には、実
際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録
を開始し、データ記録開始直後に、欠陥のない領域から
得た光ディスクからの反射光に基づいて記録状態目標値
を算出し、それ以降、光ディスクからの反射光に基づい
て算出した記録状態指数が上記記録状態目標値に一致す
るように、記録パワーを調整し、上記単調性がないと判
断された場合には、実際のデータ記録中は、上記最適記
録パワーを保持してデータ記録するようにしたものであ
る。

【００３０】

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら、
本発明の実施例を詳細に説明する。

【００３１】図１は、本発明の一実施例にかかる追記型
光ディスク装置の要部を示している。

【００３２】同図において、光ピックアップ装置１は、
追記型光ディスク２にデータを記録するとともに、追記
型光ディスク２からデータを再生するためのものであ
り、その光ヘッド３には、光源となる半導体レーザ素子
４、半導体レーザ素子４の出力レベルを検出するための
出力モニタ用受光素子５、および、追記型光ディスク２
からの反射光を検出するための信号検出用受光素子６が
設けられている。なお、光ピックアップ装置１には、光
ヘッド３のレーザビームを記録トラックに焦点をあわせ
るためのフォーカシング制御手段（図示略）や光ヘッド
のレーザビームを記録トラックに追従させるためのトラ
ッキング制御手段（図示略）等も付設されている。ま
た、光ピックアップ装置１には、光ヘッド３を追記型光
ディスク２の半径方向に往復移動するシーク機構（図示
略）も設けられている。

【００３３】出力モニタ用受光素子５から出力されるモ
ニタ受光信号Ｐｍは、電流／電圧変換アンプ８を介して
電圧信号に変換された後、再生パワー制御部９および記
録パワー制御部１０に加えられている。

【００３４】信号検出用受光素子６から出力される信号
受光信号Ｐａは、電流／電圧変換アンプ１１を介して電
圧信号に変換された後、サンプル／ホールド回路１２お
よびアシンメトリ判定回路１３に加えられるとともに、
再生信号ＲＦとして、次段装置に出力される。

【００３５】周知の記録データ発生手段（図示略）から
加えられるＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏ Ｆｏｕｒｔｅｅ
ｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）変調された記録データＤＥ
は、サンプルホールド信号発生器１５および遅延回路１
６に加えられている。

【００３６】サンプルホールド信号発生器１５は、制御
部１７から加えられるモード信号ＭＳに応じた態様で、
記録データＤＥの立ち上がりタイミングから所定サンプ
リング時間を経過したタイミングでサンプリング信号Ｓ
Ｐを出力するものであり、そのサンプリング信号ＳＰ
は、サンプル／ホールド回路１２に加えられている。

【００３７】これにより、サンプル／ホールド回路１２
は、サンプリング信号ＳＰが加えられるタイミング（例
えば、サンプリング信号ＳＰの立ち上がりエッジ）で加
えられる信号をサンプリングし、そのサンプリング結果
をサンプルホールド値ＳＨとしてアナログ／デジタル変
換器１８に出力する。

【００３８】アナログ／デジタル変換器１８は、加えら
れるサンプルホールド値ＳＨを、対応するデジタル信号
に変換するものであり、その出力信号は、サンプルホー
ルド値ＳＨｄとして制御部１７に加えられている。

【００３９】遅延回路１６は、加えられる記録データＤ
Ｅを所定の遅延時間遅らせるものであり、その出力信号
は、記録データＤＥｄとして、制御部１７およびＬＤ
（半導体レーザ素子）駆動回路２０に加えられている。

【００４０】制御部１７は、この追記型光ディスク装置
の動作を制御するものであり、半導体レーザ素子４の再
生時の出力を指定するための制御信号ＲＰ、および、半
導体レーザ素子４の記録時の出力を指定する制御信号Ｗ
Ｐを形成し、これらの制御信号ＲＰおよび制御信号ＷＰ
をそれぞれデジタル／アナログ変換器２１およびデジタ
ル／アナログ変換器２２に出力する。

【００４１】デジタル／アナログ変換器２１は、加えら
れる制御信号ＲＰを対応するアナログ信号に変換するも
のであり、その出力信号は、制御信号ＲＰａとして再生
パワー制御部９に加えられている。

【００４２】デジタル／アナログ変換器２２は、加えら
れる制御信号ＷＰを対応するアナログ信号に変換するも
のであり、その出力信号は、制御信号ＷＰａとして記録
パワー制御部１０に加えられている。

【００４３】再生パワー制御部９は、モニタ受光信号Ｐ
ｍの大きさが、制御信号ＲＰａの大きさに一致するよう
に、半導体レーザ素子４の再生時の出力を指定する再生
パワー信号ＳＳｒをＬＤ駆動部２０に出力する。

【００４４】記録パワー制御部１０は、モニタ受光信号
Ｐｍの大きさが、制御信号ＷＰａの大きさに一致するよ
うに、半導体レーザ素子４の記録時の出力を指定する記
録パワー信号ＳＳｗをＬＤ駆動部２０に出力する。

【００４５】ＬＤ駆動部２０は、記録データＤＥｄがマ
ーク状態（論理Ｈレベル）になっている状態では、記録
パワー信号ＳＳｗで指定された出力で半導体レーザ素子
４を駆動するとともに、記録データＤＥｄが非マーク状
態（論理Ｌレベル）になっている状態では、再生パワー
信号ＳＳｒで指定された出力で半導体レーザ素子４を駆
動するものである。すなわち、ＬＤ駆動部２０は、記録
データＤＥｄに基づき、半導体レーザ素子４の出力を、
記録パワー信号ＳＳｗに対応した記録パワーと、再生パ
ワー信号ＳＳｒに対応した再生パワーに高速にスイッチ
ングする。

【００４６】これにより、記録データＤＥに応じて、半
導体レーザ素子４の出力が記録パワーと再生パワーに変
化し、その結果、追記型光ディスク２の記録トラックに
データが記録される。

【００４７】また、アシンメトリ判定回路１３は、加え
られる再生信号ＲＦのゼロレベルからプラス側の振幅値
とマイナス側の振幅値を検出して、それらの振幅値に基
づき、上述した式(I)を演算して、アシンメトリを算出
するものであり、その算出結果は、アシンメトリ信号Ｓ
Ｔとして制御部１７に加えられている。

【００４８】また、制御部１７は、この追記型光ディス
ク装置の他の要素と種々のデータをやりとりして、それ
らの要素の動作を監視および制御するとともに、この追
記型光ディスク装置を外部記憶装置として用いる外部装
置（例えば、パーソナルコンピュータ装置など）との間
で種々のデータをやりとりする。

【００４９】以上の構成で、制御部１７は、データ記録
するときに図２および図３に示した動作を行う。

【００５０】まず、追記型光ディスク２にあらかじめ設
定されている所定のテスト領域にシークし、制御信号Ｗ
Ｐを多段階に変化して半導体レーザ素子４の記録パワー
を順次変化させながら、所定のテストデータの記録デー
タＤＥを周知の記録データ発生手段（図示略）より発生
させ、それぞれの記録パワーについて、所定データ量の
データ書込動作を行う（処理１０１）。

【００５１】次いで、おのおのの記録パワーで記録した
テストデータを、順次再生し、その再生時にアシンメト
リ判定回路１３から入力したアシンメトリ信号ＳＴを保
存して、おのおのの記録パワー毎のアシンメトリ信号Ｓ
Ｔを得る（処理１０２）。

【００５２】そして、そのアシンメトリ信号ＳＴの値が
最小値をとる記録パワーを判定して、その記録パワーの
値を最適記録パワーＰ０に設定し（処理１０３）、その
最適記録パワーＰ０に対応した値を制御信号ＷＰにセッ
トした状態で、実際のデータ記録動作を開始する（処理
１０４）。

【００５３】そのデータ記録動作を開始すると同時に、
サンプルホールド信号発生器１５の動作を、モードＳＰ
ａを指定した状態で開始する（処理１０５）。ここで、
モードＳＰａは、図４（ａ），（ｂ）に示したように、
記録データＤＥがマーク状態に立ち上がってから、所定
時間ｔ１を経過した時点でサンプルホールド信号ＳＰを
出力するような動作モードである。これにより、サンプ
ル／ホールド回路１２は、半導体レーザ素子４が記録パ
ワーに立ち上げられている期間に出力される信号受光信
号Ｐａをサンプリングし、サンプルホールド値ＳＨとし
て出力する。

【００５４】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理１０６）、その読み込んだ数が所定数になる
と、読み込んだ所定数のサンプルホールド値ＳＨｄの平
均値を算出して、その結果を最適記録パワー時のピット
レベルＶｐとして保存する（処理１０７）。

【００５５】次に、サンプルホールド信号発生器１５の
動作をモードＳＰｂにタイミング変更する（処理１０
８）。ここで、モードＳＰｂは、図４（ｃ）に示したよ
うに、記録データＤＥが非マーク状態に立ち下がってか
ら、所定時間ｔ１を経過した時点でサンプルホールド信
号ＳＰを出力するような動作モードである。これによ
り、サンプル／ホールド回路１２は、半導体レーザ素子
４が再生パワーに立ち下げられている期間に出力される
信号受光信号Ｐａをサンプリングし、サンプルホールド
値ＳＨとして出力する。

【００５６】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理１０９）、その読み込んだ数が所定数になる
と、読み込んだ所定数のサンプルホールド値ＳＨｄの平
均値を算出して、その結果を最適記録パワー時のランド
レベルＶｂとして保存する（処理１１０）。

【００５７】このようにして、最適記録パワー（Ｐ０）
時のピットレベルＶｐとランドレベルＶｂを得ると、次
の式(II)に基づいて、記録状態目標値Ｍ０を算出し、そ
の算出した記録状態目標値Ｍ０を保存する（処理１１
１）。

【００５８】 Ｍ０＝Ｖｐ／（Ｐ０×Ｖｂ） (II)

【００５９】次に、制御部１７は、記録パワーを所定の
微小値αだけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を
設定する（処理１１２）。そして、サンプルホールド信
号発生器１５の動作をモードＳＰａにタイミング変更す
る（処理１１３）。これにより、サンプル／ホールド回
路１２は、半導体レーザ素子４が記録パワーに立ち上げ
られている期間に出力される信号受光信号Ｐａをサンプ
リングし、サンプルホールド値ＳＨとして出力する。

【００６０】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理１１４）、その読み込んだ数が所定数になる
と、読み込んだ所定数のサンプルホールド値ＳＨｄの平
均値を算出して、その結果を実記録パワー時のピットレ
ベルＶｐとして保存する（処理１１５）。

【００６１】次に、制御部１７は、サンプルホールド信
号発生器１５の動作を、モードＳＰｂにタイミング変更
する（処理１１６）。これにより、サンプル／ホールド
回路１２は、半導体レーザ素子４が再生パワーに立ち下
げられている期間に出力される信号受光信号Ｐａをサン
プリングし、サンプルホールド値ＳＨとして出力する。

【００６２】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理１１７）、その読み込んだ数が所定数になる
と、読み込んだ所定数のサンプルホールド値ＳＨｄの平
均値を算出して、その結果を実記録パワー時のランドレ
ベルＶｂとして保存する（処理１１８）。

【００６３】このようにして、実記録パワー（Ｐ１）時
のピットレベルＶｐとランドレベルＶｂを得ると、次の
式(III)に基づいて、参照値Ｍ１を算出する（処理１１
９）。

【００６４】 Ｍ１＝Ｖｐ／（Ｐ１×Ｖｂ） (II)

【００６５】そして、参照値Ｍ１が記録状態目標値Ｍ０
よりも大きくなっているかどうかを調べる（判断１２
０）。判断１２０の結果がＹＥＳになるときには、記録
パワーを微小値αだけ大きい値にするように制御信号Ｗ
Ｐの値を設定し（処理１２１）、また、判断１２０の結
果がＮＯになるときには、記録パワーを所定の微小値α
だけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を設定する
（処理１２２）。このようにして、処理１２１，１２２
により、記録パワーが最適記録状態となるように調整す
ると、処理１１３に戻り、次のサイクルの記録パワーの
制御を行う。そして、処理１１３〜処理１２２までの動
作は、データ記録動作中は繰り返して実行する。

【００６６】このようにして、本実施例では、データ記
録前にテスト領域において試し書きして最適記録パワー
Ｐ０を得て、データ記録中は、その最適記録パワーＰ０
と同じような記録状態となるように実記録パワーＰ１を
制御しているので、記録されたデータの信頼性が向上
し、長時間の連続記録動作が行われた場合でも、安定し
た記録品質が得られる。

【００６７】図５（ａ），（ｂ）は、データ記録時の処
理の他の例を示している。なお、この処理は、図１に示
した装置の制御部１７が実行するものである。

【００６８】まず、追記型光ディスク２にあらかじめ設
定されている所定のテスト領域にシークし、制御信号Ｗ
Ｐを多段階に変化して半導体レーザ素子４の記録パワー
を順次変化させながら、所定のテストデータの記録デー
タＤＥを周知の記録データ発生手段（図示略）より発生
させ、それぞれの記録パワーについて、所定データ量の
データ書込動作を行う（処理２０１）。

【００６９】次いで、おのおのの記録パワーで記録した
テストデータを、順次再生し、その再生時にアシンメト
リ判定回路１３から入力したアシンメトリ信号ＳＴを保
存して、おのおのの記録パワー毎のアシンメトリ信号Ｓ
Ｔを得る（処理２０２）。

【００７０】そして、そのアシンメトリ信号ＳＴの値が
最小値をとる記録パワーを判定して、その記録パワーの
値を最適記録パワーＰ０に設定し（処理２０３）、その
最適記録パワーＰ０に対応した値を制御信号ＷＰにセッ
トした状態で、実際のデータ記録動作を開始する（処理
２０４）。

【００７１】そのデータ記録動作を開始すると同時に、
サンプルホールド信号発生器１５の動作を、モードＳＰ
ａを指定した状態で開始する（処理２０５）。これによ
り、サンプル／ホールド回路１２は、半導体レーザ素子
４が記録パワーに立ち上げられている期間に出力される
信号受光信号Ｐａをサンプリングし、サンプルホールド
値ＳＨとして出力する。

【００７２】制御部１７は、追記型光ディスク２の１回
転に相当する時間がセットされている１回転タイマＴＭ
１をスタートさせ（処理２０６）、このタイマＴＭ１が
タイムアウトするまでの間、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込む（処理２０７、判断２０８のＮＯループ）。判断２
０８の結果がＹＥＳになると、そのときに読み込んだサ
ンプルホールド値ＳＨｄの値の平均値を算出して、その
結果を最適記録パワー時のピットレベルＶｐとして保存
する（処理２０９）。

【００７３】このようにして、最適記録パワー（Ｐ０）
時のピットレベルＶｐを得ると、次の式(IV)に基づい
て、記録状態目標値Ｍ０を算出し、その算出した記録状
態目標値Ｍ０を保存する（処理２１０）。

【００７４】 Ｍ０＝Ｖｐ／Ｐ０ (IV)

【００７５】次に、制御部１７は、記録パワーを所定の
微小値αだけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を
設定し（処理２１１）、その状態で、サンプルホールド
信号発生器１５の動作を、モードＳＰａを指定した状態
で開始する（処理２１２）。これにより、サンプル／ホ
ールド回路１２は、半導体レーザ素子４が記録パワーに
立ち上げられている期間に出力される信号受光信号Ｐａ
をサンプリングし、サンプルホールド値ＳＨとして出力
する。

【００７６】制御部１７は、追記型光ディスク２の１回
転に相当する時間がセットされている１回転タイマＴＭ
１をスタートさせ（処理２１３）、このタイマＴＭ１が
タイムアウトするまでの間、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込む（処理２１４、判断２１５のＮＯループ）。判断２
１５の結果がＹＥＳになると、そのときに読み込んだサ
ンプルホールド値ＳＨｄの値の平均値を算出して、その
結果を実記録パワー時のピットレベルＶｐとして保存す
る（処理２１６）。

【００７７】このようにして、実記録パワー（Ｐ１）時
のピットレベルＶｐを得ると、次の式(V)に基づいて、
参照値Ｍ１を算出し、その算出した参照値Ｍ１を保存す
る（処理２１７）。

【００７８】 Ｍ１＝Ｖｐ／Ｐ１ (V)

【００７９】そして、参照値Ｍ１が記録状態目標値Ｍ０
よりも大きくなっているかどうかを調べる（判断２１
８）。判断２１８の結果がＹＥＳになるときには、記録
パワーを微小値αだけ大きい値にするように制御信号Ｗ
Ｐの値を設定し（処理２１８）、また、判断２１８の結
果がＮＯになるときには、記録パワーを所定の微小値α
だけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を設定する
（処理２２０）。このようにして、処理２１９，２２０
により、記録パワーが最適記録状態となるように調整す
ると、処理２１２に戻り、次のサイクルの記録パワーの
制御を行う。そして、処理２１２〜処理２２０までの動
作は、データ記録動作中は繰り返して実行する。

【００８０】このようにして、本実施例では、データ記
録前にテスト領域において試し書きして最適記録パワー
Ｐ０を得て、データ記録中は、その最適記録パワーＰ０
と同じような記録状態となるように実記録パワーＰ１を
制御しているので、記録されたデータの信頼性が向上
し、長時間の連続記録動作が行われた場合でも、安定し
た記録品質が得られる。

【００８１】また、記録状態目標値Ｍ０を算出するため
に、追記型光ディスク２の１回転に相当する期間サンプ
リングしたデータに基づいて行っているので、サンプリ
ングデータのばらつきの影響を抑制でき、より信頼性の
高い記録パワー制御を行うことができる。

【００８２】図６は、本発明の他の実施例にかかる追記
型光ディスク装置の要部を示している。なお、同図にお
いて、図１と同一部分および相当する部分には同一符号
を付している。

【００８３】同図において、光ピックアップ装置１は、
追記型光ディスク２にデータを記録するとともに、追記
型光ディスク２からデータを再生するためのものであ
り、その光ヘッド３には、光源となる半導体レーザ素子
４、半導体レーザ素子４の出力レベルを検出するための
出力モニタ用受光素子５、および、追記型光ディスク２
からの反射光を検出するための信号検出用受光素子６が
設けられている。なお、光ピックアップ装置１には、光
ヘッド３のレーザビームを記録トラックに焦点をあわせ
るためのフォーカシング制御手段（図示略）や光ヘッド
のレーザビームを記録トラックに追従させるためのトラ
ッキング制御手段（図示略）等も付設されている。ま
た、光ピックアップ装置１には、光ヘッド３を追記型光
ディスク２の半径方向に往復移動するシーク機構（図示
略）も設けられている。

【００８４】出力モニタ用受光素子５から出力されるモ
ニタ受光信号Ｐｍは、電流／電圧変換アンプ８を介して
電圧信号に変換された後、再生パワー制御部９および記
録パワー制御部１０に加えられている。

【００８５】信号検出用受光素子６から出力される信号
受光信号Ｐａは、電流／電圧変換アンプ１１を介して電
圧信号に変換された後、サンプル／ホールド回路１２、
アシンメトリ判定回路１３、および、欠陥検出回路２５
に加えられるとともに、再生信号ＲＦとして、次段装置
に出力される。

【００８６】周知の記録データ発生手段（図示略）から
加えられるＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏ Ｆｏｕｒｔｅｅ
ｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）変調された記録データＤＥ
は、サンプルホールド信号発生器１５および遅延回路１
６に加えられている。

【００８７】サンプルホールド信号発生器１５は、制御
部１７から加えられるモード信号ＭＳに応じた態様で、
記録データＤＥの立ち上がりタイミングから所定サンプ
リング時間を経過したタイミングでサンプリング信号Ｓ
Ｐを出力するものであり、そのサンプリング信号ＳＰ
は、サンプル／ホールド回路１２に加えられている。

【００８８】これにより、サンプル／ホールド回路１２
は、サンプリング信号ＳＰが加えられるタイミング（例
えば、サンプリング信号ＳＰの立ち上がりエッジ）で加
えられる信号をサンプリングし、そのサンプリング結果
をサンプルホールド値ＳＨとしてアナログ／デジタル変
換器１８に出力する。

【００８９】アナログ／デジタル変換器１８は、加えら
れるサンプルホールド値ＳＨを、対応するデジタル信号
に変換するものであり、その出力信号は、サンプルホー
ルド値ＳＨｄとして制御部１７に加えられている。

【００９０】遅延回路１６は、加えられる記録データＤ
Ｅを所定の遅延時間遅らせるものであり、その出力信号
は、記録データＤＥｄとして、制御部１７およびＬＤ
（半導体レーザ素子）駆動回路２０に加えられている。

【００９１】制御部１７は、この追記型光ディスク装置
の動作を制御するものであり、半導体レーザ素子４の再
生時の出力を指定するための制御信号ＲＰ、および、半
導体レーザ素子４の記録時の出力を指定する制御信号Ｗ
Ｐを形成し、これらの制御信号ＲＰおよび制御信号ＷＰ
をそれぞれデジタル／アナログ変換器２１およびデジタ
ル／アナログ変換器２２に出力する。

【００９２】デジタル／アナログ変換器２１は、加えら
れる制御信号ＲＰを対応するアナログ信号に変換するも
のであり、その出力信号は、制御信号ＲＰａとして再生
パワー制御部９に加えられている。

【００９３】デジタル／アナログ変換器２２は、加えら
れる制御信号ＷＰを対応するアナログ信号に変換するも
のであり、その出力信号は、制御信号ＷＰａとして記録
パワー制御部１０に加えられている。

【００９４】再生パワー制御部９は、モニタ受光信号Ｐ
ｍの大きさが、制御信号ＲＰａの大きさに一致するよう
に、半導体レーザ素子４の再生時の出力を指定する再生
パワー信号ＳＳｒをＬＤ駆動部２０に出力する。

【００９５】記録パワー制御部１０は、モニタ受光信号
Ｐｍの大きさが、制御信号ＷＰａの大きさに一致するよ
うに、半導体レーザ素子４の記録時の出力を指定する記
録パワー信号ＳＳｗをＬＤ駆動部２０に出力する。

【００９６】ＬＤ駆動部２０は、記録データＤＥｄがマ
ーク状態（論理Ｈレベル）になっている状態では、記録
パワー信号ＳＳｗで指定された出力で半導体レーザ素子
４を駆動するとともに、記録データＤＥｄが非マーク状
態（論理Ｌレベル）になっている状態では、再生パワー
信号ＳＳｒで指定された出力で半導体レーザ素子４を駆
動するものである。すなわち、ＬＤ駆動部２０は、記録
データＤＥｄに基づき、半導体レーザ素子４の出力を、
記録パワー信号ＳＳｗに対応した記録パワーと、再生パ
ワー信号ＳＳｒに対応した再生パワーに高速にスイッチ
ングする。

【００９７】これにより、記録データＤＥに応じて、半
導体レーザ素子４の出力が記録パワーと再生パワーに変
化し、その結果、追記型光ディスク２の記録トラックに
データが記録される。

【００９８】また、アシンメトリ判定回路１３は、加え
られる再生信号ＲＦのゼロレベルからプラス側の振幅値
とマイナス側の振幅値を検出して、それらの振幅値に基
づき、上述した式(I)を演算して、アシンメトリを算出
するものであり、その算出結果は、アシンメトリ信号Ｓ
Ｔとして制御部１７に加えられている。

【００９９】また、制御部１７は、この追記型光ディス
ク装置の他の要素と種々のデータをやりとりして、それ
らの要素の動作を監視および制御するとともに、この追
記型光ディスク装置を外部記憶装置として用いる外部装
置（例えば、パーソナルコンピュータ装置など）との間
で種々のデータをやりとりする。

【０１００】また、欠陥検出回路２５は、追記型光ディ
スク２に生じている媒体欠陥を検出するものであり、例
えば、再生信号ＲＦのレベルが所定値以下の状態が所定
時間以上（例えば、数マイクロ秒程度）継続した場合
に、媒体欠陥を検出したと判定する。そして、媒体欠陥
を検出すると、欠陥検出信号ＤＤを制御部１７に出力す
る。

【０１０１】図７および図８は、図６の装置の制御部１
７がデータ記録時に実行する処理例を示している。

【０１０２】まず、追記型光ディスク２にあらかじめ設
定されている所定のテスト領域にシークし、制御信号Ｗ
Ｐを多段階に変化して半導体レーザ素子４の記録パワー
を順次変化させながら、所定のテストデータの記録デー
タＤＥを周知の記録データ発生手段より発生させ、それ
ぞれの記録パワーについて、所定データ量のデータ書込
動作を行う（処理３０１）。

【０１０３】次いで、おのおのの記録パワーで記録した
テストデータを、順次再生し、その再生時にアシンメト
リ判定回路１３から入力したアシンメトリ信号ＳＴを保
存して、おのおのの記録パワー毎のアシンメトリ信号Ｓ
Ｔを得る（処理３０２）。

【０１０４】そして、そのアシンメトリ信号ＳＴの値が
最小値をとる記録パワーを判定して、その記録パワーの
値を最適記録パワーＰ０に設定し（処理３０３）、その
最適記録パワーＰ０に対応した値を制御信号ＷＰにセッ
トした状態で、実際のデータ記録動作を開始する（処理
３０４）。

【０１０５】そのデータ記録動作を開始すると同時に、
サンプルホールド信号発生器１５の動作を、モードＳＰ
ａを指定した状態で開始する（処理３０５）。これによ
り、サンプル／ホールド回路１２は、半導体レーザ素子
４が記録パワーに立ち上げられている期間に出力される
信号受光信号Ｐａをサンプリングし、サンプルホールド
値ＳＨとして出力する。

【０１０６】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理３０６）、そのときに欠陥検出信号ＤＤが出
力されているかどうかを調べる（判断３０７）。判断３
０７の結果がＹＥＳになるときには、直前に入力したサ
ンプルホールド値ＳＨｄは、媒体欠陥が生じている領域
から得たものであるから、その直前に入力したサンプル
ホールド値ＳＨｄを破棄して（処理３０８）、処理３０
６に戻り、次のサンプルホールド値ＳＨｄの読み込みを
行う。

【０１０７】また、判断３０７の結果がＮＯになるとき
には、適切なデータが得られているので、所定数のデー
タのサンプリングが終了したかどうかを調べ（判断３０
９）、判断３０９の結果がＮＯになるときには、処理３
０６に戻り、次のサンプルホールド値ＳＨｄの読み込み
を行う。

【０１０８】判断３０９の結果がＹＥＳになるときに
は、そのときに読み込んで得た所定数のサンプルホール
ド値ＳＨｄの値の平均値を算出して、その結果を最適記
録パワー時のピットレベルＶｐとし、上述した式(IV)に
基づいて、記録状態目標値Ｍ０を算出し、その算出した
記録状態目標値Ｍ０を保存する（処理３１０）。

【０１０９】次に、制御部１７は、記録パワーを所定の
微小値αだけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を
設定し（処理３１１）、その状態で、サンプルホールド
信号発生器１５の動作を、モードＳＰａを指定した状態
で開始する（処理３１２）。これにより、サンプル／ホ
ールド回路１２は、半導体レーザ素子４が記録パワーに
立ち上げられている期間に出力される信号受光信号Ｐａ
をサンプリングし、サンプルホールド値ＳＨとして出力
する。

【０１１０】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理３１３）、そのときに欠陥検出信号ＤＤが出
力されているかどうかを調べる（判断３１４）。判断３
１４の結果がＹＥＳになるときには、直前に入力したサ
ンプルホールド値ＳＨｄは、媒体欠陥が生じている領域
から得たものであるから、その直前に入力したサンプル
ホールド値ＳＨｄを破棄して（処理３１５）、処理３１
３に戻り、次のサンプルホールド値ＳＨｄの読み込みを
行う。

【０１１１】また、判断３１４の結果がＮＯになるとき
には、適切なデータが得られているので、所定数のデー
タのサンプリングが終了したかどうかを調べ（判断３１
６）、判断３１６の結果がＮＯになるときには、処理３
１２に戻り、次のサンプルホールド値ＳＨｄの読み込み
を行う。

【０１１２】判断３１６の結果がＹＥＳになるときに
は、そのときに読み込んで得た所定数のサンプルホール
ド値ＳＨｄの値の平均値を算出して、その結果を実記録
パワー（Ｐ１）時のピットレベルＶｐとし（処理３１
７）、上述した式(V)に基づいて、参照値Ｍ１を算出
し、その算出した参照値Ｍ１を保存する（処理３１
８）。

【０１１３】そして、参照値Ｍ１が記録状態目標値Ｍ０
よりも大きくなっているかどうかを調べる（判断３１
９）。判断３１９の結果がＹＥＳになるときには、記録
パワーを微小値αだけ大きい値にするように制御信号Ｗ
Ｐの値を設定し（処理３２０）、また、判断３１９の結
果がＮＯになるときには、記録パワーを所定の微小値α
だけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を設定する
（処理３２１）。このようにして、処理３２０，３２１
により、記録パワーが最適記録状態となるように調整す
ると、処理３１２に戻り、次のサイクルの記録パワーの
制御を行う。そして、処理３１２〜処理３２１までの動
作は、データ記録動作中は繰り返して実行する。

【０１１４】このようにして、本実施例では、データ記
録前にテスト領域において試し書きして最適記録パワー
Ｐ０を得て、データ記録中は、その最適記録パワーＰ０
と同じような記録状態となるように実記録パワーＰ１を
制御しているので、記録されたデータの信頼性が向上
し、長時間の連続記録動作が行われた場合でも、安定し
た記録品質が得られる。

【０１１５】また、記録状態目標値Ｍ０を算出するため
に用いるデータは、追記型光ディスク２の欠陥領域から
得られたデータを除くので、媒体欠陥の影響を抑制する
ことができ、その結果、より信頼性の高い記録パワー制
御を行うことができる。

【０１１６】さて、追記型光ディスク２からの反射光強
度は、図９に示すように変化する。ここで、０Ｔピット
位置から１１Ｔピット位置までは半導体レーザ素子４が
記録パワーで駆動された場合の波形であり、他の部分
は、半導体レーザ素子４が再生パワーで駆動された場合
の波形である。また、反射光強度が０Ｔピット位置直後
にピーク値となるのは、追記型光ディスク２の記録面が
鏡面になっているからであり、記録パワーのレーザビー
ムが連続して照射されることにより、ピットが形成さ
れ、それにより、反射光強度が低下する。

【０１１７】この場合において、ピットレベルＶｐの信
号をサンプリングするタイミングは、４Ｔピット位置が
基準になっているが、追記型光ディスク２のメディアの
違いによる特性の差異が原因となり、最適記録状態でデ
ータ記録した場合の反射光強度が、図に破線で示した状
態になる場合がある。かかる場合には、４Ｔピット位置
よりも前のタイミングでピットレベルＶｐをサンプリン
グした方がより良好なサンプリング値を得ることができ
ることがある。なお、ランドレベルＶｂのサンプリング
タイミングは、図に示したようなタイミングである。

【０１１８】そこで、図１０（ａ）〜（ｄ）に示すよう
に、サンプル／ホールド回路１２に与えるサンプル信号
ＳＰのサンプリングタイミングを徐々に変化して、ピッ
トレベルＶｐを検出し、ピットレベルＶｐのレベル変化
の変化点（図１１参照）を求め、その変化点の直後のサ
ンプリングタイミングを、その追記型光ディスク２のサ
ンプリングタイミングに設定すると、より良好なピット
レベルＶｐを検出することができる。

【０１１９】図１２および図１３は、この場合のデータ
記録処理の一例を示している。なお、この処理は、図６
に示した装置の制御部１７が実行する処理である。

【０１２０】まず、追記型光ディスク２にあらかじめ設
定されている所定のテスト領域にシークし、制御信号Ｗ
Ｐを多段階に変化して半導体レーザ素子４の記録パワー
を順次変化させながら、所定のテストデータの記録デー
タＤＥを周知の記録データ発生手段より発生させ、それ
ぞれの記録パワーについて、所定データ量のデータ書込
動作を行う（処理４０１）。

【０１２１】次いで、おのおのの記録パワーで記録した
テストデータを、順次再生し、その再生時にアシンメト
リ判定回路１３から入力したアシンメトリ信号ＳＴを保
存して、おのおのの記録パワー毎のアシンメトリ信号Ｓ
Ｔを得る（処理４０２）。

【０１２２】そして、そのアシンメトリ信号ＳＴの値が
最小値をとる記録パワーを判定して、その記録パワーの
値を最適記録パワーＰ０に設定し（処理４０３）、その
最適記録パワーＰ０に対応した値を制御信号ＷＰにセッ
トした状態で、実際のデータ記録動作を開始する（処理
４０４）。

【０１２３】そのデータ記録動作を開始すると同時に、
サンプルホールド信号発生器１５の動作モードを、その
ときに実行していないサンプリングタイミングをあらわ
す状態に設定し（処理４０５）、その設定したサンプリ
ングタイミングのサンプリング動作を開始する（処理４
０６）。これにより、サンプル／ホールド回路１２は、
半導体レーザ素子４が記録パワーに立ち上げられている
期間に出力される信号受光信号Ｐａを、そのときに設定
されたサンプリングタイミングでサンプリングし、サン
プルホールド値ＳＨとして出力する。

【０１２４】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを所定
数読み込み（処理４０７）、その読み込んだサンプルホ
ールド値ＳＨｄの平均値を算出し、その算出した平均値
を、そのサンプリングタイミングに対応したピットレベ
ルＶｐとして保存する（処理４０８）。

【０１２５】そして、全てのサンプリングタイミングに
ついてのピットレベルＶｐを得たかどうかを調べ（判断
４０９）、判断４０９の結果がＮＯになるときには、処
理４０５に戻り、次のサンプリングタイミングについて
ピットレベルＶｐを形成する。

【０１２６】また、判断４０９の結果がＹＥＳになると
きには、そのときに保存しているピットレベルＶｐをサ
ンプリングタイミング順に調べ、ピットレベルＶｐの変
化点を判定し、その判定した変化点のサンプリングタイ
ミングを、そのときに使用するサンプリングタイミング
として決定し、そのサンプリングタイミングの動作モー
ドを、サンプルホールド信号発生器１５に設定する（処
理４１０）。それにより、サンプル／ホールド回路１２
は、そのときに判定された変化点付近のサンプリングタ
イミングで信号受光信号Ｐａをサンプリングし、サンプ
ルホールド値ＳＨとして出力する。

【０１２７】このようにして、サンプリングタイミング
を決定すると、制御部１７は、アナログ／デジタル変換
器１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読
み込み（処理４１１）、そのときに欠陥検出信号ＤＤが
出力されているかどうかを調べる（判断４１２）。判断
４１２の結果がＹＥＳになるときには、直前に入力した
サンプルホールド値ＳＨｄは、媒体欠陥が生じている領
域から得たものであるから、その直前に入力したサンプ
ルホールド値ＳＨｄを破棄して（処理４１３）、処理４
１１に戻り、次のサンプルホールド値ＳＨｄの読み込み
を行う。

【０１２８】また、判断４１２の結果がＮＯになるとき
には、適切なデータが得られているので、所定数のデー
タのサンプリングが終了したかどうかを調べ（判断４１
４）、判断４１４の結果がＮＯになるときには、処理４
１１に戻り、次のサンプルホールド値ＳＨｄの読み込み
を行う。

【０１２９】判断４１４の結果がＹＥＳになるときに
は、そのときに読み込んで得た所定数のサンプルホール
ド値ＳＨｄの値の平均値を算出して、その結果を最適記
録パワー時のピットレベルＶｐとし、上述した式(IV)に
基づいて、記録状態目標値Ｍ０を算出し、その算出した
記録状態目標値Ｍ０を保存する（処理４１５）。

【０１３０】次に、制御部１７は、記録パワーを所定の
微小値αだけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を
設定し（処理４１６）、その状態で、サンプルホールド
信号発生器１５の動作を開始する（処理４１７）。これ
により、それにより、サンプル／ホールド回路１２は、
そのときに判定された変化点付近のサンプリングタイミ
ングで信号受光信号Ｐａをサンプリングし、サンプルホ
ールド値ＳＨとして出力する。

【０１３１】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理４１８）、そのときに欠陥検出信号ＤＤが出
力されているかどうかを調べる（判断４１９）。判断４
１９の結果がＹＥＳになるときには、直前に入力したサ
ンプルホールド値ＳＨｄは、媒体欠陥が生じている領域
から得たものであるから、その直前に入力したサンプル
ホールド値ＳＨｄを破棄して（処理４２０）、処理４１
８に戻り、次のサンプルホールド値ＳＨｄの読み込みを
行う。

【０１３２】また、判断４１９の結果がＮＯになるとき
には、適切なデータが得られているので、所定数のデー
タのサンプリングが終了したかどうかを調べ（判断４２
１）、判断４２１の結果がＮＯになるときには、処理４
１８に戻り、次のサンプルホールド値ＳＨｄの読み込み
を行う。

【０１３３】判断４２１の結果がＹＥＳになるときに
は、そのときに読み込んで得た所定数のサンプルホール
ド値ＳＨｄの値の平均値を算出して、その結果を実記録
パワー（Ｐ１）時のピットレベルＶｐとし（処理４２
２）、上述した式(V)に基づいて、参照値Ｍ１を算出
し、その算出した参照値Ｍ１を保存する（処理４２
３）。

【０１３４】そして、参照値Ｍ１が記録状態目標値Ｍ０
よりも大きくなっているかどうかを調べる（判断４２
４）。判断４２４の結果がＹＥＳになるときには、記録
パワーを微小値αだけ大きい値にするように制御信号Ｗ
Ｐの値を設定し（処理４２５）、また、判断４２４の結
果がＮＯになるときには、記録パワーを所定の微小値α
だけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を設定する
（処理４２６）。このようにして、処理４２５，４２６
により、記録パワーが最適記録状態となるように調整す
ると、処理４１７に戻り、次のサイクルの記録パワーの
制御を行う。そして、処理４１７〜処理４２６までの動
作は、データ記録動作中は繰り返して実行する。

【０１３５】このようにして、本実施例では、データ記
録前にテスト領域において試し書きして最適記録パワー
Ｐ０を得て、データ記録中は、その最適記録パワーＰ０
と同じような記録状態となるように実記録パワーＰ１を
制御しているので、記録されたデータの信頼性が向上
し、長時間の連続記録動作が行われた場合でも、安定し
た記録品質が得られる。

【０１３６】また、記録状態目標値Ｍ０を算出するため
に用いるデータは、追記型光ディスク２の欠陥領域から
得られたデータを除くので、媒体欠陥の影響を抑制する
ことができ、その結果、より信頼性の高い記録パワー制
御を行うことができる。

【０１３７】また、記録状態目標値Ｍ０を算出するため
に用いるデータのサンプリングタイミングを、そのとき
に使用する追記型光ディスク２に応じて決定するので、
より適切なデータを得ることができ、データ記録の信頼
性が向上する。

【０１３８】図１４は、本発明のさらに他の実施例にか
かる追記型光ディスク装置の要部を示している。なお、
同図において、図１と同一部分および相当する部分に
は、同一符号を付している。

【０１３９】同図において、光ピックアップ装置１は、
追記型光ディスク２にデータを記録するとともに、追記
型光ディスク２からデータを再生するためのものであ
り、その光ヘッド３には、光源となる半導体レーザ素子
４、半導体レーザ素子４の出力レベルを検出するための
出力モニタ用受光素子５、および、追記型光ディスク２
からの反射光を検出するための信号検出用受光素子６が
設けられている。なお、光ピックアップ装置１には、光
ヘッド３のレーザビームを記録トラックに焦点をあわせ
るためのフォーカシング制御手段（図示略）や光ヘッド
のレーザビームを記録トラックに追従させるためのトラ
ッキング制御手段（図示略）等も付設されている。ま
た、光ピックアップ装置１には、光ヘッド３を追記型光
ディスク２の半径方向に往復移動するシーク機構（図示
略）も設けられている。

【０１４０】出力モニタ用受光素子５から出力されるモ
ニタ受光信号Ｐｍは、電流／電圧変換アンプ８を介して
電圧信号に変換された後、再生パワー制御部９および記
録パワー制御部１０に加えられている。

【０１４１】信号検出用受光素子６から出力される信号
受光信号Ｐａは、電流／電圧変換アンプ１１を介して電
圧信号に変換された後、可変利得アンプ２８およびアシ
ンメトリ判定回路１３に加えられるとともに、再生信号
ＲＦとして、次段装置に出力される。可変利得アンプ２
８は、制御部１７から加えられる利得制御信号ＧＳによ
りその利得が制御されるものであり、その出力信号は、
再生信号ＲＦａとしてサンプル／ホールド回路１２に加
えられている。

【０１４２】周知の記録データ発生手段（図示略）から
加えられるＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏ Ｆｏｕｒｔｅｅ
ｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）変調された記録データＤＥ
は、サンプルホールド信号発生器１５および遅延回路１
６に加えられている。

【０１４３】サンプルホールド信号発生器１５は、制御
部１７から加えられるモード信号ＭＳに応じた態様で、
記録データＤＥの立ち上がりタイミングから所定サンプ
リング時間を経過したタイミングでサンプリング信号Ｓ
Ｐを出力するものであり、そのサンプリング信号ＳＰ
は、サンプル／ホールド回路１２に加えられている。

【０１４４】これにより、サンプル／ホールド回路１２
は、サンプリング信号ＳＰが加えられるタイミング（例
えば、サンプリング信号ＳＰの立ち上がりエッジ）で加
えられる再生信号ＲＦａをサンプリングし、そのサンプ
リング結果をサンプルホールド値ＳＨとしてアナログ／
デジタル変換器１８に出力する。

【０１４５】アナログ／デジタル変換器１８は、加えら
れるサンプルホールド値ＳＨを、対応するデジタル信号
に変換するものであり、その出力信号は、サンプルホー
ルド値ＳＨｄとして制御部１７に加えられている。

【０１４６】遅延回路１６は、加えられる記録データＤ
Ｅを所定の遅延時間遅らせるものであり、その出力信号
は、記録データＤＥｄとして、制御部１７およびＬＤ
（半導体レーザ素子）駆動回路２０に加えられている。

【０１４７】制御部１７は、この追記型光ディスク装置
の動作を制御するものであり、半導体レーザ素子４の再
生時の出力を指定するための制御信号ＲＰ、および、半
導体レーザ素子４の記録時の出力を指定する制御信号Ｗ
Ｐを形成し、これらの制御信号ＲＰおよび制御信号ＷＰ
をそれぞれデジタル／アナログ変換器２１およびデジタ
ル／アナログ変換器２２に出力する。

【０１４８】デジタル／アナログ変換器２１は、加えら
れる制御信号ＲＰを対応するアナログ信号に変換するも
のであり、その出力信号は、制御信号ＲＰａとして再生
パワー制御部９に加えられている。

【０１４９】デジタル／アナログ変換器２２は、加えら
れる制御信号ＷＰを対応するアナログ信号に変換するも
のであり、その出力信号は、制御信号ＷＰａとして記録
パワー制御部１０に加えられている。

【０１５０】再生パワー制御部９は、モニタ受光信号Ｐ
ｍの大きさが、制御信号ＲＰａの大きさに一致するよう
に、半導体レーザ素子４の再生時の出力を指定する再生
パワー信号ＳＳｒをＬＤ駆動部２０に出力する。

【０１５１】記録パワー制御部１０は、モニタ受光信号
Ｐｍの大きさが、制御信号ＷＰａの大きさに一致するよ
うに、半導体レーザ素子４の記録時の出力を指定する記
録パワー信号ＳＳｗをＬＤ駆動部２０に出力する。

【０１５２】ＬＤ駆動部２０は、記録データＤＥｄがマ
ーク状態（論理Ｈレベル）になっている状態では、記録
パワー信号ＳＳｗで指定された出力で半導体レーザ素子
４を駆動するとともに、記録データＤＥｄが非マーク状
態（論理Ｌレベル）になっている状態では、再生パワー
信号ＳＳｒで指定された出力で半導体レーザ素子４を駆
動するものである。すなわち、ＬＤ駆動部２０は、記録
データＤＥｄに基づき、半導体レーザ素子４の出力を、
記録パワー信号ＳＳｗに対応した記録パワーと、再生パ
ワー信号ＳＳｒに対応した再生パワーに高速にスイッチ
ングする。

【０１５３】これにより、記録データＤＥに応じて、半
導体レーザ素子４の出力が記録パワーと再生パワーに変
化し、その結果、追記型光ディスク２の記録トラックに
データが記録される。

【０１５４】また、アシンメトリ判定回路１３は、加え
られる再生信号ＲＦのゼロレベルからプラス側の振幅値
とマイナス側の振幅値を検出して、それらの振幅値に基
づき、上述した式(I)を演算して、アシンメトリを算出
するものであり、その算出結果は、アシンメトリ信号Ｓ
Ｔとして制御部１７に加えられている。

【０１５５】また、制御部１７は、この追記型光ディス
ク装置の他の要素と種々のデータをやりとりして、それ
らの要素の動作を監視および制御するとともに、この追
記型光ディスク装置を外部記憶装置として用いる外部装
置（例えば、パーソナルコンピュータ装置など）との間
で種々のデータをやりとりする。

【０１５６】以上の構成で、制御部１７は、データ記録
するときに図１５および図１６に示した動作を行う。

【０１５７】まず、追記型光ディスク２にあらかじめ設
定されている所定のテスト領域にシークし、制御信号Ｗ
Ｐを多段階に変化して半導体レーザ素子４の記録パワー
を順次変化させながら、所定のテストデータの記録デー
タＤＥを周知の記録データ発生手段（図示略）より発生
させ、それぞれの記録パワーについて、所定データ量の
データ書込動作を行う（処理５０１）。

【０１５８】次いで、おのおのの記録パワーで記録した
テストデータを、順次再生し、その再生時にアシンメト
リ判定回路１３から入力したアシンメトリ信号ＳＴを保
存して、おのおのの記録パワー毎のアシンメトリ信号Ｓ
Ｔを得る（処理５０２）。

【０１５９】そして、そのアシンメトリ信号ＳＴの値が
最小値をとる記録パワーを判定して、その記録パワーの
値を最適記録パワーＰ０に設定し（処理５０３）、その
最適記録パワーＰ０に対応した値を制御信号ＷＰにセッ
トした状態で、実際のデータ記録動作を開始する（処理
５０４）。

【０１６０】そのデータ記録動作を開始すると同時に、
サンプルホールド信号発生器１５の動作を、上述したモ
ードＳＰａを指定した状態で開始する（処理５０５）。
これにより、サンプル／ホールド回路１２は、半導体レ
ーザ素子４が記録パワーに立ち上げられている期間に出
力される信号受光信号Ｐａをサンプリングし、サンプル
ホールド値ＳＨとして出力する。

【０１６１】制御部１７は、そのときのサンプルホール
ド値ＳＨｄが所定範囲の値になるように可変利得アンプ
２８の利得を調整する（処理５０６）。そして、アナロ
グ／デジタル変換器１８により変換されるサンプルホー
ルド値ＳＨｄを読み込み（処理５０７）、その読み込ん
だ数が所定数になると、読み込んだ所定数のサンプルホ
ールド値ＳＨｄの平均値を算出して、その結果を最適記
録パワー時のピットレベルＶｐとして保存する（処理５
０８）。

【０１６２】次に、サンプルホールド信号発生器１５の
動作を、上述したモードＳＰｂにタイミング変更する
（処理５０８）。これにより、サンプル／ホールド回路
１２は、半導体レーザ素子４が再生パワーに立ち下げら
れている期間に出力される信号受光信号Ｐａをサンプリ
ングし、サンプルホールド値ＳＨとして出力する。

【０１６３】制御部１７は、そのときのサンプルホール
ド値ＳＨｄが所定範囲の値になるように可変利得アンプ
２８の利得を調整する（処理５１０）。そして、アナロ
グ／デジタル変換器１８により変換されるサンプルホー
ルド値ＳＨｄを読み込み（処理５１１）、その読み込ん
だ数が所定数になると、読み込んだ所定数のサンプルホ
ールド値ＳＨｄの平均値を算出して、その結果を最適記
録パワー時のランドレベルＶｂとして保存する（処理５
１２）。

【０１６４】このようにして、最適記録パワー（Ｐ０）
時のピットレベルＶｐとランドレベルＶｂを得ると、上
述した式(II)に基づいて、記録状態目標値Ｍ０を算出
し、その算出した記録状態目標値Ｍ０を保存する（処理
５１３）。

【０１６５】次に、制御部１７は、記録パワーを所定の
微小値αだけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を
設定する（処理５１４）。そして、サンプルホールド信
号発生器１５の動作をモードＳＰａにタイミング変更す
る（処理５１５）。これにより、サンプル／ホールド回
路１２は、半導体レーザ素子４が記録パワーに立ち上げ
られている期間に出力される信号受光信号Ｐａをサンプ
リングし、サンプルホールド値ＳＨとして出力する。

【０１６６】また、次に、制御部１７は、処理５０６で
求められた利得を可変利得アンプ２８に設定する（処理
５１６）。そして、アナログ／デジタル変換器１８によ
り変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み込み（処
理５１７）、その読み込んだ数が所定数になると、読み
込んだ所定数のサンプルホールド値ＳＨｄの平均値を算
出して、その結果を実記録パワー時のピットレベルＶｐ
として保存する（処理５１８）。

【０１６７】次に、制御部１７は、サンプルホールド信
号発生器１５の動作を、モードＳＰｂにタイミング変更
する（処理５１９）。これにより、サンプル／ホールド
回路１２は、半導体レーザ素子４が再生パワーに立ち下
げられている期間に出力される信号受光信号Ｐａをサン
プリングし、サンプルホールド値ＳＨとして出力する。

【０１６８】また、次に、制御部１７は、処理５１０で
求められた利得を可変利得アンプ２８に設定する（処理
５２０）。そして、アナログ／デジタル変換器１８によ
り変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み込み（処
理５２１）、その読み込んだ数が所定数になると、読み
込んだ所定数のサンプルホールド値ＳＨｄの平均値を算
出して、その結果を実記録パワー時のランドレベルＶｂ
として保存する（処理５２２）。

【０１６９】このようにして、実記録パワー（Ｐ１）時
のピットレベルＶｐとランドレベルＶｂを得ると、上述
した式(III)に基づいて、参照値Ｍ１を算出する（処理
５２３）。

【０１７０】そして、参照値Ｍ１が記録状態目標値Ｍ０
よりも大きくなっているかどうかを調べる（判断５２
４）。判断５２４の結果がＹＥＳになるときには、記録
パワーを微小値αだけ大きい値にするように制御信号Ｗ
Ｐの値を設定し（処理５２５）、また、判断５２４の結
果がＮＯになるときには、記録パワーを所定の微小値α
だけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を設定する
（処理５２６）。このようにして、処理５２５，５２６
により、記録パワーが最適記録状態となるように調整す
ると、処理５１５に戻り、次のサイクルの記録パワーの
制御を行う。そして、処理５１５〜処理５２６までの動
作は、データ記録動作中は繰り返して実行する。

【０１７１】このようにして、本実施例では、データ記
録前にテスト領域において試し書きして最適記録パワー
Ｐ０を得て、データ記録中は、その最適記録パワーＰ０
と同じような記録状態となるように実記録パワーＰ１を
制御しているので、記録されたデータの信頼性が向上
し、長時間の連続記録動作が行われた場合でも、安定し
た記録品質が得られる。

【０１７２】また、データをサンプリングするときに、
可変利得アンプ２８の利得を調整して、適切な値にレベ
ルを調整しているので、適切なデータを得ることがで
き、データ記録の信頼性が向上する。

【０１７３】ところで、上述した記録状態目標値Ｍ０の
値は、最適記録パワーＰ０の大きさに応じて、図１７に
示すように単調的に変化する場合と、図１８に示すよう
に非単調的に変化する場合がある。このような減少は、
追記型光ディスク２の特性が原因すると考えられる。

【０１７４】このように、記録状態目標値Ｍ０が最適記
録パワーＰ０の大きさに応じて単調変化するような追記
型光ディスク２を用いるときには、これまでに説明した
実施例のように、実記録時に参照値Ｍ１を求めて、その
参照値Ｍ１と記憶状態目標値Ｍ０の比較結果に基づいた
記録パワー制御が有効である。

【０１７５】それに対し、記録状態目標値Ｍ０が最適記
録パワーＰ０の大きさに応じて単調変化しない追記型光
ディスク２を用いるときには、これまでに説明した実施
例のように、実記録時に参照値Ｍ１を求めて、その参照
値Ｍ１と記憶状態目標値Ｍ０の比較結果に基づいた記録
パワー制御を行うと、記録パワーが適切な値に制御され
ないおそれがある。

【０１７６】この場合の記録処理の一例を図１９、図２
０および図２１に示す。なお、この記録処理は、図１に
示した装置の制御部１７が実行する処理である。

【０１７７】まず、サンプルホールド信号発生器１５の
動作を、モードＳＰａを指定した状態で開始する（処理
６０１）。これにより、サンプル／ホールド回路１２
は、半導体レーザ素子４が記録パワーに立ち上げられて
いる期間に出力される信号受光信号Ｐａをサンプリング
し、サンプルホールド値ＳＨとして出力する。

【０１７８】次に、制御部１７は、テストデータを記録
していない記録パワーを選択してその記録パワーに対応
した値に制御信号ＷＰの値を設定し（処理６０２）、所
定のテストデータの記録データＤＥを周知の記録データ
発生手段（図示略）より発生させ、所定のテスト領域
に、そのテストデータを記録し（処理６０３）、そのと
きのアナログ／デジタル変換器１８により変換されるサ
ンプルホールド値ＳＨｄを読み込み（処理６０４）、そ
の読み込んだ数が所定数になると、読み込んだ所定数の
サンプルホールド値ＳＨｄの平均値を算出して、その結
果を、その記録パワーにおけるピットレベルＶｐとして
保存する（処理６０５）。

【０１７９】そして、全ての記録パワーについての処理
が終了したかどうかを調べて（判断６０６）、判断６０
６の結果がＮＯになるときには、処理６０２に戻り、次
の記録パワーについて同様の動作を行う。

【０１８０】判断６０６の結果がＹＥＳになるときに
は、記録パワーの大きさ順にピットレベルＶｐの値を並
べて、ピットレベルＶｐが単調増加しているかどうかを
調べる（処理６０７、判断６０８）。ここで、ピットレ
ベルＶｐが単調増加性を示しているということは、記録
状態目標値Ｍ０が単調増加性を示すことと同じ意味であ
る。

【０１８１】判断６０８の結果がＮＯになるときには、
おのおのの記録パワーでテスト領域に記録したテストデ
ータを、順次再生し、その再生時にアシンメトリ判定回
路１３から入力したアシンメトリ信号ＳＴを保存して、
おのおのの記録パワー毎のアシンメトリ信号ＳＴを得る
（処理６０９）。

【０１８２】そして、そのアシンメトリ信号ＳＴの値が
最小値をとる記録パワーを判定して、その記録パワーの
値を最適記録パワーＰ０に設定し（処理６１０）、その
最適記録パワーＰ０に対応した値を制御信号ＷＰにセッ
トした状態で、実際のデータ記録動作を開始する（処理
６１１）。そして、記録動作中は、その最適記録パワー
Ｐ０に、記録パワーを固定する（処理６１２）。

【０１８３】また、判断６０８の結果がＹＥＳになると
きには、おのおのの記録パワーでテスト領域に記録した
テストデータを、順次再生し、その再生時にアシンメト
リ判定回路１３から入力したアシンメトリ信号ＳＴを保
存して、おのおのの記録パワー毎のアシンメトリ信号Ｓ
Ｔを得る（処理６１３）。

【０１８４】そして、そのアシンメトリ信号ＳＴの値が
最小値をとる記録パワーを判定して、その記録パワーの
値を最適記録パワーＰ０に設定し（処理６１４）、その
最適記録パワーＰ０に対応した値を制御信号ＷＰにセッ
トした状態で、実際のデータ記録動作を開始する（処理
６１５）。

【０１８５】そのデータ記録動作を開始すると同時に、
サンプルホールド信号発生器１５の動作を、上述したモ
ードＳＰａを指定した状態で開始する（処理１０５）。
これにより、サンプル／ホールド回路１２は、半導体レ
ーザ素子４が記録パワーに立ち上げられている期間に出
力される信号受光信号Ｐａをサンプリングし、サンプル
ホールド値ＳＨとして出力する。

【０１８６】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理６１７）、その読み込んだ数が所定数になる
と、読み込んだ所定数のサンプルホールド値ＳＨｄの平
均値を算出して、その結果を最適記録パワー時のピット
レベルＶｐとして保存する（処理６１８）。

【０１８７】次に、制御部１７は、サンプルホールド信
号発生器１５の動作を、上述したモードＳＰｂにタイミ
ング変更する（処理６１９）。これにより、サンプル／
ホールド回路１２は、半導体レーザ素子４が再生パワー
に立ち下げられている期間に出力される信号受光信号Ｐ
ａをサンプリングし、サンプルホールド値ＳＨとして出
力する。

【０１８８】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理６２０）、その読み込んだ数が所定数になる
と、読み込んだ所定数のサンプルホールド値ＳＨｄの平
均値を算出して、その結果を最適記録パワー時のランド
レベルＶｂとして保存する（処理６２１）。

【０１８９】このようにして、最適記録パワー（Ｐ０）
時のピットレベルＶｐとランドレベルＶｂを得ると、上
述した式(II)に基づいて、記録状態目標値Ｍ０を算出
し、その算出した記録状態目標値Ｍ０を保存する（処理
６２２）。

【０１９０】次に、制御部１７は、記録パワーを所定の
微小値αだけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を
設定する（処理６２３）。そして、サンプルホールド信
号発生器１５の動作をモードＳＰａにタイミング変更す
る（処理６２４）。これにより、サンプル／ホールド回
路１２は、半導体レーザ素子４が記録パワーに立ち上げ
られている期間に出力される信号受光信号Ｐａをサンプ
リングし、サンプルホールド値ＳＨとして出力する。

【０１９１】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理６２５）、その読み込んだ数が所定数になる
と、読み込んだ所定数のサンプルホールド値ＳＨｄの平
均値を算出して、その結果を実記録パワー時のピットレ
ベルＶｐとして保存する（処理６２６）。

【０１９２】次に、制御部１７は、サンプルホールド信
号発生器１５の動作を、モードＳＰｂにタイミング変更
する（処理６２７）。これにより、サンプル／ホールド
回路１２は、半導体レーザ素子４が再生パワーに立ち下
げられている期間に出力される信号受光信号Ｐａをサン
プリングし、サンプルホールド値ＳＨとして出力する。

【０１９３】制御部１７は、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込み（処理６２８）、その読み込んだ数が所定数になる
と、読み込んだ所定数のサンプルホールド値ＳＨｄの平
均値を算出して、その結果を実記録パワー時のランドレ
ベルＶｂとして保存する（処理６２９）。

【０１９４】このようにして、実記録パワー（Ｐ１）時
のピットレベルＶｐとランドレベルＶｂを得ると、上述
した式(III)に基づいて、参照値Ｍ１を算出する（処理
６３０）。

【０１９５】そして、参照値Ｍ１が記録状態目標値Ｍ０
よりも大きくなっているかどうかを調べる（判断６３
１）。判断６３１の結果がＹＥＳになるときには、記録
パワーを微小値αだけ大きい値にするように制御信号Ｗ
Ｐの値を設定し（処理６３２）、また、判断６３１の結
果がＮＯになるときには、記録パワーを所定の微小値α
だけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を設定する
（処理６３２）。このようにして、処理６３１，６３２
により、記録パワーが最適記録状態となるように調整す
ると、処理６２４に戻り、次のサイクルの記録パワーの
制御を行う。そして、処理６２４〜処理６３３までの動
作は、データ記録動作中は繰り返して実行する。

【０１９６】このようにして、本実施例では、記録状態
目標値Ｍ０が記録パワーに応じて単調変化しない場合に
は、最適記録パワーＰ０を保持しているので、追記型光
ディスク２の特性に応じて、適切な記録パワー制御を行
うことができる。

【０１９７】図２２および図２３は、データ記録処理の
さらに他の例を示している。なお、このデータ記録処理
は、図１の装置の制御部１７が実行するものである。

【０１９８】まず、追記型光ディスク２にあらかじめ設
定されている所定のテスト領域にシークし、制御信号Ｗ
Ｐを多段階に変化して半導体レーザ素子４の記録パワー
を順次変化させながら、所定のテストデータの記録デー
タＤＥを周知の記録データ発生手段（図示略）より発生
させ、それぞれの記録パワーについて、所定データ量の
データ書込動作を行う（処理７０１）。

【０１９９】次いで、おのおのの記録パワーで記録した
テストデータを、順次再生し、その再生時にアシンメト
リ判定回路１３から入力したアシンメトリ信号ＳＴを保
存して、おのおのの記録パワー毎のアシンメトリ信号Ｓ
Ｔを得る（処理７０２）。

【０２００】そして、そのアシンメトリ信号ＳＴの値が
最小値をとる記録パワーを判定して、その記録パワーの
値を最適記録パワーＰ０に設定し（処理７０３）、その
最適記録パワーＰ０に対応した値を制御信号ＷＰにセッ
トした状態で、実際のデータ記録動作を開始する（処理
７０４）。

【０２０１】そのデータ記録動作を開始すると同時に、
サンプルホールド信号発生器１５の動作を、上述したモ
ードＳＰａを指定した状態で開始する（処理７０５）。
これにより、サンプル／ホールド回路１２は、半導体レ
ーザ素子４が記録パワーに立ち上げられている期間に出
力される信号受光信号Ｐａをサンプリングし、サンプル
ホールド値ＳＨとして出力する。

【０２０２】制御部１７は、追記型光ディスク２の１回
転に相当する時間がセットされている１回転タイマＴＭ
１をスタートさせ（処理７０６）、このタイマＴＭ１が
タイムアウトするまでの間、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込む（処理７０７、判断７０８のＮＯループ）。判断７
０８の結果がＹＥＳになると、そのときに読み込んだサ
ンプルホールド値ＳＨｄの値の平均値を算出して、その
結果を最適記録パワー時のピットレベルＶｐとして保存
する（処理７０９）。

【０２０３】このようにして、最適記録パワー（Ｐ０）
時のピットレベルＶｐを得ると、上述した式(IV)に基づ
いて、記録状態目標値Ｍ０を算出し、その算出した記録
状態目標値Ｍ０を保存する（処理７１０）。

【０２０４】次に、制御部１７は、記録パワーを所定の
微小値αだけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を
設定し（処理７１１）、その状態で、サンプルホールド
信号発生器１５の動作を、上述したモードＳＰａを指定
した状態で開始する（処理７１２）。これにより、サン
プル／ホールド回路１２は、半導体レーザ素子４が記録
パワーに立ち上げられている期間に出力される信号受光
信号Ｐａをサンプリングし、サンプルホールド値ＳＨと
して出力する。

【０２０５】制御部１７は、追記型光ディスク２の１回
転に相当する時間がセットされている１回転タイマＴＭ
１をスタートさせ（処理７１３）、このタイマＴＭ１が
タイムアウトするまでの間、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込む（処理７１４、判断７１５のＮＯループ）。判断７
１５の結果がＹＥＳになると、そのときに読み込んだサ
ンプルホールド値ＳＨｄの値の平均値を算出して、その
結果を実記録パワー時のピットレベルＶｐとして保存す
る（処理７１６）。

【０２０６】このようにして、実記録パワー（Ｐ１）時
のピットレベルＶｐを得ると、上述した式(V)に基づい
て、参照値Ｍ１を算出し、その算出した参照値Ｍ１を保
存する（処理７１７）。

【０２０７】そして、参照値Ｍ１が記録状態目標値Ｍ０
よりも大きくなっているかどうかを調べる（判断７１
８）。判断７１８の結果がＹＥＳになるときには、記録
パワーＰ１を微小値αだけ大きい値にするように制御信
号ＷＰの値を設定し（処理７１８）、また、判断７１８
の結果がＮＯになるときには、記録パワーＰ１を所定の
微小値αだけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を
設定する（処理７２０）。

【０２０８】このようにして、処理７１９，７２０によ
り、記録パワーＰ１が最適記録状態となるように調整す
ると、調整後の記録パワーＰ１の値が、最適記録パワー
Ｐ０に所定値β（＞α）を加えた値よりも大きくなって
いるかどうかを調べる（判断７２１）。判断７２１の結
果がＹＥＳになるときには、調整後の値が過大な値とな
っているので、記録パワーＰ１の値を、最適記録パワー
Ｐ０に所定値βを加えた値に設定して（処理７２２）、
処理７１２に戻り、次のサイクルの記録パワーの制御を
行う。

【０２０９】また、判断７２１の結果がＮＯになるとき
には、調整後の記録パワーＰ１の値が、最適記録パワー
Ｐ０から所定値βを減じた値よりも小さくなっているか
どうかを調べる（判断７２３）。判断７２３の結果がＹ
ＥＳになるときには、調整後の値が過小な値となってい
るので、記録パワーＰ１の値を、最適記録パワーＰ０か
ら所定値βを減じた値に設定して（処理７２４）、処理
７１２に戻り、次のサイクルの記録パワーの制御を行
う。

【０２１０】また、判断７２３の結果がＮＯになるとき
には、調整後の記録パワーＰ１の値が、適切な範囲
（（Ｐ０±β））に含まれている場合なので、そのまま
の状態で、処理７１２に戻り、次のサイクルの記録パワ
ーの制御を行う。そして、処理７１２〜処理７２４まで
の動作は、データ記録動作中は繰り返して実行する。

【０２１１】このようにして、本実施例では、記録パワ
ーＰ１の大きさを、所定の範囲（（Ｐ０±β））に制限
しているので、回路の不良などが原因となり、極端に異
常なパワーで記録動作が行われるような事態を回避する
ことができる。

【０２１２】ところで、追記型光ディスク２にデータ記
録動作を行っていると、その記録動作の時間に応じて温
度が上昇するので、上述した記録パワーＰ１の設定範囲
を規定する値βは、最適記録パワーＰ０を決定したとき
から、実記録パワーＰ１の設定までの温度変化に応じて
設定することが好ましい。

【０２１３】この場合のデータ記録時の処理例を図２４
および図２５に示す。

【０２１４】まず、追記型光ディスク２にあらかじめ設
定されている所定のテスト領域にシークし、制御信号Ｗ
Ｐを多段階に変化して半導体レーザ素子４の記録パワー
を順次変化させながら、所定のテストデータの記録デー
タＤＥを周知の記録データ発生手段（図示略）より発生
させ、それぞれの記録パワーについて、所定データ量の
データ書込動作を行う（処理８０１）。

【０２１５】次いで、おのおのの記録パワーで記録した
テストデータを、順次再生し、その再生時にアシンメト
リ判定回路１３から入力したアシンメトリ信号ＳＴを保
存して、おのおのの記録パワー毎のアシンメトリ信号Ｓ
Ｔを得る（処理８０２）。

【０２１６】そして、そのアシンメトリ信号ＳＴの値が
最小値をとる記録パワーを判定して、その記録パワーの
値を最適記録パワーＰ０に設定し（処理８０３）、その
最適記録パワーＰ０に対応した値を制御信号ＷＰにセッ
トした状態で、実際のデータ記録動作を開始する（処理
８０４）。

【０２１７】そのデータ記録動作を開始すると同時に、
サンプルホールド信号発生器１５の動作を、上述したモ
ードＳＰａを指定した状態で開始する（処理８０５）。
これにより、サンプル／ホールド回路１２は、半導体レ
ーザ素子４が記録パワーに立ち上げられている期間に出
力される信号受光信号Ｐａをサンプリングし、サンプル
ホールド値ＳＨとして出力する。

【０２１８】制御部１７は、追記型光ディスク２の１回
転に相当する時間がセットされている１回転タイマＴＭ
１をスタートさせ（処理８０６）、このタイマＴＭ１が
タイムアウトするまでの間、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込む（処理８０７、判断８０８のＮＯループ）。判断８
０８の結果がＹＥＳになると、そのときに読み込んだサ
ンプルホールド値ＳＨｄの値の平均値を算出して、その
結果を最適記録パワー時のピットレベルＶｐとして保存
する（処理８０９）。

【０２１９】このようにして、最適記録パワー（Ｐ０）
時のピットレベルＶｐを得ると、上述した式(IV)に基づ
いて、記録状態目標値Ｍ０を算出し、その算出した記録
状態目標値Ｍ０を保存する（処理８１０）。それととも
に、適宜に設けられている温度センサ（図示略）の検出
温度を入力して、温度ＴＡとして保存する（処理８１
１）。

【０２２０】次に、制御部１７は、記録パワーを所定の
微小値αだけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を
設定し（処理８１２）、その状態で、サンプルホールド
信号発生器１５の動作を、上述したモードＳＰａを指定
した状態で開始する（処理８１３）。これにより、サン
プル／ホールド回路１２は、半導体レーザ素子４が記録
パワーに立ち上げられている期間に出力される信号受光
信号Ｐａをサンプリングし、サンプルホールド値ＳＨと
して出力する。

【０２２１】制御部１７は、追記型光ディスク２の１回
転に相当する時間がセットされている１回転タイマＴＭ
１をスタートさせ（処理８１４）、このタイマＴＭ１が
タイムアウトするまでの間、アナログ／デジタル変換器
１８により変換されるサンプルホールド値ＳＨｄを読み
込む（処理８１５、判断８１６のＮＯループ）。判断８
１６の結果がＹＥＳになると、そのときに読み込んだサ
ンプルホールド値ＳＨｄの値の平均値を算出して、その
結果を実記録パワー時のピットレベルＶｐとして保存す
る（処理８１７）。

【０２２２】このようにして、実記録パワー（Ｐ１）時
のピットレベルＶｐを得ると、上述した式(V)に基づい
て、参照値Ｍ１を算出し、その算出した参照値Ｍ１を保
存する（処理８１８）。また、温度センサの検出温度を
入力して、温度ＴＢとして保存し（処理８１９）、温度
ＴＡと温度ＴＢの差分に基づいて、値βの大きさを決定
する（処理８２０）。なお、この値βの決定方法として
は、例えば、温度ＴＡと温度ＴＢの差分の大きさの範囲
毎に、値βの大きさをあらかじめ実験などにより求め、
その実験値に基づいて決定するという方法を用いること
ができる。また、実験に基づいた関数を形成し、その関
数を用いることで決定することもできる。

【０２２３】そして、参照値Ｍ１が記録状態目標値Ｍ０
よりも大きくなっているかどうかを調べる（判断８２
１）。判断８２１の結果がＹＥＳになるときには、記録
パワーＰ１を微小値αだけ大きい値にするように制御信
号ＷＰの値を設定し（処理８２２）、また、判断８２１
の結果がＮＯになるときには、記録パワーＰ１を所定の
微小値αだけ小さい値にするように制御信号ＷＰの値を
設定する（処理８２３）。

【０２２４】このようにして、処理８２２，８２３によ
り、記録パワーＰ１が最適記録状態となるように調整す
ると、調整後の記録パワーＰ１の値が、最適記録パワー
Ｐ０に所定値β（＞α）を加えた値よりも大きくなって
いるかどうかを調べる（判断８２４）。判断８２４の結
果がＹＥＳになるときには、調整後の値が過大な値とな
っているので、記録パワーＰ１の値を、最適記録パワー
Ｐ０に所定値βを加えた値に設定して（処理８２５）、
処理８１３に戻り、次のサイクルの記録パワーの制御を
行う。

【０２２５】また、判断８２４の結果がＮＯになるとき
には、調整後の記録パワーＰ１の値が、最適記録パワー
Ｐ０から所定値βを減じた値よりも小さくなっているか
どうかを調べる（判断８２６）。判断８２６の結果がＹ
ＥＳになるときには、調整後の値が過小な値となってい
るので、記録パワーＰ１の値を、最適記録パワーＰ０か
ら所定値βを減じた値に設定して（処理８２７）、処理
８１３に戻り、次のサイクルの記録パワーの制御を行
う。

【０２２６】また、判断８２６の結果がＮＯになるとき
には、調整後の記録パワーＰ１の値が、適切な範囲
（（Ｐ０±β））に含まれている場合なので、そのまま
の状態で、処理８１３に戻り、次のサイクルの記録パワ
ーの制御を行う。そして、処理８１３〜処理８２７まで
の動作は、データ記録動作中は繰り返して実行する。

【０２２７】このようにして、本実施例では、記録パワ
ーＰ１の大きさを、所定の範囲（（Ｐ０±β））に制限
するとともに、βの値を温度変化に応じて設定している
ので、回路の不良などが原因となり、極端に異常なパワ
ーで記録動作が行われるような事態を回避することがで
きる。

【０２２８】なお、本発明は、いわゆるＣＤ−Ｒ装置の
ような追記型光ディスク装置についても、同様にして適
用することができる。また、上述した実施例では、デー
タ変調方式としてＥＦＭを用いる場合について説明した
が、本発明は、他のデータ変調方式を用いる場合につい
ても同様にして適用することができる。

【０２２９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
データ記録前にテスト領域において試し書きして最適記
録パワーを得て、データ記録中は、その最適記録パワー
と同じような記録状態となるように実記録パワーを制御
しているので、記録されたデータの信頼性が向上し、長
時間の連続記録動作が行われた場合でも、安定した記録
品質が得られるという効果を得る。

【０２３０】また、記録状態目標値を算出するために、
追記型光ディスクの１回転に相当する期間サンプリング
したデータに基づいて行っているので、サンプリングデ
ータのばらつきの影響を抑制でき、より信頼性の高い記
録パワー制御を行うことができるという効果も得る。

【０２３１】また、記録状態目標値を算出するために用
いるデータは、追記型光ディスクの欠陥領域から得られ
たデータを除くので、媒体欠陥の影響を抑制することが
でき、その結果、より信頼性の高い記録パワー制御を行
うことができるという効果を得る。

【０２３２】また、記録状態目標値を算出するために用
いるデータのサンプリングタイミングを、そのときに使
用する追記型光ディスクに応じて決定するので、より適
切なデータを得ることができ、データ記録の信頼性が向
上するという効果も得る。

【０２３３】また、データをサンプリングするときに、
可変利得アンプの利得を調整して、適切な値にレベルを
調整しているので、適切なデータを得ることができ、デ
ータ記録の信頼性が向上するという効果も得る。

【０２３４】また、記録状態目標値が記録パワーに応じ
て単調変化しない場合には、最適記録パワーを保持して
いるので、追記型光ディスクの特性に応じて、適切な記
録パワー制御を行うことができるという効果を得る。

【０２３５】また、実記録パワーの大きさを、所定の範
囲に制限しているので、回路の不良などが原因となり、
極端に異常なパワーで記録動作が行われるような事態を
回避することができるという効果を得る。

【０２３６】また、本実施例では、実記録パワーの大き
さを、所定の範囲（（Ｐ０±β））に制限するととも
に、βの値を温度変化に応じて設定しているので、回路
の不良などが原因となり、極端に異常なパワーで記録動
作が行われるような事態を回避することができるという
効果を得る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例にかかる追記型光ディスク装
置の要部を示すブロック図。

【図２】データ記録処理の一例の一部を示したフローチ
ャート。

【図３】データ記録処理の一例の他の部分を示したフロ
ーチャート。

【図４】サンプリングモードを例示した波形図。

【図５】データ記録処理の他の例を示したフローチャー
ト。

【図６】本発明の他の実施例にかかる追記型光ディスク
装置の要部を示したブロック図。

【図７】データ記録処理のさらに他の例の一部を示した
フローチャート。

【図８】データ記録処理のさらに他の例の他の部分を示
したフローチャート。

【図９】追記型光ディスクからの反射光強度の変化の一
例を示したグラフ図。

【図１０】サンプリングタイミングの変化を説明するた
めの波形図。

【図１１】Ｖｐの変化点を説明するためのグラフ図。

【図１２】データ記録処理のまたさらに他の例の一部を
示したフローチャート。

【図１３】データ記録処理のまたさらに他の例の他の部
分を示したフローチャート。

【図１４】本発明のさらに他の実施例にかかる追記型光
ディスク装置の要部を示したブロック図。

【図１５】データ記録処理の別の例の一部を示したフロ
ーチャート。

【図１６】データ記録処理の別の例の他の部分を示した
フローチャート。

【図１７】Ｍ０の単調性を説明するためのグラフ図。

【図１８】Ｍ０の非単調性を説明するためのグラフ図。

【図１９】データ記録処理のまた別の例の一部を示した
フローチャート。

【図２０】データ記録処理のまた別の例の他の部分を示
したフローチャート。

【図２１】データ記録処理のまた別の例の残りの部分を
示したフローチャート。

【図２２】データ記録処理のさらに別の例の一部を示し
たフローチャート。

【図２３】データ記録処理のさらに別の例の他の部分を
示したフローチャート。

【図２４】データ記録処理のまたさらに別の例の一部を
示したフローチャート。

【図２５】データ記録処理のまたさらに別の例の他の部
分を示したフローチャート。

【図２６】アシンメトリを説明するための波形図。

【符号の説明】

１７ 制御部

Claims (18)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源の半導体レーザ素子の記録パワーを
   多段階に制御する記録パワー制御手段と、 記録時の光ディスクからの反射光を検出する反射光検出
   手段と、 光ディスクからの再生信号のアシンメトリを検出するア
   シンメトリ検出手段を備え、記録時の上記反射光検出手
   段の検出信号に基づいて、光ディスクに対するデータ記
   録状態を判別する追記型光ディスク装置において、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
   定されているテスト領域に、上記記録パワー制御手段に
   より記録パワーを多段階に切り替えながらテストデータ
   を記録し、おのおのの記録パワー毎に記録したテストデ
   ータを再生したときに、上記アシンメトリ検出手段が検
   出したアシンメトリに応じてデータ記録時の最適記録パ
   ワーを決定し、 実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記
   録を開始し、データ記録開始直後に上記反射光検出手段
   の検出信号に基づいて記録状態目標値を算出し、それ以
   降、上記反射光検出手段の検出信号に基づいて算出した
   記録状態指数が上記記録状態目標値に一致するように、
   上記記録パワー制御手段の記録パワーを調整することを
   特徴とする追記型光ディスク装置。
2. 【請求項２】 光源の半導体レーザ素子の記録パワーを
   多段階に制御する記録パワー制御手段と、 記録時の光ディスクからの反射光を検出する反射光検出
   手段と、 光ディスクからの再生信号のアシンメトリを検出するア
   シンメトリ検出手段を備え、記録時の上記反射光検出手
   段の検出信号に基づいて、光ディスクに対するデータ記
   録状態を判別する追記型光ディスク装置において、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
   定されているテスト領域に、上記記録パワー制御手段に
   より記録パワーを多段階に切り替えながらテストデータ
   を記録し、おのおのの記録パワー毎に記録したテストデ
   ータを再生したときに、上記アシンメトリ検出手段が検
   出したアシンメトリに応じてデータ記録時の最適記録パ
   ワーを決定し、 実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記
   録を開始し、データ記録開始直後の少なくとも光ディス
   クの１回転期間中に上記反射光検出手段から得られた複
   数の検出信号に基づいて記録状態目標値を算出し、それ
   以降、上記反射光検出手段の検出信号に基づいて算出し
   た記録状態指数が上記記録状態目標値に一致するよう
   に、上記記録パワー制御手段の記録パワーを調整するこ
   とを特徴とする追記型光ディスク装置。
3. 【請求項３】 データ記録中における前記記録状態指数
   の算出は、少なくとも光ディスクの１回転期間中に前記
   反射光検出手段から得られた複数の検出信号に基づいて
   行うことを特徴とする請求項２記載の追記型光ディスク
   装置。
4. 【請求項４】 光源の半導体レーザ素子の記録パワーを
   多段階に制御する記録パワー制御手段と、 記録時の光ディスクからの反射光を検出する反射光検出
   手段と、 光ディスクからの再生信号のアシンメトリを検出するア
   シンメトリ検出手段を備え、記録時の上記反射光検出手
   段の検出信号に基づいて、光ディスクに対するデータ記
   録状態を判別する追記型光ディスク装置において、 光ディスクからの再生信号に基づいて光ディスクに生じ
   ている欠陥を検出する欠陥検出手段を備え、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
   定されているテスト領域に、上記記録パワー制御手段に
   より記録パワーを多段階に切り替えながらテストデータ
   を記録し、おのおのの記録パワー毎に記録したテストデ
   ータを再生したときに、上記アシンメトリ検出手段が検
   出したアシンメトリに応じてデータ記録時の最適記録パ
   ワーを決定し、 実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記
   録を開始し、データ記録開始直後に上記反射光検出手段
   から得られる検出信号のうち、上記欠陥検出手段が欠陥
   を検出中に得られたもの以外の所定数の検出信号に基づ
   いて記録状態目標値を算出し、それ以降、上記反射光検
   出手段の検出信号に基づいて算出した記録状態指数が上
   記記録状態目標値に一致するように、上記記録パワー制
   御手段の記録パワーを調整することを特徴とする追記型
   光ディスク装置。
5. 【請求項５】 データ記録中における前記記録状態指数
   の算出は、前記反射光検出手段から得られる検出信号の
   うち、前記欠陥検出手段が欠陥を検出中に得られたもの
   以外の所定数の検出信号に基づいて行うことを特徴とす
   る請求項４記載の追記型光ディスク装置。
6. 【請求項６】 前記反射光検出手段は、 反射光信号を検出する受光素子と、 上記受光素子の受光信号をサンプリングするサンプルホ
   ールド回路と、 上記サンプルホールド回路のサンプリング信号の発生タ
   イミングを変化するサンプルホールド信号生成回路を備
   え、 データ記録開始直後、上記サンプルホールド信号生成回
   路により上記サンプルホールド回路のサンプリング信号
   の発生タイミングを変化させ、上記サンプルホールド回
   路から出力される信号の変化点を検出した上記サンプリ
   ング信号の発生タイミングに、上記サンプルホールド回
   路のサンプリング信号の発生タイミングを設定すること
   を特徴とする請求項１または請求項２または請求項３ま
   たは請求項４または請求項５に記載の追記型光ディスク
   装置。
7. 【請求項７】 前記反射光検出手段は、 反射光信号を検出する受光素子と、 上記受光素子の受光信号を増幅する可変利得増幅器と、 上記可変利得増幅器の出力信号をデジタル信号に変換す
   るアナログ／デジタル変換器を備え、 データ記録開始直後、上記可変利得増幅器の出力が所定
   範囲の値になるように、上記可変利得増幅器の利得を調
   整することを特徴とする請求項１または請求項２または
   請求項３または請求項４または請求項５に記載の追記型
   光ディスク装置。
8. 【請求項８】 光源の半導体レーザ素子の記録パワーを
   多段階に制御する記録パワー制御手段と、 記録時の光ディスクからの反射光を検出する反射光検出
   手段と、 光ディスクからの再生信号のアシンメトリを検出するア
   シンメトリ検出手段を備え、記録時の上記反射光検出手
   段の検出信号に基づいて、光ディスクに対するデータ記
   録状態を判別する追記型光ディスク装置において、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
   定されているテスト領域に、上記記録パワー制御手段に
   より記録パワーを多段階に切り替えながらテストデータ
   を記録し、おのおのの記録パワー毎に記録したテストデ
   ータを再生したときに、上記アシンメトリ検出手段が検
   出したアシンメトリが最小になる記録パワーをデータ記
   録時の最適記録パワーに設定するとともに、記録パワー
   に対する上記反射光検出手段の検出信号の率をあらわす
   指数が、記録パワーの変化に従って単調的に変化してい
   る単調性の有無を調べ、 上記単調性がありと判断された場合には、実際のデータ
   記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録を開始し、
   データ記録開始直後に上記反射光検出手段の検出信号に
   基づいて記録状態目標値を算出し、それ以降、上記反射
   光検出手段の検出信号に基づいて算出した記録状態指数
   が上記記録状態目標値に一致するように、上記記録パワ
   ー制御手段の記録パワーを調整し、 上記単調性がないと判断された場合には、実際のデータ
   記録中は、上記最適記録パワーを保持してデータ記録す
   ることを特徴とする追記型光ディスク装置。
9. 【請求項９】 光源の半導体レーザ素子の記録パワーを
   多段階に制御する記録パワー制御手段と、 記録時の光ディスクからの反射光を検出する反射光検出
   手段と、 光ディスクからの再生信号のアシンメトリを検出するア
   シンメトリ検出手段を備え、記録時の上記反射光検出手
   段の検出信号に基づいて、光ディスクに対するデータ記
   録状態を判別する追記型光ディスク装置において、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
   定されているテスト領域に、上記記録パワー制御手段に
   より記録パワーを多段階に切り替えながらテストデータ
   を記録し、おのおのの記録パワー毎に記録したテストデ
   ータを再生したときに、上記アシンメトリ検出手段が検
   出したアシンメトリが最小になる記録パワーをデータ記
   録時の最適記録パワーに設定するとともに、記録パワー
   に対する上記反射光検出手段の検出信号の率をあらわす
   指数が、記録パワーの変化に従って単調的に変化してい
   る単調性の有無を調べ、 上記単調性がありと判断された場合には、実際のデータ
   記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録を開始し、
   データ記録開始直後の少なくとも光ディスクの１回転期
   間中に上記反射光検出手段から得られた複数の検出信号
   に基づいて記録状態目標値を算出し、それ以降、上記反
   射光検出手段の検出信号に基づいて算出した記録状態指
   数が上記記録状態目標値に一致するように、上記記録パ
   ワー制御手段の記録パワーを調整し、 上記単調性がないと判断された場合には、実際のデータ
   記録中は、上記最適記録パワーを保持してデータ記録す
   ることを特徴とする追記型光ディスク装置。
10. 【請求項１０】 光源の半導体レーザ素子の記録パワー
    を多段階に制御する記録パワー制御手段と、 記録時の光ディスクからの反射光を検出する反射光検出
    手段と、 光ディスクからの再生信号のアシンメトリを検出するア
    シンメトリ検出手段を備え、記録時の上記反射光検出手
    段の検出信号に基づいて、光ディスクに対するデータ記
    録状態を判別する追記型光ディスク装置において、 光ディスクからの再生信号に基づいて光ディスクに生じ
    ている欠陥を検出する欠陥検出手段を備え、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
    定されているテスト領域に、上記記録パワー制御手段に
    より記録パワーを多段階に切り替えながらテストデータ
    を記録し、おのおのの記録パワー毎に記録したテストデ
    ータを再生したときに、上記アシンメトリ検出手段が検
    出したアシンメトリが最小になる記録パワーをデータ記
    録時の最適記録パワーに設定するとともに、記録パワー
    に対する上記反射光検出手段の検出信号の率をあらわす
    指数が、記録パワーの変化に従って単調的に変化してい
    る単調性の有無を調べ、 上記単調性がありと判断された場合には、実際のデータ
    記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録を開始し、
    データ記録開始直後に上記反射光検出手段から得られる
    検出信号のうち、上記欠陥検出手段が欠陥を検出中に得
    られたもの以外の所定数の検出信号に基づいて記録状態
    目標値を算出し、それ以降、上記反射光検出手段の検出
    信号に基づいて算出した記録状態指数が上記記録状態目
    標値に一致するように、上記記録パワー制御手段の記録
    パワーを調整し、 上記単調性がないと判断された場合には、実際のデータ
    記録中は、上記最適記録パワーを保持してデータ記録す
    ることを特徴とする追記型光ディスク装置。
11. 【請求項１１】 前記記録パワーの変化は、所定の範囲
    内に制限することを特徴とする請求項１または請求項２
    または請求項３または請求項４または請求項５または請
    求項６または請求項７または請求項８または請求項９ま
    たは請求項１０記載の追記型光ディスク装置。
12. 【請求項１２】 前記記録パワーの制限範囲は、前記最
    適記録パワーを設定してから記録状態指数を算出したと
    きまでの温度変化に基づいて設定することを特徴とする
    請求項１１記載の追記型光ディスク装置。
13. 【請求項１３】 記録時の反射光の大きさに基づいて、
    光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記型光
    ディスク装置の制御方法において、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
    定されているテスト領域に、記録パワーを多段階に切り
    替えながらテストデータを記録し、おのおのの記録パワ
    ー毎に記録したテストデータを再生したときに、その再
    生信号のアシンメトリに応じてデータ記録時の最適記録
    パワーを決定し、 実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記
    録を開始し、データ記録開始直後に検出した光ディスク
    から反射光に基づいて記録状態目標値を算出し、それ以
    降、適宜なタイミングで光ディスクから反射光に基づい
    て記録状態指数を算出し、その算出した記録状態指数が
    上記記録状態目標値に一致するように、記録パワーを調
    整することを特徴とする追記型光ディスク装置の制御方
    法。
14. 【請求項１４】 記録時の反射光の大きさに基づいて、
    光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記型光
    ディスク装置の制御方法において、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
    定されているテスト領域に、記録パワーを多段階に切り
    替えながらテストデータを記録し、おのおのの記録パワ
    ー毎に記録したテストデータを再生したときに、その再
    生信号のアシンメトリに応じてデータ記録時の最適記録
    パワーを決定し、 実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記
    録を開始し、データ記録開始直後の少なくとも光ディス
    クの１回転期間中に検出した光ディスクからの反射光に
    基づいて記録状態目標値を算出し、それ以降、光ディス
    クからの反射光に基づいて算出した記録状態指数が上記
    記録状態目標値に一致するように、記録パワーを調整す
    ることを特徴とする追記型光ディスク装置の制御方法。
15. 【請求項１５】 記録時の反射光の大きさに基づいて、
    光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記型光
    ディスク装置の制御方法において、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
    定されているテスト領域に、記録パワーを多段階に切り
    替えながらテストデータを記録し、おのおのの記録パワ
    ー毎に記録したテストデータを再生したときに、その再
    生信号のアシンメトリに応じてデータ記録時の最適記録
    パワーを決定し、 実際のデータ記録中は、上記最適記録パワーでデータ記
    録を開始し、データ記録開始直後に、欠陥のない領域か
    ら得た光ディスクからの反射光に基づいて記録状態目標
    値を算出し、それ以降、光ディスクからの反射光に基づ
    いて算出した記録状態指数が上記記録状態目標値に一致
    するように、記録パワーを調整することを特徴とする追
    記型光ディスク装置の制御方法。
16. 【請求項１６】 記録時の反射光の大きさに基づいて、
    光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記型光
    ディスク装置の制御方法において、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
    定されているテスト領域に、記録パワーを多段階に切り
    替えながらテストデータを記録し、おのおのの記録パワ
    ー毎に記録したテストデータを再生したときに、その再
    生信号のアシンメトリが最小になる記録パワーをデータ
    記録時の最適記録パワーに設定するとともに、記録パワ
    ーに対する上記反射光検出手段の検出信号の率をあらわ
    す指数が、記録パワーの変化に従って単調的に変化して
    いる単調性の有無を調べ、 上記単調性がありと判断された場合には、実際のデータ
    記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録を開始し、
    データ記録開始直後に検出した光ディスクから反射光に
    基づいて記録状態目標値を算出し、それ以降、適宜なタ
    イミングで光ディスクから反射光に基づいて記録状態指
    数を算出し、その算出した記録状態指数が上記記録状態
    目標値に一致するように、記録パワーを調整し、 上記単調性がないと判断された場合には、実際のデータ
    記録中は、上記最適記録パワーを保持してデータ記録す
    ることを特徴とする追記型光ディスク装置の制御方法。
17. 【請求項１７】 記録時の反射光の大きさに基づいて、
    光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記型光
    ディスク装置の制御方法において、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
    定されているテスト領域に、記録パワーを多段階に切り
    替えながらテストデータを記録し、おのおのの記録パワ
    ー毎に記録したテストデータを再生したときに、その再
    生信号のアシンメトリが最小になる記録パワーをデータ
    記録時の最適記録パワーに設定するとともに、記録パワ
    ーに対する上記反射光検出手段の検出信号の率をあらわ
    す指数が、記録パワーの変化に従って単調的に変化して
    いる単調性の有無を調べ、 上記単調性がありと判断された場合には、実際のデータ
    記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録を開始し、
    データ記録開始直後の少なくとも光ディスクの１回転期
    間中に検出した光ディスクからの反射光に基づいて記録
    状態目標値を算出し、それ以降、光ディスクからの反射
    光に基づいて算出した記録状態指数が上記記録状態目標
    値に一致するように、記録パワーを調整し、 上記単調性がないと判断された場合には、実際のデータ
    記録中は、上記最適記録パワーを保持してデータ記録す
    ることを特徴とする追記型光ディスク装置の制御方法。
18. 【請求項１８】 記録時の反射光の大きさに基づいて、
    光ディスクに対するデータ記録状態を判別する追記型光
    ディスク装置の制御方法において、 実際のデータ記録に先立ち、光ディスクの所定領域に設
    定されているテスト領域に、記録パワーを多段階に切り
    替えながらテストデータを記録し、おのおのの記録パワ
    ー毎に記録したテストデータを再生したときに、その再
    生信号のアシンメトリが最小になる記録パワーをデータ
    記録時の最適記録パワーに設定するとともに、記録パワ
    ーに対する上記反射光検出手段の検出信号の率をあらわ
    す指数が、記録パワーの変化に従って単調的に変化して
    いる単調性の有無を調べ、 上記単調性がありと判断された場合には、実際のデータ
    記録中は、上記最適記録パワーでデータ記録を開始し、
    データ記録開始直後に、欠陥のない領域から得た光ディ
    スクからの反射光に基づいて記録状態目標値を算出し、
    それ以降、光ディスクからの反射光に基づいて算出した
    記録状態指数が上記記録状態目標値に一致するように、
    記録パワーを調整し、 上記単調性がないと判断された場合には、実際のデータ
    記録中は、上記最適記録パワーを保持してデータ記録す
    ることを特徴とする追記型光ディスク装置の制御方法。