JPH09320949A - 真空乾燥装置 - Google Patents

真空乾燥装置

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JPH09320949A
JPH09320949A JP15597596A JP15597596A JPH09320949A JP H09320949 A JPH09320949 A JP H09320949A JP 15597596 A JP15597596 A JP 15597596A JP 15597596 A JP15597596 A JP 15597596A JP H09320949 A JPH09320949 A JP H09320949A
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俊二 宮川
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泰秀 中島
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 被乾燥体の乾燥時間の短縮が可能で、かつ、
乾燥後の被乾燥体の表面状態が極めて良好である真空乾
燥装置を提供する。 【解決手段】 真空チャンバーの底部に設けた排気口の
上方に中板を配設し、この中板上に載置用凸部を設けて
真空乾燥装置とし、この真空乾燥装置を、載置用凸部上
に載置された被乾燥体と真空チャンバーの内側上壁部と
の距離が調整できるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、真空乾燥装置に係
り、特に乾燥に要する時間の短縮が可能で、かつ、被乾
燥体の乾燥面が良好な真空乾燥装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、LCD用カラーフィルタでは、
ガラス基板にレジスト液等の塗布液を塗布して乾燥し、
フォトリソグラフィー等により所望のパターンの形成が
行われる。塗布液の塗布方式としては、例えば、スピン
塗布方式、ナイフ塗布方式、ロール塗布方式およびビー
ド塗布方式等の種々の塗布方式が用いられている。この
ような何れの塗布方式で塗布した場合でも、パターン形
成工程の前に塗布膜の乾燥工程を経る必要がある。従
来、塗布液が塗布されたガラス基板等の被乾燥体は、オ
ーブンあるいはホットプレートにおいて加熱乾燥がなさ
れていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の加熱に
よる方法は乾燥に要する時間が長く、この結果、上述の
ようなLCD用カラーフィルタの製造工程では、ガラス
基板の塗布膜の乾燥工程が全工程の律速段階となってい
た。そこで、近年、この乾燥工程の時間短縮を可能とす
るものとして真空乾燥装置が使用されている。これは、
塗布膜が形成されたガラス基板を真空状態に置き、溶剤
の蒸発速度を飛躍的に高めたものである。
【0004】しかしながら、真空乾燥装置を使用するこ
とによっても、乾燥工程が全工程の律速段階であること
は変わらず、乾燥工程の更なる時間短縮が重要な課題と
なっている。また、LCD用カラーフィルタの製造工程
では、単に乾燥時間の短縮が必要であるだけではなく、
ガラス基板上の乾燥された塗布膜の表面が平滑であるこ
とが要求されている。
【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであり、被乾燥体の乾燥時間の短縮が可能で、か
つ、乾燥後の被乾燥体の表面状態が極めて良好である真
空乾燥装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は底部に排気口を有する真空チャンバーと、
該真空チャンバー内において前記排気口の上方に配設さ
れた中板と、該中板上に設けられた載置用凸部とを少な
くとも備え、前記載置用凸部上に載置される被乾燥体と
前記真空チャンバーの内側上壁部との距離が調整可能で
あるような構成とした。
【0007】また、本発明の真空乾燥装置は、前記中板
を前記真空チャンバーの底部に対して上下動させること
により、前記載置用凸部上に載置される被乾燥体と前記
真空チャンバーの内側上壁部との距離が調整可能である
ような構成とした。
【0008】また、本発明の真空乾燥装置は、前記載置
用凸部の高さを変更することにより、前記載置用凸部上
に載置される被乾燥体と前記真空チャンバーの内側上壁
部との距離が調整可能であるような構成とした。
【0009】また、本発明の真空乾燥装置は、前記真空
チャンバーの側壁部にスペーサを着脱することにより、
前記載置用凸部上に載置される被乾燥体と前記真空チャ
ンバーの内側上壁部との距離が調整可能であるような構
成とした。
【0010】さらに、本発明の真空乾燥装置は、前記真
空チャンバーの内側上壁部の下方に天板の配設が可能で
あり、該天板を配設することにより、実質的に前記載置
用凸部上に載置される被乾燥体と前記真空チャンバーの
内側上壁部との距離が調整可能であるような構成とし
た。
【0011】上述のような本発明では、被乾燥体に応じ
て被乾燥体と真空チャンバーの内側上壁部との距離を調
整することにより、載置用凸部上に載置される被乾燥体
から中板上面を通り、中板と真空チャンバー底部との間
を経由して排気口に至る排気経路が被乾燥体に応じた最
適なものとすることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明を行う。
【0013】図1は本発明の真空乾燥装置の一実施形態
を示す概略構成図である。図1において、本発明の真空
乾燥装置1は、真空チャンバー2と、この真空チャンバ
ー2の底部2Aに配設された中板5と、この中板5上に
設けられた複数の載置用凸部7とを備え、真空チャンバ
ー2の底部2Aには排気口3が形成されている。
【0014】真空乾燥装置1を構成する真空チャンバー
2は、公知の種々の真空チャンバーを使用することがで
き、内部容積、内部形状等は適宜設定することができ
る。図示例では、真空チャンバー2は底部2A、上壁部
2B、側壁部2Cを備え、縦断面形状が長方形をなして
いる。また、真空チャンバーの底部2Aに設けられる排
気口3は、図示されていない真空ポンプに接続され、こ
の排気口3を介して真空チャンバー2内の気体が外部に
排出され、真空チャンバー2内を所定の真空状態とする
ことができる。この排気口3は、図示例では真空チャン
バー2の低部2Aの中央に1個形成されているが、複数
の排気口3(例えば、4個)を底部2Aに形成してもよ
い。尚、この場合、排気口3は、いずれも中板5の下方
の位置に形成することが好ましい。
【0015】真空乾燥装置1を構成する中板5は、排気
口3の上方に位置するように脚部5Aを介して真空チャ
ンバー2の底部2Aに配設されている。この中板5は、
アルミニウム、SUS、鉄、銅、樹脂等の材料により形
成されたものを使用することができ、中板5の面積は、
真空チャンバー2の底部2Aの面積の70〜99%の範
囲とすることが好ましい。また、中板5の周辺部と真空
チャンバー2の側壁部2Cとの距離は、できるだけ均一
となるように中板5を配設することが好ましく、中板5
の周辺部と真空チャンバー2の側壁部2Cとの距離を
0.5cm以上に設定することが好ましい。
【0016】本実施形態では、中板5は脚部5Aによっ
て上下動可能とされている。脚部5Aの構造は特に制限
はなく、手動あるいはモータ駆動等により高さを調整で
きるものであればよい。また、脚部5Aが着脱可能であ
り、所望の高さの脚部5Aを介して中板5を配設するよ
うにしてもよい。このような脚部5Aの高さ調整の可能
な範囲は、例えば、3〜50mm程度とすることができ
る。
【0017】中板5上に設けられた載置用凸部7は、被
乾燥体Sを中板5表面から所望の距離に浮かして保持す
るためのものであり、円錐形状、円柱形状、角柱形状等
任意の形状のものとすることができる。この載置用凸部
7の形成個数、形成位置は特に制限はなく、また、載置
用凸部7の高さは、0.5〜10mm程度の範囲で設定
することができる。載置用凸部7は、中板5との摩擦等
により被乾燥体Sに傷を与えないような材料を選定して
形成されたものを使用でき、中板5の表面に固定して配
設することができる。
【0018】このような真空乾燥装置1は、載置用凸部
7上に被乾燥体Sを載置したときの被乾燥体Sと真空チ
ャンバー2の内側上壁部2Bとの距離Hが調整可能であ
る。すなわち、例えば、図1に示される脚部5A(高さ
h)を、図2に示されるように高く(高さh´)するこ
とにより中板5を真空チャンバー2の底部2Aに対して
上昇させ、被乾燥体Sと真空チャンバー2の内側上壁部
2Bとの距離をH´(H>H´)とすることができる。
したがって、被乾燥体Sに応じて、載置用凸部7上に載
置される被乾燥体Sから中板5の表面を通り、中板5と
真空チャンバー2の底部2Aとの間を経由して排気口3
に至る排気経路(図1、図2に矢印で示される経路)
を、乾燥に最も適したものとすることができる。これに
より、被乾燥体の突沸を防止して表面状態を荒らすこと
なく乾燥時間を短縮することが可能となり、被乾燥体の
乾燥後の表面状態も極めて良好なものとなる。
【0019】図3は本発明の真空乾燥装置の他の実施形
態を示す概略構成図である。図3において、本発明の真
空乾燥装置11は、真空チャンバー12と、この真空チ
ャンバー12の底部12Aに脚部15Aを介して配設さ
れた中板15と、この中板15上に設けられた複数の載
置用凸部17とを備え、真空チャンバー12の底部12
Aには排気口13が形成されている。
【0020】この真空乾燥装置11では、中板15上に
設けられた複数の載置用凸部17が、その高さを調整で
きることを特徴とする。載置用凸部17は、載置用凸部
7と同様に被乾燥体Sを中板15表面から所望の距離に
浮かして保持するためのものであり、手動あるいはモー
タ駆動により長さを調整できるものであればよい。ま
た、載置用凸部17が中板15に着脱可能であり、所望
の高さの載置用凸部17を中板15に装着できるように
してもよい。このような載置用凸部17の高さ調整の可
能な範囲は、例えば、0.5〜10mm程度とすること
ができる。上記の載置用凸17の形状には特に制限はな
く、また、載置用凸部17の形成個数、形成位置は、被
乾燥体Sを安定して保持できる範囲で任意に設定でき
る。
【0021】尚、上述の真空乾燥装置11を構成する真
空チャンバー12、中板15は、上述の真空乾燥装置1
を構成する真空チャンバー2、中板5と同様にすること
ができるので、ここでの説明は省略する。また、脚部1
5Aは、中板15の下面に固着された高さ固定式のもの
でもよく、あるいは、上述の実施形態における脚部5A
と同様に高さの調整が可能なものでもよい。
【0022】このような真空乾燥装置11は、載置用凸
部17上に被乾燥体Sを載置したときの被乾燥体Sと真
空チャンバー12の内側上壁部12Bとの距離Hが調整
可能である。すなわち、例えば、図3に示される載置用
凸部17(高さh)を、図4に示されるように高く(高
さh´)することにより被乾燥体Sと真空チャンバー1
2の内側上壁部12Bとの距離をH´(H>H´)とす
ることができる。したがって、被乾燥体Sに応じて、載
置用凸部17上に載置される被乾燥体Sから中板15の
表面を通り、中板15と真空チャンバー12の底部12
Aとの間を経由して排気口13に至る排気経路(図3、
図4に矢印で示される経路)を、乾燥に最も適したもの
とすることができる。これにより、被乾燥体の突沸を防
止して表面状態を荒らすことなく乾燥時間を短縮するこ
とが可能となり、被乾燥体の乾燥後の表面状態も極めて
良好なものとなる。尚、上述のように、脚部15Aを上
述の実施形態における脚部5Aと同様に高さの調整が可
能なものとし、載置用凸部17の高さ調整と脚部15A
の高さ調整を併用して、被乾燥体Sと真空チャンバー1
2の内側上壁部12Bとの距離Hの調整を行ってもよ
い。
【0023】図5は本発明の真空乾燥装置の他の実施形
態を示す概略構成図である。図5において、本発明の真
空乾燥装置21は、真空チャンバー22と、この真空チ
ャンバー22の底部22Aに脚部25Aを介して配設さ
れた中板25と、この中板25上に設けられた複数の載
置用凸部27とを備え、真空チャンバー22の底部22
Aには排気口23が形成されている。
【0024】この真空乾燥装置21では、真空チャンバ
ー22は底部22A、上壁部22B、側壁部22Cを備
え、側壁部22Cはスペーサ29が着脱可能であり、所
望のスペーサ29を装着することにより側壁部22Cの
高さを調整できることを特徴とする。図示例では、スペ
ーサ29は側壁部22Cが上壁部22Bと当接する位
置、すなわち、側壁部22Cの最上部おいて側壁部22
Cに装着されているが、スペーサ29の側壁部22Cへ
の着脱可能位置はこれに限定されるものではない。スペ
ーサ29の高さhは任意に設定することができ、被乾燥
体の種類に応じて多種の高さのスペーサを予め準備する
ことができる。このスペーサ29の構造は、側壁部22
Cの平面形状に対応した形状を備え、側壁部22Cに装
着した際に、真空チャンバー22内を気密状態にできる
ものであれば、特に制限はない。具体的には、アルミニ
ウム、SUS、鉄、銅等の金属、または、樹脂等を用い
て側壁部22Cの平面形状に対応した形状のスペーサ2
9を作製し、さらに、真空チャンバー22内を気密状態
とするために、このスペーサ29の上面および下面にO
リングを装着し、あるいは、ゴムシートを貼着する等の
構成にすることができる。
【0025】このような真空チャンバー22は、上記の
スペーサ29の着脱可能な機構を除いて、公知の種々の
真空チャンバーを使用することができ、内部容積、内部
形状等は適宜設定することができる。また、真空チャン
バーの底部22Aに設けられる排気口23は、図示され
ていない真空ポンプに接続され、この排気口23を介し
て真空チャンバー22内の気体が外部に排出され、真空
チャンバー22内を所定の真空状態とすることができ
る。この排気口23は、図示例では真空チャンバー22
の低部22Aの中央に1個形成されているが、複数の排
気口23を底部22Aに形成してもよい。この場合、排
気口23は、いずれも中板25の下方の位置に形成する
ことが好ましい。
【0026】尚、上述の真空乾燥装置21を構成する中
板25および載置用凸部27は、上述の真空乾燥装置1
を構成する中板5、載置用凸部7と同様にすることがで
きるので、ここでの説明は省略する。また、脚部25A
は、中板25の下面に固着された高さ固定式のものでも
よく、あるいは、上述の実施形態における脚部5Aと同
様に高さの調整が可能なものでもよい。さらに、載置用
凸部27は、中板25の表面に固着された高さ固定式の
ものでもよく、あるいは、上述の実施形態における載置
用凸部17と同様に高さの調整が可能なものでもよい。
【0027】このような真空乾燥装置21は、載置用凸
部27上に被乾燥体Sを載置したときの被乾燥体Sと真
空チャンバー22の内側上壁部22Bとの距離Hが調整
可能である。すなわち、真空チャンバー22の側壁部2
2Cに装着するスペーサ29を所望の高さのものとした
り、スペーサ29を装着せずに真空チャンバー22を構
成することにより、被乾燥体Sと真空チャンバー22の
内側上壁部22Bとの距離Hを適宜調整することができ
る。したがって、被乾燥体Sに応じて、載置用凸部27
上に載置される被乾燥体Sから中板25の表面を通り、
中板25と真空チャンバー22の底部22Aとの間を経
由して排気口23に至る排気経路(図5に矢印で示され
る経路)を、乾燥に最も適したものとすることができ
る。これにより、被乾燥体の突沸を防止して表面状態を
荒らすことなく乾燥時間の短縮が可能となり、被乾燥体
の乾燥後の表面状態も極めて良好なものとなる。尚、上
述のように、脚部25Aを上述の実施形態における脚部
5Aと同様に高さの調整が可能なものとし、あるいは、
載置用凸部27を上述の実施例における載置用凸部17
と同様に高さの調整が可能なものとすることにより、側
壁部22Cのスペーサ29による高さ調整に、脚部25
Aの高さ調整や載置用凸部27の高さ調整を併用して、
被乾燥体Sと真空チャンバー22の内側上壁部22Bと
の距離Hの調整を行ってもよい。
【0028】図6は本発明の真空乾燥装置の他の実施形
態を示す概略構成図である。図6において、本発明の真
空乾燥装置31は、真空チャンバー32と、この真空チ
ャンバー32の底部32Aに脚部35Aを介して配設さ
れた中板35と、この中板35上に設けられた複数の載
置用凸部37とを備え、真空チャンバー32の底部32
Aには排気口33が形成されている。そして、真空チャ
ンバー32の上壁部32Bの下方には、天板38が配設
可能とされている。図示例では、真空チャンバー32の
側壁部32Cに保持部39が設けられており、この保持
部39に天板38の端部を係合させて天板38が真空チ
ャンバー32内に掛け渡すように配設できるようになっ
ている。
【0029】上記の天板38は、SUS板、アルミニウ
ム板、鉄板、銅板、樹脂板等を用いて作製されたものを
使用することができ、真空チャンバー32内に配設され
た際に、中央部が中板35方向にたわみを生じないもの
を使用する。このような天板38の面積は、真空チャン
バー32の上壁部32Bの面積の80〜100%の範囲
とすることが好ましく、少なくとも中板35を覆うよう
な面積を有するものである。また、図示例では、真空チ
ャンバー32の側壁部32Cに複数の保持部39が設け
られているが、真空チャンバー32内に天板38を昇降
可能に配設してもよい。
【0030】上述の真空乾燥装置31を構成する真空チ
ャンバー32は、上記の天板38が配設可能な機構を除
いて、公知の種々の真空チャンバーを使用することがで
き、内部容積、内部形状等は適宜設定することができ
る。また、真空チャンバーの底部32Aに設けられる排
気口33は、図示されていない真空ポンプに接続され、
この排気口33を介して真空チャンバー32内の気体が
外部に排出され、真空チャンバー32内を所定の真空状
態とすることができる。この排気口33は、図示例では
真空チャンバー32の低部32Aの中央に1個形成され
ているが、複数の排気口33を底部32Aに形成しても
よい。この場合、排気口33は、いずれも中板35の下
方の位置に形成することが好ましい。
【0031】尚、真空乾燥装置31を構成する中板35
および載置用凸部37は、上述の真空乾燥装置1を構成
する中板5、載置用凸部7と同様にすることができるの
で、ここでの説明は省略する。また、脚部35Aは、中
板35の下面に固着された高さ固定式のものでもよく、
あるいは、上述の実施形態における脚部5Aと同様に長
さの調整が可能なものでもよい。さらに、載置用凸部3
7は、中板35の表面に固着された高さ固定式のもので
もよく、あるいは、上述の実施形態における載置用凸部
17と同様に高さの調整が可能なものでもよい。
【0032】このような真空乾燥装置31は、載置用凸
部37上に被乾燥体Sを載置したときの被乾燥体Sと真
空チャンバー32の内側上壁部32Bとの距離Hが調整
可能である。すなわち、側壁部32Cの所望の保持部3
9に天板38を載置することにより、実質的な上壁部を
被乾燥体S上に形成することができる。そして、この天
板38を載置する保持部39の位置を変更することによ
り、被乾燥体Sと真空チャンバー32の実質的な上壁部
である天板38との距離を適宜調整することができる。
したがって、被乾燥体Sに応じて、載置用凸部37上に
載置される被乾燥体Sから中板35の表面を通り、中板
35と真空チャンバー32の底部32Aとの間を経由し
て排気口33に至る排気経路(図6に矢印で示される経
路)を、乾燥に最も適したものとすることができる。こ
れにより、被乾燥体の突沸を防止して表面状態を荒らす
ことなく乾燥時間を短縮することが可能となり、被乾燥
体の乾燥後の表面状態も極めて良好なものとなる。尚、
上述のように、脚部35Aを上述の実施形態における脚
部5Aと同様に高さの調整が可能なものとし、あるい
は、載置用凸部37を上述の実施例における載置用凸部
17と同様に高さの調整が可能なものとすることによ
り、天板38による高さ調整に、脚部35Aの高さ調整
や載置用凸部37の高さ調整を併用して、被乾燥体Sと
真空チャンバー32の内側上壁部32B(天板38)と
の距離の調整を行ってもよい。
【0033】本発明では、被乾燥体には特に制限はな
く、ダイコート、グラビアコート、ハケ塗り、スピンコ
ート等の種々の方式により形成された塗布膜が対象とな
り得る。
【0034】
【実施例】次に、実施例を挙げて本発明を更に詳細に説
明する。
【0035】まず、下記の4種の塗布液を調製した。
【0036】 塗布液A ・固形分含有量 : 20重量% ・使用溶剤 : セロソルブアセテート(沸点156.4℃) 塗布液B ・固形分含有量 : 20重量% ・使用溶剤 : メトアセテート(沸点171.0℃) 塗布液C ・固形分含有量 : 20重量% ・使用溶剤 : 酢酸エチル(沸点76.7℃) 塗布液D ・固形分含有量 : 20重量% ・使用溶剤 : メチルアミルケトン(沸点151.0℃) 次に、この塗布液A〜Dを用いて、厚み0.7mmのガ
ラス基板上にスピンコート方法により塗布(A,B=膜
厚1.8μm、C=膜厚1.25μm、D=膜厚1.5
μm)を行った。 (乾燥試験1)下記の仕様の真空チャンバー、中板、載
置用凸部を備えた本発明の真空乾燥装置(図1に相当す
るもの)を準備し、真空ポンプ(ULVAC(株)製D
−950K+PMB003CM)に排気口を接続した。
【0037】 ・内部容積 : 15276cm3 ・底部形状 : 長方形 ・底部面積 : 3819cm2 ・側壁部高さ : 40mm ・脚部の長さ : 10〜25mmの範囲で調整
可能 ・中板厚み : 5mm ・中板面積 : 3575cm2 ・載置用凸部の高さ : 5mm ・載置用凸部形成数 : 5個 上記の真空乾燥装置の載置用凸部に、上記の塗布液Aを
塗布したガラス基板を載置した。この初期状態でのガラ
ス基板面から真空チャンバーの内側上壁面までの距離
(以下ギャップという)を5mmに設定した。そして、
真空ポンプでの吸引を開始し、吸引開始から乾燥開始
(真空度の変化がほぼ停止する時点)までの時間t1
測定し、また、乾燥開始から乾燥完了(塗布膜の乾燥が
完了して、ほぼ一定であった真空度が再度変化する時
点)までの時間t2 を測定し、時間t1と時間t2 の合
計時間(乾燥時間)Tとともに、図7に示した。
【0038】その後、脚部の高さを調整して、ギャップ
を10mm,15mm,20mm,25mmとして、上
記と同様に乾燥時間を測定して図7に示した。
【0039】図7に示される塗布液Aの真空乾燥では、
ギャップ=20mmまではギャップの増加とともに時間
2 (時間T)の減少がみられたが、ギャップが15m
mを超えると乾燥途中の塗布膜において突沸が発生し、
乾燥後の塗布膜にクレータ状の凹部が残った。したがっ
て、塗布液Aの真空乾燥では、ギャップを15mm程度
に設定することにより、乾燥後の表面状態を極めて良好
としながら乾燥時間Tの短縮が可能であることが確認さ
れた。 (乾燥試験2)塗布液Aを塗布したガラス基板の代わり
に、塗布液Bを塗布したガラス基板を被乾燥体とした他
は、乾燥試験1と同様にして乾燥を行い、時間t1 、時
間t2合計時間(乾燥時間)Tを図8に示した。
【0040】図8に示される塗布液Bの真空乾燥では、
ギャップ=20mmまではギャップの増加とともに時間
2 (時間T)の減少がみられたが、ギャップが10m
mを超えると乾燥途中の塗布膜において突沸が発生し、
乾燥後の塗布膜にクレータ状の凹部が残った。したがっ
て、塗布液Bの真空乾燥では、ギャップを10mm程度
に設定することにより、乾燥後の表面状態を極めて良好
としながら乾燥時間Tの短縮が可能であることが確認さ
れた。 (乾燥試験3)塗布液Aを塗布したガラス基板の代わり
に、塗布液Cを塗布したガラス基板を被乾燥体とした他
は、乾燥試験1と同様にして乾燥を行い、時間t1 、時
間t2合計時間(乾燥時間)Tを図9に示した。
【0041】図9に示される塗布液Cの真空乾燥では、
ギャップ=10〜15mmにおいて乾燥時間Tは最も短
くなるが、ギャップが5mmを超えると乾燥途中の塗布
膜において突沸が発生し、乾燥後の塗布膜にクレータ状
の凹部が残った。したがって、塗布液Cの真空乾燥で
は、ギャップを5mm程度に設定することにより、乾燥
後の表面状態を極めて良好としながら乾燥時間Tを最も
短くすることが可能であることが確認された。 (乾燥試験4)塗布液Aを塗布したガラス基板の代わり
に、塗布液Dを塗布したガラス基板を被乾燥体とした他
は、乾燥試験1と同様にして乾燥を行い、時間t1 、時
間t2合計時間(乾燥時間)Tを図10に示した。
【0042】図10に示される塗布液Dの真空乾燥で
は、ギャップ=20mmまではギャップの増加とともに
時間t2 (時間T)の減少がみられたが、ギャップが1
5mmを超えると乾燥途中の塗布膜において突沸が発生
し、乾燥後の塗布膜にクレータ状の凹部が残った。した
がって、塗布液Dの真空乾燥では、ギャップを15mm
程度に設定することにより、乾燥後の表面状態を極めて
良好としながら乾燥時間Tの短縮が可能であることが確
認された。 (乾燥試験5)真空チャンバーの側壁部の上部にスペー
サ(高さ15mm)を装着し、内部容積を9547.5
cm3 とした他は、乾燥試験1と同様の仕様で本発明の
真空乾燥装置(図5に相当するもの)を準備し、真空ポ
ンプ(ULVAC(株)製D−950K+PMB003
CM)に排気口を接続した。
【0043】上記の真空乾燥装置の載置用凸部に、上記
の塗布液Aを塗布したガラス基板を載置した。この初期
状態でのギャップを5mmに設定した。そして、乾燥試
験1と同様にして乾燥を行い、時間t1 、時間t2 合計
時間(乾燥時間)Tを図11に示した。
【0044】その後、脚部の高さを調整して、ギャップ
を10mm,15mm,20mm,25mm,30mm
として、上記と同様に乾燥時間を測定して図11に示し
た。
【0045】図11に示される塗布液Aの真空乾燥で
は、乾燥試験1における塗布液Aの真空乾燥と異なり、
ギャップ=30mmまではギャップの増加とともに乾燥
時間Tの減少がみられたが、乾燥途中の塗布膜における
突沸は、乾燥試験1における塗布液Aの真空乾燥よりも
ギャップが小さい段階(ほぼ15mm)で発生し、乾燥
後の塗布膜にクレータ状の凹部が残った。したがって、
塗布液Aの真空乾燥では、ギャップを10〜13mm程
度に設定することにより、乾燥後の表面状態を極めて良
好としながら乾燥時間Tの短縮が可能であることが確認
された。
【0046】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば真
空チャンバーの底部に設けた排気口の上方に中板を配設
し、この中板上に載置用凸部を設けて真空乾燥装置と
し、載置用凸部上に載置された被乾燥体と真空チャンバ
ーの内側上壁部との距離を調整可能とするので、被乾燥
体に応じて被乾燥体と真空チャンバーの内側上壁部との
距離を調整し、載置用凸部上に載置される被乾燥体から
中板上面を通り、中板と真空チャンバー底部との間を経
由して排気口に至る排気経路を被乾燥体の乾燥に最適な
ものとすることができ、これにより、被乾燥体の突沸を
防止して表面状態を荒らすことなく乾燥時間を短縮する
ことが可能となり、被乾燥体の乾燥後の表面状態も極め
て良好なものとなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の真空乾燥装置の一実施形態を示す概略
構成図である。
【図2】図1に示される真空乾燥装置の中板を上昇させ
た状態を示す図である。
【図3】本発明の真空乾燥装置の他の実施形態を示す概
略構成図である。
【図4】図3に示される真空乾燥装置の載置用凸部を高
くした状態を示す図である。
【図5】本発明の真空乾燥装置の他の実施形態を示す概
略構成図である。
【図6】本発明の真空乾燥装置の他の実施形態を示す概
略構成図である。
【図7】真空乾燥装置におけるガラス基板面から真空チ
ャンバーの内側上壁面までの距離(ギャップ)と乾燥時
間の関係を示す図である。
【図8】真空乾燥装置におけるガラス基板面から真空チ
ャンバーの内側上壁面までの距離(ギャップ)と乾燥時
間の関係を示す図である。
【図9】真空乾燥装置におけるガラス基板面から真空チ
ャンバーの内側上壁面までの距離(ギャップ)と乾燥時
間の関係を示す図である。
【図10】真空乾燥装置におけるガラス基板面から真空
チャンバーの内側上壁面までの距離(ギャップ)と乾燥
時間の関係を示す図である。
【図11】真空乾燥装置におけるガラス基板面から真空
チャンバーの内側上壁面までの距離(ギャップ)と乾燥
時間の関係を示す図である。
【符号の説明】
1,11,21,31…真空乾燥装置 2,12,22,32…真空チャンバー 2A,12A,22A,32A…底部 2B,12B,22B,32B…上壁部 2C,12C,22C,32C…側壁部 3,13,23,33…排気口 5,15,25,35…中板 7,17,27,37…載置用凸部 29…スペーサ 38…天板 S…被乾燥体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹本 潤 東京都新宿区市谷加賀町一丁目1番1号 大日本印刷株式会社内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 底部に排気口を有する真空チャンバー
    と、該真空チャンバー内において前記排気口の上方に配
    設された中板と、該中板上に設けられた載置用凸部とを
    少なくとも備え、前記載置用凸部上に載置される被乾燥
    体と前記真空チャンバーの内側上壁部との距離が調整可
    能であることを特徴とする真空乾燥装置。
  2. 【請求項2】 前記中板を前記真空チャンバーの底部に
    対して上下動させることにより、前記載置用凸部上に載
    置される被乾燥体と前記真空チャンバーの内側上壁部と
    の距離が調整可能であることを特徴とする請求項1に記
    載の真空乾燥装置。
  3. 【請求項3】 前記載置用凸部の高さを変更することに
    より、前記載置用凸部上に載置される被乾燥体と前記真
    空チャンバーの内側上壁部との距離が調整可能であるこ
    とを特徴とする請求項1または請求項2に記載の真空乾
    燥装置。
  4. 【請求項4】 前記真空チャンバーの側壁部にスペーサ
    を着脱することにより、前記載置用凸部上に載置される
    被乾燥体と前記真空チャンバーの内側上壁部との距離が
    調整可能であることを特徴とする請求項1乃至請求項3
    のいずれかに記載の真空乾燥装置。
  5. 【請求項5】 前記真空チャンバーは内側上壁部の下方
    に天板が配設可能であり、該天板を配設することによ
    り、実質的に前記載置用凸部上に載置される被乾燥体と
    前記真空チャンバーの内側上壁部との距離が調整可能で
    あることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか
    に記載の真空乾燥装置。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6473995B2 (en) 2000-02-23 2002-11-05 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Vacuum drying apparatus and vacuum drying method
JP2006105524A (ja) * 2004-10-07 2006-04-20 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 減圧乾燥装置および減圧乾燥方法
JP2007118007A (ja) * 2001-09-19 2007-05-17 Tokyo Electron Ltd 減圧乾燥装置及び塗布膜形成方法
CN104596205A (zh) * 2015-02-13 2015-05-06 京东方科技集团股份有限公司 一种真空干燥装置及真空干燥方法
US9881985B2 (en) 2012-02-28 2018-01-30 Boe Technology Group Co., Ltd. OLED device, AMOLED display device and method for manufacturing same
KR20190114892A (ko) 2018-03-30 2019-10-10 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 유기막 형성 장치, 및 유기막의 제조 방법
KR20190120709A (ko) 2018-04-16 2019-10-24 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 유기막 형성 장치
CN110548658A (zh) * 2018-05-31 2019-12-10 株式会社斯库林集团 减压干燥装置及减压干燥方法
CN110779280A (zh) * 2018-07-25 2020-02-11 株式会社斯库林集团 减压干燥装置、基板处理装置以及减压干燥方法
CN111121654A (zh) * 2019-12-31 2020-05-08 歌尔股份有限公司 破膜现象的处理方法、装置、设备及计算机可读存储介质
JP2022086766A (ja) * 2020-11-30 2022-06-09 株式会社Screenホールディングス 減圧乾燥装置

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6473995B2 (en) 2000-02-23 2002-11-05 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Vacuum drying apparatus and vacuum drying method
JP2007118007A (ja) * 2001-09-19 2007-05-17 Tokyo Electron Ltd 減圧乾燥装置及び塗布膜形成方法
JP2006105524A (ja) * 2004-10-07 2006-04-20 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 減圧乾燥装置および減圧乾燥方法
US9881985B2 (en) 2012-02-28 2018-01-30 Boe Technology Group Co., Ltd. OLED device, AMOLED display device and method for manufacturing same
CN104596205A (zh) * 2015-02-13 2015-05-06 京东方科技集团股份有限公司 一种真空干燥装置及真空干燥方法
KR20190114892A (ko) 2018-03-30 2019-10-10 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 유기막 형성 장치, 및 유기막의 제조 방법
KR20190120709A (ko) 2018-04-16 2019-10-24 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 유기막 형성 장치
KR20190136957A (ko) 2018-05-31 2019-12-10 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 감압 건조 장치 및 감압 건조 방법
CN110548658A (zh) * 2018-05-31 2019-12-10 株式会社斯库林集团 减压干燥装置及减压干燥方法
CN110779280A (zh) * 2018-07-25 2020-02-11 株式会社斯库林集团 减压干燥装置、基板处理装置以及减压干燥方法
CN110779280B (zh) * 2018-07-25 2022-07-12 株式会社斯库林集团 减压干燥装置、基板处理装置以及减压干燥方法
CN111121654A (zh) * 2019-12-31 2020-05-08 歌尔股份有限公司 破膜现象的处理方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN111121654B (zh) * 2019-12-31 2022-04-22 歌尔股份有限公司 破膜现象的处理方法、装置、设备及计算机可读存储介质
JP2022086766A (ja) * 2020-11-30 2022-06-09 株式会社Screenホールディングス 減圧乾燥装置
TWI836297B (zh) * 2020-11-30 2024-03-21 日商斯庫林集團股份有限公司 減壓乾燥裝置
CN114570621B (zh) * 2020-11-30 2024-06-18 株式会社斯库林集团 减压干燥装置

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