JPH09232437A - 半導体集積回路装置およびそれを用いたコンピュータシステム - Google Patents

半導体集積回路装置およびそれを用いたコンピュータシステム

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JPH09232437A
JPH09232437A JP8039175A JP3917596A JPH09232437A JP H09232437 A JPH09232437 A JP H09232437A JP 8039175 A JP8039175 A JP 8039175A JP 3917596 A JP3917596 A JP 3917596A JP H09232437 A JPH09232437 A JP H09232437A
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semiconductor integrated
cluster
chip
integrated circuit
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JP8039175A
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Michiaki Nakayama
道明 中山
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
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    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73253Bump and layer connectors

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  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Microcomputers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電源給電用金属配線のレイアウトを工夫する
ことによって、集積度を犠牲にすることなく、入出力回
路をチップ内部に散在して配置することができる半導体
集積回路装置を提供する。 【解決手段】 基板上にLSIチップがC4ボンディン
グ技術を用いて実装されるMCCパッケージによるマイ
クロプロセッサであって、LSIチップには論理ブロッ
ク、メモリブロックとともに、入力回路11a〜11d
と出力回路12a〜12dによる入出力回路クラスタ1
0が、性能上、最も有利な任意の位置に散在して配置さ
れている。この入出力回路クラスタ10には、各種電源
が各入出力回路クラスタ10毎に独立の入出力回路専用
電源として、それぞれC4ボンディングパッド7a〜7
dから金属配線13a〜13d、電源用接続ビア14a
〜14dを介して電源給電用の金属配線15a〜15d
に供給されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路技
術に関し、特にC4(Controlled Collapse ChipConnec
tion)ボンディング技術を用いてチップと基板を接続
し、入出力回路をチップ上の任意の位置に配置すること
によって高性能化を目指す半導体集積回路を対象とし、
そのレイアウト効率を著しく向上させ、高集積密度を達
成することができる半導体集積回路装置およびそれを用
いたコンピュータシステムに適用して有効な技術に関す
る。
【0002】
【従来の技術】たとえば、発明者が検討したところによ
れば、一般に半導体集積回路装置においては、チップ外
部との信号の授受を行う入出力回路はチップ内部の回路
に比較してノイズの発生量が大きいため、内部回路用の
電源給電配線とは独立の入出力回路専用の電源給電配線
を設け、入出力回路から発生するノイズが内部回路に悪
影響を与えないような工夫がなされている。
【0003】また、半導体集積回路装置のレイアウト設
計においては、入出力回路より外部接続のための端子が
引き出されることから、入出力回路はチップの周辺部に
のみ配置されているため、内部回路用電源配線と、入出
力回路用電源配線と分離して設けることは、比較的、簡
単に行うことができる。
【0004】さらに、近年のレイアウト設計において
は、C4ボンディング技術を用いることによってチップ
と基板を接続し、チップ内部の任意の位置に入出力回路
を設けることが可能となり、これにより、入出力回路と
内部回路との間の遅延時間が短縮され、動作速度を向上
させることができる。
【0005】なお、このような半導体集積回路装置のレ
イアウト設計に関する技術としては、昭和59年11月
30日、株式会社オーム社発行、社団法人電子通信学会
編の「LSIハンドブック」P201〜P210などの
文献に記載されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記のよう
な半導体集積回路装置のレイアウト設計技術において
は、C4ボンディング技術を用いることによってチップ
内部の任意の位置に入出力回路を設けることができるも
のの、前記のような電源配線分離の手法をそのまま用い
ると、チップ全面に渡って多種の電源配線を設ける必要
が生じ、その結果、信号配線に使用できる配線トラック
数が減少し、集積度を低下させてしまうことが考えられ
る。
【0007】そこで、本発明の目的は、電源給電用金属
配線のレイアウトを工夫することによって、集積度を犠
牲にすることなく、入出力回路をチップ内部に散在して
配置することができる半導体集積回路装置およびそれを
用いたコンピュータシステムを提供することにある。
【0008】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0009】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0010】すなわち、本発明の半導体集積回路装置
は、1個または複数の入力回路と、1個または複数の出
力回路とを物理的に隣接したクラスタに構成し、各クラ
スタ内にのみ入出力回路専用の電源配線を設けるもので
ある。これにより、入出力回路に給電するための電源配
線の工夫によって、電源配線が占有する配線トラック数
を最小化することができる。
【0011】また、他の半導体集積回路装置は、クラス
タを、1個または複数の入出力回路と、この入出力回路
の両側に配置される論理回路とを物理的に隣接して構成
し、各クラスタ内にのみ入出力回路および論理回路専用
の電源配線を設けるものである。これにより、入出力回
路および論理回路に給電するための電源配線の工夫によ
って、電源配線が占有する配線トラック数を最小化する
ことができる。
【0012】この場合に、各クラスタへの電源給電を、
C4ボンディングパッドより直接行うようにしたり、入
出力回路の数をC4ボンディングパッドのピッチに対応
させて決定するようにしたものである。これにより、よ
り一層、電源配線が占有する配線トラック数を最小化し
て集積度を向上させることができる。
【0013】なお、このクラスタ(Cluster)とは、パタ
ーン空間に類似性の尺度を導入して、パターンを似たも
のどうし集めて分けることによって得られる類、すなわ
ちパッドピッチなどが要因となる高集積密度化を実現す
ることを前提として、類似する機能を持つ回路ブロッ
ク、具体的には入力回路と出力回路、または入出力回路
と論理回路などを1つの集合として構成するものであ
る。
【0014】以上により、C4ボンディング技術を用い
てチップを基板に接続し、入出力回路をチップ上の任意
の位置に散在して配置できる半導体集積回路装置のレイ
アウト設計において、電源配線のレイアウトを工夫する
ことによって、集積度を犠牲にすることなく、入出力回
路をチップ内部に配置することができる。
【0015】また、本発明のコンピュータシステムは、
前記半導体集積回路装置を中央処理装置として用い、こ
の中央処理装置の周辺回路などを有するものである。こ
れにより、半導体集積回路装置の集積度の向上に伴って
コンピュータシステムを小型化することができ、あるい
は小型のコンピュータシステムでありながら高機能化を
実現することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
【0017】(実施の形態1)図1は本発明の実施の形
態1である半導体集積回路装置の一例を示す断面図、図
2は本実施の形態1の半導体集積回路装置を構成するL
SIチップを示す平面図、図3はLSIチップのレイア
ウトを示す機能ブロック図、図4は入出力回路クラスタ
の一例を示す説明図である。
【0018】まず、図1により本実施の形態1の半導体
集積回路装置の構成を説明する。
【0019】本実施の形態1の半導体集積回路装置は、
たとえばC4ボンディング技術を用いたMCC(Micro
Carrier for LSI Chip)パッケージによるマイクロプロ
セッサなどの半導体集積回路装置とされ、ポリイミド薄
膜配線を形成したムライト・セラミックスなどの基板1
と、この基板1上にはんだボール2を介して実装される
半導体集積回路が形成されたLSIチップ3と、このL
SIチップ3を覆うように基板1に封止はんだ4により
固定されるAlN(窒化アルミニウム)などによるキャ
ップ5とから構成され、LSIチップ3の裏面とキャッ
プ5との間には放熱経路を形成するためのはんだ6が介
在されている。
【0020】LSIチップ3には、たとえば図2に示す
ように、LSIチップ3の実装面上に、多数のC4ボン
ディングパッド7が配置されており、このLSIチップ
3が基板1上にはんだボール2を介して実装されること
により、LSIチップ3のC4ボンディングパッド7か
らはんだボール2を通じて基板1の信号または電源の外
部接続端子に接続されるようになっている。
【0021】また、LSIチップ3は、たとえば図3に
示すように、演算処理、命令制御およびバスインタフェ
ース制御などの機能を持つ複数の論理ブロック8と、命
令キャッシュおよびデータキャッシュなどによる複数の
メモリブロック9と、複数の入出力回路クラスタ10と
から構成されるマイクロプロセッサであり、複数の入出
力回路クラスタ10は性能上、最も有利な任意の位置に
散在して配置されている。
【0022】この入出力回路クラスタ10は、たとえば
図4に示すように、半導体集積回路装置としての外部と
の間の信号授受および電源が供給される複数の入力回路
11a〜11dと複数の出力回路12a〜12dより構
成され、これらの入力回路11a〜11dと出力回路1
2a〜12dはそれぞれ交互に物理的に隣接して配置さ
れている。なお、本実施の形態1においては、入力回路
11a〜11dおよび出力回路12a〜12dはそれぞ
れ4つで構成しているが、これに限定されるものではな
い。
【0023】また、入出力回路クラスタ10には、たと
えば2.5VのVDD1電源、3.3VのVDD2電源、2.
5Vに対応する0VのVSS1電源、3.3Vに対応する
0VのVSS2電源などの複数種類の電源が供給され、
これらの各種電源は各入出力回路クラスタ10毎に独立
の入出力回路専用電源としてこの入出力回路クラスタ1
0内で共有される。なお、本実施の形態1においては、
4種類の電源が供給されているが、これに限定されるも
のではない。
【0024】この各入出力回路クラスタ10内の各種電
源は、それぞれ1個のC4ボンディングパッドにクラス
タ内電源配線より上層の金属配線および電源用接続ビア
を介して接続されている。たとえば、VDD1電源は、
C4ボンディングパッド7aから金属配線13aおよび
電源用接続ビア14aを介して入出力回路クラスタ10
内のVDD1電源給電用の金属配線15aに接続されて
いる。
【0025】同様にして、VDD2電源はC4ボンディ
ングパッド7b、金属配線13b、電源用接続ビア14
bを介してVDD2電源給電用の金属配線15b、VS
S1電源はC4ボンディングパッド7c、金属配線13
c、電源用接続ビア14cを介してVSS1電源給電用
の金属配線15c、VSS2電源はC4ボンディングパ
ッド7d、金属配線13d、電源用接続ビア14dを介
してVSS2電源給電用の金属配線15dにそれぞれ接
続されている。
【0026】また、入出力回路クラスタ10内の各入出
力回路と、C4ボンディングパッドの間の接続も同様に
して、クラスタ内電源配線より上層の金属配線および信
号用接続ビアを介して行われる。なお、16a〜16h
は入力回路11a〜11dおよび出力回路12a〜12
dにおけるLSIチップ3内での配線用の接続端子であ
る。
【0027】たとえば、入力回路11aには、C4ボン
ディングパッド7eから金属配線17aおよび信号用接
続ビア18aを介して接続される。同様にして、入力回
路11bには、C4ボンディングパッド7fから金属配
線17bおよび信号用接続ビア18b、入力回路11c
にはC4ボンディングパッド7gから金属配線17cお
よび信号用接続ビア18c、入力回路11dにはC4ボ
ンディングパッド7hから金属配線17dおよび信号用
接続ビア18dを介してそれぞれ接続されている。
【0028】また、出力回路12a〜12dについて
も、出力回路12aから信号用接続ビア18e、金属配
線17eを介してC4ボンディングパッド7i、出力回
路12bから信号用接続ビア18f、金属配線17fを
介してC4ボンディングパッド7j、出力回路12cか
ら信号用接続ビア18g、金属配線17gを介してC4
ボンディングパッド7k、出力回路12dから信号用接
続ビア18h、金属配線17hを介してC4ボンディン
グパッド7lへそれぞれ接続されている。
【0029】なお、基板1には、たとえば図1に概略を
図示するように、外部との接続のための外部接続パッド
19、この外部接続パッド19に電気的に接続される電
源用または信号用の接続ビア20、この接続ビア20に
電気的に接続される金属配線21、この金属配線21に
電気的に接続されるはんだボール2のボンディングパッ
ド22がそれぞれ設けられている。
【0030】次に、本実施の形態1の作用について、L
SIチップ3内の入出力回路クラスタ10への各種電源
の供給方法を図1および図4を用いて説明する。
【0031】この入出力回路クラスタ10への、たとえ
ば2.5VのVDD1電源は、外部から基板1の外部接続
パッド19に供給し、そして外部接続パッド19に電気
的に接続される基板1の電源用の接続ビア20および金
属配線21、この金属配線21に接続される基板1のボ
ンディングパッド22からはんだボール2を介してLS
Iチップ3のC4ボンディングパッド7aに供給する。
【0032】さらに、LSIチップ3のC4ボンディン
グパッド7aから、これに接続される金属配線13a、
この金属配線13aに接続される電源用接続ビア14a
を介して入出力回路クラスタ10内のVDD1電源給電
用の金属配線15aに供給する。これにより、MCCパ
ッケージの外部から供給されたVDD1電源をLSIチ
ップ3内の1つの入出力回路クラスタ10内に供給する
ことができる。
【0033】同様に、3.3VのVDD2電源、0VのV
SS1電源、0VのVSS2電源も、それぞれ外部から
基板1の外部接続パッド19、電源用の接続ビア20、
金属配線21およびボンディングパッド22を介し、さ
らにはんだボール2からLSIチップ3のC4ボンディ
ングパッド7b〜7d、金属配線13b〜13d、電源
用接続ビア14b〜14dを介して、LSIチップ3内
の1つの入出力回路クラスタ10内のVDD2、VSS
1、VSS2電源給電用の金属配線15b〜15dに供
給することができる。
【0034】また、他の入出力回路クラスタ10内への
各種電源供給についても、各入出力回路クラスタ10毎
に独立に設けられている基板1の外部接続パッド19、
電源用の接続ビア20、金属配線21およびボンディン
グパッド22を介し、さらにはんだボール2からLSI
チップ3のC4ボンディングパッド、金属配線、電源用
の接続ビアを介して、LSIチップ3内の各入出力回路
クラスタ10内に供給することができる。
【0035】従って、本実施の形態1の半導体集積回路
装置によれば、複数の入力回路11a〜11dと出力回
路12a〜12dとが交互に隣接して配置されている入
出力回路クラスタ10に、各種電源を各入出力回路クラ
スタ10毎に独立に供給することにより、C4ボンディ
ング技術を用いてLSIチップ3と基板1を接続する半
導体集積回路装置のレイアウト設計において、入出力回
路クラスタ10をLSIチップ3の内部に散在して配置
することができるので、入出力回路クラスタ10の専用
電源に使用される配線トラック数を減少して集積度を向
上させることができる。
【0036】(実施の形態2)図5は本発明の実施の形
態2である半導体集積回路装置を構成する入出力回路ク
ラスタの一例を示す説明図、図6はLSIチップのレイ
アウトを示す説明図である。
【0037】本実施の形態2の半導体集積回路装置は、
前記実施の形態1と同様に、C4ボンディング技術を用
いたMCCパッケージによるマイクロプロセッサなどの
半導体集積回路装置とされ、前記実施の形態1との相違
点はクラスタの構成形態が異なり、このクラスタを、複
数の入出力回路と、この入出力回路の両側に配置される
論理回路とを物理的に隣接して構成するようにした点で
ある。
【0038】すなわち、本実施の形態2においては、た
とえば図5(a) に示すように、LSIチップの半導体集
積回路を構成する入出力回路クラスタ23が、外部との
間の信号授受および電源が供給される複数(図中におい
ては8つ)の入出力回路24と、この両側に分離領域2
5を介して配置され、演算処理、命令制御およびバスイ
ンタフェース制御などの機能を持つ論理回路26とから
構成され、複数種類の各種電源が各入出力回路クラスタ
23毎に独立の入出力回路専用電源としてこの入出力回
路クラスタ23内で共有されるようになっている。
【0039】これにより、LSIチップ内の入出力回路
クラスタ23への各種電源の供給は、前記実施の形態1
と同様に、それぞれ外部から基板の外部接続パッド、電
源用の接続ビア、金属配線およびボンディングパッドを
介し、さらにはんだボールからLSIチップのC4ボン
ディングパッド7、金属配線、電源用接続ビアを介し
て、LSIチップ内の各入出力回路クラスタ23内の電
源配線に供給することができる。
【0040】また、この入出力回路クラスタ23の構成
形態としては、たとえば図5(b) のような入出力回路ク
ラスタ23aの変形例が考えられ、図5(a) に比べて少
ない入出力回路24aと、この両側に分離領域25aを
介して配置されるより寸法の小さな論理回路26aとか
ら構成することも可能である。この場合の入出力回路2
4の数、論理回路26の寸法は、C4ボンディングパッ
ド7のピッチなどに対応して決定される。
【0041】さらに、これらの入出力回路クラスタ2
3,23aは、たとえば図6に示すようにLSIチップ
27にレイアウトされ、I/Oマクロエリア(図中左
側)には図5(a) のような構成の入出力回路クラスタ2
3と、図5(b) のような構成の入出力回路クラスタ23
aとが任意に交互あるいは連続的に整列されて配置さ
れ、一方図中右側にはクラスタ構成以外の論理ブロッ
ク、メモリブロックなどの論理/メモリマクロエリアが
配置されている。
【0042】従って、本実施の形態2の半導体集積回路
装置によれば、複数の入出力回路24の両側に分離領域
25を介して論理回路26が配置されている入出力回路
クラスタ23に、各種電源を各入出力回路クラスタ23
毎に独立に供給することにより、前記実施の形態1と同
様に、C4ボンディング技術を用いてLSIチップと基
板を接続する半導体集積回路装置のレイアウト設計にお
いて、入出力回路クラスタ23の専用電源に使用される
配線トラック数を減少して集積度を向上させることがで
きる。
【0043】以上、本発明者によってなされた発明を発
明の実施の形態1および2に基づき具体的に説明した
が、本発明は前記実施の形態に限定されるものではな
く、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であるこ
とはいうまでもない。
【0044】たとえば、前記実施の形態の半導体集積回
路装置については、MCCパッケージによるマイクロプ
ロセッサなどの半導体集積回路装置である場合について
説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるもの
ではなく、C4ボンディング技術を用いてLSIチップ
と基板を接続する他の半導体集積回路装置についても広
く適用可能である。
【0045】また、LSIチップ内の入出力回路クラス
タにおいて、この入出力回路クラスタを構成する入力回
路、出力回路、入出力回路の数、さらにこの入出力回路
クラスタのLSIチップ内での数などについても種々の
変形が可能であることはいうまでもない。
【0046】さらに、マイクロプロセッサなどの半導体
集積回路装置単位で使用される場合に限らず、たとえば
コンピュータシステム、デジタル・スチル・カメラシス
テム、自動車システムなどの各種システムの記憶装置と
して広く用いられ、一例として図7によりコンピュータ
システムについて説明する。
【0047】図7(a) にはマイクロプロセッサを適用し
たパーソナルコンピュータシステムの外観の要部概略図
を示し、このシステムはフロッピーディスクドライブF
DDおよび主記憶メモリとしてのDRAMによるファイ
ルメモリfileM、バッテリバックアップとしてのS
RAM、本実施の形態のマイクロプロセッサなどが内蔵
されている。
【0048】そして、入出力装置をキーボードKBおよ
びディスプレイDPとし、フロッピーディスクFDをフ
ロッピーディスクドライブFDDに挿入することによっ
て、フロッピーディスクFDおよびハードウェアとして
のファイルメモリfileMに情報を記憶できるデスク
トップタイプパソコンとなっている。
【0049】なお、本実施の形態では、デスクトップタ
イプパソコンを例として説明したが、ノート型パソコン
などに適用することもでき、さらに補助機能としてフロ
ッピーディスクを例として記載したが、フロッピーディ
スクに特に限定されるものではない。
【0050】図7(b) にはコンピュータシステムの機能
ブロック図を示し、このコンピュータシステムは、中央
処理装置CPUとしての機能を持つ本実施の形態のマイ
クロプロセッサ、システム内に構築したバスユニットと
してのI/Oバス、BUSUnit、主記憶メモリや拡
張メモリなどの高速メモリをアクセスするメモリ制御ユ
ニットMemory Control Unit、主記
憶メモリとしてのDRAM、基本制御プログラムが格納
されたROM、先端にキーボードが接続されたキーボー
ドコントローラKBDCなどによって構成される。
【0051】さらに、表示アダプタとしてのDispl
ay AdapterがI/Oバスに接続され、前記D
isplay Adapterの先端にはディスプレイ
Displayが接続されている。
【0052】そして、前記I/Oバスにはパラレルポー
トインタフェースParallelPort I/F、
マウスなどのシリアルポートインタフェースSeria
lPort I/F、フロッピーディスクドライブFD
D、I/OバスよりハードディスクドライブHDDのイ
ンタフェースに変換するハードディスクバッファコント
ローラHDD Bufferが接続される。また、前記
メモリ制御ユニットMemory Control U
nitからのバスに拡張RAMおよび主記憶メモリとし
てのDRAMが接続されている。
【0053】ここで、このコンピュータシステムの動作
について説明する。まず、電源が投入されて動作を開始
すると、マイクロプロセッサは、ROMをI/Oバスを
通してアクセスし、初期診断、初期設定を行う。そし
て、補助記憶装置からシステムプログラムを主記憶メモ
リとしてのDRAMにロードする。また、マイクロプロ
セッサは、I/Oバスを通してハードディスクバッファ
コントローラHDD Bufferにハードディスクド
ライブHDDをアクセスするものとして動作する。
【0054】そして、マイクロプロセッサは、システム
プログラムのロードが終了すると、ユーザの処理要求に
従い、処理を進めていく。なお、ユーザはI/Oバス上
のキーボードコントローラKBDCや表示アダプタDi
splay Adapterにより処理の入出力を行い
ながら作業を進める。そして、必要に応じてパラレルポ
ートインタフェースParallel Port I/
F、シリアルポートインタフェースSerial Po
rt I/Fに接続された入出力装置を活用する。
【0055】また、本体上の主記憶メモリとしてのDR
AMでは主記憶容量が不足する場合は、拡張RAMによ
り主記憶を補う。なお、図にはハードディスクドライブ
HDDとして記載したが、フラッシュメモリを用いたフ
ラッシュファイルに置き換えることも可能である。
【0056】以上のようにして、本実施の形態のマイク
ロプロセッサなどの半導体集積回路装置は、コンピュー
タシステムの中央処理装置CPUなどとして広く適用す
ることが可能である。
【0057】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0058】(1).入力回路と出力回路とが物理的に隣接
して構成される各クラスタ内に、入出力回路専用の電源
配線を設け、入出力回路に給電するための電源配線を工
夫することで、電源配線が占有する配線トラック数を最
小化することができるので、集積度を犠牲にすることな
く、入出力回路をチップ内部に散在して配置することが
可能となる。
【0059】(2).入出力回路と論理回路とが物理的に隣
接して構成される各クラスタ内に、入出力回路および論
理回路専用の電源配線を設け、入出力回路および論理回
路に給電するための電源配線を工夫することで、電源配
線が占有する配線トラック数を最小化することができる
ので、集積度を犠牲にすることなく、入出力回路および
論理回路をチップ内部に散在して配置することが可能と
なる。
【0060】(3).各クラスタへの電源給電をC4ボンデ
ィングパッドより直接行い、入出力回路の数をC4ボン
ディングパッドのピッチに対応させて決定することで、
より一層、入出力回路専用電源に使用される配線トラッ
ク数が著しく減少するため、集積度を大幅に向上させる
ことが可能となる。
【0061】(4).前記(1) 〜(3) により、C4ボンディ
ング技術を用いてチップと基板を接続し、入出力回路を
チップ上の任意の位置に散在して配置する半導体集積回
路装置のレイアウト設計において、レイアウト効率を著
しく向上させ、高集積密度を達成することが可能とな
る。
【0062】(5).半導体集積回路装置を中央処理装置と
して用い、この中央処理装置の周辺回路などを有するコ
ンピュータシステムにおいて、半導体集積回路装置の集
積度の向上に伴ってコンピュータシステムを小型化する
ことができ、あるいは小型のコンピュータシステムであ
りながら高機能化を実現することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1である半導体集積回路装
置の一例を示す断面図である。
【図2】本発明の実施の形態1の半導体集積回路装置を
構成するLSIチップを示す平面図である。
【図3】本発明の実施の形態1において、LSIチップ
のレイアウトを示す機能ブロック図である。
【図4】本発明の実施の形態1において、入出力回路ク
ラスタの一例を示す説明図である。
【図5】本発明の実施の形態2である半導体集積回路装
置を構成する入出力回路クラスタの一例を示す説明図で
ある。
【図6】本発明の実施の形態2において、LSIチップ
のレイアウトを示す説明図である。
【図7】(a),(b) は本発明の実施の形態において、半導
体集積回路装置を用いたコンピュータシステムを示す外
観の要部概略図と機能ブロック図である。
【符号の説明】
1 基板 2 はんだボール 3 LSIチップ 4 封止はんだ 5 キャップ 6 はんだ 7,7a〜7l C4ボンディングパッド 8 論理ブロック 9 メモリブロック 10 入出力回路クラスタ 11a〜11d 入力回路 12a〜12d 出力回路 13a〜13d 金属配線 14a〜14d 電源用接続ビア 15a〜15d 金属配線 16a〜16h 接続端子 17a〜17h 金属配線 18a〜18h 信号用接続ビア 19 外部接続パッド 20 接続ビア 21 金属配線 22 ボンディングパッド 23,23a 入出力回路クラスタ 24,24a 入出力回路 25,25a 分離領域 26,26a 論理回路 27 LSIチップ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 チップとこのチップが実装される基板と
    がC4ボンディング方式を用いて接続され、かつ前記チ
    ップの任意の箇所に入出力回路が散在可能に配置される
    半導体集積回路装置であって、前記入出力回路は、少な
    くとも1つ以上の入力回路と少なくとも1つ以上の出力
    回路とが物理的に隣接して配置されるクラスタ構成とさ
    れ、このクラスタ構成の各クラスタ毎に独立の電源給電
    用金属配線が各クラスタ内に設けられていることを特徴
    とする半導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 チップとこのチップが実装される基板と
    がC4ボンディング方式を用いて接続され、かつ前記チ
    ップの任意の箇所に、少なくとも入出力回路および論理
    回路が散在可能に配置される半導体集積回路装置であっ
    て、前記入出力回路および論理回路は、少なくとも1つ
    以上の入出力回路とこの入出力回路の両側に配置される
    論理回路とが物理的に隣接して配置されるクラスタ構成
    とされ、このクラスタ構成の各クラスタ毎に独立の電源
    給電用金属配線が各クラスタ内に設けられていることを
    特徴とする半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の半導体集積回路
    装置であって、前記各クラスタ毎に設けられる電源は少
    なくとも1種類以上の電源とされ、かつこの各クラスタ
    内の電源種毎にそれぞれ独立の少なくとも1つ以上のC
    4ボンディングパッドが設けられ、この各クラスタ内の
    各電源と対応するC4ボンディングパッドが前記電源給
    電用金属配線を用いて接続されていることを特徴とする
    半導体集積回路装置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の半導体集積回路装置であ
    って、前記各クラスタ毎の前記入出力回路の数は、高集
    積密度化を前提として、前記C4ボンディングパッドの
    ピッチに対応して決定されていることを特徴とする半導
    体集積回路装置。
  5. 【請求項5】 請求項1、2、3または4記載の半導体
    集積回路装置を用いたコンピュータシステムであって、
    前記半導体集積回路装置を中央処理装置として用い、こ
    の中央処理装置の周辺回路などを有することを特徴とす
    るコンピュータシステム。
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