JPH0926319A - アライメント測定における基準セオドライトの設定方法 - Google Patents
アライメント測定における基準セオドライトの設定方法Info
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- JPH0926319A JPH0926319A JP17458895A JP17458895A JPH0926319A JP H0926319 A JPH0926319 A JP H0926319A JP 17458895 A JP17458895 A JP 17458895A JP 17458895 A JP17458895 A JP 17458895A JP H0926319 A JPH0926319 A JP H0926319A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定誤差をコリメーション機能による再現誤
差にするとともに、２回の測定でセオドライトをアライ
メント測定基準位置に移設可能とし、セオドライトのア
ライメント測定基準位置への移設時間を短縮する。 【構成】 ロータリテーブル２に載置する被測定物の回
転中心上に設置された球面ミラー治具３をセオドライト
４ａでコリメートし、Ａｚ角αを測定する。球面ミラー
治具３を任意にコリメートできる位置まで移動させたセ
オドライト４ｂで球面ミラー治具３をコリメートし、Ａ
ｚ角βを測定する。セオドライト４ａからセオドライト
４ｂの位置までの移設距離ＬとＡｚ角α，βとに基づい
てアライメント測定基準位置４ｃまでの移動距離Ｓを算
出し、セオドライト４ｂを移動距離Ｓだけ移動する。
差にするとともに、２回の測定でセオドライトをアライ
メント測定基準位置に移設可能とし、セオドライトのア
ライメント測定基準位置への移設時間を短縮する。 【構成】 ロータリテーブル２に載置する被測定物の回
転中心上に設置された球面ミラー治具３をセオドライト
４ａでコリメートし、Ａｚ角αを測定する。球面ミラー
治具３を任意にコリメートできる位置まで移動させたセ
オドライト４ｂで球面ミラー治具３をコリメートし、Ａ
ｚ角βを測定する。セオドライト４ａからセオドライト
４ｂの位置までの移設距離ＬとＡｚ角α，βとに基づい
てアライメント測定基準位置４ｃまでの移動距離Ｓを算
出し、セオドライト４ｂを移動距離Ｓだけ移動する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はアライメント測定におけ
る基準セオドライトの設定方法に関し、特に人工衛星の
アライメント測定基準位置へのセオドライトの設置方法
に関する。
る基準セオドライトの設定方法に関し、特に人工衛星の
アライメント測定基準位置へのセオドライトの設置方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のセオドライトの設置方法
では、図６に示すように、定盤１上に被測定物を載置し
て回転するためのロータリテーブル２を設置し、このロ
ータリテーブル２の回転中心上の鋭角先端部７を測定す
るためのセオドライト４ｄを水平テーブル６上のツーリ
ングバー５に取付ける。
では、図６に示すように、定盤１上に被測定物を載置し
て回転するためのロータリテーブル２を設置し、このロ
ータリテーブル２の回転中心上の鋭角先端部７を測定す
るためのセオドライト４ｄを水平テーブル６上のツーリ
ングバー５に取付ける。
【０００３】このセオドライト４ｄの鉛直軸４２に対し
て直交する面上に水平テーブル６の長軸（以下、水平テ
ーブル軸とする）６ａに平行な方向にセオドライト４ｄ
を指向し、その指向軸をＸ軸４１とする。このとき、セ
オドライト４ｄの水平分度盤における指向方向の角度
（以下、Ａｚ角とする）を０°にリセットする。
て直交する面上に水平テーブル６の長軸（以下、水平テ
ーブル軸とする）６ａに平行な方向にセオドライト４ｄ
を指向し、その指向軸をＸ軸４１とする。このとき、セ
オドライト４ｄの水平分度盤における指向方向の角度
（以下、Ａｚ角とする）を０°にリセットする。
【０００４】その後、Ａｚ角が９０°となるようにセオ
ドライト４ｄを指向し、セオドライト４ｄの指向軸４５
を水平テーブル軸６ａに直交させる。この状態で、水平
テーブル６上においてセオドライト４ｄを移動させ、指
向軸４５が鋭角先端部７の先端部分（中心軸）と交差す
るアライメント測定基準位置４ｃにセオドライト４ｄを
移設する。
ドライト４ｄを指向し、セオドライト４ｄの指向軸４５
を水平テーブル軸６ａに直交させる。この状態で、水平
テーブル６上においてセオドライト４ｄを移動させ、指
向軸４５が鋭角先端部７の先端部分（中心軸）と交差す
るアライメント測定基準位置４ｃにセオドライト４ｄを
移設する。
【０００５】すなわち、図７に示すように、セオドライ
ト４ｄの接眼レンズ内の指向軸４５が鋭角先端部７の先
端部分（中心軸）に合致するように、水平テーブル６上
でセオドライト４ｄを移動させて微調整を繰返し、セオ
ドライト４ｄをアライメント測定基準位置４ｃに移設す
る。
ト４ｄの接眼レンズ内の指向軸４５が鋭角先端部７の先
端部分（中心軸）に合致するように、水平テーブル６上
でセオドライト４ｄを移動させて微調整を繰返し、セオ
ドライト４ｄをアライメント測定基準位置４ｃに移設す
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のアライ
メント測定基準位置へのセオドライトの設置方法では、
セオドライトの接眼レンズ内の指向軸（水平テーブル軸
に直交する軸）がロータリテーブル上の鋭角先端部の先
端部分（中心軸）に合致するように、水平テーブル上で
セオドライトを移動させて微調整を繰返すことで、セオ
ドライトをアライメント測定基準位置に移設している。
メント測定基準位置へのセオドライトの設置方法では、
セオドライトの接眼レンズ内の指向軸（水平テーブル軸
に直交する軸）がロータリテーブル上の鋭角先端部の先
端部分（中心軸）に合致するように、水平テーブル上で
セオドライトを移動させて微調整を繰返すことで、セオ
ドライトをアライメント測定基準位置に移設している。
【０００７】しかしながら、セオドライトの視準機能は
２０倍程度の拡大率であることから±１５″程度の再現
誤差を有しているため、この機能を用いて鋭角先端部を
視準すると、任意に設定された様々な視準距離の影響に
よって鋭角先端部が変倍され、視準ポイントの見極めに
バラツキが生じてしまう。
２０倍程度の拡大率であることから±１５″程度の再現
誤差を有しているため、この機能を用いて鋭角先端部を
視準すると、任意に設定された様々な視準距離の影響に
よって鋭角先端部が変倍され、視準ポイントの見極めに
バラツキが生じてしまう。
【０００８】そのバラツキを極力最小にするために、微
調整を繰返し行わなければならず、セオドライトのアラ
イメント測定基準位置への移設に時間がかかってしま
う。同時に、微調整を繰返す毎に鋭角先端部の測定を行
わなければならず、測定回数が不確定となる。
調整を繰返し行わなければならず、セオドライトのアラ
イメント測定基準位置への移設に時間がかかってしま
う。同時に、微調整を繰返す毎に鋭角先端部の測定を行
わなければならず、測定回数が不確定となる。
【０００９】また、上記のセオドライトの視準機能にお
ける±１５″程度の再現誤差は、後々継続して行われる
コリメーション機能による再現誤差（＝±４″）に比し
て大きな誤差の発生要因となっている。
ける±１５″程度の再現誤差は、後々継続して行われる
コリメーション機能による再現誤差（＝±４″）に比し
て大きな誤差の発生要因となっている。
【００１０】そこで、本発明の目的は上記の問題点を解
消し、測定誤差をコリメーション機能による再現誤差と
することができるとともに、２回の測定でセオドライト
をアライメント測定基準位置に移設することができ、セ
オドライトのアライメント測定基準位置への移設時間を
短縮することができるアライメント測定における基準セ
オドライトの設定方法を提供することにある。
消し、測定誤差をコリメーション機能による再現誤差と
することができるとともに、２回の測定でセオドライト
をアライメント測定基準位置に移設することができ、セ
オドライトのアライメント測定基準位置への移設時間を
短縮することができるアライメント測定における基準セ
オドライトの設定方法を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明によるアライメン
ト測定における基準セオドライトの設定方法は、被測定
物の回転中心に球面反射物体を取付ける第１の工程と、
予め設定された所定位置にコリメーション機能をもつセ
オドライトを設置する第２の工程と、前記所定位置に設
置されたセオドライトで前記球面反射物体をコリメート
して前記セオドライトと前記球面反射物体とを結ぶ線分
の予め設定された基準軸に対する角度を測定する第３の
工程と、前記セオドライトを前記所定位置から予め設定
された一定距離だけ移動させる第４の工程と、移動させ
た前記セオドライトで前記球面反射物体をコリメートし
て前記セオドライトと前記球面反射物体とを結ぶ線分の
前記基準軸に対する角度を測定する第５の工程と、前記
第３及び第５の工程で夫々測定された角度と前記一定距
離とに基づいて前記セオドライトと前記球面反射物体と
を結ぶ線分及び前記基準軸が直交する基準位置までの移
動距離を算出する第６の工程と、算出された前記基準位
置に前記セオドライトを移動する第７の工程とを備えて
いる。
ト測定における基準セオドライトの設定方法は、被測定
物の回転中心に球面反射物体を取付ける第１の工程と、
予め設定された所定位置にコリメーション機能をもつセ
オドライトを設置する第２の工程と、前記所定位置に設
置されたセオドライトで前記球面反射物体をコリメート
して前記セオドライトと前記球面反射物体とを結ぶ線分
の予め設定された基準軸に対する角度を測定する第３の
工程と、前記セオドライトを前記所定位置から予め設定
された一定距離だけ移動させる第４の工程と、移動させ
た前記セオドライトで前記球面反射物体をコリメートし
て前記セオドライトと前記球面反射物体とを結ぶ線分の
前記基準軸に対する角度を測定する第５の工程と、前記
第３及び第５の工程で夫々測定された角度と前記一定距
離とに基づいて前記セオドライトと前記球面反射物体と
を結ぶ線分及び前記基準軸が直交する基準位置までの移
動距離を算出する第６の工程と、算出された前記基準位
置に前記セオドライトを移動する第７の工程とを備えて
いる。
【００１２】本発明による他のアライメント測定におけ
る基準セオドライトの設定方法は、被測定物の回転中心
に球面反射物体を取付ける第１の工程と、予め設置され
た水平テーブルの所定位置にコリメーション機能をもつ
セオドライトを設置する第２の工程と、前記所定位置に
設置されたセオドライトで前記球面反射物体をコリメー
トして予め設定されかつ前記水平テーブルに平行な基準
軸に対する前記セオドライトと前記球面反射物体とを結
ぶ線分の角度を測定する第３の工程と、前記セオドライ
トを前記所定位置から予め設定された一定距離だけ前記
水平テーブル上を移動させる第４の工程と、移動させた
前記セオドライトで前記球面反射物体をコリメートして
前記基準軸に対する前記セオドライトと前記球面反射物
体とを結ぶ線分の角度を測定する第５の工程と、前記第
３及び第５の工程で夫々測定された角度と前記一定距離
とに基づいて前記セオドライトと前記球面反射物体とを
結ぶ線分及び前記基準軸が直交する基準位置までの移動
距離を算出する第６の工程と、算出された前記基準位置
に前記セオドライトを移動する第７の工程とを備えてい
る。
る基準セオドライトの設定方法は、被測定物の回転中心
に球面反射物体を取付ける第１の工程と、予め設置され
た水平テーブルの所定位置にコリメーション機能をもつ
セオドライトを設置する第２の工程と、前記所定位置に
設置されたセオドライトで前記球面反射物体をコリメー
トして予め設定されかつ前記水平テーブルに平行な基準
軸に対する前記セオドライトと前記球面反射物体とを結
ぶ線分の角度を測定する第３の工程と、前記セオドライ
トを前記所定位置から予め設定された一定距離だけ前記
水平テーブル上を移動させる第４の工程と、移動させた
前記セオドライトで前記球面反射物体をコリメートして
前記基準軸に対する前記セオドライトと前記球面反射物
体とを結ぶ線分の角度を測定する第５の工程と、前記第
３及び第５の工程で夫々測定された角度と前記一定距離
とに基づいて前記セオドライトと前記球面反射物体とを
結ぶ線分及び前記基準軸が直交する基準位置までの移動
距離を算出する第６の工程と、算出された前記基準位置
に前記セオドライトを移動する第７の工程とを備えてい
る。
【００１３】
【作用】ロータリテーブルに載置する被測定物の回転中
心に球面ミラー治具を取付け、任意に設置されたセオド
ライトで球面ミラー治具をコリメートしてＡｚ角α及び
水平スライド値（Ｘ座標値）Ｐを測定してからそのセオ
ドライトを一定距離Ｌだけ移動させ、移動させたセオド
ライトで球面ミラー治具をコリメートしてＡｚ角β及び
水平スライド値（Ｘ座標値）Ｑを測定する。
心に球面ミラー治具を取付け、任意に設置されたセオド
ライトで球面ミラー治具をコリメートしてＡｚ角α及び
水平スライド値（Ｘ座標値）Ｐを測定してからそのセオ
ドライトを一定距離Ｌだけ移動させ、移動させたセオド
ライトで球面ミラー治具をコリメートしてＡｚ角β及び
水平スライド値（Ｘ座標値）Ｑを測定する。
【００１４】これらＡｚ角αとＡｚ角βと移設距離（一
定距離）Ｌ（＝｜Ｐ−Ｑ｜）とに基づいてアライメント
測定基準位置までの移動距離を算出し、算出された移動
距離だけセオドライトを移動する。
定距離）Ｌ（＝｜Ｐ−Ｑ｜）とに基づいてアライメント
測定基準位置までの移動距離を算出し、算出された移動
距離だけセオドライトを移動する。
【００１５】これによって、セオドライトによる球面ミ
ラー治具のコリメートでアライメント測定基準位置にセ
オドライトを設定することが可能となる。よって、セオ
ドライトの接眼レンズ内の指向軸がロータリテーブル上
の鋭角先端部の先端部分に合致するように水平テーブル
上でセオドライトを移動させる必要がなくなるので、任
意に設定された様々な視準距離の影響によって鋭角先端
部が変倍されたり、視準ポイントの見極めにバラツキが
生じることがなくなる。
ラー治具のコリメートでアライメント測定基準位置にセ
オドライトを設定することが可能となる。よって、セオ
ドライトの接眼レンズ内の指向軸がロータリテーブル上
の鋭角先端部の先端部分に合致するように水平テーブル
上でセオドライトを移動させる必要がなくなるので、任
意に設定された様々な視準距離の影響によって鋭角先端
部が変倍されたり、視準ポイントの見極めにバラツキが
生じることがなくなる。
【００１６】また、そのバラツキを極力最小にするため
の微調整が不要となり、セオドライトのアライメント測
定基準位置への移設時間を短縮することが可能となる。
したがって、測定誤差をコリメーション機能による再現
誤差とすることが可能になるとともに、２回の測定でセ
オドライトをアライメント測定基準位置に移設すること
が可能となり、セオドライトのアライメント測定基準位
置への移設時間を短縮することが可能となる。
の微調整が不要となり、セオドライトのアライメント測
定基準位置への移設時間を短縮することが可能となる。
したがって、測定誤差をコリメーション機能による再現
誤差とすることが可能になるとともに、２回の測定でセ
オドライトをアライメント測定基準位置に移設すること
が可能となり、セオドライトのアライメント測定基準位
置への移設時間を短縮することが可能となる。
【００１７】
【実施例】次に、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。
して説明する。
【００１８】図１は本発明の一実施例によるアライメン
ト測定における基準セオドライトの設定方法を示すフロ
ーチャートであり、図２〜図５は本発明の一実施例によ
るアライメント測定における基準セオドライトの設定方
法を説明するための図である。これら図１〜図５を用い
て本発明の一実施例によるアライメント測定における基
準セオドライトの設定方法について説明する。
ト測定における基準セオドライトの設定方法を示すフロ
ーチャートであり、図２〜図５は本発明の一実施例によ
るアライメント測定における基準セオドライトの設定方
法を説明するための図である。これら図１〜図５を用い
て本発明の一実施例によるアライメント測定における基
準セオドライトの設定方法について説明する。
【００１９】まず、定盤１上に被測定物を載置して回転
するためのロータリテーブル２を設置し、セオドライト
４ａを水平テーブル６上のツーリングバー５に取付ける
（図１ステップＳ１）。その状態で、ロータリテーブル
２に載置する被測定物（図示せず）の回転中心上に球面
ミラー治具３を設置する（図１ステップＳ２）（図２参
照）。
するためのロータリテーブル２を設置し、セオドライト
４ａを水平テーブル６上のツーリングバー５に取付ける
（図１ステップＳ１）。その状態で、ロータリテーブル
２に載置する被測定物（図示せず）の回転中心上に球面
ミラー治具３を設置する（図１ステップＳ２）（図２参
照）。
【００２０】このセオドライト４ａの鉛直軸４２に対し
て直交する面上に水平テーブル６の長軸（以下、水平テ
ーブル軸とする）６ａに平行な方向にセオドライト４ａ
を指向し、その指向軸をＸ軸４１とする。このとき、セ
オドライト４ｄの水平分度盤における指向方向の角度
（以下、Ａｚ角とする）を０°にリセットする（図１ス
テップＳ３）。
て直交する面上に水平テーブル６の長軸（以下、水平テ
ーブル軸とする）６ａに平行な方向にセオドライト４ａ
を指向し、その指向軸をＸ軸４１とする。このとき、セ
オドライト４ｄの水平分度盤における指向方向の角度
（以下、Ａｚ角とする）を０°にリセットする（図１ス
テップＳ３）。
【００２１】この後に、セオドライト４ａで球面ミラー
治具３をコリメートし、セオドライト４ａから球面ミラ
ー治具３方向へのＡｚ角α及び水平スライド値（セオド
ライト４ａのＸ座標値）Ｐを測定する（図１ステップＳ
４）。
治具３をコリメートし、セオドライト４ａから球面ミラ
ー治具３方向へのＡｚ角α及び水平スライド値（セオド
ライト４ａのＸ座標値）Ｐを測定する（図１ステップＳ
４）。
【００２２】ここで、セオドライト４ａによる球面ミラ
ー治具３のコリメートは次のようにして行われる。すな
わち、セオドライト４ａの望遠鏡を無限遠に合焦させ、
この望遠鏡で球面ミラー治具３を視準する。
ー治具３のコリメートは次のようにして行われる。すな
わち、セオドライト４ａの望遠鏡を無限遠に合焦させ、
この望遠鏡で球面ミラー治具３を視準する。
【００２３】望遠鏡で球面ミラー治具３を視準した後
に、セオドライト４ａからレティクル（十字線）像Ａを
形成する平行光線を発光すると、その平行光線が球面ミ
ラー治具３で反射して戻ってくる。このとき、望遠鏡の
接眼レンズ内でレティクル像Ａと反射レティクル像Ｂと
が合致するようにセオドライト４ａを球面ミラー治具３
に指向する（図３参照）。
に、セオドライト４ａからレティクル（十字線）像Ａを
形成する平行光線を発光すると、その平行光線が球面ミ
ラー治具３で反射して戻ってくる。このとき、望遠鏡の
接眼レンズ内でレティクル像Ａと反射レティクル像Ｂと
が合致するようにセオドライト４ａを球面ミラー治具３
に指向する（図３参照）。
【００２４】これらレティクル像Ａと反射レティクル像
Ｂとが合致した時のセオドライト４ａから球面ミラー治
具３方向へのＡｚ角α及び水平スライド値Ｐを測定する
のである。
Ｂとが合致した時のセオドライト４ａから球面ミラー治
具３方向へのＡｚ角α及び水平スライド値Ｐを測定する
のである。
【００２５】続いて、セオドライト４ａで球面ミラー治
具３を任意にコリメートできる位置（セオドライト４ｂ
の位置）まで、水平テーブル６上でセオドライト４ａを
移動させる（図１ステップＳ５）。
具３を任意にコリメートできる位置（セオドライト４ｂ
の位置）まで、水平テーブル６上でセオドライト４ａを
移動させる（図１ステップＳ５）。
【００２６】その位置において、セオドライト４ｂで球
面ミラー治具３をコリメートし、セオドライト４ｂから
球面ミラー治具３方向へのＡｚ角β及び水平スライド値
（セオドライト４ｂのＸ座標値）Ｑを測定する（図１ス
テップＳ６）。
面ミラー治具３をコリメートし、セオドライト４ｂから
球面ミラー治具３方向へのＡｚ角β及び水平スライド値
（セオドライト４ｂのＸ座標値）Ｑを測定する（図１ス
テップＳ６）。
【００２７】そして、セオドライト４ａからセオドライ
ト４ｂの位置までのＸ軸４１上での移設距離Ｌ（＝｜Ｐ
−Ｑ｜）（ｍｍ）を算出する（図１ステップＳ７）。こ
の状態で、セオドライト４ａのコリメートライン４３と
セオドライト４ｂのコリメートライン４４とは球面ミラ
ー治具３の球中心で交差することとなる。
ト４ｂの位置までのＸ軸４１上での移設距離Ｌ（＝｜Ｐ
−Ｑ｜）（ｍｍ）を算出する（図１ステップＳ７）。こ
の状態で、セオドライト４ａのコリメートライン４３と
セオドライト４ｂのコリメートライン４４とは球面ミラ
ー治具３の球中心で交差することとなる。
【００２８】上記のセオドライト４ａ及びセオドライト
４ｂによる球面ミラー治具３のコリメートで測定及び算
出されたＡｚ角α，βと移設距離Ｌとに基づいてアライ
メント測定基準位置４ｃまでの移動距離Ｓを、 Ｓ＝Ｌ・ｔａｎα／（ｔａｎβ−ｔａｎα） ……（１） Ｓ＝−Ｌ・ｔａｎα／（ｔａｎβ−ｔａｎα） ……（２） という式から算出する（図１ステップＳ８）。ここで、
（１）式はＡｚ角α＞Ａｚ角βの場合に用いる式であ
り、（２）式はＡｚ角α＜Ａｚ角βの場合に用いる式で
ある。
４ｂによる球面ミラー治具３のコリメートで測定及び算
出されたＡｚ角α，βと移設距離Ｌとに基づいてアライ
メント測定基準位置４ｃまでの移動距離Ｓを、 Ｓ＝Ｌ・ｔａｎα／（ｔａｎβ−ｔａｎα） ……（１） Ｓ＝−Ｌ・ｔａｎα／（ｔａｎβ−ｔａｎα） ……（２） という式から算出する（図１ステップＳ８）。ここで、
（１）式はＡｚ角α＞Ａｚ角βの場合に用いる式であ
り、（２）式はＡｚ角α＜Ａｚ角βの場合に用いる式で
ある。
【００２９】最後に、セオドライト４ｂを上記の（１）
式または（２）式から算出された移動距離Ｓだけ移動す
ることで、アライメント測定基準位置４ｃへのセオドラ
イトの設置が完了する（図１ステップＳ９）（図４及び
図５参照）。
式または（２）式から算出された移動距離Ｓだけ移動す
ることで、アライメント測定基準位置４ｃへのセオドラ
イトの設置が完了する（図１ステップＳ９）（図４及び
図５参照）。
【００３０】ここで、図４及び図５においては、Ａｚ角
α＜Ａｚ角βの場合なので、（２）式から算出された移
動距離Ｓだけセオドライト４ｂを移動することで、つま
りセオドライト４ｂをセオドライト４ａ方向に移動距離
Ｓだけ戻すことで、アライメント測定基準位置４ｃへの
セオドライトの設置が完了する。
α＜Ａｚ角βの場合なので、（２）式から算出された移
動距離Ｓだけセオドライト４ｂを移動することで、つま
りセオドライト４ｂをセオドライト４ａ方向に移動距離
Ｓだけ戻すことで、アライメント測定基準位置４ｃへの
セオドライトの設置が完了する。
【００３１】このように、ロータリテーブル２に載置す
る被測定物の回転中心に球面ミラー治具３を取付け、任
意に設置されたセオドライト４ａで球面ミラー治具３を
コリメートしてＡｚ角α及び水平スライド値Ｐを測定し
てからセオドライト４ａを一定距離Ｌだけ移動させ、移
動させたセオドライト４ｂで球面ミラー治具３をコリメ
ートしてＡｚ角β及び水平スライド値Ｑを測定し、これ
らＡｚ角αとＡｚ角βと移設距離（一定距離）Ｌ（＝｜
Ｐ−Ｑ｜）とに基づいてアライメント測定基準位置４ｃ
までの移動距離Ｓを算出し、算出された移動距離Ｓだけ
セオドライト４ｂを移動することによって、セオドライ
ト４ａ及びセオドライト４ｂによる球面ミラー治具３の
コリメートでアライメント測定基準位置４ｃにセオドラ
イトを設定することができる。
る被測定物の回転中心に球面ミラー治具３を取付け、任
意に設置されたセオドライト４ａで球面ミラー治具３を
コリメートしてＡｚ角α及び水平スライド値Ｐを測定し
てからセオドライト４ａを一定距離Ｌだけ移動させ、移
動させたセオドライト４ｂで球面ミラー治具３をコリメ
ートしてＡｚ角β及び水平スライド値Ｑを測定し、これ
らＡｚ角αとＡｚ角βと移設距離（一定距離）Ｌ（＝｜
Ｐ−Ｑ｜）とに基づいてアライメント測定基準位置４ｃ
までの移動距離Ｓを算出し、算出された移動距離Ｓだけ
セオドライト４ｂを移動することによって、セオドライ
ト４ａ及びセオドライト４ｂによる球面ミラー治具３の
コリメートでアライメント測定基準位置４ｃにセオドラ
イトを設定することができる。
【００３２】よって、セオドライトの接眼レンズ内の指
向軸がロータリテーブル上の鋭角先端部の先端部分に合
致するように水平テーブル上でセオドライトを移動させ
る必要がなくなるので、任意に設定された様々な視準距
離の影響によって鋭角先端部が変倍されたり、視準ポイ
ントの見極めにバラツキが生じることがなくなる。
向軸がロータリテーブル上の鋭角先端部の先端部分に合
致するように水平テーブル上でセオドライトを移動させ
る必要がなくなるので、任意に設定された様々な視準距
離の影響によって鋭角先端部が変倍されたり、視準ポイ
ントの見極めにバラツキが生じることがなくなる。
【００３３】また、そのバラツキを極力最小にするため
の微調整が不要となり、セオドライトのアライメント測
定基準位置４ｃへの移設時間を短縮することができる。
したがって、測定誤差をコリメーション機能による再現
誤差とすることができるとともに、２回の測定でセオド
ライトをアライメント測定基準位置４ｃに移設すること
ができ、セオドライトのアライメント測定基準位置４ｃ
への移設時間を短縮することができる。
の微調整が不要となり、セオドライトのアライメント測
定基準位置４ｃへの移設時間を短縮することができる。
したがって、測定誤差をコリメーション機能による再現
誤差とすることができるとともに、２回の測定でセオド
ライトをアライメント測定基準位置４ｃに移設すること
ができ、セオドライトのアライメント測定基準位置４ｃ
への移設時間を短縮することができる。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、被
測定物の回転中心に球面反射物体を取付け、予め設定さ
れた所定位置に設置されたセオドライトで球面反射物体
をコリメートしてセオドライトと球面反射物体とを結ぶ
線分の予め設定された基準軸に対する角度を測定すると
ともに、所定位置から予め設定された一定距離だけ移動
させたセオドライトで球面反射物体をコリメートしてセ
オドライトと球面反射物体とを結ぶ線分の基準軸に対す
る角度を測定し、これら測定された角度と一定距離とに
基づいて算出されかつセオドライトと球面反射物体とを
結ぶ線分及び基準軸が直交する基準位置までの移動距離
だけセオドライトを移動することによって、測定誤差を
コリメーション機能による再現誤差とすることができる
とともに、２回の測定でセオドライトをアライメント測
定基準位置に移設することができ、セオドライトのアラ
イメント測定基準位置への移設時間を短縮することがで
きるという効果がある。
測定物の回転中心に球面反射物体を取付け、予め設定さ
れた所定位置に設置されたセオドライトで球面反射物体
をコリメートしてセオドライトと球面反射物体とを結ぶ
線分の予め設定された基準軸に対する角度を測定すると
ともに、所定位置から予め設定された一定距離だけ移動
させたセオドライトで球面反射物体をコリメートしてセ
オドライトと球面反射物体とを結ぶ線分の基準軸に対す
る角度を測定し、これら測定された角度と一定距離とに
基づいて算出されかつセオドライトと球面反射物体とを
結ぶ線分及び基準軸が直交する基準位置までの移動距離
だけセオドライトを移動することによって、測定誤差を
コリメーション機能による再現誤差とすることができる
とともに、２回の測定でセオドライトをアライメント測
定基準位置に移設することができ、セオドライトのアラ
イメント測定基準位置への移設時間を短縮することがで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例によるアライメント測定にお
ける基準セオドライトの設定方法を示すフローチャート
である。
ける基準セオドライトの設定方法を示すフローチャート
である。
【図２】本発明の一実施例によるアライメント測定にお
ける基準セオドライトの設定方法を説明するための図で
ある。
ける基準セオドライトの設定方法を説明するための図で
ある。
【図３】本発明の一実施例によるアライメント測定にお
ける基準セオドライトの設定方法を説明するための図で
ある。
ける基準セオドライトの設定方法を説明するための図で
ある。
【図４】本発明の一実施例によるアライメント測定にお
ける基準セオドライトの設定方法を説明するための図で
ある。
ける基準セオドライトの設定方法を説明するための図で
ある。
【図５】本発明の一実施例によるアライメント測定にお
ける基準セオドライトの設定方法を説明するための図で
ある。
ける基準セオドライトの設定方法を説明するための図で
ある。
【図６】従来例によるアライメント測定における基準セ
オドライトの設定方法を説明するための図である。
オドライトの設定方法を説明するための図である。
【図７】従来例によるアライメント測定における基準セ
オドライトの設定方法を説明するための図である。
オドライトの設定方法を説明するための図である。
２ ターンテーブル ３ 球面ミラー治具 ４ａ，４ｂ セオドライト ４ｃ アライメント測定基準位置 ６ 水平テーブル ４３，４４ コリメートライン
Claims (4)
- 【請求項１】 被測定物の回転中心に球面反射物体を取
付ける第１の工程と、予め設定された所定位置にコリメ
ーション機能をもつセオドライトを設置する第２の工程
と、前記所定位置に設置されたセオドライトで前記球面
反射物体をコリメートして前記セオドライトと前記球面
反射物体とを結ぶ線分の予め設定された基準軸に対する
角度を測定する第３の工程と、前記セオドライトを前記
所定位置から予め設定された一定距離だけ移動させる第
４の工程と、移動させた前記セオドライトで前記球面反
射物体をコリメートして前記セオドライトと前記球面反
射物体とを結ぶ線分の前記基準軸に対する角度を測定す
る第５の工程と、前記第３及び第５の工程で夫々測定さ
れた角度と前記一定距離とに基づいて前記セオドライト
と前記球面反射物体とを結ぶ線分及び前記基準軸が直交
する基準位置までの移動距離を算出する第６の工程と、
算出された前記基準位置までの移動距離だけ前記セオド
ライトを移動する第７の工程とを有することを特徴とす
るアライメント測定における基準セオドライトの設定方
法。 - 【請求項２】 前記第６の工程は、前記第３の工程で測
定された角度αが前記第５の工程で測定された角度βよ
り大きい場合に前記第３の工程で測定された角度αと前
記第５の工程で測定された角度βと前記一定距離Ｌとに
基づいて前記基準位置までの移動距離Ｓを、 Ｓ＝Ｌ・ｔａｎα／（ｔａｎβ−ｔａｎα） という式から算出し、かつ前記第５の工程で測定された
角度βが前記第３の工程で測定された角度αより大きい
場合に前記移動距離Ｓを、 Ｓ＝−Ｌ・ｔａｎα／（ｔａｎβ−ｔａｎα） という式から算出するよう構成したことを特徴とする請
求項１記載のアライメント測定における基準セオドライ
トの設定方法。 - 【請求項３】 被測定物の回転中心に球面反射物体を取
付ける第１の工程と、予め設置された水平テーブルの所
定位置にコリメーション機能をもつセオドライトを設置
する第２の工程と、前記所定位置に設置されたセオドラ
イトで前記球面反射物体をコリメートして予め設定され
かつ前記水平テーブルに平行な基準軸に対する前記セオ
ドライトと前記球面反射物体とを結ぶ線分の角度を測定
する第３の工程と、前記セオドライトを前記所定位置か
ら予め設定された一定距離だけ前記水平テーブル上を移
動させる第４の工程と、移動させた前記セオドライトで
前記球面反射物体をコリメートして前記基準軸に対する
前記セオドライトと前記球面反射物体とを結ぶ線分の角
度を測定する第５の工程と、前記第３及び第５の工程で
夫々測定された角度と前記一定距離とに基づいて前記セ
オドライトと前記球面反射物体とを結ぶ線分及び前記基
準軸が直交する基準位置までの移動距離を算出する第６
の工程と、算出された前記基準位置までの移動距離だけ
前記セオドライトを移動する第７の工程とを有すること
を特徴とするアライメント測定における基準セオドライ
トの設定方法。 - 【請求項４】 前記第６の工程は、前記第３の工程で測
定された角度αが前記第５の工程で測定された角度βよ
り大きい場合に前記第３の工程で測定された角度αと前
記第５の工程で測定された角度βと前記一定距離Ｌとに
基づいて前記基準位置までの移動距離Ｓを、 Ｓ＝Ｌ・ｔａｎα／（ｔａｎβ−ｔａｎα） という式から算出し、かつ前記第５の工程で測定された
角度βが前記第３の工程で測定された角度αより大きい
場合に前記移動距離Ｓを、 Ｓ＝−Ｌ・ｔａｎα／（ｔａｎβ−ｔａｎα） という式から算出するよう構成したことを特徴とする請
求項３記載のアライメント測定における基準セオドライ
トの設定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17458895A JPH0926319A (ja) | 1995-07-11 | 1995-07-11 | アライメント測定における基準セオドライトの設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17458895A JPH0926319A (ja) | 1995-07-11 | 1995-07-11 | アライメント測定における基準セオドライトの設定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0926319A true JPH0926319A (ja) | 1997-01-28 |
Family
ID=15981192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17458895A Withdrawn JPH0926319A (ja) | 1995-07-11 | 1995-07-11 | アライメント測定における基準セオドライトの設定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0926319A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007500341A (ja) * | 2003-07-28 | 2007-01-11 | ライカ ジオシステムズ アクチェンゲゼルシャフト | 高精度試験体の角度依存アライメントの検査または校正の方法 |
| CN104457688A (zh) * | 2014-11-17 | 2015-03-25 | 北京卫星环境工程研究所 | 卫星上批量设备姿态角度矩阵的高精度自动化测量装置 |
| CN106524992A (zh) * | 2016-12-08 | 2017-03-22 | 上海卫星装备研究所 | 航天器高精度角度测量系统及方法 |
| CN109631826A (zh) * | 2018-12-29 | 2019-04-16 | 航天东方红卫星有限公司 | 一种卫星自动化精度检测方法 |
| CN109798915A (zh) * | 2017-11-16 | 2019-05-24 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种定向准直仪系统的误差标定方法 |
| CN111693070A (zh) * | 2020-06-23 | 2020-09-22 | 安东仪器仪表检测有限公司 | 电子经纬仪自准直误差原位检测方法 |
| CN112284685A (zh) * | 2020-10-29 | 2021-01-29 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种平视显示器光机检验台校准装置及校准方法 |
| CN114235004A (zh) * | 2021-11-16 | 2022-03-25 | 华中光电技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一七研究所） | 一种基于双经纬仪的原子陀螺轴向方位角测量装置及方法 |
-
1995
- 1995-07-11 JP JP17458895A patent/JPH0926319A/ja not_active Withdrawn
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN114235004B (zh) * | 2021-11-16 | 2023-08-08 | 华中光电技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一七研究所） | 一种基于双经纬仪的原子陀螺轴向方位角测量装置及方法 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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