JPH09304456A - 電磁放射測定装置 - Google Patents

電磁放射測定装置

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JPH09304456A
JPH09304456A JP12456396A JP12456396A JPH09304456A JP H09304456 A JPH09304456 A JP H09304456A JP 12456396 A JP12456396 A JP 12456396A JP 12456396 A JP12456396 A JP 12456396A JP H09304456 A JPH09304456 A JP H09304456A
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藤 裕 斎
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 広範囲の電磁放射レベルを高速でかつ高分解
能で検出することができ、良好な検出感度の周波数特性
を実現する。 【解決手段】 信号検出部列A1〜Anは、電磁放射を
検出するワイヤーループアンテナ1と信号増幅部2と第
1の周波数変換部3と第1の周波数帯域制限部4と第2
の周波数変換部5と第2の周波数帯域制限部6と信号レ
ベル検出部7とA/Dコンバータ部8を直列接続して、
それぞれA/Dコンバータ部8から出力される検出レベ
ル情報を記憶装置およびCPU9に同時に記憶するよう
にする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板回路
および同様な回路装置からの電磁放射を測定するために
用いられる電磁放射測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】各種の電子機器から発生する不要輻射に
よる妨害を最小源に抑えるために、多くの国で規制が設
けられており、例えば海外では、FCC(アメリカ連邦
通信委員会)、CISPR(国際無線障害特別委員
会)、VDE(ドイツ電器技術者協会)等の規格が設け
られている。わが国でも、VCCI(情報処理装置等電
波障害自主規制協議会)の自主規制規格が決められ、電
子機器製造メーカにおいて、各種の電子機器から発生す
る不要輻射を抑える対策を行うようになってきた。これ
らの不要輻射の規制は、一般に、30MHzから1GH
zの広範囲にわたって周波数別に制定されており、その
測定方法は、不要輻射の発生源である電子機器から所定
の距離を隔てた位置での電界強度を測定するもので、測
定環境や測定器は特殊なものになるため、一般に高額な
費用が必要となる。また、その測定技術はかなりの専門
技術を必要とする。
【0003】このような電子機器の不要輻射測定と対策
を行うための時間とコストを削減するために、最近で
は、電子機器のプリント基板回路および同様な回路装置
から放射される近傍電磁界強度を測定する簡易的な電磁
放射測定装置が用いられている。また、これらの簡易的
な電磁放射測定装置においては、プリント基板回路上の
電磁放射レベルの高い箇所(プリントパターン)を特定
するために、電磁放射の検出手段を多数配列し、電子的
に順次選択して測定する方法が取られている。従来、こ
れらの電磁放射測定装置は、特公平5−67184号公
報に記載されているように、多層プリント基板上に形成
されたプリントパターンによるワイヤーループによって
電磁放射を検出して電器信号に変換し、ダイオードによ
って電子的に順次切り換えて伝送線路に加えるように構
成されている。また、多数のワイヤーループと一つの伝
送線路によって構成された電磁放射検出部の列を多数配
列して、それらの各々の伝送線路出力を信号選択部にお
いて選択することで、約1000個のワイヤーループア
ンテナを電子的に順次切り換えるように構成されたもの
もあり、プリント基板回路上の任意の位置における電磁
放射レベルを測定することが可能となっている。この装
置においては、約1000個のワイヤーループアンテナ
により検出された信号は、スイッチングダイオードによ
り順次選択されて出力され、外部の測定器例えばスペク
トラムアナライザによって周波数選択されてレベル検出
される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術では、約1000個のワイヤーループアンテナにより
検出された信号は、スイッチングダイオードにより順次
選択されて出力される構成になっているため、ある瞬間
に同時に測定器に接続されるアンテナは唯一であるの
で、約1000個のワイヤーループアンテナにより検出
された信号を順次走査して全ての測定を終了するために
は、多くの時間を必要とするという問題点があった。
【0005】また、従来技術では、1列に配列した複数
のワイヤーループアンテナの出力をスイッチングダイオ
ードを介して伝送線路に接続して信号を伝送し、さらに
そのワイヤーループアンテナ列と伝送線路とを複数配列
して、各々の伝送線路出力をスイッチングダイオードに
よる信号選択回路により選択して出力するように構成さ
れているため、非選択状態のスイッチングダイオード容
量や伝送線路の伝送周波数特性の影響により、検出感度
の周波数特性の劣化が避けられないという問題があっ
た。
【0006】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、広範囲の電磁放射レベルを高速でかつ高
分解能で検出することができ、さらに、良好な検出感度
の周波数特性を実現することのできる電磁放射測定装置
を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、電磁放射を検出する手段であるワイヤー
ループアンテナに1対1に対応した周波数選択信号レベ
ル検出回路を接続して、その検出出力を記憶装置および
CPUに接続して、複数のワイヤーループアンテナから
検出された電磁放射レベルに対応した複数の信号レベル
情報を、同時に測定して記憶する構成としたものであ
る。これにより、広範囲の電磁放射レベルを高速でかつ
高分解能で検出することができ、さらに、良好な検出感
度の周波数特性を実現することができる。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、電磁放射を検出する複数の微小アンテナ素子と、こ
れら微小アンテナ素子と1対1に接続されて列状に配置
された複数の周波数選択信号検出部と、これら周波数選
択信号検出部の信号検出出力を一度に記憶して制御する
記憶部およびCPUとを備えた電磁放射測定装置であ
り、信号検出レベル情報を一度に記憶部に取り込むこと
ができるため、広範囲の電磁放射レベルを短時間で測定
することができる。
【0009】本発明の請求項2に記載の発明は、複数の
微小アンテナ素子が、プリント基板上の導体パターンに
より一列に形成され、この微小アンテナ素子が形成され
た面とは反対側の面に複数の周波数選択信号検出部を列
状に配置したことを特徴とする請求項1記載の電磁放射
測定装置であり、各微小アンテナ素子の出力を各周波数
選択信号検出部に直接接続することができるため、周波
数特性劣化を排除することができ、感度周波数特性の良
好な電磁放射測定装置を実現することができる。
【0010】本発明の請求項3に記載の発明は、複数の
微小アンテナ素子をプリント基板の中央部に一列に配置
し、その反対側の面の周波数選択信号検出部を中央部の
微小アンテナ素子の左右に順番に振り分けて配置したこ
とを特徴とする請求項2記載の電磁放射測定装置であ
り、隣接する周波数選択信号検出部どうしの高周波信号
の漏洩による分解能の低下を防ぐことができるととも
に、装置を小型化することができる。
【0011】本発明の請求項4に記載の発明は、プリン
ト基板を複数の微小アンテナ素子が配列された方向に直
角な方向、または微小アンテナ素子が配列された方向お
よびこれに直角な方向の両方に移動させる手段を備えた
請求項2または3記載の電磁放射測定装置であり、広範
囲の電磁放射レベルの測定を高速かつ高い位置分解能を
もって行うことができる。
【0012】(実施の形態1)以下、本発明の実施の形
態について、図面を参照しながら説明する。図1は本発
明の請求項1に対応する第1の実施の形態における電磁
放射測定装置の構成を示すものである。図1において、
信号検出部列A1は、電磁放射を検出する微小アンテナ
素子を構成するワイヤーループアンテナ1と信号増幅部
2と第1の周波数変換部3と第1の周波数帯域制限部4
と第2の周波数変換部5と第2の周波数帯域制限部6と
信号レベル検出部7とA/Dコンバータ部8を直列接続
して構成されている。信号検出部列A1と同一の構成で
ある他の信号検出部列A2ないしAnがn個配列され
る。nは一般的に10ないし40程度が選ばれる。信号
検出部列A1ないしAnのそれぞれのA/Dコンバータ
部8から出力される検出レベル情報は記憶装置およびC
PU9に入力されて、個別に記憶される。信号検出部列
A1ないしAnのそれぞれの第1の周波数変換部3に
は、第1の局部発振部10からの局部発振信号が分配さ
れて入力される。また、第1の局部発振部10の発振周
波数は、記憶装置およびCPU9からの周波数制御信号
11により制御される。また、信号検出部列A1ないし
Anのそれぞれの第2の周波数変換部5には、第2の局
部発振部12からの局部発振信号が分配されて入力され
る。
【0013】次に、本発明の第1の実施の形態における
動作を説明する。図1において、ワイヤーループアンテ
ナ1では、非測定対象物からの電磁放射を検出して電気
信号に変換し、信号増幅部2に入力する。ここで検出さ
れる信号周波数は、一般に30MHzないし1000M
Hzの広域にわたっている。信号増幅部2は、一般に広
帯域にわたって平坦な周波数特性をもつ低雑音増幅器で
構成され、入力された信号を10ないし20dB程度増
幅して、第1の周波数変換部3に入力する。
【0014】第1の周波数変換部3は、一般にダイオー
ドやトランジスタによるダブルバランスミキサにより構
成され、信号増幅部2から入力された30MHzないし
1000MHzの信号を、第1の局部発振部10からの
局部発振信号周波数との差の周波数に変換されて、第1
の周波数帯域制限部4に入力する。ここで、第1の局部
発振部10は、一般に電圧制御可変周波数発振器として
構成され、記憶装置およびCPU9からの周波数制御信
号11により、その発振周波数は1330〜2300M
Hz程度に制御されているので、信号増幅部2から入力
された30MHzないし1000MHzの信号は、13
00MHzの第1中間周波数に変換されることとなる。
ここで、第1の局部発振部10との和の周波数成分、す
なわち2630MHzないし3600MHzの周波数成
分は、検出対象外の周波数であり、実際にはワイヤール
ープアンテナ1の検出周波数特性により減衰し出力には
現れない。第1の周波数帯域制限部4は、第1中間周波
数1300MHzを中心周波数とした、一般には表面弾
性波フィルタ(SAWフィルタ)や誘電体フィルタ等の
バンドパスフィルタで構成され、その通過帯域幅は、一
般に十MHzないし数MHzの狭帯域に設定される。
【0015】第1の周波数帯域制限部4で帯域制限され
た信号は、第2の周波数変換部5に入力されて、第2の
局部発振部12からの局部発振信号周波数との差の周波
数に変換されて、第2の周波数帯域制限部6に入力す
る。ここで、第2の局部発振部12の発振周波数は、一
般に1310.7MHz固定されているので、第2の周
波数帯域制限部6には、その周波数差成分すなわち1
0.7MHzの第2中間周波数として入力される。第2
の周波数帯域制限部6は、一般にセラミックフィルタ等
のバンドパスフィルタで構成され、その通過帯域幅は、
一般に数百KHz程度に設定され、この帯域幅が測定装
置の周波数分解能帯域幅となる。
【0016】第2の周波数帯域制限部6の出力は、信号
レベル検出部7に入力されて第2中間周波数における信
号レベルの検出が行われる。ここで、信号レベル検出部
7は、一般に対数出力型の多段アンプで構成され、その
検出出力は、一般にRSSI(Received Signal Streng
th Indicator) 出力として入力信号レベルのデシベル値
に対して直線的な信号として出力される。信号レベル検
出部7の出力は、A/Dコンバータ部に入力され、アナ
ログ信号がディジタル信号に変換されて、記憶装置およ
びCPU9に入力される。
【0017】本実施の形態では、信号検出部列A1ない
しAnは、ワイヤーループアンテナ1に1対1に対応
し、一種の周波数選択レベル測定部(スペクトラムアナ
ライザ)により構成される。このような、信号検出部列
をn個配列し、それぞれから得られるn種類の検出出力
情報を同時に記憶装置およびCPU9に取り込む。記憶
装置およびCPU9では、取り込んだn種類のデータを
記憶して演算処理を施し、外部モニタやプリンタ等の出
力装置に出力する。
【0018】このように、本実施の形態によれば、n個
のワイヤーループアンテナ1で検出される広範囲の電磁
放射レベルの検出情報を同時に測定できるため、測定時
間を1/nに短縮することができる。なお、電磁放射を
検出する微小アンテナ素子や信号検出部の構成は、本実
施の形態のものに限るものではなく、他の構成において
も複数の微小アンテナ素子に1対1に対応した信号レベ
ル検出部を複数備えた構成であれば、同様な効果が得ら
れる。
【0019】(実施の形態2)図2および図3は本発明
の第2の実施の形態における電磁放射測定装置のプリン
ト基板の構成を示すものであり、回路構成は図1に示し
たものと同じである。図2(a)の平面図および図2
(b)の断面図ならびに図3の底面図に示すように、多
層プリント基板13は、表面に導体パターンで形成され
たワイヤーループアンテナ1a〜1nと、裏面に信号検
出部列A1ないしAnの回路パターンおよび部品17を
配置した電磁放射測定部を構成しており、18は記憶装
置およびCPU9に接続するための接続端子である。多
層プリント基板13の厚みは、一般に2ないし4mm程
度が選ばれ、比誘電率は2ないし5程度の一般的な材質
(ガラスエポキシ)が選ばれる。
【0020】多層プリント基板13の表面には、ワイヤ
ーループアンテナ1a〜1nが一定の間隔をもって一列
に配置されており、基板表面の上側に、一般に1mmな
いし5mm程度の距離を隔てた配置された被測定対象物
からの電磁放射を検出するように動作する。本実施の形
態では、ワイヤーループアンテナ1a〜1nは、多層プ
リント基板13の銅箔パターンで形成された楕円形のル
ープ素子と裏面への導通を目的としたスルーホール15
おび16で構成されており、そのループ長は、一般に3
ないし8mm程度に選ばれる。また、各ループ素子の間
隔は、一般的に前述のループ長と同一の3ないし8mm
程度に選ばれる。ここで、楕円形のループ素子は、直線
型のループ素子に比べて広い感度指向性を持つという特
徴がある。
【0021】ワイヤーループアンテナ1a〜1nのルー
プ素子は、一端をスルーホール15を介して内層に形成
されたグランド14に接続され、他の一端をスルーホー
ル16を介して裏面に形成された信号検出部A1ないし
An部の回路パターン(入力部)に接続される。裏面に
は、信号検出部A1ないしAn部の回路パターンおよび
部品17が表面実装される。また、第1の局部発振部1
0および第2の局部発振部12の回路パターンおよび部
品も裏面に表面実装される。
【0022】ここで、信号検出部A1(奇数番目)とA
2(偶数番目)とをワイヤーループアンテナ1a〜1n
の左右両側に交互に配置することで、隣合うループ素子
に対応する信号検出部回路相互の間隔を大きく保ち、高
周波信号の漏洩による分解能低下を防ぐ効果を有する。
また、ループ素子長に信号検出部回路部品の幅が大きい
ため、基板面積を有効に活用するという効果を有する。
【0023】第1の局部発振部10および第2の局部発
振部12の出力は、多層プリント基板13の内層パター
ンを介して、各信号検出部A1ないしAnの周波数変換
部に分配され、多層プリント基板13の内層に形成され
たグランド14は、基板表面(アンテナ面)側の電磁放
射から基板裏面の信号検出部A1ないしAnへの漏洩を
防止する遮蔽の効果を有する。また、信号検出部A1な
いしAnの検出出力は、接続端子18を介して記憶装置
およびCPUに出力される。
【0024】このように、本実施の形態では、ワイヤー
ループアンテナの出力をスーホールを介して極めて近傍
に配置された信号検出部A1ないしAnの信号増幅部入
力へ直接接続しているため、周波数特性劣化を排除する
ことができ、感度周波数特性の良好な電磁放射測定装置
を実現することができる。なお、多層プリント基板やワ
イヤーループアンテナ素子や信号検出部の構成は、本実
施の形態のものに限るものではなく、他の構成において
も、微小アンテナ素子の出力に、そのアンテナ素子に対
応して極めて近接して配置された信号検出部の入力が接
続されて、隣接する検出部や電磁放射からの漏洩を防止
できる構成であれば、同様の効果が得られる。
【0025】(実施の形態3)図4は本発明の第3の実
施の形態における測定治具の概略を示すものであり、電
磁放射測定装置の回路構成およびプリント基板の構成は
図1、図2おび図3と同じである。図4において、多層
プリント基板13は、表面に導体パターンで形成された
ワイヤーループアンテナ1a〜1nと、裏面に信号検出
部列A1ないしAnの回路パターンおよび部品を配置し
た電磁放射測定部を構成しており、可動機構を持ったガ
イドレール19によって支持されている。多層プリント
基板13上のワイヤーループアンテナ1a〜1nは、Y
方向に1列に配置されており、多層プリント基板13は
X方向に移動可能な構造になっている。これは、多層プ
リント基板13をX方向とY方向の両方に移動可能な構
造としてもよい。符号20は、電磁放射測定を行う位置
分解能単位を示すものであり、X1Y1ないしXmYn
までのm×n個の測定位置単位を示している。
【0026】図4において、多層プリント基板13をX
方向に移動して、ワイヤーループアンテナ1a〜1nの
X方向位置をX1に合わせたときには、X1Y1ないし
X1Ynまでの方向n個の測定位置における電磁放射レ
ベルを同時(瞬時)に測定して、n個の検出出力データ
を記憶装置およびCPU9に取り込む。さらに、多層プ
リント基板13をX方向へ移動し、ワイヤーループアン
テナ1a〜1nがX2の位置に合わせて、X1と同様に
X2Y1ないしX2Ynのn個の測定を同時に行ない、
n個のデータを取り込む。以下同様に、X3ないしXm
まで多層プリント基板13を移動してm×n個測定位置
単位のそれぞれに対応したデータを取り込むことで、m
×n個すべての測定を完了する。
【0027】これらの一連の動作をCPUにて制御する
ことで、m×n個のデータを取得するのに必要な時間
は、1/n+[プリント基板の移動に必要な時間]にな
る。一般に、mおよびnは40程度に選ばれるので、一
度の信号レベル検出に必要な時間を例えば、ts=20
(mSec)とすれば、仮に1個1個測定する場合にそ
の全範囲測定時間Taは、 Ta=ts×m×n=32(Sec) となる。これに対し、本実施の形態では、プリント基板
を一つの測定単位分移動するに必要な時間をtmとすれ
ば、全範囲測定時間Tbは、 Tb=(ts+tm)×m となる。したがって、tm<ts(n−1)=0.78
(Sec)とすれば、1個1個測定する場合に比べて測
定時間を短縮できることとなる。
【0028】また、ワイヤーループアンテナ1a〜1n
と信号検出部からなる信号検出部列はn個あればよく、
製造コストの低減と装置の小型化を達成することができ
る。なお、多層プリント基板やガイドレールの構成は、
本実施の形態のものに限るものではなく、他の構成にお
いても、複数の微小アンテナ素子と信号検出部を設けた
プリント基板を微小アンテナが配列された方向に直角な
方向、または微小アンテナが配置された方向およびこれ
に直角な方向の両方に移動できる構造であれば、同様な
効果が得られる。
【0029】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、電磁放射
を検出する手段である微小アンテナ素子に1対1に対応
して周波数選択信号レベル検出回路を接続して、その検
出出力を記憶装置およびCPUに接続して、複数の微小
アンテナ素子から検出された電磁放射レベルに対応した
複数の信号レベル情報を一度に測定して記憶するように
したので、広範囲の電磁放射レベルを高速でかつ高分解
能で検出することができ、良好な検出感度の周波数特性
を実現した電磁放射測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態における電磁放射測
定装置の構成を示すブロック図
【図2】(a)本発明の第2の実施の形態における電磁
放射測定装置のプリント基板の構成を示す平面図 (b)本発明の第2の実施の形態における電磁放射測定
装置のプリント基板の断面図
【図3】本発明の第2の実施の形態における電磁放射測
定装置のプリント基板の底面図
【図4】本発明の第3の実施の形態における電磁放射測
定装置の測定治具の概略構成を示す斜視図
【符号の説明】
1、1a〜1n ワイヤーループアンテナ 2 信号増幅部 3 第1周波数変換部 4 第1の周波数帯域制限部 5 第2の周波数変換部 6 第2の周波数帯域制限部 7 信号レベル検出部 8 A/Dコンバータ部 9 記憶装置およびCPU 10 第1の局部発振部 11 周波数制御信号 12 第2の局部発振部 13 多層プリント基板 15、16 スルーホール 17 部品 18 接続端子 19 ガイドレール 20 位置分解能単位

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電磁放射を検出する複数の微小アンテナ
    素子と、これら微小アンテナ素子と1対1に接続されて
    列状に配置された複数の周波数選択信号検出部と、これ
    ら周波数選択信号検出部の検出出力を一度に記憶して制
    御する記憶部およびCPUとを備えた電磁放射測定装
    置。
  2. 【請求項2】 複数の微小アンテナ素子が、プリント基
    板上の導体パターンにより一列に形成され、この微小ア
    ンテナ素子が形成された面とは反対側の面に複数の周波
    数選択信号検出部を列状に配置したことを特徴とする請
    求項1記載の電磁放射測定装置。
  3. 【請求項3】 複数の微小アンテナ素子をプリント基板
    の中央部に一列に配置し、その反対側の面の周波数選択
    信号検出部を中央部の微小アンテナ素子の左右に順番に
    振り分けて配置したことを特徴とする請求項2記載の電
    磁放射測定装置。
  4. 【請求項4】 プリント基板を複数の微小アンテナ素子
    が配列された方向に直角な方向、または微小アンテナ素
    子が配列された方向およびこれに直角な方向の両方に移
    動させる手段を備えた請求項2または3記載の電磁放射
    測定装置。
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