JPH09245997A - カバーで覆われた内壁とアンテナを持つプラズマ室 - Google Patents
カバーで覆われた内壁とアンテナを持つプラズマ室Info
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- JPH09245997A JPH09245997A JP7834896A JP7834896A JPH09245997A JP H09245997 A JPH09245997 A JP H09245997A JP 7834896 A JP7834896 A JP 7834896A JP 7834896 A JP7834896 A JP 7834896A JP H09245997 A JPH09245997 A JP H09245997A
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Abstract
とアンテナは金属製であるので、イオンや電子によって
スパッタリングされると誘電体に付いてマイクロ波が入
り難くなる。被処理物にスパッタリング粒子が混ざる。
これらを解決することが本発明の目的である。 【構成】 チャンバ内壁とアンテナを絶縁体のカバーに
よって覆う。
Description
マにし、ラジカル線又はイオンビームを外部に放出する
ためのラジカル源或いはイオン源に関する。イオン源
は、原料ガスをマイクロ波、高周波、直流電圧などによ
ってプラズマに励起して、引出電極に電圧を掛けイオン
をビームとして引き出すものである。イオン注入、イオ
ンドーピングなどに使われる。イオンは荷電粒子である
から電極に電圧を掛けることによって引き出せる。その
エネルギーも電極電圧によって簡単に制御できる。用途
も広く、よく知られているから、イオン源はここでは説
明しない。本発明は、イオン源とラジカル源の改良に関
するが、ラジカル源が未だによく知られていないのでこ
れについてやや詳しく説明する。
波をプラズマ生成室に導入し原料ガスを励起してプラズ
マとし、この内中性活性種であるラジカルのみを外部に
取り出すことのできるようにした機構である。磁場を掛
けて電子の共鳴を起こさせることによってプラズマの生
成効率を高揚するようにしたのがECRラジカル源であ
る。イオンビ−ムを引き出すイオン源とは違う。また基
底状態にある中性分子を生成する分子線セルとも違う。
蒸着源でもないし、スパッタリング源でもない。ラジカ
ル源は分子線エピタキシャル成長法で採用され得る新し
い線源である。
装置は、もともと超高真空の中で原料を分子線セルから
分子線としてウエハに照射し反応させて、生成物の単結
晶、多結晶を薄膜として生成するものである。分子線セ
ルはKセルとも呼ばれる。分子線セルには幾つもの種類
がある。基本的にはPBNのるつぼ、ヒ−タ、反射板、
熱電対、支柱などが超高真空フランジに取り付けられて
いる。るつぼに原料を入れてヒ−タによって加熱し蒸発
させるようになっている。分子線を照射するので分子線
エピタキシャル成長法という。
すだけで反応し基板の上に薄膜を作ることができる。熱
エネルギーを十分に持っているからである。分子線は中
性分子であり基底状態にある。分子線では十分な反応を
起こさず薄膜形成に役立たないものがある。常温でガス
である不活性な材料の場合、分子線としただけでは薄膜
を作ることができない。窒素はそのようなものである。
窒素は常温で気体であり反応性に乏しい。単に分子線と
しただけではいけない。
ような結晶を作る場合もある。またZnSe、ZnSの
ようなII−VI族半導体のp型不純物として窒素を使う場
合もある。ドーピングのために、イオンにしてイオン注
入することもあるが、これはエネルギーが高くて薄膜の
奥深くに入ってしまう。分子線エピタキシャル成長装置
で薄膜の原料とする場合それはできない。
係はないが、永久磁石を用いて縦磁場を発生させ、マイ
クロ波に対して電子共鳴を起こさせ高密度プラズマを発
生させる装置が石川らによって提案されている。 Junzo Ishikawa, Yasuhiko Takeiri and Toshinori T
akagi,"Axial magneticfield extraction-type microwa
ve ion source with a permanent magnet", Rev. Sci.
Instrum. 55(4), April 1984, p449
20によってチャンバ21内に縦磁場を生じるようにな
っている。原料ガスがガス入り口28からチャンバ21
に導入される。導波管29を伝わるマイクロ波30がア
ンテナ22によってチャンバ21に導かれる。ガスに含
まれる電子がマイクロ波によって振動する。電子は磁場
によってサイクロトロン運動しマイクロ波を共鳴吸収す
る。電子がガス分子を励起してプラズマに転換する。チ
ャンバ21の前には引出電極23、24がありイオンを
イオンビーム31として加速し引き出すようになってい
る。
横方向コイル状39に巻いた形状になっている。永久磁
石20が作る磁界を強くするために磁性体の引出電極2
3を使う。チャンバ21側と引出電極23側は電圧が違
うので絶縁体25によって絶縁される。ベースフランジ
36には冷却媒体37が通る。中間フランジ26も強磁
性体によって作る。永久磁石20、引出電極23、2
4、中間フランジ26によって磁気回路が形成される。
永久磁石によるチャンバ内の磁力線を強化するためであ
る。
には加熱用のヒ−タ34が巻き廻してある。ガス入口2
8から導入されたアルゴン、窒素などのガスのイオンビ
−ムを引き出すことができると述べている。ラジカルに
ついては言及していない。これはイオン源であり、独立
してイオン源として利用されるものである。
装置をラジカル源とすることができる事に気づいた。電
子をマイクロ波に共鳴させるとプラズマができる。プラ
ズマというのは殆ど全てが荷電粒子なのではない。中性
の活性種(ラジカル)も多く含まれる。条件によっては
ラジカルの比率を荷電粒子より遥かに多くする事もでき
る。のような装置でラジカルを生成できることを本発
明者は確かめた。
ラジカルを生成できても荷電粒子のように電界を掛けて
引き出す事はできない。しかしチャンバと外部に圧力の
差を与えると、チャンバから差圧によって中性のラジカ
ルを引き出すことができる。そこで本発明者はの装置
を改良しイオン源ともラジカル源ともできる装置を発明
した。 特願平6−183922号(平成6年7月12日出願
「ECRイオンラジカル源」特開平8−31358号) である。
アンテナによってマイクロ波を導入しガスをプラズマに
し、ラジカル或いはイオンを外部に引き出そうとするも
のである。マイクロ波だけではガスを励起しにくいので
磁場を掛けて電子がサイクロトロン共鳴するようにして
いる。プラズマ室の外部に磁石を設けて縦磁場を発生さ
せる。マイクロ波の周波数が2.45GHzである場
合、磁石により875Gの磁場を発生させると電子の螺
旋運動の周波数とマイクロ波周波数が合致するのでサイ
クロトロン共鳴が起こる。
できガス分子を励起して中性のラジカルとする。マイク
ロ波の共鳴吸収を利用するのでECRという。これは引
き出し電極に電圧を加えるとイオンビ−ムを引き出すよ
うにできる。電極電圧を0にして差圧を与えることによ
り中性ラジカルを引き出すことができるようになってい
る。イオンビ−ム、ラジカルの何れをも選択的に出せる
のでイオンラジカル源と言う。二つの目的、用途に利用
できる。
において、窒素のような不活性なガスの場合は、分子線
ではなくラジカル線にして基板に照射するのが良いので
はないかと気づいた。やの装置から引き出し電極を
除き、荷電粒子が発生しにくい条件でガス励起し、差圧
によってラジカルを引き出すようにすればラジカル源と
なるはずである。つまりをイオン源としてではな
く、ラジカル源として利用しようと思い立ったのであ
る。丁度都合の良いことにMBE装置の場合は、外部が
超高真空であるから十分に差圧を賦与でき、中性ラジカ
ルが圧力差によってうまく引き出されるという利点もあ
る。
ル源とここでは名付ける。ラジカル源(ラジカルセル)
を利用できるものは、窒素の他にアルゴンや酸素、塩素
などがある。アルゴンはしかし薄膜の原料にはならな
い。薄膜の表面に当てて表面を清掃する作用があるぐら
いである。酸素の場合は反応性が強いから他の手段によ
って酸化物の膜を作ることができる。塩素はエッチング
の場合には使われるがMBEでは用いられない。結局M
BEでラジカル源を使わなければならないものは現在の
ところ窒素だけと言えるかもしれない。
にせよ、ラジカル源として使うにせよ、従来のラジカル
源、イオン源は、金属製の壁が露出しており、アンテナ
も金属地肌が露呈していた。金属はスパッタリングされ
易くスパッタリング粒子を生じ易い。従前の装置におい
ては、マイクロ波によって金属壁がスパッタリングされ
る。アンテナも金属製であるのでスパッタリングされ
る。
リングされた金属分子や原子(スパッタ粒子)がラジカ
ルやイオンと共に外部に飛び出すので、被処理物を汚染
するということ、これが一つである。二つ目は、スパッ
タ粒子がマイクロ波を通す窓に付着して導体の膜を形成
し、マイクロ波を入り難くするということである。三つ
目は、アンテナがスパッタリングによって痩せてしまい
寿命が短いということである。被処理物の汚染は明瞭で
あるからこれ以上説明しない。
をチャンバに導入するためにアンテナを使う。しかしマ
イクロ波はアンテナだけを伝わって内部に入るわけでは
ない。アンテナとアースであるチャンバ壁とその間の絶
縁体があって初めてマイクロ波が伝搬できる。低周波の
電流であればその間の絶縁体は別段何の役割をも持たな
いが、マイクロ波になると分布定数回路を構成するから
絶縁体も伝搬に一役買っている。
壁との間に電界磁界を形成し、ポインティングベクトル
としてエネルギーが流れるための媒質にもなっている。
ただにアンテナとアースを絶縁しているだけではない。
もしもその絶縁体の出口の端面に金属膜が付くと、これ
によってポインティングベクトルが遮られる。ためにマ
イクロ波パワーがチャンバに入ってゆかない。従来のイ
オン源、ラジカル源は、スパッタリング粒子が絶縁体窓
の端面に導体被膜を作るので、これによってマイクロ波
が反射され内部に進入できないという欠点があった。
グを防ぐようにしたプラズマ生成室を提供することが本
発明の第1の目的である。長時間使用してもプラズマ生
成効率が落ちずメンテナンスの頻度の少ないプラズマ生
成室を提供することが本発明の第2の目的である。長寿
命のアンテナを提供することが本発明の第3の目的であ
る。長寿命のアンテナを実現することによってプラズマ
の連続点灯時間を長くすることのできる装置を提供する
ことが本発明の第4の目的である。
マ室の内壁に絶縁体のカバーを設け、アンテナにも鞘状
の絶縁体カバーを設けたものである。絶縁体カバーのた
めにスパッタリングが防止される。
覆するカバーを設けるから、本発明の装置はマイクロ波
や高周波によって殆どスパッタリングされない。金属に
比べて絶縁体はスパッタリングに対して極めて強い。ス
パッタされ難いからスパッタ粒子による被処理物の汚染
という問題を回避できる。アンテナも消耗しないので長
寿命になる。それにたとえスパッタリングされても金属
でないので絶縁体窓に付着しても導体膜を作らない。マ
イクロ波の進入の妨げにならない。長時間プラズマの生
成を持続できる。
アルミナ、MgO、TiO2 、SiO2 、ジルコニアな
どを用いることができる。これらの材料を鞘状に予め成
形し、アンテナにかぶせる。チャンバ内壁に差し入れる
カバーにしても、これらの材料の粉末を円筒状、円盤状
に焼成するか或いは塊材料を加工して製造する。成形物
をチャンバの内壁に差し込むようにする。全体を一体と
することが難しい場合は、円筒部や円板部をいくつかの
部分に分けて製作し、チャンバ内で組み立てるようにす
る。
ことができる。しかし溶射では厚いものができない。や
がて剥落する。剥げたものが被処理物を汚染する。交換
ができず保守が容易でないという欠点がある。本発明
は、筒状、鞘状のカバーをアンテナに差し込み、円筒状
円盤状のカバーをチャンバ内壁に沿うように差し込む。
このようにすると、厚いものができるし、交換も容易で
ある。ボロボロはげないから被処理物を汚染する恐れは
ない。カバーの厚みは0.1mm〜10mmとする。最
適なのは1mm〜3mm程度である。カバーを着脱容易
にするために、アンテナは直線状の単純な形状が望まし
い。
態を説明する。マイクロ波発振器で発振し、導波管を通
じて伝搬してきたマイクロ波は、真空コネクタ1に設け
られたアンテナ3を通して、真空容器(プラズマ室)4
に導入される。真空容器(プラズマ室)4は円筒形ある
いは矩形状のチャンバである。チャンバ内にはプラズマ
2が励起されている。プラズマは、中性ラジカル、イオ
ン、電子、中性の基底状態分子などの集合である。
しても用いられる。イオン源とする場合は、出口の先に
引出電極を設けて電圧を印加する。ラジカル源とする場
合は、全体が分子線エピタキシャル成長装置の成長室の
内部に設けられる。成長室の真空装置が成長室内部を超
高真空に引くからプラズマ室4をも真空に引く事ができ
る。独自の真空ポンプは不要である。成長室のポンプに
よってガスを吸引するので、常にプラズマ室4内部の方
が、外部(MBE成長室内部)よりも圧力が高い。差圧
の作用によって中性の分子やラジカルがプラズマ室4か
ら成長室に排出される。
を囲むように、円筒形の永久磁石5が設置される。これ
はプラズマ室内に縦方向の磁界を発生する。これによっ
て電子がサイクロトロン運動してマイクロ波を共鳴吸収
する。チャンバの適当な箇所には原料ガス入口9があ
る。
いは円盤状の内壁カバー6によって被覆されているとい
う事である。さらにアンテナ3には鞘状のアンテナカバ
ー7が差し込まれている。これが本発明の特徴である。
さらに真空コネクタ1のチャンバ側もコネクタカバー8
によって防護されている。
と空間部、アンテナと空間部の間が直流的には絶縁され
る。しかしこれは差し支えない事である。絶縁膜を通じ
て誘導電流が流れる。空間中の荷電粒子に十分な交番電
界が掛かる。マイクロ波のように周波数が高いと、かな
り厚い誘電体であっても交流抵抗は低い。
マイクロ波の振動によってもアンテナがスパッタリング
されない。アンテナの寿命が長くなる。交換の頻度も著
しく低くなる。チャンバ内壁を絶縁体によって被覆する
ので金属壁のスパッタリングがなくなる。プラズマが汚
染されない。被処理物に不要なイオンや分子が照射され
るというような事がなくなる。
状の真空容器4でアルゴンプラズマを生成した。マイク
ロ波周波数は、2.45GHz、マイクロ波電力は10
0Wである。比較のためにチャンバ内壁を露出し、アン
テナも金属棒を露呈したままプラズマを生成した。その
場合2時間で反射電力が大きくなり、プラズマが消えて
しまった。そのままでは再点灯ができなかった。アンテ
ナを新しいものに交換しマイクロ波の窓になる絶縁体の
表面を清掃して初めて再点灯できるような状態になっ
た。
とアンテナをセラミックカバーによって覆い、同じ電力
によってアルゴンプラズマを生成した。200時間以上
連続点灯したがマイクロ波反射電力は殆どなかった。な
お連続してプラズマ点灯を持続できる状態であった。誘
電体窓が金属スパッタリング粒子によって汚染されない
という事である。
プラズマとし、イオンビ−ム、ラジカルビームを発生さ
せるイオン源、ラジカル源として本発明は次の効果があ
る。 (1)プラズマの寿命を長くすることができる。従来は
数時間で十分なマイクロ波が入らないようになりプラズ
マが消えてしまった。本発明によれば200時間連続点
灯できる。イオン源、ラジカル源としての性能を飛躍的
に高揚できる。
る。金属スパッタ粒子が誘電体窓に付かないし、アンテ
ナを交換しなくて良いので条件が一定になり、プラズマ
の状態が安定化する。 (3)メンテナンス頻度が著しく減少する。頻繁にチャ
ンバを開いてアンテナを取り替え、チャンバ壁面を清掃
する必要がなくなる。
源、ラジカル源を得ることができる。被処理物を汚染せ
ず高品質の薄膜形成が可能になる。 (5)メンテナンス頻度が少なくなるから、真空度が向
上する。 (6)アンテナを直線状にするとカバー形状を鞘型にし
容易に抜き差しできる。アンテナの消耗が少なくなり、
カバーだけを交換すればアンテナは引き続き使用でき
る。
図。
(4), April 1984, p449(1984)によって提案されている
マイクロ波イオン源の概略断面図。
Claims (1)
- 【請求項1】 ガスを導入しこれをプラズマにし出口か
らラジカル又はイオンを放出する真空容器と、マイクロ
波を真空容器に導くためのアンテナとを含み、真空容器
の内壁が絶縁体のカバーによって覆われアンテナは直線
状で鞘型のカバーによって覆われていることを特徴とす
るカバーで覆われた内壁とアンテナを持つプラズマ室。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7834896A JPH09245997A (ja) | 1996-03-05 | 1996-03-05 | カバーで覆われた内壁とアンテナを持つプラズマ室 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7834896A JPH09245997A (ja) | 1996-03-05 | 1996-03-05 | カバーで覆われた内壁とアンテナを持つプラズマ室 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09245997A true JPH09245997A (ja) | 1997-09-19 |
Family
ID=13659493
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7834896A Pending JPH09245997A (ja) | 1996-03-05 | 1996-03-05 | カバーで覆われた内壁とアンテナを持つプラズマ室 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09245997A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001135253A (ja) * | 1999-10-11 | 2001-05-18 | Axcelis Technologies Inc | イオナイザーおよびイオン源 |
WO2004108979A1 (ja) * | 2003-06-02 | 2004-12-16 | Shincron Co., Ltd. | 薄膜形成装置及び薄膜形成方法 |
US7455030B2 (en) | 2007-03-06 | 2008-11-25 | Nissin Ion Equipment Co., Ltd. | Plasma generating apparatus |
US7880392B2 (en) | 2005-10-28 | 2011-02-01 | Nissin Electric Co., Ltd. | Plasma producing method and apparatus as well as plasma processing apparatus |
JP2012069509A (ja) * | 2010-08-24 | 2012-04-05 | Nissin Ion Equipment Co Ltd | プラズマ発生装置 |
JP2015076253A (ja) * | 2013-10-08 | 2015-04-20 | 国立大学法人 東京大学 | 小型マイクロ波プラズマ源における誘電体保護機構 |
JP2015530694A (ja) * | 2012-07-11 | 2015-10-15 | ユニヴェルシテ ジョセフ フーリエ−グレノーブル アンUniversite Joseph Fourier−Grenoble 1 | プラズマ生成用の表面波アプリケータ |
-
1996
- 1996-03-05 JP JP7834896A patent/JPH09245997A/ja active Pending
Cited By (8)
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