JPH09240327A - トロリー線 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザー式摩耗測定装置によるトロリー線の
摩耗限界付近の測定精度を向上させることである。 【解決手段】 懸架溝１１と摺接部１３を有し、両者の
間に摩耗限界位置Ｃを定めてなるトロリー線において、
上記摺接部１３に一定高さの段差部１７をもった段部１
６を形成し、その段部１６上に前記の摩耗限界位置Ｃを
定めた構成とした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明はトロリー線に関
し、特にレーザ等の摩耗測定光を用いた光学式摩耗測定
装置による摩耗管理の精度を向上させたトロリー線に関
する。

【０００２】

【従来の技術と発明が解決しようとする課題】図１２は
従来のトロリー線断面形状の一例である。このトロリー
線の断面形状の外周は中心Ｏを有する円１上に小円弧部
２及び大円弧部３を有し、中心Ｏを通る中心線Ａに対し
左右対称形をなす。

【０００３】上記の中心線Ａと中心Ｏで直交する直交線
Ｂよりも上部における両側にＶ形の懸架溝４が形成さ
れ、その懸架溝４の上縁相互間に前記の小円弧部２が形
成される。

【０００４】大円弧部３は摺接面となる部分であり、そ
の上端は直交線Ｂより若干高い位置において前記懸架溝
４の下縁に連続している。

【０００５】上記のトロリー線が使用に供された場合、
摺接面の摩耗に伴う残存直径を測定することにより、管
理限度以上にトロリー線が摩耗することがないよう定期
的な摩耗管理が行なわれる。

【０００６】トロリー線の残存直径の測定方法として
は、残存直径自体を測定する方法のほかに、トロリー線
断面の幾何学的な形状から換算して残存直径を求める方
法がある。これらの測定方法を実施するために、残存直
径自体の測定手段や、摩耗幅を機械的、電気的又は光学
的に測定する機器が実用化されている。

【０００７】このほかに、トロリー線の摩耗状態を目視
により簡便に確認することができるように、摩耗限界近
傍に凹所を形成したり、識票用の塗料を塗布することも
提案されている（実開昭５６−１３０２７号公報）。

【０００８】一般的に摩耗量の測定精度は残存直径径自
体を測定する方法がよいとされているが、トロリー線は
懸架溝に取り付けられた金具を介して、ちょう架線に吊
るされているため、この取り付け金具により、トロリー
線の残存直径そのものを連続測定する場合、低速での測
定に限られているという制約がある。

【０００９】これらの問題を解決し、トロリー線の残存
直径を高速で連続測定するために、光学式摩耗測定装置
により摩耗幅を測定してこれを残存直径に換算する方法
が実用化されている。光学式摩耗測定装置による摩耗幅
の測定原理は、レーザー等の摩耗測定光をトロリー線の
幅方向に照射し、その反射光を受光検出するものであ
る。

【００１０】しかし、図１２のごとき円形をしたトロリ
ー線の摩耗幅を測定する場合、トロリー線の幾何学的な
形状から摩耗初期にはトロリー線の残存直径の変化に対
して、摩耗幅の変化量が大きいため測定精度の面では有
利であるが、摩耗限の直径の１／２近傍では、残存直径
の変化に対して、摩耗幅の変化量が小さくなるため、測
定誤差の影響が相対的に大きくなり、測定精度が低下す
る問題がある。

【００１１】その測定精度を上げるためには、測定装置
の検出精度の向上等に多大な費用がかかる。

【００１２】更に、図１３のごとく、懸架溝４に連続し
た摺接部５が中心線Ａに対して平行であるトロリー線の
場合は、平行部分において残存直径に対する摩耗幅の変
化量が零となるため、摩耗限界位置の検出が不可能にな
る。

【００１３】光学式摩耗測定装置を用いた場合の上記の
ごとき問題を解決するために、図１４（ａ）に示すごと
き溝付きトロリー線を用いることが一応考えられる（実
開昭５６−１３０２７号公報参照）。このトロリー線は
視覚検査のためにその摩耗限界位置に溝５を形成したも
のであるが、摩耗がその溝５の下縁に達すると摩耗幅が
急激に変化するので、光学式摩耗測定装置による測定に
適しているように一応考えられる。

【００１４】しかし、このような溝５は、摺接部６の点
ａと溝５内の点ｂとが同一線上に位置し、これらの２点
での摩耗幅が同一となるため、ａ、ｂ２点の位置を区別
できない問題、即ち摩耗幅と摩耗高さの一対一の対応関
係が維持できないという問題がある。

【００１５】また、図１４（ｂ）に示すような外方へ突
した突条７を設けたもの（前掲の実開昭５６−１３０２
７号公報参照）は、突条７の高さが低いため、場合によ
っては突条７が摩耗によって消失してしまい、突条７の
前後ａ、ｂ２点の位置を区別できず、この場合も摩耗幅
と摩耗高さの一対一の対応関係が維持できない問題があ
る。

【００１６】上記のように、図１４（ａ）（ｂ）のいず
れの場合も光学式摩耗測定装置による測定には適さな
い。

【００１７】この発明は以上のごとき従来技術の問題点
にかんがみ、トロリー線の断面形状に工夫を加えること
により光学式摩耗測定装置によってトロリー線の摩耗量
を高い精度で測定できるようにすることを目的とする。

【００１８】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明は、懸架溝と摺接部を有し、上記摺接部
と懸架溝との間に摩耗限界位置を定めてなるトロリー線
において、上記摺接部に、該摺接部の幅が増大又は減少
する方向の段差部をもった段部を形成し、該段部を前記
懸架溝に達せしめると共に、該段部上に前記の摩耗限界
位置を定めた構成としたものである。

【００１９】上記構成のトロリー線は、摩耗が段部に達
すると、その前後で段差部の幅分だけ摩耗幅が急激に変
化するので、光学式摩耗測定装置によって、精度よくそ
の段差を検知することができる。また、上記の段部は摩
耗の進行方向に十分な高さを有するので、摩耗によって
段部が消失することが避けられる。

【００２０】上記の場合において、その段部が同方向の
複数の段差部を有する複数の段部により形成され、懸架
溝に最も近い段部上に前記の摩耗限界位置を定めた構成
を採用すると、摩耗幅の定期的な測定を行うことによ
り、段階的な摩耗検知が可能となる。また、摩耗限界位
置を定めた段部よりも時間的に早い段階で摩耗を受ける
段部は、摩耗限界到達の予報的な役割を果す。

【００２１】また、前記懸架溝をトロリー線の両側面に
形成すると共に、前記段差部を上記懸架溝間の中心線に
直角か又は所要角度傾斜して形成し、前記段部の側面を
段差部から上記中心線と平行か又は外方へ突き出して形
成した構成を採用することもできる。

【００２２】このような構成を採用したトロリー線にお
いて、段差部が懸架溝間の中心線に対して直角に突き出
す形状に形成されたものは、トロリー線の使用初期の段
階では直角に突き出した段差部で摩耗測定光が反射さ
れ、その反射光が受光される結果、その段差部を摩耗面
であると誤認するおそれがある。このため該段差部を所
要角度傾斜して形成しておくと反射光が受光されないの
で、誤認のおそれは無くなる。なお、段差部が摺接部の
幅を減少させるように凹入形状に形成されたものは、こ
のような反射の問題はない。

【００２３】上記の段部は前記の中心線と平行か又は外
方へ突き出して形成されているので、段部における摩耗
が進行しても、摺接部の幅と同一幅になることがなく、
摩耗幅と摩耗高さの一対一の対応関係を維持することが
できる。

【００２４】前記摺接部の段差部に連続した部分を円弧
状に形成したり、摺接部の段差に連続した部分を前記中
心線と平行に形成することもできる。摺接部の形状は測
定精度に影響をもたらさないので、上記のように円弧状
としたり、中心線と平行とするなど適宜な形状をとるこ
とができる。

【００２５】前記段差部が摺接部の幅を増大する方向に
形成された場合において、摩耗測定光に対する反射率
が、該段差部と摺接部とで差がある構成をとることがで
きる。

【００２６】上記の構成によると、段差部と摺接部にお
ける反射率の差により、測定装置において段差部からの
反射光を区別することができる。

【００２７】前記段差部と摺接部とで摩耗測定光に対す
る反射率に差をもたせるために、該摺接部を除き、かつ
少なくとも該段差部を含む部分に皮膜を形成するか又は
粗面化処理を施した構成をとることができる。

【００２８】更に、前記段差部と摺接部とで摩耗測定光
に対する反射率に差をもたせるために、少なくとも該段
差部と摺接部の両方を含む部分に予め皮膜を形成するか
又はこれらの部分に粗面化処理を施し、該摺接部がパン
タグラフと摺接することにより上記皮膜又は処理部分が
除去されて該摺接部に現われる摺接面の反射率と、前記
段差部の反射率とに差をもたせた構成をとることもでき
る。

【００２９】

【発明の実施の形態】図１に示した第１の実施の形態に
係るトロリー線の断面形状は、中心Ｏを有する円１０を
基本形状とし、その中心Ｏを通る中心線Ａを基準とし、
該中心Ｏより高い位置において左右対称形の懸架溝１１
が形成される。各懸架溝１１の上縁相互間の円１０上に
小円弧部１２が形成される。また、各懸架溝１１の下縁
相互間に摺接部１３が形成される。

【００３０】摺接部１３は前記中心線Ａとの交点１４を
含む大円弧部１５と、その大円弧部１５の両端に形成さ
れた段部１６とから成り、段部１６は大円弧部１５の両
端から一定幅の段差をつくる段差部１７によって外方、
即ち摺接部１３の幅が増大する方向へ突き出す。

【００３１】上記の段差部１７は中心線Ａに対して直角
であり、また段部１６の側面１８は中心線Ａに対して平
行、即ち段差部１７に直角である。上記の側面１８は、
懸架溝１１の下縁に連続する。

【００３２】中心線Ａと中心Ｏで直交する直交線Ｂは、
前記の側面１８上にあり、その直交線Ｂと段差部１７と
の間にその段差部１７から一定の距離をおいて摩耗限界
位置Ｃが設定される。なお、摺接部１３の摺接開始部分
は、図１（ａ）の一点鎖線で示すように直交線Ｂと平行
な平坦面１９であってもよい。

【００３３】上記の段差部１７の幅は、トロリー線の幅
の約３０％を上限値とし、０．１mmを下限値とする範囲
で適宜選定される。上限値は、加工性、ドラム等への巻
取り性を考慮して決定され、下限値は、レーザー式摩耗
測定装置の測定精度及びトロリー線そのものの幅の許容
差に基づいて決定される。

【００３４】図１（ａ）のごとき直角の段差部１７の場
合は、トロリー線が金属光沢を有する使用初期におい
て、その段差部１７により摩耗測定光が反射され、その
反射光を受光してこの段差部１７を含めた幅を摩耗幅で
あると誤認する可能性がある。その防止策として、図１
（ｂ）に示すように、段差部１７の中心線Ａに対する傾
き角θ（即ち、段差部１７の延長線と中心線Ａとの交点
における外角θ）が鈍角となるように段差部１７に傾斜
をもたせる。

【００３５】なお、図示のように、側面１８が中心線Ａ
と平行に形成されている場合は、段差部１７の側面１８
に対する傾き角θが鈍角となるように段差部１７に傾斜
をもたせると云っても同じである。

【００３６】上記のように、段差部１７が傾斜している
と、その段差部１７からの反射光が外部に散乱されるの
で、上記のごとき誤認を生じることがない。

【００３７】図２に示した第２の実施の形態は、小円弧
部１２の曲率半径Ｒｕを、大円弧部１５の曲率半径Ｒｂ
より大きく設定したものである。その他の形状は図１の
ものと同様である。

【００３８】なお、この場合も一点鎖線で示すように、
段差部１７に傾斜を付けてもよく、また側面１８を外方
に傾斜させて段部１６を外側方へ突き出すようにしても
よい。

【００３９】図３（ａ）（ｂ）に示した第３の実施の形
態は、懸架溝１１相互間の辺２０を緩やかな（曲率半径
の大きい）円弧に形成し、また摺接部１３の下面も同様
の緩やかな円弧に形成し、その両端から小さい曲率半径
で立上がらせ、中心線Ａと平行な辺２１の上端を段差部
１７に連続させたものである。

【００４０】段差部１７は図３（ａ）のように中心線Ａ
又は辺２１と直角に形成してもよく、また図３（ｂ）の
ように傾斜を付与してもよい。

【００４１】前記第１の実施の形態〔図１（ａ）
（ｂ）〕と従来例（図１２）のトロリー線についての残
存直径Ｈと摩耗幅Ｗの関係を図４の摩耗推移図によって
示す。図４のａは図１（ａ）、ｂは図１（ｂ）、ｃは図
１２の場合を示す。この図からわかるように、いずれも
摩耗の初期には摩耗幅の変化量（ΔＷ／ΔＨ）が大きい
が、摩耗の進行に伴い、その変化量は減少し、従来例ｃ
の場合はついには零となる。

【００４２】これに対して、ａの場合は、摩耗の進行が
段差部１７の位置まで進むと、摩耗幅Ｗの変化量（ΔＷ
／ΔＨ）が急増する。また、ｂの場合は段差部１７が傾
斜しているため、変化量（ΔＷ／ΔＨ）はａの場合ほど
急増しないが、ｃの場合より大きく増大する。

【００４３】前述のレーザー式摩耗測定装置によると、
ａの場合は勿論、ｂの場合も、摩耗幅の変化量が顕著に
変化するため、段差部１７を確実に検出することがで
き、これにより摩耗が摩耗限界位置に近づいたことを確
実に検知することができる。

【００４４】図５は前記の第３の実施の形態〔図３
（ａ）（ｂ）〕と、従来例（図１３）のトロリー線につ
いて、残存直径Ｈと摩耗幅Ｗの関係を示した摩耗推移図
である。ｄが図３（ａ）、ｅが図３（ｂ）、ｆが図１３
の場合を示す。この場合も、段差部１７の部分において
前述の場合と同様の変化を示す。

【００４５】図６に示した第４の実施の形態は、１段目
と２段目の２つの段差部１７ａ、１７ｂにより、２段の
段部１６ａ、１６ｂを形成したものである。摩耗限界位
置Ｃは、２段目の段部１６ｂ（懸架溝１１に近い方の段
部１６ｂ）に設定される。その他の構成は前述の第３の
実施の形態（図３（ａ）参照）と同様である。

【００４６】上記のように複数の段部１６ａ、１６ｂを
形成した場合は、摩耗の進行状況を段階的に検知でき
る。また、段部１６ａを検知することにより、少なくと
も摩耗が段部１６ｂまで達していないことを意味するの
で、この点で段部１６ａは予報的な役割を果すことにな
る。なお、上記の段差部１７ａ、１７ｂを、図６の一点
鎖線で示すように傾斜をもたせてもよい。

【００４７】図７（ａ）〜（ｃ）に示した第５の実施の
形態は、段差部１７’、１７’ａ、１７’ｂが摺接部１
３の幅が減少する方向に形成されたものである。このよ
うな段差部１７’、１７’ａ、１７’ｂであってもその
部分において摩耗幅が急激に変化することになるので、
前述の各実施の形態と同様に、光学式摩耗測定装置によ
り、その変化を確実に検知することができる。なお、図
７（ｂ）の辺２１’は、若干の曲率を有する。

【００４８】上記の第４及び第５の実施の形態に関する
摩耗推移図は、図４、図５に示した第１から第３の実施
の形態のものから類推できるので、添付を省略する。

【００４９】上記の段差部１７’、１７’ａ、１７’ｂ
のように、摺接部１３の幅が減少する方向に形成された
ものは、これらの部分によって摩耗測定光が反射される
ことがないので、反射防止対策は不要である。

【００５０】以上述べた各実施の形態における段差部に
おける反射防止対策は、その段差部に傾斜を付けるもの
であったが、これ以外に以下のごとき反射防止対策があ
る。

【００５１】基本的には、摩耗測定光に対する反射率
に、段差部１７（段差部１７ａ、１７ｂにおいても同
じ）と摺接部１３とにおいて差をもたせ、受光側で適当
な閾値を定め、その閾値を基準にして、摺接部１３から
の反射光のみを取入れるようにすればよい。段差部１７
と摺接部１３の反射率に差をもたせる手段として、次の
ような第１及び第２の方法がある。

【００５２】(1) 第１の方法 段差部１７に粗面化処理を施して、粗面２２を形成する
（図８参照）。粗面２２の粗さ係数Ｒａは１μｍ以上、
３００μｍ以下に選定される。１μｍ以下では反射率の
低下が不充分であり、３００μｍを超えるとトロリー線
の寸法精度上問題となる。

【００５３】粗面化処理の方法としては、ショットブラ
ストによる梨地肌加工や、粉末潤滑伸線による梨地加工
を施す方法がある。後者の方法は、伸線加工と表面の粗
面加工とが同時にできる利点がある。

【００５４】上記の粗面化処理は、段差部１７以外の部
分にマスクを掛け、段差部１７のみに上記処理を施すか
（図８（ａ）参照）又は摺接部１３にのみマスクを掛
け、段差部１７を含むその他の部分に上記処理を施すか
（図８（ｂ）参照）のいずれでもよい。この粗面化処理
により、段差部１７に粗面２２が形成される一方、摺接
部１３は平滑な面のまま残されるので、摩耗測定光に対
する反射率に差を生じる。

【００５５】また、上記の粗面化処理をトロリー線の全
周に施すか（図９（ａ）参照）或いは段差部１７と摺接
部１３に施すこともできる（図９（ｂ）参照）。勿論、
そのままでは段差部１７と摺接部１３との間に反射率の
差は生じないが、トロリー線が使用に供され、パンタグ
ラフと摺接することにより、粗面２２の部分が次第に摩
滅し平滑化された摺接面２３が現われる（図９（ｃ）
（ｄ）参照）。その摺接面２３と段差部１７とでは反射
率に差が生じる。

【００５６】パンタグラフとの摺接によって摺接部１３
に現われた上記のごとき摺接面２３の反射率も本発明に
いう摺接部の反射率の概念に含まれる。

【００５７】なお、トロリー線の使用の初期は、摺接面
２３は平滑ではないが使用開始後第１回の摩耗測定まで
の間（例えば１ヶ月）に十分平滑化され、段差部１７と
の間で反射率に差を生じる。

【００５８】(2) 第２の方法 段差部１７に皮膜２４を形成する方法である（図１０
（ａ）参照）。この場合の皮膜２４も、前述の粗面化処
理の場合と同様、摺接部１３以外の部分に皮膜２４を形
成する（図１０（ｂ）参照）、全周に皮膜２４を形成し
使用により摺接面２３を露出させる（図１１（ａ）
（ｃ）参照）、摺接部１３と段差部１８に皮膜２４を形
成し、使用により摺接面２３を露出させる（図１１
（ｂ）（ｄ）参照）などの方法をとることができる。

【００５９】皮膜２４は摺接部１３（摺接面２３を含
む）の反射率より低い金属、金属化合物、酸化物、硫化
物、塩化物、窒化物、有機物の一種又はこれらの複合物
や混合物により形成される。

【００６０】なお、上記の皮膜２４が薄過ぎると、反射
率を十分低減する効果が得られない。例えば、錫、ニッ
ケル等の金属めっきで皮膜２４を形成する場合は、０．
１μｍ以上の厚さが必要である。銀化合物の場合は０．
０１μｍ以上あればよい。厚さの上限はコストの面及び
トロリー線寸法精度からの制限を受けるので、いずれの
場合も１００μｍ以下とすることが望ましい。

【００６１】なお、皮膜が絶縁物であって、これがトロ
リー線の懸架溝にも施される場合は、懸垂金物と接触す
る部分において皮膜を部分的に破るか又は剥離する手段
が必要である。

【００６２】

【実施例】図１に示す断面形状を有する錫入り銅合金製
トロリー線（平坦部１９を有するもの）につき、波長５
２０ｎｍのアルゴンレーザを照射して以下の測定を行っ
た。測定結果を表１に示す。

【００６３】(1) 比較基準 上記トロリー線の何らの処理を施さない地金のままの摺
接部１３（粗さ係数０．０５μｍ）からの反射強度を１
００とし、これを比較基準とした。段差部１７の反射強
度が１００より小さいと、段差部１７の方が反射率が低
いことを意味する。

【００６４】(2) 比較例１、２ 上記トロリー線の全体に薄い錫めっき及びニッケルメッ
キを施した場合の該段差部１７の厚み、粗さ係数Ｒａ及
び反射強度を測定した。

【００６５】(3) 実施例１〜１４ 上記トロリー線の段差部１７に種々の処理を施して、そ
の厚み、粗さ係数Ｒａ反射強度を測定した。

【００６６】（実施例１、２）上記トロリー線の段差部
１７にブラストショットによる粗面化処理、を施し
た。

【００６７】（実施例３、４）上記トロリー線の全体に
錫めっき（実施例３）、ニッケルめっき（実施例４）を
施した。

【００６８】（実施例５、６）上記トロリー線に硝酸銀
処理（実施例５）、同（実施例６）を試みた。

【００６９】・実施例５ 上記トロリー線の表面に脱脂処理を施したのち、段差部
１７に硝酸銀の０．０１Ｎ水溶液を塗布後、８０℃の熱
風で乾燥。表面に銀化合物と溶出した銅イオンから構成
される銅化合物の黒色の処理層が１０μｍ生成した。

【００７０】・実施例６ 同様に、硝酸銀の０．０１Ｎエチルアルコール溶液を塗
布後、送風乾燥。同様の処理層が５μｍ生成した。

【００７１】（実施例７、８、９）上記トロリー線に化
成処理（実施例７）、同（同８）、同（同９）を
試みた。

【００７２】・実施例７ 上記トロリー線の全体に脱脂処理を施したのち、塩素酸
カリウム１０ｇ／Ｌ、過塩素酸カリウム２ｇ／Ｌを含む
溶液を８０℃に加熱し、これに５分間浸漬。表面に酸化
第１銅を主成分とする赤色の処理層が１μｍ形成され
た。

【００７３】・実施例８ 同様に、水酸化ナトリウム５ｗ％、過硫酸カリウム１ｗ
％を含む溶液を沸騰させながら２分間浸漬。表面に酸化
第２銅を主成分とする黒色の処理層が３μｍ形成され
た。

【００７４】・実施例９ 同様に、重クロム酸ナトリウム８０ｇ／Ｌ、クロム酸３
０ｇ／Ｌ、臭化カリウム２５ｇ／Ｌの溶液を４０℃に加
温して６０秒間浸漬。表面に酸化第１銅と酸化第２銅が
混在した黒褐色の処理層が１μｍ形成された。

【００７５】（実施例１０）トロリー線全体に脱脂処理
を施したのち、硼酸アンモニウム３ｇ／Ｌの水溶液中で
トロリー線を陰極として１０Ｖの電圧を５０秒間印加す
る陽極酸化処理を行った。トロリー線の表面に、酸化第
１銅、酸化第２銅、水和化合物より構成される処理層が
５μｍ形成された。

【００７６】（実施例１１）トロリー線全体に脱脂処理
を施したのち、硫化カリウム１０ｇ／ｌの水溶液中に２
０秒間浸漬させた。トロリー線の表面に黒色の硫化第一
銅、硫化第二銅、酸化第一銅、酸化第二銅、水和化合物
により構成される処理層が４μｍ形成された。

【００７７】（実施例１２）段差部１７に黒色ビニル被
覆を施した。

【００７８】（実施例１３）段差部１７に黒色塗料を塗
布した。

【００７９】

【表１】

【００８０】

【発明の効果】以上のように、この発明のトロリー線
は、摩耗限界に達する前に、一定高さの段差部の部分で
摩耗幅が顕著に変化する。このため、摩耗限界付近での
レーザー式摩耗測定装置の測定精度が向上し、トロリー
線の摩耗が摩耗限界位置に近づいたことを確実に検知す
ることができる。

【００８１】また、上記段差部を傾斜させたり、或いは
該段差部と摺接部と摩耗測定光に対する反射率に差をも
たせることにより、段差部からの反射光の影響を受ける
ことなく、摺接部の摩耗幅を正確に検知することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ）第１の実施の形態の断面図 （ｂ）同上の変形例の断面図

【図２】第２の実施の形態の断面図

【図３】（ａ）第３の実施の形態の断面図 （ｂ）同上の変形例の断面図

【図４】第１の実施の形態の摩耗推移図

【図５】第３の実施の形態の摩耗推移図

【図６】第４実施の形態の断面図

【図７】（ａ）〜（ｃ）第５の実施の形態の断面図

【図８】（ａ）、（ｂ）トロリー線の粗面化処理の態様
を示す切欠斜視図

【図９】（ａ）〜（ｄ）トロリー線の粗面化処理の態様
を示す切欠斜視図

【図１０】（ａ）、（ｂ）トロリー線の皮膜形成態様を
示す切欠斜視図

【図１１】（ａ）〜（ｄ）トロリー線の皮膜形成態様を
示す切欠斜視図

【図１２】従来例の断面図

【図１３】他の従来例の断面図

【図１４】（ａ）他の従来例の断面図 （ｂ）他の従来例の断面図

【符号の説明】

１０ 円 １１ 懸架溝 １２ 小円弧部 １３ 摺接部 １４ 交点 １５ 大円弧部 １６ 段部 １７ 段差 １８ 側面 １９ 平坦面 ２０、２１、２１’ 辺 ２２ 粗面 ２３ 摺接面

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡田 忠宜 大阪市北区芝田二丁目４番24号 西日本旅 客鉄道株式会社内 (72)発明者 伊藤 貞夫 大阪市北区芝田二丁目４番24号 西日本旅 客鉄道株式会社内 (72)発明者 梶原 正英 大阪市北区芝田二丁目４番24号 西日本旅 客鉄道株式会社内 (72)発明者 福井 清一 大阪市北区芝田二丁目４番24号 西日本旅 客鉄道株式会社内 (72)発明者 奥 剛司 大阪市此花区島屋一丁目１番３号 住友電 気工業株式会社大阪製作所内 (72)発明者 栗原 秀元 大阪市此花区島屋一丁目１番３号 住友電 気工業株式会社大阪製作所内 (72)発明者 西川 太一郎 大阪市此花区島屋一丁目１番３号 住友電 気工業株式会社大阪製作所内

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 懸架溝と摺接部を有し、上記摺接部と懸
   架溝との間に摩耗限界位置を定めてなるトロリー線にお
   いて、上記摺接部に、該摺接部の幅が増大又は減少する
   方向の段差部をもった段部を形成し、該段部を前記懸架
   溝に達せしめると共に、該段部上に前記の摩耗限界位置
   を定めたことを特徴とするトロリー線。
2. 【請求項２】 前記の段部が同方向の複数の段差部を有
   する複数の段部により形成され、懸架溝に最も近い段部
   上に前記の摩耗限界位置を定めたことを特徴とする請求
   項１に記載のトロリー線。
3. 【請求項３】 前記懸架溝はトロリー線の両側面に形成
   され、前記段差部は上記懸架溝間の中心線に直角か又は
   所要角度傾斜して形成され、前記段部の側面は段差部か
   ら上記中心線と平行か又は外方へ突き出して形成された
   ことを特徴とする請求項１又は２に記載のトロリー線。
4. 【請求項４】 前記段差部に連続した前記摺接部が円弧
   状であることを特徴とする請求項１から３のいずれかに
   記載のトロリー線。
5. 【請求項５】 前記段差部に連続した前記摺接部が前記
   中心線と平行であることを特徴とする請求項１から３の
   いずれかに記載のトロリー線。
6. 【請求項６】 前記段差部が前記摺接部の幅を増大する
   方向に形成された請求項１から５のいずれかに記載のト
   ロリー線において、摩耗測定光に対する反射率が、上記
   段差部と上記摺接部とで差があることを特徴とするトロ
   リー線。
7. 【請求項７】 前記段差部と摺接部とで摩耗測定光に対
   する反射率に差をもたせるために、該摺接部を除き、か
   つ少なくとも該段差部を含む部分に皮膜を形成するか又
   は粗面化処理を施したことを特徴とする請求項６に記載
   のトロリー線。
8. 【請求項８】 前記段差部と摺接部とで摩耗測定光に対
   する反射率に差をもたせるために、少なくとも該段差部
   と摺接部の両方を含む部分に予め皮膜を形成するか又は
   これらの部分に粗面化処理を施し、該摺接部がパンタグ
   ラフと摺接することにより上記皮膜又は粗化処理部分が
   除去されて該摺接部に現われる摺接面の反射率と、前記
   段差部の反射率とに差をもたせたことを特徴とする請求
   項６に記載のトロリー線。