JPH09269458A - 走査光学装置 - Google Patents
走査光学装置Info
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- JPH09269458A JPH09269458A JP7769596A JP7769596A JPH09269458A JP H09269458 A JPH09269458 A JP H09269458A JP 7769596 A JP7769596 A JP 7769596A JP 7769596 A JP7769596 A JP 7769596A JP H09269458 A JPH09269458 A JP H09269458A
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- light receiving
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Abstract
(57)【要約】
【課題】走査光を検出する光検出センサの取付け位置を
調整するために、光検出センサに設けた複数の受光部に
て分割検出し、これらの分割出力に基づいて光検出セン
サの位置ずれの有無を判定する走査光学装置を提供す
る。 【解決手段】光検出センサＰＤに走査光が入射する受光
面には、所定配列且つ所定形状の受光部ａ，ｂ，ｃが設
けられている。受光部ｂ，ｃより出力される受光信号Ｓ
b，Ｓcの差分の絶対値に比例する差分信号Ｓbcを絶対値
差分演算回路１０６が演算し、比較器１０８が信号Ｓbc
としきい値Ｖrefとを比較して、Ｓbc≦Ｖr efのときは光
検出センサＰＤに位置ずれの無いことを示す論理
“Ｌ”、Ｖref＜Ｓbcのときは光検出センサＰＤがずれ
ていることを示す論理“Ｈ”の判定信号Ｑを出力する。
調整するために、光検出センサに設けた複数の受光部に
て分割検出し、これらの分割出力に基づいて光検出セン
サの位置ずれの有無を判定する走査光学装置を提供す
る。 【解決手段】光検出センサＰＤに走査光が入射する受光
面には、所定配列且つ所定形状の受光部ａ，ｂ，ｃが設
けられている。受光部ｂ，ｃより出力される受光信号Ｓ
b，Ｓcの差分の絶対値に比例する差分信号Ｓbcを絶対値
差分演算回路１０６が演算し、比較器１０８が信号Ｓbc
としきい値Ｖrefとを比較して、Ｓbc≦Ｖr efのときは光
検出センサＰＤに位置ずれの無いことを示す論理
“Ｌ”、Ｖref＜Ｓbcのときは光検出センサＰＤがずれ
ていることを示す論理“Ｈ”の判定信号Ｑを出力する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、走査光を記録媒体
等の被照射対象に照射することにより、情報の記録や読
取り等を行う走査光学装置に関するものである。
等の被照射対象に照射することにより、情報の記録や読
取り等を行う走査光学装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の走査光学装置として、ビーム状の
走査光を回転ドラムに照射することによりトナーを帯電
付着させ、そのトナーによる潜像を紙面に転写させるこ
とにより印字等を実現するプリンタについて述べると、
このプリンタには、レーザ光等のビーム光を出射する光
源と、所定の角速度で揺動することによりビーム光を主
走査方向へ反射させる反射ミラーと、反射されたビーム
光（走査光）を回転ドラム上に照射させるｆθレンズ等
のレンズ群と、回転ドラムを所謂副走査方向に相当する
方向へ回転させる回転駆動機構と、回転ドラムに付着し
たトナー潜像を紙面に転写させる転写機構が備えられて
いる。
走査光を回転ドラムに照射することによりトナーを帯電
付着させ、そのトナーによる潜像を紙面に転写させるこ
とにより印字等を実現するプリンタについて述べると、
このプリンタには、レーザ光等のビーム光を出射する光
源と、所定の角速度で揺動することによりビーム光を主
走査方向へ反射させる反射ミラーと、反射されたビーム
光（走査光）を回転ドラム上に照射させるｆθレンズ等
のレンズ群と、回転ドラムを所謂副走査方向に相当する
方向へ回転させる回転駆動機構と、回転ドラムに付着し
たトナー潜像を紙面に転写させる転写機構が備えられて
いる。
【０００３】そして、光源によるビーム光の出射方向が
固定化されているのに対し、反射ミラーの揺動角度が所
定の角速度で変化することにより、走査光の回転ドラム
上への照射位置が主走査方向に沿って移動することか
ら、主走査方向の帯電が実現される。また、所定タイミ
ングに同期して、回転ドラムを回転しつつ上記主走査方
向の帯電処理を繰り返すことにより、２次元のトナー潜
像を形成し、更にこのトナー潜像を紙面に転写すること
によって、２次元の印字等を実現する。
固定化されているのに対し、反射ミラーの揺動角度が所
定の角速度で変化することにより、走査光の回転ドラム
上への照射位置が主走査方向に沿って移動することか
ら、主走査方向の帯電が実現される。また、所定タイミ
ングに同期して、回転ドラムを回転しつつ上記主走査方
向の帯電処理を繰り返すことにより、２次元のトナー潜
像を形成し、更にこのトナー潜像を紙面に転写すること
によって、２次元の印字等を実現する。
【０００４】更に、反射ミラーの反射面に対して所定の
角度で対向配置された光検出センサにて走査光の一部を
検出することにより、前記各主走査の開始時点を検知
し、この開始時点に同期して、レーザ光源の点滅や回転
ドラムの回転タイミング等を制御することによって、紙
面の正規の領域に高品位印字等を行なうようにしてい
る。
角度で対向配置された光検出センサにて走査光の一部を
検出することにより、前記各主走査の開始時点を検知
し、この開始時点に同期して、レーザ光源の点滅や回転
ドラムの回転タイミング等を制御することによって、紙
面の正規の領域に高品位印字等を行なうようにしてい
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した如く、高品位
の印字等を実現するためには各主走査の開始時点を正確
に検出する必要があり、前記光検出センサが正規の位置
からずれていると、その開始時点のずれに起因して、紙
面上の印字等も位置ずれを生じて高品位印字等が図れな
くなる。
の印字等を実現するためには各主走査の開始時点を正確
に検出する必要があり、前記光検出センサが正規の位置
からずれていると、その開始時点のずれに起因して、紙
面上の印字等も位置ずれを生じて高品位印字等が図れな
くなる。
【０００６】従来、かかる光検出センサの位置ずれ調整
を行なうためには、走査光学装置を模擬的に作動させた
状態で光検出センサの出力レベルをオシロスコープ等で
観察しつつ、正規の主走査開始時点においてその出力レ
ベルが最大となるように光検出センサの取付け位置を微
調整したり、走査光の経路を目視にて確認しながら、光
検出センサの所定の受光面に走査光が入射するように微
調整する等の方法が採用されていた。
を行なうためには、走査光学装置を模擬的に作動させた
状態で光検出センサの出力レベルをオシロスコープ等で
観察しつつ、正規の主走査開始時点においてその出力レ
ベルが最大となるように光検出センサの取付け位置を微
調整したり、走査光の経路を目視にて確認しながら、光
検出センサの所定の受光面に走査光が入射するように微
調整する等の方法が採用されていた。
【０００７】しかし、従来の調整作業は極めて煩雑であ
り、また、必ずしも高精度の微調整を行うことができな
いという問題があった。
り、また、必ずしも高精度の微調整を行うことができな
いという問題があった。
【０００８】本発明はこのような従来技術の課題に鑑み
てなされたものであり、走査光の光検出センサへの入射
位置を容易に且つ高精度で調節することができる走査光
学装置を提供することを目的とする。
てなされたものであり、走査光の光検出センサへの入射
位置を容易に且つ高精度で調節することができる走査光
学装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明は、走査光を被照射対象に照射する共
に、所定の位置に設けられた光検出手段に前記走査光が
入射する時点を基準にして、前記被照射対象に対する情
報の記録又は読取りを行う走査光学装置において、前記
光検出手段の受光面に設けられた複数の受光部と、前記
走査光の前記受光面への入射位置に応じて前記各受光部
から出力される各受光信号の相互間の差分を演算する差
分演算手段と、前記差分演算手段の差分出力を所定のし
きい値に基づいて比較することにより、前記走査光の前
記受光面への入射位置のずれの有無を判定する判定手段
とを備える構成とした。
るために本発明は、走査光を被照射対象に照射する共
に、所定の位置に設けられた光検出手段に前記走査光が
入射する時点を基準にして、前記被照射対象に対する情
報の記録又は読取りを行う走査光学装置において、前記
光検出手段の受光面に設けられた複数の受光部と、前記
走査光の前記受光面への入射位置に応じて前記各受光部
から出力される各受光信号の相互間の差分を演算する差
分演算手段と、前記差分演算手段の差分出力を所定のし
きい値に基づいて比較することにより、前記走査光の前
記受光面への入射位置のずれの有無を判定する判定手段
とを備える構成とした。
【００１０】
【実施の形態】以下、本発明を所謂レーザプリンタに適
用した場合の実施の形態を図面と共に説明する。尚、図
１はレーザプリンタの要部構造を示す斜視図、図２は光
検出センサ及び検出回路の構成を示す説明図、図３は光
検出センサ及び検出回路の変形例の構成を示す説明図で
ある。
用した場合の実施の形態を図面と共に説明する。尚、図
１はレーザプリンタの要部構造を示す斜視図、図２は光
検出センサ及び検出回路の構成を示す説明図、図３は光
検出センサ及び検出回路の変形例の構成を示す説明図で
ある。
【００１１】図１において、このレーザプリンタは、レ
ーザ光源２から出射されるレーザ光をコリメーティング
レンズ及びシリンドリカルレンズ等から成る光学系４に
よってビーム光に集光し、このビーム光を一定角速度で
所定方向Ｃxに回転するポリゴンミラー６にて反射させ
る。更に、ポリゴンミラー６の各反射面にて反射される
ビーム光（即ち、走査光）をｆθレンズ８に通し、所定
角度に傾倒された固定反射ミラー１０で反射させること
により、回転ドラム１２の表面に照射させる。
ーザ光源２から出射されるレーザ光をコリメーティング
レンズ及びシリンドリカルレンズ等から成る光学系４に
よってビーム光に集光し、このビーム光を一定角速度で
所定方向Ｃxに回転するポリゴンミラー６にて反射させ
る。更に、ポリゴンミラー６の各反射面にて反射される
ビーム光（即ち、走査光）をｆθレンズ８に通し、所定
角度に傾倒された固定反射ミラー１０で反射させること
により、回転ドラム１２の表面に照射させる。
【００１２】ここで、レーザ光源２ないし光学系４から
のビーム光がポリゴンミラー６に向けて一定方向に出射
され且つポリゴンミラー６が所定方向Ｃxに定回転する
ので、ポリゴンミラー６の各反射面で反射される走査光
が回転ドラム１２上を主走査方向Ｘに沿って移動し、回
転ドラム１２上に主走査方向の帯電が行われる。
のビーム光がポリゴンミラー６に向けて一定方向に出射
され且つポリゴンミラー６が所定方向Ｃxに定回転する
ので、ポリゴンミラー６の各反射面で反射される走査光
が回転ドラム１２上を主走査方向Ｘに沿って移動し、回
転ドラム１２上に主走査方向の帯電が行われる。
【００１３】また、反射ミラー１６がポリゴンミラー６
の各反射面に対して所定の角度で対向配置されており、
ポリゴンミラー６の各反射面が走査光の反射を開始する
時点、即ち、各主走査の開始時点に入射する走査光ｈν
を光検出センサＰＤへ反射させるようになっている。
尚、ポリゴンミラー６の各反射面の夫々の幅が、走査光
の最大反射角度範囲θm及びそれに対応する回転ドラム
１２の最大主走査可能範囲に対応しており、これらの最
大反射角度範囲θm及び主走査可能範囲内であってそれ
よりも狭い範囲が、回転ドラム１２上を実際に主走査す
るための主走査有効反射角度範囲θa及び有効走査範囲
に決められている。また、有効反射角度範囲θaの外側
であって最大反射角度範囲θmの内側に相当する所定位
置に反射ミラー１６が設けられている。
の各反射面に対して所定の角度で対向配置されており、
ポリゴンミラー６の各反射面が走査光の反射を開始する
時点、即ち、各主走査の開始時点に入射する走査光ｈν
を光検出センサＰＤへ反射させるようになっている。
尚、ポリゴンミラー６の各反射面の夫々の幅が、走査光
の最大反射角度範囲θm及びそれに対応する回転ドラム
１２の最大主走査可能範囲に対応しており、これらの最
大反射角度範囲θm及び主走査可能範囲内であってそれ
よりも狭い範囲が、回転ドラム１２上を実際に主走査す
るための主走査有効反射角度範囲θa及び有効走査範囲
に決められている。また、有効反射角度範囲θaの外側
であって最大反射角度範囲θmの内側に相当する所定位
置に反射ミラー１６が設けられている。
【００１４】そして、前記主走査の開始時点に同期して
前記各主走査が行われると共に、回転ドラム１２が所謂
副走査方向に相当する方向Ｃyに回転されることによ
り、回転ドラム１２の所定領域１４に２次元の帯電が行
われ、かかる領域１４に帯電付着されたトナー潜像を紙
面に転写することによって、２次元印字等が実現され
る。
前記各主走査が行われると共に、回転ドラム１２が所謂
副走査方向に相当する方向Ｃyに回転されることによ
り、回転ドラム１２の所定領域１４に２次元の帯電が行
われ、かかる領域１４に帯電付着されたトナー潜像を紙
面に転写することによって、２次元印字等が実現され
る。
【００１５】このように、各主走査の開始時点を基準に
して主走査及び副走査のタイミングを同期制御するの
で、反射ミラー１６及び光検出センサＰＤの取付け位置
が正規の位置に固定されている必要がある。そこで、こ
れらの位置ずれ調整を行うために、光検出センサＰＤの
受光面には、図２（Ａ）に示す如く、所定形状及び所定
配列の複数個の受光部ａ，ｂ，ｃが設けられると共に、
図２（Ｂ）に示す如く、検出回路にはこれらの受光部
ａ，ｂ，ｃから出力される受光信号に基づいて位置ずれ
を判定する判定回路が設けられている。
して主走査及び副走査のタイミングを同期制御するの
で、反射ミラー１６及び光検出センサＰＤの取付け位置
が正規の位置に固定されている必要がある。そこで、こ
れらの位置ずれ調整を行うために、光検出センサＰＤの
受光面には、図２（Ａ）に示す如く、所定形状及び所定
配列の複数個の受光部ａ，ｂ，ｃが設けられると共に、
図２（Ｂ）に示す如く、検出回路にはこれらの受光部
ａ，ｂ，ｃから出力される受光信号に基づいて位置ずれ
を判定する判定回路が設けられている。
【００１６】図２（Ａ）において、光検出センサＰＤに
は、矩形の第１の受光部ａと第２，第３の受光部ｂ，ｃ
が所定間隔ｘ0で併設されると共に、第２，第３の受光
部ｂ，ｃが所定間隔ｙ0をおいて併設されている。これ
らの受光部ａ，ｂ，ｃは個々独立のフォトダイオード等
によって形成され、第１の受光部ａの受光面が第２，第
３の受光部ｂ，ｃの受光面より大きく、且つ第２，第３
の受光部ｂ，ｃの受光面の形状が等しくなっている。更
に、上記の各間隔ｘ0，ｙ0は、走査光ｈνが入射すると
きの照射面積の外径よりも狭くなっている。
は、矩形の第１の受光部ａと第２，第３の受光部ｂ，ｃ
が所定間隔ｘ0で併設されると共に、第２，第３の受光
部ｂ，ｃが所定間隔ｙ0をおいて併設されている。これ
らの受光部ａ，ｂ，ｃは個々独立のフォトダイオード等
によって形成され、第１の受光部ａの受光面が第２，第
３の受光部ｂ，ｃの受光面より大きく、且つ第２，第３
の受光部ｂ，ｃの受光面の形状が等しくなっている。更
に、上記の各間隔ｘ0，ｙ0は、走査光ｈνが入射すると
きの照射面積の外径よりも狭くなっている。
【００１７】そして、これらの受光部ａ，ｂ，ｃにて光
電変換された夫々の受光信号Ｓa，Ｓb，Ｓcが図２
（Ｂ）に示す検出回路に入力され、判定回路からは走査
光の照射位置のずれの有無を示す判定出力Ｑが出力され
る。
電変換された夫々の受光信号Ｓa，Ｓb，Ｓcが図２
（Ｂ）に示す検出回路に入力され、判定回路からは走査
光の照射位置のずれの有無を示す判定出力Ｑが出力され
る。
【００１８】受光信号Ｓaは、所定増幅率を有するプリ
アンプ１００によって増幅されると共に波形整形回路１
０１によって２値の矩形信号Ｓa'に整形され、この矩形
信号Ｓa'が前記各主走査の開始時点を表し、前記主走査
及び副走査の同期制御を行うための同期信号となる。
アンプ１００によって増幅されると共に波形整形回路１
０１によって２値の矩形信号Ｓa'に整形され、この矩形
信号Ｓa'が前記各主走査の開始時点を表し、前記主走査
及び副走査の同期制御を行うための同期信号となる。
【００１９】受光信号Ｓb，Ｓcは、夫々所定の増幅率を
有するプリアンプ１０２，１０４によって増幅され、増
幅後の信号Ｓb'，Ｓc'が絶対値差分演算回路１０６に入
力され、これらの差分の絶対値｜Ｓb'−Ｓc'｜を表す差
信号Ｓbcが出力される。更に、差信号Ｓbcは、比較器１
０８において予め決められたしきい値電圧Ｖrefと比較
され、夫々の電圧が、Ｖref≦Ｓbcの関係にあれば論理
“Ｈ”、Ｓbc＜Ｖrefの関係にあれば論理“Ｌ”となる
判定信号Ｑが出力される。そして、プリアンプ１０２，
１０４、絶対値差分演算回路１０６及び比較器１０８に
て判定回路が構成され、判定出力Ｑをオシロスコープ等
の表示手段にて表示することによって、反射ミラー１６
及び光検出センサＰＤの位置ずれの有無を観測するよう
になっている。尚、絶対値差分演算回路１０６は、例え
ば複数個の差動増幅器を組合わせて、信号Ｓb'，Ｓc'の
差分値を常に正極性にして出力する周知の演算回路等を
用いることができる。
有するプリアンプ１０２，１０４によって増幅され、増
幅後の信号Ｓb'，Ｓc'が絶対値差分演算回路１０６に入
力され、これらの差分の絶対値｜Ｓb'−Ｓc'｜を表す差
信号Ｓbcが出力される。更に、差信号Ｓbcは、比較器１
０８において予め決められたしきい値電圧Ｖrefと比較
され、夫々の電圧が、Ｖref≦Ｓbcの関係にあれば論理
“Ｈ”、Ｓbc＜Ｖrefの関係にあれば論理“Ｌ”となる
判定信号Ｑが出力される。そして、プリアンプ１０２，
１０４、絶対値差分演算回路１０６及び比較器１０８に
て判定回路が構成され、判定出力Ｑをオシロスコープ等
の表示手段にて表示することによって、反射ミラー１６
及び光検出センサＰＤの位置ずれの有無を観測するよう
になっている。尚、絶対値差分演算回路１０６は、例え
ば複数個の差動増幅器を組合わせて、信号Ｓb'，Ｓc'の
差分値を常に正極性にして出力する周知の演算回路等を
用いることができる。
【００２０】次に、実際の位置調整操作を説明すること
により、かかる構成を有する光検出センサＰＤと判定回
路の機能を説明する。まず、レーザ光源２を点灯させる
と共にポリゴンミラー６を回転させることにより主走査
を行わせる。
により、かかる構成を有する光検出センサＰＤと判定回
路の機能を説明する。まず、レーザ光源２を点灯させる
と共にポリゴンミラー６を回転させることにより主走査
を行わせる。
【００２１】ここで、反射ミラー１６及び光検出センサ
ＰＤが予め決められた正規の位置に固定されている場合
には、図２（Ａ）中の１点鎖線にて示す円Ｌ1の如く、
主走査開始時点での走査光ｈνが光検出センサＰＤの第
１，第２，第３の受光部ａ，ｂ，ｃの重心位置に入射す
る。この結果、第２（Ｂ）の回路からは、第１の受光部
ａよりの受光信号Ｓaに基づく同期信号Ｓa'が出力され
る。更に、第２，第３の受光部ｂ，ｃからはほぼ等しい
振幅の受光信号Ｓb，Ｓcが出力されることから、絶対値
差分演算回路１０６より出力される差信号Ｓbcの振幅が
ほぼ０ボルトになると共に、Ｓbc＜Ｖrefの関係により
比較器１０８の判定信号Ｑが論理“Ｌ”となる。したが
って、判定信号Ｑの論理レベルを観測し、論理“Ｌ”の
場合には、反射ミラー１６及び光検出センサＰＤが正規
の位置に固定されておりこれらの位置調整が不要である
と容易に判断することができる。
ＰＤが予め決められた正規の位置に固定されている場合
には、図２（Ａ）中の１点鎖線にて示す円Ｌ1の如く、
主走査開始時点での走査光ｈνが光検出センサＰＤの第
１，第２，第３の受光部ａ，ｂ，ｃの重心位置に入射す
る。この結果、第２（Ｂ）の回路からは、第１の受光部
ａよりの受光信号Ｓaに基づく同期信号Ｓa'が出力され
る。更に、第２，第３の受光部ｂ，ｃからはほぼ等しい
振幅の受光信号Ｓb，Ｓcが出力されることから、絶対値
差分演算回路１０６より出力される差信号Ｓbcの振幅が
ほぼ０ボルトになると共に、Ｓbc＜Ｖrefの関係により
比較器１０８の判定信号Ｑが論理“Ｌ”となる。したが
って、判定信号Ｑの論理レベルを観測し、論理“Ｌ”の
場合には、反射ミラー１６及び光検出センサＰＤが正規
の位置に固定されておりこれらの位置調整が不要である
と容易に判断することができる。
【００２２】一方、反射ミラー１６又は光検出センサＰ
Ｄが正規の位置からずれているために、例えば図２
（Ａ）中の点線にて示す円Ｌ2の如く、走査光ｈνの入
射位置が第２の受光部ｂ側に偏心している場合には、第
１の受光部ａからは受光信号Ｓaが出力され且つ同期信
号Ｓa'も出力される。但し、第２の受光部ｂにおける走
査光ｈνの受光量に比較して、第３の受光部ｃにおける
走査光ｈνの受光量が小さくなるため、受光信号Ｓbの
振幅が受光信号Ｓcのそれよりも小さくなり、絶対値差
分演算回路１０６の差信号Ｓbcがしきい値電圧Ｖrefよ
りも大きくなる。この結果、比較器１０８から出力され
る判定信号Ｑが論理“Ｈ”となり、反射ミラー１６又は
光検出センサＰＤが正規の位置からずれていると容易に
判断することができる。そして、判定信号Ｑの論理レベ
ルが“Ｈ”から“Ｌ”になるように、反射ミラー１６又
は光検出センサＰＤの位置を調整することによって、図
２（Ａ）中の１点鎖線にて示す円Ｌ1の如く、容易に走
査光ｈνを光検出センサＰＤの正規の位置へ入射させる
ことができる。
Ｄが正規の位置からずれているために、例えば図２
（Ａ）中の点線にて示す円Ｌ2の如く、走査光ｈνの入
射位置が第２の受光部ｂ側に偏心している場合には、第
１の受光部ａからは受光信号Ｓaが出力され且つ同期信
号Ｓa'も出力される。但し、第２の受光部ｂにおける走
査光ｈνの受光量に比較して、第３の受光部ｃにおける
走査光ｈνの受光量が小さくなるため、受光信号Ｓbの
振幅が受光信号Ｓcのそれよりも小さくなり、絶対値差
分演算回路１０６の差信号Ｓbcがしきい値電圧Ｖrefよ
りも大きくなる。この結果、比較器１０８から出力され
る判定信号Ｑが論理“Ｈ”となり、反射ミラー１６又は
光検出センサＰＤが正規の位置からずれていると容易に
判断することができる。そして、判定信号Ｑの論理レベ
ルが“Ｈ”から“Ｌ”になるように、反射ミラー１６又
は光検出センサＰＤの位置を調整することによって、図
２（Ａ）中の１点鎖線にて示す円Ｌ1の如く、容易に走
査光ｈνを光検出センサＰＤの正規の位置へ入射させる
ことができる。
【００２３】また、図２（Ａ）中の２点鎖線の円Ｌ3に
て示す如く、走査光ｈνの入射位置が第３の受光部ｃ側
に偏心している場合には、第１の受光部ａからは受光信
号Ｓaが出力され且つ同期信号Ｓa'も出力される。更
に、受光信号Ｓbの振幅が受光信号Ｓcのそれよりも小さ
くなり、絶対値差分演算回路１０６の差信号Ｓbcがしき
い値電圧Ｖrefよりも大きくなる。この結果、比較器１
０８から出力される判定信号Ｑが論理“Ｈ”となり、反
射ミラー１６又は光検出センサＰＤが正規の位置からず
れていると容易に判断することができる。したがって、
判定信号Ｑの論理レベルが“Ｈ”から“Ｌ”になるよう
に、反射ミラー１６又は光検出センサＰＤの位置を調整
することによって、図２（Ａ）中の１点鎖線にて示す円
Ｌ1の如く、容易に走査光ｈνを光検出センサＰＤの正
規の位置へ入射させることができる。
て示す如く、走査光ｈνの入射位置が第３の受光部ｃ側
に偏心している場合には、第１の受光部ａからは受光信
号Ｓaが出力され且つ同期信号Ｓa'も出力される。更
に、受光信号Ｓbの振幅が受光信号Ｓcのそれよりも小さ
くなり、絶対値差分演算回路１０６の差信号Ｓbcがしき
い値電圧Ｖrefよりも大きくなる。この結果、比較器１
０８から出力される判定信号Ｑが論理“Ｈ”となり、反
射ミラー１６又は光検出センサＰＤが正規の位置からず
れていると容易に判断することができる。したがって、
判定信号Ｑの論理レベルが“Ｈ”から“Ｌ”になるよう
に、反射ミラー１６又は光検出センサＰＤの位置を調整
することによって、図２（Ａ）中の１点鎖線にて示す円
Ｌ1の如く、容易に走査光ｈνを光検出センサＰＤの正
規の位置へ入射させることができる。
【００２４】このように、この実施の形態によれば、判
定信号Ｑの論理レベルに基づいて容易に反射ミラー１６
又は光検出センサＰＤの位置ずれ調整を行うことができ
ると共に、各主走査における主走査開始時点を正規のタ
イミングに調整することができ、ひいては高品位の印字
等を実現することができる。
定信号Ｑの論理レベルに基づいて容易に反射ミラー１６
又は光検出センサＰＤの位置ずれ調整を行うことができ
ると共に、各主走査における主走査開始時点を正規のタ
イミングに調整することができ、ひいては高品位の印字
等を実現することができる。
【００２５】また、各受光部ａ，ｂ，ｃの各受光面積や
形状、夫々の配置間隔ｘ0，ｙ0を適宜に変更したり、し
きい値電圧Ｖrefを調節することにより、反射ミラー１
６及び光検出センサＰＤの位置調整精度を可変にするこ
とができるので、様々な印字精度のレーザプリンタに適
用することができる。
形状、夫々の配置間隔ｘ0，ｙ0を適宜に変更したり、し
きい値電圧Ｖrefを調節することにより、反射ミラー１
６及び光検出センサＰＤの位置調整精度を可変にするこ
とができるので、様々な印字精度のレーザプリンタに適
用することができる。
【００２６】次に、変形例を図３に基づいて説明する。
尚、この変形例に係るレーザプリンタの全体構成は図１
と同様であるものとし、図３（Ａ）（Ｂ）において図２
（Ａ）（Ｂ）と同一又は相当する部分を同一符号で示す
ものとする。
尚、この変形例に係るレーザプリンタの全体構成は図１
と同様であるものとし、図３（Ａ）（Ｂ）において図２
（Ａ）（Ｂ）と同一又は相当する部分を同一符号で示す
ものとする。
【００２７】図３（Ａ）に示す如く、光検出センサＰＤ
には、いずれも矩形の第１ないし第３の受光部ａ，ｂ，
ｃが、第１の受光部ａを中心にして縦方向に所定間隔ｙ
1をおいて設けられている。また、これらの受光部ａ，
ｂ，ｃは個々独立のフォトダイオード等によって形成さ
れ、第１の受光部ａの受光面が第２，第３の受光部ｂ，
ｃの受光面より大きく、且つ第２，第３の受光部ｂ，ｃ
の受光面の形状が等しくなっている。また、これら受光
部ａ，ｂ，ｃの各間隔ｙ1は、走査光ｈνが入射すると
きの照射面積の外径よりも狭くなっている。更に、これ
らの受光部ａ，ｂ，ｃには、図２（Ｂ）に示す検出回路
が接続され、反射ミラー１６又は光検出センサＰＤの位
置ずれの有無を示す判定信号Ｑ1，Ｑ2が出力される。
には、いずれも矩形の第１ないし第３の受光部ａ，ｂ，
ｃが、第１の受光部ａを中心にして縦方向に所定間隔ｙ
1をおいて設けられている。また、これらの受光部ａ，
ｂ，ｃは個々独立のフォトダイオード等によって形成さ
れ、第１の受光部ａの受光面が第２，第３の受光部ｂ，
ｃの受光面より大きく、且つ第２，第３の受光部ｂ，ｃ
の受光面の形状が等しくなっている。また、これら受光
部ａ，ｂ，ｃの各間隔ｙ1は、走査光ｈνが入射すると
きの照射面積の外径よりも狭くなっている。更に、これ
らの受光部ａ，ｂ，ｃには、図２（Ｂ）に示す検出回路
が接続され、反射ミラー１６又は光検出センサＰＤの位
置ずれの有無を示す判定信号Ｑ1，Ｑ2が出力される。
【００２８】図３（Ｂ）において、第１の受光部ａから
出力される受光信号Ｓaが所定増幅率のプリアンプ１０
０によって増幅されると共に２値の矩形信号Ｓa’に整
形され、この矩形信号Ｓa'が主走査及び副走査のための
同期信号となっている。
出力される受光信号Ｓaが所定増幅率のプリアンプ１０
０によって増幅されると共に２値の矩形信号Ｓa’に整
形され、この矩形信号Ｓa'が主走査及び副走査のための
同期信号となっている。
【００２９】第２，第３の受光部ｂ，ｃから出力される
受光信号Ｓb，Ｓcは、夫々所定の増幅率を有するプリア
ンプ１０２，１０４によって増幅され、増幅後の信号Ｓ
b'，Ｓc'が差動増幅器１１０，１１２に入力される。一
方の差動増幅器１１０は、信号Ｓb'から信号Ｓc'を減算
処理し、その差分（Ｓb’−Ｓc’）を表す差信号Ｓbcを
出力し、他方の差動増幅器１１２は、出力信号Ｓc’か
ら出力信号Ｓb’を減算処理してその差分（Ｓc’−Ｓ
b’）を表す差信号Ｓcbを出力する。
受光信号Ｓb，Ｓcは、夫々所定の増幅率を有するプリア
ンプ１０２，１０４によって増幅され、増幅後の信号Ｓ
b'，Ｓc'が差動増幅器１１０，１１２に入力される。一
方の差動増幅器１１０は、信号Ｓb'から信号Ｓc'を減算
処理し、その差分（Ｓb’−Ｓc’）を表す差信号Ｓbcを
出力し、他方の差動増幅器１１２は、出力信号Ｓc’か
ら出力信号Ｓb’を減算処理してその差分（Ｓc’−Ｓ
b’）を表す差信号Ｓcbを出力する。
【００３０】そして、第１の比較器１１４が、予め決め
られた第１のしきい値電圧Ｖref1に基づいて差信号Ｓbc
の振幅電圧を比較し、Ｖref1≦Ｓbcのときは論理
“Ｈ”、Ｓbc＜Ｖref1のときは論理“Ｌ”となる判定信
号Ｑ1を出力する。また、第２の比較器１１６が、予め
決められた第２のしきい値電圧Ｖref2に基づいて差信号
Ｓcbの振幅電圧を比較し、Ｖref2≦Ｓcbのときは論理
“Ｈ”、Ｓcb＜Ｖref2のときは論理“Ｌ”となる判定信
号Ｑ2を出力する。
られた第１のしきい値電圧Ｖref1に基づいて差信号Ｓbc
の振幅電圧を比較し、Ｖref1≦Ｓbcのときは論理
“Ｈ”、Ｓbc＜Ｖref1のときは論理“Ｌ”となる判定信
号Ｑ1を出力する。また、第２の比較器１１６が、予め
決められた第２のしきい値電圧Ｖref2に基づいて差信号
Ｓcbの振幅電圧を比較し、Ｖref2≦Ｓcbのときは論理
“Ｈ”、Ｓcb＜Ｖref2のときは論理“Ｌ”となる判定信
号Ｑ2を出力する。
【００３１】尚、プリアンプ１０２，１０４、差動増幅
器１１０，１１２及び比較器１１４，１１６により判定
回路が実現されている。
器１１０，１１２及び比較器１１４，１１６により判定
回路が実現されている。
【００３２】次に、実際の調整操作を説明することによ
り、かかる構成を有する変形例の機能を説明する。ま
ず、レーザ光源２を点灯させると共にポリゴンミラー６
を回転させることにより主走査を行わせる。
り、かかる構成を有する変形例の機能を説明する。ま
ず、レーザ光源２を点灯させると共にポリゴンミラー６
を回転させることにより主走査を行わせる。
【００３３】ここで、反射ミラー１６及び光検出センサ
ＰＤが予め決められた正規の位置に固定されている場合
には、図３（Ａ）中の１点鎖線にて示す円Ｌ1の如く、
主走査開始時点での走査光ｈνが光検出センサＰＤの第
１の受光部ａにのみ入射する。この結果、図３（Ｂ）の
回路からは、第１の受光部ａからの受光信号Ｓaに基づ
く同期信号Ｓa'が出力される。更に、第２，第３の受光
部ｂ，ｃからはほぼ振幅が０ボルトの受光信号Ｓb，Ｓc
が出力されることから、差動増幅器１１０，１１２の各
差信号Ｓbc，Ｓcbの振幅も０ボルトになり、Ｓbc＜Ｖ
ref1の関係により判定信号Ｑ1が論理“Ｌ”、Ｓcb＜Ｖ
ref2の関係により判定信号Ｑ2が論理“Ｌ”となる。
ＰＤが予め決められた正規の位置に固定されている場合
には、図３（Ａ）中の１点鎖線にて示す円Ｌ1の如く、
主走査開始時点での走査光ｈνが光検出センサＰＤの第
１の受光部ａにのみ入射する。この結果、図３（Ｂ）の
回路からは、第１の受光部ａからの受光信号Ｓaに基づ
く同期信号Ｓa'が出力される。更に、第２，第３の受光
部ｂ，ｃからはほぼ振幅が０ボルトの受光信号Ｓb，Ｓc
が出力されることから、差動増幅器１１０，１１２の各
差信号Ｓbc，Ｓcbの振幅も０ボルトになり、Ｓbc＜Ｖ
ref1の関係により判定信号Ｑ1が論理“Ｌ”、Ｓcb＜Ｖ
ref2の関係により判定信号Ｑ2が論理“Ｌ”となる。
【００３４】したがって、判定信号Ｑ1，Ｑ2の論理レベ
ルを観測し、いずれも論理“Ｌ”となる場合には、反射
ミラー１６及び光検出センサＰＤが正規の位置に固定さ
れておりこれらの位置調整が不要であると容易に判断す
ることができる。
ルを観測し、いずれも論理“Ｌ”となる場合には、反射
ミラー１６及び光検出センサＰＤが正規の位置に固定さ
れておりこれらの位置調整が不要であると容易に判断す
ることができる。
【００３５】一方、反射ミラー１６又は光検出センサＰ
Ｄが正規の位置からずれているために、例えば図３
（Ａ）中の点線にて示す円Ｌ2の如く、走査光ｈνの入
射位置が第２の受光部ｂ側に偏心している場合には、第
１の受光部ａからは受光信号Ｓaが出力され且つ同期信
号Ｓa'も出力される。但し、第３の受光部Ｌ3から出力
される受光信号Ｓcの振幅がほぼ０ボルトになるのに対
し、第２の受光部ｂから出力される受光信号Ｌ2の振幅
は、走査光ｈνの受光量に応じた振幅となる。
Ｄが正規の位置からずれているために、例えば図３
（Ａ）中の点線にて示す円Ｌ2の如く、走査光ｈνの入
射位置が第２の受光部ｂ側に偏心している場合には、第
１の受光部ａからは受光信号Ｓaが出力され且つ同期信
号Ｓa'も出力される。但し、第３の受光部Ｌ3から出力
される受光信号Ｓcの振幅がほぼ０ボルトになるのに対
し、第２の受光部ｂから出力される受光信号Ｌ2の振幅
は、走査光ｈνの受光量に応じた振幅となる。
【００３６】この結果、差動増幅器１１０の差信号Ｓbc
は差分（Ｓb'−Ｓc'）に相当する振幅電圧となり、更に
Ｖref1≦Ｓbcの関係から、判定信号Ｑ1は論理“Ｈ”と
なる。また、差動増幅器１１２の差信号Ｓcbは、差分
（Ｓc'−Ｓb'）が負となるので、０ボルトになり、更に
Ｓcb＜Ｖref2の関係から、判定信号Ｑ2は論理“Ｌ”と
なる。
は差分（Ｓb'−Ｓc'）に相当する振幅電圧となり、更に
Ｖref1≦Ｓbcの関係から、判定信号Ｑ1は論理“Ｈ”と
なる。また、差動増幅器１１２の差信号Ｓcbは、差分
（Ｓc'−Ｓb'）が負となるので、０ボルトになり、更に
Ｓcb＜Ｖref2の関係から、判定信号Ｑ2は論理“Ｌ”と
なる。
【００３７】したがって、判定信号Ｑ1が論理“Ｈ”、
且つ判定信号Ｑ2が論理“Ｌ”となるときには、走査光
ｈνの入射位置が第２の受光部ｂ側に偏心していると容
易に判断することができ、そして、判定信号Ｑ1，Ｑ2の
論理レベルが共に“Ｌ”になるように、反射ミラー１６
又は光検出センサＰＤの位置を調整することによって、
図３（Ａ）中の１点鎖線にて示す円Ｌ1の如く、容易に
走査光ｈνを光検出センサＰＤの正規の位置へ入射させ
ることができる。
且つ判定信号Ｑ2が論理“Ｌ”となるときには、走査光
ｈνの入射位置が第２の受光部ｂ側に偏心していると容
易に判断することができ、そして、判定信号Ｑ1，Ｑ2の
論理レベルが共に“Ｌ”になるように、反射ミラー１６
又は光検出センサＰＤの位置を調整することによって、
図３（Ａ）中の１点鎖線にて示す円Ｌ1の如く、容易に
走査光ｈνを光検出センサＰＤの正規の位置へ入射させ
ることができる。
【００３８】また、図３（Ａ）中の２点鎖線の円Ｌ3に
て示す如く、走査光ｈνの入射位置が第３の受光部ｃ側
に偏心している場合には、第１の受光部ａからは受光信
号Ｓaが出力され且つ同期信号Ｓa'も出力される。但
し、第２の受光部Ｌ2から出力される受光信号Ｓbの振幅
がほぼ０ボルトになるのに対し、第３の受光部ｃから出
力される受光信号Ｌ3の振幅は、走査光ｈνの受光量に
応じた振幅となる。
て示す如く、走査光ｈνの入射位置が第３の受光部ｃ側
に偏心している場合には、第１の受光部ａからは受光信
号Ｓaが出力され且つ同期信号Ｓa'も出力される。但
し、第２の受光部Ｌ2から出力される受光信号Ｓbの振幅
がほぼ０ボルトになるのに対し、第３の受光部ｃから出
力される受光信号Ｌ3の振幅は、走査光ｈνの受光量に
応じた振幅となる。
【００３９】この結果、差動増幅器１１０の差信号Ｓbc
は、差分（Ｓb'−Ｓc'）が負となるので、０ボルトにな
り、更にＳbc＜Ｖref1の関係から、判定信号Ｑ1は論理
“Ｌ”となる。また、差動増幅器１１２の差信号Ｓcb
は、差分（Ｓc'−Ｓb'）に応じた振幅となり、更にＶ
ref2≦Ｓcbの関係から、判定信号Ｑ2は論理“Ｈ”とな
る。
は、差分（Ｓb'−Ｓc'）が負となるので、０ボルトにな
り、更にＳbc＜Ｖref1の関係から、判定信号Ｑ1は論理
“Ｌ”となる。また、差動増幅器１１２の差信号Ｓcb
は、差分（Ｓc'−Ｓb'）に応じた振幅となり、更にＶ
ref2≦Ｓcbの関係から、判定信号Ｑ2は論理“Ｈ”とな
る。
【００４０】したがって、判定信号Ｑ1が論理“Ｌ”、
且つ判定信号Ｑ2が論理“Ｈ”となるときには、走査光
ｈνの入射位置が第３の受光部ｃ側に偏心していると容
易に判断することができ、そして、判定信号Ｑ1，Ｑ2の
論理レベルが共に“Ｌ”になるように、反射ミラー１６
又は光検出センサＰＤの位置を調整することによって、
図３（Ａ）中の１点鎖線にて示す円Ｌ1の如く、容易に
走査光ｈνを光検出センサＰＤの正規の位置へ入射させ
ることができる。
且つ判定信号Ｑ2が論理“Ｈ”となるときには、走査光
ｈνの入射位置が第３の受光部ｃ側に偏心していると容
易に判断することができ、そして、判定信号Ｑ1，Ｑ2の
論理レベルが共に“Ｌ”になるように、反射ミラー１６
又は光検出センサＰＤの位置を調整することによって、
図３（Ａ）中の１点鎖線にて示す円Ｌ1の如く、容易に
走査光ｈνを光検出センサＰＤの正規の位置へ入射させ
ることができる。
【００４１】このように、この変形例によれば、判定信
号Ｑ1，Ｑ2の論理レベルに基づいて容易に反射ミラー１
６又は光検出センサＰＤの位置ずれ検出を行うことがで
きる。更に、各判定信号Ｑ1，Ｑ2の組合せによってかか
る位置ずれを検出するので、走査光ｈνの入射位置のず
れの傾向を知ることができ、容易に主走査における主走
査開始時点を正規のタイミングに調整することができ、
ひいては高品位の印字等を実現することができる。
号Ｑ1，Ｑ2の論理レベルに基づいて容易に反射ミラー１
６又は光検出センサＰＤの位置ずれ検出を行うことがで
きる。更に、各判定信号Ｑ1，Ｑ2の組合せによってかか
る位置ずれを検出するので、走査光ｈνの入射位置のず
れの傾向を知ることができ、容易に主走査における主走
査開始時点を正規のタイミングに調整することができ、
ひいては高品位の印字等を実現することができる。
【００４２】また、各受光部ａ，ｂ，ｃの各受光面積や
形状、夫々の配置間隔ｘ0，ｙ0を適宜に変更したり、し
きい値電圧Ｖref1，Ｖref2を調節することにより、反射
ミラー１６及び光検出センサＰＤの位置調整精度を可変
にすることができるので、様々な印字精度のレーザプリ
ンタに適用することができる。
形状、夫々の配置間隔ｘ0，ｙ0を適宜に変更したり、し
きい値電圧Ｖref1，Ｖref2を調節することにより、反射
ミラー１６及び光検出センサＰＤの位置調整精度を可変
にすることができるので、様々な印字精度のレーザプリ
ンタに適用することができる。
【００４３】尚、これらの実施の形態では、３個の受光
部ａ，ｂ，ｃを備える光検出センサＰＤを適用する場合
について述べたが、本発明は、かかる受光部の個数を限
定するものではなく、少なくとも３個以上であればよ
い。
部ａ，ｂ，ｃを備える光検出センサＰＤを適用する場合
について述べたが、本発明は、かかる受光部の個数を限
定するものではなく、少なくとも３個以上であればよ
い。
【００４４】また、図２（Ｂ）に示した判断回路を図３
（Ａ）に示す光検出センサに適用し、図３（Ｂ）に示し
た判断回路を図２（Ａ）に示す光検出センサに適用する
こともできる。
（Ａ）に示す光検出センサに適用し、図３（Ｂ）に示し
た判断回路を図２（Ａ）に示す光検出センサに適用する
こともできる。
【００４５】また、これらの実施の形態では、レーザプ
リンタに適用した走査光学装置を説明したが、他の光学
機器、例えば感光紙に走査光を直接照射することによっ
て印字等を行うプリンタや、記録媒体の情報を光検出す
る光ピックアップ装置など、走査光学系を備える光学機
器全般に適用することができる。
リンタに適用した走査光学装置を説明したが、他の光学
機器、例えば感光紙に走査光を直接照射することによっ
て印字等を行うプリンタや、記録媒体の情報を光検出す
る光ピックアップ装置など、走査光学系を備える光学機
器全般に適用することができる。
【００４６】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、走
査光を検出する光検出手段の受光面に複数の受光部を設
けたので、走査光の光検出手段への入射位置が正規の位
置からずれた場合に、その位置ずれを、各受光部が受光
する走査光の各受光量の変化として検出することができ
る。更に、各受光部から出力される受光信号相互間の差
分を所定のしきい値に基づいて比較するので、走査光の
入射位置のずれが所定の位置精度の範囲内にあるか否か
の判断を容易に行うことができる。
査光を検出する光検出手段の受光面に複数の受光部を設
けたので、走査光の光検出手段への入射位置が正規の位
置からずれた場合に、その位置ずれを、各受光部が受光
する走査光の各受光量の変化として検出することができ
る。更に、各受光部から出力される受光信号相互間の差
分を所定のしきい値に基づいて比較するので、走査光の
入射位置のずれが所定の位置精度の範囲内にあるか否か
の判断を容易に行うことができる。
【００４７】したがって、走査光が予め決められた正規
の位置に入射したときの前記比較結果と一致するよう
に、光検出手段の位置を調整するだけで、容易に走査光
と光検出手段の位置ずれを調整することができると共
に、高精度の位置決め調整を可能にする等の効果を発揮
する。
の位置に入射したときの前記比較結果と一致するよう
に、光検出手段の位置を調整するだけで、容易に走査光
と光検出手段の位置ずれを調整することができると共
に、高精度の位置決め調整を可能にする等の効果を発揮
する。
【図１】本発明の走査光学装置を適用したレーザプリン
タの要部構造を示す斜視図である。
タの要部構造を示す斜視図である。
【図２】光検出センサ及び検出回路の構成を示す説明図
である。
である。
【図３】光検出センサ及び検出回路の変形例の構成を示
す説明図である。
す説明図である。
【符号の説明】 １６…反射ミラー、ＰＤ…光検出センサ、ａ，ｂ，ｃ…
受光部、１００，１０２，１０４…プリアンプ、１０１
…波形整形回路、１０６…絶対値差分演算回路、１０
８，１１４，１１６…比較器、１１０，１１２…差動増
幅器。
受光部、１００，１０２，１０４…プリアンプ、１０１
…波形整形回路、１０６…絶対値差分演算回路、１０
８，１１４，１１６…比較器、１１０，１１２…差動増
幅器。
Claims (1)
- 【請求項１】走査光を被照射対象に照射する共に、所定
の位置に設けられた光検出手段に前記走査光が入射する
時点を同期して前記被照射対象に対する情報の記録又は
読取りを行う走査光学装置において、 前記光検出手段の受光面に設けられた複数の受光部と、 前記走査光の前記受光面への入射位置に応じて前記各受
光部から出力される各受光信号の相互間の差分を演算す
る差分演算手段と、 前記差分演算手段の差分出力を所定のしきい値に基づい
て比較することにより、前記走査光の前記受光面への入
射位置のずれの有無を判定する判定手段と、を具備する
ことを特徴とする走査光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7769596A JPH09269458A (ja) | 1996-03-29 | 1996-03-29 | 走査光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7769596A JPH09269458A (ja) | 1996-03-29 | 1996-03-29 | 走査光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09269458A true JPH09269458A (ja) | 1997-10-14 |
Family
ID=13641036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7769596A Pending JPH09269458A (ja) | 1996-03-29 | 1996-03-29 | 走査光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09269458A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1319366C (zh) * | 2003-10-16 | 2007-05-30 | 夏普株式会社 | 光束检测装置及印刷设备 |
-
1996
- 1996-03-29 JP JP7769596A patent/JPH09269458A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1319366C (zh) * | 2003-10-16 | 2007-05-30 | 夏普株式会社 | 光束检测装置及印刷设备 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040901 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20040913 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
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| A02 | Decision of refusal |
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