JPH09292600A - 液晶装置の検査装置 - Google Patents

液晶装置の検査装置

Info

Publication number
JPH09292600A
JPH09292600A JP10816796A JP10816796A JPH09292600A JP H09292600 A JPH09292600 A JP H09292600A JP 10816796 A JP10816796 A JP 10816796A JP 10816796 A JP10816796 A JP 10816796A JP H09292600 A JPH09292600 A JP H09292600A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
drive
waveforms
scanning
several kinds
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10816796A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazunori Katakura
一典 片倉
Toru Sato
佐藤  亨
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP10816796A priority Critical patent/JPH09292600A/ja
Publication of JPH09292600A publication Critical patent/JPH09292600A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 液晶素子の良否の判定を簡単にかつ短時間で
行うことのできる液晶装置の検査装置を提供する。 【解決手段】 走査電極群と情報電極群とで構成したマ
トリクス電極に、走査信号印加回路5及び情報信号印加
回路7にて発生した走査信号波形及び情報信号波形より
なる数種類の駆動波形を1走査期間中に交互に印加し、
この数種類の駆動波形にて液晶パネル6を駆動する。そ
して、このように数種類の駆動波形を1走査期間中に交
互に印加ことにより、各駆動波形における液晶パネル6
の駆動特性を変化させ、この駆動特性の変化に基づいて
液晶パネル6の良否を判定する。そして、このように数
種類の駆動波形を1走査期間中に交互に印加して液晶パ
ネル6を駆動することにより、駆動特性の変化を明確に
することができるようにすると共に、検査に要する時間
を短縮することができるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶装置の検査方
法に関し、特に液晶素子の良否を判定するものに関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の液晶装置は、マトリクス電極の走
査電極群と情報電極群の間に液晶(化合物)を充填し、
多数の画素を形成して文字及び画像情報の表示を行う液
晶(表示)素子を備えているが、この液晶素子のうち、
特に双安定性を有し、電界に対する応答の速い強誘電性
液晶素子は、高速かつ記憶型の表示素子として期待され
ている。なお、これをマトリクス駆動する際の駆動方法
についても、例えば、特開平2−281233号公報等
に実用的な駆動方法が開示されている。しかし、耐久性
の観点から、効果的に選別を行い、検査するための駆動
方法は提案されていなかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、本来、強誘
電性液晶を用いた表示素子は、片方の安定状態に長時間
放置しておくと基板と液晶層の界面での相互作用によっ
て表示素子としての閾値特性が変化するという性質があ
る。特に、温度の低い領域では閾値以下のパルスに対し
て強誘電性液晶分子が揺らぎやすくなる。その結果、表
示素子の中には閾値以下のパルスに対して表示の一部が
反転してしまい、良好な表示を保つことのできない不良
品も発生している。
【0004】そこで、この液晶素子の良否を検査装置に
より判定するようにしているが、従来の液晶装置の検査
装置においては、良品と不良品を選別するため、液晶パ
ネルを長時間放置したり、あるいは所定の表示パターン
を長期にわたって表示したりして、図13に示すように
駆動マージン幅がどのように変化するかを検査すること
により液晶パネルの良否を判定するようにしていた。な
お、この装置においては、同図に示すように駆動時間が
長くなった場合でも駆動マージン幅の差が小さいもの
(液晶パネルA)は耐久劣化が小さいことから良品と判
定し、駆動マージン幅の差が大きもの(液晶パネルB)
は、耐久劣化が大きいことから不良品と判定するように
している。
【0005】ところが、このような従来の検査装置は、
良否の判定のために表示素子を長時間放置したり、ある
いは長時間駆動した後に駆動特性を評価するようにして
いるため、判定を行うのに非常に大がかりとなり、かつ
時間がかかるという問題点があった。
【0006】そこで、本発明はこのような問題点を解決
するためになされたものであり、液晶素子の良否の判定
を簡単にかつ短時間で行うことのできる液晶装置の検査
装置を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、走査電極群と
情報電極群とで構成したマトリクス電極の間に液晶を配
置すると共に前記マトリクス電極に印加される駆動波形
にて駆動される液晶素子を備えた液晶装置を検査する液
晶装置の検査装置において、前記マトリクス電極に走査
信号波形及び情報信号波形よりなる数種類の駆動波形を
1走査期間中に交互に印加し、前記液晶素子を駆動する
ことにより前記各駆動波形における前記液晶素子の駆動
特性を変化させ、前記駆動特性の変化に基づいて該液晶
素子の良否を判定することを特徴とするものである。
【0008】また本発明は、前記数種類の駆動波形を発
生する駆動波形発生手段と、前記駆動波形発生手段にて
発生した数種類の駆動波形を1走査期間中に交互に前記
マトリクス電極に印加する切り換え手段とを有すること
を特徴とするものである。
【0009】また本発明は、前記駆動波形発生手段は数
種類の走査信号波形を発生する一方、前記切り換え手段
は前記数種類の走査信号波形を前記走査電極群に交互に
印加することを特徴とするものである。
【0010】また本発明は、前記駆動波形発生手段は数
種類の情報信号波形を発生する一方、前記切り換え手段
は前記数種類の情報信号波形を前記情報電極群に交互に
印加することを特徴とするものである。
【0011】また本発明は、前記駆動波形発生手段は数
種類の走査信号波形及び情報信号波形を発生する一方、
前記切り換え手段は前記数種類の走査信号波形を前記走
査電極群に交互に印加すると共に前記数種類の情報信号
波形を前記情報電極群に交互に印加することを特徴とす
るものである。
【0012】また本発明は、前記液晶素子の良否を判定
するための駆動特性の変化は駆動マージンの変化である
ことを特徴とするものである。
【0013】また本発明は、前記液晶素子の液晶は強誘
電性液晶であることを特徴とするものである。
【0014】また、このように走査電極群と情報電極群
とで構成したマトリクス電極に走査信号波形及び情報信
号波形よりなる数種類の駆動波形を1走査期間中に交互
に印加し、この数種類の駆動波形にて液晶素子を駆動す
ることにより、各駆動波形における液晶素子の駆動特性
を変化させ、この駆動特性の変化に基づいて液晶素子の
良否を判定するようにする。そして、このように数種類
の駆動波形を1走査期間中に交互に印加し液晶素子を駆
動することにより、駆動特性の変化を明確にすることが
できるようにすると共に、検査に要する時間を短縮する
ことができるようにする。
【0015】また、駆動波形発生手段により発生した数
種類の走査信号波形を切り換え手段にて1走査期間中に
走査電極群に交互に印加することにより、液晶素子の良
否を判定するようにする。
【0016】また、駆動波形発生手段により発生した数
種類の情報信号波形を切り換え手段にて1走査期間中に
情報電極群に交互に印加することにより、液晶素子の良
否を判定するようにする。
【0017】また、駆動波形発生手段により発生した数
種類の走査信号波形を切り換え手段にて走査期間中に走
査電極群に交互に印加すると共に、駆動波形発生手段に
より発生した情報信号波形を切り換え手段にて1走査期
間中に情報電極群に交互に印加することにより、液晶素
子の良否を判定するようにする。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を用いて説明する。
【0019】図1は本発明の実施の形態に係る液晶装置
の検査装置及び検査される液晶装置のブロック図であ
り、同図において、1Aは液晶装置、1Bは表示装置1
Aを検査する検査装置(以下検査装置という)である。
また、1は表示装置1Aのグラフィックコントローラで
あり、このグラフィックコントローラ1から送出される
データは駆動制御回路2において駆動波形を選択した後
に、走査信号制御回路3と情報信号制御回路4に入力さ
れ、それぞれアドレスデータと表示データに変換される
ようになっている。
【0020】そして、このアドレスデータに従って駆動
波形発生手段である走査信号印加回路5が数種類の走査
選択信号波形及び走査非選択信号波形を発生し、128
0×1024画素からなる液晶素子である表示パネル6
の走査電極群に印加するようになっている。また、表示
データに従って駆動波形発生手段である情報信号印加回
路7が数種類の情報信号波形を発生し、表示パネル6の
情報電極群に印加するようになっている。
【0021】ここで、図2及び図3は、走査電極群及び
情報電極群に印加される駆動波形の第1の実施例を示す
ものであり、図2の(A)又は図3の(A)は走査選択
信号波形を、図2の(B)又は図3の(B)は走査非選
択信号波形を、図2の(C)又は図3の(C)は明情報
信号波形を、また図2の(D)又は図3の(D)は暗情
報信号波形をそれぞれ示している。
【0022】なお、図2に示す第1駆動波形及び図3
に示す第2駆動波形において、第1駆動波形の走査
選択信号波形(A)は書き込みパルスPwと(C)に示
す情報信号Psの少なくとも1つの補助パルスPaを補
償する位相Pjとを有しており、この点が第2駆動波形
と異なる点である。また、図2,3において1Hは一
水平走査期間、ΔTは選択期間を示している。
【0023】さらに、図4は液晶パネル6の部分的な拡
大図であり、同図において61は走査電極群の各電極、
62は情報電極群の各電極、63はマトリクス電極を構
成する走査電極61と情報電極62の交差部分により構
成され、表示単位となる画素である。
【0024】また、図5は液晶パネル6の部分的な断面
図であり、同図において601はアナライザ、609は
ポラライザである。そして、このアナライザ601とポ
ラライザ609とは液晶パネル6がU2状態のとき暗表
示になるよう互いにクロスニコルで配置されている。
【0025】ここで、602,608はガラス基板、6
03,607は絶縁膜、604,606は配向膜、60
5は強誘電性液晶、610はシール材である。なお、液
晶パネル6の複数個の画素分を新たな画素とし、それぞ
れにカラーフィルターを配置することで、多色カラー液
晶装置として使用することができる。
【0026】ところで、一般的に異なる駆動波形をマト
リクス電極に印加した場合、液晶パネル6が良品のとき
には駆動マージン幅の差は小さくなり、不良品のときに
は駆動マージン幅の差は大きくなることが知られてい
る。このことから、異なる駆動波形をマトリクス電極に
印加し、そのときの駆動マージン幅の差を調べることに
より、液晶パネル6の良否の判定を行うことができる。
【0027】そこで、異なる駆動波形をマトリクス電極
に印加するよう本実施の形態においては、図1に示すよ
うに検査装置1Bに、既述した図2及び図3に示す2種
類の駆動波形,を切り換えてマトリクス電極に交互
に印加するための切り換え手段である波形切替スイッチ
8を設けるようにしている。
【0028】ここで、この波形切替スイッチ8は、液晶
装置1Aの良否、具体的には液晶パネル6の良否を判定
する際、検査者により操作されると、波形信号を駆動制
御回路2に出力するようになっている。そして、この波
形信号が入力されると駆動制御回路2は走査信号印加回
路5及び情報信号印加回路7に信号を出力し、これに応
じて走査信号印加回路5及び情報信号印加回路7は2種
類の駆動波形,を1走査期間中にマトリクス電極に
交互に印加するようになっている。なお、検査装置1B
自体に駆動波形発生手段を設けて直接数種類の駆動波形
をマトリクス電極に印加するように構成することもでき
る。
【0029】ところで、本実施例においては、既述した
ように2つの駆動波形,のうちの走査選択信号波形
(A)が異なっているため、走査電極群には交互に2つ
の異なった走査選択信号波形(A)が印加されるように
なる。
【0030】ここで、異なる波形を複数回切り換えて印
加するのではなく、このように波形切替スイッチ8にて
異なる駆動波形,を走査電極群に同時に印加するこ
とにより、検査の際に環境温度や耐久時間等の要素を含
まないようにすることができる。これにより、表示パネ
ル6自身の駆動マージンの差を明確にすることができる
と共に検査に要する時間を短縮することができ、さらに
長時間放置する必要もないので判定も簡単におこなうこ
とができる。
【0031】なお、図6は、このように2つの駆動波形
,を交互に印加する際、それぞれの走査選択信号波
形が印加される液晶パネル6のエリアを示した図であ
り、同図において、61Aは第1駆動波形の走査選択
信号波形(A)が印加される領域を、61Bは第2駆動
波形の走査選択信号波形(A)が印加される領域を示
している。なお、このように交互に2つの駆動波形,
を印加した場合、情報電極62には常に同じ情報信号
が印加されるようになる。
【0032】そして、本発明者は、図1の液晶装置1A
を複数個、温度を30℃に設定し、かつ図2及び図3に
示した2種類の駆動波形,を波形切替スイッチ8の
操作により多数の走査電極61にて構成される走査電極
群及び多数の情報電極62にて構成される情報信号群に
印加して駆動波形と駆動マージンとの関係を調べる実験
を行った。なお、この検査は、V1=14V、V2=−
14V、V3=6.0V、V4=−6.0V、V5=
6.6Vに設定し、ΔT及び1Hの期間を可変として駆
動マージンを測定した。
【0033】図7は、この実験の結果を示すものであ
り、この実験結果によれば液晶パネルAは駆動波形の違
いによる駆動マージンの差が小さいことから耐久劣化が
小さい良品と判断することができた。また、液晶パネル
Bは駆動波形による駆動マージンの差が大きいことから
耐久劣化が大きいと不良品と判断することができた。
【0034】なお、これらの液晶パネルA,Bについ
て、既述したようにある表示パターンを長期にわたって
表示を続けることによって駆動マージン幅がどのように
変化するかについて実験を行った。その結果、図12に
示すように液晶パネルAは駆動波形の違いによる駆動マ
ージン幅の差が小さいことから耐久劣化が小さいと判断
され、また液晶パネルBは駆動マージン幅の差が大きい
ことから耐久劣化が大きいと判断された。これにより、
異なった駆動波形を用いた良否の判定結果は正しいとい
うことが判った。
【0035】このように、異なった駆動波形での駆動マ
ージン幅の差を比較して液晶パネル6の良否を判定を行
うことにより、従来では液晶パネル6を長時間放置ある
いは長時間駆動しなければわからなかった液晶パネル6
の耐久劣化の大小、即ち液晶パネル6の良否を短時間
で、かつ容易に判定することができる。
【0036】ところで、これまでは走査選択信号波形が
異なる駆動波形を印加することにより液晶パネル6の良
否を判定を行うものについて述べてきたが、本発明はこ
れに限らず他の駆動波形を用いて良否を判定することも
できる。
【0037】図8及び図9は本実施の形態の第2の実施
例に係る駆動波形を示しており、本実施例においては図
8に示す第3駆動波形及び図9に示す第4駆動波形
の情報信号波形(C),(D)とが異なっている。
【0038】また、図10は2種類の駆動波形,を
交互に印加する際、それぞれの情報信号波形が印加され
る液晶パネル6のエリアを示した図であり、同図におい
て、62Aは2種類の駆動波形,のうちの第3駆動
波形の情報信号波形(C),(D)が印加される領域
を、62Bは第4駆動波形の情報信号波形(C),
(D)が印加される領域を示している。なお、このよう
に交互に2つの駆動波形,を印加した場合、駆動電
極61には常に同じ走査信号波形が印加されるようにな
る。
【0039】そして、本発明者は、図1の液晶装置1A
を複数個、温度を30℃に設定し、かつ図8及び図9に
示した情報信号波形の異なる2種類の駆動波形,を
波形切替スイッチ8の操作により走査電極群及び情報電
極群に印加して駆動波形と駆動マージンとの関係を調べ
る実験を行った。なお、この検査は、V1=14V、V
2=−14V、V3=6.0V、V4=−6.0V、V
5=6.6V、V6=5.4V、V7=−5.4Vに設
定し、ΔT及び1Hの期間を可変として駆動マージンを
測定した。
【0040】その結果は、図7に示す実験結果と同様、
液晶パネルAは駆動マージンの差が小さいことから耐久
劣化が小さい良品と判断することができ、液晶パネルB
は駆動マージンの差が大きいことから耐久劣化が大きい
不良品と判断することができた。
【0041】また、図11及び図12は本実施の形態の
第3の実施例に係る駆動波形を示しており、本実施例に
おいては図11に示す第5駆動波形及び図12に示す
第6駆動波形の走査非選択波形(B)のみが同じ信号
である。
【0042】これにより、第5駆動波形及び図12に
示す第6駆動波形のうち、走査選択信号波形(A)
は、図6において61A及び61Bで示される領域に交
互に印加され、情報信号(C),(D)は図10におい
て62A及び62Bで示される領域に交互に印加される
ようになっている。
【0043】そして、本発明者は、図1の液晶装置1A
を複数個、温度を30℃に設定し、かつ図11及び図1
2に示した異なる2種類の駆動波形,を波形切替ス
イッチ8の操作により走査電極61及び情報電極62に
印加して駆動波形と駆動マージンとの関係を調べる実験
を行った。なお、この検査は、V1=14V、V2=1
4V、V3=6.0V、V4=−6.0V、V5=6.
6V、V6=−6.6Vに設定し、ΔT及び1Hの期間
を可変として駆動マージンを測定した。その結果は、図
7に示す実験結果と同様であった。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、マ
トリクス電極に数種類の駆動波形を交互に印加して液晶
素子を同時に駆動することにより、各駆動波形における
駆動特性の変化に基づいて液晶素子の良否を判定するこ
とができる。そして、このように数種類の駆動波形にて
液晶素子を同時に駆動して液晶素子の良否を判定するこ
とにより、長期にわたってその駆動マージンを確保し得
る液晶パネルを極めて容易に選別、検査することが可能
になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る液晶装置の検査装置
及び液晶装置のブロック図。
【図2】上記液晶装置の液晶素子の電極に印加される第
1駆動波形を示す図。
【図3】上記液晶素子の電極に印加される第2駆動波形
を示す図。
【図4】上記液晶素子の拡大図。
【図5】上記液晶素子の断面図。
【図6】上記液晶素子の走査選択信号波形が印加される
エリアを示した図。
【図7】上記2つの駆動波形と駆動マージンの関係を説
明する図。
【図8】上記液晶素子の電極に印加される第3駆動波形
を示す図。
【図9】上記液晶素子の電極に印加される第4駆動波形
を示す図。
【図10】上記液晶素子の情報信号波形が印加されるエ
リアを示した図。
【図11】上記液晶素子の電極に印加される第4駆動波
形を示す図。
【図12】上記液晶素子の電極に印加される第5駆動波
形を示す図。
【図13】駆動時間と駆動マージンの関係を説明する
図。
【符号の説明】
1A 液晶装置 1B 液晶装置の検査装置 5 走査信号印加回路 6 液晶パネル 7 情報信号印加回路 8 波形切替スイッチ 61 走査電極 62 情報電極 605 強誘電性液晶 A 走査選択信号 B 走査非選択信号 C 明情報信号 D 暗情報信号

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 走査電極群と情報電極群とで構成したマ
    トリクス電極の間に液晶を配置すると共に前記マトリク
    ス電極に印加される駆動波形にて駆動される液晶素子を
    備えた液晶装置を検査する液晶装置の検査装置におい
    て、 前記マトリクス電極に走査信号波形及び情報信号波形よ
    りなる数種類の駆動波形を1走査期間中に交互に印加
    し、前記液晶素子を駆動することにより前記各駆動波形
    における前記液晶素子の駆動特性を変化させ、前記駆動
    特性の変化に基づいて該液晶素子の良否を判定すること
    を特徴とする液晶装置の検査装置。
  2. 【請求項2】 前記数種類の駆動波形を発生する駆動波
    形発生手段と、 前記駆動波形発生手段にて発生した数種類の駆動波形を
    1走査期間中に交互に前記マトリクス電極に印加する切
    り換え手段と、 を有することを特徴とする請求項1記載の液晶装置の検
    査装置。
  3. 【請求項3】 前記駆動波形発生手段は数種類の走査信
    号波形を発生する一方、前記切り換え手段は前記数種類
    の走査信号波形を前記走査電極群に交互に印加すること
    を特徴とする請求項1又は2記載の液晶装置の検査装
    置。
  4. 【請求項4】 前記駆動波形発生手段は数種類の情報信
    号波形を発生する一方、前記切り換え手段は前記数種類
    の情報信号波形を前記情報電極群に交互に印加すること
    を特徴とする請求項1又は2記載の液晶装置の検査装
    置。
  5. 【請求項5】 前記駆動波形発生手段は数種類の走査信
    号波形及び情報信号波形を発生する一方、前記切り換え
    手段は前記数種類の走査信号波形を前記走査電極群に交
    互に印加すると共に前記数種類の情報信号波形を前記情
    報電極群に交互に印加することを特徴とする請求項1又
    は2記載の液晶装置の検査装置。
  6. 【請求項6】 前記液晶素子の良否を判定するための駆
    動特性の変化は駆動マージンの変化であることを特徴と
    する請求項1記載の液晶装置の検査装置。
  7. 【請求項7】 前記液晶素子の液晶は強誘電性液晶であ
    ることを特徴とする請求項1記載の液晶装置の検査装
    置。
JP10816796A 1996-04-26 1996-04-26 液晶装置の検査装置 Pending JPH09292600A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10816796A JPH09292600A (ja) 1996-04-26 1996-04-26 液晶装置の検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10816796A JPH09292600A (ja) 1996-04-26 1996-04-26 液晶装置の検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09292600A true JPH09292600A (ja) 1997-11-11

Family

ID=14477688

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10816796A Pending JPH09292600A (ja) 1996-04-26 1996-04-26 液晶装置の検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09292600A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140060502A (ko) * 2011-07-28 2014-05-20 어드밴스드 에너지 인더스트리즈 인코포레이티드 개선된 플라즈마 에너지 처리 시스템들에 대한 이온 에너지 제어 시스템

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140060502A (ko) * 2011-07-28 2014-05-20 어드밴스드 에너지 인더스트리즈 인코포레이티드 개선된 플라즈마 에너지 처리 시스템들에 대한 이온 에너지 제어 시스템

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101213592B1 (ko) 액정 디스플레이의 검사 회로와 검사 방법
KR101226532B1 (ko) 스위치 제어 유닛, 액정 셀 조립 후 검사 장치와 방법
EP0229647B1 (en) Liquid crystal matrix driving method
JP2001265248A (ja) アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法
US5825196A (en) Method for detecting defects in an active matrix liquid crystal display panel
US6864869B2 (en) Data driver and display utilizing the same
EP0599623B1 (en) Inspecting method and apparatus for an active matrix substrate
JP4795548B2 (ja) 液晶表示基板検査方法
JPH09292600A (ja) 液晶装置の検査装置
KR101024621B1 (ko) 플랫 디스플레이 장치 및 플랫 디스플레이 장치의 시험 방법
JP4128677B2 (ja) 液晶表示装置の検査方法
US6072453A (en) Liquid crystal display apparatus
JPH09311306A (ja) 液晶装置の検査装置及び検査方法
JP2776349B2 (ja) 液晶表示装置の検査方法
JP3290602B2 (ja) 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置
JPH10253943A (ja) 反強誘電性液晶表示ディスプレイ
JP3177702B2 (ja) 液晶表示装置の検査方法
JPH0682836A (ja) アクティブマトリクス基板の検査方法、検査装置及び欠陥修正方法
JPH06201516A (ja) 液晶パネル用疑似欠陥発生装置
JP2004109823A (ja) リーク検査装置及びリーク検査方法
JPH10104647A (ja) 液晶表示装置
JP3898037B2 (ja) 液晶表示パネルの点灯表示検査方法及び点灯表示検査装置
JP2003114411A (ja) 液晶表示パネル評価装置及び液晶表示パネル評価方法
WO1998044383A1 (fr) Dispositif a cristaux liquides antiferro-electriques et procede de fabrication de celui-ci
JP2849989B2 (ja) 液晶装置