JPH09260900A - 電子部品実装機 - Google Patents

電子部品実装機

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JPH09260900A
JPH09260900A JP8071573A JP7157396A JPH09260900A JP H09260900 A JPH09260900 A JP H09260900A JP 8071573 A JP8071573 A JP 8071573A JP 7157396 A JP7157396 A JP 7157396A JP H09260900 A JPH09260900 A JP H09260900A
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JP
Japan
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electronic component
component
electronic
main body
mounting
Prior art date
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Application number
JP8071573A
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English (en)
Inventor
Hitoshi Nakamura
仁 中村
Yoshiyuki Hattori
芳幸 服部
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 エラー発生率が異常に上昇した場合、エラー
発生原因を除く部品実装の割り振り変更を短時間に行う
ことができる電子部品実装機の提供。 【解決手段】 複数台が直列に並んで電子部品実装ライ
ンを構成する電子部品実装機において、部品供給部1
a、1b、1c・・・と、部品実装機本体2a、2b、
2c・・・と、発生するエラーを電子部品別に統計処理
する処理部3a、3b、3c・・・と、前記複数台の電
子部品実装機の間でエラー発生率が大きな電子部品に関
するNCプログラムを移動させる通信部4とを有するこ
とを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品を回路基
板に実装する電子部品実装機に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品実装機の従来例を図6に基づい
て説明する。
【0003】図6において、電子部品実装ラインには、
通常、複数の電子部品実装機が直列に並んでいる。これ
らの電子部品実装機は、部品供給部1a、1b・・と、
実装機本体2a、2b・・と、コントローラ3a、3b
・・とからなり、10は部品供給部1a、1bに取り付
けられる電子部品カセット、11はコントローラ3a、
3b・・内にあるNCプログラムである。
【0004】従来の電子部品実装機の動作を図6に基づ
いて説明する。
【0005】図6において、先ず、回路基板に実装すべ
き各電子部品をどの電子部品実装機で実装するかを決
め、夫々の部品供給部1a、1b・・に夫々の電子部品
カセットを取り付け、各コントローラ3a、3b・・に
夫々のNCプログラムを与える。
【0006】回路基板が矢印の方向に右側から左側に搬
送され、各コントローラ3a、3b・・が、夫々のNC
プログラムに基づいて夫々の部品供給部1a、1b・・
と夫々の実装機本体2a、2b・・とを動作させて所定
の電子部品を回路基板の所定位置に実装する。そして、
実装作業中にエラー率が異常に上昇した場合、作業者
は、電子部品実装ラインの運転状態を把握し、エラー発
生の状態を調べ、その結果、特定の部品、例えば、部品
供給部1aの電子部品カセット10の電子部品の実装エ
ラーが多く、この電子部品カセット10の電子部品が実
装機本体2bでも実装できる場合には、エラー発生率を
正常値に戻すために、電子部品実装ラインを一時停止
し、部品供給部1aの電子部品カセット10を矢印Jに
示すように、部品供給部1bに移し、同時に、コントロ
ーラ3a、3b内のNCプログラムを前記電子部品カセ
ットの移動に合わせて変更する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来例
の構成では、作業者が、電子部品実装ラインの運転状態
を把握した上で、エラー発生の状態を調べ、例えば、実
装機本体2aにおいて特定の電子部品の実装エラーが多
く、この電子部品は実装機本体2bでも実装できるとい
うことを確かめ、電子部品実装ラインを一時停止し、そ
の電子部品のカセットを部品供給部1aから部品供給部
1bに移し、前記電子部品カセットの移動に合わせてN
Cプログラムを変更するという操作が必要であり、時間
がかかり、作業者の負担が大きく、電子部品実装ライン
の生産能率の向上を阻害するという問題点がある。
【0008】本発明は、上記の問題点を解決し、エラー
発生率が異常に上昇した場合、エラー発生原因を除いて
生産能率を元に戻すために行う部品実装の割り振り変更
を短時間に行える電子部品実装機の提供を課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の電子部品実装機
は、上記の課題を解決するために、複数台が直列に並ん
で電子部品実装ラインを構成する電子部品実装機におい
て、部品供給部と、部品実装機本体と、発生するエラー
を統計処理する処理部と、前記複数台の電子部品実装機
の間でエラー発生率が大きな電子部品に関するNCプロ
グラムを移動させる通信部とを有することを特徴とす
る。
【0010】本発明によると、発生するエラーを処理部
が統計処理しているので、エラー発生率が大きな電子部
品とその原因との関係をリアルタイムで把握できる。そ
して、エラー発生率が大きな部品に関するNCプログラ
ムを通信部が複数台の電子部品実装機の間で移動させる
ので、前記のNCプログラムの入れ替えに対応して部品
供給部の電子部品カセットを作業者が入れ替えれば、前
記のエラー発生率が大きな電子部品を、別の電子部品実
装機で実装することができる。そして、上記のようにエ
ラー発生率が大きな電子部品をリアルタイムで特定でき
るので、エラー発生率を下げる処理を短時間に行うこと
ができる。
【0011】又、本発明は、処理部が、電子部品別に吸
着エラーを統計処理するようにすると、吸着エラーに関
してエラー発生率を下げる処理を短時間に行うことがで
きる。
【0012】又、本発明は、処理部が、電子部品別に認
識エラーを統計処理するようにすると、認識エラーに関
してエラー発生率を下げる処理を短時間に行うことがで
きる。
【0013】又、本発明は、処理部が、電子部品別に厚
さ測定エラーを統計処理するようにすると、厚さ測定エ
ラーに関してエラー発生率を下げる処理を短時間に行う
ことができる。
【0014】又、本発明は、部品供給部の少なくとも一
つが、他の部品実装機本体でエラー発生率が大きな電子
部品を代替実装する部品実装機本体に電子部品を供給す
る代替部品カセットを備えるようにすると、作業者によ
る電子部品カセットの移動作業が不要になりエラー発生
率を下げる処理を更に短時間に行うことができる。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明の電子部品実装機の一実施
の形態を図1〜図5に基づいて説明する。
【0016】図1において、本実施の形態の電子部品実
装機が直列に複数台並んでおり、これらの電子部品実装
機は、部品供給部1a、1b、1c・・と、部品実装機
本体2a、2b、2c・・と、部品実装機本体2a、2
b、2c・・を制御すると共に動作実績を記録し統計処
理する制御・処理部3a、3b、3c・・とからなり、
4は、電子部品実装機間でデータを移動する通信部であ
る。10a、10b、10c・・は前記制御・処理部3
a、3b、3c・・の処理内容を表示する表示部であ
る。この場合、前記の複数台とは、2台から十数台であ
り、全ての電子部品実装機が同じサイズ、形状の電子部
品用である場合と、電子部品実装機によって実装する電
子部品のサイズ、形状が異なる場合とがある。通常は、
各電子部品共に、並んでいる電子部品実装機の中の複数
台の電子部品実装機によって実装され得るようになって
いる。
【0017】次に、本実施の形態の電子部品実装機の動
作を図2、図3に基づいて説明する。
【0018】図3のステップ#1において、回路基板を
搬入し、ステップ#2に進む。
【0019】ステップ#2において、図2の部品吸着位
置Aにおいて、吸着ノズル6が電子部品カセット1から
電子部品5を吸着し、H方向に部品認識位置Bまで回転
して、ステップ#3に進む。
【0020】ステップ#3において、部品認識位置B
で、認識カメラ7が電子部品5を認識し、ステップ#4
に進む。
【0021】ステップ#4において、電子部品5が正常
か否かを判断し、正常であれば、H方向に部品厚さ測定
位置Cまで回転して、ステップ#5に進み、正常でなけ
れば、その電子部品5を放棄してステップ#2に戻る。
【0022】ステップ#5において、部品厚さ測定位置
Cで、ステップ#4の認識結果に基づいて吸着ノズル6
を角度θだけ回転して電子部品5の方向を合わせて、部
品厚さ測定手段8が電子部品5の厚さを測定し、ステッ
プ#6に進む。
【0023】ステップ#6において、電子部品5の厚さ
が正常か否かを判断し、正常であれば、H方向に実装位
置Dまで回転して、ステップ#7に進み、正常でなけれ
ば、その電子部品5を放棄してステップ#2に戻る。
【0024】ステップ#7において、前記で測定した部
品厚さを参考にして、X、Y方向に移動させて位置決め
した回路基板9の所定位置に電子部品5を実装し、ステ
ップ#8に進む。
【0025】ステップ#8において、基板が完成か否か
を判断し、完成であればステップ#9に進み、完成でな
ければ、ステップ#2に戻る。
【0026】ステップ#9において、回路基板を搬出
し、ステップ#10に進む。
【0027】ステップ#10において、作業終了か否か
を判断し、否であればステップ#1に戻り、終了であれ
ば終了する。
【0028】次に、本実施の形態の電子部品実装機の動
作と動作の記録と記録の統計処理とNCプログラムの変
更とを図4、図5に基づいて説明する。
【0029】吸着ノズル6の動作と動作の記録と記録の
統計処理とについて説明すると、各吸着ノズル6は、そ
れぞれ適用される電子部品のサイズ、形状に合わせて設
計されているが、微妙な個体差があり、適用される電子
部品のサイズ、形状の範囲の中で、特定の範囲のサイ
ズ、形状に対する吸着動作が不確実であることがある。
【0030】部品実装機本体毎に、各部品別に、吸着エ
ラー発生数を統計処理すると、上記による吸着エラーが
どの部品実装機本体においてどの部品に対して発生して
いるのかを特定することができる。このための動作の記
録と記録の統計処理が、図4の表1である。
【0031】図4の表1は、吸着エラーを統計処理する
ものである。表1によると、部品実装機本体2a、2
b、2c・・・毎に、夫々の部品供給部のZ番号別に、
吸着数、エラー数、エラー率が表示されるので、この表
1が図1の表示部10a、10b、10c・・・に表示
されると、どのZ番号の部品がどの部品実装機本体で吸
着エラー率が大きいかを作業者がリアルタイムで知るこ
とができる。作業者は、エラー率が大きい部品実装機本
体のZ番号の電子部品カセットを、その電子部品を実装
できる他の部品実装機本体の部品供給部に移し、且つ、
例えば、図5に示すように、その部品が部品供給部1a
のZ4の場合には、表aのZ4を表bのZ2とZ3との
間に図1の通信部4を介して移動させる。これによっ
て、部品実装機本体2aでは吸着エラー率が大きかった
Z4の部品の実装作業が部品実装機本体2bに移り、エ
ラー率が低下する。
【0032】尚、表1の統計処理を、部品実装機本体の
各吸着ノズル別に行うと、どの吸着ノズルに問題がある
かをリアルタイムに知ることができる。
【0033】認識カメラ7の動作と動作の記録と記録の
統計処理とについて説明すると、各認識カメラ7は、夫
々の照明により微妙に異なる影響を受け、認識する電子
部品の色、サイズ、形状によっては、認識エラーが発生
することがある。
【0034】部品実装機本体毎に、各部品別に、認識エ
ラー発生数を統計処理すると、上記による認識エラーが
どの部品実装機本体においてどの部品に対して発生して
いるのかを特定することができる。このための動作の記
録と記録の統計処理が、図4の表2である。
【0035】図4の表2は、認識エラーを統計処理した
ものである。表2によると、部品実装機本体2a、2
b、2c・・・毎に、夫々の部品供給部のZ番号別に、
認識数、エラー数、エラー率が表示されるので、この表
1が図1の表示部10a、10b、10c・・・に表示
されると、どのZ番号の部品がどの部品実装機本体で認
識エラー率が大きいかを作業者がリアルタイムで知るこ
とができる。作業者は、エラー率が大きい部品実装機本
体のZ番号の電子部品カセットを、その電子部品を実装
できる他の部品実装機本体の部品供給部に移し、且つ、
例えば、図5に示すように、その電子部品が部品供給部
1aのZ4の場合には、表aのZ4を表bのZ2とZ3
との間に図1の通信部4を介して移動させる。これによ
って、部品実装機本体2aでは認識エラー率が大きかっ
たZ4の電子部品の実装作業が部品実装機本体2bに移
り、エラー率が低下する。
【0036】部品厚さ測定手段8の動作と動作の記録と
記録の統計処理とについて説明すると、各部品厚さ測定
手段8は、透過光で判断するので、電子部品の形状と周
囲の光線の状態によって測定エラーが発生することがあ
る。
【0037】部品実装機本体毎に、各部品別に、部品厚
さ測定エラー発生数を統計処理すると、上記による部品
厚さ測定エラーがどの部品実装機本体においてどの部品
に対して発生しているのかを特定することができる。こ
のための動作の記録と記録の統計処理が、図4の表3で
ある。
【0038】図4の表3は、厚さ測定エラーを統計処理
したものである。表3によると、部品実装機本体2a、
2b、2c・・・毎に、夫々の部品供給部のZ番号別
に、測定数、エラー数、エラー率が表示されるので、こ
の表3が図1の表示部10a、10b、10c・・・に
表示されると、どのZ番号の部品がどの部品実装機本体
で厚さ測定エラー率が大きいかを作業者がリアルタイム
で知ることができる。作業者は、エラー率が大きい部品
実装機本体のZ番号の電子部品カセットを、その部品を
実装できる他の部品実装機本体の部品供給部に移し、且
つ、例えば、図5に示すように、その電子部品が部品実
装機本体2aのZ4の場合には、矢印Gに示すように、
表aのZ4を表bのZ2とZ3との間に図1の通信部4
を介して移動させる。これによって、部品実装機本体2
aでは厚さ測定エラー率が大きかったZ4の部品の実装
作業が部品実装機本体2bに移り、エラー率が低下す
る。
【0039】尚、新製品についての初めての量産作業の
場合においても、その試作作業中に、上記の表1、表
2、表3の動作の記録と記録の統計処理とを行うと、ど
の電子部品がどの種のエラー率が大きいかを知ることが
できる。従って、量産品の生産作業は勿論、新製品の初
めての生産作業の時から、量産中または試作中に判明し
ている不良率が大きい電子部品について、その電子部品
を実装できる複数の部品実装機本体の部品供給部にその
電子部品のカセットを予め代替部品カセットとして搭載
しておき、エラー率が大きい電子部品を特定した時点
で、特定した電子部品が代替部品カセットの電子部品で
ある場合には、自動操作または手動操作で前記の代替実
装する電子部品の部分のNCプログラムの移動を行い、
自動操作により生産ラインを停止することなく、或いは
手動操作により短い停止時間で電子部品実装機の切り替
えを行うことができる。
【0040】
【発明の効果】本発明の電子部品実装機を使用すると、
エラー発生率が異常に上昇した場合、エラー発生原因を
除くために行う部品実装の割り振り変更を短時間に行う
ことができ、生産性が向上するという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子部品実装機の一実施の形態の構成
を示す斜視図である。
【図2】電子部品実装機の本体の動作を示す図である。
【図3】本発明の電子部品実装機の一実施の形態の動作
を示すフローチャートである。
【図4】本発明の電子部品実装機の一実施の形態の動作
の記録と記録の統計処理内容を示す図である。
【図5】本発明の電子部品実装機の一実施の形態のNC
プログラムの移動を示す図である。
【図6】従来例の電子部品実装機の構成を示す図であ
る。
【符号の説明】
A 部品吸着位置 B 部品認識位置 C 部品厚さ測定位置 D 実装位置 1a、1b、1c 部品供給部 2a、2b、2c 部品実装機本体 3a、3b、3c 制御・処理部 4 通信部 5 電子部品 6 吸着ノズル 7 認識カメラ 8 部品厚さ測定手段 9 回路基板 10a、10b、10c 表示部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数台が直列に並んで電子部品実装ライ
    ンを構成する電子部品実装機において、部品供給部と、
    部品実装機本体と、発生するエラーを統計処理する処理
    部と、前記複数台の電子部品実装機の間でエラー発生率
    が大きな電子部品に関するNCプログラムを移動させる
    通信部とを有することを特徴とする電子部品実装機。
  2. 【請求項2】 処理部は、電子部品別に吸着エラーを統
    計処理する請求項1に記載の電子部品実装機。
  3. 【請求項3】 処理部は、電子部品別に認識エラーを統
    計処理する請求項1に記載の電子部品実装機。
  4. 【請求項4】 処理部は、電子部品別に厚さ測定エラー
    を統計処理する請求項1に記載の電子部品実装機。
  5. 【請求項5】 部品供給部の少なくとも一つは、他の部
    品実装機本体でエラー発生率が大きな電子部品を代替実
    装する部品実装機本体に電子部品を供給する代替部品カ
    セットを備える請求項1に記載の電子部品実装機。
JP8071573A 1996-03-27 1996-03-27 電子部品実装機 Pending JPH09260900A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8071573A JPH09260900A (ja) 1996-03-27 1996-03-27 電子部品実装機

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JP8071573A JPH09260900A (ja) 1996-03-27 1996-03-27 電子部品実装機

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JPH09260900A true JPH09260900A (ja) 1997-10-03

Family

ID=13464590

Family Applications (1)

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JP8071573A Pending JPH09260900A (ja) 1996-03-27 1996-03-27 電子部品実装機

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JP (1) JPH09260900A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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