CN108871649B - 一种建立基准坐标系的方法 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种建立基准坐标系的方法。该方法包括在标校坐标系的参考面上设置X轴基准线和Y轴基准线，将设置在X轴基准线上的X轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面作为所述基准坐标系的X基准面；将设置在Y轴基准线上的Y轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面作为所述基准坐标系的Y基准面；当Z轴测绘设备的水准器为水平时，将其视窗内的参考线视野形成的平面作为所述基准坐标系的Z基准面。本申请解决了由于标校空间坐标系不统一而造成的标校复杂且准确性不高的技术问题。
Description
技术领域
本申请涉及工业机器人应用领域，具体而言，涉及一种建立基准坐标系的方法。
背景技术
六维力/力矩传感器存在多种结构形式，主要用于同时测量空间三维的力(Fx，Fy，Fz)和力矩(Mx，My，Mz)。伴随着机器人的智能化发展，力控型机器人越来越受到相关企业的关注，因此使用六维力/力矩传感器是不可避免的趋势。
六维力/力矩传感器的输入载荷和输出电压之间存在一定的关系，这种关系就允许机器人上安装的传感器在实际使用过程中，可以根据采集到的电压信号来计算出实际受到的载荷，再通过控制系统进行反馈操作，实现机器人的力控过程。这种关系的确定就需要对六维力/力矩传感器进行标校，从而可以通过相应的解耦算法来进行解耦，获得各个分量的实际载荷与六个输出电压之间的数学转换关系。对六维力/力矩传感器进行标校是传感器投入生产使用前必须进行的一道环节。因此，六维力/力矩传感器标校设备在传感器生产中占有重要的一席。
高精度的六维力/力矩标校坐标系是标校设备的精度和可靠性保障，也就是说，高精度的六维力/力矩传感器需要高精度的标校设备进行保障，而高精度的标校设备又是建立在高精度的六维力/力矩标校坐标系的基础上。目前，市场上形成了不同种类的标校设备和标校方法，不同的标校设备或者方法分别采用各自的标校空间坐标系建立方式，从而基于标校空间坐标系建立六维力/力矩标校坐标系，也就是说，在同一个标校空间使用不同标校设备进行传感器标校时，需要根据每个标校设备建立相应的标校空间坐标系，并根据标校空间坐标系建立六维力/力矩标校坐标系，操作繁琐且复杂。此外，基于每个标校空间坐标系建立标校坐标系时，精确度也有不同的差异，从而在进行传感器标校时，反映的精确度结果则完全不同，前后的测量结果缺少一致性，无法进行结果的比对及校准，降低了传感器校对的精确度和可靠性。
针对现有技术中存在的上述问题，目前尚无有效的解决方案。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种建立基准坐标系的方法，以解决现有技术中标校空间坐标系不统一而造成的标校复杂且准确性不高的问题。
为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种建立基准坐标系的方法，所述基准坐标系用于调整六维力/力矩传感器的标校坐标系。
根据本申请的建立基准坐标系方法包括：
在标校坐标系的第一参考面上设置第一X轴基准线和第一Y轴基准线，在标校坐标系的第二参考面上设置第二X轴基准线，在标校坐标系的第三参考面上设置第二Y轴基准线；
在所述第一X轴基准线上设置X轴测绘设备，将所述X轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一X轴基准线和第二X轴基准线构成的平面重合，并作为所述基准坐标系的X基准面；
在所述第一Y轴基准线上设置Y轴测绘设备，将所述Y轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一Y轴基准线和第二Y轴基准线构成的平面重合，并作为所述基准坐标系的Y基准面；
在所述第一参考面上设置Z轴测绘设备，所述Z轴测绘设备的水准器调整为水平时，将视窗内的参考线视野形成的平面作为所述基准坐标系的Z基准面。
进一步的，在标校坐标系的第一参考面上设置第一X轴基准线和第一Y轴基准线，在标校坐标系的第二参考面上设置第二X轴基准线，在标校坐标系的第三参考面上设置第二Y轴基准线，包括：
根据所述第一参考面的空间中心点确定所述基准坐标系的基准点，在所述第一参考面上设置互相垂直且交汇点为所述基准点的第一辅助线和第二辅助线；
基于设置在所述基准点的测绘设备、所述第一辅助线和所述第二辅助线确定所述第一X轴基准线、第一Y轴基准线、第二X轴基准线和第二Y轴基准线。
进一步的，所述基于设置在所述基准点的测绘设备、所述第一辅助线和所述第二辅助线确定所述第一X轴基准线、第一Y轴基准线、第二X轴基准线和第二Y轴基准线，包括：
调整所述测绘设备，使得所述测绘设备铅垂线方向的激光点与所述基准点对准，所述测绘设备视窗内的参考线与所述第一辅助线平行，将所述参考线作为X轴基准线；在所述第一参考面上设置与所述X轴基准线重合的第一X轴基准线，在所述第二参考面上设置与所述X轴基准线重合的第二X轴基准线；
根据所述测绘设备的读数将所述测绘设备水平旋转90°，使所述测绘设备视窗内的参考线与所述第二辅助线平行，将所述参考线作为Y轴基准线；在所述第一参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第一Y轴基准线，在所述第三参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第二Y轴基准线。
进一步的，在所述第一参考面上设置与所述X轴基准线重合的第一X轴基准线，在所述第二参考面上设置与所述X轴基准线重合的第二X轴基准线，包括：
在所述第一参考面上确定与所述X轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第一X轴基准线；
在所述第二参考面上确定与所述X轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第二X轴基准线。
进一步的，在所述第一参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第一Y轴基准线，在所述第三参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第二Y轴基准线，包括：
在所述第一参考面上确定与所述Y轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第一Y轴基准线；
在所述第三参考面上确定与所述Y轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第二Y轴基准线。
进一步的，将所述X轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一X轴基准线和第二X轴基准线构成的平面重合，包括：
调整所述第一X轴基准线上的X轴测绘设备，使所述X轴测绘设备的铅垂线方向上的激光点对准所述第一X轴基准线，视窗内的参考线与所述第二X轴基准线重合。
进一步的，将所述Y轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一Y轴基准线和第二Y轴基准线构成的平面重合，包括：
调整所述第一Y轴基准线上的Y轴测绘设备，使所述Y轴测绘设备的铅垂线方向上的激光点对准所述第一Y轴基准线，视窗内的参考线与所述第二Y轴基准线重合。
进一步的，根据所述第一参考面的空间中心点确定所述基准坐标系的基准点，包括：选择距离所述空间中心点第一预设距离的点为所述基准点。
进一步的，所述X轴测绘设备和Y轴测绘设备为经纬仪，所述Z轴测绘设备为水准仪。
进一步的，基于所述X轴测绘设备和Y轴测绘设备为经纬仪，所述Z轴测绘设备为水准仪，调整位于所述基准坐标系的标校设备，使得所述标校设备上安装的六维力/力矩传感器的标校坐标系与所述基准坐标系平行。
在本申请实施例中，通过利用经纬仪和水准仪建立标校空间的基准坐标系，可以使各种标校设备基于建立的基准坐标系调整标校设备以建立标校坐标系，大大降低了标校空间坐标系建立的复杂度，消除了标校空间坐标系的差异性，提高了传感器标校的准确性和一致性。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解，使得本申请的其它特征、目的和优点变得更明显。本申请的示意性实施例附图及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1是根据本申请实施例的流程图；
图2是根据本申请实施例的基准点确定示意图；
图3是根据本申请实施例的基准点线确定示意图；以及
图4是根据本申请实施例的基准坐标系示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
在本申请中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本实用新型及其实施例，并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位，或以特定方位进行构造和操作。
并且，上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外，还可能用于表示其他含义，例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解这些术语在本实用新型中的具体含义。
此外，术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”、“套接”应做广义理解。例如，可以是固定连接，可拆卸连接，或整体式构造；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
根据本发明实施例，提供了一种建立基准坐标系方法方法，如图1-4所示，该方法包括：
S102，确定基准坐标系的基准点。
其中，确定所述基准点包括：选择距离空间中心点第一预设距离的点为所述基准点。
如图2所示，标校设备安装在标校空间的地面上，以地面为类似长方形的形状为例，确定安装布置区域的长度和宽度后，根据所述长度和宽度，确定区域的空间中心点1-1、安装布置区域X向中心线1-2和安装布置区域Y向中心线1-3。为防止标校设备安装后着遮挡基准线，可以偏移中心点1-1任意一侧300mm在地面上选择一点作为基准点1-1′，d1和d2为基准点与空间中心点在X向和Y向上的偏移距离量300mm，在确定的基准点1-1′处安装经纬仪，可选的，将经纬仪安装在经纬仪支架上，根据实际环境调整高度，以使经纬仪望远镜目镜环顾四周时没有遮挡。
S104，确定基准坐标系的基准线。
确定基准坐标系的基准线包括：在标校坐标系的第一参考面上设置第一X轴基准线和第一Y轴基准线，在标校坐标系的第二参考面上设置第二X轴基准线，在标校坐标系的第三参考面上设置第二Y轴基准线。
具体的，在所述第一参考面上设置互相垂直且交汇点为所述基准点的第一辅助线和第二辅助线；基于设置在所述基准点的测绘设备、所述第一辅助线和所述第二辅助线确定所述第一X轴基准线、第一Y轴基准线、第二X轴基准线和第二Y轴基准线，包括：调整所述测绘设备，使得所述测绘设备铅垂线方向的激光点与所述基准点对准，所述测绘设备视窗内的参考线与所述第一辅助线平行，将所述参考线作为X轴基准线；在所述第一参考面上设置与所述X轴基准线重合的第一X轴基准线，在所述第二参考面上设置与所述X轴基准线重合的第二X轴基准线；具体的，在所述第一参考面上确定与所述X轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第一X轴基准线；在所述第二参考面上确定与所述X轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第二X轴基准线。根据所述测绘设备的读数将所述测绘设备水平旋转90°，使所述测绘设备视窗内的参考线与所述第二辅助线平行，将所述参考线作为Y轴基准线；在所述第一参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第一Y轴基准线，在所述第三参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第二Y轴基准线，具体的，在所述第一参考面上确定与所述Y轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第一Y轴基准线；在所述第三参考面上确定与所述Y轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第二Y轴基准线。
具体的，如图2-3所示，在地面上确定第一辅助线1-3′和第二辅助线1-2′，其中第一辅助线1-3′和第二辅助线1-2′互相垂直，交汇点为基准点1-1′，其中第一辅助线1-3′和第二辅助线1-2′可以沿着为大致与墙面平行的方向设置。将基准点的经纬仪进行调平，可以通过经纬仪的水准器进行调平，并保证经纬仪铅垂线方向的激光点对准基准点。通过经纬仪的望远镜目镜，沿着第一辅助线1-3′方向进行扫视，确定视窗内的参考线与第一辅助线1-3′平行后，即可锁紧经纬仪水平转动轴，微调水平微动螺旋使经纬仪电子屏幕示数为整数后即可完全锁紧，记录当前读数。经纬仪视窗内参考线的位置即为X轴基准线。在地面上设置多个点，通过已经固定好水平转动轴的经纬仪望远镜目镜来观察点的位置，缓慢调整点的位置与望远镜目镜内的参考线重合，在相邻区域确定多个点后进行连线，从而确定该区域的地面X轴基准线，即确定第一X轴基准线2-2。基于同样的操作，在第二参考面上确定第二X轴基准线2-4，其中第二参考面可以是墙面也可以是作为参考的设备面，在确定X轴基准线时，保证经纬仪不允许任何移动和转动。
在确定完第一X轴基准线2-2和第二X轴基准线2-4后，根据之前记录的经纬仪读数，旋转90°，基于相同的操作，在地面上确定第一Y轴基准线2-3，在第三参考面上确定第二Y轴基准线2-5，其中第二参考面可以是墙面也可以是作为参考的设备面。通过上述操作，即确定好了第一X轴基准线2-2、第二X轴基准线2-4、第一Y轴基准线2-3和第二Y轴基准线2-5，根据确定的上述基准线确定基准线的基准点为2-1。
S106，确定基准坐标系的基准面。
所述确定基准坐标系的基准面，包括在所述第一X轴基准线上设置X轴测绘设备，将所述X轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一X轴基准线和第二X轴基准线构成的平面重合，并作为所述基准坐标系的X基准面；具体的，调整所述第一X轴基准线上的X轴测绘设备，使所述X轴测绘设备的铅垂线方向上的激光点对准所述第一X轴基准线，视窗内的参考线与所述第二X轴基准线重合，确定基准面的基准点为3-2。
在所述第一Y轴基准线上设置Y轴测绘设备，将所述Y轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一Y轴基准线和第二Y轴基准线构成的平面重合，并作为所述基准坐标系的Y基准面；具体的，调整所述第一Y轴基准线上的Y轴测绘设备，使所述Y轴测绘设备的铅垂线方向上的激光点对准所述第一Y轴基准线，视窗内的参考线与所述第二Y轴基准线重合。
在所述第一参考面上设置Z轴测绘设备，所述Z轴测绘设备的水准器调整为水平时，将视窗内的参考线视野形成的平面作为所述基准坐标系的Z基准面。
如图4所示，在地面的第一X轴基准线上3-3安装一台X轴经纬仪3-10及其三脚架，要求调平后的X轴经纬仪，在铅垂线方向上的激光点恰好落在地面的第一X轴基准线3-3上，同时X轴经纬仪3-10望远镜目镜内的参考线与墙面第二X轴基准线3-5重合。X轴经纬仪铅垂线、和经纬仪望远镜目镜内的参考线构成的X基准面，与地面第一X轴基准线和墙面第二X轴基准线共同构成的X基准面3-7重合，X轴经纬仪望远镜目镜内参考线视野均处于X基准面3-7上。同理，在地面第一Y轴基准线3-4上也进行安装一台Y轴经纬仪及其三脚架，在铅垂线方向上的激光点恰好落在地面的第一Y轴基准线3-4上，同时Y轴经纬仪3-11望远镜目镜内的参考线与墙面第二Y轴基准线3-6重合。Y轴经纬仪铅垂线、和经纬仪望远镜目镜内的参考线构成的Y基准面，与地面第一Y轴基准线和墙面第二Y轴基准线共同构成的Y基准面3-8重合，Y轴经纬仪望远镜目镜内参考线视野均处于Y基准面3-8上。
Z基准面采用水准仪建立，在地面上安装一水准仪3-12，将水准仪3-12的水准器调为水平状态，则水准仪3-12参考线视野形成的平面即为与X基准面和Y基准面相垂直的Z基准面3-9。
通过上述方式，建立起基于经纬仪和水准仪的基准坐标系，在对六维力/力矩传感器进行标校时，基于经纬仪和水准仪建立的所述基准坐标系，建立六维力/力矩标校坐标系。
进一步的，本方法还包括：基于所述X轴经纬仪、Y轴经纬仪和水准仪，调整位于所述基准坐标系的标校设备，使得所述标校设备上安装的六维力/力矩传感器的标校坐标系与所述基准坐标系平行。
如图4所示，3-1为标校设备上传感器的坐标系，在在六维力/力矩传感器标校过程中，需要六维力/力矩传感器所处的坐标系与基准坐标系重合或平行，即在上述三个基准面的基础上，建立与基准坐标系平行的六维力/力矩标校坐标系。将六维力/力矩传感器的安装于标校设备上后，需要调整六维力/力矩传感器、标校加载头及牵引钢丝等附件机构，使六维力/力矩传感器自身基体坐标系与已建立的基准坐标系平行，即成功建立该传感器的六维力/力矩标校坐标系。
从以上的描述中，可以看出，本发明实现了如下技术效果：通过利用经纬仪和水准仪建立标校空间的基准坐标系，从而实现无论何种类型位于标校空间的标校设备，都可以利用包括的经纬仪和水准仪基于基准坐标系调整标校设备的各个机构，调整待标校传感器的标校坐标系，减少了操作的复杂度，提高了传感器标校的准确型和可靠性。
需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选的，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种建立基准坐标系的方法，所述基准坐标系用于调整六维力/力矩传感器的标校坐标系，其特征在于，包括：
在标校坐标系的第一参考面上设置第一X轴基准线和第一Y轴基准线，在标校坐标系的第二参考面上设置第二X轴基准线，在标校坐标系的第三参考面上设置第二Y轴基准线；
在所述第一X轴基准线上设置X轴测绘设备，将所述X轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一X轴基准线和第二X轴基准线构成的平面重合，并作为所述基准坐标系的X基准面；
在所述第一Y轴基准线上设置Y轴测绘设备，将所述Y轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一Y轴基准线和第二Y轴基准线构成的平面重合，并作为所述基准坐标系的Y基准面；
在所述第一参考面上设置Z轴测绘设备，所述Z轴测绘设备的水准器调整为水平时，将视窗内的参考线视野形成的平面作为所述基准坐标系的Z基准面。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
在标校坐标系的第一参考面上设置第一X轴基准线和第一Y轴基准线，在标校坐标系的第二参考面上设置第二X轴基准线，在标校坐标系的第三参考面上设置第二Y轴基准线，包括：
根据所述第一参考面的空间中心点确定所述基准坐标系的基准点，在所述第一参考面上设置互相垂直且交汇点为所述基准点的第一辅助线和第二辅助线；
基于设置在所述基准点的测绘设备、所述第一辅助线和所述第二辅助线确定所述第一X轴基准线、第一Y轴基准线、第二X轴基准线和第二Y轴基准线。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，
所述基于设置在所述基准点的测绘设备、所述第一辅助线和所述第二辅助线确定所述第一X轴基准线、第一Y轴基准线、第二X轴基准线和第二Y轴基准线，包括：
调整所述测绘设备，使得所述测绘设备铅垂线方向的激光点与所述基准点对准，所述测绘设备视窗内的参考线与所述第一辅助线平行，将所述参考线作为X轴基准线；在所述第一参考面上设置与所述X轴基准线重合的第一X轴基准线，在所述第二参考面上设置与所述X轴基准线重合的第二X轴基准线；
根据所述测绘设备的读数将所述测绘设备水平旋转90°，使所述测绘设备视窗内的参考线与所述第二辅助线平行，将所述参考线作为Y轴基准线；在所述第一参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第一Y轴基准线，在所述第三参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第二Y轴基准线。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，
在所述第一参考面上设置与所述X轴基准线重合的第一X轴基准线，在所述第二参考面上设置与所述X轴基准线重合的第二X轴基准线，包括：
在所述第一参考面上确定与所述X轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第一X轴基准线；
在所述第二参考面上确定与所述X轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第二X轴基准线。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，
在所述第一参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第一Y轴基准线，在所述第三参考面上设置与所述Y轴基准线重合的第二Y轴基准线，包括：
在所述第一参考面上确定与所述Y轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第一Y轴基准线；
在所述第三参考面上确定与所述Y轴基准线重合的多个点，连线所述多个点以确定所述第二Y轴基准线。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
将所述X轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一X轴基准线和第二X轴基准线构成的平面重合，包括：
调整所述第一X轴基准线上的X轴测绘设备，使所述X轴测绘设备的铅垂线方向上的激光点对准所述第一X轴基准线，视窗内的参考线与所述第二X轴基准线重合。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
将所述Y轴测绘设备的铅垂线与视窗内的参考线构成的平面调整到与第一Y轴基准线和第二Y轴基准线构成的平面重合，包括：
调整所述第一Y轴基准线上的Y轴测绘设备，使所述Y轴测绘设备的铅垂线方向上的激光点对准所述第一Y轴基准线，视窗内的参考线与所述第二Y轴基准线重合。
8.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：
根据所述第一参考面的空间中心点确定所述基准坐标系的基准点，包括：
选择距离所述空间中心点第一预设距离的点为所述基准点。
9.根权利要求1-8任一项所述的方法，其特征在于：
所述X轴测绘设备和Y轴测绘设备为经纬仪，所述Z轴测绘设备为水准仪。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，
基于所述X轴测绘设备和Y轴测绘设备为经纬仪，所述Z轴测绘设备为水准仪，调整位于所述基准坐标系的标校设备，使得所述标校设备上安装的六维力/力矩传感器的标校坐标系与所述基准坐标系平行。
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| 基于电子经纬仪的航天器天线装配精密测量技术研究;仝志民;《中国博士学位论文全文数据库 工程科技Ⅱ辑》;20110515(第 05 期);第4.2.1章节 * |
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