JPH09282697A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ディスク上のゴミやキズ等のドット領域にマ
ークを形成しようとした際に発生するバースト領域がド
ットの長さより長くならないようにする。 【解決手段】 レーザ光がドットにマークを形成しよう
とした際に、当該領域からの反射光に基づく振幅レベル
を振幅レベル検出部１０１がしきい値と比較し、振幅低
下時間測定部１０２により振幅レベルがしきい値より小
さくなった時間が、予め設定されていた時間より長くな
ったか否かを判定部１０３により判断する。そして予め
設定された時間より長くなった場合には、レーザパワー
を所定値に設定して、ドット通過後直ちに適正なマーク
形成パワーでマーク形成ができるようにパワー制御を行
う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、情報記録媒体上に
ゴミ等が付着している場合に、レーザパワーを適正値に
制御する光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、コンパクトディスク等のレーザ光
を用いた光ディスク装置においては、レーザ光をディス
クに照射してマークの形成等を行うと共に、当該マーク
からの反射光を受光して記録されている情報の読み取り
を行っている。

【０００３】ところが、ディスク上にゴミやキズ等（以
下、これらを総称してドットと呼ぶ）が存在すると、こ
れらのドットによりレーザ光が反射されたり遮られたり
するため、正常にマークが形成できない問題が指摘され
ていた。

【０００４】しかし、ドットには上述した様に種々のも
のが存在するので、どの程度のレーザパワーでマークが
形成できるか不明である。例えば、指紋のような場合に
は、比較的小さなレーザパワーでマークの形成が可能で
あるが、ゴミのような場合には、大きなレーザパワーが
必要になる。

【０００５】そこで、制御部は、マーク形成時における
反射光から、マーク形成状態を判断して適正な反射光が
得られるように（即ち、マークが適正に形成されるよう
に）、レーザパワーを所定値上昇させるフィードバック
制御を行っている。従って、ゴミのような場合には、何
度もフィードバック制御を行う場合が生じる。

【０００６】図７は、かかる制御によりレーザパワーが
パワーアップする様子を示した模式図である。ドット領
域でマーク形成を行おうとすると、適正な反射光が得ら
れないので、レーザパワーは所定値づつ徐々にパワーア
ップしている様子が理解される。なお、途中でレーザパ
ワーが一定値になっているのは、当該レーザパワーで正
常なマーク形成ができた場合または最大パワーに達した
場合の何れかのためである。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ドット
を通過しても上述したようなフィードバック制御を行う
ため、レーザパワーは直に適正値まで下がらず所定時間
を要してしまう問題があった。

【０００８】即ち、制御部はドットを通過しても、この
事実を認識することが出来ないので、反射光の状態から
レーザパワーが大きいと判断した場合には、当該レーザ
パワーを小さくするようにフィードバック制御を行う。

【０００９】この際、どの程度のレーザパワーにすれば
適正にマークが形成されるのか不明なので、上述したフ
ィードバック制御により適正なレーザパワーになるよう
に徐々にレーザパワーをダウンする制御を行っている。

【００１０】このため、適正なレーザパワーより高いパ
ワーでマークの形成が行われる高パワー区間が発生し
（図７参照）、データが欠落又は異常となった区間（当
該区間長を、バースト長と称す）がドットの長さより長
くなる問題があった。

【００１１】また、ドットがゴミのような場合には、最
高パワーまでパワーアップしてしまうのでレーザダイオ
ードの寿命を短くする欠点もあった。

【００１２】この場合には、レーザパワーの最大値を予
め設定しておくことも可能であるが、これにはドットの
種類等を特定する必要があるため最大値の設定が困難で
あった。

【００１３】さらに、レーザダイオードの出力特性は、
温度等により変化するため、当該レーザダイオードの最
高パワーが変動し、またディスクのそり、感度むら等に
よりマーク形成に最適なレーザパワーが変化するため、
上述した最大値の設定がさらに困難となる。

【００１４】そこで、本発明はバースト長がドットの長
さより長くならないようにすると共に、レーザパワーを
最高パワーまでパワーアップさせることのない光ディス
ク装置を提供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項１にかかる発明は、情報記録媒体上にレーザ
光のスポットを形成してマークの書込を行う光ディスク
装置において、情報記録媒体からの反射光が殆どない部
分にマーク形成を行おうとした際に、前記レーザ光のレ
ーザパワーを所定値に設定する制御部を有することを特
徴とする。

【００１６】請求項２にかかる発明は、前記制御部が、
ディスクからの反射光に対応した信号を検出して予め設
定されているしきい値と比較する検出手段を具備し、該
検出手段の出力信号に基づき前記レーザ光のレーザパワ
ーを前記所定値に設定することを特徴とする。

【００１７】請求項３にかかる発明は、前記制御部が、
前記検出手段によりディスクからの反射光に対応した信
号が予め設定されているしきい値より小さくなっている
時間を測定する時間測定手段と、該時間測定手段により
測定された時間が、予め設定された時間より長いか否か
を判断する判断手段とを有して、時間が長くなっている
場合にレーザパワーを前記所定値に設定することを特徴
とする。

【００１８】請求項４にかかる発明は、前記制御部が、
ディスクからの反射光に対応した信号に基づき、マーク
形成時におけるレーザパワーの目標値を演算する演算手
段と、前記目標値の上限を制限すると共に、マーク形成
中のレーザパワーが上限値に達したことを検出すると、
その時から一定時間後に、レーザパワーを固定値に設定
する制限手段とを有することを特徴とする。

【００１９】請求項５にかかる発明は、前記制御部が、
前記制限手段によりレーザパワーを前記固定値に設定さ
れてから一定時間経過後に前記目標値のレーザパワーで
マーク形成させることを特徴とする。

【００２０】請求項６にかかる発明は、前記制御部が、
前記検出手段によりディスクからの反射光に対応した信
号が予め設定されているしきい値より小さくなっている
場合と、小さい場合とで前記目標値の上限を異なる値に
することを特徴とする。

【００２１】

【発明の実施の形態】本発明の第１の実施の形態を図の
基づき説明する。図１は本実施の形態にかかる光ディス
ク装置の回路構成を示すブロック図であり、図２はＣＰ
Ｕの回路構成を示すブロック図である。なお、マーク形
成時におけるレーザパワーを書込パワー、形成されたマ
ークの読出時におけるレーザパワーを読出パワーと称す
る。

【００２２】光ディスク装置は、ＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ
ｔｏ Ｆｏｕｒｔｅｅｎ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）デー
タ信号の入力部１及び当該入力部１から種々のＥＦＭデ
ータ信号Ｄ１が入力して対応した制御を行う制御部であ
るＣＰＵ２を有している。

【００２３】なお、ＥＦＭデータ信号Ｄ１の基となるデ
ータ信号は、図示しないホストコンピュータから入力部
１に入力し、当該入力部１でＥＦＭデータ信号Ｄ１に変
換される。ＥＦＭデータ信号Ｄ１には、固定の試書用Ｅ
ＦＭデータ信号Ｄｔ及び画像データ等のＥＦＭデータ信
号Ｄｖがある。

【００２４】ＣＰＵ２は、ＥＦＭデータ信号Ｄ１がハイ
レベルになっている間にマークを形成すべく、現在のレ
ーザパワーに対する新たな目標値ＬＰｎをＤ／Ａ変換回
路６を通じて書込側のＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐ
ｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路７に出力すると共に、
これに同期してスイッチ９に切換制御信号Ｓ１を出力す
る。

【００２５】スイッチ９は切換制御信号Ｓ１に基づき、
マーク形成時には可動接点９ａをＡＰＣ回路７に接続さ
れている固定接点９ｂに接続し、形成されたマークやラ
ンドの読出し時及びＥＦＭデータ信号Ｄ１がローレベル
の時には、可動接点９ａをＡＰＣ回路１０に接続されて
いる固定接点９ｃに接続するように動作する。なお、読
出側のＡＰＣ回路１０の基準入力側には、直流電源１１
から一定の直流電圧Ｅ１が供給されている。

【００２６】レーザダイオード回路８には、スイッチ９
を介して信号が入力し、当該信号に応じたパワーを持つ
レーザ光が光学系１５に出射される。

【００２７】光学系１５は、図示しないフォトダイオー
ドを有するフロントモニタ１４、図示しないコリメータ
レンズ、ビームスプリッタ、対物レンズ、円筒レンズ、
フオーカスアクチュエータ及びトラツキングアクチュエ
ータ等を有し、レーザダイオード回路８から出射された
レーザ光はコリメータレンズにより平行光となって、ビ
ームスプリッタ及び対物レンズを通じて集光されてディ
スク５に照射される。

【００２８】この際、ディスク５に照射されるレーザ光
の一部がフロントモニタ１４によりフロントモニタ出力
として出力される。このフロントモニタ出力は、書込パ
ワー及び読出パワーに比例している。そして、ＡＰＣ回
路７は、書込パワーに比例したフロントモニタ出力に基
づき当該書込パワーの制御を行い、またＡＰＣ回路１０
は、読出パワーに比例したフロントモニタ出力に基づき
当該読出パワーの制御を行っている。

【００２９】また、読出パワーに比例したフロントモニ
タ出力は、Ａ／Ｄ変換回路１６によってディジタル信号
に変換され、読出パワー信号Ｒ１としてＣＰＵ２に入力
する。

【００３０】一方、ディスク５からの反射光は、光学系
１５を通じて、４分割フォトダイオード等を有する光検
出回路１７に入射される。当該光検出回路１７の出力信
号は、マーク信号検出用のサンプルホールド回路１８と
ランド信号検出用のサンプルホールド回路１９に入力す
ると共に、再生回路２０に入力する。

【００３１】そして、光検出回路１７の出力信号に基づ
き周知のフオーカスサーボ及びトラッキングサーボが行
われ、また再生回路２０の出力信号Ｓ₀は、出力端子２
１を通じて波形観測装置に供給される。

【００３２】クロック発生回路２２は、サンプルホール
ド回路１８，１９にサンプルホールドパルスＳＰ１，Ｓ
Ｐ２を出力し、入力部１とＣＰＵ２とに所定のクロック
信号を出力する。

【００３３】サンプルホールド回路１８，１９から出力
されるマーク信号とランド信号とは、それぞれＡ／Ｄ変
換回路２３，２４を介してマーク信号Ｐ１及びランド信
号Ｌ１としてＣＰＵ２に入力する。

【００３４】上記構成により、最初にディスク５の試書
領域５ａを利用して、一定のアシンメトリ値を得て書込
パワーを最適パワーにするために入力部１からＣＰＵ２
に固定の試書用ＥＦＭデータ信号Ｄｔが出力される。

【００３５】そしてＣＰＵ２は、当該ＥＦＭデータ信号
Ｄｔに応じて予め定められた書込パワー目標値ＬＰ１を
Ｄ／Ａ変換回路６に出力する。当該書込パワー目標値Ｌ
Ｐ１は、Ｄ／Ａ変換回路６、ＡＰＣ回路７及びスイッチ
９を通じてレーザダイオード回路８に出力され、当該レ
ーザダイオード回路８から書込パワー目標値ＬＰ１に応
じたレーザパワーを持つレーザ光が光学系１５に出射さ
れる。これにより試書領域５ａにＥＦＭデータ信号Ｄｔ
に応じた所定長のマークが形成される。なお、マークが
形成されなかった部分がランドになる。

【００３６】この場合、この試書用の固定のＥＦＭデー
タ信号Ｄｔに基づいて形成されるマークとランドは、そ
れぞれ３Ｔマーク〜１１Ｔマークと３Ｔランド〜１１Ｔ
ランドであり、また、マークとランドの個数は同数にな
っている。

【００３７】従って、光検出回路１７を通じて再生回路
２０から出力される再生信号Ｓ₀のアシンメトリ値は一
定値となる。

【００３８】そして、当該アシンメトリ値がゼロ値のと
きには、再生信号Ｓ₀の振幅における中央レベルが直流
のゼロレベルに一致することになる。言い換えれば、再
生信号Ｓ₀の振幅が、ゼロレベルに対して上下に同振幅
になるときアシンメトリ値がゼロ値となる。このアシン
メトリ値がゼロ値になる状態は、書込パワー等が最適な
状態である。

【００３９】そこで、アシンメトリ値がゼロ値又は所定
の範囲にないときは、ＣＰＵ２は書込パワー目標値ＬＰ
１を変更して所定のアシンメトリ値が得られるように試
書処理を行う。

【００４０】なお、一定のアシンメトリ値としては、ゼ
ロ値よりも−４％〜−７％の範囲の値にすることがデー
タエラーなどが最も少なくすることができる。

【００４１】上記手法により最適のアシンメトリ値が得
られたときの書込パワーの目標値ＬＰ１は、書込パワー
初期値ＬＰｉ（最適値）としてＣＰＵ２に記憶される。

【００４２】また当該書込パワー初期値ＬＰｉに対応し
た読出パワー、即ちＡ／Ｄ変換回路１６からフロントモ
ニタ出力に対応してＣＰＵ２に出力される読出パワー信
号Ｒ１が、当該読出パワー初期値ＲｉとしてＣＰＵ２に
記憶される。

【００４３】また、書込パワー初期値ＬＰｉの書込パワ
ーでマークが形成されている間に、４Ｔマークからの反
射光が、サンプルホールド回路１８によってサンプルホ
ールドパルスＳＰ１に基づきサンプルホールドされ、そ
のサンプルホールドされた値がＡ／Ｄ変換回路２３を介
して、マーク信号のマーク初期値ＰｉとしてＣＰＵ２に
記憶される。

【００４４】さらに、上記読出パワー初期値Ｒｉを記憶
したときに、ランドからの反射光が、サンプルホールド
回路１９によってサンプルホールドパルスＳＰ２に基づ
きサンプルホールドされ、そのサンプルホールドされた
値がＡ／Ｄ変換回路２４を介して、ランド信号のランド
初期値ＬｉとしてＣＰＵ２に記憶される。

【００４５】次に、ドットが存在する場合のＣＰＵ２が
行うレーザパワーの制御について図２及び図３を参照し
て説明する。ディスク５上のあるトラック３０２にゴミ
やキズ等のドット３０３が存在すると、反射光は当該ド
ット３０３の領域で低下する。

【００４６】そこでＣＰＵ２は、内部に設けられた検出
手段である振幅レベル検出部１０１、時間測定手段であ
る振幅低下時間測定部１０２等によりドットの大きさを
求める。

【００４７】図３は、このような振幅レベル検出信号の
検出を説明する図である。なお、図３においてはマーク
信号Ｐ１、ランド信号Ｌ１を反射光レベルで表してい
る。

【００４８】Ａ／Ｄ変換回路２３、２４から反射光に対
応したマーク信号Ｐ１及びランド信号Ｌ１が振幅レベル
検出部１０１に入力し、当該振幅レベル検出部１０１で
その振幅レベルがしきい値と比較される。これにより振
幅レベル検出信号が求められる。

【００４９】そして振幅低下時間測定部１０２は、この
振幅レベル検出信号により振幅がしきい値より低下して
いる時間を測定する。当該振幅低下時間は、光スポット
が通過しているドットの大きさを表している。

【００５０】一方、ＣＰＵ２に設けられた演算部１０４
にはマーク信号Ｐ１、ランド信号Ｌ１及び読出パワー信
号Ｒ１が入力し、これらの信号に基づき書込パワーの初
期値ＬＰｉ、現在値及び新たな目標値ＬＰｎを演算し、
Ｄ／Ａ変換回路６に出力する。

【００５１】そして判断手段である判定部１０３によ
り、振幅低下時間が予め設定された判定時間ｔを越えた
か否かが判断され、当該判定時間を超えた場合には選択
部１０５は書込パワー新目標値ＬＰｎを初期値ＬＰｉに
変更して、これを書込パワー目標値ＬＰ１として出力す
る。

【００５２】その後、光スポットがドットを通過し、振
幅レベルが正常に戻ると、直ちに書込パワーの目標値Ｌ
Ｐ１を新目標値ＬＰｎに変更する。

【００５３】即ち、ドットを通過しているときレーザパ
ワーはフィードバック制御により所定値づつ徐々にパワ
ーアップする。この時、次ぎにパワーアップするときの
目標値ＬＰ１が新目標値ＬＰｎである。

【００５４】ところが、ドットを通過している時間が所
定の判断時間ｔより長くなるとレーザパワーのパワーア
ップを停止し、書込パワーの目標値ＬＰ１を初期値ＬＰ
ｉに設定して出力させる。かかる制御は、サンプリング
により次ぎの目標値を定めないので、直ちに書込パワー
を変更することが可能になる。

【００５５】従って、ドットがある大きさ以上の場合に
は、レーザパワーを過大パワーにすることがなくなり、
ドット通過後直ちに適正なレーザパワーでマーク形成が
行えるようになると共に、データの欠落等のバースト長
がドットの長さより長くなるのを防止することが可能に
なる。

【００５６】本発明の第２の実施の形態を図に基づき説
明する。なお第１の実施の形態と同一構成については同
一符号を用いて説明を省略する。図４は、本実施の形態
にかかるＣＰＵのブロック図であり、図５はその動作を
説明する模式図である。

【００５７】本実施の形態にかかるＣＰＵ２は、Ａ／Ｄ
変換回路２３、２４からのマーク信号Ｐ１、ランド信号
Ｌ１及び読出パワー信号Ｒ１に基づき、演算部１０４に
より書込パワーの初期値ＬＰｉ、現在値及び新目標値Ｌ
Ｐｎを演算し、その結果をＤ／Ａ変換回路６に出力す
る。

【００５８】なお、書込パワーの新目標値ＬＰｎの最大
値は、最大値制限部２０１により、最大値設定部２０２
に設定されている書込パワーの最大値ＬＰｍに制限され
る。

【００５９】最大値制限部２０１は、書込パワーの新目
標値ＬＰｎが最大値ＬＰｍに到達したことを検出すると
タイマ２０３を起動する。

【００６０】そして、書込パワーの新目標値ＬＰｎが、
最大値ＬＰｍに到達してから一定時間ｔ１経過すると、
選択部２０４により最大値制限された書込パワー目標値
ＬＰｎ’が初期値ＬＰｉに変更される。

【００６１】その後、一定時間ｔ２が経過すると書込パ
ワー目標値ＬＰ１は、再び最大値制限された書込パワー
目標値ＬＰｎ’に変更される。

【００６２】なお、一定時間ｔ１，ｔ２の長さは、ディ
スク５上に存在しうるドットの大きさから決定される。

【００６３】以上によりドットがある大きさ以上の場合
に、レーザパワーを過大パワーにすることがなくなり、
ドット通過後直ちに適正なレーザパワーでマーク形成が
行えると共に、データの欠落等したバースト長がドット
の長さより長くなるのを防止することが可能となる。

【００６４】また、ＣＰＵは振幅レベルの判定を行なわ
ず、時間管理だけを行なうので処理が簡単になる。

【００６５】本発明の第３の実施の形態を図に基づき説
明する。なお上述した実施の形態と同一構成については
同一符号を用いて説明を省略する。図６は、本実施の形
態にかかるＣＰＵのブロック図である。第２の実施の形
態においては、書込パワー新目標値ＬＰｎを最大値ＬＰ
ｍに制限する場合について説明したが、一般に最大値Ｌ
Ｐｍの設定は以下の理由から困難である。

【００６６】即ち、ディスク５上にドットがなく、レー
ザパワーが書込パワー新目標値ＬＰｎによって正常にマ
ーク形成しているときは、レーザパワーは、レーザダイ
オードの温度変化やディスク５のそり、感度むら等の変
化に追従して変化するため、光ピックアップ装置が動作
する場所や環境、ディスク５の特性などによって書込パ
ワー新目標値ＬＰｎは大きく変化する。

【００６７】一方、最大値ＬＰｍをあまり大きくする
と、光ピックアップ装置が動作する場所や環境、ディス
ク５の特性などによっては、光スポットがドットにマー
ク形成を行おうとしても、レーザパワーがなかなか最大
値ＬＰｍに達成せず、このためドットが検出できない場
合がある。

【００６８】また、ドットがゴミのような場合に、どこ
までもパワーアップして行くので、レーザの寿命を短く
するおそれがあった。

【００６９】そこで本実施の形態においては、Ａ／Ｄ変
換回路２３、２４からのマーク信号Ｐ１及びランド信号
Ｌ１の振幅レベルを、あるしきい値と比較して振幅レベ
ル検出信号（図４参照）を出力する振幅レベル検出部１
０１を設け、この振幅レベル検出信号によって最大値Ｌ
Ｐｍを設定するようにした。

【００７０】即ち、振幅レベルが正常な区間（ドット以
外）においては、最大値ＬＰｍの設定を比較的高い値に
設定し、振幅レベルが異常な区間（ドット領域）におい
ては比較的低い値に設定する。

【００７１】これにより、ディスク５上にドットがな
く、レーザパワーが書込パワー新目標値ＬＰｎによって
正常にマークを形成しているときは、レーザパワーはレ
ーザタイオードの温度変化やディスク５のそり、感度む
らなどの変化に容易に追従して変化することができる。

【００７２】また光スポットがドットにマーク形成を行
おうとした場合は、ある大きさ以上のドットなら書込パ
ワー新目標値ＬＰｎは最大値ＬＰｍに達し、第２の実施
の形態と同様の効果を得ることが可能になる。

【００７３】

【発明の効果】請求項１にかかる発明によれば、レーザ
光が情報記録媒体からの反射光が殆どない部分にマーク
形成を行おうとした際に、レーザパワーを所定値に設定
するようにしたので、反射光が殆どない部分を通過した
後直ちに適正なレーザパワーでマーク形成が行えるよう
になり、データの欠落等のバースト長を反射光が殆どな
い部分の長さより長くすることがなくなった。

【００７４】請求項２にかかる発明によれば、ディスク
からの反射光に対応した信号がしきい値より小さくなっ
た場合に、レーザパワーを所定値に設定するようにした
ので、反射光が殆どない部分がある大きさ以上の場合
に、レーザパワーを過大パワーにすることなく、反射光
が殆どない部分を通過した後直ちに適正なレーザパワー
でマーク形成を行うことが可能になって、データの欠落
等のバースト長を反射光が殆どない部分の長さより長く
することがなくなった。

【００７５】請求項３にかかる発明によれば、ディスク
からの反射光に対応した信号がしきい値より小さくなっ
ている時間が一定値より長くなった場合に、レーザパワ
ーを所定値に設定するようにしたので、反射光が殆どな
い部分を通過した後直ちに適正なレーザパワーでマーク
の形成を行なうことが可能になって、データの欠落等の
バースト長を反射光が殆どない部分の長さより長くする
ことがなくなった。また、反射光に対応した信号がしき
い値より小さくなっている時間が、一定値を越えたとき
にレーザパワーを所定値に設定するようにしたので、反
射光が殆どない部分が微小な場合には、レーザパワーは
所定値に設定されないので安定にレーザパワーを制御す
ることが可能になった。

【００７６】請求項４にかかる発明によれば、レーザ光
が情報記録媒体からの反射光が殆どない部分にマーク形
成を行おうとした際に、レーザパワーの所定値を演算し
て求めると共に、この結果が上限値を超えた場合には上
限値を目標値としたので、レーザパワーを過度にパワー
アップさせることがなくなり、反射光が殆どない部分を
通過した後直ちに適正なレーザパワーでマーク形成を行
なうことが可能になってデータの欠落等のバースト長を
反射光が殆どない部分の長さより長くすることがなくな
った。また、制御部は、時間管理だけを行なうようにし
たので当該制御部の処理が簡単になった。

【００７７】請求項５にかかる発明によれば、レーザ光
が情報記録媒体からの反射光が殆どない部分にマーク形
成を行おうとした際に、レーザパワーが上限値に達して
から所定時間経過すると、当該レーザパワーを目標値に
設定するようにしたので、反射光が殆どない部分を通過
した後直ちに適正なレーザパワーでマーク形成を行なう
ことが可能になって、データの欠落等のバースト長を反
射光が殆どない部分の長さより長くすることがなくなっ
た。

【００７８】請求項６にかかる発明によれば、レーザ光
が情報記録媒体からの反射光が殆どない部分にマーク形
成を行おうとした際に、レーザパワーの上限値を反射光
の状態に応じて選択するようにしたので、反射光が殆ど
ない部分を通過した後直ちに適正なレーザパワーでマー
ク形成を行なうことが可能になって、データの欠落等の
バースト長を反射光が殆どない部分の長さより長くする
ことがなくなった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の説明に適用される光ピッ
クアップ装置のブロック図である。

【図２】第１の実施の形態の説明に適用されるＣＰＵの
ブロック図である。

【図３】第１の実施の形態にかかる振幅レベル検出信号
の検出方法を説明する図である。

【図４】第２の実施の形態の説明に適用されるＣＰＵの
ブロック図である。

【図５】第２の実施の形態にかかるレーザパワーの変化
を説明する図である。

【図６】第３の実施の形態の説明に適用されるＣＰＵの
ブロック図である。

【図７】従来技術の説明に適用されるレーザパワーの変
化を説明する図である。

【符号の説明】

２ ＣＰＵ ７ ＡＰＣ １０１ 振幅レベル検出部 １０２ 振幅低下時間測定部 １０３ 判定部 １０４ 演算部 １０５，２０４ 選択部 ２０１ 最大値制限部 ２０２，３０１ 最大値設定部 ２０３ タイマ ３０２ 最大値切り換え部

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 情報記録媒体上にレーザ光のスポットを
   形成してマークの書込を行う光ディスク装置において、 情報記録媒体からの反射光が殆どない部分にマーク形成
   を行おうとした際に、前記レーザ光のレーザパワーを所
   定値に設定する制御部を有することを特徴とする光ディ
   スク装置。
2. 【請求項２】 前記制御部が、ディスクからの反射光に
   対応した信号を検出して予め設定されているしきい値と
   比較する検出手段を具備し、該検出手段の出力信号に基
   づき前記レーザ光のレーザパワーを前記所定値に設定す
   ることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記制御部が、前記検出手段によりディ
   スクからの反射光に対応した信号が予め設定されている
   しきい値より小さくなっている時間を測定する時間測定
   手段と、 該時間測定手段により測定された時間が、予め設定され
   た時間より長いか否かを判断する判断手段とを有して、
   時間が長くなっている場合にレーザパワーを前記所定値
   に設定することを特徴とする請求項２記載の光ディスク
   装置。
4. 【請求項４】 前記制御部が、ディスクからの反射光に
   対応した信号に基づき、マーク形成時におけるレーザパ
   ワーの目標値を演算する演算手段と、 前記目標値の上限を制限すると共に、マーク形成中のレ
   ーザパワーが上限値に達したことを検出すると、その時
   から一定時間後に、レーザパワーを固定値に設定する制
   限手段とを有することを特徴とする請求項２又は３記載
   の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記制御部が、前記制限手段によりレー
   ザパワーを前記固定値に設定されてから一定時間経過後
   に前記目標値のレーザパワーでマーク形成させることを
   特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】 前記制御部が、前記検出手段によりディ
   スクからの反射光に対応した信号が予め設定されている
   しきい値より小さくなっている場合と、小さい場合とで
   前記目標値の上限を異なる値にすることを特徴とする請
   求項４又は５記載の光ディスク装置。