JPH09507295A - 埋込型プログラマブルセンサ較正装置 - Google Patents
埋込型プログラマブルセンサ較正装置Info
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Abstract
(57)【要約】
センサの迅速かつ安価な構成のための装置。この装置は、増幅器、スイッチ、利得回路、オフセット回路及びメモリを具備する。メモリは、スタティックRAM及びシフトレジスタを含むシリアル書込みメモリでよく、利得及びオフセット回路及び増幅器による使用のための利得及びオフセット係数を記憶する。利得及びオフセット回路は、記憶された利得及びオフセットディジタル値をアナログ等価値に変換するためのディジタル−アナログ変換器を具備することが可能である。利得及びオフセット値の計算は、まず無入力時の未補正センサ出力及びフルスケール出力を測定することによって行われる。次に、これらの値をある方程式に入れてオフセット及び利得値を計算する。
Description
【発明の詳細な説明】
埋込型プログラマブルセンサ較正装置
発明の背景
本発明は、センサの分野に関し、特にセンサの較正の分野に関する。本願は、発
明の名称「埋込み型プログラマブルセンサの較正方法(EMBEDDED PROGRAMMABLE S
ENSOR CALIBRATION METHOD)」、出願日1993年12月30日のHoneywell Inc.社に譲
渡された米国特許出願第08/175,908号の関連出願である。
電子センサの登場以来、センサの較正はセンサのエンドユーザに相当大きなコ
スト負担を課してきた。一般に、センサには、その最終用途によって3種類の較
正が必要であった。
まず、広い公差を確保するためにセンサのメーカによって初期較正が実施され
てきた。この較正プロセスは、現時点では、バイアス抵抗回路網をレーザで所望
の抵抗値に調整する作業を伴う。このプロセスは、通常、中級程度の性能の機器
を用いる場合は、何回もの試行と20秒を超える総経過時間が必要である。
次に、オリジナル装置製造業者(OEM)が、センサがその要求条件を確実に
満たす様にするための較正を実施する。この較正は、少なくとも1つの多重巻ポ
テンショメータをセンサに設け、所望の性能特性が達成されるまで周知の方法で
ポテンショメータを調節することによって行われるのが普通であった。調節後は
、エポキシ樹脂をポテンショメータに塗布して、その設定位置を固定することも
行われてきた。これは、コストがかさむプロセスであった。
最後に、センサの性能特性は、現場における使用条件によって影響される。従
って、センサをその所期の用途に設置した後、センサの性能が確実に要求条件を
満たすようにするためには、現場較正が必要であった。通常、この較正は多重巻
ポテンショメータのさらなる調節を伴うものであった。
本発明が特に関係があるセンサは流量センサである。流量センサは、例えばダ
クト中の空気の流量を測定するために、暖房、換気及び空調用としてしばしば用
いられてきた。この流量の情報は、制御対象の部屋の温度を制御するために利用
することができる。通常、このようなセンサはHVACコントローラ内に設けら
れる。そのコントローラは、通常、メモリに記憶され、クロック式論理演算装置
(ALU)によって実行される命令に基づいて動作する。コントローラ自体は、
制御対象の部屋の頭上空間内に配置されることがあった。そのため、コントロー
ラをいったん据え付けた後は、ポテンショメータの手動調節が困難な場合があっ
た。
従って、本発明の目的は、センサの較正時の工場における抵抗器のレーザトリ
ミングの必要性を事実上なくすことにある。本発明のもう一つの目的は、センサ
を較正するのにポテンショメータを用いる必要性を実質的に少なくすることにあ
る。本発明のもう一つの目的は、センサの較正コストを低減することにある。本
発明のもう一つの目的は、センサを較正するのに必要な手作業を少なくすること
にある。
発明の概要
本発明は、クロック式ALU及びメモリと共に使用するセンサを較正するため
の装置にある。本発明の装置は、センサから受信した信号を増幅する増幅器と、
センサに接続し、増幅器手段に接続した基準電圧電源と、増幅器に接続され、A
LU及びメモリに接続し、増幅器の利得を調整して既知のオフセットが得られる
よう補正するオフセット回路と、増幅器手段に接続され、ALU及びメモリに接
続し、所望のフルスケール出力に基づいて増幅器手段の利得を調整する利得回路
と、増幅器手段、利得回路及びALUに接続に接続されていて、プリアンプ出力
とプログラマブル増幅器出力を多重化するためのスイッチ手段とを具備する。
製造時には、センサのゼロ入力レベルで未較正出力を発生させ、センサの出力
電圧を記録する。次に、センサを最高入力レベルで励振し、出力電圧を再度記録
する。これらは、一般に、センサのヌル及びフルスケール特性として知られてい
る。次に、ヌル及び及びフルスケール増幅出力を所望のアナログ−ディジタル変
換器における使用可能範囲内に調節するためにプログラマブル増幅器で用いる係
数を計算する。
図面の簡単な説明
図1は、本発明のシステムを組み込んだコントローラのブロック図である。
図2は、本発明の回路のブロック図である。
図3は、典型的なセンサに接続された本発明の回路の一実施例のブロック図で
ある。
実施例の詳細な説明
図1には、本発明の装置を組み込んだコントローラ10が示されている。コン
トローラ10は、較正回路20に接続されたセンサ15を有する。較正回路20
は、アナログ−ディジタル変換器22、論理演算装置(ALU)35、メモリ2
5及び入出力ポート40に接続されている。
動作時に、センサ15は検出しようとする状態を表すセンサ信号を発生する。
センサは、ヌル入力及びフルスケール出力(FSO)変動でセンサ信号を補正す
るアルゴリズムを使用する較正回路20に接続されている。補正された回路出力
は、次にアナログ−ディジタル変換器22を介してディジタル信号としてALU
に送られる。上記アルゴリズムで使用する係数はメモリ25に記憶されている。
メモリ25は、リードオンリーメモリ及びランダムアクセスメモリを共に用いた
ものでよく、ALU35を動作させる命令も記憶される。ALU35は、マイク
ロプロセッサ、マイクロコントローラ、マイクロコンピュータ等であってもよく
、メモリから補正された信号及び命令を受け取って制御信号を発生し、その制御
信号を入出力ポート40を介して制御対象装置(図示省略)に送る。順序正しい
動作及び信号通信を確保するため、クロック30は、コントローラの全ての構成
部分で使用するタイミング信号を供給する。
図2には、本発明の較正回路20のブロック図が示されている。図示の較正回
路は、増幅器手段205、基準電圧発生器210、オフセット手段215、利得
手段220、スイッチ手段225及びメモリ230を有する。増幅器205は、
センサ信号を受信し、そのセンサ信号をALUで使用することができるレベルに
増幅する。また、増幅器205は、その信号をオフセット手段215及び利得手
段220から受信した信号に応じて増幅し、所望のスパン及びオフセット特性を
となるように出力信号を調節する。基準電圧手段210は、センサ15、増幅器
205及びオフセット手段215で用いられる基準電圧を発生する。これらの構
成部分を共通の基準電圧を用いてバイアスすることによって、温度変化によって
これらの回路が受ける基準電圧変動を同じにすることができる。従って、これら
の回路に対する温度の影響を比例的になくすことができる。
スイッチ手段225、利得手段220、及びオフセット手段215は、メモリ
230に記憶された情報によって制御される。この情報は、センサが始動される
たびにメモリ25から供給される。メモリ230は、スタティックRAM(SR
AM)、不揮発性RAM(NOVRAM)及び電気的消去可能プログラマブルR
OM(EEPROM)等の構成部分からなる。スイッチ手段225は、メモリ2
30からの入力に基づいて、増幅器手段205から補正されたセンサ信号を出力
するか、あるいは増幅されただけで未補正のセンサ信号を出力するかを制御する
。オフセット手段215は、オフセット誤差に関してセンサ信号を補正するため
に、メモリ230からそこに記憶された係数を受け取る。利得手段220は、フ
ルスケール出力信号中の誤差に対してセンサ信号を補正するために、メモリ23
0から係数を受け取る。以下、これについて図3を参照しつつさらに詳細に説明
する。
図3には、センサ15及び較正回路20のブロック図が示されている。較正回
路は、一実施形態としてさらに詳細に示されている。増幅器205は、プリアン
プ305と増幅器308を含む。プリアンプは、センサ出力信号をALUによっ
て使用可能なレベルに増幅するために用いられる。増幅器308は、所望の利得
レベルにプログラム可能であり、オフセット手段215及び利得手段220の出
力によって出力が変化する。
オフセット手段215は、ディジタル−アナログ変換器を有する。利得手段2
20は、抵抗器R1及び利得部221を有する。
メモリ230は、ディジタル−アナログ変換器メモリ部316、利得メモリ部
321及びラッチメモリ部222を有する。これらの各メモリ部は、直列書込み
メモリの形になっている。
スイッチ手段225は、スイッチ325及び326と、NOTゲートを有する
。アナログ−ディジタル変換器22は、ALUによって記憶し、使用することが
できる形に出力信号を変換するために用いられる。
一実施形態における利得部221は、所望の伝達関数を有する梯子型ディジタ
ル−アナログ変換器からなる。これは、ディジタル−アナログ変換器215につ
いても同様である。これらの変換器及び伝達関数の選択は、各特定用途における
設計での選択の問題であり、当業者にとっては周知である。本発明においては、
これらの変換器は所望の抵抗値が得られるように選択的に接続することができる
7つの抵抗器で構成されている。
センサ15は、異なる出力信号を発生するよう設計されたものであれば、どの
ようなセンサでもよい。この場合は、流量センサは、分岐抵抗器Rb1、Rb2
、Rfs1及びRfs2を有するホィーストンブリッジとして構成されている。
抵抗器Rb3は、プリアンプ305の正及び負入力に生じる差電圧のレベル切換
え手段として用いられる。センサは、例えばハネウェル(Honeywell)
のAWMシリーズの流量センサでもよい。ここで、本願で説明するセンサは、例
示説明のためのものであり、センサは、本発明の装置に接続することはできるが
、本発明の一部をなすものではないということに留意すべきである。
次に、較正時の本発明の動作について説明する。まず、シリアル書込みメモリ
の第1ビットに1を書き込むことによって、スイッチ325がイネーブルされ、
スイッチ326がディスエイブルされる。その他のビットはこの時点では無関係
である。
次に、ゼロ刺激(0入力レベル)がセンサに印加される状態にセンサを置き、
センサの出力電圧値(Vlo)をメモリに記憶する。次にセンサをフルスケール
出力が得られるレベルで刺激し、センサ出力値(Vhi)をメモリに記憶する。
そして、これら2つの値を次式に入れる。
Vr=(Vlo*Vhi-Vlo*Vo1-Vhi*Vlo+Vhi*Vo2)/(Vhi-Vo1-Vlo+Vo2)
式中、Vo2は0センサ入力時における所望電圧出力(一実施形態においては0.
50Vdc);Vo1はフルスケール出力時の所望電圧出力(一実施例においては
4.50Vdc);
Vrは所要オフセット電圧である。
次に、上式で計算したVrを用いて利得を計算することができる。
Rf=((Vhi-Vo1)*Rl)/(Vr-Vhi)
利得'=Rf/Rp
Rlの値は、プログラマブル増幅器及び利得部の所望の出力が得られるように選
択
される。そのような抵抗器を選択する方法は当業者にとっては周知であり、本願
ではRl=4990オームを選択した。
「利得'」という用語は、単にRfとRlの比を差しているに過ぎず、増幅器3
08の真の出力電圧はVo=(利得'+1)*Vin+Vr*(利得')と定義される。Vinは
プリアンプの出力である。
ここで、本発明の基本的な実施形態においてはスイッチ手段225及びラッチ
メモリ手段は必要ではないということに留意すべきである。これらの機能は、較
正時にのみセンサ出力に接続された回路によって遂行することが可能である。較
正が終了した後は、これらの機能は不要であり、外部回路は切り離すことができ
る。その場合でも、Vrと利得'の値は、本願で説明したようにしてロードするこ
とができる。
利得及びVrが求まったならば、利得'及びVrの等価十進値を計算することがで
きる。これらの値は、利得部及びアナログ−ディジタル変換器のの伝達関数及び
分解能によって決まる。この実施例の場合は、次式で与えられる。
10進(オフセット)=Int(Vref*12.8/Vr)44.8))
10進(利得)=Int((336/利得')−32+0.1)
(一実施形態の場合、Vref=5.45V)
次に、上で計算した10進コードをまずオフセットコード、次に利得コードの
順で配置し、スイッチ325をオフ、スイッチ326をオンにするために最後の
ビットを0にする。その後、これらのコードを各メモリ部に入れ、センサを所望
のヌル及びフルスケールレベルで再度刺激することによって、補正されたセンサ
出力信号をこれらの出力レベルに対してチェックする。これらの入力レベルにお
ける出力レベルが所定の基準を満たしていれば、オフセット及びゲインの10進
コードをメモリ25に記憶し、センサの使用時に用いる。
センサの始動時には、Vr及び利得'のディジタル値をメモリ25からメモリ2
30の該当するメモリ部にロードする(Vrはディジタル−アナログ変換器メモ
リ部316に、利得’は利得メモリ部321に、ディジタル1はラッチメモリ部
322に)。その後、アナログ−ディジタル変換器350に送られた補正出力信
号を図3に示す回路により利得’及びVr値によって補正する。
以上、センサ信号をオフセット及びヌル誤差に関して補正するための新規かつ
非自明なそう地に付いて説明した。当業者にとっては、本発明の範囲内において
沢山の変更・修正態様が自明であろう。上記説明は、本発明を限定するためのも
のではなく、特許請求の範囲の記載によって本発明を明確に限定するためのもの
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1. センサにおけるオフセット及びスパン誤差を補正するための装置において : センサ出力信号をオフセット誤差に対して補正するオフセット補正値及びセン サ出力信号をスパン誤差に対して補正するスパン補正値を受け取り、記憶するメ モリと; そのメモリに接続され、前記オフセット値をアナログ信号に変換するオフセッ ト手段と; 前記メモリに接続され、利得値を所望レベルのアナログ値に変換する利得手段 と; 前記センサ、前記利得手段、前記オフセット手段及び前記メモリに接続され、 前記センサ出力信号を第1の所望レベルに増幅すると共に、さらにそのセンサ出 力信号を前記利得及びオフセット値と実質的に等価であるアナログ等価信号によ って増幅する増幅器手段と; を具備した装置。 2. 前記メモリがシリアル書込みメモリである請求項1記載の装置。 3. 前記シリアル書込みメモリが: シフトレジスタに接続されたスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM )からなり、装置の始動後、シフトレジスタに連続的に一定値を供給する請求項 2記載の装置。 4. 第1と第2のSRAM及びシフトレジスタを有し、その第1のSRAM及 びシフトレジスタがそれぞれ前記オフセット値を記憶し、シフトし、前記第2の SRAM及びシフトレジスタがそれぞれ前記利得値を記憶し、シフトする請求項 3記載の装置。 5. 前記メモリ及び前記増幅器に接続され、前記メモリが、センサの較正時に 前記増幅器に前記第1の所望レベルでセンサ出力信号を出力させる値を送るスイ ッチ; をさらに具備した請求項1記載の装置。 6. 前記メモリがシリアル書込みメモリからなる請求項5記載の装置。 7. 前記シリアル書込みメモリが: シフトレジスタに接続されたスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM )からなり、装置の始動後、そのシフトレジスタに連続的に一定値を供給する請 求項6記載の装置。 8. 第1、第2及び第3のSRAM及びシフトレジスタを有し、第1のSRA M及びシフトレジスタがそれぞれ前記オフセット値を記憶し、シフトし、第2の SRAM及びシフトレジスタがそれぞれ前記利得値を記憶し、シフトし、第3の SRAM及びシフトレジスタが所望の増幅器出力を出力させるための所望のスイ ッチ値をそれぞれ記憶し、シフトする請求項7記載の装置。 9. 前記利得手段及びオフセット手段が梯子型ディジタル−アナログ変換器か らなる請求項1記載の装置。 10. 前記メモリがシリアル書込みメモリからなる請求項9記載の装置。 11. 前記シリアル書込みメモリが: シフトレジスタに接続されたスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM )からなり、装置の始動後、そのシフトレジスタに連続的に一定値を供給する請 求項10記載の装置。 12. 第1と第2のSRAM及びシフトレジスタを有し、第1のSRAM及び シフトレジスタがそれぞれ前記オフセット値を記憶し、シフトし、第2のSRA M及びシフトレジスタがそれぞれ前記利得値を記憶し、シフトする請求項11記 載の装置。 13. 前記メモリ及び増幅器に接続され、そのメモリが、センサの較正時に増 幅器に第1の所望レベルでセンサ出力信号を出力させる値を送るスイッチをさら に具備した請求項9記載の装置。 14. 前記メモリがシリアル書込みメモリからなる請求項13記載の装置。 15. 前記シリアル書込みメモリが: シフトレジスタに接続されたスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM )からなり、装置の始動後、そのシフトレジスタに連続的に一定値を供給する請 求項14記載の装置。 16. 第1、第2及び第3のSRAM及びシフトレジスタを有し、第1のSR AM及びシフトレジスタがそれぞれ前記オフセット値を記憶し、シフトし、第2 のSRAM及びシフトレジスタがそれぞれ前記利得値を記憶し、シフトし、第3 のSRAM及びシフトレジスタが所望の増幅器出力を出力させるための所望のス イッチ値をそれぞれ記憶し、シフトする請求項15記載の装置。 17. 前記増幅器手段が: センサの出力端子に接続された入力端子、及び出力端子を有する固定利得を有 するプリアンプと; そのプリアンプの出力端子に接続された第1の入力端子及び前記オフセット手 段及び利得手段に接続されていて前記アナログ等価信号を受け取るための第2の 入力端子を有し、前記アナログ等価信号の関数である補正センサ信号が発生する 出力端子を有するプログラマブル増幅器とを具備した請求項1記載の装置。 18. 前記メモリがシリアル書込みメモリからなる請求項17記載の装置。 19. 前記シリアル書込みメモリが: シフトレジスタに接続されたスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM )からなり、装置の始動後、そのシフトレジスタに連続的に一定値を供給する請 求項18記載の装置。 20. 第1と第2のSRAM及びシフトレジスタを有し、第1のSRAM及び シフトレジスタがそれぞれ前記オフセット値を記憶し、シフトし、第2のSRA M及びシフトレジスタがそれぞれ前記利得値を記憶し、シフトする請求項19記 載の装置。 21. 前記メモリ及びプリアンプの出力端子に接続され、前記メモリがセンサ の較正時に前記プリアンプの出力端子に現れた信号を装置の出力信号とならしめ る値を送るスイッチ手段をさらに具備した請求項17記載の装置。 22. 前記メモリがシリアル書込みメモリよりなる請求項21記載の装置。 23. 前記シリアル書込みメモリが: シフトレジスタに接続されたスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM )からなり、装置の始動後、そのシフトレジスタに連続的に一定値を供給する請 求項22記載の装置。 24. 第1、第2及び第3のSRAM及びシフトレジスタを有し、第1のSR AM及びシフトレジスタがそれぞれ前記オフセット値を記憶し、シフトし、第2 のSRAM及びシフトレジスタがそれぞれ前記利得値を記憶し、シフトし、第3 のSRAM及びシフトレジスタが所望の増幅器出力を出力させるための所望のス イッチ値をそれぞれ記憶し、シフトする請求項23記載の装置。 25. 前記利得手段及びオフセット手段が梯子型ディジタル−アナログ変換器 からなる請求項17記載の装置。 26. 前記メモリがシリアル書込みメモリよりなる請求項25記載の装置。 27. 前記シリアル書込みメモリが: シフトレジスタに接続されたスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM )からなり、装置の始動後、そのシフトレジスタに連続的に一定値を供給する請 求項26記載の装置。 28. 第1と第2のSRAM及びシフトレジスタを有し、第1のSRAM及び シフトレジスタがそれぞれ前記オフセット値を記憶し、シフトし、第2のSRA M及びシフトレジスタがそれぞれ前記利得値を記憶し、シフトする請求項27記 載の装置。 29. 前記メモリ及びプリアンプの出力端子に接続され、そのメモリがセンサ の較正時に前記プリアンプの出力端子に現れた信号を装置の出力信号とならしめ る値を送るスイッチ手段をさらに具備した請求項25記載の装置。 30. 前記メモリがシリアル書込みメモリよりなる請求項29記載の装置。 31. 前記シリアル書込みメモリが: シフトレジスタに接続されたスタティックランダムアクセスメモリ(SRAM )からなり、装置の始動後、前記シフトレジスタに連続的に一定値を供給する請 求項30記載の装置。 32. 第1、第2及び第3のSRAM及びシフトレジスタを有し、第1のSR AM及びシフトレジスタがそれぞれ前記オフセット値を記憶し、シフトし、第2 のSRAM及びシフトレジスタがそれぞれ前記利得値を記憶し、シフトし、第3 のSRAM及びシフトレジスタが所望の増幅器出力を出力させるための所望のス イッチ値をそれぞれ記憶し、シフトする請求項31記載の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US17591193A | 1993-12-30 | 1993-12-30 | |
US08/175,911 | 1993-12-30 | ||
PCT/US1994/014957 WO1995018357A1 (en) | 1993-12-30 | 1994-12-28 | Embedded programmable sensor calibration apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09507295A true JPH09507295A (ja) | 1997-07-22 |
Family
ID=22642174
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7518186A Pending JPH09507295A (ja) | 1993-12-30 | 1994-12-28 | 埋込型プログラマブルセンサ較正装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0737301A1 (ja) |
JP (1) | JPH09507295A (ja) |
KR (1) | KR100327809B1 (ja) |
CA (1) | CA2178936A1 (ja) |
WO (1) | WO1995018357A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007212462A (ja) * | 2006-02-08 | 2007-08-23 | Robert Bosch Gmbh | 圧力測定装置および圧力測定装置のパラメータ化方法 |
JP2009053110A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Toshiba Corp | センサ装置 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19628539A1 (de) * | 1996-07-16 | 1998-03-12 | Csb Syst Software Entwicklung | Anordnung und Verfahren zur Qualitätssicherung elektronischer Meßeinrichtungen |
DE19647897C2 (de) * | 1996-11-20 | 1998-10-01 | A B Elektronik Gmbh | Vorrichtung zum Einjustieren von Ausgangswerten oder -kurven von Drehwinkel- und Drehzahlsensoren |
EP1602907A1 (en) * | 2004-05-31 | 2005-12-07 | Gefran Sensori S.r.l. | Automatic sensor correction with feedback microprocessor |
US7591165B2 (en) | 2006-03-29 | 2009-09-22 | Tekscan Incorporated | Control circuit for sensor array and related methods |
US9052217B2 (en) * | 2012-11-09 | 2015-06-09 | Honeywell International Inc. | Variable scale sensor |
WO2016057737A1 (en) | 2014-10-10 | 2016-04-14 | Carrier Corporation | Hvac system including active sensor network calibration |
KR102252779B1 (ko) | 2019-06-28 | 2021-05-17 | 한국생산기술연구원 | 센서데이터 스마트 송수신기 및 센서데이터 스마트 송수신 방법 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2020816B (en) * | 1977-08-09 | 1983-02-02 | Micro Sensors Inc | Capacitive measuring system with automatic calibration means |
US4263803A (en) * | 1978-05-09 | 1981-04-28 | Ex-Cell-O Corporation | Calibration system and method of using same |
GB1602385A (en) * | 1978-05-15 | 1981-11-11 | Water Res Centre | Self-calibrating processing unit |
JPS6029043A (ja) * | 1983-06-20 | 1985-02-14 | Nec Corp | 定電流駆動はしご形da変換器 |
EP0439912B1 (en) * | 1989-11-30 | 1994-08-17 | Texas Instruments Incorporated | Circuit and method for normalizing detector output |
-
1994
- 1994-12-28 EP EP95906134A patent/EP0737301A1/en not_active Withdrawn
- 1994-12-28 KR KR1019960703466A patent/KR100327809B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1994-12-28 WO PCT/US1994/014957 patent/WO1995018357A1/en not_active Application Discontinuation
- 1994-12-28 JP JP7518186A patent/JPH09507295A/ja active Pending
- 1994-12-28 CA CA002178936A patent/CA2178936A1/en not_active Abandoned
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007212462A (ja) * | 2006-02-08 | 2007-08-23 | Robert Bosch Gmbh | 圧力測定装置および圧力測定装置のパラメータ化方法 |
JP2009053110A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Toshiba Corp | センサ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100327809B1 (ko) | 2002-08-08 |
WO1995018357A1 (en) | 1995-07-06 |
CA2178936A1 (en) | 1995-07-06 |
EP0737301A1 (en) | 1996-10-16 |
KR970700312A (ko) | 1997-01-08 |
AU697904B2 (en) | 1998-10-22 |
AU1446695A (en) | 1995-07-17 |
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