JPH0953938A - アライメント測定方法 - Google Patents

アライメント測定方法

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JPH0953938A
JPH0953938A JP20892695A JP20892695A JPH0953938A JP H0953938 A JPH0953938 A JP H0953938A JP 20892695 A JP20892695 A JP 20892695A JP 20892695 A JP20892695 A JP 20892695A JP H0953938 A JPH0953938 A JP H0953938A
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JP
Japan
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theodolite
tan
spherical mirror
coordinate
respect
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JP20892695A
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English (en)
Inventor
Tomoyasu Sato
友保 佐藤
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NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 セオドライトを用いて特定の視準ポイントの
座標値を測定する際に、セオドライト内部の基準レベル
調整や高所での作業を回避する。 【解決手段】 セオドライト3で球面ミラー治具7をコ
リメーションし、第1のAz角(α1)とEL角(β)
とを測定するとともに、このときのセオドライト3の座
標基準6に対する相対的座標値(X2,Y2)を測定す
る。次に、セオドライト3を平行移動させ、その変位位
置5で球面ミラー治具7をコリメーションして第2のA
z角(α2)と移動距離(L)とを測定する。このように
すると、2カ所からのコリメーションライン8,9が球
面ミラー治具7の中心7cで交差するので、この交差点
の座標値(X’,Y’)、即ち視準ポイント4の座標値
を、各測定値(α1,α2,β,X1,Y2)に基づいて幾
何学的に求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、人工衛星の座標位
置等の確認を行うためのアライメント測定技術に係り、
より具体的には、セオドライトの視準機能によって、視
準ポイントの座標値を測定する方法に関する。ここでい
う視準とは、例えば被測定物である人工衛星を20倍程
度の拡大率でみることをいい、また、視準ポイントと
は、例えば人工衛星をみるための拡大鏡や人工衛星から
の電波を受信するためのフィードホーン、あるいはその
反射器の取付位置をいう。この視準ポイントは、位置は
特定できるが、その二次元座標値が不明なものである。
【0002】
【従来の技術】セオドライトは、自らの発光線を内蔵ミ
ラー等で反射させ、入射光を光源心と一致させることに
よって基準軸からの角度あるいは座標値を測定する装置
であり、その内部に、水平方向の基準軸に対する相対角
であるアジマス角(以下、Az角)、及び垂直方向の基
準軸に対する相対角であるエレメント角(以下、EL
角)等の表示機構を備えている。このセオドライトを用
いて視準ポイントの二次元座標値を測定する従来のアラ
イメント測定方法の概要を図3にしたがって説明する。
【0003】図3を参照すると、従来のアライメント測
定用の装置構成及びその測定要領が示されている。この
種の装置は、水平テーブル1上のツーリングバー2にセ
オドライト3を設置することによって構成される。測定
に際しては、まず、測定系の原点である座標基準6を設
定する。即ち、図示のように、基準軸として、水平テー
ブル1の長手方向をX軸、ツーリングバー2の上下方向
をY軸とおき、このX,Y座標における座標基準6を設
定する。この座標基準6の二次元座標値を(0,0)と
する。
【0004】次に、セオドライト3を視準ポイント4が
視準できる位置5へ変位させる。このときのセオドライ
ト3あるいはその変位位置5からの視準方向は、X軸に
対するY軸回りのAz角7を90°、Y軸に対するX軸
回りのEL角8を90°に維持した状態が要求される。
この要求を満たし、且つ、セオドライト3の変位量を微
調整しながら、視準ポイント4を視準できる位置5を確
保することによって、座標基準6に対する視準ポイント
4の相対的な二次元座標値(X,Y)が測定可能とな
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
アライメント測定方法には、以下のような問題点があっ
た。まず、セオドライト3を変位する際、特にツーリン
グバー2における昇降時には、ツーリングバー2の機構
上、セオドライト3の内部に設定されるAz角やEL角
等の基準レベルを変えてしまうという特性がある。その
ため、位置の微調整の度に常にセオドライト3の基準レ
ベル調整を頻繁に行わなければならないという問題があ
った。また、セオドライト3を視準ポイント4と同一の
高さに設置するために、高所作業を伴う危険があった。
【0006】本発明の課題は、上記問題点に鑑み、セオ
ドライト3の変位の際に、その内部の基準レベル調整や
高所での作業を要さずにアライメントの測定を可能にす
る方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のアライメント方
法は、水平テーブルと、該水平テーブルに垂直に設けら
れたツーリングバーと、該ツーリングバーの所定位置に
配されたセオドライトとを備えたアライメント測定装置
を用い、所定位置に座標基準を設定するとともに、前記
セオドライトを変位させることにより前記座標基準に対
する特定の視準ポイントの相対的座標値を導出するアラ
イメント測定方法において、表面が球面ミラー加工され
た球面ミラー治具を前記視準ポイントに配置し、以下の
段階を経て視準ポイントの相対的座標値を導出する。 (1)前記セオドライトで前記球面ミラー治具をコリメ
ーション(セオドライトからの発光線をミラー面で反射
させ、内蔵ターゲット上で治具画像を一致させること、
以下同じ)して水平方向の基準軸に対する第1の相対角
(α1)と垂直方向の基準軸に対する相対角(β)とを
測定するとともに、このときの該セオドライトの前記座
標基準に対する相対的座標値(X2,Y2)を測定する段
階、 (2)前記セオドライトを水平方向に平行移動させ、変
位位置で前記球面ミラー治具をコリメーションして水平
方向の基準角に対する第2の相対角(α2)と移動距離
(L)とを測定する段階、 (3)各測定値(α1,α2,β,X1,Y2)に基づいて
前記座標基準に対する前記視準ポイントの相対的座標値
を導出する段階。これは、例えば、下記数式に前記測定
値を代入して前記球面ミラー治具の中心座標値(X’,
Y’)を演算する過程を経ることを特徴とする。
【0008】
【数2】α1<α2の場合: X’=X2+L・Tanα2/(Tanα2−Tanα1) α1>α2の場合: X’=−X2+L・Tanα2/(Tanα2−Tanα1) β<90°の場合: Y’=Y2+L・Tanα2/(Cosα2・Tanβ・(Tanα2−Tan
α1)) β>90°の場合 Y’=−Y2−L・Tanα2/(Cosα2・Tanβ・(Tanα2−T
anα1))
【0009】その後、前記視準ポイントと球面ミラー治
具の中心座標値との相対値を加減することによって、求
める視準ポイントの相対的座標値を特定する。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を詳細に説明する。図1は、本発明の一実施形態
に係るアライメント測定法を実現する装置の構成図であ
り、図3の従来装置に対応するものである。なお、従来
装置と同一の構成要素については同一符号を付してあ
る。
【0011】本実施形態においては、球面ミラー治具7
を取付/固定自在に視準ポイント4に配置する。この球
面ミラー治具7は、形状が図2の外観斜視図に示すとお
りであり、表面がミラー加工された球状体7aと、その
台座7bとから成る。
【0012】図1の構成において、水平テーブル1上の
ツーリングバー2に、セオドライト3を設置する構成、
並びに、X,Y座標とその座標基準6の設定要領に関し
ては、従来の方法と同じである。本実施形態の特徴とし
て、ここで、球面ミラー治具7をその中心7cが視準ポ
イント4にくるように配置する。そして、以下の手順に
よりアライメント測定を行う。
【0013】(1)まず、セオドライト3におけるAz
角をX軸へリセットする。 (2)次に、セオドライト3で球面ミラー治具7をコリ
メーションし、第1のAz角(α1)、EL角(β)を
測定する。また、このときのセオドライト3の前記座標
基準6に対する相対的座標値(X2,Y2)を測定する。
これらの測定は、セオドライト3がもつ視準機能を用い
て行うことができる。測定値はセオドライト3の表示機
構により表示される。 (3)その後、セオドライト3を任意に球面ミラー治具
7がコリメーションできる位置5へ平行移動させる。そ
して、その変位位置5で球面ミラー治具7をコリメーシ
ョンし、第2のAz角(α2)を測定する。また、セオ
ドライト3から変位位置5へのX座標上での移動距離
(L)を測定する。これらの測定値もセオドライト3の
表示機構に表示される。
【0014】(4)このようにすると、図1に示すよう
に、2カ所からのコリメーションライン8,9が球面ミ
ラー治具7の中心7cで交差する。従って、この交差点
の座標値を求めれば視準ポイント4の座標値が判る。こ
の交差点の座標値(X’,Y’)は、各測定値(α1,
α2,β,X1,Y2)を次式に代入して幾何学的に求め
ることができる。なお、この座標値(X’,Y’)の演
算は、情報処理装置を用いた自動演算あるいはセオドラ
イト3の表示機構に表示された測定値の手動演算のいず
れであっても良い。
【0015】
【数3】α1<α2の場合: X’=X2+L・Tanα2/(Tanα2−Tanα1) α1>α2の場合: X’=−X2+L・Tanα2/(Tanα2−Tanα1) β<90°の場合: Y’=Y2+L・Tanα2/(Cosα2・Tanβ・(Tanα2−Tan
α1)) β>90°の場合 Y’=−Y2−L・Tanα2/(Cosα2・Tanβ・(Tanα2−T
anα1))
【0016】このように、セオドライト3を任意に2カ
所へ変位させるだけで視準ポイント4の二次元座標値を
求めることができるので、従来のように、セオドライト
3の変位の度に内部の基準レベルを調整する必要がなく
なる。また、球面ミラー治具7のほぼ全面がコリメーシ
ョン可能であることから低位置からの測定が可能にな
り、従来のように視準ポイント4と同一高さにセオドラ
イト3を設置する必要がなく、高所作業を回避すること
ができる。さらに、測定手順自体が単純化されるので、
作業が容易になり、自動化も可能になる。
【0017】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、セオドライトの変位の際に、その内部の基準
レベル調整や高所での作業を要さずにアライメントの測
定を行うことができ、従来の問題点を解消することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態の方法を実現するアライメ
ント測定用装置の構成と測定要領を示す説明図。
【図2】 本実施形態で用い
る球面ミラー治具の外観斜視図。
【図3】従来法を実現するアライメント測定用装置の構
成と測定要領を示す説明図。
【符号の説明】
1 水平テーブル 2 ツーリングバー 3 セオドライト 4 視準ポイント 5 セオドライトの変位位置 6 座標基準 7 球面ミラー治具 7a 球面ミラー治具を構成する球状体 7b 球面ミラー治具を構成する台座 7c 球面ミラー治具(球状体)の中心 8,9 コリメ−ションライン

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 水平テーブルと、該水平テーブルに垂直
    に設けられたツーリングバーと、該ツーリングバーの所
    定位置に配されたセオドライトとを備えたアライメント
    測定装置を用い、所定位置に座標基準を設定するととも
    に、前記セオドライトを変位させることにより前記座標
    基準に対する特定の視準ポイントの相対的座標値を導出
    する方法において、 表面が球面ミラー加工された球面ミラー治具を前記視準
    ポイントに配置し、 前記セオドライトで前記球面ミラー治具をコリメーショ
    ンして水平方向の基準軸に対する第1の相対角(α1)
    と垂直方向の基準軸に対する相対角(β)とを測定する
    とともに、このときの該セオドライトの前記座標基準に
    対する相対的座標値(X2,Y2)を測定する段階と、 前記セオドライトを水平方向に平行移動させ、変位位置
    で前記球面ミラー治具をコリメーションして水平方向の
    基準角に対する第2の相対角(α2)と移動距離(L)と
    を測定する段階と、 各測定値(α1,α2,β,X1,Y2)に基づいて前記座
    標基準に対する前記視準ポイントの相対的座標値を導出
    する段階と、 を有することを特徴とするアライメント測定方法。
  2. 【請求項2】 前記視準ポイントの相対的座標値を導出
    する段階は、下記数式に前記測定値を代入して前記球面
    ミラー治具の中心座標値(X’,Y’)を演算する過程
    を経ることを特徴とする請求項1記載のアライメント測
    定方法。 【数1】α1<α2の場合: X’=X2+L・Tanα2/(Tanα2−Tanα1) α1>α2の場合: X’=−X2+L・Tanα2/(Tanα2−Tanα1) β<90°の場合: Y’=Y2+L・Tanα2/(Cosα2・Tanβ・(Tanα2−Tan
    α1)) β>90°の場合 Y’=−Y2−L・Tanα2/(Cosα2・Tanβ・(Tanα2−T
    anα1))
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108871649A (zh) * 2018-08-14 2018-11-23 坤维(北京)科技有限公司 一种建立基准坐标系的方法
CN114488521A (zh) * 2022-01-04 2022-05-13 中国科学院西安光学精密机械研究所 汇聚折转光路中平面反射镜的空间位姿定位方法

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