JPH09282680A - 光ディスク装置用光学装置 - Google Patents
光ディスク装置用光学装置Info
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- JPH09282680A JPH09282680A JP8215815A JP21581596A JPH09282680A JP H09282680 A JPH09282680 A JP H09282680A JP 8215815 A JP8215815 A JP 8215815A JP 21581596 A JP21581596 A JP 21581596A JP H09282680 A JPH09282680 A JP H09282680A
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- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 フォーカシング誤差検知用光検知器に集光さ
れるビームスポットの形状を制御することにより、該光
検知器に入射する光量を増大させること。 【解決手段】 光ディスク上に集光されるレーザビーム
のフォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を
行う光ディスク装置用光学装置であって、光ディスクで
反射された反射ビームをそれぞれ異なる方向に回折する
第１、第２、第３及び第４領域を有する回折格子を含ん
でいる。誤差検出光学装置はさらに、回折格子の第１領
域で回折された反射ビームを検出する第１光検知器と、
回折格子の第２領域で回折された反射ビームを検出する
第２光検知器と、回折格子の第３領域で回折された反射
ビームを検出する第３光検知器と、回折格子の第４領域
で回折された反射ビームを検出する第４光検知器とを含
んでいる。回折格子の第１及び第２領域の形状及びサイ
ズを最適に制御することにより、フォーカシング誤差検
出用光検知器に入射する光量を増大させる。
れるビームスポットの形状を制御することにより、該光
検知器に入射する光量を増大させること。 【解決手段】 光ディスク上に集光されるレーザビーム
のフォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を
行う光ディスク装置用光学装置であって、光ディスクで
反射された反射ビームをそれぞれ異なる方向に回折する
第１、第２、第３及び第４領域を有する回折格子を含ん
でいる。誤差検出光学装置はさらに、回折格子の第１領
域で回折された反射ビームを検出する第１光検知器と、
回折格子の第２領域で回折された反射ビームを検出する
第２光検知器と、回折格子の第３領域で回折された反射
ビームを検出する第３光検知器と、回折格子の第４領域
で回折された反射ビームを検出する第４光検知器とを含
んでいる。回折格子の第１及び第２領域の形状及びサイ
ズを最適に制御することにより、フォーカシング誤差検
出用光検知器に入射する光量を増大させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク上に集
光されるレーザビームのフォーカシング誤差検出及びト
ラッキング誤差検出を行う光ディスク装置用誤差検出光
学装置に関する。
光されるレーザビームのフォーカシング誤差検出及びト
ラッキング誤差検出を行う光ディスク装置用誤差検出光
学装置に関する。
【０００２】光ディスクは近年急速に発展するマルチメ
ディア化の中で中核となるメモリ媒体として脚光を浴び
ており、通常カートリッジの中に収容された状態で使用
される。
ディア化の中で中核となるメモリ媒体として脚光を浴び
ており、通常カートリッジの中に収容された状態で使用
される。
【０００３】光ディスクカートリッジが光ディスク装置
内にローディングされ、光ピックアップ（光学ヘッド）
により光ディスクへのデータのライト／リードが行われ
る。
内にローディングされ、光ピックアップ（光学ヘッド）
により光ディスクへのデータのライト／リードが行われ
る。
【０００４】
【従来の技術】光ディスク、光磁気ディスク等の記録媒
体は記録媒体を取り替えて使用するものであり、またこ
れらの記録媒体は成形時の歪みによって反りやうねりが
生じている。
体は記録媒体を取り替えて使用するものであり、またこ
れらの記録媒体は成形時の歪みによって反りやうねりが
生じている。
【０００５】そのため、記録媒体には偏心や傾きが生じ
やすい。従って、記録された情報を読み出すためにはフ
ォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を行わ
なくてはならない。
やすい。従って、記録された情報を読み出すためにはフ
ォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を行わ
なくてはならない。
【０００６】フォーカシング誤差検出を行う方法として
は、比点収差法、ナイフエッジ法、ウエッジプリズム法
及び臨界角法等がある。そのうち、光ディスク装置のフ
ォーカシング誤差検出としてはナイフエッジ法がよく用
いられている。
は、比点収差法、ナイフエッジ法、ウエッジプリズム法
及び臨界角法等がある。そのうち、光ディスク装置のフ
ォーカシング誤差検出としてはナイフエッジ法がよく用
いられている。
【０００７】従来のナイフエッジ法を用いた誤差検出シ
ステムを図１を参照して説明する。半導体レーザ発生器
２から出射されたレーザビームは、コリメータレンズ
４、ビームスプリッタ６、ビームスプリッタ８及び対物
レンズ１０を透過して光ディスク１２上にフォーカスさ
れる。
ステムを図１を参照して説明する。半導体レーザ発生器
２から出射されたレーザビームは、コリメータレンズ
４、ビームスプリッタ６、ビームスプリッタ８及び対物
レンズ１０を透過して光ディスク１２上にフォーカスさ
れる。
【０００８】光ディスク１２から反射した反射ビーム１
４は対物レンズ１０に入射する。対物レンズ１０で反射
ビーム１４はコリメートビーム１６に戻され、ビームス
プリッタ８に入射する。ビームスプリッタ８で反射ビー
ム１４は透過ビーム１８とサーボ用ビーム２０に分割さ
れる。
４は対物レンズ１０に入射する。対物レンズ１０で反射
ビーム１４はコリメートビーム１６に戻され、ビームス
プリッタ８に入射する。ビームスプリッタ８で反射ビー
ム１４は透過ビーム１８とサーボ用ビーム２０に分割さ
れる。
【０００９】透過ビーム１８の一部１９はビームスプリ
ッタ６で反射されて図示しない記録情報読み取り系に導
かれる。サーボ用ビーム２０はビームスプリッタ２２で
トラッキング誤差検出用のビーム２４とフォーカシング
誤差検出用のビーム２６に分割される。
ッタ６で反射されて図示しない記録情報読み取り系に導
かれる。サーボ用ビーム２０はビームスプリッタ２２で
トラッキング誤差検出用のビーム２４とフォーカシング
誤差検出用のビーム２６に分割される。
【００１０】ビーム２６はフォーカシング誤差検出用集
光レンズ２８に入射する。レンズ２８で集光されるビー
ム２６はフォーカスする前にナイフエッジ３０で半分に
遮られ、半分に遮られたビーム３２は光検知器３４上に
ビームスポットを形成する。図２（Ａ）〜図２（Ｅ）に
示すように、光検知器３４は光を検知することのできな
い分割線３５によって２つに分割されている。図２
（Ａ）〜図２（Ｅ）を参照して、対物レンズ１０と光デ
ィスク１２との間の距離に応じた光検知器３４上に投影
されるビームスポットの変化を説明する。
光レンズ２８に入射する。レンズ２８で集光されるビー
ム２６はフォーカスする前にナイフエッジ３０で半分に
遮られ、半分に遮られたビーム３２は光検知器３４上に
ビームスポットを形成する。図２（Ａ）〜図２（Ｅ）に
示すように、光検知器３４は光を検知することのできな
い分割線３５によって２つに分割されている。図２
（Ａ）〜図２（Ｅ）を参照して、対物レンズ１０と光デ
ィスク１２との間の距離に応じた光検知器３４上に投影
されるビームスポットの変化を説明する。
【００１１】ナイフエッジ法では、光ディスク１２と対
物レンズ１０との間の距離によって光検知器３４上のビ
ームスポットの位置が移動する。従って、分割線３５に
よって２つに分割された光検知器３４の右側を３４ａ、
左側を３４ｂ、その光量をｆ３４ａ及びｆ３４ｂとする
と、レーザビームの光ディスク１２上へのフォーカシン
グエラーＶは、 Ｖ＝ｋ（ｆ３４ｂ−ｆ３４ａ）…（１） で表すことができる。ここでｋは定数である。
物レンズ１０との間の距離によって光検知器３４上のビ
ームスポットの位置が移動する。従って、分割線３５に
よって２つに分割された光検知器３４の右側を３４ａ、
左側を３４ｂ、その光量をｆ３４ａ及びｆ３４ｂとする
と、レーザビームの光ディスク１２上へのフォーカシン
グエラーＶは、 Ｖ＝ｋ（ｆ３４ｂ−ｆ３４ａ）…（１） で表すことができる。ここでｋは定数である。
【００１２】この方法では、光ディスク１２と対物レン
ズ１０との間の距離が情報を読み取れる範囲内にあると
きには、図２（Ｃ）に示すように光検知器３４の分割線
３５の上にビームスポットが形成され、且つビームスポ
ットの径が小さくなる。
ズ１０との間の距離が情報を読み取れる範囲内にあると
きには、図２（Ｃ）に示すように光検知器３４の分割線
３５の上にビームスポットが形成され、且つビームスポ
ットの径が小さくなる。
【００１３】分割線３５は約５μｍの太さがあり、この
上では光を検知することができない。従って、この状態
では光検知器３４に入射する光量が小さなものとなって
迷い光などの外乱によって検出結果が不安定となる。
上では光を検知することができない。従って、この状態
では光検知器３４に入射する光量が小さなものとなって
迷い光などの外乱によって検出結果が不安定となる。
【００１４】また、ビームスポットが小さいと半導体レ
ーザ発生器２と光検知器３４との間の位置決めに要求さ
れる精度が厳しくなり、且つ光検知器の出力から光ディ
スク１２と対物レンズ１０との間の距離を計算できる範
囲が狭くなる。よって、ビームスポットを大きくする必
要がある。
ーザ発生器２と光検知器３４との間の位置決めに要求さ
れる精度が厳しくなり、且つ光検知器の出力から光ディ
スク１２と対物レンズ１０との間の距離を計算できる範
囲が狭くなる。よって、ビームスポットを大きくする必
要がある。
【００１５】図３を参照すると、レンズ２８と、レンズ
２８によりフォーカスされるビームスポット３６との関
係が示されている。レンズ２８に入射するビームの波長
をλ、レンズ２８の開口長をｄ及びレンズ２８とビーム
の集束位置までの距離をｆとすると、ビームスポット３
６の直径Ｆは以下の式で示される。
２８によりフォーカスされるビームスポット３６との関
係が示されている。レンズ２８に入射するビームの波長
をλ、レンズ２８の開口長をｄ及びレンズ２８とビーム
の集束位置までの距離をｆとすると、ビームスポット３
６の直径Ｆは以下の式で示される。
【００１６】Ｆ＝ｋ（ｆ／ｄ）λ…（２） ｋの値は入射する光の強度分布により異なるが、強度分
布が一定の光を入射した場合、ｋ＝１．６４である。式
（２）より、ビームスポットの径Ｆはレンズの焦点距離
ｆ、レンズの開口長ｄ及び入射するビームの波長λから
決定される。
布が一定の光を入射した場合、ｋ＝１．６４である。式
（２）より、ビームスポットの径Ｆはレンズの焦点距離
ｆ、レンズの開口長ｄ及び入射するビームの波長λから
決定される。
【００１７】従来では、光検知器３４上にビームを集光
するレンズ２８の焦点距離ｆを大きくして、ビームスポ
ット径Ｆを大きくしていたが、その結果光ピックアップ
の大型化を招いていた。また、半導体レーザ発生器２の
光量を増やすという方法も考えられるが、半導体レーザ
発生器２のコストアップという問題もある。
するレンズ２８の焦点距離ｆを大きくして、ビームスポ
ット径Ｆを大きくしていたが、その結果光ピックアップ
の大型化を招いていた。また、半導体レーザ発生器２の
光量を増やすという方法も考えられるが、半導体レーザ
発生器２のコストアップという問題もある。
【００１８】他の従来技術として、ビームスプリッタ、
集光レンズ及びナイフエッジを１つのホログラム回折格
子で代用する誤差検出系を有する光ピックアップが提案
されている。このような光ピックアップでは、図１に示
した光検知器３４にビームを集光するレンズ２８の機能
をコリメータレンズで代用している。
集光レンズ及びナイフエッジを１つのホログラム回折格
子で代用する誤差検出系を有する光ピックアップが提案
されている。このような光ピックアップでは、図１に示
した光検知器３４にビームを集光するレンズ２８の機能
をコリメータレンズで代用している。
【００１９】そのため、ホログラム回折格子から光検知
器までの焦点距離を変えるためには、コリメータレンズ
の焦点距離を変えなくてはならない。しかし、半導体レ
ーザ発生器とコリメータレンズとの距離を遠ざけると、
ビームの結合効率が悪くなり、ホログラム回折格子によ
り光検知器方向に回折されるビームの総光量が少なくな
る。
器までの焦点距離を変えるためには、コリメータレンズ
の焦点距離を変えなくてはならない。しかし、半導体レ
ーザ発生器とコリメータレンズとの距離を遠ざけると、
ビームの結合効率が悪くなり、ホログラム回折格子によ
り光検知器方向に回折されるビームの総光量が少なくな
る。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】従って、ホログラム回
折格子を用いた誤差検出系において、集光レンズ或いは
コリメータレンズの焦点距離を長くせずに、光検知器に
集光されるビームのスポット径を大きくする必要があ
る。
折格子を用いた誤差検出系において、集光レンズ或いは
コリメータレンズの焦点距離を長くせずに、光検知器に
集光されるビームのスポット径を大きくする必要があ
る。
【００２１】故に本発明の目的は、回折格子を用いて誤
差検出用光検知器に集光されるビームスポットの形状を
制御することにより該光検知器に入射する光量を増大さ
せ、精度のよいフォーカシング誤差検出を行うことので
きる光ディスク装置用誤差検出光学装置を提供すること
である。
差検出用光検知器に集光されるビームスポットの形状を
制御することにより該光検知器に入射する光量を増大さ
せ、精度のよいフォーカシング誤差検出を行うことので
きる光ディスク装置用誤差検出光学装置を提供すること
である。
【００２２】
【課題を解決するための手段】本発明によると、光ディ
スク上に集光されるレーザビームのフォーカシング誤差
検出及びトラッキング誤差検出を行う光ディスク装置用
誤差検出光学装置であって、前記光ディスクで反射され
た反射ビームをそれぞれ異なる方向に回折する第１、第
２、第３及び第４領域を有する回折格子と；前記回折格
子の第１領域で回折された反射ビームを検出する、第１
の分割線を有する第１光検知器と；前記回折格子の第２
領域で回折された反射ビームを検出する、第２の分割線
を有する第２光検知器と；前記回折格子の第３領域で回
折された反射ビームを検出する第３光検知器と；前記回
折格子の第４領域で回折された反射ビームを検出する第
４光検知器とを具備し；前記第３及び第４領域は前記光
ディスクの情報記録方向と平行に伸長するとともに前記
回折格子の中心を通過する直線状分割線により分割され
ており、前記第１及び第２領域は前記直線状分割線と垂
直で且つ前記回折格子の中心を通過する基準線に対して
対称で該基準線から離れて配置されており、前記第１及
び第２領域の各々は前記直線状分割線と平行な互いに離
間した第１及び第２直線と前記直線状分割線と垂直な互
いに離間した第３及び第４直線によって包囲されている
ことを特徴とする光ディスク装置用誤差検出光学装置が
提供される。
スク上に集光されるレーザビームのフォーカシング誤差
検出及びトラッキング誤差検出を行う光ディスク装置用
誤差検出光学装置であって、前記光ディスクで反射され
た反射ビームをそれぞれ異なる方向に回折する第１、第
２、第３及び第４領域を有する回折格子と；前記回折格
子の第１領域で回折された反射ビームを検出する、第１
の分割線を有する第１光検知器と；前記回折格子の第２
領域で回折された反射ビームを検出する、第２の分割線
を有する第２光検知器と；前記回折格子の第３領域で回
折された反射ビームを検出する第３光検知器と；前記回
折格子の第４領域で回折された反射ビームを検出する第
４光検知器とを具備し；前記第３及び第４領域は前記光
ディスクの情報記録方向と平行に伸長するとともに前記
回折格子の中心を通過する直線状分割線により分割され
ており、前記第１及び第２領域は前記直線状分割線と垂
直で且つ前記回折格子の中心を通過する基準線に対して
対称で該基準線から離れて配置されており、前記第１及
び第２領域の各々は前記直線状分割線と平行な互いに離
間した第１及び第２直線と前記直線状分割線と垂直な互
いに離間した第３及び第４直線によって包囲されている
ことを特徴とする光ディスク装置用誤差検出光学装置が
提供される。
【００２３】代案として、第１及び第２領域の各々は前
記直線状分割線と平行な互いに離間した第１及び第２直
線と、前記直線状分割線と垂直な第３直線と、１つの曲
線によって包囲されている形状であってもよい。好まし
くは、この１つの曲線は回折格子の外周の一部に相当す
る。
記直線状分割線と平行な互いに離間した第１及び第２直
線と、前記直線状分割線と垂直な第３直線と、１つの曲
線によって包囲されている形状であってもよい。好まし
くは、この１つの曲線は回折格子の外周の一部に相当す
る。
【００２４】本発明の他の側面によると、光ディスク上
に集光されるレーザビームのフォーカシング誤差検出及
びトラッキング誤差検出を行う光ディスク装置用誤差検
出光学装置であって、前記光ディスクで反射された反射
ビームをそれぞれ異なる方向に回折する第１、第２、第
３、第４、第５及び第６領域を有する回折格子と；前記
回折格子の第１領域で回折された反射ビームを検出す
る、第１分割線を有する第１光検知器と；前記回折格子
の第２領域で回折された反射ビームを検出する、第２分
割線を有する第２光検知器と；前記回折格子の第３領域
で回折された反射ビームを検出する第３光検知器と；前
記回折格子の第４領域で回折された反射ビームを検出す
る第４光検知器と；前記回折格子の第５領域で回折され
た反射ビームを検出する第５光検知器と；前記回折格子
の第６領域で回折された反射ビームを検出する第６光検
知器とを具備し；前記第３、第４、第５及び第６領域は
前記光ディスクの情報記録方向と平行に伸長するととも
に前記回折格子の中心を通過する第１直線状分割線と該
第１直線状分割線と垂直に交わり前記回折格子の中心を
通過する第２直線状分割線により分割されており、前記
第１及び第２領域は前記第２直線状分割線に対して対称
で該第２直線状分割線から離れて配置されており、前記
第１及び第２領域の各々は前記第１直線状分割線と平行
な互いに離間した第１及び第２直線と前記第２直線状分
割線と平行な互いに離間した第３及び第４直線によって
包囲されていることを特徴とする光ディスク装置用誤差
検出光学装置が提供される。
に集光されるレーザビームのフォーカシング誤差検出及
びトラッキング誤差検出を行う光ディスク装置用誤差検
出光学装置であって、前記光ディスクで反射された反射
ビームをそれぞれ異なる方向に回折する第１、第２、第
３、第４、第５及び第６領域を有する回折格子と；前記
回折格子の第１領域で回折された反射ビームを検出す
る、第１分割線を有する第１光検知器と；前記回折格子
の第２領域で回折された反射ビームを検出する、第２分
割線を有する第２光検知器と；前記回折格子の第３領域
で回折された反射ビームを検出する第３光検知器と；前
記回折格子の第４領域で回折された反射ビームを検出す
る第４光検知器と；前記回折格子の第５領域で回折され
た反射ビームを検出する第５光検知器と；前記回折格子
の第６領域で回折された反射ビームを検出する第６光検
知器とを具備し；前記第３、第４、第５及び第６領域は
前記光ディスクの情報記録方向と平行に伸長するととも
に前記回折格子の中心を通過する第１直線状分割線と該
第１直線状分割線と垂直に交わり前記回折格子の中心を
通過する第２直線状分割線により分割されており、前記
第１及び第２領域は前記第２直線状分割線に対して対称
で該第２直線状分割線から離れて配置されており、前記
第１及び第２領域の各々は前記第１直線状分割線と平行
な互いに離間した第１及び第２直線と前記第２直線状分
割線と平行な互いに離間した第３及び第４直線によって
包囲されていることを特徴とする光ディスク装置用誤差
検出光学装置が提供される。
【００２５】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を説明する前
に、図４乃至図８を参照してホログラム回折格子を用い
た本発明の原理について説明する。
に、図４乃至図８を参照してホログラム回折格子を用い
た本発明の原理について説明する。
【００２６】図４に２辺の長さがＤ１，Ｄ２である長方
形のホログラム回折格子３８と、それによって集光され
るビームの２辺の長さがＦ１，Ｆ２であるビームスポッ
ト４０との関係を示す。
形のホログラム回折格子３８と、それによって集光され
るビームの２辺の長さがＦ１，Ｆ２であるビームスポッ
ト４０との関係を示す。
【００２７】ホログラム回折格子３８によるビームの集
光も原理は光学レンズと変わらないため、ビームスポッ
ト４０のサイズは入射するビームの波長λ、回折格子３
８の焦点距離及び開口長によって決定される。
光も原理は光学レンズと変わらないため、ビームスポッ
ト４０のサイズは入射するビームの波長λ、回折格子３
８の焦点距離及び開口長によって決定される。
【００２８】回折格子３８の開口長は２辺の長さＤ１及
びＤ２で表される。ただし、長さＤ１で示される１辺の
方向は光検知器３４の分割線３５と垂直方向である。式
（２）より、開口長が大きくなるとビームスポットの径
は小さくなるのだから、回折格子３８の辺Ｄ１が長くな
るとビームスポット４０の１辺の長さＦ１が小さくな
り、回折格子３８の辺Ｄ２が長くなるとビームスポット
４０の１辺Ｆ２が小さくなる。従って、回折格子３８の
辺Ｄ１，Ｄ２の長さを変化させることによって、ビーム
スポット４０の大きさ及び形状を制御することができ
る。
びＤ２で表される。ただし、長さＤ１で示される１辺の
方向は光検知器３４の分割線３５と垂直方向である。式
（２）より、開口長が大きくなるとビームスポットの径
は小さくなるのだから、回折格子３８の辺Ｄ１が長くな
るとビームスポット４０の１辺の長さＦ１が小さくな
り、回折格子３８の辺Ｄ２が長くなるとビームスポット
４０の１辺Ｆ２が小さくなる。従って、回折格子３８の
辺Ｄ１，Ｄ２の長さを変化させることによって、ビーム
スポット４０の大きさ及び形状を制御することができ
る。
【００２９】また、ビームの総光量は回折格子３８に入
射する光量に等しいので、回折格子３８に光量分布が均
一のビームが入射するという条件下では、Ｄ１×Ｄ２の
値が同じならば、ビームの総光量はＤ１，Ｄ２の値がど
のような値を取ろうともすべて等しくなる。
射する光量に等しいので、回折格子３８に光量分布が均
一のビームが入射するという条件下では、Ｄ１×Ｄ２の
値が同じならば、ビームの総光量はＤ１，Ｄ２の値がど
のような値を取ろうともすべて等しくなる。
【００３０】図５（Ａ）〜図５（Ｃ）にＤ１×Ｄ２の値
が等しい条件でＤ１の値を変化させたときの、光検知器
上に集束されたビームスポット形状４２ａ〜４２ｃを示
す。ハッチング３５の部分は光検知器の分割線である。
が等しい条件でＤ１の値を変化させたときの、光検知器
上に集束されたビームスポット形状４２ａ〜４２ｃを示
す。ハッチング３５の部分は光検知器の分割線である。
【００３１】図５（Ａ）と図５（Ｃ）を比較すると明ら
かなように、同じ面積の回折格子３８から照射されたビ
ームでもＦ１の長さによって光検知器３４の光を検知す
る部分に入射する光量に差があり、回折格子３８の１辺
Ｄ１を短くするとＦ１が長くなり、光検知器３４の光を
検知する部分により多くの光を照射できることがわか
る。
かなように、同じ面積の回折格子３８から照射されたビ
ームでもＦ１の長さによって光検知器３４の光を検知す
る部分に入射する光量に差があり、回折格子３８の１辺
Ｄ１を短くするとＦ１が長くなり、光検知器３４の光を
検知する部分により多くの光を照射できることがわか
る。
【００３２】次にＤ１×Ｄ２の値を一定にし、Ｄ１の値
を変化させた時の対物レンズと光ディスクとの間の距離
Ｌと式（１）のＶ（フォーカスエラー量）の値の関係を
図６〜図８に示す。
を変化させた時の対物レンズと光ディスクとの間の距離
Ｌと式（１）のＶ（フォーカスエラー量）の値の関係を
図６〜図８に示す。
【００３３】太線４４はＶの値を示し、２つの１点鎖線
４５で挟まれた領域４６は、記録媒体に記録された情報
を読み取ることのできるＬ（ヘッドとディスクの間隔に
対応）の範囲である。また、Ｖの値が変化している領域
４８をダイナミックレンジとする。
４５で挟まれた領域４６は、記録媒体に記録された情報
を読み取ることのできるＬ（ヘッドとディスクの間隔に
対応）の範囲である。また、Ｖの値が変化している領域
４８をダイナミックレンジとする。
【００３４】フォーカシング誤差補正はＶからＬを計算
して、その値を基に補正動作を行うものであるから、ダ
イナミックレンジ４８の範囲以外では補正動作を行うこ
とができない。図６〜図８に補正動作開始の閾値電圧Ｖ
１〜Ｖ３を示し、情報が読み取り可能状態にある時のＬ
の取り得る値の幅をΔＤ１〜ΔＤ３とする。
して、その値を基に補正動作を行うものであるから、ダ
イナミックレンジ４８の範囲以外では補正動作を行うこ
とができない。図６〜図８に補正動作開始の閾値電圧Ｖ
１〜Ｖ３を示し、情報が読み取り可能状態にある時のＬ
の取り得る値の幅をΔＤ１〜ΔＤ３とする。
【００３５】図６に示すように、出力Ｖ４４の傾きが急
峻であり、ΔＤ１は情報を読み取れる範囲４６に比べて
狭いので、Ｌが多少変動しただけでＶの値が閾値電圧Ｖ
１（−Ｖ１）を超えるため、フォーカシング誤差補正動
作がひんぱんに発生し、補正できるＬの範囲も狭くな
る。更に、その補正動作に対物レンズを動かす駆動機構
が十分に追従しないため、補正動作が失敗する原因とな
る。
峻であり、ΔＤ１は情報を読み取れる範囲４６に比べて
狭いので、Ｌが多少変動しただけでＶの値が閾値電圧Ｖ
１（−Ｖ１）を超えるため、フォーカシング誤差補正動
作がひんぱんに発生し、補正できるＬの範囲も狭くな
る。更に、その補正動作に対物レンズを動かす駆動機構
が十分に追従しないため、補正動作が失敗する原因とな
る。
【００３６】逆に図８の場合には、ΔＤ３を情報を読み
取ることができる範囲４６に一杯に設定することが可能
であるが、出力Ｖ４４の傾きがゆるやかであるため、Δ
Ｄ３の幅に対して−Ｖ３〜Ｖ３の範囲が狭くなり、閾値
電圧Ｖ３（−Ｖ３）を小さい値に設定しなければならな
い。
取ることができる範囲４６に一杯に設定することが可能
であるが、出力Ｖ４４の傾きがゆるやかであるため、Δ
Ｄ３の幅に対して−Ｖ３〜Ｖ３の範囲が狭くなり、閾値
電圧Ｖ３（−Ｖ３）を小さい値に設定しなければならな
い。
【００３７】しかし閾値電圧Ｖ３を小さくすると、光検
知器が検知した結果に回路のノイズが混入することによ
って検知器出力が閾値を簡単に越えてしまうため、検知
結果に誤差が多くなる。
知器が検知した結果に回路のノイズが混入することによ
って検知器出力が閾値を簡単に越えてしまうため、検知
結果に誤差が多くなる。
【００３８】以上のことから、ビームスポット４０の一
辺Ｆ１の値は無制限に大きくすることはできない。最も
条件のよいビームスポットは、図７に示すようにダイナ
ミックレンジ４８が情報を読み取ることができる範囲４
６に概略等しい時である。
辺Ｆ１の値は無制限に大きくすることはできない。最も
条件のよいビームスポットは、図７に示すようにダイナ
ミックレンジ４８が情報を読み取ることができる範囲４
６に概略等しい時である。
【００３９】即ち、Ｄ１の値はビームスポット４０の分
割線と垂直方向の長さＦ１を大きくするためにある程度
小さくしなくてはならない。しかし、回路のノイズに強
くするためにＤ１を無制限に小さくすることはできず、
ある範囲に限定される。
割線と垂直方向の長さＦ１を大きくするためにある程度
小さくしなくてはならない。しかし、回路のノイズに強
くするためにＤ１を無制限に小さくすることはできず、
ある範囲に限定される。
【００４０】以上から、光検知器の光を検知できる部分
に入射する光量の下限と、電子回路のノイズに対する耐
性からＤ１の値が決定する。Ｄ１が決定したら、フォー
カシング誤差補正を行うのに必要な光量を確保できるＤ
２の値が決定する。また、光ディスク装置の制約からレ
ーザビームの波長λとコリメータレンズの焦点距離Ｆが
決定される。
に入射する光量の下限と、電子回路のノイズに対する耐
性からＤ１の値が決定する。Ｄ１が決定したら、フォー
カシング誤差補正を行うのに必要な光量を確保できるＤ
２の値が決定する。また、光ディスク装置の制約からレ
ーザビームの波長λとコリメータレンズの焦点距離Ｆが
決定される。
【００４１】以上の条件を備えたホログラム回折格子を
用いることによって、ビームが光ディスク上にフォーカ
スした場合でも、光検知器に投影されるビームスポット
を大きくすることが可能であり、しかも回路のノイズに
強い光ディスク装置用誤差検出光学装置を提供すること
ができる。上述した説明では長方形のホログラム回折格
子を使用して説明をしたが、任意の形状のホログラム回
折格子でも本発明は同様に適用可能である。
用いることによって、ビームが光ディスク上にフォーカ
スした場合でも、光検知器に投影されるビームスポット
を大きくすることが可能であり、しかも回路のノイズに
強い光ディスク装置用誤差検出光学装置を提供すること
ができる。上述した説明では長方形のホログラム回折格
子を使用して説明をしたが、任意の形状のホログラム回
折格子でも本発明は同様に適用可能である。
【００４２】次にトラッキング誤差検出について説明す
る。トラッキング誤差検出方法としては、プッシュプル
法、ヘテロダイン法などがある。プッシュプル法は、光
ディスクからの反射光分布が、対物レンズにより光ディ
スク上に集光されるレーザビームのビームスポットと、
光ディスク上の案内溝との位置関係によって変化するこ
とを利用して、トラッキング誤差検出を行うものであ
る。
る。トラッキング誤差検出方法としては、プッシュプル
法、ヘテロダイン法などがある。プッシュプル法は、光
ディスクからの反射光分布が、対物レンズにより光ディ
スク上に集光されるレーザビームのビームスポットと、
光ディスク上の案内溝との位置関係によって変化するこ
とを利用して、トラッキング誤差検出を行うものであ
る。
【００４３】ビームスポットの中心がちょうど案内溝の
中間位置にある場合には、反射光の分布は均一となり、
ビームスポットの位置が中心からずれると反射光の分布
が不均一となり、案内溝の中心線に対して右或いは左に
かたよってしまう。
中間位置にある場合には、反射光の分布は均一となり、
ビームスポットの位置が中心からずれると反射光の分布
が不均一となり、案内溝の中心線に対して右或いは左に
かたよってしまう。
【００４４】従って、ビームスポットの中心がちょうど
案内溝の中間の位置にあるときに、光ディスクの情報記
録方向と平行の線によって反射ビームを２等分するホロ
グラム回折格子に入射して、各々のビームを異なる光検
知器ＡとＢに入射すると、トラッキング誤差信号ＴＥＳ
は光検知器Ａ，Ｂの出力をｆａ，ｆｂとすると以下の式
で表される。
案内溝の中間の位置にあるときに、光ディスクの情報記
録方向と平行の線によって反射ビームを２等分するホロ
グラム回折格子に入射して、各々のビームを異なる光検
知器ＡとＢに入射すると、トラッキング誤差信号ＴＥＳ
は光検知器Ａ，Ｂの出力をｆａ，ｆｂとすると以下の式
で表される。
【００４５】ＴＥＳ＝ｆａ−ｆｂ したがって、ＴＥＳの値によってトラッキング誤差検出
を行うことができる。光ディスクに入射するレーザビー
ムの波長をλとすると、光ディスクの案内溝の深さがλ
／８の時には集束位置の変動による反射光の分布の変化
が最大となる。
を行うことができる。光ディスクに入射するレーザビー
ムの波長をλとすると、光ディスクの案内溝の深さがλ
／８の時には集束位置の変動による反射光の分布の変化
が最大となる。
【００４６】しかし、案内溝の深さがλ／４の時には集
束位置の変動による反射光の変化の分布がなくなるとい
う問題がある。さらに、集束位置の補正のために対物レ
ンズを移動させ、回折光の中心と回折格子の中心がずれ
ると、出力ＴＥＳにオフセットが生じる。
束位置の変動による反射光の変化の分布がなくなるとい
う問題がある。さらに、集束位置の補正のために対物レ
ンズを移動させ、回折光の中心と回折格子の中心がずれ
ると、出力ＴＥＳにオフセットが生じる。
【００４７】一方、ヘテロダイン法はプッシュプル法が
反射ビームを２等分しているのに比べて、反射ビームを
４等分して反射ビームの強度分布を測定するものであ
る。プッシュプル法に比べて、案内溝の深さがλ／４で
も反射ビームの集束位置の補正を行うことができる。
反射ビームを２等分しているのに比べて、反射ビームを
４等分して反射ビームの強度分布を測定するものであ
る。プッシュプル法に比べて、案内溝の深さがλ／４で
も反射ビームの集束位置の補正を行うことができる。
【００４８】対物レンズの移動による出力のオフセット
が生じにくいなどの利点があるが、光検知器の出力から
ビームの集束位置の補正を行うのに複雑な電子回路を必
要とする。
が生じにくいなどの利点があるが、光検知器の出力から
ビームの集束位置の補正を行うのに複雑な電子回路を必
要とする。
【００４９】図９を参照すると本発明の誤差検出装置を
含んだ光ピックアップの全体構成図が示されている。半
導体レーザ発生器５０から出射されたレーザビーム５２
はいくつかの異なる回折方向を有するホログラム回折格
子５４を透過し、コリメータレンズ５６に入射してコリ
メートビームに変換される。
含んだ光ピックアップの全体構成図が示されている。半
導体レーザ発生器５０から出射されたレーザビーム５２
はいくつかの異なる回折方向を有するホログラム回折格
子５４を透過し、コリメータレンズ５６に入射してコリ
メートビームに変換される。
【００５０】コリメートビームはビームスプリッタ５８
を透過して対物レンズ６０に入射し、対物レンズ６０に
より光ディスク６２上にフォーカスされる。光ディスク
６２表面で反射された反射ビームは、対物レンズ６０に
よりコリメートビームに戻されて、ビームスプリッタ５
８に入射して反射ビーム６４と透過ビーム６６に分岐さ
れる。反射ビーム６４は図示しない情報読み取り系に導
かれる。
を透過して対物レンズ６０に入射し、対物レンズ６０に
より光ディスク６２上にフォーカスされる。光ディスク
６２表面で反射された反射ビームは、対物レンズ６０に
よりコリメートビームに戻されて、ビームスプリッタ５
８に入射して反射ビーム６４と透過ビーム６６に分岐さ
れる。反射ビーム６４は図示しない情報読み取り系に導
かれる。
【００５１】透過ビーム６６はコリメータレンズ５６に
入射し、コリメータレンズ５６により集光されつつホロ
グラム回折格子５４に入射する。ビームスプリッタ５８
を透過した反射ビームはホログラム回折格子５４によっ
て４つの異なる方向に回折される。
入射し、コリメータレンズ５６により集光されつつホロ
グラム回折格子５４に入射する。ビームスプリッタ５８
を透過した反射ビームはホログラム回折格子５４によっ
て４つの異なる方向に回折される。
【００５２】ホログラム回折格子５４によって回折され
たビーム６８は４つの光検知器を含んだ光検知器ユニッ
ト７０の表面付近で集光し、各光検知器の表面上にビー
ムスポットを形成する。
たビーム６８は４つの光検知器を含んだ光検知器ユニッ
ト７０の表面付近で集光し、各光検知器の表面上にビー
ムスポットを形成する。
【００５３】図１０を参照すると、本発明第１実施形態
のホログラム回折格子５４と光検知器ユニット７０の拡
大斜視図が示されている。ホログラム回折格子５４は第
１領域５４ａと、第２領域５４ｂと、第３領域５４ｃ
と、第４領域５４ｄに分割されている。各領域５４ａ〜
５４ｂでホログラム回折格子５４に入射したビームはそ
れぞれ異なる方向に回折される。
のホログラム回折格子５４と光検知器ユニット７０の拡
大斜視図が示されている。ホログラム回折格子５４は第
１領域５４ａと、第２領域５４ｂと、第３領域５４ｃ
と、第４領域５４ｄに分割されている。各領域５４ａ〜
５４ｂでホログラム回折格子５４に入射したビームはそ
れぞれ異なる方向に回折される。
【００５４】第３領域５４ｃと第４領域５４ｄで回折さ
れたビーム６８ｃ，６８ｄはトラッキング誤差検出に用
いられる。第３領域５４ｃと第４領域５４ｄを分割する
分割線７２は、光ディスクの情報記録方向と平行に伸長
すると共にホログラム回折格子５４の中心を通過する。
れたビーム６８ｃ，６８ｄはトラッキング誤差検出に用
いられる。第３領域５４ｃと第４領域５４ｄを分割する
分割線７２は、光ディスクの情報記録方向と平行に伸長
すると共にホログラム回折格子５４の中心を通過する。
【００５５】光ディスク６２の情報記録方向とホログラ
ム５４の分割線７２との関係が図３４に示されている。
図３４から明らかなように、ホログラム５４の分割線７
２は光ディスク６２のトラック６３の方向と平行に伸長
している。
ム５４の分割線７２との関係が図３４に示されている。
図３４から明らかなように、ホログラム５４の分割線７
２は光ディスク６２のトラック６３の方向と平行に伸長
している。
【００５６】一方、第１領域５４ａ及び第２領域５４ｂ
で回折されたビーム６８ａ，６８ｂはフォーカシング誤
差検出に用いられる。第１領域５４ａ及び第２領域５４
ｂは、分割線７２と垂直で且つ回折格子５４の中心を通
過する基準線７４に対して対称であり、基準線７４から
離れて配置されている。
で回折されたビーム６８ａ，６８ｂはフォーカシング誤
差検出に用いられる。第１領域５４ａ及び第２領域５４
ｂは、分割線７２と垂直で且つ回折格子５４の中心を通
過する基準線７４に対して対称であり、基準線７４から
離れて配置されている。
【００５７】第１及び第２領域５４ａ，５４ｂの各々
は、分割線７２と平行な互いに離間した２つの直線と、
基準線７４と平行な互いに離間した２つの直線によって
包囲されている。即ち、第１及び第２領域５４ａ，５４
ｂは長方形状をしており、基準線７４に対して対称に配
置されている。
は、分割線７２と平行な互いに離間した２つの直線と、
基準線７４と平行な互いに離間した２つの直線によって
包囲されている。即ち、第１及び第２領域５４ａ，５４
ｂは長方形状をしており、基準線７４に対して対称に配
置されている。
【００５８】光検知器ユニット７０はフォーカシング誤
差検知用の光検知器７６，７８と、トラッキング誤差検
知用の光検知器８０，８２とを含んでいる。光検知器７
６は分割線８４により２つの領域７６ａ，７６ｂに分割
されており、同様に光検知器７８は分割線８６により２
つの領域７８ａ，７８ｂに分割されている。
差検知用の光検知器７６，７８と、トラッキング誤差検
知用の光検知器８０，８２とを含んでいる。光検知器７
６は分割線８４により２つの領域７６ａ，７６ｂに分割
されており、同様に光検知器７８は分割線８６により２
つの領域７８ａ，７８ｂに分割されている。
【００５９】まず、トラッキング誤差検出について説明
する。ホログラム回折格子５４の第３領域５４ｃで回折
されたビーム６８ｃは光検知器８０上に集光し、第４領
域５４ｄで回折されたビーム６８ｄは光検知器８２上に
集光される。
する。ホログラム回折格子５４の第３領域５４ｃで回折
されたビーム６８ｃは光検知器８０上に集光し、第４領
域５４ｄで回折されたビーム６８ｄは光検知器８２上に
集光される。
【００６０】第３領域５４ｃと第４領域５４ｄを分割す
る分割線７２は、光ディスクの情報記録方向と平行に伸
長しているため、プッシュプル法により光ディスク上の
ビームの集束位置とトラックとのずれの値、即ちトラッ
キング誤差信号（ＴＥＳ）は、光検知器８０に入射する
光量をｆ８０、光検知器８２に入射する光量をｆ８２と
すると、 ＴＥＳ＝ｆ８０−ｆ８２ で表すことができる。
る分割線７２は、光ディスクの情報記録方向と平行に伸
長しているため、プッシュプル法により光ディスク上の
ビームの集束位置とトラックとのずれの値、即ちトラッ
キング誤差信号（ＴＥＳ）は、光検知器８０に入射する
光量をｆ８０、光検知器８２に入射する光量をｆ８２と
すると、 ＴＥＳ＝ｆ８０−ｆ８２ で表すことができる。
【００６１】次に、フォーカシング誤差検出について説
明する。本実施形態では、フォーカシング誤差検出を行
うのにホログラム回折格子５４の第１及び第２領域５４
ａ，５４ｂを使用する。第１領域５４ａで回折されたビ
ーム６８ａは光検知器７６上に集光し、第２領域５４ｂ
で回折されたビーム６８ｂは光検知器７８上に集光され
る。
明する。本実施形態では、フォーカシング誤差検出を行
うのにホログラム回折格子５４の第１及び第２領域５４
ａ，５４ｂを使用する。第１領域５４ａで回折されたビ
ーム６８ａは光検知器７６上に集光し、第２領域５４ｂ
で回折されたビーム６８ｂは光検知器７８上に集光され
る。
【００６２】上述したように、光検知器７６，７８の各
々は、対物レンズと光ディスクの距離が変化することに
よってビームスポットが動く方向と垂直方向の分割線８
４，８６でそれぞれ２つに分割されている。
々は、対物レンズと光ディスクの距離が変化することに
よってビームスポットが動く方向と垂直方向の分割線８
４，８６でそれぞれ２つに分割されている。
【００６３】領域７６ａ，７６ｂ，７８ａ，７８ｂに入
射する光量をそれぞれｆ７６ａ，ｆ７６ｂ，ｆ７８ａ，
ｆ７８ｂとすると、フォーカシング誤差信号（ＦＥＳ）
は、 ＦＥＳ＝（ｆ７６ａ−ｆ７６ｂ）＋（ｆ７８ａ−ｆ７８
ｂ） で表すことができる。理想的には、ＦＥＳが０となりフ
ォーカスされた状態となる。
射する光量をそれぞれｆ７６ａ，ｆ７６ｂ，ｆ７８ａ，
ｆ７８ｂとすると、フォーカシング誤差信号（ＦＥＳ）
は、 ＦＥＳ＝（ｆ７６ａ−ｆ７６ｂ）＋（ｆ７８ａ−ｆ７８
ｂ） で表すことができる。理想的には、ＦＥＳが０となりフ
ォーカスされた状態となる。
【００６４】図１１（Ａ）〜図１１（Ｃ）を参照する
と、光ディスクと対物レンズの距離が変化したときの光
検知器上のビームスポットの変化する状態が示されてい
る。図１１（Ｂ）はレーザビームが光ディスク表面上に
フォーカシングした時を示しており、この場合には分割
線８４をまたぐように光検知器７６上にビームスポット
８８ａが形成され、同様に分割線８６をまたぐように光
検知器７８上にビームスポット８８ｂが形成される。
と、光ディスクと対物レンズの距離が変化したときの光
検知器上のビームスポットの変化する状態が示されてい
る。図１１（Ｂ）はレーザビームが光ディスク表面上に
フォーカシングした時を示しており、この場合には分割
線８４をまたぐように光検知器７６上にビームスポット
８８ａが形成され、同様に分割線８６をまたぐように光
検知器７８上にビームスポット８８ｂが形成される。
【００６５】図１１（Ａ）は図１１（Ｂ）のときの光デ
ィスク対物レンズ間距離よりも、光ディスク対物レンズ
間距離が遠い場合の、光検知器７６，７８上のビームス
ポットの状態を示している。図１１（Ｃ）は図１１
（Ｂ）のときの光ディスク対物レンズ間距離よりも、光
ディスク対物レンズ間距離が近い場合の、光検知器７
６，７８上のビームスポットの状態を示している。
ィスク対物レンズ間距離よりも、光ディスク対物レンズ
間距離が遠い場合の、光検知器７６，７８上のビームス
ポットの状態を示している。図１１（Ｃ）は図１１
（Ｂ）のときの光ディスク対物レンズ間距離よりも、光
ディスク対物レンズ間距離が近い場合の、光検知器７
６，７８上のビームスポットの状態を示している。
【００６６】図１２は図９に示した光ピックアップの実
際の寸法関係の一例を示している。本実施形態では、半
導体レーザ発生器５０から出射されるレーザビームの波
長を６８０ｎｍとし、光ディスク６２と対物レンズ６０
の間の距離が理想の長さから±９．０μｍ変動する範囲
内で光ディスク６２に記録された情報を読むことができ
るものとする。さらに、ＴＥＳ，ＦＥＳを検出する光検
知器の面積比は光量の制約から５．４：１に設定され、
この比から変更できないものとする。
際の寸法関係の一例を示している。本実施形態では、半
導体レーザ発生器５０から出射されるレーザビームの波
長を６８０ｎｍとし、光ディスク６２と対物レンズ６０
の間の距離が理想の長さから±９．０μｍ変動する範囲
内で光ディスク６２に記録された情報を読むことができ
るものとする。さらに、ＴＥＳ，ＦＥＳを検出する光検
知器の面積比は光量の制約から５．４：１に設定され、
この比から変更できないものとする。
【００６７】図１３、図１５及び図１７に示すような干
渉縞分布を有するホログラム９０，９６及び１０４を用
意した。図１３に示されたホログラム９０はＦＥＳビー
ム検出用の領域９０ａ，９０ｂと、ＴＥＳビーム検出用
の領域９０ｃ，９０ｄとに分割されている。
渉縞分布を有するホログラム９０，９６及び１０４を用
意した。図１３に示されたホログラム９０はＦＥＳビー
ム検出用の領域９０ａ，９０ｂと、ＴＥＳビーム検出用
の領域９０ｃ，９０ｄとに分割されている。
【００６８】図１５は本発明第２実施形態のホログラム
９６の干渉縞分布を示している。ＴＥＳビームを検出す
る領域９６ｃ，９６ｄはホログラム９６の中心を通り、
光ディスクの情報記録方向と平行に伸長する分割線９８
により分割されている。
９６の干渉縞分布を示している。ＴＥＳビームを検出す
る領域９６ｃ，９６ｄはホログラム９６の中心を通り、
光ディスクの情報記録方向と平行に伸長する分割線９８
により分割されている。
【００６９】ＦＥＳビームを検出する領域９６ａ，９６
ｂはホログラム９６の中心を通り分割線９８に垂直な基
準線に対して対称に配置されている。領域９６ａ，９６
ｂの各々は分割線９８に平行な２つの直線と、分割線９
８に垂直な１つの直線と、円形状ホログラム回折格子９
６の円周の一部に一致する曲線により包囲されている。
ｂはホログラム９６の中心を通り分割線９８に垂直な基
準線に対して対称に配置されている。領域９６ａ，９６
ｂの各々は分割線９８に平行な２つの直線と、分割線９
８に垂直な１つの直線と、円形状ホログラム回折格子９
６の円周の一部に一致する曲線により包囲されている。
【００７０】図１７に示されたホログラム回折格子１０
４は、ＦＥＳビーム検出用の領域１０４ａ，１０４ｂ
と、ＴＥＳビーム検出用の領域１０４ｃ，１０４ｄとに
分割されている。領域１０４ｃと１０４ｄはホログラム
１０４の中心を通り光ディスクの情報記録方向に平行な
分割線１０６により分割されている。
４は、ＦＥＳビーム検出用の領域１０４ａ，１０４ｂ
と、ＴＥＳビーム検出用の領域１０４ｃ，１０４ｄとに
分割されている。領域１０４ｃと１０４ｄはホログラム
１０４の中心を通り光ディスクの情報記録方向に平行な
分割線１０６により分割されている。
【００７１】図１３、図１５及び図１７に示されたホロ
グラム回折格子９０，９６，１０４において、ＦＥＳビ
ーム検出用の領域とＴＥＳビーム検出用の領域の比は上
述したように１：５．４で一定である。
グラム回折格子９０，９６，１０４において、ＦＥＳビ
ーム検出用の領域とＴＥＳビーム検出用の領域の比は上
述したように１：５．４で一定である。
【００７２】従って、図１０に示した光検知器ユニット
７０の各光検知器７６，７８，８０，８２に入射する光
量はいずれのホログラム回折格子９０，９６，１０４を
採用した場合でも一定である。
７０の各光検知器７６，７８，８０，８２に入射する光
量はいずれのホログラム回折格子９０，９６，１０４を
採用した場合でも一定である。
【００７３】図１４（Ａ）は図１３のホログラムを使用
したときのＴＥＳビームのビームスポット９２を示して
おり、図１４（Ｂ）はＦＥＳビームのビームスポット９
４を示している。
したときのＴＥＳビームのビームスポット９２を示して
おり、図１４（Ｂ）はＦＥＳビームのビームスポット９
４を示している。
【００７４】同様に、図１６（Ａ）は図１５のホログラ
ムを使用したときのＴＥＳビームのビームスポット１０
０を示しており、図１６（Ｂ）はＦＥＳビームのビーム
スポット１０２を示している。ビームスポット１００と
１０２は大きさは異なるがその形状は類似している。
ムを使用したときのＴＥＳビームのビームスポット１０
０を示しており、図１６（Ｂ）はＦＥＳビームのビーム
スポット１０２を示している。ビームスポット１００と
１０２は大きさは異なるがその形状は類似している。
【００７５】同様に、図１８（Ａ）は図１７のホログラ
ムを使用したときのＴＥＳビームのビームスポット１０
８を示しており、図１８（Ｂ）はＦＥＳビームのビーム
スポット１１０を示している。
ムを使用したときのＴＥＳビームのビームスポット１０
８を示しており、図１８（Ｂ）はＦＥＳビームのビーム
スポット１１０を示している。
【００７６】対物レンズ６０と光ディスク６２との間の
変動距離ΔＬと、ＦＥＳビーム検知用の光検知器上のビ
ームスポット中心の移動する距離ΔＭの関係式を以下の
式（３）に示す。
変動距離ΔＬと、ＦＥＳビーム検知用の光検知器上のビ
ームスポット中心の移動する距離ΔＭの関係式を以下の
式（３）に示す。
【００７７】 ΔＭ≒±｜ΔＬ｜・Ｌ1 ／（Ｌ2 ＋Ｌ3 ＋Ｌ4 ）…（３） ただし、Ｌ1 は６０，６２間の距離、Ｌ2 は５４，５６
間距離、Ｌ3 は５４の厚み、Ｌ4 は５４，７０間距離で
ある。
間距離、Ｌ3 は５４の厚み、Ｌ4 は５４，７０間距離で
ある。
【００７８】図１２に示した各寸法と式（３）より、Δ
Ｌが±９．０μｍ変動すると、ビームスポット中心の移
動する量ΔＭは±３．８６μｍとなる。本実施形態で
は、ビームスポットが移動する方向と直交するように光
検知器７６，７８の分割線８４，８６を設けている。ビ
ームスポットの移動する方向のビームスポットの長さを
ＢＬとすると、図６〜図８に示したダイナミックレンジ
４８の長さＤＬは以下の式（４）により求められる。
Ｌが±９．０μｍ変動すると、ビームスポット中心の移
動する量ΔＭは±３．８６μｍとなる。本実施形態で
は、ビームスポットが移動する方向と直交するように光
検知器７６，７８の分割線８４，８６を設けている。ビ
ームスポットの移動する方向のビームスポットの長さを
ＢＬとすると、図６〜図８に示したダイナミックレンジ
４８の長さＤＬは以下の式（４）により求められる。
【００７９】 ＤＬ＝±｜ΔＬ｜・ＢＬ／２｜ΔＭ｜…（４） 式（４）を使用して、図１３、図１５及び図１７に示し
たホログラム回折格子９０，９６及び１０４のダイナミ
ックレンジを計算すると、各々のダイナミックレンジ
は、±６．２μｍ，±１０．９μｍ，±１４．５μｍと
なる。
たホログラム回折格子９０，９６及び１０４のダイナミ
ックレンジを計算すると、各々のダイナミックレンジ
は、±６．２μｍ，±１０．９μｍ，±１４．５μｍと
なる。
【００８０】図７に示したように、ダイナミックレンジ
４６が光ディスク上に記録された情報を読み取ることの
できる対物レンズ６０と光ディスク６２との間の距離変
動ΔＬに概略等しいときが最も望ましいので、上述した
各値とΔＬ＝±９．０μｍとの対比から、図１５に示し
たホログラム回折格子９６を使用したときに最適なフォ
ーカシング誤差検出を行えることがわかる。
４６が光ディスク上に記録された情報を読み取ることの
できる対物レンズ６０と光ディスク６２との間の距離変
動ΔＬに概略等しいときが最も望ましいので、上述した
各値とΔＬ＝±９．０μｍとの対比から、図１５に示し
たホログラム回折格子９６を使用したときに最適なフォ
ーカシング誤差検出を行えることがわかる。
【００８１】この場合には、図１６（Ａ）及び図１６
（Ｂ）に示すように、ＴＥＳビームのビームスポット１
００とＦＥＳビームのビームスポット１０２が概略同一
形状となる。
（Ｂ）に示すように、ＴＥＳビームのビームスポット１
００とＦＥＳビームのビームスポット１０２が概略同一
形状となる。
【００８２】図１９を参照すると、本発明第３実施形態
のホログラム回折格子と光検知器ユニットの斜視図が示
されている。本実施形態は、フォーカシング誤差検出に
関しては上述した第１及び第２実施形態と同様である。
しかし本実施形態では、トラッキング誤差検出にヘテロ
ダイン法を用いている。
のホログラム回折格子と光検知器ユニットの斜視図が示
されている。本実施形態は、フォーカシング誤差検出に
関しては上述した第１及び第２実施形態と同様である。
しかし本実施形態では、トラッキング誤差検出にヘテロ
ダイン法を用いている。
【００８３】光磁気ディスク装置では、ＣＤ−ＲＯＭを
読み取る装置と比べて高密度化のために波長の短い半導
体レーザを使用している。従って、光磁気ディスクを読
み書きする装置でＣＤ−ＲＯＭを読むことを兼用させる
場合は、短波長のレーザビームを使用しなくてはならな
い。
読み取る装置と比べて高密度化のために波長の短い半導
体レーザを使用している。従って、光磁気ディスクを読
み書きする装置でＣＤ−ＲＯＭを読むことを兼用させる
場合は、短波長のレーザビームを使用しなくてはならな
い。
【００８４】しかし、ＣＤ−ＲＯＭの案内溝に光磁気デ
ィスク用のレーザビームを照射した場合は、プッシュプ
ル法を行えるだけのトラッキング誤差信号が返ってこな
い。よってこの場合にはヘテロダイン法を用いる必要が
ある。
ィスク用のレーザビームを照射した場合は、プッシュプ
ル法を行えるだけのトラッキング誤差信号が返ってこな
い。よってこの場合にはヘテロダイン法を用いる必要が
ある。
【００８５】ホログラム回折格子１１２は６つの領域１
１２ａ〜１１２ｆに分割されている。領域１１２ａ及び
１１２ｂはＦＥＳビーム回折用の領域であり、領域１１
２ｃ〜１１２ｆはＴＥＳビーム回折用の領域である。
１２ａ〜１１２ｆに分割されている。領域１１２ａ及び
１１２ｂはＦＥＳビーム回折用の領域であり、領域１１
２ｃ〜１１２ｆはＴＥＳビーム回折用の領域である。
【００８６】光検知器ユニット１１８は図１０に示した
第１実施形態と同様なＦＥＳビーム検知用の光検知器７
６，７８を含んでおり、フォーカシング誤差検出に関し
ては図１０に示した第１実施形態と同様であるのでその
説明を省略する。
第１実施形態と同様なＦＥＳビーム検知用の光検知器７
６，７８を含んでおり、フォーカシング誤差検出に関し
ては図１０に示した第１実施形態と同様であるのでその
説明を省略する。
【００８７】光検知器ユニット１１８はＴＥＳビーム検
知用の４つの光検知器１２０，１２２，１２４及び１２
６を含んでいる。ホログラム回折格子１１２の領域１１
２ｃ〜１１２ｆで回折されたビームは光検知器１２０，
１２２，１２４，１２６上にそれぞれ入射する。
知用の４つの光検知器１２０，１２２，１２４及び１２
６を含んでいる。ホログラム回折格子１１２の領域１１
２ｃ〜１１２ｆで回折されたビームは光検知器１２０，
１２２，１２４，１２６上にそれぞれ入射する。
【００８８】ホログラム回折格子１１２の４つの領域１
１２ｃ〜１１２ｆはホログラム回折格子１１２の中心を
通り光ディスクの情報記録方向に平行な第１の分割線１
１４と、第１分割線１１４に垂直でホログラム回折格子
１１２の中心を通る第２の分割線１１６により分割され
ている。
１２ｃ〜１１２ｆはホログラム回折格子１１２の中心を
通り光ディスクの情報記録方向に平行な第１の分割線１
１４と、第１分割線１１４に垂直でホログラム回折格子
１１２の中心を通る第２の分割線１１６により分割され
ている。
【００８９】光ディスク上のビームの集束位置と光ディ
スクのトラックとのずれＴＥＳは、光検知器１２０，１
２２，１２４，１２６の出力をそれぞれｆ１２０，ｆ１
２２，ｆ１２４，ｆ１２６とすると、 ＴＥＳ＝ｆ１２０＋ｆ１２６−（ｆ１２２＋ｆ１２４） で表すことができる。
スクのトラックとのずれＴＥＳは、光検知器１２０，１
２２，１２４，１２６の出力をそれぞれｆ１２０，ｆ１
２２，ｆ１２４，ｆ１２６とすると、 ＴＥＳ＝ｆ１２０＋ｆ１２６−（ｆ１２２＋ｆ１２４） で表すことができる。
【００９０】図２０を参照すると、本発明第４実施形態
のホログラム回折格子が示されている。本実施形態は、
図１９に示した第３実施形態と同様に、光検知器ユニッ
ト１１８と組み合わせて使用される。
のホログラム回折格子が示されている。本実施形態は、
図１９に示した第３実施形態と同様に、光検知器ユニッ
ト１１８と組み合わせて使用される。
【００９１】ホログラム回折格子１３０は６つの領域１
３０ａ〜１３０ｆに分割されている。領域１３０ａ及び
１３０ｂはＦＥＳビーム回折用の領域であり、領域１３
０ｃから１３０ｆはＴＥＳビーム回折用の領域である。
３０ａ〜１３０ｆに分割されている。領域１３０ａ及び
１３０ｂはＦＥＳビーム回折用の領域であり、領域１３
０ｃから１３０ｆはＴＥＳビーム回折用の領域である。
【００９２】ホログラム回折格子１３０の４つの領域１
３０ｃ〜１３０ｆはホログラム回折格子１３０の中心を
通り光ディスクの情報記録方向に平行な第１の分割線１
３２と、第１分割線１３２に垂直でホログラム回折格子
１３０の中心を通る第２の分割線１３４により分割され
ている。
３０ｃ〜１３０ｆはホログラム回折格子１３０の中心を
通り光ディスクの情報記録方向に平行な第１の分割線１
３２と、第１分割線１３２に垂直でホログラム回折格子
１３０の中心を通る第２の分割線１３４により分割され
ている。
【００９３】本実施形態は、フォーカシング誤差検出に
関しては上述した第１及び第２実施形態と同様である。
しかし、トラッキング誤差検出に関しては図１９に示し
た第３実施形態と同様にヘテロダイン法を用いる。
関しては上述した第１及び第２実施形態と同様である。
しかし、トラッキング誤差検出に関しては図１９に示し
た第３実施形態と同様にヘテロダイン法を用いる。
【００９４】上述した第１乃至第４実施形態では、各ホ
ログラムの外径は、光ディスク６２で反射された反射ビ
ームがホログラム面に入射したときのビーム断面形状に
等しいようにホログラムの大きさが設定されている。よ
って、以下に説明するトラッキング誤差信号のオフセッ
トの問題が発生する恐れがある。
ログラムの外径は、光ディスク６２で反射された反射ビ
ームがホログラム面に入射したときのビーム断面形状に
等しいようにホログラムの大きさが設定されている。よ
って、以下に説明するトラッキング誤差信号のオフセッ
トの問題が発生する恐れがある。
【００９５】図２１を参照すると、本発明第２実施形態
のホログラムとホログラム上での反射ビーム断面形状と
の関係が示されている。光学系の組立誤差がない場合、
円形ホログラム９６の外径と反射ビーム断面形状６７と
は概略一致している。
のホログラムとホログラム上での反射ビーム断面形状と
の関係が示されている。光学系の組立誤差がない場合、
円形ホログラム９６の外径と反射ビーム断面形状６７と
は概略一致している。
【００９６】図２２（Ａ）はホログラム９６の取付誤差
により、ホログラム９６の中心がビーム断面６７の中心
より＋Ｙ方向にずれた場合の、ホログラム９６とビーム
断面６７との位置関係を示している。図２２（Ｂ）は、
ホログラム９６の中心がビーム断面６７の中心より−Ｙ
方向にずれた場合の、ホログラム９６とビーム断面６７
との関係を示している。
により、ホログラム９６の中心がビーム断面６７の中心
より＋Ｙ方向にずれた場合の、ホログラム９６とビーム
断面６７との位置関係を示している。図２２（Ｂ）は、
ホログラム９６の中心がビーム断面６７の中心より−Ｙ
方向にずれた場合の、ホログラム９６とビーム断面６７
との関係を示している。
【００９７】ここで、図１０に示した光検知器８０の出
力をＰ１、光検知器８２の出力をＰ２とすると、トラッ
キング誤差信号（ＴＥＳ）は、 ＴＥＳ＝Ｐ１−Ｐ２ で表される。ホログラム９６の取付位置誤差がない図２
１の場合、対物レンズ６０により光ディスク６２上に集
光されるビームスポットがトラックの真上に形成されて
いるときには、ＴＥＳ≒０となる。
力をＰ１、光検知器８２の出力をＰ２とすると、トラッ
キング誤差信号（ＴＥＳ）は、 ＴＥＳ＝Ｐ１−Ｐ２ で表される。ホログラム９６の取付位置誤差がない図２
１の場合、対物レンズ６０により光ディスク６２上に集
光されるビームスポットがトラックの真上に形成されて
いるときには、ＴＥＳ≒０となる。
【００９８】従って図２２（Ａ）の場合、ＴＥＳ１の領
域はけられによって光量が減少しているので、光ディス
クのトラックの真上にレーザビームが集光されていると
きにＴＥＳ≒０とはならない。そして、ホログラム取付
誤差のない図２１の場合のＴＥＳの値がＴＥＳ＞０とな
る状態のときにＴＥＳ≒０となる。
域はけられによって光量が減少しているので、光ディス
クのトラックの真上にレーザビームが集光されていると
きにＴＥＳ≒０とはならない。そして、ホログラム取付
誤差のない図２１の場合のＴＥＳの値がＴＥＳ＞０とな
る状態のときにＴＥＳ≒０となる。
【００９９】その結果、ビームスポットが光ディスクの
トラックの真上からずれた状態のときに制御回路がオン
トラック状態と誤認してしまう。このような状態をトラ
ッキング信号にオフセットが乗るという。同様な現象が
図２２（Ｂ）の場合にも発生する。
トラックの真上からずれた状態のときに制御回路がオン
トラック状態と誤認してしまう。このような状態をトラ
ッキング信号にオフセットが乗るという。同様な現象が
図２２（Ｂ）の場合にも発生する。
【０１００】図２３（Ａ）はホログラム９６の中心がビ
ーム断面６７の中心より＋Ｘ方向にずれた場合、図２３
（Ｂ）はホログラム９６の中心がビーム断面６７の中心
より−Ｘ方向にずれた場合をそれぞれ示している。これ
らの場合は、ＴＥＳ１，ＴＥＳ２領域に等しくけられが
生じているため、トラッキング信号にオフセットが乗ら
ない。
ーム断面６７の中心より＋Ｘ方向にずれた場合、図２３
（Ｂ）はホログラム９６の中心がビーム断面６７の中心
より−Ｘ方向にずれた場合をそれぞれ示している。これ
らの場合は、ＴＥＳ１，ＴＥＳ２領域に等しくけられが
生じているため、トラッキング信号にオフセットが乗ら
ない。
【０１０１】フォーカシングを行うための領域ＦＥＳ
１，ＦＥＳ２に入射する光量に差が生じるようにけられ
が生じているが、フォーカシングを検出するダブルナイ
フエッジ法では、回折されたビームの光量ではなく、ビ
ーム形状で誤差検出を行っているので、ＦＥＳ１，ＦＥ
Ｓ２に入射する光量に差が生じてもあまり大きな影響は
ない。
１，ＦＥＳ２に入射する光量に差が生じるようにけられ
が生じているが、フォーカシングを検出するダブルナイ
フエッジ法では、回折されたビームの光量ではなく、ビ
ーム形状で誤差検出を行っているので、ＦＥＳ１，ＦＥ
Ｓ２に入射する光量に差が生じてもあまり大きな影響は
ない。
【０１０２】以上から明らかなように、ホログラムの中
心がＹ軸方向に取付誤差をもって光学系に取り付けられ
た場合、トラッキング信号にオフセットが乗り望ましく
ない。ヘテロダイン法では、このようなトラッキング信
号のオフセットは発生しないが、この方法は光磁気ディ
スクのトラッキングには採用できない。
心がＹ軸方向に取付誤差をもって光学系に取り付けられ
た場合、トラッキング信号にオフセットが乗り望ましく
ない。ヘテロダイン法では、このようなトラッキング信
号のオフセットは発生しないが、この方法は光磁気ディ
スクのトラッキングには採用できない。
【０１０３】従って、ホログラムを光学系に取り付ける
場合に例え取付位置誤差が発生しても、トラッキング信
号にオフセットが乗らない光ディスク装置用誤差検出光
学装置が必要である。
場合に例え取付位置誤差が発生しても、トラッキング信
号にオフセットが乗らない光ディスク装置用誤差検出光
学装置が必要である。
【０１０４】図２４を参照すると、トラッキング信号に
オフセットが乗らない本発明第５実施形態のホログラム
回折格子が示されている。図２４において、符号６７は
反射ビームがホログラム面に入射したときのビーム断面
形状を示している。
オフセットが乗らない本発明第５実施形態のホログラム
回折格子が示されている。図２４において、符号６７は
反射ビームがホログラム面に入射したときのビーム断面
形状を示している。
【０１０５】ホログラム回折格子１３６はＦＥＳビーム
を検出する領域１３６ａ，１３６ｂとＴＥＳビームを検
出する領域１３６ｃ，１３６ｄを含んでいる。ＦＥＳビ
ーム検出領域１３６ａ，１３３ｂは図１５に示した第２
実施形態の領域９６ａ，９６ｂとその形状及び大きさが
同一である。
を検出する領域１３６ａ，１３６ｂとＴＥＳビームを検
出する領域１３６ｃ，１３６ｄを含んでいる。ＦＥＳビ
ーム検出領域１３６ａ，１３３ｂは図１５に示した第２
実施形態の領域９６ａ，９６ｂとその形状及び大きさが
同一である。
【０１０６】ＴＥＳビームを検出する領域１３６ｃ，１
３６ｄはホログラム１３６の中心を通り光ディスクの情
報記録方向と平行に伸長する分割線１３８により分割さ
れている。領域１３６ｃ，１３６ｄの外周はビーム断面
６７の半径よりもｍ小さい半径を有する円によって画成
されている。
３６ｄはホログラム１３６の中心を通り光ディスクの情
報記録方向と平行に伸長する分割線１３８により分割さ
れている。領域１３６ｃ，１３６ｄの外周はビーム断面
６７の半径よりもｍ小さい半径を有する円によって画成
されている。
【０１０７】上述したように、トラッキング信号にオフ
セットが乗る場合は、Ｙ軸方向に誤差をもってホログラ
ム１３６が光学系に取り付けられた場合である。よっ
て、図２５（Ａ）及び図２５（Ｂ）に、ホログラム１３
６の中心が＋Ｙ軸方向及び−Ｙ軸方向に誤差をもって取
り付けられたときのビーム断面６７とホログラム１３６
との関係をそれぞれ示す。
セットが乗る場合は、Ｙ軸方向に誤差をもってホログラ
ム１３６が光学系に取り付けられた場合である。よっ
て、図２５（Ａ）及び図２５（Ｂ）に、ホログラム１３
６の中心が＋Ｙ軸方向及び−Ｙ軸方向に誤差をもって取
り付けられたときのビーム断面６７とホログラム１３６
との関係をそれぞれ示す。
【０１０８】図２５（Ａ）及び図２５（Ｂ）から、ホロ
グラム１３６がＹ軸方向に±ｍの誤差を持って光学系に
取り付けられたとしても、けられを発生しないことがわ
かる。
グラム１３６がＹ軸方向に±ｍの誤差を持って光学系に
取り付けられたとしても、けられを発生しないことがわ
かる。
【０１０９】けられを発生しない場合には、トラッキン
グ信号にオフセットが乗ることはない。従って、取付位
置誤差ｍがあったとしても、トラッキング信号にオフセ
ットが乗らない。このｍの値をオフセットマージンと称
する。
グ信号にオフセットが乗ることはない。従って、取付位
置誤差ｍがあったとしても、トラッキング信号にオフセ
ットが乗らない。このｍの値をオフセットマージンと称
する。
【０１１０】図２６は本発明第６実施形態のホログラム
１４０と反射ビーム断面６７との関係を示している。ホ
ログラム１４０は図１５に示した第２実施形態のホログ
ラムと類似しており、第２実施形態の円形ホログラム９
６の半径よりもｍ小さい半径を有する円によりその外周
が画成されている。
１４０と反射ビーム断面６７との関係を示している。ホ
ログラム１４０は図１５に示した第２実施形態のホログ
ラムと類似しており、第２実施形態の円形ホログラム９
６の半径よりもｍ小さい半径を有する円によりその外周
が画成されている。
【０１１１】円形ホログラム１４０はＦＥＳビームを検
出する領域１４０ａ，１４０ｂと、ＦＥＳビームを検出
する領域１４０ｃ，１４０ｄを含んでいる。領域１４０
ｃ，１４０ｄはホログラム１４０の中心を通り、光ディ
スクの情報記録方向と平行に伸長する分割線１４２によ
り分割されている。
出する領域１４０ａ，１４０ｂと、ＦＥＳビームを検出
する領域１４０ｃ，１４０ｄを含んでいる。領域１４０
ｃ，１４０ｄはホログラム１４０の中心を通り、光ディ
スクの情報記録方向と平行に伸長する分割線１４２によ
り分割されている。
【０１１２】図２７は本発明第７実施形態のホログラム
１４４と反射ビームがホログラムに入射したときのビー
ム断面形状６７との関係を示している。ホログラム１４
４はＦＥＳ領域１４４ａ，１４４ｂと、ＴＥＳ領域１４
４ｃ，１４４ｄを含んでいる。
１４４と反射ビームがホログラムに入射したときのビー
ム断面形状６７との関係を示している。ホログラム１４
４はＦＥＳ領域１４４ａ，１４４ｂと、ＴＥＳ領域１４
４ｃ，１４４ｄを含んでいる。
【０１１３】ＦＥＳ領域１４４ａ，１４４ｂは図１５に
示した第２実施形態のＦＥＳ領域９６ａ，９６ｂとその
形状及び大きさが同一である。ＴＥＳ領域１４４ｃ，１
４４ｄはホログラム１４４の中心を通り、光ディスクの
情報記録方向と平行に伸長する分割線１４６により分割
されている。
示した第２実施形態のＦＥＳ領域９６ａ，９６ｂとその
形状及び大きさが同一である。ＴＥＳ領域１４４ｃ，１
４４ｄはホログラム１４４の中心を通り、光ディスクの
情報記録方向と平行に伸長する分割線１４６により分割
されている。
【０１１４】ＴＥＳ領域１４４ｃの外周は、図１５に示
した円形ホログラム９６のＴＥＳ領域９６ｃの外周を画
成する半円を−Ｙ軸方向にｍだけ平行移動して形成され
る円弧１４８により画成されている。
した円形ホログラム９６のＴＥＳ領域９６ｃの外周を画
成する半円を−Ｙ軸方向にｍだけ平行移動して形成され
る円弧１４８により画成されている。
【０１１５】同様に、ＴＥＳ領域１４４ｄを画成する外
周は、円形ホログラム９６のＴＥＳ領域９６ｄを画成す
る半円を＋Ｙ軸方向にｍだけ平行移動して形成される円
弧１５０により画成されている。
周は、円形ホログラム９６のＴＥＳ領域９６ｄを画成す
る半円を＋Ｙ軸方向にｍだけ平行移動して形成される円
弧１５０により画成されている。
【０１１６】このようなホログラム１４４を使用する
と、図２８（Ａ）に示すようにホログラム１４４の中心
が＋Ｙ軸方向に最大ｍだけずれて取り付けられてもけら
れが生じず、トラッキング信号にオフセットが乗ること
はない。同様に、図２８（Ｂ）に示すように−Ｙ軸方向
に最大ｍだけずれて取り付けられてもけられが生じず、
トラッキング信号にオフセットが乗ることはない。
と、図２８（Ａ）に示すようにホログラム１４４の中心
が＋Ｙ軸方向に最大ｍだけずれて取り付けられてもけら
れが生じず、トラッキング信号にオフセットが乗ること
はない。同様に、図２８（Ｂ）に示すように−Ｙ軸方向
に最大ｍだけずれて取り付けられてもけられが生じず、
トラッキング信号にオフセットが乗ることはない。
【０１１７】図２９は第５実施形態のホログラムと第７
実施形態のホログラムを重ね合わせた状態を示したもの
である。第５実施形態のホログラム１３６のＴＥＳ１領
域の外周を１３７、ＴＥＳ２領域の外周を１３９とし、
第７実施形態のホログラム１４４のＴＥＳ１領域の外周
を１４８、ＴＥＳ２領域の外周を１５０とする。
実施形態のホログラムを重ね合わせた状態を示したもの
である。第５実施形態のホログラム１３６のＴＥＳ１領
域の外周を１３７、ＴＥＳ２領域の外周を１３９とし、
第７実施形態のホログラム１４４のＴＥＳ１領域の外周
を１４８、ＴＥＳ２領域の外周を１５０とする。
【０１１８】外周１３７と外周１４８にはされまた領域
をＡ，Ｂ、外周１３９と外周１５０にはさまれた領域を
Ｃ，Ｄとする。図２９から、同じオフセットマージンｍ
で、第５実施形態のホログラム１３６に比べて第７実施
形態のホログラム１４４はＴＥＳ１領域でＡ＋Ｂの光量
を、ＴＥＳ２領域でＣ＋Ｄの光量を増加させることがで
きることが理解される。
をＡ，Ｂ、外周１３９と外周１５０にはさまれた領域を
Ｃ，Ｄとする。図２９から、同じオフセットマージンｍ
で、第５実施形態のホログラム１３６に比べて第７実施
形態のホログラム１４４はＴＥＳ１領域でＡ＋Ｂの光量
を、ＴＥＳ２領域でＣ＋Ｄの光量を増加させることがで
きることが理解される。
【０１１９】上述した第５乃至第７実施形態のホログラ
ムでは次のような問題が発生する。即ち、半導体レーザ
発生器５０から出射されたレーザビームがホログラムを
透過するときに、ホログラムの領域を透過したビームは
ホログラムの影響を受け、０次光量が低下するが、ホロ
グラムが存在しない領域を透過したビームでは０次光量
が低下しない。その結果、０次光量分布にばらつきが発
生する。
ムでは次のような問題が発生する。即ち、半導体レーザ
発生器５０から出射されたレーザビームがホログラムを
透過するときに、ホログラムの領域を透過したビームは
ホログラムの影響を受け、０次光量が低下するが、ホロ
グラムが存在しない領域を透過したビームでは０次光量
が低下しない。その結果、０次光量分布にばらつきが発
生する。
【０１２０】この問題を防止するためには、図３０
（Ａ）及び図３０（Ｂ）に示すように、ホログラム１３
６及び１４４の回りにダミーホログラム１５２，１５４
をそれぞれ配置する。
（Ａ）及び図３０（Ｂ）に示すように、ホログラム１３
６及び１４４の回りにダミーホログラム１５２，１５４
をそれぞれ配置する。
【０１２１】ダミーホログラム１５２，１５４は、それ
ぞれホログラム１３６，１４４の回折格子の空間周波数
と同等の空間周波数を持ち、全く異なる方向に光を回折
するものである。これによって、レーザビームの０次光
量の分布のばらつきを抑えることができる。
ぞれホログラム１３６，１４４の回折格子の空間周波数
と同等の空間周波数を持ち、全く異なる方向に光を回折
するものである。これによって、レーザビームの０次光
量の分布のばらつきを抑えることができる。
【０１２２】図３１を参照すると、本発明第５実施形態
のホログラム１３６の寸法の一例が反射ビームのホログ
ラム上でのビーム断面６７と関連して示されている。図
３２を参照すると、本発明第７実施形態のホログラム１
４４の寸法の一例が示されている。ＴＥＳ領域１４４ｃ
の外周１４８はホログラム１４４の中心１５６からｍだ
け−Ｙ軸方向にオフセットした点１５８を中心とする円
弧上にある。同様に、ＴＥＳ領域１４４ｄの外周１５０
はホログラム１４４の中心１５６から＋Ｙ軸方向にｍだ
けオフセットした点１６０を中心とする円弧上にある。
のホログラム１３６の寸法の一例が反射ビームのホログ
ラム上でのビーム断面６７と関連して示されている。図
３２を参照すると、本発明第７実施形態のホログラム１
４４の寸法の一例が示されている。ＴＥＳ領域１４４ｃ
の外周１４８はホログラム１４４の中心１５６からｍだ
け−Ｙ軸方向にオフセットした点１５８を中心とする円
弧上にある。同様に、ＴＥＳ領域１４４ｄの外周１５０
はホログラム１４４の中心１５６から＋Ｙ軸方向にｍだ
けオフセットした点１６０を中心とする円弧上にある。
【０１２３】図３３を参照すると、本発明第８実施形態
のホログラム１６２が示されている。本実施形態のホロ
グラム１６２は図２０に示した第４実施形態と同様に、
トラッキング誤差検出にヘテロダイン法を用いるもので
ある。
のホログラム１６２が示されている。本実施形態のホロ
グラム１６２は図２０に示した第４実施形態と同様に、
トラッキング誤差検出にヘテロダイン法を用いるもので
ある。
【０１２４】ホログラム回折格子１６２は６つの領域１
６２ａ〜１６２ｆに分割されている。領域１６２ａ及び
１６２ｂはＦＥＳビーム回折用の領域であり、領域１６
２ｃ〜１６２ｆはＴＥＳビーム回折用の領域である。
６２ａ〜１６２ｆに分割されている。領域１６２ａ及び
１６２ｂはＦＥＳビーム回折用の領域であり、領域１６
２ｃ〜１６２ｆはＴＥＳビーム回折用の領域である。
【０１２５】ＦＥＳ領域１６２ａ及び１６２ｂは、図２
０に示した第４実施形態のホログラム１３０のＦＥＳ領
域１３０ａ及び１３０ｂとその大きさ及び形状が同一で
ある。
０に示した第４実施形態のホログラム１３０のＦＥＳ領
域１３０ａ及び１３０ｂとその大きさ及び形状が同一で
ある。
【０１２６】ＴＥＳ領域１６２ｃ〜１６２ｆは、ホログ
ラム回折格子１６２の中心を通り光ディスクの情報記録
方向に平行な第１の分割線１６４と、第１分割線１６４
に垂直でホログラム回折格子１６２の中心を通る第２の
分割線１６６により分割されている。
ラム回折格子１６２の中心を通り光ディスクの情報記録
方向に平行な第１の分割線１６４と、第１分割線１６４
に垂直でホログラム回折格子１６２の中心を通る第２の
分割線１６６により分割されている。
【０１２７】ＴＥＳ領域１６２ｃ，１６２ｅの外周は、
図２０に示した円形ホログラム１３０の中心を−Ｙ軸方
向にｍだけオフセットした点を中心とする円弧１６８に
より画成されている。
図２０に示した円形ホログラム１３０の中心を−Ｙ軸方
向にｍだけオフセットした点を中心とする円弧１６８に
より画成されている。
【０１２８】同様に、ＴＥＳ領域１６２ｄ，１６２ｆの
外周は、円形ホログラム１３０の中心を＋Ｙ軸方向にｍ
だけオフセットした点を中心とする円弧１７０により画
成されている。
外周は、円形ホログラム１３０の中心を＋Ｙ軸方向にｍ
だけオフセットした点を中心とする円弧１７０により画
成されている。
【０１２９】本実施形態のホログラム１６２を使用する
と、トラッキング誤差検出にヘテロダイン法を用いる場
合に、トラッキング信号にオフセットが乗ることが防止
される。
と、トラッキング誤差検出にヘテロダイン法を用いる場
合に、トラッキング信号にオフセットが乗ることが防止
される。
【０１３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
回折格子を用いてフォーカシング誤差検知用の光検知器
に集光されるビームスポットの形状を制御することによ
り該光検知器に入射する光量を増大させることができる
ため、精度のよいフォーカシング誤差検出を行うことの
できる光ディスク装置用誤差検出光学装置を提供するこ
とができる。
回折格子を用いてフォーカシング誤差検知用の光検知器
に集光されるビームスポットの形状を制御することによ
り該光検知器に入射する光量を増大させることができる
ため、精度のよいフォーカシング誤差検出を行うことの
できる光ディスク装置用誤差検出光学装置を提供するこ
とができる。
【０１３１】本発明の望ましい実施態様によれば、ホロ
グラムを光学系に取り付けた場合に取付位置誤差が存在
しても、トラッキング信号にオフセットが乗ることのな
い光ディスク装置用誤差検出光学装置を提供できる。
グラムを光学系に取り付けた場合に取付位置誤差が存在
しても、トラッキング信号にオフセットが乗ることのな
い光ディスク装置用誤差検出光学装置を提供できる。
【図１】従来の光ピックアップの全体構成を示す図であ
る。
る。
【図２】光検知器上のビームスポットの変化を示す図で
ある。
ある。
【図３】レンズとビームスポットとの関係を示す図であ
る。
る。
【図４】長方形回折格子とビームスポットとの関係を示
す図である。
す図である。
【図５】Ｄ１を変化させたときのビームスポット形状を
示す図である。
示す図である。
【図６】Ｄ１が大きいときの対物レンズと光ディスク間
の距離Ｌと光検知器の出力Ｖとの関係を示す図である。
の距離Ｌと光検知器の出力Ｖとの関係を示す図である。
【図７】Ｄ１が中間のときのＬとＶとの関係を示す図で
ある。
ある。
【図８】Ｄ１が小さいときのＬとＶとの関係を示す図で
ある。
ある。
【図９】本発明の誤差検出装置を含んだ光ピックアップ
の全体構成図である。
の全体構成図である。
【図１０】本発明の第１実施形態斜視図である。
【図１１】光ディスクに対するレーザビームのフォーカ
シングが変化したときの光検知器上のビームスポットの
変化を示す図である。
シングが変化したときの光検知器上のビームスポットの
変化を示す図である。
【図１２】図９に示した光ピックアップの寸法関係の一
例を示す図である。
例を示す図である。
【図１３】ホログラムの干渉縞分布を示す図である。
【図１４】図１４（Ａ）は図１３のホログラムを使用し
たときのＴＥＳビームのビームスポットを示す図であ
り、図１４（Ｂ）はＦＥＳビームのビームスポットを示
す図である。
たときのＴＥＳビームのビームスポットを示す図であ
り、図１４（Ｂ）はＦＥＳビームのビームスポットを示
す図である。
【図１５】本発明第２実施形態のホログラムの干渉縞分
布を示す図である。
布を示す図である。
【図１６】図１６（Ａ）は図１５のホログラムを使用し
たときのＴＥＳビームのビームスポットを示す図であ
り、図１６（Ｂ）はＦＥＳビームのビームスポットを示
す図である。
たときのＴＥＳビームのビームスポットを示す図であ
り、図１６（Ｂ）はＦＥＳビームのビームスポットを示
す図である。
【図１７】ホログラムの干渉縞分布を示す図である。
【図１８】図１８（Ａ）は図１７のホログラムを使用し
たときのＴＥＳビームのビームスポットを示す図であ
り、図１８（Ｂ）はＦＥＳビームのビームスポットを示
す図である。
たときのＴＥＳビームのビームスポットを示す図であ
り、図１８（Ｂ）はＦＥＳビームのビームスポットを示
す図である。
【図１９】本発明第３実施形態斜視図である。
【図２０】本発明第４実施形態のホログラムの干渉縞分
布を示す図である。
布を示す図である。
【図２１】第２実施形態のホログラムと反射ビーム断面
形状との関係を示す図である。
形状との関係を示す図である。
【図２２】図２２（Ａ）はホログラムの中心が反射ビー
ムの中心から＋Ｙ軸方向にずれた場合を示す図、図２２
（Ｂ）はホログラムの中心が反射ビームの中心から−Ｙ
軸方向にずれた場合を示す図である。
ムの中心から＋Ｙ軸方向にずれた場合を示す図、図２２
（Ｂ）はホログラムの中心が反射ビームの中心から−Ｙ
軸方向にずれた場合を示す図である。
【図２３】図２３（Ａ）はホログラムの中心が反射ビー
ムの中心から＋Ｘ軸方向にずれた場合を示す図、図２３
（Ｂ）はホログラムの中心が反射ビームの中心から−Ｘ
軸方向にずれた場合を示す図である。
ムの中心から＋Ｘ軸方向にずれた場合を示す図、図２３
（Ｂ）はホログラムの中心が反射ビームの中心から−Ｘ
軸方向にずれた場合を示す図である。
【図２４】本発明第５実施形態のホログラムをビーム断
面形状と関連させて示した図である。
面形状と関連させて示した図である。
【図２５】図２５（Ａ）はホログラムの中心が反射ビー
ムの中心から＋Ｙ軸方向にずれた場合を示す図であり、
図２５（Ｂ）はホログラムの中心が反射ビームの中心か
ら−Ｙ軸方向にずれた場合を示す図である。
ムの中心から＋Ｙ軸方向にずれた場合を示す図であり、
図２５（Ｂ）はホログラムの中心が反射ビームの中心か
ら−Ｙ軸方向にずれた場合を示す図である。
【図２６】本発明第６実施形態のホログラムを反射ビー
ムの断面形状と関連させて示した図である。
ムの断面形状と関連させて示した図である。
【図２７】本発明第７実施形態のホログラムを反射ビー
ムの断面形状と関連させて示した図である。
ムの断面形状と関連させて示した図である。
【図２８】図２８（Ａ）はホログラムの中心が反射ビー
ムの中心から＋Ｙ軸方向にずれた場合を示す図であり、
図２８（Ｂ）はホログラムの中心が反射ビームの中心か
ら−Ｙ軸方向にずれた場合を示す図である。
ムの中心から＋Ｙ軸方向にずれた場合を示す図であり、
図２８（Ｂ）はホログラムの中心が反射ビームの中心か
ら−Ｙ軸方向にずれた場合を示す図である。
【図２９】第５実施形態のホログラムと第７実施形態の
ホログラムとを重ね合わせた状態を示す図である。
ホログラムとを重ね合わせた状態を示す図である。
【図３０】図３０（Ａ）は第５実施形態のホログラムの
変形例を示す図であり、図３０（Ｂ）は第７実施形態の
ホログラムの変形例を示す図である。
変形例を示す図であり、図３０（Ｂ）は第７実施形態の
ホログラムの変形例を示す図である。
【図３１】本発明第５実施形態のホログラムの寸法を示
す図である。
す図である。
【図３２】本発明第７実施形態のホログラムの寸法を示
す図である。
す図である。
【図３３】本発明第８実施形態のホログラムの干渉縞分
布を示す図である。
布を示す図である。
【図３４】光ディスクの情報記録方向とホログラムの分
割線との関係を示す図である。
割線との関係を示す図である。
５０ 半導体レーザ発生器 ５４ ホログラム回折格子 ５６，６０ コリメータレンズ ５８ ビームスプリッタ ６２ 光ディスク ７０ 光検知器ユニット ７６，７８，８０，８２ 光検知器 ７６，７８ 分割線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉川 浩寧 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 (72)発明者 田和 文博 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内
Claims (23)
- 【請求項１】 光ディスク上に集光されるレーザビーム
のフォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を
行う光ディスク装置用光学装置であって、 前記光ディスクで反射された反射ビームをそれぞれ異な
る方向に回折する第１、第２、第３及び第４領域を有す
る回折格子と；前記回折格子の第１領域で回折された反
射ビームを検出する、第１の分割線を有する第１光検知
器と；前記回折格子の第２領域で回折された反射ビーム
を検出する、第２の分割線を有する第２光検知器と；前
記回折格子の第３領域で回折された反射ビームを検出す
る第３光検知器と；前記回折格子の第４領域で回折され
た反射ビームを検出する第４光検知器とを具備し；前記
第３及び第４領域は、前記光ディスクの情報記録方向と
平行に伸長するように設けられるとともに、前記回折格
子の中心を通過し前記情報記録方向と平行な分割線を挟
んで対称となるように分割されており、 前記第１及び第２領域は、前記分割線と垂直で且つ前記
回折格子の中心を通過する基準線を挟んで対称となるよ
うに配置されるとともに、前記第１及び第２領域の各々
は、前記分割線に対して左右対称となるように配置され
ており、 前記第１及び第２領域の各々は、少なくとも前記分割線
と平行で互いに離間した第１及び第２直線と、前記基準
線と平行な第３直線とにより包囲されていることを特徴
とする光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項２】 前記回折格子は円形ホログラムから構成
される請求項１記載の光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項３】 前記第１及び第２光検知器に投影される
ビームスポットの前記第１及び第２分割線に対して垂直
方向の長さは、前記第１及び第２直線の長さによって規
定される請求項１記載の光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項４】 前記第１及び第２光検知器に入射する反
射ビームの光量は、前記第３直線の長さによって規定さ
れる請求項３記載の光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項５】 前記第１領域は前記第２領域と実質上等
しい面積を有しており、前記第３領域は前記第４領域と
実質上等しい面積を有しており、前記第３及び第４領域
の各々の面積は前記第１及び第２領域の各々の面積より
も大きい請求項１記載の光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項６】 前記第１及び第２領域の各々は更に、前
記基準線と平行で前記第３直線と離間した第４直線によ
って包囲される請求項１記載の光ディスク装置用光学装
置。 - 【請求項７】 前記第１及び第２領域の各々は更に、１
つの円弧によって包囲される請求項１記載の光ディスク
装置用光学装置。 - 【請求項８】 前記円弧は前記円形ホログラムの外周の
一部に一致する請求項７記載の光ディスク装置用光学装
置。 - 【請求項９】 前記回折格子の少なくとも前記基準線方
向の差し渡しは、前記回折格子の入力面における前記光
ディスクからの反射ビームの直径よりも小さい請求項１
記載の光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項１０】 前記回折格子は、前記第１乃至第４領
域の回折方向とは異なる方向に前記反射ビームを回折す
るとともに、前記第１乃至第４領域の空間周波数と実質
上等しい空間周波数を有する第５の領域をその周囲に更
に具備した請求項９記載の光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項１１】 前記円弧は、前記分割線と前記基準線
との交点を中心とする円の一部と一致し、前記第３領域
は前記円を前記基準線に沿って前記第４領域方向に所定
量平行移動した第１円弧により画成され、前記第４領域
は前記円を前記基準線に沿って前記第３領域方向に前記
所定量平行移動した第２円弧により画成されており、前
記円の直径は前記反射ビームの前記回折格子の入力面に
おけるビームの直径に概略一致する請求項７記載の光デ
ィスク装置用光学装置。 - 【請求項１２】 前記回折格子は、前記第１乃至第４領
域の回折方向とは異なる方向に前記反射ビームを回折す
るとともに、前記第１乃至第４領域の空間周波数と実質
上等しい空間周波数を有する第５の領域をその周囲に更
に具備した請求項１１記載の光ディスク装置用光学装
置。 - 【請求項１３】 光ディスク上に集光されるレーザビー
ムのフォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出
を行う光ディスク装置用光学装置であって、 前記光ディスクで反射された反射ビームをそれぞれ異な
る方向に回折する第１、第２、第３、第４、第５及び第
６領域を有する回折格子と；前記回折格子の第１領域で
回折された反射ビームを検出する、第１分割線を有する
第１光検知器と；前記回折格子の第２領域で回折された
反射ビームを検出する、第２分割線を有する第２光検知
器と；前記回折格子の第３領域で回折された反射ビーム
を検出する第３光検知器と；前記回折格子の第４領域で
回折された反射ビームを検出する第４光検知器と；前記
回折格子の第５領域で回折された反射ビームを検出する
第５光検知器と；前記回折格子の第６領域で回折された
反射ビームを検出する第６光検知器とを具備し；前記第
３、第４、第５及び第６領域は前記光ディスクの情報記
録方向と平行に伸長するとともに前記回折格子の中心を
通過する第１分割線と該第１分割線と垂直に交わり前記
回折格子の中心を通過する第２分割線により分割されて
おり、 前記第１及び第２領域は前記第２分割線に対して対称で
該第２分割線から離れて配置されており、 前記第１及び第２領域の各々は、少なくとも前記第１分
割線と平行な互いに離間した第１及び第２直線と、前記
第２分割線と平行な第３直線によって包囲されているこ
とを特徴とする光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項１４】 前記回折格子は円形ホログラムから構
成される請求項１３記載の光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項１５】 前記第１及び第２光検知器に投影され
るビームスポットの前記第１及び第２分割線と垂直方向
の長さは、前記第１及び第２直線の長さによって規定さ
れる請求項１３記載の光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項１６】 前記第１及び第２光検知器に入射する
反射ビームの光量は、前記第３直線の長さによって規定
される請求項１５記載の光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項１７】 前記第１領域は前記第２領域と実質上
等しい面積を有しており、前記第３領域〜前記第６領域
は実質上互いに等しい面積を有しており、前記第３〜第
６領域の各々は前記第１及び第２領域の各々よりも大き
い面積を有している請求項１３記載の光ディスク装置用
光学装置。 - 【請求項１８】 前記回折格子の少なくとも前記第２分
割線方向の差し渡しは、前記回折格子の入力面における
前記光ディスクからの反射ビームの直径よりも小さい請
求項１３記載の光ディスク装置用光学装置。 - 【請求項１９】 前記回折格子は、前記第１乃至第６領
域の回折方向とは異なる方向に前記反射ビームを回折す
るとともに、前記第１乃至第６領域の空間周波数と実質
上等しい空間周波数を有する第７の領域をその周囲に更
に具備した請求項１８記載の光ディスク装置用光学装
置。 - 【請求項２０】 前記第１及び第２領域の各々は更に、
前記第２分割線と平行で前記第３直線と離間した第４直
線によって包囲されている請求項１３記載の光ディスク
装置用光学装置。 - 【請求項２１】 前記第１及び第２領域の各々は更に、
１つの円弧によって包囲されている請求項１３記載の光
ディスク装置用光学装置。 - 【請求項２２】 前記円弧は前記円形ホログラムの外周
の一部に一致する請求項２１記載の光ディスク装置用光
学装置。 - 【請求項２３】 前記円弧は前記第１分割線と前記第２
分割線の交点を中心とする円の一部と一致し、前記第３
及び第４領域は前記円を前記第２分割線に沿って前記第
５及び第６領域方向に所定量平行移動した第１円弧によ
り画成されており、前記第５及び第６領域は前記円を前
記第２分割線に沿って前記第３及び第４領域方向に前記
所定量平行移動した第２円弧により画成されており、前
記円の直径は前記反射ビームの前記回折格子の入力面に
おけるビームの直径に概略一致する請求項２１記載の光
ディスク装置用光学装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21581596A JP3563210B2 (ja) | 1996-02-14 | 1996-08-15 | 光ディスク装置用光学装置及び光ディスク装置 |
| US08/749,231 US5754503A (en) | 1996-02-14 | 1996-11-14 | Optical device with improved focused error detection and tracing error detection for optical disk drive |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2705196 | 1996-02-14 | ||
| JP8-27051 | 1996-02-14 | ||
| JP21581596A JP3563210B2 (ja) | 1996-02-14 | 1996-08-15 | 光ディスク装置用光学装置及び光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09282680A true JPH09282680A (ja) | 1997-10-31 |
| JP3563210B2 JP3563210B2 (ja) | 2004-09-08 |
Family
ID=26364927
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21581596A Expired - Fee Related JP3563210B2 (ja) | 1996-02-14 | 1996-08-15 | 光ディスク装置用光学装置及び光ディスク装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5754503A (ja) |
| JP (1) | JP3563210B2 (ja) |
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| JP3545233B2 (ja) * | 1998-12-08 | 2004-07-21 | シャープ株式会社 | 球面収差検出装置および光ピックアップ装置 |
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| JP3966400B2 (ja) * | 2001-05-11 | 2007-08-29 | シャープ株式会社 | 光回折素子およびその製造方法、ならびにそれを用いた光ピックアップ装置 |
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|---|---|---|---|---|
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