JPH09311123A - 磁粉探傷方法及び装置 - Google Patents
磁粉探傷方法及び装置Info
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- JPH09311123A JPH09311123A JP8128645A JP12864596A JPH09311123A JP H09311123 A JPH09311123 A JP H09311123A JP 8128645 A JP8128645 A JP 8128645A JP 12864596 A JP12864596 A JP 12864596A JP H09311123 A JPH09311123 A JP H09311123A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁性材料の被検査材を直送するラインでの磁
粉探傷において、欠陥部位に発生した漏洩磁束を弱める
ことなく磁粉模様を撮像することができ、欠陥検出力の
低下をきたさない磁粉探傷方法及び装置を得る。 【解決手段】 探傷制御装置６は被検査材１の移送及び
停止を断続的に繰り返させ、被検査材の停止時に、磁化
・磁粉散布装置４の有効磁化長さ分毎に被検査材１への
磁化及び磁粉散布を行わせ、被検査材の移送時には、磁
化及び磁粉散布を行わせずに、磁粉模様観察装置５に磁
粉模様の観察を行わせる。
粉探傷において、欠陥部位に発生した漏洩磁束を弱める
ことなく磁粉模様を撮像することができ、欠陥検出力の
低下をきたさない磁粉探傷方法及び装置を得る。 【解決手段】 探傷制御装置６は被検査材１の移送及び
停止を断続的に繰り返させ、被検査材の停止時に、磁化
・磁粉散布装置４の有効磁化長さ分毎に被検査材１への
磁化及び磁粉散布を行わせ、被検査材の移送時には、磁
化及び磁粉散布を行わせずに、磁粉模様観察装置５に磁
粉模様の観察を行わせる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は磁性材料の非破壊検
査法のうちの磁粉探傷方法及びその装置に関し、特に磁
性材料の全長、全表面の磁粉探傷に於ける連続自動探傷
に関するものである。
査法のうちの磁粉探傷方法及びその装置に関し、特に磁
性材料の全長、全表面の磁粉探傷に於ける連続自動探傷
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図８は例えば特開平７−２２５２２１号
公報に開示されている従来の鋼管磁粉探傷装置の構成を
示すブロック図である。図において、１は被検査材であ
る鋼管、２は管の芯ずれを抑止するピンチロール、３は
搬送ローラ、４は磁化・磁粉散布装置、５は磁粉模様観
察装置である。磁化・磁粉散布装置４と磁粉模様観察装
置５とは、被検査鋼管１を直送するラインに直列に設け
られている。
公報に開示されている従来の鋼管磁粉探傷装置の構成を
示すブロック図である。図において、１は被検査材であ
る鋼管、２は管の芯ずれを抑止するピンチロール、３は
搬送ローラ、４は磁化・磁粉散布装置、５は磁粉模様観
察装置である。磁化・磁粉散布装置４と磁粉模様観察装
置５とは、被検査鋼管１を直送するラインに直列に設け
られている。
【０００３】図９は磁化・磁粉散布装置４の斜視図であ
る。図において、４１は被検査鋼管１の管軸に沿ってス
パイラル上に巻回された円筒コイルであり、その筒部へ
の被検査材の挿脱は自在である。４２は＃型ツインコイ
ルであり、４２ａ〜４２ｄは＃型ツインコイル４２を構
成する４個の角型コイルである。４個の角型コイル４２
ａ〜４２ｄは、鋼管１を囲んで管表面に平行に巻回され
ている。円筒コイル４１は直流電源にて直流励磁され
る。また対向する角型コイル４２ａ、４２ｃ及び４２
ｂ、４２ｄ間には互いに位相が１２０度ずれた三相交流
電源が接続されている。従って、４個の角型コイル４２
ａ〜４２ｄからなる＃型ツインコイル４２により、回転
磁界が生起される。
る。図において、４１は被検査鋼管１の管軸に沿ってス
パイラル上に巻回された円筒コイルであり、その筒部へ
の被検査材の挿脱は自在である。４２は＃型ツインコイ
ルであり、４２ａ〜４２ｄは＃型ツインコイル４２を構
成する４個の角型コイルである。４個の角型コイル４２
ａ〜４２ｄは、鋼管１を囲んで管表面に平行に巻回され
ている。円筒コイル４１は直流電源にて直流励磁され
る。また対向する角型コイル４２ａ、４２ｃ及び４２
ｂ、４２ｄ間には互いに位相が１２０度ずれた三相交流
電源が接続されている。従って、４個の角型コイル４２
ａ〜４２ｄからなる＃型ツインコイル４２により、回転
磁界が生起される。
【０００４】４５は被検査材に向かって磁粉液を散布す
る磁粉液散布ノズルであり、４６は余剰の磁粉液を回収
する磁粉液回収皿である。４７は架台であり、上記円筒
コイル４１、＃型ツインコイル４２、磁粉液散布ノズル
４５及び磁粉液回収皿４６は、この架台４７の上に設け
られている。
る磁粉液散布ノズルであり、４６は余剰の磁粉液を回収
する磁粉液回収皿である。４７は架台であり、上記円筒
コイル４１、＃型ツインコイル４２、磁粉液散布ノズル
４５及び磁粉液回収皿４６は、この架台４７の上に設け
られている。
【０００５】図１０は被検査材表面の磁粉模様を観察す
ることにより欠陥抽出を行う磁粉模様観察装置５の説明
図であり、図中５１は被検査材１の表面の磁粉模様を撮
像する回転型の磁粉模様撮像装置、５３は回転型の磁粉
模様撮像装置５１からの撮像信号を入力して欠陥信号を
抽出するための画像処理装置である。図中５１１は筐
体、５１６は筐体５１１に設けられた回転体であり、駆
動モーターを用いて回転駆動される。５１２は紫外線
灯、５１３は高さ位置調整可能な投光側フィルター、５
１４は撮像装置としてのＣＣＤラインセンサー、５１５
は受光側フィルターであり、これらはすべてこの回転体
５１６に取り付けられている。磁化及び磁粉散布された
被検査材１の表面に紫外線灯５１２により紫外線が照射
され、ＣＣＤセンサーを用いた撮像装置５１４が上記紫
外線を照射された被検査材１の表面の磁粉模様を撮像す
る。回転型の磁粉模様撮像装置５１は、被検査材１の周
りを回転することにより、被検査材１の全表面の磁粉模
様の撮像を可能にしている。
ることにより欠陥抽出を行う磁粉模様観察装置５の説明
図であり、図中５１は被検査材１の表面の磁粉模様を撮
像する回転型の磁粉模様撮像装置、５３は回転型の磁粉
模様撮像装置５１からの撮像信号を入力して欠陥信号を
抽出するための画像処理装置である。図中５１１は筐
体、５１６は筐体５１１に設けられた回転体であり、駆
動モーターを用いて回転駆動される。５１２は紫外線
灯、５１３は高さ位置調整可能な投光側フィルター、５
１４は撮像装置としてのＣＣＤラインセンサー、５１５
は受光側フィルターであり、これらはすべてこの回転体
５１６に取り付けられている。磁化及び磁粉散布された
被検査材１の表面に紫外線灯５１２により紫外線が照射
され、ＣＣＤセンサーを用いた撮像装置５１４が上記紫
外線を照射された被検査材１の表面の磁粉模様を撮像す
る。回転型の磁粉模様撮像装置５１は、被検査材１の周
りを回転することにより、被検査材１の全表面の磁粉模
様の撮像を可能にしている。
【０００６】このような従来の鋼管磁粉探傷装置は、被
検査材１が直送されるラインに設置される。被検査材１
の移送速度は、被検査材１である鋼管の外径及び肉厚や
当該装置の励磁能力等から決定される。磁化・磁粉散布
装置４により被検査材１への磁化及び磁粉散布がなされ
ると、これに続いて設けられた磁粉模様観察装置５に組
み込まれた回転型の磁粉模様撮像装置５１が、被検査材
１の表面に生成した磁粉模様を被検査材１の全長、全面
にわたって撮像する。回転型の磁粉模様撮像装置５１か
らの信号は計算機を用いた画像処理装置５３に送られ、
欠陥の自動判定がなされる。
検査材１が直送されるラインに設置される。被検査材１
の移送速度は、被検査材１である鋼管の外径及び肉厚や
当該装置の励磁能力等から決定される。磁化・磁粉散布
装置４により被検査材１への磁化及び磁粉散布がなされ
ると、これに続いて設けられた磁粉模様観察装置５に組
み込まれた回転型の磁粉模様撮像装置５１が、被検査材
１の表面に生成した磁粉模様を被検査材１の全長、全面
にわたって撮像する。回転型の磁粉模様撮像装置５１か
らの信号は計算機を用いた画像処理装置５３に送られ、
欠陥の自動判定がなされる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記のような被検査材
１を直送するラインに設けられた従来の磁粉探傷装置で
は、被検査材１の移送及び被検査材１への磁化及び磁粉
散布を停止することなく行っているので、磁化・磁粉散
布装置４の出側において磁化コイル群４０が自身の外の
空間に発している磁束により、被検査材１が磁化コイル
群４０内で磁化された方向とは逆の極配置となった磁場
内を通過せざるをえず、結果として欠陥部に発生した漏
洩磁束が弱まってしまい、欠陥検出力の低下をきたすと
いう問題があった。
１を直送するラインに設けられた従来の磁粉探傷装置で
は、被検査材１の移送及び被検査材１への磁化及び磁粉
散布を停止することなく行っているので、磁化・磁粉散
布装置４の出側において磁化コイル群４０が自身の外の
空間に発している磁束により、被検査材１が磁化コイル
群４０内で磁化された方向とは逆の極配置となった磁場
内を通過せざるをえず、結果として欠陥部に発生した漏
洩磁束が弱まってしまい、欠陥検出力の低下をきたすと
いう問題があった。
【０００８】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたものであり、被検査材を直送するラインに
おいて、被検査材への磁化により欠陥部に発生した漏洩
磁束を弱めることなく、欠陥検出力の低下をきたさずに
被検査材の磁粉探傷が行えるようにした磁粉探傷方法及
び装置を得るものである。
めになされたものであり、被検査材を直送するラインに
おいて、被検査材への磁化により欠陥部に発生した漏洩
磁束を弱めることなく、欠陥検出力の低下をきたさずに
被検査材の磁粉探傷が行えるようにした磁粉探傷方法及
び装置を得るものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明に係る磁粉探傷方
法においては、磁性材料からなる被検査材を直送するラ
インにおいて、前記被検査材を磁化する工程の有効磁化
長さ分だけの前記被検査材の移送及び停止を繰返す工程
と、前記被検査材の停止時に前記被検査材への磁化及び
磁粉散布を行う工程と、磁化及び磁粉散布された前記被
検査材の磁粉模様観察を行う工程とを有する。このため
被検査材の移送中に外部空間に飛散する浮遊磁束がない
ので、被検査材の欠陥部に発生した漏洩磁束が弱められ
ることがない。
法においては、磁性材料からなる被検査材を直送するラ
インにおいて、前記被検査材を磁化する工程の有効磁化
長さ分だけの前記被検査材の移送及び停止を繰返す工程
と、前記被検査材の停止時に前記被検査材への磁化及び
磁粉散布を行う工程と、磁化及び磁粉散布された前記被
検査材の磁粉模様観察を行う工程とを有する。このため
被検査材の移送中に外部空間に飛散する浮遊磁束がない
ので、被検査材の欠陥部に発生した漏洩磁束が弱められ
ることがない。
【００１０】本発明に係る磁粉探傷方法においては、被
検査鋼管を直送するラインにおいて、前記鋼管を磁化す
る工程の有効磁化長さ分だけの前記鋼管の移送及び停止
を繰返す工程と、前記鋼管の停止時に前記鋼管への磁化
及び磁粉散布を行う工程と、磁化及び磁粉散布された前
記鋼管の磁粉模様観察を行う工程とを有し、前記鋼管へ
の磁化及び磁粉散布を行う工程においては、前記鋼管の
軸方向に沿った直流磁界を生成するとともに、前記鋼管
の周方向に回転する回転磁界を生成して前記鋼管を磁化
する。このため、前記鋼管の移送中に外部空間に飛散す
る浮遊磁束がないので、前記鋼管の欠陥部に発生した漏
洩磁束が弱められることがない。
検査鋼管を直送するラインにおいて、前記鋼管を磁化す
る工程の有効磁化長さ分だけの前記鋼管の移送及び停止
を繰返す工程と、前記鋼管の停止時に前記鋼管への磁化
及び磁粉散布を行う工程と、磁化及び磁粉散布された前
記鋼管の磁粉模様観察を行う工程とを有し、前記鋼管へ
の磁化及び磁粉散布を行う工程においては、前記鋼管の
軸方向に沿った直流磁界を生成するとともに、前記鋼管
の周方向に回転する回転磁界を生成して前記鋼管を磁化
する。このため、前記鋼管の移送中に外部空間に飛散す
る浮遊磁束がないので、前記鋼管の欠陥部に発生した漏
洩磁束が弱められることがない。
【００１１】本発明に係る磁粉探傷方法においては、被
検査鋼板を直送するラインにおいて、前記鋼板を磁化す
る工程の有効磁化長さ分だけの前記鋼板の移送及び停止
を繰返す工程と、前記鋼板の停止時に前記鋼板への磁化
及び磁粉散布を行う工程と、磁化及び磁粉散布された前
記鋼板の磁粉模様観察を行う工程とを有し、前記鋼板へ
の磁化及び磁粉散布を行う工程においては、前記鋼板の
板面に沿った磁界を生成し、前記鋼板を磁化する。この
ため、前記鋼板の移送中に外部空間に飛散する浮遊磁束
がないので、前記鋼板の欠陥部に発生した漏洩磁束が弱
められることがない。
検査鋼板を直送するラインにおいて、前記鋼板を磁化す
る工程の有効磁化長さ分だけの前記鋼板の移送及び停止
を繰返す工程と、前記鋼板の停止時に前記鋼板への磁化
及び磁粉散布を行う工程と、磁化及び磁粉散布された前
記鋼板の磁粉模様観察を行う工程とを有し、前記鋼板へ
の磁化及び磁粉散布を行う工程においては、前記鋼板の
板面に沿った磁界を生成し、前記鋼板を磁化する。この
ため、前記鋼板の移送中に外部空間に飛散する浮遊磁束
がないので、前記鋼板の欠陥部に発生した漏洩磁束が弱
められることがない。
【００１２】本発明に係る磁粉探傷装置においては、磁
性材料からなる被検査材を直送するラインにおいて、前
記被検査材を磁化するとともに磁粉を散布する磁化・磁
粉散布装置と、これに続いて磁化及び磁粉散布された前
記被検査材の磁粉模様を観察する磁粉模様観察装置と、
前記被検査材を直送するライン上の特定位置において前
記被検査材の有無を検出する一つ又は複数個の被検査材
検出センサーと、前記被検査材の移送量を計測する複数
個の移送量計測センサーと、前記被検査材検出センサー
及び移送量計測センサーからの入力信号に基づいて、前
記磁化・磁粉散布装置の有効磁化長さ分だけの前記被検
査材の移送及び停止を繰り返させ、前記被検査材の停止
時に前記磁化・磁粉散布装置に前記被検査材への磁化及
び磁粉散布を行わせ、前記磁粉模様観察装置に磁粉模様
観察を行わせる探傷制御装置とを有する。このため被検
査材の移送中に外部空間に飛散する浮遊磁束がないの
で、被検査材の欠陥部に発生した漏洩磁束が弱められる
ことがない。
性材料からなる被検査材を直送するラインにおいて、前
記被検査材を磁化するとともに磁粉を散布する磁化・磁
粉散布装置と、これに続いて磁化及び磁粉散布された前
記被検査材の磁粉模様を観察する磁粉模様観察装置と、
前記被検査材を直送するライン上の特定位置において前
記被検査材の有無を検出する一つ又は複数個の被検査材
検出センサーと、前記被検査材の移送量を計測する複数
個の移送量計測センサーと、前記被検査材検出センサー
及び移送量計測センサーからの入力信号に基づいて、前
記磁化・磁粉散布装置の有効磁化長さ分だけの前記被検
査材の移送及び停止を繰り返させ、前記被検査材の停止
時に前記磁化・磁粉散布装置に前記被検査材への磁化及
び磁粉散布を行わせ、前記磁粉模様観察装置に磁粉模様
観察を行わせる探傷制御装置とを有する。このため被検
査材の移送中に外部空間に飛散する浮遊磁束がないの
で、被検査材の欠陥部に発生した漏洩磁束が弱められる
ことがない。
【００１３】本発明に係る磁粉探傷装置においては、被
検査鋼管を直送するラインにおいて、前記鋼管を磁化す
るとともに磁粉を散布する磁化・磁粉散布装置と、これ
に続いて磁化及び磁粉散布された前記鋼管の磁粉模様を
観察する磁粉模様観察装置と、前記鋼管を直送するライ
ン上の特定位置において前記鋼管の有無を検出する一つ
又は複数個の被検査材検出センサーと、前記鋼管の移送
量を計測する複数個の移送量計測センサーと、前記被検
査材検出センサー及び移送量計測センサーからの入力信
号に基づいて、前記磁化・磁粉散布装置の有効磁化長さ
分だけの前記鋼管の移送及び停止を繰り返させ、前記鋼
管の停止時に前記磁化・磁粉散布装置に前記鋼管への磁
化及び磁粉散布を行わせ、前記磁粉模様観察装置に磁粉
模様観察を行わせる探傷制御装置とを有し、前記磁化・
磁粉散布装置は、前記被検査鋼管の管軸に沿ってスパイ
ラル状に巻回された円筒コイル、及び管表面に平行に巻
回された４個の角形コイルを前記鋼管を囲んで＃型に配
置してなる＃型ツインコイルよりなる磁化コイル群と、
前記磁化コイル群内に取り付けられた複数の磁粉液散布
装置とを有する。このため前記鋼管の移送中に外部空間
に飛散する浮遊磁束がないので、前記鋼管の欠陥部に発
生した漏洩磁束が弱められることがない。
検査鋼管を直送するラインにおいて、前記鋼管を磁化す
るとともに磁粉を散布する磁化・磁粉散布装置と、これ
に続いて磁化及び磁粉散布された前記鋼管の磁粉模様を
観察する磁粉模様観察装置と、前記鋼管を直送するライ
ン上の特定位置において前記鋼管の有無を検出する一つ
又は複数個の被検査材検出センサーと、前記鋼管の移送
量を計測する複数個の移送量計測センサーと、前記被検
査材検出センサー及び移送量計測センサーからの入力信
号に基づいて、前記磁化・磁粉散布装置の有効磁化長さ
分だけの前記鋼管の移送及び停止を繰り返させ、前記鋼
管の停止時に前記磁化・磁粉散布装置に前記鋼管への磁
化及び磁粉散布を行わせ、前記磁粉模様観察装置に磁粉
模様観察を行わせる探傷制御装置とを有し、前記磁化・
磁粉散布装置は、前記被検査鋼管の管軸に沿ってスパイ
ラル状に巻回された円筒コイル、及び管表面に平行に巻
回された４個の角形コイルを前記鋼管を囲んで＃型に配
置してなる＃型ツインコイルよりなる磁化コイル群と、
前記磁化コイル群内に取り付けられた複数の磁粉液散布
装置とを有する。このため前記鋼管の移送中に外部空間
に飛散する浮遊磁束がないので、前記鋼管の欠陥部に発
生した漏洩磁束が弱められることがない。
【００１４】本発明に係る磁粉探傷装置においては、被
検査鋼板を直送するラインにおいて、前記鋼板を磁化す
るとともに磁粉を散布する磁化・磁粉散布装置と、これ
に続いて磁化及び磁粉散布された前記鋼板の磁粉模様を
観察する磁粉模様観察装置と、前記鋼板を直送するライ
ン上の特定位置において前記鋼板の有無を検出する一つ
又は複数個の被検査材検出センサーと、前記鋼板の移送
量を計測する複数個の移送量計測センサーと、前記被検
査材検出センサー及び移送量計測センサーからの入力信
号に基づいて、前記磁化・磁粉散布装置の有効磁化長さ
分だけの前記鋼板の移送及び停止を繰り返させ、前記鋼
板の停止時に前記磁化・磁粉散布装置に前記鋼板への磁
化及び磁粉散布を行わせ、前記磁粉模様観察装置に磁粉
模様観察を行わせる探傷制御装置とを有し、前記磁化・
磁粉散布装置は、コの字状のヨークと該ヨークの両端部
にそれぞれ設けられたロールとを有し、前記ロールを磁
極として、被検査鋼板の板面に沿って前記鋼板を磁化す
る。このため前記鋼板の移送中に外部空間に飛散する浮
遊磁束がないので、前記鋼板の欠陥部に発生した漏洩磁
束が弱められることがない。
検査鋼板を直送するラインにおいて、前記鋼板を磁化す
るとともに磁粉を散布する磁化・磁粉散布装置と、これ
に続いて磁化及び磁粉散布された前記鋼板の磁粉模様を
観察する磁粉模様観察装置と、前記鋼板を直送するライ
ン上の特定位置において前記鋼板の有無を検出する一つ
又は複数個の被検査材検出センサーと、前記鋼板の移送
量を計測する複数個の移送量計測センサーと、前記被検
査材検出センサー及び移送量計測センサーからの入力信
号に基づいて、前記磁化・磁粉散布装置の有効磁化長さ
分だけの前記鋼板の移送及び停止を繰り返させ、前記鋼
板の停止時に前記磁化・磁粉散布装置に前記鋼板への磁
化及び磁粉散布を行わせ、前記磁粉模様観察装置に磁粉
模様観察を行わせる探傷制御装置とを有し、前記磁化・
磁粉散布装置は、コの字状のヨークと該ヨークの両端部
にそれぞれ設けられたロールとを有し、前記ロールを磁
極として、被検査鋼板の板面に沿って前記鋼板を磁化す
る。このため前記鋼板の移送中に外部空間に飛散する浮
遊磁束がないので、前記鋼板の欠陥部に発生した漏洩磁
束が弱められることがない。
【００１５】
実施の形態１．図１は本発明の第１の実施の形態に係る
鋼管磁粉探傷装置の構成を示すブロック図であり、図８
に示された符号と同一符号のものは同一又は相当部を示
すものとし、１は被検査材である鋼管、２は被検査材１
の移送中の踊りを防止するためのピンチロール、３は被
検査材１を移送するため搬送ローラ、４は被検査材１を
磁化するとともに被検査材１に磁粉を散布する磁化・磁
粉散布装置（詳細は図９参照）、５は被検査材１の表面
の磁粉模様を観察し、欠陥抽出を行うための磁粉模様観
察装置である（詳細は図１０参照）。６は被検査材１の
移送を制御するとともに、磁化・磁粉散布装置４及び磁
粉模様観察装置５を制御する探傷制御装置、７は磁化・
磁粉散布装置４の上流側に設置され、被検査材の有無を
検出する被検査材検出センサー、８は磁化・磁粉散布装
置４と磁粉模様観察装置５の間に設置され、被検査材の
有無を検出する被検査材検出センサー、９は被検査材の
移送量を計測する移送量計測センサーである。磁粉模様
撮像装置５１での信号及び電源の授受は、スリップリン
グ、電磁カップリング等を用いて行う。回転型の磁粉模
様撮像装置５１からの撮像信号は、欠陥信号を抽出する
ため、計算機を用いた画像処理装置５３に入力される。
なお回転型の磁粉模様撮像装置５１からの撮像信号をモ
ニター画面に写し出して、人間に欠陥の有無を判定させ
てもよい。
鋼管磁粉探傷装置の構成を示すブロック図であり、図８
に示された符号と同一符号のものは同一又は相当部を示
すものとし、１は被検査材である鋼管、２は被検査材１
の移送中の踊りを防止するためのピンチロール、３は被
検査材１を移送するため搬送ローラ、４は被検査材１を
磁化するとともに被検査材１に磁粉を散布する磁化・磁
粉散布装置（詳細は図９参照）、５は被検査材１の表面
の磁粉模様を観察し、欠陥抽出を行うための磁粉模様観
察装置である（詳細は図１０参照）。６は被検査材１の
移送を制御するとともに、磁化・磁粉散布装置４及び磁
粉模様観察装置５を制御する探傷制御装置、７は磁化・
磁粉散布装置４の上流側に設置され、被検査材の有無を
検出する被検査材検出センサー、８は磁化・磁粉散布装
置４と磁粉模様観察装置５の間に設置され、被検査材の
有無を検出する被検査材検出センサー、９は被検査材の
移送量を計測する移送量計測センサーである。磁粉模様
撮像装置５１での信号及び電源の授受は、スリップリン
グ、電磁カップリング等を用いて行う。回転型の磁粉模
様撮像装置５１からの撮像信号は、欠陥信号を抽出する
ため、計算機を用いた画像処理装置５３に入力される。
なお回転型の磁粉模様撮像装置５１からの撮像信号をモ
ニター画面に写し出して、人間に欠陥の有無を判定させ
てもよい。
【００１６】図２は磁化・磁粉散布装置４内の磁化コイ
ル群４０の有効磁化長さを示す図である。有効磁化長さ
はコイルの寸法、形状、構造等により決定されるが、コ
イルの製作の容易さ、コスト、及び磁化能力等を考慮し
て、５００〜１，０００ｍｍの有効磁化長さのものが適
当である。
ル群４０の有効磁化長さを示す図である。有効磁化長さ
はコイルの寸法、形状、構造等により決定されるが、コ
イルの製作の容易さ、コスト、及び磁化能力等を考慮し
て、５００〜１，０００ｍｍの有効磁化長さのものが適
当である。
【００１７】被検査材検出センサー７及び８には、投受
光型または反射型の光学方式、あるいは電磁気方式の近
接スイッチ等を使用する。移送量計測センサー９として
は被検査材１に接触させたローラの回転軸にエンコーダ
ーを結合した接触式のもの、あるいはドップラー原理に
基づいた非接触の光学方式のもの等を使用する。
光型または反射型の光学方式、あるいは電磁気方式の近
接スイッチ等を使用する。移送量計測センサー９として
は被検査材１に接触させたローラの回転軸にエンコーダ
ーを結合した接触式のもの、あるいはドップラー原理に
基づいた非接触の光学方式のもの等を使用する。
【００１８】次に探傷制御装置６の制御動作を説明す
る。図３及び図４は探傷制御装置６の制御動作を示すフ
ローチャートである。また図５は探傷制御装置６の制御
動作の一例を示すタイミング図である。被検査材１の先
端が被検査材検出センサー７の設置位置に到達すると
（図５のｔ1 ）、被検査材検出センサー７からのオン信
号が、探傷制御装置６に入力される（Ｓ３０１）。探傷
制御装置６は上記被検査材検出センサー７からのオン信
号の入力を起点として、移送量計測センサー９からの信
号の入力を開始し（Ｓ３０２）、移送量計測センサー９
から入力した移送量信号により被検査材検出センサー７
の設置位置から磁化・磁粉散布装置４内の有効磁化領域
の下流側境界位置までの距離を被検査材１の先端が移送
されたかどうかを判断する（Ｓ３０３）。被検査材の先
端が磁化・磁粉散布装置４内の有効磁化領域の下流側境
界位置まで到達したことを確認後（図５のｔ2 ）、被検
査材の移送を停止するとともに移送量計測センサーから
の入力信号をリセットする（Ｓ３０４）。次に磁化・磁
粉散布装置４に被検査材１への磁化及び磁粉散布を行わ
せる（Ｓ３０５）。磁化及び磁粉散布を完了後（Ｓ３０
６）、磁化及び磁粉散布を停止し（Ｓ３０７）、被検査
材全長の磁化及び磁粉散布が完了したかどうかを判断す
る（Ｓ３０８）。被検査材全長の磁化及び磁粉散布が完
了していない場合は、被検査材１の移送を再開するとと
もに、移送量計測センサーからの信号の入力を再開する
（Ｓ３０９）。移送量計測センサー９から入力した移送
量信号により、被検査材１が磁化・磁粉散布装置４の有
効磁化長さ分だけ移送されたかどうかを判断する（Ｓ３
１０）。被検査材１が磁化・磁粉散布装置の有効磁化長
さ分だけ移送されたことを確認後、再び被検査材１を停
止する（Ｓ３０４）。停止後、再び磁化及び磁粉散布を
行う（Ｓ３０５）。以降、以上の動作を繰返し、被検査
材の全長にわたり磁化及び磁粉散布を行う。被検査材の
後端が被検査材検出センサー７の設置位置に到達すると
（図５のｔ5 ）、被検査材検出センサー７からのオフ信
号が、探傷制御装置６に入力される。探傷制御装置６
は、上記被検査材検出センサー７からのオフ信号の入力
を起点として、被検査材検出センサー７の設置位置から
磁化・磁粉散布装置４内の有効磁化領域の上流側位置ま
での距離以上に被検査材が移送されたかどうかを移送量
計測センサー９から入力される移送量信号により判断
し、移送されたことが確認されたときに被検査材全長の
磁化及び磁粉散布が完了したと判断する（Ｓ３０８及び
図５のｔ6 ）。磁化及び磁粉散布を全長完了した被検査
材１はその後停止することなく直送される（Ｓ３１
１）。なお、被検査材１の停止位置の制御精度、被検査
材検出センサー７、８及び移送量計測センサー９の計測
誤差を考慮して、実際は磁化・磁粉散布装置の有効磁化
長分さより短い長さ分だけ被検査材１を移送、停止させ
て、被検査材１への磁化及び磁粉散布を被検査材１の軸
方向にある程度ラップさせて行い、磁化及び磁粉散布の
被検査材１の軸方向途中での抜けがないようにする。
る。図３及び図４は探傷制御装置６の制御動作を示すフ
ローチャートである。また図５は探傷制御装置６の制御
動作の一例を示すタイミング図である。被検査材１の先
端が被検査材検出センサー７の設置位置に到達すると
（図５のｔ1 ）、被検査材検出センサー７からのオン信
号が、探傷制御装置６に入力される（Ｓ３０１）。探傷
制御装置６は上記被検査材検出センサー７からのオン信
号の入力を起点として、移送量計測センサー９からの信
号の入力を開始し（Ｓ３０２）、移送量計測センサー９
から入力した移送量信号により被検査材検出センサー７
の設置位置から磁化・磁粉散布装置４内の有効磁化領域
の下流側境界位置までの距離を被検査材１の先端が移送
されたかどうかを判断する（Ｓ３０３）。被検査材の先
端が磁化・磁粉散布装置４内の有効磁化領域の下流側境
界位置まで到達したことを確認後（図５のｔ2 ）、被検
査材の移送を停止するとともに移送量計測センサーから
の入力信号をリセットする（Ｓ３０４）。次に磁化・磁
粉散布装置４に被検査材１への磁化及び磁粉散布を行わ
せる（Ｓ３０５）。磁化及び磁粉散布を完了後（Ｓ３０
６）、磁化及び磁粉散布を停止し（Ｓ３０７）、被検査
材全長の磁化及び磁粉散布が完了したかどうかを判断す
る（Ｓ３０８）。被検査材全長の磁化及び磁粉散布が完
了していない場合は、被検査材１の移送を再開するとと
もに、移送量計測センサーからの信号の入力を再開する
（Ｓ３０９）。移送量計測センサー９から入力した移送
量信号により、被検査材１が磁化・磁粉散布装置４の有
効磁化長さ分だけ移送されたかどうかを判断する（Ｓ３
１０）。被検査材１が磁化・磁粉散布装置の有効磁化長
さ分だけ移送されたことを確認後、再び被検査材１を停
止する（Ｓ３０４）。停止後、再び磁化及び磁粉散布を
行う（Ｓ３０５）。以降、以上の動作を繰返し、被検査
材の全長にわたり磁化及び磁粉散布を行う。被検査材の
後端が被検査材検出センサー７の設置位置に到達すると
（図５のｔ5 ）、被検査材検出センサー７からのオフ信
号が、探傷制御装置６に入力される。探傷制御装置６
は、上記被検査材検出センサー７からのオフ信号の入力
を起点として、被検査材検出センサー７の設置位置から
磁化・磁粉散布装置４内の有効磁化領域の上流側位置ま
での距離以上に被検査材が移送されたかどうかを移送量
計測センサー９から入力される移送量信号により判断
し、移送されたことが確認されたときに被検査材全長の
磁化及び磁粉散布が完了したと判断する（Ｓ３０８及び
図５のｔ6 ）。磁化及び磁粉散布を全長完了した被検査
材１はその後停止することなく直送される（Ｓ３１
１）。なお、被検査材１の停止位置の制御精度、被検査
材検出センサー７、８及び移送量計測センサー９の計測
誤差を考慮して、実際は磁化・磁粉散布装置の有効磁化
長分さより短い長さ分だけ被検査材１を移送、停止させ
て、被検査材１への磁化及び磁粉散布を被検査材１の軸
方向にある程度ラップさせて行い、磁化及び磁粉散布の
被検査材１の軸方向途中での抜けがないようにする。
【００１９】被検査材１の先端が被検査材検出センサー
８の設置位置に到達すると（図５のｔ3 ）、被検査材検
出センサー８からのオン信号が探傷制御装置６に入力さ
れる（Ｓ４０１）。探傷制御装置６は上記被検査材検出
センサー８からのオン信号の入力を起点として、移送量
計測センサー９からの信号の入力を開始し（Ｓ４０
２）、移送量計測センサー９から入力した移送量信号に
より被検査材検出センサー８の設置位置から磁粉模様観
察装置５までの距離を被検査材１の先端が移送されたか
どうかを判断する（Ｓ４０３）。被検査材１の先端が磁
粉模様観察装置５まで到達したことを確認後（図５のｔ
4 ）、被検査材１の表面の磁粉模様の観察を開始し、以
降被検査材１の全長にわたり被検査材１の表面の磁粉模
様を観察する（Ｓ４０４）。被検査材１の後端が被検査
材検出センサー８の設置位置に到達すると（図５の
ｔ7 ）、被検査材検出センサー８からのオフ信号が探傷
制御装置６に入力される。探傷制御装置６は、上記被検
査材検出センサー８からのオフ信号の入力を起点とし
て、被検査材検出センサー８の設置位置から磁粉模様観
察装置５までの距離以上に被検査材１が移送されたかど
うかを移送量計測センサー９から入力される移送量信号
により判断し、移送されたことが確認されたときに被検
査材１の全長の磁粉模様観察が完了したと判断し（Ｓ４
０５及び図５のｔ8 ）、磁粉模様の観察を終了する（Ｓ
４０６）。
８の設置位置に到達すると（図５のｔ3 ）、被検査材検
出センサー８からのオン信号が探傷制御装置６に入力さ
れる（Ｓ４０１）。探傷制御装置６は上記被検査材検出
センサー８からのオン信号の入力を起点として、移送量
計測センサー９からの信号の入力を開始し（Ｓ４０
２）、移送量計測センサー９から入力した移送量信号に
より被検査材検出センサー８の設置位置から磁粉模様観
察装置５までの距離を被検査材１の先端が移送されたか
どうかを判断する（Ｓ４０３）。被検査材１の先端が磁
粉模様観察装置５まで到達したことを確認後（図５のｔ
4 ）、被検査材１の表面の磁粉模様の観察を開始し、以
降被検査材１の全長にわたり被検査材１の表面の磁粉模
様を観察する（Ｓ４０４）。被検査材１の後端が被検査
材検出センサー８の設置位置に到達すると（図５の
ｔ7 ）、被検査材検出センサー８からのオフ信号が探傷
制御装置６に入力される。探傷制御装置６は、上記被検
査材検出センサー８からのオフ信号の入力を起点とし
て、被検査材検出センサー８の設置位置から磁粉模様観
察装置５までの距離以上に被検査材１が移送されたかど
うかを移送量計測センサー９から入力される移送量信号
により判断し、移送されたことが確認されたときに被検
査材１の全長の磁粉模様観察が完了したと判断し（Ｓ４
０５及び図５のｔ8 ）、磁粉模様の観察を終了する（Ｓ
４０６）。
【００２０】本実施の形態１では被検査材検出センサー
は２個使用しているが、被検査材検出センサー７の１個
のみでも同様の制御が可能である。移送量計測センサー
９については、被検査材１の全長にわたって探傷制御装
置６の制御動作をを可能ならしめるため、探傷中の被検
査材１の位置にかかわらず移送量が計測できるよう必要
数設置する。
は２個使用しているが、被検査材検出センサー７の１個
のみでも同様の制御が可能である。移送量計測センサー
９については、被検査材１の全長にわたって探傷制御装
置６の制御動作をを可能ならしめるため、探傷中の被検
査材１の位置にかかわらず移送量が計測できるよう必要
数設置する。
【００２１】ところで、上記説明では本発明を鋼管に利
用する場合について述べたが、丸棒あるいは、丸ビレッ
トの形状を有する磁性材料及び鋼以外の磁性材料の管に
も利用できることはいうまでもない。
用する場合について述べたが、丸棒あるいは、丸ビレッ
トの形状を有する磁性材料及び鋼以外の磁性材料の管に
も利用できることはいうまでもない。
【００２２】実施の形態２．図６は本発明の第２の実施
の形態に係る鋼管磁粉探傷装置の構成を示すブロック図
である。図中、６１は被検査材の移送を制御する移送制
御装置、６２は磁化・磁粉散布装置４を制御する磁化・
磁粉散布制御装置、６３は磁粉模様観察装置を制御する
磁粉模様観察制御装置である。上述の実施の形態１にお
いては、探傷制御装置６が被検査材１の移送、磁化・磁
粉散布装置４及び磁粉模様観察装置５を全て制御してい
るが、本実施の形態２に示すように、それぞれ個別の制
御装置を用いてもよい。
の形態に係る鋼管磁粉探傷装置の構成を示すブロック図
である。図中、６１は被検査材の移送を制御する移送制
御装置、６２は磁化・磁粉散布装置４を制御する磁化・
磁粉散布制御装置、６３は磁粉模様観察装置を制御する
磁粉模様観察制御装置である。上述の実施の形態１にお
いては、探傷制御装置６が被検査材１の移送、磁化・磁
粉散布装置４及び磁粉模様観察装置５を全て制御してい
るが、本実施の形態２に示すように、それぞれ個別の制
御装置を用いてもよい。
【００２３】実施の形態３．図７は本発明を鋼板に利用
する場合の磁化・磁粉散布装置４及び磁粉模様観察装置
５の説明図である。図中、４３は被検査材である鋼板１
を磁化するためのロール磁極方式の磁化装置である。４
３１及び４３２は磁極を構成するロールであり、被検査
材１の搬送にも利用される。４３３はこの両磁極を構成
するロール４３１及び４３２を結合したコの字状のヨー
ク、４３４はコの字状のヨーク４３３に巻回されたコイ
ル、４３５はコイル４３４に電流を供給する直流電源で
ある。４５は磁粉液散布装置であり、被検査材１の上面
側及び下面側の両方に設置され、それぞれ被検査材１の
上面及び下面に磁粉を散布する。５２は被検査材１の上
下面の磁粉模様を撮像する上下面磁粉模様撮像装置であ
る。５２１ａ及び５２１ｂは紫外線灯、５２２ａ及び５
２２ｂはＣＣＤセンサーを用いた撮像装置であり、上下
面磁粉模様撮像装置５２の構成要素である。紫外線灯５
２１ａ及び磁粉模様撮像装置５２２ａは、被検査材１の
上面側に、また紫外線灯５２１ｂ及び磁粉模様撮像装置
５２２ｂは、被検査材１の下面側にそれぞれ設置され、
鋼板の上面及び下面の磁粉模様を撮像する。５３は計算
機を用いた画像処理装置であり、上下面磁粉模様撮像装
置５２からの撮像信号を入力して画像処理することによ
り、欠陥信号を抽出する。
する場合の磁化・磁粉散布装置４及び磁粉模様観察装置
５の説明図である。図中、４３は被検査材である鋼板１
を磁化するためのロール磁極方式の磁化装置である。４
３１及び４３２は磁極を構成するロールであり、被検査
材１の搬送にも利用される。４３３はこの両磁極を構成
するロール４３１及び４３２を結合したコの字状のヨー
ク、４３４はコの字状のヨーク４３３に巻回されたコイ
ル、４３５はコイル４３４に電流を供給する直流電源で
ある。４５は磁粉液散布装置であり、被検査材１の上面
側及び下面側の両方に設置され、それぞれ被検査材１の
上面及び下面に磁粉を散布する。５２は被検査材１の上
下面の磁粉模様を撮像する上下面磁粉模様撮像装置であ
る。５２１ａ及び５２１ｂは紫外線灯、５２２ａ及び５
２２ｂはＣＣＤセンサーを用いた撮像装置であり、上下
面磁粉模様撮像装置５２の構成要素である。紫外線灯５
２１ａ及び磁粉模様撮像装置５２２ａは、被検査材１の
上面側に、また紫外線灯５２１ｂ及び磁粉模様撮像装置
５２２ｂは、被検査材１の下面側にそれぞれ設置され、
鋼板の上面及び下面の磁粉模様を撮像する。５３は計算
機を用いた画像処理装置であり、上下面磁粉模様撮像装
置５２からの撮像信号を入力して画像処理することによ
り、欠陥信号を抽出する。
【００２４】上記ロール磁極方式の磁化装置４３、磁粉
液散布装置４５及び上下面磁粉用撮像装置５２を使用す
ることにより、鋼板のみならず、板状及びスラブ状の磁
性材料への本発明の利用が可能である。
液散布装置４５及び上下面磁粉用撮像装置５２を使用す
ることにより、鋼板のみならず、板状及びスラブ状の磁
性材料への本発明の利用が可能である。
【００２５】実施の形態４．なお、上述の実施の形態に
おいては、鋼管等の断面形状が丸い磁性材料及び鋼板等
の断面形状が長方形の磁性材料を被検査材としたときを
例示したが、本発明ではそれらに限定されるものでな
く、直送可能な磁性材料の磁粉探傷であれば、その断面
形状にとらわれずに利用できる。
おいては、鋼管等の断面形状が丸い磁性材料及び鋼板等
の断面形状が長方形の磁性材料を被検査材としたときを
例示したが、本発明ではそれらに限定されるものでな
く、直送可能な磁性材料の磁粉探傷であれば、その断面
形状にとらわれずに利用できる。
【００２６】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に示すような効果を奏する。
ているので、以下に示すような効果を奏する。
【００２７】直送ラインにおける磁性材料の磁粉探傷に
おいて、被検査材の移送時は磁化及び磁粉散布を停止し
ているので、欠陥部に生じた漏洩磁束が弱められること
なく磁粉模様の観察が可能であり、欠陥検出力の低下を
きたさない。
おいて、被検査材の移送時は磁化及び磁粉散布を停止し
ているので、欠陥部に生じた漏洩磁束が弱められること
なく磁粉模様の観察が可能であり、欠陥検出力の低下を
きたさない。
【００２８】直送ラインにおける鋼管の磁粉探傷におい
て、被検査鋼管の移送時は磁化及び磁粉散布を停止して
いるので、欠陥部に生じた漏洩磁束が弱められることな
く磁粉模様の観察が可能であり、欠陥検出力の低下をき
たさない。
て、被検査鋼管の移送時は磁化及び磁粉散布を停止して
いるので、欠陥部に生じた漏洩磁束が弱められることな
く磁粉模様の観察が可能であり、欠陥検出力の低下をき
たさない。
【００２９】直送ラインにおける鋼板の磁粉探傷におい
て、被検査鋼板の移送時は磁化及び磁粉散布を停止して
いるので、欠陥部に生じた漏洩磁束が弱められることな
く磁粉模様の観察が可能であり、欠陥検出力の低下をき
たさない。
て、被検査鋼板の移送時は磁化及び磁粉散布を停止して
いるので、欠陥部に生じた漏洩磁束が弱められることな
く磁粉模様の観察が可能であり、欠陥検出力の低下をき
たさない。
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る磁粉探傷装置
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係る磁化・磁粉散
布装置内の磁化コイル群の有効磁化長さを示す図であ
る。
布装置内の磁化コイル群の有効磁化長さを示す図であ
る。
【図３】本発明の第１の実施の形態に係る探傷制御装置
の制御動作を示す第１のフローチャートである。
の制御動作を示す第１のフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施の形態に係る探傷制御装置
の制御動作を示す第２のフローチャートである。
の制御動作を示す第２のフローチャートである。
【図５】本発明の第１の実施の形態に係る探傷制御装置
の制御動作を示すタイミング図である。
の制御動作を示すタイミング図である。
【図６】本発明の第２の実施の形態に係る磁粉探傷装置
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図７】本発明の第３の実施の形態に係る磁粉探傷装置
の磁粉・磁化散布装置及び磁粉模様観察装置の説明図で
ある。
の磁粉・磁化散布装置及び磁粉模様観察装置の説明図で
ある。
【図８】従来の鋼管磁粉探傷装置の構成を示すブロック
図である。
図である。
【図９】従来の鋼管磁粉探傷装置の構成要素の１つであ
る磁化・磁粉散布装置の斜視図である。
る磁化・磁粉散布装置の斜視図である。
【図１０】従来の鋼管磁粉探傷装置の構成要素の１つで
ある磁粉模様観察装置の説明図である。
ある磁粉模様観察装置の説明図である。
１ 被検査材 ２ ピンチロール ３ 搬送ローラ ４ 磁化・磁粉散布装置 ５ 磁粉模様観察装置 ６ 探傷制御装置 ７ 被検査材検出センサー ８ 被検査材検出センサー ９ 移送量計測センサー ４０ 磁化コイル群 ４１ 円筒コイル ４２ ＃型ツインコイル ４３ ロール磁極方式の磁化装置 ４５ 磁粉液散布装置 ４６ 磁粉液回収皿 ４７ 架台 ５１ 回転型の磁粉模様撮像装置 ５２ 上下面磁粉模様撮像装置 ５３ 画像処理装置 ６１ 移送制御装置 ６２ 磁化・磁粉散布制御装置 ６３ 磁粉模様観察制御装置 ４３１ ロール ４３２ ロール ４３３ コの字状のヨーク
Claims (6)
- 【請求項１】 磁性材料からなる被検査材を直送するラ
インにおいて、前記被検査材を磁化する工程の有効磁化
長さ分だけの前記被検査材の移送及び停止を繰返す工程
と、前記被検査材の停止時に前記被検査材への磁化及び
磁粉散布を行う工程と、磁化及び磁粉散布された前記被
検査材の磁粉模様観察を行う工程とを有することを特徴
とする磁粉探傷方法。 - 【請求項２】 前記被検査材への磁化及び磁粉散布を行
う工程においては、被検査鋼管の軸方向に沿った直流磁
界を生成するとともに、前記鋼管の周方向に回転する回
転磁界を生成して、前記鋼管を磁化することを特徴とす
る請求項１記載の磁粉探傷方法。 - 【請求項３】 前記被検査材への磁化及び磁粉散布を行
う工程においては、被検査鋼板の板面に沿った磁界を生
成し、前記鋼板を磁化することを特徴とする請求項１記
載の磁粉探傷方法。 - 【請求項４】 磁性材料からなる被検査材を直送するラ
インにおいて、前記被検査材を磁化するとともに磁粉を
散布する磁化・磁粉散布装置と、これに続いて磁化及び
磁粉散布された前記被検査材の磁粉模様を観察する磁粉
模様観察装置と、前記被検査材を直送するライン上の特
定位置において前記被検査材の有無を検出する一つ又は
複数個の被検査材検出センサーと、前記被検査材の移送
量を計測する複数個の移送量計測センサーと、前記被検
査材検出センサー及び移送量計測センサーからの入力信
号に基づいて、前記磁化・磁粉散布装置の有効磁化長さ
分だけの被検査材の移送及び停止を繰り返させ、被検査
材の停止時に前記磁化・磁粉散布装置に前記被検査材へ
の磁化及び磁粉散布を行わせ、前記磁粉模様観察装置に
磁粉模様観察を行わせる探傷制御装置とを有することを
特徴とする磁粉探傷装置。 - 【請求項５】 前記磁化・磁粉散布装置は、被検査鋼管
の管軸に沿ってスパイラル状に巻回された円筒コイル、
及び管表面に平行に巻回された４個の角形コイルを前記
鋼管を囲んで＃型に配置してなる＃型ツインコイルより
なる磁化コイル群と、前記磁化コイル群内に取り付けら
れた複数の磁粉液散布装置とを有することを特徴とする
請求項４記載の磁粉探傷装置。 - 【請求項６】 前記磁化・磁粉散布装置は、コの字状の
ヨークと、該ヨークの両端部にそれぞれ設けられたロー
ルとを有し、前記ロールを磁極として、被検査鋼板の板
面に沿って前記鋼板を磁化することを特徴とする請求項
４記載の磁粉探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8128645A JPH09311123A (ja) | 1996-05-23 | 1996-05-23 | 磁粉探傷方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8128645A JPH09311123A (ja) | 1996-05-23 | 1996-05-23 | 磁粉探傷方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09311123A true JPH09311123A (ja) | 1997-12-02 |
Family
ID=14989945
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8128645A Withdrawn JPH09311123A (ja) | 1996-05-23 | 1996-05-23 | 磁粉探傷方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09311123A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101504918B1 (ko) * | 2013-06-27 | 2015-03-23 | 현대제철 주식회사 | 소재 결함 탐상장치 |
| CN107219298A (zh) * | 2017-06-08 | 2017-09-29 | 南京理工大学 | 荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法 |
| CN109270161A (zh) * | 2018-09-14 | 2019-01-25 | 苏州磁星检测设备有限公司 | 一种磁粉探伤机 |
| KR102287304B1 (ko) * | 2021-02-09 | 2021-08-09 | 나우 주식회사 | 맞춤형 자분탐상 장치 및 이를 이용한 자분탐상 방법 |
-
1996
- 1996-05-23 JP JP8128645A patent/JPH09311123A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101504918B1 (ko) * | 2013-06-27 | 2015-03-23 | 현대제철 주식회사 | 소재 결함 탐상장치 |
| CN107219298A (zh) * | 2017-06-08 | 2017-09-29 | 南京理工大学 | 荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法 |
| CN107219298B (zh) * | 2017-06-08 | 2020-06-19 | 南京理工大学 | 荧光磁粉缺陷成像检测中的工件对中装置及方法 |
| CN109270161A (zh) * | 2018-09-14 | 2019-01-25 | 苏州磁星检测设备有限公司 | 一种磁粉探伤机 |
| KR102287304B1 (ko) * | 2021-02-09 | 2021-08-09 | 나우 주식회사 | 맞춤형 자분탐상 장치 및 이를 이용한 자분탐상 방법 |
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Legal Events
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| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030805 |