JPH0944284A

JPH0944284A - キーボード自動検査装置

Info

Publication number: JPH0944284A
Application number: JP7190306A
Authority: JP
Inventors: Yoshikazu Ise; 良和伊勢; Yasushi Kikuchi; 靖菊池; Makoto Seki; 真関
Original assignee: NEC Tohoku Corp
Current assignee: NEC Tohoku Corp
Priority date: 1995-07-26
Filing date: 1995-07-26
Publication date: 1997-02-14
Anticipated expiration: 2015-07-26
Also published as: JP2740471B2

Abstract

(57)【要約】【課題】複数の検査項目を一つの検査装置で行って検査
期間を短縮させる。【解決手段】被検査キーボードの各キーを個別に自動的
に押下させるキー押下手段（２６）と、このキー押下手
段（２６）によるキー押下の荷重を制御するキー押下制
御手段（１８）と、キー押下手段（２６）によって押下
されたキーによるスイッチの接点の抵抗値を測定値を測
定して予め設定値範囲内にあるかどうかを判定する抵抗
値良否判定手段（１０）と、キー押下制御手段（１８）
によるキー押下の荷重が制御されてキー押下手段（１
８）によって押下されたキーの押下の動作ストロークが
予め設定された設定値範囲内の押下の浅さ及び深さにあ
るかの良否判定を行う動作ストローク良否判定手段（１
３，１５）と、抵抗値良否手段（１０）及び動作ストロ
ーク良否判定手段（１３，１５）による良品判定結果を
被検査キーボードの各キー別に表示する表示手段（３
３）とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はキーボード自動検査
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のキーボード自動検査装置について
図面を参照して説明する。

【０００３】図５は従来のキーボード自動検査装置を示
すブロック図である。

【０００４】図５において、この従来のキーボード自動
検査装置では、検査プログラムは、制御データでＣＰＵバスバッファ
回路１０５により被試験電源部１２３のキーボード供給
電源回路１２４とキーボード供給電源１２５でＸ・Ｙマ
トリクスコネクタ１３１を通して、被検査キーボード１
３０に電圧＋５Ｖを供給する。

【０００５】次に被検査キーボード１３０のキーを打
鍵する為、検査プログラムは、ＣＰＵバスバッファ回路
１０５により、ソレノイド制御部１１８のソレノイド制
御回路１１９と安定化電源１２０により打鍵部１２６の
ソレノイド駆動回路１２７でソレノイド１２８を駆動
し、被試験部１２９の被検査キーボード１３０のキーを
打鍵する。

【０００６】すると、被検査キーボード１３０のキー
からアナログデータがキーボードコントローラ回路１１
２に入力され、これをデジタルデータに変換並びにキー
コードデータに変換しキーボードインターフェス回路１
１１で、ＣＰＵバスバッファ回路１０５を通りパーソナ
ルコンピュータ１０２のメモリ内にキーコードが送ら
れ、検査プログラムによって判定データとキーコードを
比較し判定する。

【０００７】判定結果は、検査プログラムによって判
定部１３２のディスプレイ１３３のキーボードレイアウ
ト１３４上に表示する。

【０００８】被検査キーボード１３０の全キーを上記
〜まで繰り返し検査する。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】この従来のキーボード
自動検査装置は、被検査キーボードの各キーをソレノイ
ドで自動的に打鍵し、キーのＯＮ・ＯＦＦの検査し、ま
た、キーボードコントローラ回路でキーコードの検査を
行うことができるが、キーＯＮ時の押下の浅い・深いの
入力障害を検査することができないという問題点があっ
た。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明のキーボード自動
検査装置は、被検査キーボードの各キーを個別に自動的
に押下させるキー押下手段と、このキー押下手段による
キー押下の荷重を制御するキー押下制御手段と、前記キ
ー押下手段によって押下されたキーによるスイッチの接
点の抵抗値を測定して予め設定された抵抗値範囲内にあ
るかどうかを判定する抵抗値良否判定手段と、前記キー
押下制御手段による前記キー押下の荷重が制御されて前
記キー押下手段によって押下されたキーの押下の動作ス
トロークが予め設定された設定値範囲内の押下の浅さ及
び深さにあるかどうかの良否判定を行う動作ストローク
良否判定手段と、前記抵抗値良否判定手段及び前記動作
ストローク良否判定手段による良否判定結果を前記被検
査キーボードの各キー別に表示する表示手段とを備えて
いる。

【００１１】本発明のキーボード自動検査装置は、被試
験キーボードからの出力を接続なるＸ・Ｙマトリクス部
を含む被試験部と、前記被検査キーボードのそれぞれの
キーを打鍵する定電流ソレニド及び定電流ソレノイドを
駆動する定電流ソレノイド駆動回路を含む打鍵部と、前
記被検査キーボードへ供給するための電源を発生する供
給電源発生回路と、発生した電源を被試験部へ供給する
電源供給部と、前記被検査キーボードに対する複数の検
査測定の入力を切替える切替回路を含む測定切替部と、
前記定電流ソレノイドに対する定電流を発生する定電流
電源及び定電流ソレノイド駆動回路並びに前記定電流電
源を制御する定電流ソレノイド制御回路を含む定電流ソ
レノイド荷重制御部と、前記被検査キーボードに対する
前記複数の検査測定を行うための測定回路を含む測定部
と、検査のための操作を行う操作部と、前記被検査キー
ボードの検査結果を表示するディスプレイを含む判定部
と、全体を制御するパーソナルコンピュータを含む制御
監視部とを備え、前記測定部は測定切替部を介して被試
験部にインタフェースするキーボードインタフェース回
路及び前記被検査キーボードを制御するキーボードコン
トロール回路を含む抵抗値測定部と、前記被検査キーボ
ードの各キーの押下の浅さを測定するために各キーのＯ
Ｎ／ＯＦＦをチェックするキーＯＮ・ＯＦＦチェック回
路を含むキーの押下の浅さ測定部と、前記被検査キーボ
ードの各キーの押下の深さを測定するための時間値測定
電源及び時間値測定を行う時間値測定回路を含むキーの
押下の深さ測定部とを有し、前記制御監視部は制御情報を入力するキーボードと、前
記被検査キーボードを検査するための検査プログラム及
び比較データ等を記憶しているディスクメモリと、前記
操作部，測定部，定電流ソレノイド荷重制御部，測定切
替部及び被試験電源部に接続しこれらの各部の情報の入
出力を前記パーソナルコンピュータに伝達するＣＰＵパ
スバッファ回路とを有している。

【００１２】

【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。

【００１３】図１は本発明の一実施の形態を示すブロッ
ク図である。

【００１４】図１において、本実施の形態は、被試験キ
ーボード３０からの出力を接続するＸ・Ｙマトリクス部
３１を含む被試験部２９と、被検査キーボード３０のそ
れぞれのキーを打鍵する定電流ソレノイド２８及び定電
流ソレノイド２８を駆動する定電流ソレノイド駆動回路
２７を含む打鍵部２６と、被検査キーボード３０へ供給
するための電源を発生する供給電源発生回路２４と、発
生した電源を被試験部２９へ供給する電源供給部２５
と、被検査キーボード３０に対する複数の検査測定の入
力を切替える切替回路２２を含む測定切替部２１と、定
電流ソレノイド２８に対する定電流を発生する定電流電
源２０及び定電流ソレノイド駆動回路２７並びに定電流
電源２０を制御する定電流ソレノイド制御回路１９を含
む定電流ソレノイド荷重制御部１８と、被検査キーボー
ド３０に対する複数の検査測定を行うための測定回路を
含む測定部９と、本実施の形態のキーボード自動検査装
置を操作する操作部６と、被検査キーボード３０の検査
結果を表示するディスプレイ３３を含む判定部３２と、
本実施の形態のキーボード自動検査装置全体を制御する
パーソナルコンピュータ２を含む制御監視部１とを備
え、測定部９は測定切替部２１を介して被試験部２９を
インタフェースするキーボードインタフェース回路１１
及び被検査キーボード３０を制御するキーボードコント
ロール回路１２を含む抵抗値測定部１０と、被検査キー
ボード３０の各キーの押下の浅さを測定するために各キ
ーのＯＮ／ＯＦＦチェックするキーＯＮ・ＯＦＦチェッ
ク回路１４を含むキーの押下の浅さ測定部１３と、被検
査キーボード３０の各キーの押下の深さを測定するため
の時間値測定電源１７及び時間値測定を行う時間値測定
回路１６を含むキーの押下の深さ測定部１５とを有し、
制御監視部１は制御情報を入力するキーボード３と、被
検査キーボード３０を検査するための検査プログラム及
び比較データ等を記憶しているディスクメモリ４と、操
作部６，測定部９，定電流ソレノイド荷重制御部１８，
測定切替部２１及び被試験電源部２３に接続しこれらの
各部の情報の入出力をパーソナルコンピュータ２に伝達
するＣＰＵパスバッファ回路（Ｉ／０）５とを有してい
る。

【００１５】図２は本実施の形態における被検査キーボ
ードの各キーの抵抗値の良否検査を行う手順を示す図で
ある。

【００１６】次に、本実施の形態における被検査キーボ
ードの各キーの抵抗値の良否検査を行う手順を示す図で
ある。

【００１７】ａ．制御監視部と検査プログラム起動制御監視部１のキーボード３の操作により、ディスク４
から検査プログラム及び制御データ並びに判定データを
パーソナルコンピュータ２のメモリ内に読み込まれ、操
作部６からのスタート信号待ちとなる。

【００１８】この検査プログラムの制御データは、ＣＰ
Ｕバスバッファ回路５の入出力で各回路を制御し、判定
データは、各回路からのデータを入力し、判定データと
比較する役割をもっている。

【００１９】ｂ．被検査キーボードのセット被試験部２９の所定の位置に被検査キーボード３０を置
き、Ｘ・Ｙマトリクス部３１に被検査キーボードシート
コネクタを接続し、打鍵部２６の定電流ソレノイド２８
の位置に被検査キーボード３０をセットする。

【００２０】ｃ．検査開始操作部６からスタート信号を出力する。

【００２１】ｄ．キーコードと抵抗値の良否検査検査プログラムは、制御データでＣＰＵバスバッファ
回路５により測定切替部２１の切変回路２２で被試験部
２９のＸ・Ｙマトリクス部３０を測定部９（キーコード
と抵抗値測定１０）のキーボードコントローラ回路１２
に切替え、被試験電源部２３のキーボード供給電源回路
２４と供給電源２５でＸ・Ｙマトリクス部３１を通し
て、被検査キーボード３０に電圧＋５Ｖを供給する。

【００２２】次に被検査キーボード３０のキーを打鍵
する荷重を例えば１５０ｇにセットする為、検査プログ
ラムは、ＣＰＵバスバッファ回路５により、て電流ソレ
ノイド荷重制御部１８の定電流ソレノイド制御回路１９
に制御データを送り定電流電源２０により打鍵部２６の
定電流ソレノイド駆動回路２７で定電流ソレノイド２８
を１５０ｇで被試験部２９の被検査キーボードのキーを
打鍵する。

【００２３】すると、被検査キーボード３０のキーか
らアナログデータがキーボードコントローラ回路１２に
入力され、これをデジタルデータに変換並びにキーコー
ドデータに変換しキーボードインタフェス回路１１で、
ＣＰＵバスバッファ回路５を通りパーソナルコンピュー
タ２のメモリ内にキーコードとデジタルデータが送ら
れ、検査プログラムは、デジタルデータを抵抗値に変換
し、判定データを抵抗値及びキーコードと比較し判定す
る。

【００２４】判定結果は、検査プログラムによって判
定部３２のディスプレイ３３のキーボードドレイアウト
３４上に表示する。

【００２５】被検査キーボードの全キーを上記の〜
まで繰り返し検査する。

【００２６】次に、本実施の形態における被検査キーボ
ードの各キーの抵抗値の良否検査の手順について図２を
基にして以下に説明する。

【００２７】パーソナルコンピュータ２の検査プログラ
ム（１００）により抵抗値測定の切替えの指示（１０
１）を切替回路２２で行い、キーボードコントローラ回
路切替え（１０８）を行う。

【００２８】次に、制御データ（１０２）の打鍵位置と
荷重データ出力（例えば定電流データ＝１５０ｇ）の指
示（１０３）を定電流ソレノイド制御回路１９に行い定
電流電流２０は、定電流値を定電流ソレノイド駆動回路
２７に印加し、１５０ｇで定電流ソレノイド２８を打鍵
する。

【００２９】すると、キーボードコントローラ回路１２
は、アナログ入力（１０９），アナログをデジタルに変
換（１１０），デジタル値によるキーコード変換（１１
１），キーコード・デジタル値のデータ出力（１１２）
の順に処理を行い、キーボードインターフェス回路１１
のシリアル転送（１１３）（キーコード・デジタル値）
によりパーソナルコンピュータ２のメモリ内に転送され
る。

【００３０】検査プログラムは、このデジタル値を抵抗
値に変換（１０４）し、判定データ（１０５）の抵抗値
データと判定データとの比較（１０６）を行い、判定結
果（１０７）によりディスプレイ３３のキーボードレイ
アウト３４上のキーに表示する。

【００３１】このように、本実施の形態における被検査
キーボードの各キーの抵抗値の良否検査は、キーボード
コントローラ回路１２のアナログ値をデジタル値に変換
したデータをパーソナルコンピュータ２のメモリ内に送
ることにより検査プログラムは、デジタル値を抵抗値に
変換し、判定データと比較し判断することができる。

【００３２】図３は本実施の形態における被検査キーボ
ードの各キーの押下の浅さの良否検査を行う手順を示す
図である。

【００３３】次に、本実施の形態における被検査キーボ
ードの各キーの押下の浅さの良否検査の動作について、
図１，図３を参照して説明する。

【００３４】ｅ．キーＯＮ時押下の浅い良否検査検査プログラムは、制御データでＣＰＵバスバッファ
回路５により測定切替部２１の切替回路２２で被試験部
２９のＸ・Ｙマトリクスコネクタ３０を測定部９（キー
ＯＮ時押下の浅い測定１３）のキーＯＮ・ＯＦＦチェッ
ク回路１４に切替える。

【００３５】次に被検査キーボードのキーを打鍵する
荷重を例えば６５ｇにセットする為、検査プログラム
は、ＣＰＵバスバッファ回路５により、定電流ソレノイ
ド荷重制御部１８の定電流ソレノイド回路１９に制御デ
ータを送り、定電流電源２０により打鍵部２６の定電流
ソレノイド駆動回路２７で定電流ソレノイド２８を６５
ｇで被試験部２９の被検査キーボードのキーを打鍵す
る。

【００３６】すると、被検査キーボードのキーからハ
イまたはロウの信号がキーＯＮ・ＯＦＦチェック回路１
４に入力され、この信号をＣＰＵバスバッファ回路５を
通りパーソナルコンピュータ２のメモリ内にハイまたは
ロウデータが送られ、検査プログラムは、判定データと
ハイまたはロウデータを比較し判定する。

【００３７】判定結果は、検査プログラムによって判
定部３２のディスプレイ３３のキーボードレイアウト３
４上に表示する。

【００３８】被検査キーボードの全キーを上記ｅの
〜まで繰り返し検査する。

【００３９】次に、本実施の形態における被検査キーボ
ードの各キーの押下の浅さの良否検査の手順について図
３を基にして以下に説明する。

【００４０】一般にキーＯＮ時押下の浅いの現象は、接
点ギャップ小の為、すぐＯＮしやすい。これを力変位曲
線で見た場合、キーＯＮ時押下の浅い不良領域は、実験
の結果、最大荷重前の０〜４５ｇの範囲で起こってい
る。この現象により最大荷重前の６５ｇで被検査キーボ
ードのキーを打鍵し、キーのＯＮ（不良）ＯＦＦ（良
品）で、キーＯＮ時押下の浅いの良否判定を行う。

【００４１】図３からパーソナルコンピュータ２の検査
プログラム（２００）によりキーＯＮ時押下の浅い測定
の切替えの指示（２０１）を切替回路２２で行い、キー
ＯＮ・ＯＦＦチェック回路切替え（２０７）を行う。

【００４２】次に、制御データ（２０２）の打鍵位置と
荷重データ出力（定電流データ＝６５ｇ）の指示（２０
３）を定電流ソレノイド制御回路１９に行い定電流電源
２０は、定電流値を定電流ソレノイド駆動回路２７に印
加し、６５ｇで定電流ソレノイド２８を打鍵する。

【００４３】すると、キーＯＮ・ＯＦＦチェック回路１
４は、被検査キーボードのキーのハイまたはロウのチェ
ック（２０８），ハイまたはロウの信号出力（２０９）
の順に処理を行い、パーソナルコンピュータ２のメモリ
内に転送される。

【００４４】検査プログラムは、判定データ（２０４）
によりキーのハイまたはロウにて押下の浅い判定（２０
５）を行い、判定結果（２０６）によりディスプレイ３
３のキーボードレイアウト３４上のキーに表示する。

【００４５】図４は本実施の形態における被検査キーボ
ードの各キーの押下の深さの良否検査を行う手順を示す
図である。

【００４６】次に、本実施の形態における被検査キーボ
ードの各キーの押下の深さの良否検査の動作について図
１，図４を参照して説明する。

【００４７】ｆ．キーＯＮ時の押下の深い良否検査検査プログラムは、制御データでＣＰＵバスバッファ
回路５により測定切替部２１の切替回路２２で被試験部
２９のＸ・Ｙマトリクスコネクタ３０を測定部９（キー
ＯＮ時押下の深い測定１５）の時間値測定回路１６（時
間値測定電源１７）に切替える。

【００４８】次に被検査キーボードのキーを打鍵する
荷重を例えば１５０ｇにセットする為、検査プログラム
は、ＣＰＵバスバッファ回路５により、定電流ソレノイ
ド荷重制御部１８の定電流ソレノイド制御回路１９に制
御データを送り、定電流電源２０により打鍵部２６の定
電流ソレノイド駆動回路２７で定電流ソレノイド２８を
１５０ｇで被試験部２９の被検査キーボードのキーを打
鍵する。

【００４９】すると、被検査キーボードのキーからハ
イまたはロウの信号が時間値測定回路１６に入力され、
復旧時間と復旧時チャッタ時間を測定し、この時間デー
タをＣＰＵバスバッファ回路５を通りパーソナルコンピ
ュータ２のメモリ内に送られ、検査プログラムは、判定
データと時間データを比較し判定する。

【００５０】判定結果は、検査プログラムによって判
定部３２のディスプレイ３３のキーボードレイアウト３
４上に表示する。

【００５１】被検査キーボードの全キーを上記ｆの
〜まで繰り返し検査する。

【００５２】次に、本実施の形態における被検査キーボ
ードの各キーの押下の深さの良否検査の手順について図
４を基にして以下に説明する。

【００５３】一般に、キーＯＮ時押下の深い現象は、接
点間に不導体異物がはさまっている為、ＯＮしずらい。
これを時間値測定で見た場合、キーＯＮ時押下の深い不
良は、復旧時間と復旧時チャッタ時間が良品と比べあき
らかに差がある。この現象により実験の結果復旧時間を
５ｍｓ以上は良品で４．９９ｍｓ以下は不良品にし、復
旧時チャッタ時間は、“なし”で良品で、“あり”は不
良品にする。これをＯＮ時押下の深い良否判定で行う。

【００５４】図４からパーソナルコンピュータ２の検査
プログラム（３００）によりキーＯＮ時押下の深い測定
の切り替えの指示（３０１）を切替回路２２で行い、時
間値測定回路切替え（３０７）を行う。

【００５５】次に、制御データ（３０２）の打鍵位置と
荷重データ出力（定電流データ＝１５０ｇ）の指示（３
０３）を定電流ソレノイド制御回路１９に行い定電流電
源２０は、定電流値を定電流ソレノイド駆動回路２７に
印加し、１５０ｇで定電流ソレノイド２８を打鍵する。

【００５６】すると、時間値測定回路１６は、被検査キ
ーボードのキーの復旧時間と復旧時のチャッタ時間を測
定（３０８），復旧時間と復旧時チャッタ時間を出力
（３０９）の順に処理を行い、パーソナルコンピュータ
２のメモリ内に転送される。

【００５７】検査プログラムは、判定データ（３０４）
により復旧時間と復旧時チャッタ時間を判定データと比
較し、キーＯＮ時押下の深い判定（３０５）を行い、判
定結果（３０６）によりディスプレイ３３のキーボード
レイアウト３４上のキーに表示する。

【００５８】上記ｄ〜ｆまでの被検査キーボード３０の
各検査を終了すると、ディスプレイ３３に表示されたキ
ーボードレイアウト３４に判定結果が表示される。

【００５９】尚、本実施例の形態における定電流ソレノ
イド２８は、定電流制御（予めディスクメモリ４に格納
されている押下圧力対定電流データ）により、荷重を制
御できる特性をもっているので、定電流ソレノイド制御
回路１９及び定電流電源２０並びに定電流ソレノイド駆
動回路２７により荷重制御される。被検査キーボード３
０の各キーに対しての入力障害（キーＯＮ時押下の浅
い）を検出するときに、キーに対する打鍵の負荷を少な
くして検査することができる。

【００６０】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、被検査キ
ーボードの各キーを個別に自動的に押下させるキー押下
手段と、このキー押下手段によるキー押下の荷重を制御
するキー押下制御手段と、キー押下手段によって押下さ
れたキーによるスイッチの接点の抵抗値を測定して予め
設定された抵抗値範囲内にあるかどうかを判定する抵抗
値良否判定手段と、キー押下制御手段によるキー押下の
荷重が制御されてキー押下手段によって押下されたキー
の押下の動作ストロークが予め設定された設定値範囲内
の押下の浅さ及び深さにあるかどうかの良否判定を行う
動作ストローク良否判定手段と、抵抗値良否判定手段及
び動作ストローク良否判定手段による良品判定結果を被
検査キーボードの各キー別に表示する表示手段とを備え
たことにより、被検査キーボードの各キーの抵抗値並び
にキー押下の浅さ深さの良否判定を一つのこの検査装置
で自動的に行うので従来より検査期間を短縮することが
できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態を示すブロック図であ
る。

【図２】本実施の形態における被検査キーボードの各キ
ーの抵抗値の良否検査を行う手順を示す図である。

【図３】本実施の形態における被検査キーボードの各キ
ーの押下の浅さの良否検査を行う手順を示す図である。

【図４】本実施の形態における被検査キーボードの各キ
ーの押下の深さの良否検査を行う手順を示す図である。

【図５】従来のキーボード自動検査装置を示すブロック
図である。

【符号の説明】

１制御監視部２パーソナルコンピュータ３キーボード４ディスクメモリ５ＣＰＵバスバッファ回路６操作部９測定部１０抵抗値測定部１１キーボードインタフェース回路１２キーボードコントロール回路１３キー押下の浅さ測定部１４キーＯＮ・ＯＦＦチェック回路１５キーの押下の深さ測定部１６時間値測定回路１７時間値測定電源１８定電流ソレノイド荷重制御部１９定電流ソレノイド制御回路２０定電流電源２１測定切替部２２切替回路２３被試験電源部２４供給電源発生回路２５電源供給部２６打鍵部２７定電流ソレノイド駆動回路２８定電流ソレノイド２９被試験部３０被検査キーボード３１Ｘ・Ｙマトリクス部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被検査キーボードの各キーを個別に自動
的に押下させるキー押下手段と、このキー押下手段によ
るキー押下の荷重を制御するキー押下制御手段と、前記
キー押下手段によって押下されたキーによるスイッチの
接点の抵抗値を測定して予め設定された抵抗値範囲内に
あるかどうかを判定する抵抗値良否判定手段と、前記キ
ー押下制御手段による前記キー押下の荷重が制御されて
前記キー押下手段によって押下されたキーの押下の動作
ストロークが予め設定された設定値範囲内の押下の浅さ
及び深さにあるかどうかの良否判定を行う動作ストロー
ク良否判定手段と、前記抵抗値良否判定手段及び前記動
作ストローク良否判定手段による良否判定結果を前記被
検査キーボードの各キー別に表示する表示手段とを備え
ることを特徴とするキーボード自動検査装置。
【請求項２】被試験キーボードからの出力を接続なる
Ｘ・Ｙマトリクス部を含む被試験部と、前記被検査キー
ボードのそれぞれのキーを打鍵する定電流ソレニド及び
定電流ソレノイドを駆動する定電流ソレノイド駆動回路
を含む打鍵部と、前記被検査キーボードへ供給するため
の電源を発生する供給電源発生回路と、発生した電源を
被試験部へ供給する電源供給部と、前記被検査キーボー
ドに対する複数の検査測定の入力を切替える切替回路を
含む測定切替部と、前記定電流ソレノイドに対する定電
流を発生する定電流電源及び定電流ソレノイド駆動回路
並びに前記定電流電源を制御する定電流ソレノイド制御
回路を含む定電流ソレノイド荷重制御部と、前記被検査
キーボードに対する前記複数の検査測定を行うための測
定回路を含む測定部と、検査のための操作を行う操作部
と、前記被検査キーボードの検査結果を表示するディス
プレイを含む判定部と、全体を制御するパーソナルコン
ピュータを含む制御監視部とを備え、前記測定部は測定切替部を介して被試験部にインタフェ
ースするキーボードインタフェース回路及び前記被検査
キーボードを制御するキーボードコントロール回路を含
む抵抗値測定部と、前記被検査キーボードの各キーの押
下の浅さを測定するために各キーのＯＮ／ＯＦＦをチェ
ックするキーＯＮ・ＯＦＦチェック回路を含むキーの押
下の浅さ測定部と、前記被検査キーボードの各キーの押
下の深さを測定するための時間値測定電源及び時間値測
定を行う時間値測定回路を含むキーの押下の深さ測定部
とを有し、前記制御監視部は制御情報を入力するキーボードと、前
記被検査キーボードを検査するための検査プログラム及
び比較データ等を記憶しているディスクメモリと、前記
操作部，測定部，定電流ソレノイド荷重制御部，測定切
替部及び被試験電源部に接続しこれらの各部の情報の入
出力を前記パーソナルコンピュータに伝達するＣＰＵパ
スバッファ回路とを有することを特徴とするキーボード
自動検査装置。