JP2001210245A - イオン源およびイオン引き出し電極 - Google Patents

イオン源およびイオン引き出し電極

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JP2001210245A
JP2001210245A JP2000017696A JP2000017696A JP2001210245A JP 2001210245 A JP2001210245 A JP 2001210245A JP 2000017696 A JP2000017696 A JP 2000017696A JP 2000017696 A JP2000017696 A JP 2000017696A JP 2001210245 A JP2001210245 A JP 2001210245A
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ion
ion extraction
discharge chamber
extraction electrode
electrode
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Yoshinori Kumagai
義憲 熊谷
Shigeji Matsumoto
繁治 松本
Kazuhiro Sato
和広 佐藤
Kazutaka Maru
一孝 丸
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Shincron Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明の目的は,装置全体を大型にしなくて
も大直径イオンビームを得ることができる高周波型のイ
オン源およびイオン引き出し電極を提供することにあ
る。 【解決手段】 本発明は、発生させたプラズマからイオ
ンを引き出してイオンビームを発生させるイオン源Sで
ある。開口6を有する放電室1内に配置されたプラズマ
発生手段3と、開口6を塞ぐ第1のイオン引き出し電極
7と、第2のイオン引き出し電極8と、第1のイオン引
き出し電極7と第2のイオン引き出し電極8との間に電
位差を付与する手段28,29と、を備える。各イオン
引き出し電極7,8は、複数のイオン引き出し孔22を
備えて放電室1の外側に向かって凸となる曲面領域20
を備えた板状体からなり、第1のイオン引き出し電極7
と第2のイオン引き出し電極8との間には、所定の間隔
を置くための絶縁体からなるスペーサ9が配設される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はイオン源およびイオ
ン引き出し電極に係り、特にドライエッチングや薄膜形
成のために使用されるイオン源およびイオン引き出し電
極、特に大直径イオンビームを発生する熱陰極を使用し
ない高周波(RF)型イオン源およびイオン引き出し電
極に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体分野では、半導体装置等を作成す
る工程中、エッチングや薄膜形成等の工程で、イオン源
を用いる技術が用いられている。例えば、イオン源を用
いるドライエッチングとして、静電位状態に保ったイオ
ン源で、不活性ガスを用いてプラズマを発生させ、この
プラズマから不活性ガスイオンを引き出してウェハに照
射し、エッチングを行う「イオンビームエッチング」が
知られている。また、イオン源を用いる薄膜形成とし
て、金属蒸発源から蒸発させた金属蒸気と、イオン源か
ら引き出したイオンビームを同時に基板に供給し、薄膜
の性質を変化させながら薄膜形成する「イオンビームア
シスト蒸着」が知られている。
【0003】これらの方法では、熱陰極電子衝撃(Ka
ufman)型イオン源が一般的に用いられている。熱
陰極電子衝撃型イオン源は、電子ビームを材料に照射し
加熱して蒸発させるなどによりガスを導入し、このガス
からイオン化用グリッドとフィラメント等の熱陰極を用
いてプラズマを発生させるものである。このプラズマ中
のイオンは、イオン源放電室の一端に設けられた図9
(B)のような平らな板状のイオン引き出し電極で加速
されて、イオンビームが形成される。
【0004】しかし、上述の構成のイオン源は、上記ガ
スとして、酵素等の反応性プラズマ生成用ガスを導入し
た場合、陰極部が酸化燃焼により数時間で消耗・切断し
てしまうという問題点があり、実用上、長寿命のイオン
銃が要求される半導体技術の分野では、解決が望まれ
る。また、上述の平らな板状のイオン引き出し電極によ
れば、図9(B)の38のように、引出されたイオンビ
ームの発散角が制限され、実用的直径のイオンビームが
得られないというという問題点がある。実用的直径のイ
オンビームを得るため、電極口径を大きくすると、大型
なイオン源になり、取り扱いが難しくなるという問題点
がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
問題点を解決することにあり、熱陰極を用いない長寿命
の高周波型のイオン源を提供することにある。また、本
発明の他の目的は、装置全体を大型にしなくても大直径
イオンビームを得ることができる高周波型のイオン源お
よびイオン引き出し電極を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題は、請求項1に
係る発明によれば、発生させたプラズマからイオンを引
き出してイオンビームを発生させるイオン源であって、
開口を有する放電室内に配置されたプラズマ発生手段
と、前記放電室の前記開口を塞ぐ第1のイオン引き出し
電極と、該第1のイオン引き出し電極と所定の間隔を置
いて配置された第2のイオン引き出し電極と、前記第1
のイオン引き出し電極と前記第2のイオン引き出し電極
との間に電位差を付与する手段と、を備え、前記各イオ
ン引き出し電極は、該イオン引き出し電極を貫通する複
数のイオン引き出し孔を備えて前記放電室の外側に向か
って凸となる曲面領域を備えた板状体からなり、前記第
1のイオン引き出し電極と前記第2のイオン引き出し電
極との間には、前記所定の間隔を置くための絶縁体から
なるスペーサが配設されたことにより解決される。
【0007】このように、イオン引き出し電極を、前記
放電室の外側に向かって凸となる曲面として形成してい
るので、装置全体を大型にしなくても大直径イオンビー
ムを得ることができる。
【0008】このとき、前記複数のイオン引き出し孔
は、前記曲面領域の中心付近よりも前記曲面領域の周縁
付近に密度を高めて形成されるように構成すると好適で
ある。
【0009】前記複数のイオン引き出し孔は、前記放電
室側から前記放電室の外側に向かって、放射状に形成さ
れ、前記第1のイオン引き出し電極のそれぞれの前記イ
オン引き出し孔と、前記第2のイオン引き出し電極のそ
れぞれの前記イオン引き出し孔とが、2つの前記イオン
引き出し電極を貫通する直線上に存在すると好適であ
る。このように構成することにより、放電室から、イオ
ンをスムーズに引き出すことが可能となる。
【0010】前記プラズマ発生手段は、原料ガスを前記
放電室内に導入するガス導入手段と、前記放電室内に配
置された高周波電圧を印加するためのアンテナと、前記
放電室の内壁に沿って配置された複数の磁石と、を備
え、前記複数の磁石は、隣接する該磁石のS極とN極が
隣り合い、前記アンテナを取り囲むように配置され、前
記アンテナは、誘導結合方式の誘導コイルからなるよう
に構成すると好適である。このように構成することによ
り、放電室内に、高密度のプラズマを発生させることが
可能となる。
【0011】上記課題は、請求項5に係る発明によれ
ば、プラズマが発生したイオン源から、イオンを引き出
すイオン引き出し電極であって、前記イオン引き出し電
極は、該イオン引き出し電極を貫通する複数のイオン引
き出し孔を備えて前記放電室の外側に向かって凸となる
曲面領域を備えた板状体からなることにより解決され
る。このように、イオン引き出し電極を、前記放電室の
外側に向かって凸となる曲面として形成しているので、
装置全体を大型にしなくても大直径イオンビームを得る
ことができる。
【0012】前記複数のイオン引き出し孔は、前記曲面
領域の中心付近よりも前記曲面領域の周縁付近に密度を
高めて形成されると好適である。
【0013】前記複数のイオン引き出し孔は、前記曲面
の内側から前記曲面の外側に向かって、放射状に形成さ
れると好適である。このように構成することにより、放
電室から、イオンをスムーズに引き出すことが可能とな
る。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明は、発生させたプラズマか
らイオンを引き出してイオンビームを発生させるイオン
源に関する発明である。本発明のイオン源は、図1,図
5に示すように、開口6を有する放電室1内に配置され
たプラズマ発生手段と、放電室1の開口6を塞ぐ第1の
イオン引き出し電極7と、この第1のイオン引き出し電
極7と所定の間隔を置いて配置された第2のイオン引き
出し電極8と、第1のイオン引き出し電極7と前記第2
のイオン引き出し電極8との間に電位差を付与する手段
28,29と、を備えている。
【0015】前記各イオン引き出し電極7,8は、放電
室1の外側に向かって凸となる曲面領域20を備えた板
状体からなる。この曲面領域20は、これらのイオン引
き出し電極7,8を貫通する複数のイオン引き出し孔2
2を備えている。第1のイオン引き出し電極7と第2の
イオン引き出し電極8との間には、所定の間隔を置くた
めの絶縁体からなるスペーサ9が配設されている。複数
のイオン引き出し孔22は、図6に示すように、曲面領
域20の中心23付近よりも曲面領域20の周縁24付
近に密度を高めて形成されている。
【0016】複数のイオン引き出し孔22は、図1に示
すように、放電室1側から放電室1の外側,すなわち図
1の図面上側に向かって、放射状に形成されている。そ
して、第1のイオン引き出し電極7のそれぞれのイオン
引き出し孔22と、第2のイオン引き出し電極8のそれ
ぞれのイオン引き出し孔22とが、図9に示すように、
2つのイオン引き出し電極7,8を貫通する直線上に存
在するように形成されている。
【0017】前記プラズマ発生手段は、原料ガスを放電
室1内に導入するガス導入手段2と、放電室1内に配置
された高周波電圧を印加するためのアンテナ3と、図7
のように放電室1の内壁に沿って配置された複数の磁石
5と、を備えている。前記複数の磁石5は、図1,図7
に示すように、隣接する磁石5のS極19とN極18が
隣り合い、アンテナ3を取り囲むように配置されてい
る。そして、アンテナ3は、誘導結合方式の誘導コイル
からなる。
【0018】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。なお、以下に説明する部材,配置等は本発明を
限定するものでなく、本発明の趣旨の範囲内で種々改変
することができるものである。なお、図3、図8は、本
例において、放電室1の底面上に永久磁石45A,45
Bを配置する場合を示す図であり、図1は、永久磁石4
5A,45Bを配置する場合を示す図である。
【0019】本例は、イオン源およびイオン引き出し電
極に関する発明である。本例のイオン源Sは、イオンビ
ームアシスト蒸着法(IBAD)に用いられるものであ
り、図2に示すように、成膜装置35に設置される。成
膜装置35内には、図示しない基板,この基板を保持す
るサセプタ36等が配置されている。また成膜装置35
は、図示しない配管を通して真空ポンプに接続され,成
膜装置35内を減圧できるように構成されている。ま
た、成膜装置35内には、図示しない金属蒸発源が、サ
セプタ36に対向するように配置されている。イオン源
Sは、後に説明するイオン引き出し電極7,8が、基板
を保持するサセプタ36に対向するように、配置されて
いる。
【0020】本例のイオン源Sは、放電室1内でプラズ
マを発生させて、イオン引き出し電極7,8によりイオ
ンを引き出し、イオンビームを発生させる装置であり、
図1に示すように、放電室1と、ガス導入手段としての
ガス導入口2と、アンテナ3と、磁石としての永久磁石
5と、第1のイオン引き出し電極としてのスクリーン電
極7と、第2のイオン引き出し電極としての加速電極8
と、を主要構成要素とする。
【0021】放電室1は、ステンレス製の円筒体からな
り、プラズマを発生させる室としての役割を果たす。放
電室1には、図5に示すように、加速電源28の正極端
子が接続され、正の電圧が印加可能に構成されている。
この放電室1には、図1に示すように、ガス導入手段と
してのガス導入口2が配設される。ガス導入口2は、直
径1mmのオリフィス形状からなり、プラズマがこのガ
ス導入口2を通して逆流しないように形成されている。
このガス導入口2は、図2に示すように、ガス導入ユニ
ット11を介してガスボンベ10に接続され、ガスボン
ベ10内のガスが放電室1内に導入可能に形成されてい
る。
【0022】アンテナ3は、径6.4mmのステンレス
パイプからなり、図3、図4に示すように、放電室1と
同軸的な渦巻き状の形状として形成されている。アンテ
ナ3は、2つの脚部12,13を有し、図1、図3、図
4に示すように放電室1の底面に、脚部12,13で、
セラミックスからなる絶縁体4を介して固定され、絶縁
体4により、放電室1と電気的に絶縁されている。アン
テナ3は、図5に示すように、マッチングボックス14
を介してRF電源に接続されている。アンテナ3に高周
波電流が流れると、誘導起電力が生じて、誘導結合方式
のRF放電によって、放電室1内にプラズマを発生可能
に構成されている。
【0023】また、放電室1の内壁に沿って、20個の
縦長の直方体の永久磁石5が縦方向に固定されている。
永久磁石5としては、例えば、1キロガウス以上2キロ
ガウス以下の磁界強さを有するサマリウム−コバルト磁
石を用いる。永久磁石5の数は、偶数であれば、20以
外の数とすることもできる。図7は、10個の永久磁石
5を配置した例を示している。これらの永久磁石5は、
図1,図7に示すように、所定の間隔をおいて放電室1
の周縁に配列されている。永久磁石5の最も長い辺が、
放電室1の側壁面と平行になるようにされている。永久
磁石5は、放電室1の半径方向の磁軸を有し、それぞれ
のN極18,S極19の磁極面が交互に反転するように
配置され、この配置によりカスプ型の磁界が形成されて
いる。
【0024】また、図3、図8に示すように、放電室1
の底面上に、永久磁石45A,45Bを配置してもよ
い。永久磁石45A,45Bは、直方体からなる永久磁
石である。アンテナ3の脚部12,13の両側に、永久
磁石45Bが、長手方向が放電室1の底面と平行になる
ように1本ずつ配置され、永久磁石45Bの外側に、永
久磁石45Aが、永久磁石45Bと平行に1本ずつ配置
される。そして、隣り合う永久磁石45A,Bは、放電
室1の底面側と放電室1内側との極性が互いに逆になる
ように配置される。すなわち、永久磁石45Aは、放電
室1の底面側がN極、放電室1内側がS極となるよう
に、永久磁石45Bは、放電室1の底面側がS極、放電
室1内側がN極となるように配置される。
【0025】このように、アンテナ3の脚部12,13
の両側に、アンテナ3のコイルと平行になるように永久
磁石45A,Bを配置して、アンテナ3の下で電子を捕
獲することにより、初期放電性および放電維持性が良く
なる。ここで、初期放電性とは、電源をオンにしたとき
に、確実に放電が開始されることをいう。また、放電維
持性とは、放電中に、自然に放電が止まらないことをい
う。
【0026】永久磁石5と放電室1の上下壁面との間に
は、図1に示すように、空間39が空けられている。こ
の空間39は、それぞれの永久磁石5の間に設けられた
図7に示す空間40と連絡しており、空間39,40
は、放電室1の壁面と永久磁石5との間に純水を流すた
めの純水循環路として形成されている。この循環路を流
れる純水により、永久磁石5が冷却され、永久磁石5が
減磁されることが防止されている。純水循環路は、図2
に示すように、配管16を介して純水循環器17に接続
され、純水循環器17から純水循環路に純水が供給され
ている。
【0027】第1のイオン引き出し電極としてのスクリ
ーン電極7,第2のイオン引き出し電極としての加速電
極8は、図1に示すように、放電室1の上端の開口6を
塞ぐように取り付けられている。スクリーン電極7,加
速電極8は、酸素に腐食されにくいモリブデン製で、図
1、図6に示すように、所定の厚さの板状体からなる。
スクリーン電極7,加速電極8は、平面方向の中央に、
放電室1の外側に向かって凸となる曲面としての球弧面
に形成された曲面領域20と、該曲面領域の周囲に形成
された平面領域21とを備えている。
【0028】スクリーン電極7は、曲面領域20の球弧
の曲率半径が100mmに形成され、開口径,すなわち
曲面領域20の球弧面と平面領域21の平面とが交差す
る円の直径が120mmに形成されている。また、加速
電極8の曲面領域20の球弧の曲率半径は、スクリーン
電極7よりも大きい101.8mmで、加速電極8の開
口径は、スクリーン電極7と同様の120mmに形成さ
れている。
【0029】スクリーン電極7,加速電極8の曲面領域
20には、図6に示すように、厚さ方向にスクリーン電
極7,加速電極8を貫通する小さなイオン引き出し孔2
2が、多数設けられている。曲面領域21の中心23か
ら周縁24に向かって、イオン引き出し孔22の密度
が、徐々に高くなるようにされている。また、それぞれ
のイオン引き出し孔22は、図1に示すように、曲面領
域21の厚さ方向に対してそれぞれ直線となるように穿
孔されている。すなわち、イオン引き出し孔22は、上
面が曲面領域21の表面で、底面が曲面領域21の底面
である略円柱形状となるように、穿孔されている。この
とき、イオン引き出し孔22は、その壁面が、曲面領域
21の球弧の接面に垂直となる面として形成するとよ
い。
【0030】スクリーン電極7,加速電極8のイオン引
き出し孔22は、図1,図9に示すように、両電極7,
8のイオン引き出し孔が同じ直線上にのるように穿孔さ
れている。より厳密にいえば、両電極7,8のイオン引
き出し孔は、略円柱形状の延長上にのるように形成され
ている。したがって、曲面の内側に位置するスクリーン
電極7のイオン引き出し孔22は、外側に位置する加速
電極8のイオン引き出し孔22よりも、それぞれ内側に
形成されることとなる。スクリーン電極7,加速電極8
の平面領域21には、これらの電極7,8と放電室1,
後に説明するスペーサ9とをボルト,ナットで固定する
ための取付孔25が設けられている。
【0031】放電室1の開口6には、スクリーン電極7
が、開口6を塞ぐように、平面領域21で固定されてい
る。スクリーン電極7の平面領域21の開口6と反対側
の面には、図1に示すように、両電極7,8の間隔を精
度よく1mmに保つためのスペーサ9が固定されてい
る。このスペーサ9は、電気的に絶縁を保つことができ
るアルミナ製からなり、厚さ1mmで、両電極7,8の
平面領域21と同軸状のリング形状からなる。スペーサ
9のリング形状の径は、スペーサ9が、両電極7,8の
平面領域21内に収まる大きさとされている。スペーサ
9のスクリーン電極7と反対側の面には、スクリーン電
極7と加速電極8が平行になるように、加速電極8が、
平面領域21で固定されている。このとき、図1に示す
ように、両電極7,8は、両電極7,8のイオン引き出
し孔22それぞれが、同じ直線上にのるように固定され
ている。
【0032】スクリーン電極7は、加速電源28の正極
端子が接続された放電室1に直接固定されているため、
放電室1と同じ正の電圧が印加可能に構成されている。
加速電極8には、図5に示すように、サプレッサ電源2
9の負極端子が接続されており、負の電圧が印加可能と
されている。これにより、加速電極8とスクリーン電極
7との間に電位差が生じて強い外部電界が形成されるよ
うに構成されている。
【0033】また、加速電極8の成膜装置35側には、
周知のニュートラライザ31が配置されている。ニュー
トラライザ31は、電子を供給してイオン値を制御し、
電気的に中性な状態を維持するものであり、加速電極8
にイオンが溜まってイオン引き出しの効率が低下するこ
とを防止する役割を果たす。
【0034】次に、本例のイオン源S及びイオン引き出
し電極7,8の動作について説明する。まず、ガス導入
ユニット11を作動させ、ガスボンベ10内のガスを、
ガス導入口2から放電室1内に導入する。このとき、ア
ルゴンガス,酸素ガス,窒素ガスや、これらのガスの混
合ガスを導入する。また、純水循環器17を作動させて
永久磁石5の周囲の純水循環路に純水を流し、永久磁石
5を冷却する。放電室1内が所定のガス圧力に達した
ら、RF電源15をオンにして、アンテナ3に高周波
(13.56MHz)電流を流す。この高周波電流に起
因する誘導起電力により、放電室1内にプラズマが発生
する。このRFによる放電は、誘導結合方式の放電と呼
ばれている。放電室1の真空中に存在する電子が、高周
波により振動し、これが、ガス導入口2から導入された
中性ガスに衝突することにより、中性ガス分子がイオン
化され、放電室1内にプラズマが形成されるのである。
また、図7のような永久磁石5の磁力線37によって形
成されたカスプ型の磁界により、電子が効率よく閉じこ
められ、密度の高いプラズマが保持される。さらに、ア
ンテナ3の脚部12,13の両側に、アンテナ3のコイ
ルと平行になるように永久磁石45A,Bを配置して、
アンテナ3の下で電子を捕獲することにより、初期放電
性および放電維持性が良くなる。
【0035】また、加速電源28,サプレッサ電源29
の電源をオンにする。これにより、正の電圧が印加され
たスクリーン電極7と、負の電圧が印加された加速電極
8との間に、電位差が生じて強い外部電界が形成され
る。この外部電界により、放電室1内で生成されたプラ
ズマ中の正イオンが、イオン引出イオン引き出し孔22
から引き出され、イオンビームが形成される。また、同
時にニュートラライザ電源30の電源をオンにする。こ
れにより、ニュートラライザ31に電子が供給され、イ
オンビームのイオン値を一定に保つことが可能となる。
【0036】以上のようにして、アルゴン,酸素,窒素
等のイオンビームがイオン源Sから引き出される。本例
のイオン源Sは、例えば、図2に示すイオンビームアシ
スト蒸着装置で用いられる。イオンビームアシスト蒸着
では、基板に対向して設けられた金属蒸発源から、電子
ビーム蒸着装置で金属蒸気を蒸発させる。同時に、本例
のイオン源Sを上記の手順で作動させてイオンビームを
発生させる。こうして、金属の蒸着粒子とイオンビーム
を、基板に同時に供給する。アルゴン等の希ガスイオン
ビームを発生させた場合には、結晶性向上など、薄膜の
性質を変化させることができる。また、炭素(メタン
等),窒素,酸素等のイオンビームを発生させた場合に
は、炭化物,窒化物,酸化物等の化合物薄膜を形成する
ことができる。
【0037】なお、本例では、イオン源Sをイオンビー
ムアシスト蒸着法に用いる場合について説明したが、本
例のイオン源Sを、イオンビームエッチングに用いても
よい。このイオンビームエッチング装置は、真空容器
と、真空容器内に配置された基板と、この基板に加速電
極8が対向するように配置された本例のイオン源Sと、
を備える。イオンビームエッチングは、基板を配置して
真空容器内を減圧した後、上記の手順により本例のイオ
ン源Sで発生させたイオンビームを基板に照射して行
う。本例のイオン源Sを用いると、太くて均一なイオン
ビームを得ることができるので、大きなシリコンウェハ
を一挙にエッチングしたり、大きなレンズの表面を一様
にエッチングしたりする場合に好適である。また、イオ
ンビームによるエッチングは、完全異方性を実現できる
というメリットがある。
【0038】以上のように、本例では、イオン引き出し
電極7,8を、放電室1の外側に向かって凸となる曲面
として形成し、複数のイオン引き出し孔22を、放電室
1側から放電室1の外側に向かって、放射状に形成して
いるので、図9の(A)に示すような、大直径のイオン
ビームを得ることができる。
【0039】図9(B)に示すような従来の平らな板状
のイオン引き出し電極では、イオンビームは、両電極
7,8の平行するように設けられたイオン引き出し孔2
2から、図10(B)のように両側に広がる。しかし、
すべてのイオン引き出し孔が図9(B)のように、平行
に設けられているため、全体としては、広角なイオンビ
ームを得ることはできない。それに対し、本発明のイオ
ン引き出し電極でも、従来のイオン引き出し電極と同様
に、イオン引き出し孔22からイオンビームが両側に広
がるが、イオン引き出し孔22が、曲面領域20の曲率
に応じて外側に傾いているため、全体として、図9の
(A)に示すような広角なイオンビームを得ることが可
能となるのである。
【0040】
【発明の効果】本発明では、イオン引き出し電極を、前
記放電室の外側に向かって凸となる曲面として形成して
いるので、装置全体を大型にしなくても大直径イオンビ
ームを得ることができる。また、本発明では、複数のイ
オン引き出し孔を、前記放電室側から前記放電室の外側
に向かって、放射状に形成され、前記第1のイオン引き
出し電極のそれぞれの前記イオン引き出し孔と、前記第
2のイオン引き出し電極のそれぞれの前記イオン引き出
し孔とが、2つの前記イオン引き出し電極を貫通する直
線上に存在するようにしているため、放電室から、イオ
ンをスムーズに引き出すことが可能となる。
【0041】また、本発明では、プラズマ発生手段は、
原料ガスを前記放電室内に導入するガス導入手段と、前
記放電室内に配置された高周波電圧を印加するためのア
ンテナと、前記放電室の内壁に沿って配置された複数の
磁石と、を備え、前記複数の磁石は、隣接する該磁石の
S極とN極が隣り合い、前記アンテナを取り囲むように
配置され、前記アンテナは、誘導結合方式の誘導コイル
からなるように形成しているので、熱陰極を用いない長
寿命の高周波型のイオン源を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係るイオン源およびイオン
取り出し電極を示す縦断面説明図である。
【図2】本発明の一実施例に係るイオン源と周辺装置と
の接続を示す説明図である。
【図3】本発明の一実施例に係るイオン源を示す縦断面
説明図である。
【図4】図3のA−A線における断面図である。
【図5】本発明の一実施例に係るイオン源と各電源との
接続を示す説明図である。
【図6】本発明の一実施例に係るイオン引き出し電極を
示す平面説明図である。
【図7】本発明の一実施例に係るイオン源の磁石の配置
を説明するための放電室横断面説明図である。
【図8】放電室の底面上に、アンテナのコイルと平行に
なるように永久磁石を配置する場合における、これらの
永久磁石の配置を示す説明図である。
【図9】本発明のイオン引き出し電極を用いた場合のイ
オンビームの発散角(A)と、従来のイオン引き出し電
極を用いた場合のイオンビームの発散角(B)とを示す
説明図である。
【図10】本発明のイオン引き出し電極を用いた場合の
イオンビームの発散角(A)と、従来のイオン引き出し
電極を用いた場合のイオンビームの発散角(B)とを示
す説明図である。
【符号の説明】 S イオン源 1 放電室 2 ガス導入口 3 アンテナ 4 絶縁体 5,45A,45B 永久磁石 6 開口 7 スクリーン電極 8 加速電極 9 スペーサ 10 ガスボンベ 11 ガス導入ユニット 12,13 脚部 14 マッチングボックス 15 RF電源 16 配管 17 純水循環器 18 N極 19 S極 20 曲面領域 21 平面領域 22 イオン引き出し孔 23 中心 24 周縁 25 取付孔 26 壁面 27 接面 28 加速電源 29 サプレッサ電源 30 ニュートラライザ電源 31 ニュートラライザ 32 DC電源 33 出力設定器 34 フィルタボックス 35 成膜装置 36 サセプタ 37 磁力線 38 ビーム発散広がり 39,40 空間
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成12年11月6日(2000.11.
6)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0006
【補正方法】変更
【補正内容】
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題は、請求項1に
係る発明によれば、発生させたプラズマからイオンを引
き出してイオンビームを発生させるイオン源であって、
開口を有する放電室内に配置されたプラズマ発生手段
と、前記放電室の前記開口を塞ぐ第1のイオン引き出し
電極と、該第1のイオン引き出し電極と所定の間隔を置
いて配置された第2のイオン引き出し電極と、前記第1
のイオン引き出し電極と前記第2のイオン引き出し電極
との間に電位差を付与する手段と、を備え、前記各イオ
ン引き出し電極は、該イオン引き出し電極を貫通する複
数のイオン引き出し孔を備えて前記放電室の外側に向か
って凸となる曲面領域を備えた板状体からなり、前記第
1のイオン引き出し電極と前記第2のイオン引き出し電
極との間には、前記所定の間隔を置くための絶縁体から
なるスペーサが配設され、前記複数のイオン引き出し孔
は、前記曲面領域の中心付近よりも前記曲面領域の周縁
付近に密度を高めて形成され前記複数のイオン引き出し
孔は、前記放電室側から前記放電室の外側に向かって、
放射状に形成され、前記第1のイオン引き出し電極のそ
れぞれの前記イオン引き出し孔と、前記第2のイオン引
き出し電極のそれぞれの前記イオン引き出し孔とが、2
つの前記イオン引き出し電極を貫通する直線上に存在す
ことにより解決される。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0008
【補正方法】変更
【補正内容】
【0008】また、前記複数のイオン引き出し孔は、前
記放電室側から前記放電室の外側に向かって、放射状に
形成され、前記第1のイオン引き出し電極のそれぞれの
前記イオン引き出し孔と、前記第2のイオン引き出し電
極のそれぞれの前記イオン引き出し孔とが、2つの前記
イオン引き出し電極を貫通する直線上に存在するように
構成しているため、放電室から、イオンをスムーズに引
き出すことが可能となる。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0009
【補正方法】変更
【補正内容】
【0009】このとき、前記プラズマ発生手段は、原料
ガスを前記放電室内に導入するガス導入手段と、前記放
電室内に配置された高周波電圧を印加するためのアンテ
ナと、前記放電室の内壁に沿って配置された複数の磁石
と、を備え、前記複数の磁石は、隣接する該磁石のS極
とN極が隣り合い、前記アンテナを取り囲むように配置
され、前記アンテナは、誘導結合方式の誘導コイルから
なり、前記複数の磁石と前記放電室の壁面との間には、
冷却水循環路が形成されていると好適である。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0010
【補正方法】変更
【補正内容】
【0010】このように構成することにより、放電室内
に、高密度のプラズマを発生させることが可能となる。
また、冷却水循環路が形成されているため、冷却水循環
路に水を流して磁石が減磁されることを防止することが
可能となる。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0011
【補正方法】変更
【補正内容】
【0011】また、前記プラズマ発生手段は、原料ガス
を前記放電室内に導入するガス導入手段と、前記放電室
内に配置された高周波電圧を印加するためのアンテナ
と、を備え、前記アンテナは、誘導結合方式の誘導コイ
ルからなり、前記放電室内には、前記アンテナの脚部の
両側に、磁石が配置されているように構成してもよい。
このように構成することにより、放電室内に、高密度の
プラズマを発生させることが可能となる。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0012
【補正方法】変更
【補正内容】
【0012】上記課題は、請求項4に係る発明によれ
ば、プラズマが発生したイオン源から、イオンを引き出
すイオン引き出し電極であって、前記イオン引き出し電
極は、該イオン引き出し電極を貫通する複数のイオン引
き出し孔を備えて前記放電室の外側に向かって凸となる
曲面領域と、該曲面領域に延設された平面領域と備えた
板状体からなり、前記複数のイオン引き出し孔は、前記
曲面領域の中心付近よりも前記曲面領域の周縁付近に密
度を高めて形成され、前記複数のイオン引き出し孔は、
前記曲面の内側から前記曲面の外側に向かって、放射状
に形成されたことにより解決される。
【手続補正8】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0013
【補正方法】変更
【補正内容】
【0013】このように、イオン引き出し電極を、前記
放電室の外側に向かって凸となる曲面として形成してい
るので、装置全体を大型にしなくても大直径イオンビー
ムを得ることができる。
【手続補正9】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0017
【補正方法】変更
【補正内容】
【0017】前記プラズマ発生手段は、原料ガスを放電
室1内に導入するガス導入手段2と、放電室1内に配置
された高周波電圧を印加するためのアンテナ3と、図7
のように放電室1の内壁に沿って配置された複数の磁石
5と、を備えている。前記複数の磁石5は、図1,図7
に示すように、隣接する磁石5のS極19とN極18が
隣り合い、アンテナ3を取り囲むように配置されてい
る。そして、アンテナ3は、誘導結合方式の誘導コイル
からなる。前記複数の磁石5と前記放電室1の壁面との
間39には、冷却水循環路が形成されている。また、ア
ンテナ3は、誘導結合方式の誘導コイルからなり、放電
室内には、アンテナ3の脚部12,13の両側に、磁石
45A,Bが配置されている。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 和広 東京都品川区南大井3丁目2番6号 株式 会社シンクロン内 (72)発明者 丸 一孝 山形県鶴岡市宝田1丁目19番71号 株式会 社シンクロン鶴岡内 Fターム(参考) 5C030 DD01 DE04 DE07

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 発生させたプラズマからイオンを引き出
    してイオンビームを発生させるイオン源であって、 開口を有する放電室内に配置されたプラズマ発生手段
    と、前記放電室の前記開口を塞ぐ第1のイオン引き出し
    電極と、該第1のイオン引き出し電極と所定の間隔を置
    いて配置された第2のイオン引き出し電極と、前記第1
    のイオン引き出し電極と前記第2のイオン引き出し電極
    との間に電位差を付与する手段と、を備え、 前記各イオン引き出し電極は、該イオン引き出し電極を
    貫通する複数のイオン引き出し孔を備えて前記放電室の
    外側に向かって凸となる曲面領域を備えた板状体からな
    り、 前記第1のイオン引き出し電極と前記第2のイオン引き
    出し電極との間には、前記所定の間隔を置くための絶縁
    体からなるスペーサが配設されたことを特徴とするイオ
    ン源。
  2. 【請求項2】 前記複数のイオン引き出し孔は、前記曲
    面領域の中心付近よりも前記曲面領域の周縁付近に密度
    を高めて形成されたことを特徴とする請求項1記載のイ
    オン源。
  3. 【請求項3】 前記複数のイオン引き出し孔は、前記放
    電室側から前記放電室の外側に向かって、放射状に形成
    され、 前記第1のイオン引き出し電極のそれぞれの前記イオン
    引き出し孔と、前記第2のイオン引き出し電極のそれぞ
    れの前記イオン引き出し孔とが、2つの前記イオン引き
    出し電極を貫通する直線上に存在することを特徴とする
    請求項1または2記載のイオン源。
  4. 【請求項4】 前記プラズマ発生手段は、原料ガスを前
    記放電室内に導入するガス導入手段と、前記放電室内に
    配置された高周波電圧を印加するためのアンテナと、前
    記放電室の内壁に沿って配置された複数の磁石と、を備
    え、 前記複数の磁石は、隣接する該磁石のS極とN極が隣り
    合い、前記アンテナを取り囲むように配置され、 前記アンテナは、誘導結合方式の誘導コイルからなるこ
    とを特徴とする請求項1記載のイオン源。
  5. 【請求項5】 プラズマが発生したイオン源から、イオ
    ンを引き出すイオン引き出し電極であって、 前記イオン引き出し電極は、該イオン引き出し電極を貫
    通する複数のイオン引き出し孔を備えて前記放電室の外
    側に向かって凸となる曲面領域を備えた板状体からなる
    ことを特徴とするイオン引き出し電極。
  6. 【請求項6】 前記複数のイオン引き出し孔は、前記曲
    面領域の中心付近よりも前記曲面領域の周縁付近に密度
    を高めて形成されたことを特徴とする請求項5記載のイ
    オン引き出し電極。
  7. 【請求項7】 前記複数のイオン引き出し孔は、前記曲
    面の内側から前記曲面の外側に向かって、放射状に形成
    されたことを特徴とする請求項5記載のイオン引き出し
    電極。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004091264A2 (de) * 2003-04-11 2004-10-21 Leybold Optics Gmbh Hochfrequenz-plasmastrahlquelle und verfahren zum bestrahlen einer oberfläche
JP2009545102A (ja) * 2006-07-20 2009-12-17 アビザ テクノロジー リミティド イオンソース
JP2011082152A (ja) * 2009-09-11 2011-04-21 Showa Shinku:Kk イオンガン及びそれに用いるグリッド
KR101153391B1 (ko) * 2010-12-30 2012-07-03 한국원자력연구원 이온원 장치 및 그 운전방법
CN106876232A (zh) * 2017-03-31 2017-06-20 上海伟钊光学科技股份有限公司 具有预错位栅孔离子引出栅极板的离子源
CN110643954A (zh) * 2019-10-21 2020-01-03 合肥晞隆光电有限公司 镀膜设备、离子源、以及栅极结构
CN113782414A (zh) * 2021-09-06 2021-12-10 中国科学院近代物理研究所 低能散高亮度负氧离子产生装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101112529B1 (ko) * 2003-04-11 2012-02-17 레이볼드 압틱스 게엠베하 고주파-플라즈마 방사 소스 및 표면을 조사하는 방법
WO2004091264A3 (de) * 2003-04-11 2005-03-10 Leybold Optics Gmbh Hochfrequenz-plasmastrahlquelle und verfahren zum bestrahlen einer oberfläche
JP2006522870A (ja) * 2003-04-11 2006-10-05 ライボルト オプティクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 高周波プラズマビーム源及び真空室及び表面の照射方法
WO2004091264A2 (de) * 2003-04-11 2004-10-21 Leybold Optics Gmbh Hochfrequenz-plasmastrahlquelle und verfahren zum bestrahlen einer oberfläche
JP4669472B2 (ja) * 2003-04-11 2011-04-13 ライボルト オプティクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 高周波プラズマビーム源及び真空室及び表面の照射方法
JP2009545102A (ja) * 2006-07-20 2009-12-17 アビザ テクノロジー リミティド イオンソース
JP2011082152A (ja) * 2009-09-11 2011-04-21 Showa Shinku:Kk イオンガン及びそれに用いるグリッド
TWI478198B (zh) * 2009-09-11 2015-03-21 Showa Shinku Kk Ion guns and the grid used
KR101153391B1 (ko) * 2010-12-30 2012-07-03 한국원자력연구원 이온원 장치 및 그 운전방법
CN106876232A (zh) * 2017-03-31 2017-06-20 上海伟钊光学科技股份有限公司 具有预错位栅孔离子引出栅极板的离子源
CN110643954A (zh) * 2019-10-21 2020-01-03 合肥晞隆光电有限公司 镀膜设备、离子源、以及栅极结构
CN110643954B (zh) * 2019-10-21 2024-03-01 上海新柯隆真空设备制造有限公司 镀膜设备、离子源、以及栅极结构
CN113782414A (zh) * 2021-09-06 2021-12-10 中国科学院近代物理研究所 低能散高亮度负氧离子产生装置

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