JPH09253070A - 核磁気共鳴を用いた検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】１回の計測で静磁場強度分布を得る核磁気共鳴
を用いた検査装置を提供する。 【解決手段】励起高周波パルス２０１とスライス傾斜磁
場２０２を印加して、検査対象の所定スライス内の磁化
の励起から一定の時間の後に、極性を反転させながら周
期的に強度変化するリードアウト傾斜磁場２０４をスラ
イス傾斜磁場と垂直方向に印加し、リードアウト傾斜磁
場印加方向の位置情報を有するエコー信号を読み出す。
この時スライス傾斜磁場とリードアウト傾斜磁場の両方
に垂直な方向にパルス状の位相エンコード傾斜磁場２０
３を印加し、エコー信号に位相エンコード傾斜磁場方向
の位置情報を与える。位相エンコード傾斜磁場の印加
は、リードアウト傾斜磁場の反転毎ではなく、１〜数回
おきに印加し、同じ位置情報を有し、エコー時間の異な
る数種類のエコー信号の組を得る。これらのエコー信号
をフーリエ変換して得られる画像の二つから静磁場強度
分布を得る。 【効果】計測時間を延長することなくエコー信号の計測
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、核磁気共鳴を用い
た検査装置及び方法に係わり、特に高速に検査対象内部
の位相分布を得るための核磁気共鳴信号の計測に係わ
る。

【０００２】

【従来の技術】静磁場強度の均一性向上処理（以下、シ
ミングと記述）を行なうために、静磁場発生用磁石内に
は通常、シムコイルと呼ばれる多チャンネルの磁場発生
機構が内蔵されており、これらの発生する様々な特性の
シム磁場を静磁場コイルの発生する静磁場に重畳して、
撮影領域の静磁場強度を均一にしている。超高速撮影法
やスペクトロスコピックイメージング等では、通常の撮
影では問題にならないような数ｐｐｍ以下の静磁場強度
の不均一により、Ｓ／Ｎやスペクトル分解能が著しく劣
化する。静磁場コイル内の静磁場強度分布は磁石自身の
特性、周辺の磁性体の影響の他、検査対象自身の透磁率
分布等によって歪められるため、このような撮影では静
磁場中に検査対象が入った状態で静磁場強度の均一性を
向上させることが望ましい。このような状況では、異な
る位相情報を含む２枚の核磁気共鳴画像を計測し、これ
らをもとに演算により求めた静磁場強度分布に基づいて
シミングが行われる。２枚の核磁気共鳴画像から位相画
像を求め、さらに静磁場強度分布を得る手法（以下、位
相法と記述）については、例えば、Ｊｏｕｒｎａｌｏｆ
Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ ７７、ｐ
ｐ．４０−５２（１９８８）に記載されている。上記の
シミングは撮影に先立って行われるため、被検者の苦痛
を軽減するために、高速に静磁場強度分布の計測を行な
う必要がある。このため、超高速撮影法の一つであるエ
コープラナー法を用いた位相法（特開平５−６４６３３
号公報、Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ ｏｆ ３ｒｄ Ａｎ
ｎｕａｌＭｅｅｔｉｎｇ ｏｆ Ｓｏｃｉｅｔｙ ｏｆ
Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ、ｐ６１６
（１９９５）参照）が提案されている。エコープラナー
法を用いることにより、計測時間を大幅に短縮でき、例
えば、２次元の画像を計測する場合、数十秒〜数分を要
していた画像１枚当たりの１計測時間が１００ｍｓ程度
に短縮される。エコープラナー法を用いた従来法による
位相分布計測パルスシーケンスでは、図１１に示すよう
にエコー発生時刻の異なる二つのパルスシーケンスを実
行する。それぞれのパルスシーケンスによって得られる
画像の位相情報は、この時間差ΔＴの間に主に静磁場強
度分布の不均一等によって生じる位相差の分だけ異な
る。しかし装置の不完全性に起因する位相誤差は、両シ
ーケンスとも同様に含まれると考えられるため、両シー
ケンスで得られた画像の位相を差し引くことにより、静
磁場強度分布を求めることができる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、エコ
ープラナー法を用いて静磁場強度分布を計測することに
より、シミングに要する時間を大幅に短縮できる。しか
し、位相法では装置の不完全性等に起因する位相誤差を
除去するために、エコー時間を変えて２回の計測を行わ
なければならないという問題があった。本願発明の目的
は、計測時間を延長することなく、装置の不完全性に起
因する位相誤差の除去を可能とする静磁場分布計測が実
現できる核磁気共鳴を用いた検査装置を提供することに
ある。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明では、１回のエコ
ープラナー計測でエコー時間の異なる２種類の位相分布
を得ることを特徴とする。エコープラナー法では、交互
に極性の反転するリードアウト傾斜磁場を印加しなが
ら、マルチエコーを発生させる。この時、リードアウト
傾斜磁場の反転に同期したパルス状の位相エンコード傾
斜磁場あるいは一定強度の位相エンコード傾斜磁場を印
加することにより、各マルチエコーには異なる空間情報
が付与され、１枚の画像再構成に必要な情報を１回の計
測で得ることができる。ここで上記マルチエコーのう
ち、位相エンコード傾斜磁場の印加量の時間積分がゼロ
になるエコーをゼロエンコードエコーと呼ぶことにする
と、エコー時間とは励起高周波パルスの印加時刻とゼロ
エンコードエコーの発生時刻との時間間隔を指す。従っ
て、前記したようにパルス状の位相エンコード傾斜磁場
を、リードアウト傾斜磁場の反転毎ではなく、例えば、
１回おき、あるいは２回おきに印加すれば、同じ空間情
報を有し、エコー時間の異なる数種類のマルチエコーが
得られることになる。このようにして得られた複数種類
のマルチエコーから、エコー時間の異なる位相分布が得
られるため、計測時間を延長することなく、装置の不完
全性に起因する位相誤差を除去できる静磁場分布計測が
実現できる。

【０００５】本発明の位相分布計測では、エコープラナ
ー法において、パルス状の位相エンコード傾斜磁場をリ
ードアウト傾斜磁場の反転毎ではなく数回おきに印加す
るため、同じ空間情報を有し、エコー時間の異なる数種
類のマルチエコーが得られる。例えば、リードアウト傾
斜磁場を２回反転する毎に位相エンコード傾斜磁場を印
加する場合、偶数番目と奇数番目のエコーからなる２種
類のマルチエコーの組が得られ、これらは異なるエコー
時間を有する。従って、偶数番目のエコーをもとに得ら
れた位相分布と奇数番目のエコーをもとに得られた位相
分布を用いて、図１０に示すフローチャートに基づいて
静磁場分布を得ることができる。このように、本発明に
よれば計測時間を延長することなく、装置の不完全性に
起因する位相誤差を除去可能な静磁場分布計測が実現で
きる。一般にサンプリング間隔が一定の条件では、ＭＲ
Ｉ画像の空間分解能はサンプリングの点数に比例して高
くなる。エコープラナー法では、画像再構成に必要な情
報を１回の計測で得るため、計測可能なサンプリング点
数に限界があり空間分解能は低い。従って、本発明のよ
うにマルチエコーを分割して複数枚の画像を得る場合、
さらに空間分解能が劣化する。しかし、従来の技術で説
明したシミングでは、上記したシムコイルの次数はせい
ぜい５次程度であるから、空間分解能の高い画像は必要
としない。

【０００６】本発明は、検査対象が挿入される空間に静
磁場を発生する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコ
ード傾斜磁場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生
手段と、高周波パルス発生手段と、上記検査対象から核
磁気共鳴信号を検出する信号検出手段と、上記各手段を
制御するパルスシーケンス制御手段と、上記信号検出手
段による上記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処
理手段とを有する核磁気共鳴を用いた検査装置におい
て、上記パルスシーケンス制御手段は、 （Ａ１）（１）上記スライス傾斜磁場を印加しながら、
励起高周波パルスを上記検査対象に印加し所定の領域を
励起すること、（２）上記リードアウト傾斜磁場を印加
すること、（３）上記リードアウト傾斜磁場の極性の複
数回の反転毎に周期的に位相エンコード傾斜磁場パルス
を複数回印加すること、（４）上記周期的に印加される
二つの上記位相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間
で、複数個（ｍ個）のエコー信号を発生させることを複
数回（ｎ回）繰り返して、複数個（ｍ個）のエコー信号
群を発生させること、のパルスシーケンス制御、又は、 （Ａ２）（１）第１のスライス傾斜磁場を印加しなが
ら、励起高周波パルスを上記検査対象に印加し所定の領
域を励起すること、（２）所定の時間の後に第２のスラ
イス傾斜磁場を印加しながら、反転高周波パルスを印加
して、上記所定の領域の核磁化を反転させること、
（３）上記リードアウト傾斜磁場を印加すること、
（４）上記上記リードアウト傾斜磁場の極性の複数回の
反転毎に周期的に位相エンコード傾斜磁場パルスを複数
回印加すること、（５）上記周期的に印加される二つの
上記位相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間で、複数
個（ｍ個）のエコー信号を発生させることを複数回（ｎ
回）繰り返して、複数個（ｍ個）のエコー信号群を発生
させること、のパルスシーケンス制御を行ない、上記演
算処理手段は、（ｍ×ｎ＋ｉ）番目（ｍ＝１、２、…、
ｍ：ｎ＝０、１、…ｎ：ｉ＝１、２、…、ｍ）のエコー
信号からなるｍ個の上記エコー信号群のいずれか２つの
上記エコー信号群から得られる２つの画像データを用い
て、２次元位相分布を求める演算処理を行なう点（第１
の構成）に特徴がある。

【０００７】さらに、上記の核磁気共鳴を用いた検査装
置において、上記パルスシーケンス制御手段は、 （Ｂ１）（１）上記スライス傾斜磁場を印加しながら、
励起高周波パルスを上記検査対象に印加し所定の領域を
励起すること、（２）上記スライス傾斜磁場の印加の方
向に第１の位相エンコード傾斜磁場を印加すること、
（３）上記リードアウト傾斜磁場を印加すること、
（４）上記リードアウト傾斜磁場の極性の複数回の反転
毎に、上記スライス傾斜磁場及び上記リードアウト傾斜
磁場の印加方向と直交する方向に第２の位相エンコード
傾斜磁場パルスを周期的に複数回印加すること、（５）
上記周期的に印加される二つの上記第２の位相エンコー
ド傾斜磁場パルスの印加の間で、複数個（ｍ個）のエコ
ー信号を発生させることを複数回（ｎ回）繰り返して、
（６）複数個（ｍ個）のエコー信号群を発生させること
を、上記第１の位相エンコード傾斜磁場の印加量を変化
させながら、複数回（ｋ回）繰り返すこと、のパルスシ
ーケンス制御、又は、 （Ｂ２）（１）第１のスライス傾斜磁場を印加しなが
ら、励起高周波パルスを上記検査対象に印加し所定の領
域を励起すること、（２）上記スライス傾斜磁場の印加
方向に第１の位相エンコード傾斜磁場を印加すること、
（３）所定の時間の後に第２のスライス傾斜磁場を印加
しながら、反転高周波パルスを印加して、上記所定の領
域の核磁化を反転させること、（４）上記リードアウト
傾斜磁場を印加すること、（５）上記リードアウト傾斜
磁場の極性の複数回の反転毎に、上記スライス傾斜磁場
及び上記リードアウト傾斜磁場の印加方向と直交する方
向に第２の位相エンコード傾斜磁場を周期的に印加する
こと、（６）上記周期的に印加される二つの上記第２の
位相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間で、複数個
（ｍ個）のエコー信号を発生させることを複数回（ｎ
回）繰り返して、（７）複数個（ｍ個）のエコー信号群
を発生させることを、上記第１の位相エンコード傾斜磁
場の印加量を変化させながら、複数回（ｋ回）繰り返す
こと、のパルスシーケンス制御を行ない、上記演算処理
手段は、（ｍ×ｎ＋ｉ）番目（ｍ＝１、２、…、ｍ：ｎ
＝０、１、…ｎ：ｉ＝１、２、…、ｍ）のエコー信号か
らなるｍ個の上記エコー信号群のいずれか２つの上記エ
コー信号群から得られる２つの画像データを用いて、３
次元位相分布を求める演算処理を行なう点（第２の構
成）に特徴がある。

【０００８】又、上記第１、第２の構成において、 （Ｃ１）上記励起高周波パルスの印加から上記２つのエ
コー信号群のそれぞれの群のエコー信号の検出までの時
間間隔の差を使用して、上記演算処理手段は上記検査対
象内の静磁場強度分布を求めること、（Ｃ２）上記励起
高周波パルスの印加から上記２つのエコー信号群のそれ
ぞれの群のエコー信号の検出までの時間間隔の差を、水
と脂肪の核スピンの磁気共鳴周波数の位相差が２πの整
数倍となる時間とする点にも特徴がある。

【０００９】さらに、上記の核磁気共鳴を用いた検査装
置において、上記パルスシーケンス制御手段は、 （Ｄ１）（１）上記スライス傾斜磁場を印加しながら、
励起高周波パルスを上記検査対象に印加し所定の領域を
励起すること、（２）上記リードアウト傾斜磁場を印加
して、第１のエコー信号群を発生させること、の第１の
パルスシーケンスの制御と、（３）上記スライス傾斜磁
場を印加しながら、上記励起高周波パルスを上記検査対
象に印加し上記所定の領域を励起すること、（４）上記
リードアウト傾斜磁場を印加すること、（５）上記リー
ドアウト傾斜磁場の極性の複数回の反転毎に周期的に位
相エンコード傾斜磁場パルスを複数回印加すること、
（６）上記周期的に印加される二つの上記位相エンコー
ド傾斜磁場パルスの印加の間で、複数個（ｍ個）の第２
のエコー信号を発生させることを複数回（ｎ回）繰り返
して、複数個（ｍ個）の第２のエコー信号群を発生させ
ること、の第２のパルスシーケンスの制御、又は、 （Ｄ２）（１）第１のスライス傾斜磁場を印加しなが
ら、励起高周波パルスを上記検査対象に印加し所定の領
域を励起すること、（２）所定の時間の後に第２のスラ
イス傾斜磁場を印加しながら、反転高周波パルスを印加
して、上記所定の領域の核磁化を反転させること、
（３）上記リードアウト傾斜磁場を印加して、第１のエ
コー信号群を発生させること、の第１のパルスシーケン
スの制御と、（４）上記第１のスライス傾斜磁場を印加
しながら、上記励起高周波パルスを上記検査対象に印加
し上記所定の領域を励起すること、（５）上記所定の時
間の後に上記第２のスライス傾斜磁場を印加しながら、
上記反転高周波パルスを印加して、上記所定の領域の核
磁化を反転させること、（６）上記リードアウト傾斜磁
場を印加すること、（７）上記リードアウト傾斜磁場の
極性の複数回の反転毎に周期的に位相エンコード傾斜磁
場パルスを複数回印加すること、（８）上記周期的に印
加される二つの上記位相エンコード傾斜磁場パルスの印
加の間で、複数個（ｍ個）のエコー信号を発生させるこ
とを複数回（ｎ回）繰り返して、複数個（ｍ個）の第２
のエコー信号群を発生させること、の第２のパルスシー
ケンスの制御を行ない、上記演算処理手段は、上記第１
のエコー信号群のエコー信号を使用して上記第２のエコ
ー信号群のエコー信号に含まれる装置に起因する位相歪
を除去するための演算処理と、上記装置に起因する位相
歪が除去された複数個（ｍ個）の上記第２のエコー信号
群のうち、いずれか２つの上記エコー信号群から得られ
る２つの画像データを用いて、２次元位相分布を求める
演算処理とを行なう点（第３の構成）に特徴がある。

【００１０】さらに、上記の核磁気共鳴を用いた検査装
置において、上記パルスシーケンス制御手段は、 （Ｅ１）（１）上記スライス傾斜磁場を印加しながら、
励起高周波パルスを上記検査対象に印加し所定の領域を
励起すること、（２）上記スライス傾斜磁場の印加の方
向に第１の位相エンコード傾斜磁場を印加すること、
（３）上記リードアウト傾斜磁場を印加して、複数のエ
コー信号を発生させること、（４）上記第１の位相エン
コード傾斜磁場の印加量を変化させて、上記（１）から
上記（３）を複数回（ｋ回）繰り返して、上記複数のエ
コー信号からなる第１のエコー信号群を複数個（ｋ個）
発生させること、の第１のパルスシーケンスの制御と、
（５）上記スライス傾斜磁場を印加しながら、上記励起
高周波パルスを上記検査対象に印加し上記所定の領域を
励起すること、（６）上記スライス傾斜磁場の印加の方
向に上記第１の位相エンコード傾斜磁場を印加するこ
と、（７）上記リードアウト傾斜磁場を印加すること、
（８）上記リードアウト傾斜磁場の極性の複数回の反転
毎に周期的に第２の位相エンコード傾斜磁場パルスを複
数回印加すること、（９）上記周期的に印加される二つ
の上記第２の位相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間
で、複数個（ｍ個）のエコー信号を発生させることを複
数回（ｎ回）繰り返して、（１０）複数個（ｍ個）の第
２のエコー信号群を発生させることを、上記第１の位相
エンコード傾斜磁場の印加量を変化させながら、複数回
（ｋ回）繰り返すこと、の第２のパルスシーケンスの制
御、又は、 （Ｅ２）（１）第１のスライス傾斜磁場を印加しなが
ら、励起高周波パルスを上記検査対象に印加し所定の領
域を励起すること、（２）上記スライス傾斜磁場の印加
方向に第１の位相エンコード傾斜磁場を印加すること、
（３）所定の時間の後に第２のスライス傾斜磁場を印加
しながら、反転高周波パルスを印加して、上記所定の領
域の核磁化反転させること、（４）上記リードアウト傾
斜磁場を印加して、複数のエコー信号を発生させるこ
と、（５）上記第１の位相エンコード傾斜磁場の印加量
を変化させて、上記（１）から上記（４）を複数回（ｋ
回）繰り返して、前記複数のエコー信号からなる第１の
エコー信号群を複数個（ｋ個）発生させることすこと、
の第１のパルスシーケンスの制御と、（６）上記第１の
スライス傾斜磁場を印加しながら、上記励起高周波パル
スを上記検査対象に印加し上記所定の領域を励起するこ
と、（７）上記スライス傾斜磁場の印加方向に上記第１
の位相エンコード傾斜磁場を印加すること、（８）上記
所定の時間の後に上記第２のスライス傾斜磁場を印加し
ながら、上記反転高周波パルスを印加して、上記所定の
領域の核磁化を反転させること、（９）上記リードアウ
ト傾斜磁場を印加すること、（１０）上記リードアウト
傾斜磁場の極性の複数回の反転毎に周期的に第２の位相
エンコード傾斜磁場を印加すること、（１１）上記周期
的に印加される二つの上記第２の位相エンコード傾斜磁
場パルスの印加の間で、複数個（ｍ個）のエコー信号を
発生させることを複数回（ｎ回）繰り返して、（１２）
複数個（ｍ個）の第２のエコー信号群を発生させること
を、上記第１の位相エンコード傾斜磁場の印加量を変化
させながら、複数回（ｋ回）繰り返すこと、の第２のパ
ルスシーケンスの制御を行ない、上記演算処理手段は、
複数個（ｋ個）の上記第１のエコー信号群のエコー信号
を使用して複数個（ｋ個）の上記第２のエコー信号群の
エコー信号に含まれる装置に起因する位相歪を除去する
ための演算処理と、上記装置に起因する位相歪が除去さ
れた複数個（ｍ個）の上記第２のエコー信号群のうち、
上記リードアウト傾斜磁場の極性が正のときに発生する
エコー信号から得られる第１の画像データと、上記リー
ドアウト傾斜磁場の極性が負の時に発生するエコー信号
から得られる第２の画像データを用いて、３次元位相分
布を求める演算処理とを行なう点（第４の構成）に特徴
がある。

【００１１】さらに、上記の核磁気共鳴を用いた検査装
置において、上記パルスシーケンス制御手段は、 （Ｆ１）（１）上記スライス傾斜磁場を印加しながら、
励起高周波パルスを上記検査対象に印加し所定の領域を
励起すること、（２）上記リードアウト傾斜磁場を印加
して、第１のエコー信号群を発生させること、の第１の
パルスシーケンスの制御と、（３）上記スライス傾斜磁
場を印加しながら、上記励起高周波パルスを上記検査対
象に印加し上記所定の領域を励起すること、（４）上記
スライス傾斜磁場の印加の方向に第１の位相エンコード
傾斜磁場を印加すること、（５）上記リードアウト傾斜
磁場を印加すること、（６）上記リードアウト傾斜磁場
の極性の複数回の反転毎に周期的に第２の位相エンコー
ド傾斜磁場パルスを複数回印加すること、（７）上記周
期的に印加される二つの上記第２の位相エンコード傾斜
磁場パルスの印加の間で、複数個（ｍ個）のエコー信号
を発生させることを複数回（ｎ回）繰り返して、（８）
複数個（ｍ個）の第２のエコー信号群を発生させること
を、上記第１の位相エンコード傾斜磁場の印加量を変化
させながら、複数回（ｋ回）繰り返すこと、の第２のパ
ルスシーケンスの制御、又は、（Ｆ２）（１）第１のス
ライス傾斜磁場を印加しながら、励起高周波パルスを上
記検査対象に印加し所定の領域を励起すること、（２）
所定の時間の後に第２のスライス傾斜磁場を印加しなが
ら、反転高周波パルスを印加して、上記所定の領域の核
磁化を反転させること、（３）上記リードアウト傾斜磁
場を印加して、第１のエコー信号群を発生させること、
の第１のパルスシーケンスの制御と、（４）上記第１の
スライス傾斜磁場を印加しながら、上記励起高周波パル
スを上記検査対象に印加し上記所定の領域を励起するこ
と、（５）上記スライス傾斜磁場の印加方向に第１の位
相エンコード傾斜磁場を印加すること、（６）上記所定
の時間の後に上記第２のスライス傾斜磁場を印加しなが
ら、上記反転高周波パルスを印加して、上記所定の領域
の核磁化を反転させること、（７）上記リードアウト傾
斜磁場を印加すること、（８）上記極性の複数回の反転
毎に周期的に第２の位相エンコード傾斜磁場を印加する
こと、（９）上記周期的に印加される二つの上記第２の
位相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間で、複数個
（ｍ個）のエコー信号を発生させることを複数回（ｎ
回）繰り返して、（１０）複数個（ｍ個）の第２のエコ
ー信号群を発生させることを、上記第１の位相エンコー
ド傾斜磁場の印加量を変化させながら、複数回（ｋ回）
繰り返すこと、の第２のパルスシーケンスの制御を行な
い、上記演算処理手段は、上記第１のエコー信号群のエ
コー信号を使用して複数個（ｋ個）の上記第２のエコー
信号群のエコー信号に含まれる装置に起因する位相歪を
除去するための演算処理と、上記装置に起因する位相歪
が除去された上記第２のエコー信号群のうち、上記リー
ドアウト傾斜磁場の極性が正のときに発生するエコー信
号から得られる第１の画像データと、上記リードアウト
傾斜磁場の極性が負の時に発生するエコー信号から得ら
れる第２の画像データを用いて、３次元位相分布を求め
る演算処理とを行なう点（第５の構成）に特徴がある。

【００１２】さらに、上記第１、第２の構成において、
少なくとも、上記極性の複数回の反転毎に周期的に複数
回印加される位相エンコード傾斜磁場パルスを印加しな
いパルスシーケンスによる、プレスキャンを行なって得
るエコー信号を使用して、上記演算処理手段は、上記第
１、第２の構成におけるパルスシーケンスで得るエコー
信号に含まれる装置に起因する位相歪を除去する点にも
特徴がある。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づいて説明する。図１は、本発明が適用される核磁気共
鳴を用いた検査装置の構成の一例を示す図である。図１
において、１０１は静磁場を発生するコイル、１０２は
３方向にそれぞれ傾斜磁場を発生するコイル、１０３は
検査対象であり、この検査対象はコイル１０１及び１０
２内に配置される。シーケンサ１０４は本発明の装置の
各部の制御を行なうものであり、傾斜磁場電源１０５、
高周波発信器１０６に命令を送り、傾斜磁場及び高周波
パルスを検査対象１０３に印加する。高周波パルスは、
高周波変調器１０７、高周波増幅器１０８を経て高周波
送信器１０９により、検査対象１０３に印加される。検
査対象から発生したＭＲ（核磁気共鳴）信号は受信器１
１０によって受波され、増幅器１１１、位相検波器１１
２、ＡＤ変換器１１３を通ってＣＰＵ１１４に送られ、
ここで検出された信号の演算処理が行われる。必要に応
じて、記憶媒体１１５に信号や測定条件（パルスシーケ
ンスの条件、その他）を記憶させることもできる。ＣＰ
Ｕ（計算機）１１４は、本発明のために作られ専用化さ
れた演算処理装置（手段）であってもよい。さらに、こ
の演算処理装置（手段）が、シーケンサ１０４を兼ねる
構成としてもよい。

【００１４】図２に本発明の位相分布計測を実施するた
めのパルスシーケンスの一例を示す。本パルスシーケン
スは、超高速撮影法の一つであるエコープラナー法に基
づいている。図２において、２０１は励起高周波パル
ス、２０２はスライス傾斜磁場、２０３は位相エンコー
ド傾斜磁場、２０４はリードアウト傾斜磁場、２０５〜
２０８はエコー信号である。励起高周波パルス２０１と
スライス傾斜磁場２０２を同時に印加して、検査対象の
所定のスライス内の磁化のみを励起する。その後、上記
核磁化は静磁場不均一等の影響を受け、位相角のバラツ
キを生じるが、この位相角のバラツキの程度は励起から
信号検出までの時間に比例する。励起から一定の時間の
後に、極性を反転させながら周期的に強度が変化するリ
ードアウト傾斜磁場２０４をスライス傾斜磁場２０２と
垂直方向に印加し、リードアウト傾斜磁場の印加の方向
の位置情報を有するエコー信号を読み出す。この時、ス
ライス傾斜磁場２０２とリードアウト傾斜磁場２０４の
いずれにも垂直な方向にパルス状の位相エンコード傾斜
磁場２０３を印加することにより、エコー信号に位相エ
ンコード傾斜磁場方向の位置情報を与える。通常のエコ
ープラナー法では、上記リードアウト傾斜磁場の反転毎
に位相エンコード傾斜磁場を印加するため、上記位相エ
ンコード傾斜磁場方向の位置情報はエコー信号毎に異な
る。

【００１５】しかし、本発明では、リードアウト傾斜磁
場の反転毎ではなく、１〜数回おきに印加するため、同
じ位置情報を有し、エコー時間の異なる数種類のエコー
信号の組が得られることになる。図２のパルスシーケン
スでは、４回反転毎に位相エンコード傾斜磁場のパルス
を印加するので、４種類のエコー信号の組、エコー信号
１〜４（２０５〜２０８）が得られる。これらのエコー
信号は、励起後の時間に比例して静磁場不均一等の影響
を受けるため、エコー信号１〜４（２０５〜２０８）を
フーリエ変換して得られる画像は、それぞれのエコー時
間に応じた位相情報を有する。従って、上記４種類のエ
コー信号のうち、いずれか２つのエコー信号を用いるこ
とにより、図１０に示したフローチャートに基づいて静
磁場強度分布を求めることができる。図１０において、
例えば、エコー信号Ａとしてエコー信号１（２０５）を
用い、エコー信号Ｂとしてエコー信号３（２０７）を用
いて静磁場強度分布を求める場合を説明する。それぞれ
のエコー信号をフーリエ変換して得られる画像をそれぞ
れＳＡ（ｘ，ｙ）及びＳＢ（ｘ，ｙ）とすると、エコー
時間の差ΔＴＥの間に生じる位相の空間分布θ（ｘ，
ｙ）は、（数１）となる。また磁気回転比をγとする
と、静磁場強度分布Ｈ０（ｘ，ｙ）は（数２）で与えら
れる。

【００１６】

【数１】 θ（ｘ，ｙ）＝ａｒｇ｛ＳＡ（ｘ，ｙ）｝−ａｒｇ｛ＳＢ（ｘ，ｙ）…（数１）

【００１７】

【数２】 Ｈ０（ｘ，ｙ）＝θ（ｘ，ｙ）／γΔＴＥ …（数２） エコー信号Ａ及びエコー信号Ｂとして、他の組み合わせ
を用いても同様にして静磁場強度分布を求めることがで
きる。但し、エコー信号２０５及び２０７と、エコー信
号２０６及び２０８は信号読み出し時のリードアウト傾
斜磁場の極性が反対であるため、画像再構成の際にリー
ドアウト傾斜磁場方向のデータの順序を入れ替える必要
がある。

【００１８】図３は、本発明による位相分布計測を実施
するための他のパルスシーケンスを示しており、図２の
パルスシーケンスを３次元計測に拡張したものである。
図３において、３０１は励起高周波パルス、３０２はス
ライス傾斜磁場、３０３は位相エンコード傾斜磁場、３
０４は位相エンコード傾斜磁場、３０５はリードアウト
傾斜磁場、３０６〜３０９はエコー信号である。図２の
パルスシーケンスとの違いは、スライス方向の位置情報
を与える位相エンコード傾斜磁場３０３のみであり、こ
の位相エンコード傾斜磁場の印加量を変化させながら励
起と信号検出を繰り返し、３次元データを計測する。

【００１９】図４は、本発明による位相分布計測を実施
するための他のパルスシーケンスを示している。図２の
パルスシーケンスに反転高周波パルスを付加して、スピ
ンエコータイプのエコープラナー法に本発明を適用した
ものである。図４において、４０１は励起高周波パル
ス、４０２はスライス傾斜磁場、４０３は反転高周波磁
場、４０４は位相エンコード傾斜磁場、４０５はリード
アウト傾斜磁場、４０６〜４０９はエコー信号１〜４で
ある。励起高周波パルス４０１とスライス傾斜磁場４０
２を同時に印加して、検査対象の所定のスライス内の磁
化のみを励起する。その後、上記核磁化は静磁場不均一
等の影響を受け、位相角のバラツキを生じる。一定の時
間の後、反転高周波パルス４０３とスライス傾斜磁場４
０２’を同時に印加することにより、上記位相角はコヒ
ーレンシーを回復する方向に向かう。位相エンコード傾
斜磁場４０４の印加量の時間積分がゼロになるエコーを
ゼロエンコードエコーと呼ぶことにすると、励起から反
転までの時間ｔ１の間に生じた位相角と反転からゼロエ
ンコードエコー検出までの時間ｔ２の間に生じた位相角
は打ち消し合うため、位相角のバラツキの程度はｔ１と
ｔ２の時間差に比例する。その後、極性を反転させなが
ら周期的に強度が変化するリードアウト傾斜磁場４０５
をスライス傾斜磁場４０２と垂直方向に印加し、リード
アウト傾斜磁場方向の位置情報を有するエコー信号を読
み出す。この時、スライス傾斜磁場４０２とリードアウ
ト傾斜磁場４０５のいずれにも垂直な方向にパルス状の
位相エンコード傾斜磁場４０４を印加することにより、
エコー信号に位相エンコード傾斜磁場方向の位置情報を
与える。通常のエコープラナー法では、上記リードアウ
ト傾斜磁場の反転毎に位相エンコード傾斜磁場を印加す
るため、上記位相エンコード傾斜磁場方向の位置情報は
エコー信号毎に異なる。しかし図４のパルスシーケンス
では、リードアウト傾斜磁場の反転毎ではなく、４回お
きに印加するため、同じ位置情報を有し、エコー時間の
異なる４種類のエコー信号の組、エコー信号１〜４（４
０６〜４０９）が得られることになる。これらのエコー
信号は、上記ｔ１とｔ２の時間差に比例して静磁場不均
一等の影響を受けるため、エコー信号１〜４（４０６〜
４０９）をフーリエ変換して得られる画像は、それぞれ
の時間差に応じた位相情報を有する。従って、上記４種
類のエコー信号のうち、いずれか２つのエコー信号を用
いることにより、図１０に示したフローチャートに基づ
いて静磁場強度分布を求めることができる。

【００２０】図５は本発明による位相分布計測を実施す
るための他のパルスシーケンスを示しており、図４のパ
ルスシーケンスを３次元計測に拡張したものである。図
５において、５０１は励起高周波パルス、５０２、５０
２’はスライス傾斜磁場、５０３は反転高周波パルス、
５０４は位相エンコード傾斜磁場、５０５は位相エンコ
ード傾斜磁場、５０６はリードアウト傾斜磁場、５０７
〜５１０はエコー信号１〜４である。図４のパルスシー
ケンスとの違いは、スライス方向の位置情報を与える位
相エンコード傾斜磁場５０４のみであり、この位相エン
コード傾斜磁場の印加量を変化させながら励起と信号検
出を繰り返し、３次元データを計測する。

【００２１】図６は本発明による位相分布計測を実施す
るための他のパルスシーケンスを示している。図６にお
いて、６０１は励起高周波パルス、６０２はスライス傾
斜磁場、６０３は位相エンコード傾斜磁場、６０４はリ
ードアウト傾斜磁場、６０５〜６０６はエコー信号１〜
２である。励起高周波パルス６０１とスライス傾斜磁場
６０２を同時に印加して、検査対象の所定のスライス内
の磁化のみを励起する。その後、上記核磁化は静磁場不
均一等の影響を受け、位相角のバラツキを生じるが、こ
の位相角のバラツキの程度は励起から信号検出までの時
間に比例する。一定の時間の後に、極性を反転させなが
ら周期的に強度が変化するリードアウト傾斜磁場６０４
をスライス傾斜磁場６０２と垂直方向に印加し、リード
アウト傾斜磁場方向の位置情報を有するエコー信号を読
み出す。この時、スライス傾斜磁場６０２とリードアウ
ト傾斜磁場６０４のいずれにも垂直な方向にパルス状の
位相エンコード傾斜磁場６０３を印加することにより、
エコー信号に位相エンコード傾斜磁場方向の位置情報を
与える。通常のエコープラナー法では、上記リードアウ
ト傾斜磁場の反転毎に位相エンコード傾斜磁場を印加す
るため、上記位相エンコード傾斜磁場方向の位置情報は
エコー信号毎に異なる。しかし、図６のパルスシーケン
スでは、リードアウト傾斜磁場の反転毎ではなく、２回
おきに印加するため、同じ位置情報を有し、エコー時間
の異なる２種類のエコー信号の組、エコー信号６０５、
６０６が得られることになる。これらのエコー信号は、
励起後の時間に比例して静磁場不均一等の影響を受ける
ため、エコー信号１、２（６０５、６０６）をフーリエ
変換して得られる画像は、それぞれのエコー時間に応じ
た位相情報を有する。従って、上記２種類のエコー信号
を用いることにより、図１０に示したフローチャートに
基づいて静磁場強度分布を求めることができる。但し、
エコー信号１（６０５）と、エコー信号２（６０６）は
信号読み出し時のリードアウト傾斜磁場の極性が反対で
あるため、画像再構成の際にリードアウト傾斜磁場方向
のデータの順序を入れ替える必要がある。

【００２２】図７は本発明による位相分布計測を実施す
るための他のパルスシーケンスを示しており、図６のパ
ルスシーケンスを３次元計測に拡張したものである。図
７において、７０１は励起高周波パルス、７０２はスラ
イス傾斜磁場、７０３は位相エンコード傾斜磁場、７０
４は位相エンコード傾斜磁場、７０５はリードアウト傾
斜磁場、７０６、７０７はエコー信号１、２である。図
６のパルスシーケンスとの違いは、スライス方向の位置
情報を与える位相エンコード傾斜磁場７０３のみであ
り、この位相エンコード傾斜磁場の印加量を変化させな
がら励起と信号検出を繰り返し、３次元データを計測す
る。

【００２３】図８は、本発明による位相分布計測を実施
するための他のパルスシーケンスを示している。図６の
パルスシーケンスに反転高周波パルスを付加して、スピ
ンエコータイプのエコープラナー法に本発明を適用した
ものである。図８において、８０１は励起高周波パル
ス、８０２はスライス傾斜磁場、８０３は反転高周波磁
場、８０４は位相エンコード傾斜磁場、８０５はリード
アウト傾斜磁場、８０６、８０７はエコー信号１、２で
ある。励起高周波パルス８０１とスライス傾斜磁場８０
２を同時に印加して、検査対象の所定のスライス内の磁
化のみを励起する。その後、上記核磁化は静磁場不均一
等の影響を受け、位相角のバラツキを生じる。一定の時
間の後、反転高周波パルス８０３とスライス傾斜磁場８
０２’を同時に印加することにより、上記位相角はコヒ
ーレンシーを回復する方向に向かう。位相エンコード傾
斜磁場８０４の印加量の時間積分がゼロになるエコーを
ゼロエンコードエコーと呼ぶことにすると、励起から反
転までの時間ｔ１の間に生じた位相角と反転からゼロエ
ンコードエコー検出までの時間ｔ２の間に生じた位相角
は打ち消し合うため、位相角のバラツキの程度はｔ１と
ｔ２の時間差に比例する。その後、極性を反転させなが
ら周期的に強度が変化するリードアウト傾斜磁場８０５
をスライス傾斜磁場８０２と垂直方向に印加し、リード
アウト傾斜磁場方向の位置情報を有するエコー信号を読
み出す。この時、スライス傾斜磁場８０２とリードアウ
ト傾斜磁場８０５のいずれにも垂直な方向にパルス状の
位相エンコード傾斜磁場８０４を印加することにより、
エコー信号に位相エンコード傾斜磁場方向の位置情報を
与える。通常のエコープラナー法では、上記リードアウ
ト傾斜磁場の反転毎に位相エンコード傾斜磁場を印加す
るため、上記位相エンコード傾斜磁場方向の位置情報は
エコー信号毎に異なる。しかし図８のパルスシーケンス
では、リードアウト傾斜磁場の反転毎ではなく、２回お
きに印加するため、同じ位置情報を有し、エコー時間の
異なる２種類のエコー信号の組、エコー信号１、２（８
０６、８０７）が得られることになる。これらのエコー
信号は、上記ｔ１とｔ２の時間差に比例して静磁場不均
一等の影響を受けるため、エコー信号１、２（８０６、
８０７）をフーリエ変換して得られる画像は、それぞれ
の時間差に応じた位相情報を有する。従って、上記２種
類のエコー信号を用いることにより、図１０に示したフ
ローチャートに基づいて静磁場強度分布を求めることが
できる。但し、エコー信号１（８０６）とエコー信号２
（８０７）は信号読み出し時のリードアウト傾斜磁場の
極性が反対であるため、画像再構成の際にリードアウト
傾斜磁場方向のデータの順序を入れ替える必要がある。

【００２４】図９は本発明による位相分布計測を実施す
るための他のパルスシーケンスを示しており、図８のパ
ルスシーケンスを３次元計測に拡張したものである。図
９において、９０１は励起高周波パルス、９０２、９０
２’はスライス傾斜磁場、９０３は反転高周波磁場、９
０４は位相エンコード傾斜磁場、９０５は位相エンコー
ド傾斜磁場、９０６はリードアウト傾斜磁場、９０７、
９０８はエコー信号１、２である。図８のパルスシーケ
ンスとの違いは、スライス方向の位置情報を与える位相
エンコード傾斜磁場９０４のみであり、この位相エンコ
ード傾斜磁場の印加量を変化させながら励起と信号検出
を繰り返し、３次元データを計測する。

【００２５】さて図２、図３、図６、図７に示したパル
スシーケンスでは、励起から信号検出までの時間に生じ
た位相角のバラツキが主に静磁場不均一によるものと仮
定して、上記パルスシーケンスで得られた位相分布から
静磁場強度分布を求める。また、図４、図５、図８、図
９に示したパルスシーケンスでは、励起から反転までの
時間をｔ１、反転からゼロエンコードエコー検出までの
時間をｔ２とすると、ｔ１とｔ２の時間差に比例した位
相角のバラツキが生じるが、この場合も同様にして位相
分布から静磁場強度分布を求める。しかし生体を検査対
象とする場合、上記位相のバラツキは静磁場不均一だけ
でなく水と脂肪の核スピンの共鳴周波数差によっても生
じるため、静磁場強度分布を位相分布から求める場合に
は、この共鳴周波数差の影響を除去する必要がある。そ
こで、図２、図３、図４、図５、図６、図７、図８、図
９に示したパルスシーケンスでは、励起高周波パルスの
印加から２つのエコー信号群のそれぞれの群のエコー信
号の検出までの時間間隔の差を、水と脂肪の核スピンの
磁気共鳴周波数の位相差が２πの整数倍となる時間に設
定する。この時間間隔の差の例を具体的に例示すると、
励起からエコー信号２０５の検出までの時間間隔と励起
からエコー信号２０７の検出までの時間間隔との差（図
２）、励起からエコー信号３０６の検出までの時間間隔
と励起からエコー信号３０８の検出までの時間間隔との
差（図３）、励起からエコー信号４０６の検出までの時
間間隔と励起からエコー信号４０８の検出までの時間間
隔との差（図４）、励起からエコー信号５０７の検出ま
での時間間隔と励起からエコー信号５０９の検出までの
時間間隔との差（図５）、励起からエコー信号６０５の
検出までの時間間隔と励起からエコー信号６０６の検出
までの時間間隔との差（図６）、励起からエコー信号７
０６の検出までの時間間隔と励起からエコー信号７０７
の検出までの時間間隔との差（図７）、励起からエコー
信号８０６の検出までの時間間隔と励起からエコー信号
８０７の検出までの時間間隔との差（図８）、励起から
エコー信号９０７の検出までの時間間隔と励起からエコ
ー信号９０８の検出までの時間間隔との差（図９）、等
である。

【００２６】エコープラナー法では、高強度のリードア
ウト傾斜磁場を高速にスイッチングすることによりマル
チエコーを発生させるため、上記エコー信号には渦電流
等の装置歪みが含まれる。従って、上記リードアウト傾
斜磁場の極性が正のときに発生するエコーから得られる
画像データと、上記リードアウト傾斜磁場の極性が負の
時に発生するエコーから得られる画像データを用いて、
位相分布画像を得る場合には、上記装置歪みを除去する
必要がある。このような装置歪みによる位相歪みは、主
に、（ａ）Ｐ０歪み：位相検波用高周波磁場と検波信号
との位相ずれに基づく画像全体の一様な位相歪み、及び
（ｂ）Ｐ１歪み：リードアウト傾斜磁場の動特性の影響
による、サンプリング時間のずれに基づく位相歪み、の
２つの位相歪みが考えられる。

【００２７】そこで、図６に示すパルスシーケンスを例
に取り、上記のＰ０歪み及びＰ１歪みの補正方法を述べ
る。ここでは、図１２に示すパルスシーケンスにより得
られるプリスキャンデータを用いて、位相ひずみを補正
する方法を説明する。図１２において、１２０１は励起
高周波パルス、１２０２はスライス傾斜磁場、１２０３
はリードアウト傾斜磁場、１２０４、１２０５はエコー
信号２である。図６のパルスシーケンスとの違いは、位
相エンコードパルスを印加しない点のみである。なお、
図２、図４、図８に示すパルスシーケンスにおける、上
記のＰ０歪み及びＰ１歪みの補正を行なうためのプリス
キャンデータを得るパルスシーケンスは、図２、図４、
図８に示すパルスシーケンスにおいて、位相エンコード
傾斜磁場パルス２０３、４０４、８０４を印加しないパ
ルスシーケンスである。以下に位相ひずみ補正の手順を
示す。

【００２８】（１）上記プリスキャンデータに１次元フ
ーリエ変換を行って投影データを作成する。上記投影デ
ータの位相の傾きがＰ１歪みであるので、上記投影デー
タからＰ１歪み補正データを求め、保存する。ここで
は、上記Ｐ１歪みが位相エンコード傾斜磁場の有無に左
右されないと仮定する。（２）プリスキャンデータのＰ
１歪みを上記Ｐ１歪み補正データに基づき、補正する。
（３）Ｐ１歪み補正後の投影データを逆フーリエ変換し
て計測空間データに戻す。（４）上記補正後の計測空間
データのサンプリング中心の位相がＰ０歪みであるの
で、プリスキャンの計測データの位相からＰ０歪み補正
データを求め、保存する。ここでは、上記Ｐ０歪みが位
相エンコード傾斜磁場の有無に左右されないと仮定して
いる。（５）図６のパルスシーケンスにより得られた計
測空間データを１次元フーリエ変換して投影データを作
成する。上記Ｐ１歪み補正データに基づき、上記投影デ
ータのＰ１歪みを補正する。（６）Ｐ１歪み補正後の投
影データを逆フーリエ変換して計測空間データに戻す。
（７）上記Ｐ０歪み補正データに基づき、上記補正後の
計測空間データのＰ０歪みを補正する。

【００２９】次に、図７に示すパルスシーケンスを例に
とり、上記のＰ０歪み及びＰ１歪みの他の補正方法を述
べる。ここでは、図１３に示すパルスシーケンスにより
得られるプリスキャンデータを用いて、位相歪みを補正
する方法を説明する。図１３において、１３０１は励起
高周波パルス、１３０２はスライス傾斜磁場、１３０３
はリードアウト傾斜磁場、１３０４、１３０５はエコー
信号１〜２である。図７のパルスシーケンスとの違い
は、位相エンコードパルス７０３、７０４を印加しない
点のみである。なお、図３、図５、図９に示すパルスシ
ーケンスにおける、上記のＰ０歪み及びＰ１歪みの補正
を行うためのプリスキャンデータを得るパルスシーケン
スは、図３、図５、図９に示すパルスシーケンスにおい
て、位相エンコードパルス３０３、３０４、５０４、５
０５、９０４、９０５を印加しないパルスシーケンスで
ある。図７は３次元計測のパルスシーケンスであるか
ら、位相エンコード傾斜磁場７０３の印加量の異なる複
数（ｋ個）の２次元計測空間データが得られる。上記ｋ
個の２次元計測空間データに対し、図１３のパルスシー
ケンスで得られた２次元プリスキャンデータを用いて、
上記位相歪み補正と同様の手順でＰ０歪み及びＰ１歪み
を補正する。

【００３０】図７に示すパルスシーケンスを例にとり、
上記のＰ０歪み及びＰ１歪みの他の補正方法を述べる。
この実施例では、スライス方向のＰ１歪みも考慮した補
正法を示す。ここでは、図１４に示すパルスシーケンス
により得られるプリスキャンデータを用いて、位相歪み
を補正する方法を説明する。図１４において、１４０１
は励起高周波パルス、１４０２はスライス傾斜磁場、１
４０３は位相エンコード傾斜磁場、１４０４はリードア
ウト傾斜磁場、１４０５、１４０６はエコー信号１〜２
である。図７のパルスシーケンスとの違いは、位相エン
コードパルス７０３を印加しない点のみである。なお、
図３、図５、図９に示すパルスシーケンスにおける、上
記のＰ０歪み及びＰ１歪みの補正を行うためのプリスキ
ャンデータを得るパルスシーケンスは、図３、図５、図
９に示すパルスシーケンスにおいて、位相エンコードパ
ルス３０３、５０４、９０４を印加しないパルスシーケ
ンスである。図７は３次元計測のパルスシーケンスであ
るから、位相エンコード傾斜磁場７０３の印加量の異な
る複数（ｋ個）の２次元計測空間データが得られる。ま
た、図１４のパルスシーケンスでも、位相エンコード傾
斜磁場１４０３の印加量の異なる複数（ｋ個）の２次元
計測空間プリスキャンデータが得られる。上記図７のパ
ルスシーケンスで得られたｋ個の２次元計測空間データ
に対し、図１４のパルスシーケンスで得られたｋ個の２
次元プリスキャンデータのうち、位相エンコード傾斜磁
場１４０３の印加量がゼロのプリスキャンデータを用い
て、以下の手順でＰ０歪み及びＰ１歪みを補正する。

【００３１】（１）上記プリスキャンデータに１次元フ
ーリエ変換を行って投影データを作成する。上記投影デ
ータの位相の傾きがＰ１歪みであるので、上記投影デー
タからＰ１歪み補正データを求め、保存する。ここで
は、上記Ｐ１歪みが位相エンコード傾斜磁場の有無に左
右されないと仮定している。（２）プリスキャンデータ
のＰ１歪みを上記Ｐ１歪み補正データに基づき、補正す
る。（３）Ｐ１歪み補正後の投影データを逆フーリエ変
換して計測空間データに戻す。（４）上記補正後の計測
空間データのサンプリング中心の位相がＰ０歪みである
ので、プリスキャンの計測データの位相からＰ０歪み補
正データを求め、保存する。ここでは、上記Ｐ０歪みが
位相エンコード傾斜磁場の有無に左右されないと仮定し
ている。（５）図６のパルスシーケンスにより得られた
計測空間データを１次元フーリエ変換して投影データを
作成する。上記Ｐ１歪み補正データに基づき、上記投影
データのＰ１歪みを補正する。（６）Ｐ１歪み補正後の
投影データを逆フーリエ変換して計測空間データに戻
す。（７）上記Ｐ０歪み補正データに基づき、上記補正
後の計測空間データのＰ０歪みを補正する。次に、３次
元計測空間データのスライス方向のＰ１歪みを補正す
る。上記Ｐ０歪み及びＰ１歪み補正では、図７のパルス
シーケンスで得られた３次元計測空間データを、リード
アウト傾斜磁場７０５方向と位相エンコード７０３方向
の位相とからなるｋ個の２次元計測空間のデータとして
扱ったが、ここでは位相エンコード７０３と位相エンコ
ード７０４方向の位相とからなる複数個の２次元計測空
間のデータとして扱う。同様に図１４のパルスシーケン
スで得られた３次元プリスキャンデータも、位相エンコ
ード７０３と位相エンコード７０４方向の位相とからな
る複数個の２次元計測空間のデータと考え、このうち位
相エンコード傾斜磁場１４０３の印加量がゼロのプリス
キャンデータを用いて、以下の手順でＰ１歪みを補正す
る。

【００３２】（８）上記位相エンコード傾斜磁場１４０
３の印加量がゼロのプリスキャンデータに１次元フーリ
エ変換を行って投影データを作成する。上記投影データ
の位相の傾きがＰ１歪みであるので、上記投影データか
らＰ１歪み補正データを求め、保存する。ここでは、上
記Ｐ１歪みが位相エンコード傾斜磁場の有無に左右され
ないと仮定している。（９）図７のパルスシーケンスに
より得られた複数個の計測空間データを１次元フーリエ
変換して投影データを作成する。上記Ｐ１歪み補正デー
タに基づき、上記投影データのＰ１歪みを補正する。
（１０）Ｐ１歪み補正後の投影データを逆フーリエ変換
して計測空間データに戻す。

【００３３】本実施例では、位相エンコード傾斜磁場パ
ルス間で発生するエコーの数が２と４について述べた
が、これに限定されるものではなく、２以上であれば本
発明の実施が可能である。

【００３４】

【発明の効果】従来の位相法によって静磁場強度分布を
計測する場合、装置の不完全性に起因する誤差を除去す
るために２回計測を行ない、エコー時間の異なる２つの
位相画像から静磁場強度分布を求めるが、本発明の位相
分布計測では、エコープラナー法において、パルス状の
位相エンコード傾斜磁場をリードアウト傾斜磁場の反転
毎ではなく数回おきに印加するため、１回のエコープラ
ナー計測でエコー時間の異なる位相画像が得られる。例
えば、リードアウト傾斜磁場を２回反転する毎に位相エ
ンコード傾斜磁場を印加する場合、偶数番目と奇数番目
のエコーからなる２種類のマルチエコーが得られ、これ
らは異なるエコー時間を有する。従って、偶数番目のエ
コーをもとに得られた位相分布と奇数番目のエコーをも
とに得られた位相分布を用いて静磁場分布を得ることが
できる。本発明によれば計測時間を延長することなく、
装置の不完全性に起因する位相誤差を除去可能な静磁場
分布計測が実現でき、１回のエコープラナー計測で静磁
場強度分布が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明が適用される核磁気共鳴を用いた検査装
置の構成の一例を示す図。

【図２】本発明による位相分布計測を実施するためのパ
ルスシーケンス。

【図３】本発明による位相分布計測を実施するための他
のパルスシーケンス。

【図４】本発明による位相分布計測を実施するための他
のパルスシーケンス。

【図５】本発明による位相分布計測を実施するための他
のパルスシーケンス。

【図６】本発明による位相分布計測を実施するための他
のパルスシーケンス。

【図７】本発明による位相分布計測を実施するための他
のパルスシーケンス。

【図８】本発明による位相分布計測を実施するための他
のパルスシーケンス。

【図９】本発明による位相分布計測を実施するための他
のパルスシーケンス。

【図１０】本発明によるパルスシーケンスから得られた
位相分布から静磁場分布を得るためのフローチャート。

【図１１】従来法による位相分布計測を実施するための
パルスシーケンス。

【図１２】本発明による位相分布計測を実施する際の位
相補正に用いるパルスシーケンス。

【図１３】本発明による位相分布計測法を実施する際の
位相補正に用いる他のパルスシーケンス。

【図１４】本発明による位相分布計測法を実施する際の
位相補正に用いる他のパルスシーケンス。

【符号の説明】

１０１…静磁場発生コイル、１０２…傾斜磁場発生コイ
ル、１０３…検査対象、１０４…シーケンサ、１０５…
傾斜磁場電源、１０６…高周波発信器、１０７…高周波
変調器、１０８…高周波増幅器、１０９…高周波送信
器、１１０…受信器、１１１…増幅器、１１２…位相検
波器、１１３…ＡＤ変換器、１１４…ＣＰＵ、１１５…
記憶媒体、２０１…励起高周波パルス、２０２…スライ
ス傾斜磁場、２０３…位相エンコード傾斜磁場、２０４
…リードアウト傾斜磁場、２０５…エコー信号１、２０
６…エコー信号２、２０７…エコー信号３、２０８…エ
コー信号４、３０１…励起高周波パルス、３０２…スラ
イス傾斜磁場、３０３…位相エンコード傾斜磁場、３０
４…位相エンコード傾斜磁場、３０５…リードアウト傾
斜磁場、３０６…エコー信号１、３０７…エコー信号
２、３０８…エコー信号３、３０９…エコー信号４、４
０１…励起高周波パルス、４０２、４０２’…スライス
傾斜磁場、４０３…反転高周波パルス、４０４…位相エ
ンコード傾斜磁場、４０５…リードアウト傾斜磁場、４
０６…エコー信号１、４０７…エコー信号２、４０８…
エコー信号３、４０９…エコー信号４、５０１…励起高
周波パルス、５０２、５０２’…スライス傾斜磁場、５
０３…反転高周波パルス、５０４…位相エンコード傾斜
磁場、５０５…位相エンコード傾斜磁場、５０６…リー
ドアウト傾斜磁場、５０７…エコー信号１、５０８…エ
コー信号２、５０９…エコー信号３、５１０…エコー信
号４、６０１…励起高周波パルス、６０２…スライス傾
斜磁場、６０３…位相エンコード傾斜磁場、６０４…リ
ードアウト傾斜磁場、６０５…エコー信号１、６０６…
エコー信号２、７０１…励起高周波パルス、７０２…ス
ライス傾斜磁場、７０３…位相エンコード傾斜磁場、７
０４…位相エンコード傾斜磁場、７０５…リードアウト
傾斜磁場、７０６…エコー信号１、７０７…エコー信号
２、８０１…励起高周波パルス、８０２、８０２’…ス
ライス傾斜磁場、８０３…反転高周波パルス、８０４…
位相エンコード傾斜磁場、８０５…リードアウト傾斜磁
場、８０６…エコー信号１、８０７…エコー信号２、９
０１…励起高周波パルス、９０２、９０２’…スライス
傾斜磁場、９０３…反転高周波パルス、９０４…位相エ
ンコード傾斜磁場、９０５…位相エンコード傾斜磁場、
９０６…リードアウト傾斜磁場、９０７…エコー信号
１、９０８…エコー信号２、１２０１…励起高周波パル
ス、１２０２…スライス傾斜磁場、１２０３…リードア
ウト傾斜磁場、１２０４…エコー信号１、１２０５…エ
コー信号２、１３０１…励起高周波パルス、１３０２…
スライス傾斜磁場、１３０３…リードアウト傾斜磁場、
１３０４…エコー信号１、１３０５…エコー信号２、１
４０１…励起高周波パルス、１４０２…スライス傾斜磁
場、１４０３…位相エンコード傾斜磁場、１４０４…リ
ードアウト傾斜磁場、１４０５…エコー信号１、１４０
６…エコー信号２。

Claims (12)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】検査対象が挿入される空間に静磁場を発生
   する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコード傾斜磁
   場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生手段と、高
   周波パルス発生手段と、前記検査対象から核磁気共鳴信
   号を検出する信号検出手段と、前記各手段を制御するパ
   ルスシーケンス制御手段と、前記信号検出手段による前
   記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処理手段とを
   有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記パル
   スシーケンス制御手段は、（１）前記スライス傾斜磁場
   を印加しながら、励起高周波パルスを前記検査対象に印
   加し所定の領域を励起すること、（２）前記リードアウ
   ト傾斜磁場を印加すること、（３）前記リードアウト傾
   斜磁場の極性の複数回の反転毎に周期的に位相エンコー
   ド傾斜磁場パルスを複数回（ｎ回）印加すること、
   （４）前記周期的に印加される二つの前記位相エンコー
   ド傾斜磁場パルスの印加の間で、複数個（ｍ個）のエコ
   ー信号を発生させることを複数回（ｎ回）繰り返して、
   複数個（ｍ個）のエコー信号群を発生させること、のパ
   ルスシーケンス制御を行ない、前記演算処理手段は、
   （ｍ×ｎ＋ｉ）番目（ｍ＝１、２、…、ｍ：ｎ＝０、
   １、…ｎ：ｉ＝１、２、…、ｍ）のエコー信号からなる
   ｍ個の前記エコー信号群のいずれか２つの前記エコー信
   号群から得られる２つの画像データを用いて、２次元位
   相分布を求める演算処理を行なうことを特徴とする核磁
   気共鳴を用いた検査装置。
2. 【請求項２】検査対象が挿入される空間に静磁場を発生
   する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコード傾斜磁
   場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生手段と、高
   周波パルス発生手段と、前記検査対象から核磁気共鳴信
   号を検出する信号検出手段と、前記各手段を制御するパ
   ルスシーケンス制御手段と、前記信号検出手段による前
   記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処理手段とを
   有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記パル
   スシーケンス制御手段は、（１）前記スライス傾斜磁場
   を印加しながら、励起高周波パルスを前記検査対象に印
   加し所定の領域を励起すること、（２）前記スライス傾
   斜磁場の印加の方向に第１の位相エンコード傾斜磁場を
   印加すること、（３）前記リードアウト傾斜磁場を印加
   すること、（４）前記リードアウト傾斜磁場の極性の複
   数回の反転毎に、前記スライス傾斜磁場及び前記リード
   アウト傾斜磁場の印加方向と直交する方向に第２の位相
   エンコード傾斜磁場パルスを周期的に複数回印加するこ
   と、（５）前記周期的に印加される二つの前記第２の位
   相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間で、複数個（ｍ
   個）のエコー信号を発生させることを複数回（ｎ回）繰
   り返して、（６）複数個（ｍ個）のエコー信号群を発生
   させることを、前記第１の位相エンコード傾斜磁場の印
   加量を変化させながら複数回（ｋ数）繰り返すこと、の
   パルスシーケンス制御を行ない、前記演算処理手段は、
   （ｍ×ｎ＋ｉ）番目（ｍ＝１、２、…、ｍ：ｎ＝０、
   １、…ｎ：ｉ＝１、２、…、ｍ）のエコー信号からなる
   ｍ個の前記エコー信号群のいずれか２つの前記エコー信
   号群から得られる２つの画像データを用いて、３次元位
   相分布を求める演算処理を行なうことを特徴とする核磁
   気共鳴を用いた検査装置。
3. 【請求項３】検査対象が挿入される空間に静磁場を発生
   する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコード傾斜磁
   場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生手段と、高
   周波パルス発生手段と、前記検査対象から核磁気共鳴信
   号を検出する信号検出手段と、前記各手段を制御するパ
   ルスシーケンス制御手段と、前記信号検出手段による前
   記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処理手段とを
   有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記パル
   スシーケンス制御手段は、（１）第１のスライス傾斜磁
   場を印加しながら、励起高周波パルスを前記検査対象に
   印加し所定の領域を励起すること、（２）所定の時間の
   後に第２のスライス傾斜磁場を印加しながら、反転高周
   波パルスを印加して、前記所定の領域の核磁化を反転さ
   せること、（３）前記リードアウト傾斜磁場を印加する
   こと、（４）前記リードアウト傾斜磁場の極性の複数回
   の反転毎に周期的に位相エンコード傾斜磁場パルスを複
   数回印加すること、（５）前記周期的に印加される二つ
   の前記位相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間で、複
   数個（ｍ個）のエコー信号を発生させることを複数回
   （ｎ回）繰り返して、複数個（ｍ個）のエコー信号群を
   発生させること、のパルスシーケンス制御を行ない、前
   記演算処理手段は、（ｍ×ｎ＋ｉ）番目（ｍ＝１、２、
   …、ｍ：ｎ＝０、１、…ｎ：ｉ＝１、２、…、ｍ）のエ
   コー信号からなるｍ個の前記エコー信号群のいずれか２
   つの前記エコー信号群から得られる２つの画像データを
   用いて、２次元位相分布を求める演算処理を行なうこと
   を特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
4. 【請求項４】検査対象が挿入される空間に静磁場を発生
   する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコード傾斜磁
   場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生手段と、高
   周波パルス発生手段と、前記検査対象から核磁気共鳴信
   号を検出する信号検出手段と、前記各手段を制御するパ
   ルスシーケンス制御手段と、前記信号検出手段による前
   記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処理手段とを
   有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記パル
   スシーケンス制御手段は、（１）第１のスライス傾斜磁
   場を印加しながら、励起高周波パルスを前記検査対象に
   印加し所定の領域を励起すること、（２）前記スライス
   傾斜磁場の印加方向に第１の位相エンコード傾斜磁場を
   印加すること、（３）所定の時間の後に第２のスライス
   傾斜磁場を印加しながら、反転高周波パルスを印加し
   て、前記所定の領域の核磁化を反転させること、（４）
   前記リードアウト傾斜磁場を印加すること、（５）前記
   リードアウト傾斜磁場の極性の複数回の反転毎に、前記
   スライス傾斜磁場及び前記リードアウト傾斜磁場の印加
   方向と直交する方向に第２の位相エンコード傾斜磁場を
   周期的に印加すること、（６）前記周期的に印加される
   二つの前記第２の位相エンコード傾斜磁場パルスの印加
   の間で、複数個（ｍ個）のエコー信号を発生させること
   を複数回（ｎ回）繰り返して、（７）複数個（ｍ個）の
   エコー信号群を発生させることを、前記第１の位相エン
   コード傾斜磁場の印加量を変化させながら、複数回（ｋ
   回）繰り返すこと、のパルスシーケンス制御を行ない、
   前記演算処理手段は、（ｍ×ｎ＋ｉ）番目（ｍ＝１、
   ２、…、ｍ：ｎ＝０、１、…ｎ：ｉ＝１、２、…、ｍ）
   のエコー信号からなるｍ個の前記エコー信号群のいずれ
   か２つの前記エコー信号群から得られる２つの画像デー
   タを用いて、３次元位相分布を求める演算処理を行なう
   ことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
5. 【請求項５】請求項１から請求項４に記載の核磁気共鳴
   を用いた検査装置において、前記励起高周波パルスの印
   加から前記２つのエコー信号群のそれぞれの群のエコー
   信号の検出までの時間間隔の差を使用して、前記演算処
   理手段は前記検査対象内の静磁場強度分布を求めること
   を特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
6. 【請求項６】請求項１から請求項４に記載の核磁気共鳴
   を用いた検査装置において前記励起高周波パルスの印加
   から前記２つのエコー信号群のそれぞれの群のエコー信
   号の検出までの時間間隔の差を、水と脂肪の核磁化の位
   相差が２πの整数倍となる時間とすることを特徴とする
   核磁気共鳴を用いた検査装置。
7. 【請求項７】検査対象が挿入される空間に静磁場を発生
   する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコード傾斜磁
   場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生手段と、高
   周波パルス発生手段と、前記検査対象から核磁気共鳴信
   号を検出する信号検出手段と、前記各手段を制御するパ
   ルスシーケンス制御手段と、前記信号検出手段による前
   記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処理手段とを
   有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記パル
   スシーケンス制御手段は、（１）前記スライス傾斜磁場
   を印加しながら、励起高周波パルスを前記検査対象に印
   加し所定の領域を励起すること、（２）前記リードアウ
   ト傾斜磁場を印加して、第１のエコー信号群を発生させ
   ること、の第１のパルスシーケンスの制御と、（３）前
   記スライス傾斜磁場を印加しながら、前記励起高周波パ
   ルスを前記検査対象に印加し前記所定の領域を励起する
   こと、（４）前記リードアウト傾斜磁場を印加するこ
   と、（５）前記リードアウト傾斜磁場の極性の複数回の
   反転毎に周期的に位相エンコード傾斜磁場パルスを複数
   回印加すること、（６）前記周期的に印加される二つの
   前記位相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間で、複数
   個（ｍ個）の第２のエコー信号を発生させることを複数
   回（ｎ回）繰り返して、複数個（ｍ個）の第２のエコー
   信号群を発生させること、の第２のパルスシーケンスの
   制御とを行ない、前記演算処理手段は、前記第１のエコ
   ー信号群のエコー信号を使用して前記第２のエコー信号
   群のエコー信号に含まれる装置に起因する位相歪を除去
   するための演算処理と、前記装置に起因する位相歪が除
   去された複数個（ｍ個）の前記第２のエコー信号群のう
   ち、前記リードアウト傾斜磁場の極性が正のときに発生
   するエコー信号から得られる第１の画像データと、前記
   リードアウト傾斜磁場の極性が負の時に発生するエコー
   信号から得られる第２の画像データを用いて、２次元位
   相分布を求める演算処理とを行なうことを特徴とする核
   磁気共鳴を用いた検査装置。
8. 【請求項８】検査対象が挿入される空間に静磁場を発生
   する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコード傾斜磁
   場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生手段と、高
   周波パルス発生手段と、前記検査対象から核磁気共鳴信
   号を検出する信号検出手段と、前記各手段を制御するパ
   ルスシーケンス制御手段と、前記信号検出手段による前
   記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処理手段とを
   有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記パル
   スシーケンス制御手段は、（１）前記スライス傾斜磁場
   を印加しながら、励起高周波パルスを前記検査対象に印
   加し所定の領域を励起すること、（２）前記スライス傾
   斜磁場の印加の方向に第１の位相エンコード傾斜磁場を
   印加すること、（３）前記リードアウト傾斜磁場を印加
   して、複数のエコー信号を発生させること、（４）前記
   第１の位相エンコード傾斜磁場の印加量を変化させて、
   前記（１）から前記（３）を複数回（ｋ回）繰り返し
   て、前記複数のエコー信号からなる第１のエコー信号群
   を複数個（ｋ個）発生させること、の第１のパルスシー
   ケンスの制御と、（５）前記スライス傾斜磁場を印加し
   ながら、前記励起高周波パルスを前記検査対象に印加し
   前記所定の領域を励起すること、（６）前記スライス傾
   斜磁場の印加の方向に前記第１の位相エンコード傾斜磁
   場を印加すること、（７）前記リードアウト傾斜磁場を
   印加すること、（８）前記リードアウト傾斜磁場の極性
   の複数回の反転毎に周期的に第２の位相エンコード傾斜
   磁場パルスを複数回印加すること、（９）前記周期的に
   印加される二つの前記第２の位相エンコード傾斜磁場パ
   ルスの印加の間で、複数個（ｍ個）のエコー信号を発生
   させることを複数回（ｎ回）繰り返して、（１０）複数
   個（ｍ個）の第２のエコー信号群を発生させることを、
   前記第１の位相エンコード傾斜磁場の印加量を変化させ
   ながら、複数回（ｋ回）繰り返すこと、の第２のパルス
   シーケンスの制御とを行ない、前記演算処理手段は、複
   数個（ｋ個）の前記第１のエコー信号群のエコー信号を
   使用して複数個（ｋ個）の前記第２のエコー信号群のエ
   コー信号に含まれる装置に起因する位相歪を除去するた
   めの演算処理と、前記装置に起因する位相歪が除去され
   た複数個（ｍ個）の前記第２のエコー信号群のうち、前
   記リードアウト傾斜磁場の極性が正のときに発生するエ
   コー信号から得られる第１の画像データと、前記リード
   アウト傾斜磁場の極性が負の時に発生するエコー信号か
   ら得られる第２の画像データを用いて、３次元位相分布
   を求める演算処理とを行なうことを特徴とする核磁気共
   鳴を用いた検査装置。
9. 【請求項９】検査対象が挿入される空間に静磁場を発生
   する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコード傾斜磁
   場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生手段と、高
   周波パルス発生手段と、前記検査対象から核磁気共鳴信
   号を検出する信号検出手段と、前記各手段を制御するパ
   ルスシーケンス制御手段と、前記信号検出手段による前
   記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処理手段とを
   有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記パル
   スシーケンス制御手段は、（１）第１のスライス傾斜磁
   場を印加しながら、励起高周波パルスを前記検査対象に
   印加し所定の領域を励起すること、（２）所定の時間の
   後に第２のスライス傾斜磁場を印加しながら、反転高周
   波パルスを印加して、前記所定の領域の核磁化を反転さ
   せること、（３）前記リードアウト傾斜磁場を印加し
   て、第１のエコー信号群を発生させること、の第１のパ
   ルスシーケンスの制御と、（４）前記第１のスライス傾
   斜磁場を印加しながら、前記励起高周波パルスを前記検
   査対象に印加し前記所定の領域を励起すること、（５）
   前記所定の時間の後に前記第２のスライス傾斜磁場を印
   加しながら、前記反転高周波パルスを印加して、前記所
   定の領域の核磁化を反転させること、（６）前記リード
   アウト傾斜磁場を印加すること、（７）前記リードアウ
   ト傾斜磁場の極性の複数回の反転毎に周期的に位相エン
   コード傾斜磁場パルスを複数回印加すること、（８）前
   記周期的に印加される二つの前記位相エンコード傾斜磁
   場パルスの印加の間で、複数個（ｍ個）のエコー信号を
   発生させることを複数回（ｎ回）繰り返して、複数個
   （ｍ個）の第２のエコー信号群を発生させること、の第
   ２のパルスシーケンスの制御とを行ない、前記演算処理
   手段は、前記第１のエコー信号群のエコー信号を使用し
   て前記第２のエコー信号群のエコー信号に含まれる装置
   に起因する位相歪を除去するための演算処理と、前記装
   置に起因する位相歪が除去された複数個（ｍ個）の前記
   第２のエコー信号群のうち、前記リードアウト傾斜磁場
   の極性が正のときに発生するエコー信号から得られる第
   １の画像データと、前記リードアウト傾斜磁場の極性が
   負の時に発生するエコー信号から得られる第２の画像デ
   ータを用いて、２次元位相分布を求める演算処理とを行
   なうことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
10. 【請求項１０】検査対象が挿入される空間に静磁場を発
    生する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコード傾斜
    磁場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生手段と、
    高周波パルス発生手段と、前記検査対象から核磁気共鳴
    信号を検出する信号検出手段と、前記各手段を制御する
    パルスシーケンス制御手段と、前記信号検出手段による
    前記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処理手段と
    を有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記パ
    ルスシーケンス制御手段は、（１）第１のスライス傾斜
    磁場を印加しながら、励起高周波パルスを前記検査対象
    に印加し所定の領域を励起すること、（２）前記スライ
    ス傾斜磁場の印加方向に第１の位相エンコード傾斜磁場
    を印加すること、（３）所定の時間の後に第２のスライ
    ス傾斜磁場を印加しながら、反転高周波パルスを印加し
    て、前記所定の領域の核磁化反転させること、（４）前
    記リードアウト傾斜磁場を印加して、複数のエコー信号
    を発生させること、（５）前記第１の位相エンコード傾
    斜磁場の印加量を変化させて、前記（１）から前記
    （４）を複数回（ｋ回）繰り返して、前記複数のエコー
    信号からなる第１のエコー信号群を複数個（ｋ個）発生
    させること、の第１のパルスシーケンスの制御と、
    （６）前記第１のスライス傾斜磁場を印加しながら、前
    記励起高周波パルスを前記検査対象に印加し前記所定の
    領域を励起すること、（７）前記スライス傾斜磁場の印
    加方向に前記第１の位相エンコード傾斜磁場を印加する
    こと、（８）前記所定の時間の後に前記第２のスライス
    傾斜磁場を印加しながら、前記反転高周波パルスを印加
    して、前記所定の領域の核磁化を反転させること、
    （９）前記リードアウト傾斜磁場を印加すること、（１
    ０）前記リードアウト傾斜磁場の極性の複数回の反転毎
    に周期的に第２の位相エンコード傾斜磁場を印加するこ
    と、（１１）前記周期的に印加される二つの前記第２の
    位相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間で、複数個
    （ｍ個）のエコー信号を発生させることを複数回（ｎ
    回）繰り返して、（１２）複数個（ｍ個）の第２のエコ
    ー信号群を発生させることを、前記第１の位相エンコー
    ド傾斜磁場の印加量を変化させながら、複数回（ｋ回）
    繰り返すこと、の第２のパルスシーケンスの制御とを行
    ない、前記演算処理手段は、複数個（ｋ個）の前記第１
    のエコー信号群のエコー信号を使用して複数個（ｋ個）
    の前記第２のエコー信号群のエコー信号に含まれる装置
    に起因する位相歪を除去するための演算処理と、前記装
    置に起因する位相歪が除去された複数個（ｍ個）の前記
    第２のエコー信号群のうち、前記リードアウト傾斜磁場
    の極性が正のときに発生するエコー信号から得られる第
    １の画像データと、前記リードアウト傾斜磁場の極性が
    負の時に発生するエコー信号から得られる第２の画像デ
    ータを用いて、３次元位相分布を求める演算処理とを行
    なうことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
11. 【請求項１１】検査対象が挿入される空間に静磁場を発
    生する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコード傾斜
    磁場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生手段と、
    高周波パルス発生手段と、前記検査対象から核磁気共鳴
    信号を検出する信号検出手段と、前記各手段を制御する
    パルスシーケンス制御手段と、前記信号検出手段による
    前記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処理手段と
    を有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記パ
    ルスシーケンス制御手段は、（１）前記スライス傾斜磁
    場を印加しながら、励起高周波パルスを前記検査対象に
    印加し所定の領域を励起すること、（２）前記リードア
    ウト傾斜磁場を印加して、第１のエコー信号群を発生さ
    せること、の第１のパルスシーケンスの制御と、（３）
    前記スライス傾斜磁場を印加しながら、前記励起高周波
    パルスを前記検査対象に印加し前記所定の領域を励起す
    ること、（４）前記スライス傾斜磁場の印加の方向に第
    １の位相エンコード傾斜磁場を印加すること、（５）前
    記リードアウト傾斜磁場を印加すること、（６）前記リ
    ードアウト傾斜磁場の極性の複数回の反転毎に周期的に
    第２の位相エンコード傾斜磁場パルスを複数回印加する
    こと、（７）前記周期的に印加される二つの前記第２の
    位相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間で、複数個
    （ｍ個）のエコー信号を発生させることを複数回（ｎ
    回）繰り返して、（８）複数個（ｍ個）の第２のエコー
    信号群を発生させることを、前記第１の位相エンコード
    傾斜磁場の印加量を変化させながら、複数回（ｋ回）繰
    り返すこと、の第２のパルスシーケンスの制御とを行な
    い、前記演算処理手段は、前記第１のエコー信号群のエ
    コー信号を使用して複数個（ｋ個）の前記第２のエコー
    信号群のエコー信号に含まれる装置に起因する位相歪を
    除去するための演算処理と、前記装置に起因する位相歪
    が除去された前記第２のエコー信号群のうち、前記リー
    ドアウト傾斜磁場の極性が正のときに発生するエコー信
    号から得られる第１の画像データと、前記リードアウト
    傾斜磁場の極性が負の時に発生するエコー信号から得ら
    れる第２の画像データを用いて、３次元位相分布を求め
    る演算処理とを行なうことを特徴とする核磁気共鳴を用
    いた検査装置。
12. 【請求項１２】検査対象が挿入される空間に静磁場を発
    生する手段と、スライス傾斜磁場、位相エンコード傾斜
    磁場、及びリードアウト傾斜磁場の各磁場発生手段と、
    高周波パルス発生手段と、前記検査対象から核磁気共鳴
    信号を検出する信号検出手段と、前記各手段を制御する
    パルスシーケンス制御手段と、前記信号検出手段による
    前記核磁気共鳴信号の演算処理を行なう演算処理手段と
    を有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、前記パ
    ルスシーケンス制御手段は、（１）第１のスライス傾斜
    磁場を印加しながら、励起高周波パルスを前記検査対象
    に印加し所定の領域を励起すること、（２）所定の時間
    の後に第２のスライス傾斜磁場を印加しながら、反転高
    周波パルスを印加して、前記所定の領域の核磁化を反転
    させること、（３）前記リードアウト傾斜磁場を印加し
    て、第１のエコー信号群を発生させること、の第１のパ
    ルスシーケンスの制御と、（４）前記第１のスライス傾
    斜磁場を印加しながら、前記励起高周波パルスを前記検
    査対象に印加し前記所定の領域を励起すること、（５）
    前記スライス傾斜磁場の印加方向に第１の位相エンコー
    ド傾斜磁場を印加すること、（６）前記所定の時間の後
    に前記第２のスライス傾斜磁場を印加しながら、前記反
    転高周波パルスを印加して、前記所定の領域の核磁化を
    反転させること、（７）前記リードアウト傾斜磁場を印
    加すること、（８）前記リードアウト傾斜磁場の極性の
    複数回の反転毎に周期的に第２の位相エンコード傾斜磁
    場を印加すること、（９）前記周期的に印加される二つ
    の前記第２の位相エンコード傾斜磁場パルスの印加の間
    で、複数個（ｍ個）のエコー信号を発生させることを複
    数回（ｎ回）繰り返して、（１０）複数個（ｍ個）の第
    ２のエコー信号群を発生させることを、前記第１の位相
    エンコード傾斜磁場の印加量を変化させながら、複数回
    （ｋ回）繰り返すこと、の第２のパルスシーケンスの制
    御とを行ない、前記演算処理手段は、前記第１のエコー
    信号群のエコー信号を使用して複数個（ｋ個）の前記第
    ２のエコー信号群のエコー信号に含まれる装置に起因す
    る位相歪を除去するための演算処理と、前記装置に起因
    する位相歪が除去された前記第２のエコー信号群のう
    ち、前記リードアウト傾斜磁場の極性が正のときに発生
    するエコー信号から得られる第１の画像データと、前記
    リードアウト傾斜磁場の極性が負の時に発生するエコー
    信号から得られる第２の画像データを用いて、３次元位
    相分布を求める演算処理とを行なうことを特徴とする核
    磁気共鳴を用いた検査装置。