JPH09223728A - Pickup method of pellet - Google Patents

Pickup method of pellet

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Publication number
JPH09223728A
JPH09223728A JP3025896A JP3025896A JPH09223728A JP H09223728 A JPH09223728 A JP H09223728A JP 3025896 A JP3025896 A JP 3025896A JP 3025896 A JP3025896 A JP 3025896A JP H09223728 A JPH09223728 A JP H09223728A
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JP
Japan
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pellet
pellets
tension
wafer sheet
pickup
Prior art date
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Pending
Application number
JP3025896A
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Japanese (ja)
Inventor
Tsuguhiko Hirano
次彦 平野
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Hitachi Ltd
Renesas Semiconductor Package and Test Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP3025896A priority Critical patent/JPH09223728A/en
Publication of JPH09223728A publication Critical patent/JPH09223728A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To stabilize the pickup operation of a pellet on a wafer sheet, by beginning to pickup from a pellet positioned in the outermost periphery and continuing to pickup as far as a pellet positioned at the center, in the sequence forming a spiral. SOLUTION: On a pellet 5, figures from 1 to 40 are assigned. According to the figures, pickup is performed until the 40th pellet 5, in the order of 1, 2, 3,.... On and after the 41st pellet, pickup is continued as far as the last pellet 5 at the center, in the sequence shown by arrows. The pickup starts from the pellet 5 positioned in the outermost periphery, and continues as far as the pellet 5 positioned at the center, in the sequence forming a spiral. Hence the locus of pickup is made approximate to a concentric circle type tension distribution, and the change amount of tension of the pellet 5 to be picked up becomes gentle. Thereby the pickup operation of the pellet 5 on a wafer sheet 13 can be stabilized.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はウェハシート上のペ
レットをピックアップする技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique for picking up pellets on a wafer sheet.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体の分野では、半導体装置が高機能
化・大容量化している今日、実装技術の重要性がクロー
ズアップされている。ここで、実装技術は、接合技術
(二つの部品間あるいは二つの電極間をつなぐ技術で、
さらに半導体実装技術とリード接合技術とに分類され
る)と回路基板技術(半導体装置を搭載するための配線
基板に関する技術)とに分けて考えられる。接合技術中
の半導体実装技術にあっては、ペレットと複数のインナ
リードとをボンディングパッドを介して直接に且つ一括
してボンディングするTABやLOCは言うに及ばず従
来のワイヤボンディングにおいても、微細ピッチ下にお
いて高品質なボンディングを行うためには、ペレットが
リードフレーム上の所定位置に正しくマウントされてい
ることが重要になる。そして、そのためには、ダイシン
グされたウェハシート上のペレットが適正にピックアッ
プされることが大前提となる。
2. Description of the Related Art In the field of semiconductors, the importance of packaging technology has been highlighted as semiconductor devices have become more sophisticated and have larger capacities. Here, the mounting technique is a joining technique (a technique for connecting two components or two electrodes,
Further, it is considered to be divided into a semiconductor mounting technology and a lead bonding technology) and a circuit board technology (technology related to a wiring board for mounting a semiconductor device). In the semiconductor mounting technology, which is one of the bonding technologies, in the conventional wire bonding, not to mention TAB and LOC, which directly and collectively bond the pellet and the plurality of inner leads through the bonding pad, the fine pitch is used. For high quality bonding below, it is important that the pellet be properly mounted in place on the leadframe. And for that purpose, it is a premise that the pellets on the diced wafer sheet are properly picked up.

【0003】ここで、ペレットのピックアップは、これ
をニードルで裏面から突き上げて上方に待機している移
送治具に保持させる方式が採られている。そして、ピッ
クアップの順番は、格子状に並んでいる何れかのペレッ
トからスタートして並び順、つまり横方向あるいは縦方
向に進めて行くことが一般的であると考えられる。
Here, a method of picking up the pellets is such that the pellets are pushed up from the back side by a needle and held by a transfer jig standing by above. It is generally considered that the pick-up order is to start from one of the pellets arranged in a grid and proceed in the order, that is, in the horizontal direction or the vertical direction.

【0004】なお、ペレットをリードフレームにマウン
トするダイボンディグ技術が詳しく記載されている例と
しては、たとえば、日経BP社発行、「VLSIパッケ
ージング技術(下)」(1993年 5月31日発行)、 P17〜
P22がある。
As an example in which the die bonding technology for mounting pellets on a lead frame is described in detail, for example, "VLSI packaging technology (bottom)" issued by Nikkei BP (issued May 31, 1993), P17 ~
There is P22.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ペレットが貼着されて
いるウェハシートは、このウェハシートを環状に保持し
ているウェハリングおよびこのウェハリングの内側に位
置する同じく環状のエキスパンダにより外周から引き延
ばされて張力が与えられている。したがって、ウェハシ
ートの中心部に向かうほど張力が小さくなっている。つ
まり、張力は中心部にあるペレットから同心円状に広が
って大きくなる分布となっている。
The wafer sheet to which the pellets are attached is pulled from the outer periphery by a wafer ring holding the wafer sheet in an annular shape and an annular expander located inside the wafer ring. It is stretched and tensioned. Therefore, the tension becomes smaller toward the center of the wafer sheet. That is, the tension has a distribution in which it spreads concentrically from the pellet in the center and increases.

【0006】張力がこのような分布となっているにもか
かわらず、これを無視した前述の順序でペレットをピッ
クアップすれば、張力の変化量が急峻になってピックア
ップ動作が安定しなくなる。そうすると、特に中央部分
のペレットで、たとえばウェハシートが追随してこれか
ら剥がれないといった現象や、隣接するペレットと接触
してエッジが欠けるといった現象が発生することが懸念
される。そして、半導体ウェハが今日の傾向のように大
口径化されればされるほど張力の変化幅は大きくなるの
で、このような現象は一層顕著になるものと想定され
る。
Even if the tension has such a distribution, if the pellets are picked up in the above order ignoring this distribution, the amount of change in the tension becomes steep and the pickup operation becomes unstable. Then, especially in the pellets in the central portion, there is a concern that, for example, a phenomenon in which the wafer sheet follows and is not peeled off from the pellets, or a phenomenon in which the pellets come into contact with adjacent pellets and the edges are chipped. Further, it is assumed that such a phenomenon becomes more remarkable because the change width of the tension becomes larger as the diameter of the semiconductor wafer becomes larger as in the present trend.

【0007】予め行われたペレットの電気的テストの結
果による良品、不良品のデータをフロッピーディスクな
どに保存しておき、このデータに従って良品のみをピッ
クアップすることが考えられるが、このような場合では
張力変動がなおさら急峻になり好ましくない。
[0007] It is conceivable that the data of non-defective products and defective products based on the result of the electrical test of pellets carried out in advance is stored in a floppy disk or the like, and only non-defective products are picked up according to this data. The change in tension becomes sharper, which is not preferable.

【0008】そこで、本発明の目的は、ウェハシート上
のペレットのピックアップ動作を安定化させることので
きる技術を提供することにある。
[0008] Therefore, an object of the present invention is to provide a technique capable of stabilizing the pickup operation of pellets on a wafer sheet.

【0009】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
次のとおりである。
SUMMARY OF THE INVENTION Among the inventions disclosed in the present application, the outline of a representative one will be briefly described.
It is as follows.

【0011】すなわち、本発明によるペレットのピック
アップ方法は、ダイシングにより個々に分離されたウェ
ハシート上の複数のペレットをピックアップしてリード
フレームの所定位置にマウントするペレットのピックア
ップ方法で、最外周に位置するペレットから開始して渦
巻き状を形成する順序で中心に位置するペレットまでピ
ックアップして行くことを特徴とするものである。
That is, the pellet pick-up method according to the present invention is a pellet pick-up method of picking up a plurality of pellets on a wafer sheet which are individually separated by dicing and mounting them on a predetermined position of the lead frame. It is characterized in that the pellets located at the center are picked up in the order of forming a spiral shape starting from the pellets.

【0012】このペレットのピックアップ方法であっ
て、中心に位置するペレットに向かうにしたがってウェ
ハシートの張力を大きくしてピックアップされるペレッ
トにおける張力を均一化するようにしてもよい。張力
は、ウェハシートを広げた状態に保持するウェハリング
および該ウェハリングの内側に位置してウェハシートに
張力を与えるエキスパンダの少なくとも何れか一方を移
動させて変化させることができる。
In this method of picking up pellets, the tension of the wafer sheet may be increased toward the pellet located at the center so that the tension of the pellets picked up becomes uniform. The tension can be changed by moving at least one of a wafer ring that holds the wafer sheet in an expanded state and an expander that is located inside the wafer ring and applies tension to the wafer sheet.

【0013】また、前記したペレットのピックアップ方
法であって、ペレットをウェハシートの下方から突き上
げるニードルに、中心に位置するペレットに向かうにし
たがって突き上げ高さを高くする第1の動作条件、およ
び中心に位置するペレットに向かうにしたがって突き上
げ速度を速くする第2の動作条件の少なくとも何れか1
つの動作条件を適用するようにしてもよい。
Further, in the above-mentioned pellet pick-up method, in the needle which pushes up the pellet from the lower side of the wafer sheet, the first operating condition in which the push-up height is increased toward the centrally located pellet, and At least one of the second operating conditions for increasing the push-up speed toward the located pellet.
You may make it apply one operating condition.

【0014】これらのペレットのピックアップ方法で
は、良品のペレットのみを選択的にピックアップするよ
うにしてもよい。
In these pellet pick-up methods, only non-defective pellets may be selectively picked up.

【0015】これによれば、ピックアップの軌跡が同心
円状の張力分布に近似してピックアップされるペレット
での張力の変化量が緩やかになり、ウェハシート上のペ
レットのピックアップ動作を安定化させることができ
る。そして、電気的テストのデータにより良品のみを選
択的にピックアップすることも可能になる。
According to this, the trajectory of the pickup approximates the concentric circular tension distribution, and the amount of change in the tension of the pellet to be picked up becomes gentle, so that the pickup operation of the pellet on the wafer sheet can be stabilized. it can. Then, it becomes possible to selectively pick up only non-defective products based on the electrical test data.

【0016】また、中心に位置するペレットに向かって
ウェハシートの張力を大きくしたり、突き上げ高さや突
き上げ速度を中心に位置するペレットに向かってアップ
すれば、一層安定したピックアップ動作が実現される。
Further, if the tension of the wafer sheet is increased toward the pellet located at the center or the push-up height and push-up speed are raised toward the pellet located at the center, a more stable pickup operation is realized.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明す
るための全図において、同一の部材には同一の符号を付
し、その繰り返しの説明は省略する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In all the drawings for describing the embodiments, the same members are denoted by the same reference numerals, and a repeated description thereof will be omitted.

【0018】(実施の形態1)図1は本発明の一実施の
形態であるペレットのピックアップ方法が実行されるダ
イボンダを示す斜視図、図2は図1のダイボンダにおけ
るペレットのピックアップ順序を示す説明図である。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a perspective view showing a die bonder in which a pellet pick-up method according to an embodiment of the present invention is executed, and FIG. 2 is an explanation showing a pellet pick-up order in the die bonder of FIG. It is a figure.

【0019】図1に示すダイボンダは、リードフレーム
1をその長さ方向に搬送するフィーダ部2、このフィー
ダ部2にリードフレーム1を供給するローダ部3、所定
のピッチ間隔で搬送されて行くリードフレーム1のダイ
パッド1aに対してコレット4に吸着されたペレット5
をマウントするボンディングヘッド部6、このボンディ
ングヘッド部6にペレット5を供給するペレットローデ
ィング部7、およびペレット5のマウントされたリード
フレーム1が収納されるアンローダ部8とから構成され
ている。
The die bonder shown in FIG. 1 has a feeder section 2 for conveying the lead frame 1 in the lengthwise direction thereof, a loader section 3 for supplying the lead frame 1 to the feeder section 2, and leads which are conveyed at a predetermined pitch. The pellet 5 adsorbed by the collet 4 against the die pad 1a of the frame 1
A bonding head section 6 for mounting the pellets, a pellet loading section 7 for supplying the pellets 5 to the bonding head section 6, and an unloader section 8 for accommodating the lead frame 1 on which the pellets 5 are mounted.

【0020】ペレットローディング部7からボンディン
グヘッド部6に至る経路上には位置決めステージ9が設
置されており、ペレット5はこの位置決めステージ9の
ゲージ9aで位置合わせされた後にコレット4に吸着さ
れるようになっている。また、フィーダ部2にロードさ
れたリードフレーム1に、たとえばエポキシ系やポリイ
ミド系の熱硬化性樹脂からなるペーストを供給するペー
スト供給部10がボンディングヘッド部6より搬送方向
手前に設置され、ペーストディスペンサ11からのペー
ストがノズル12からダイパッド1a上に滴下されるよ
うになっている。なお、ペレット5がリードフレーム1
に接着された後は、これを加熱してペーストが硬化され
る。但し、このような樹脂接合法ではなく、ペレット5
の裏面とリードフレーム1のAuメッキ面とを加熱圧着
する共晶接合法や、Pb−Sn系のプリフォームを不活
性ガス中で加熱溶融して接合するはんだ接合法を用いて
もよい。
A positioning stage 9 is installed on the path from the pellet loading section 7 to the bonding head section 6. The pellet 5 is positioned by the gauge 9a of the positioning stage 9 and then sucked by the collet 4. It has become. Further, a paste supply unit 10 for supplying a paste made of, for example, an epoxy-based or polyimide-based thermosetting resin to the lead frame 1 loaded in the feeder unit 2 is installed in front of the bonding head unit 6 in the transport direction, and a paste dispenser is provided. The paste from 11 is dropped from the nozzle 12 onto the die pad 1a. The pellet 5 is the lead frame 1.
After being adhered to, the paste is cured by heating it. However, the pellet 5
You may use the eutectic joining method which heat-bonds the back surface of Au and the Au plating surface of the lead frame 1, and the solder joining method which heat-melts and joins Pb-Sn type preform in an inert gas.

【0021】ペレットローディング部7は、ダイシング
により個々に分離されたペレット5が貼着されたウェハ
シート13を広げた状態に保持するウェハリング14と
(図2参照)、このようなウェハリング14が載置され
るステージ15と、ペレット5を一つずつウェハシート
13からピックアップして前記した位置決めステージ9
まで移送する移送治具16と、ピックアップするペレッ
ト5と移送治具16との位置合わせを行うために両者の
画像を取り込んでこれをモニタ17上に表示するカメラ
18とから構成されている。なお、後述する実施の形態
2、3およびそれぞれ対応した図面である図3、図4に
て示すように、ウェハシート13の下方にはこのウェハ
シート13を突き抜けて上下移動を行うニードル19が
設けられてボンディング対象のペレット5が移送治具1
6へ突き上げられるようになっており、また、ウェハリ
ング14の内側にはエキスパンダ20が位置してウェハ
シート13に張力が与えられている。
The pellet loading unit 7 holds a wafer ring 14 (see FIG. 2) for holding the wafer sheet 13 to which the pellets 5 individually separated by dicing are adhered in an unfolded state (see FIG. 2). The stage 15 to be placed and the pellets 5 are picked up one by one from the wafer sheet 13, and the positioning stage 9 is described above.
It comprises a transfer jig 16 for transferring to, and a camera 18 which captures images of both for picking up the pellet 5 to be picked up and the transfer jig 16 and displays the images on the monitor 17. In addition, as shown in Embodiments 2 and 3 described later and FIGS. 3 and 4 corresponding to the drawings, a needle 19 for penetrating the wafer sheet 13 and moving up and down is provided below the wafer sheet 13. The pellet 5 to be bonded is transferred to the transfer jig 1
6, the expander 20 is located inside the wafer ring 14 to apply tension to the wafer sheet 13.

【0022】このような構造を有するダイボンダでは、
ペレット5は図2に示す順番でピックアップされる。詳
しく説明すれば、図2において、ペレット5には1〜4
0までの数字が振られているが、ピックアップはこの数
字にしたがって1,2,3・・・の順序で40番のペレ
ット5まで、そして、41番目以降は引き続き矢印に示
すような順序で中心位置の最後のペレット5まで行われ
る。つまり、本実施の形態では、ピックアップは最外周
に位置するペレット5からスタートして渦巻き状を形成
する順序で中心に位置するペレット5まで順次ピックア
ップされるようになっている。ここで、最初にピックア
ップされるペレット5は最外周に位置するもの(図2で
いえば、1〜36までの数字が振られたペレット5)で
あれば何れのペレット5でもよい。但し、図2のハッチ
ングで示すように全体形状が取れていない部分はペレッ
ト5には含まれない。また、最初にピックアップされる
ペレット5を何れにするかによって最後にピックアップ
される位置のペレット5が異なることが考えられるが、
最後のペレット5は渦巻き状にピックアップした最後の
ものであればよく、物理的に全ペレット5の中心に位置
しているものである必要はない。なお、以下に記載する
実施の形態2および3の場合を含め、ダイボンディング
に先だって行われるペレット5の電気的テストにおいて
判定される良品、不良品のデータをフロッピーディスク
などの記憶装置に保存しておき、前記した渦巻き状に良
品のみをピックアップしていくようにしてもよい。
In the die bonder having such a structure,
The pellets 5 are picked up in the order shown in FIG. More specifically, in FIG.
Numbers up to 0 are given, but the pickup is centered in the order of 1, 2, 3 ... up to the 40th pellet 5 according to this number, and from 41st onwards in the order shown by the arrow. To the last pellet 5 in the position is carried out. That is, in the present embodiment, the pickup is started from the pellet 5 located at the outermost periphery and is sequentially picked up to the pellet 5 located at the center in the order of forming a spiral shape. Here, the pellet 5 that is first picked up may be any pellet 5 as long as it is located at the outermost periphery (in FIG. 2, the pellet 5 is numbered from 1 to 36). However, as shown by hatching in FIG. 2, the pellet 5 does not include a portion that does not have the entire shape. Further, it is possible that the pellet 5 at the last picked-up position differs depending on which pellet 5 is picked up first.
The last pellet 5 may be the last one picked up in a spiral shape, and does not need to be physically located at the center of all the pellets 5. In addition, including the cases of Embodiments 2 and 3 described below, data of a good product and a defective product determined in an electrical test of the pellet 5 performed before die bonding is stored in a storage device such as a floppy disk. Alternatively, only non-defective products may be picked up in the above-mentioned spiral shape.

【0023】本実施の形態に示すダイボンダのボンディ
ング動作は次のようなものである。
The bonding operation of the die bonder shown in this embodiment is as follows.

【0024】先ず、ローダ部3からフィーダ部2に供給
されたリードフレーム1はピッチ送りされて行き、ペー
スト供給部10でダイパッド1a上にペーストが滴下さ
れる。一方、ウェハシート13上のペレット5は移送治
具16にピックアップされて位置決めステージ9で位置
合わせされる。
First, the lead frame 1 supplied from the loader section 3 to the feeder section 2 is pitch-fed and the paste supply section 10 drops the paste onto the die pad 1a. On the other hand, the pellets 5 on the wafer sheet 13 are picked up by the transfer jig 16 and aligned by the positioning stage 9.

【0025】ピックアップは、前述のように、最外周に
位置するペレット5からスタートして渦巻き状を形成し
ながら中心に位置するペレット5に至る順序で行われ
る。ウェハリング14によって広げた状態に保持されて
いるウェハシート13の張力は、その外周部が最も大き
く中心部に向かって次第に小さくなる同心円状の分布と
なっている。したがって、本実施の形態では、移送治具
16によるピックアップの軌跡(渦巻き状)がウェハシ
ート13の張力分布(同心円状)に近似したものとなっ
ている。これにより、たとえ良品のみを選択的にピック
アップしても、ピックアップされるペレット5における
張力の変化量は緩やかになって安定したピックアップ動
作を実現することができ、剥離不良や欠けといったピッ
クアップミスは未然に防止されている。
As described above, the pickup is carried out in the order of starting from the pellet 5 located at the outermost periphery to the pellet 5 located at the center while forming a spiral shape. The tension of the wafer sheet 13 held in the expanded state by the wafer ring 14 has a concentric distribution in which the outer peripheral portion has the largest tension and gradually decreases toward the center portion. Therefore, in the present embodiment, the trajectory of the pickup by the transfer jig 16 (spiral shape) approximates to the tension distribution (concentric shape) of the wafer sheet 13. As a result, even if only good products are selectively picked up, the amount of change in the tension of the pellets 5 picked up becomes gentle, and a stable pickup operation can be realized, and a pickup error such as peeling failure or chipping occurs. Are prevented by.

【0026】位置決めステージ9で位置合わせされたペ
レット5はコレット4に吸着されてボンディングヘッド
部6へ搬送され、ここで前記したペーストの塗布された
ダイパッド1aに接着される。なお、接着後はアンロー
ダ部8に収納される。
The pellets 5 aligned by the positioning stage 9 are adsorbed by the collet 4 and conveyed to the bonding head portion 6 where they are bonded to the die pad 1a coated with the above-mentioned paste. After the bonding, it is stored in the unloader unit 8.

【0027】(実施の形態2)図3は本発明の他の実施
の形態であるペレットのピックアップ方法が実行される
ダイボンダにおけるウェハシートの張力変化を示す説明
図である。
(Embodiment 2) FIG. 3 is an explanatory view showing a change in tension of a wafer sheet in a die bonder in which a pellet pickup method according to another embodiment of the present invention is executed.

【0028】本実施の形態においては、前記した実施の
形態1に記載した内容に加えて、渦巻き状にペレット5
をピックアップして行くときに、中心に位置するペレッ
ト5に向かうにしたがってウェハシート13の張力を大
きくし、ピックアップされるペレット5における張力が
均一化されたものである。
In the present embodiment, in addition to the contents described in the first embodiment, the spiral pellets 5 are added.
Is picked up, the tension of the wafer sheet 13 is increased toward the pellet 5 located at the center, and the tension in the pellets 5 to be picked up is made uniform.

【0029】すなわち、ウェハシート13の張力はこの
ウェハシート13を広げた状態に保持しているウェハリ
ング14の内側に位置しているエキスパンダ20により
付与されおり、外周部が最も大きく中心部に向かって次
第に小さくなっている。そこで、エキスパンダ20をウ
ェハリング14と反対方向に相対移動させるようにし
て、ウェハシート13の張力を、図3(a)に示すよう
に、外周のペレット5をピックアップするときには最も
小さくし、図3(b)に示すように、中心に向かうにし
たがって次第に大きくして行くことにより、ピックアッ
プされるペレット5での張力の均一化を図っている。な
お、エキスパンダ20またはウェハリング14の何れか
一方を移動させるようにしてもよい。なお、張力の制御
は、エキスパンダ20とウェハリング14との移動に限
定されるものではない。
That is, the tension of the wafer sheet 13 is applied by the expander 20 located inside the wafer ring 14 which holds the wafer sheet 13 in an expanded state, and the outer peripheral portion is the largest and the central portion is located at the central portion. It is getting smaller gradually. Therefore, the tension of the wafer sheet 13 is minimized when the pellets 5 on the outer periphery are picked up as shown in FIG. 3A by moving the expander 20 in the direction opposite to the wafer ring 14. As shown in FIG. 3B, the tension of the pellets 5 to be picked up is made uniform by gradually increasing toward the center. Note that either the expander 20 or the wafer ring 14 may be moved. The tension control is not limited to the movement of the expander 20 and the wafer ring 14.

【0030】このように、本実施の形態では、ウェハシ
ート13の張力を次第に大きくしてピックアップされる
ペレット5での張力が均一化されているので、一層安定
したピックアップ動作を実現することができる。
As described above, in the present embodiment, the tension of the wafer 5 is gradually increased to equalize the tension of the pellets 5 to be picked up, so that a more stable pickup operation can be realized. .

【0031】(実施の形態3)図4は本発明のさらに他
の実施の形態であるペレットのピックアップ方法が実行
されるダイボンダにおけるニードルの突き上げ高さの変
化を示す説明図である。
(Embodiment 3) FIG. 4 is an explanatory view showing a change in needle push-up height in a die bonder in which a pellet pick-up method according to still another embodiment of the present invention is executed.

【0032】本実施の形態では、前記した実施の形態1
に記載した内容に加えて、渦巻き状にペレット5をピッ
クアップして行くときに、中心に位置するペレット5に
向かうにしたがってニードル19の突き上げ高さが高く
なるように動作する(第1の動作条件)ものである。
In this embodiment, the first embodiment described above is used.
In addition to the contents described in (1), when the pellets 5 are picked up in a spiral shape, the needles 19 operate so that the height of the needle 19 is increased toward the centrally located pellets 5 (first operating condition). ).

【0033】前述のように、ウェハシート13の張力は
外周部が最も大きく中心部に向かって次第に小さくなっ
ている。したがって、ニードル19で突き上げた場合、
外周部のペレット5は比較的低い突き上げ高さでウェハ
シート13から剥離して移送治具16に保持される。し
かし、ウェハシート13の張力が小さい中心部のペレッ
ト5では、外周部と同じ高さで突き上げた程度ではウェ
ハシート13がペレット5からなかなか剥離しないとい
った現象や、さらには、これに起因して、隣接するペレ
ット5と接触してエッジが欠けるといった現象が発生す
る。
As described above, the tension of the wafer sheet 13 is largest at the outer peripheral portion and gradually becomes smaller toward the central portion. Therefore, when the needle 19 is pushed up,
The pellet 5 on the outer peripheral portion is peeled off from the wafer sheet 13 with a relatively low push-up height and held by the transfer jig 16. However, in the case of the pellet 5 in the central portion where the tension of the wafer sheet 13 is small, the phenomenon that the wafer sheet 13 does not easily separate from the pellet 5 when pushed up at the same height as the outer peripheral portion, and further, due to this, A phenomenon occurs in which an edge is chipped due to contact with an adjacent pellet 5.

【0034】そこで、ニードル19の突き上げ高さを、
図4(a)に示すように、外周のペレット5をピックア
ップするときには最も低くし、図4(b)に示すよう
に、中心に向かうにしたがって次第に高くすることによ
り、張力が小さくなってピックアップされたペレット5
に追随するウェハシート13がこれから強制的に剥離さ
れる。したがって、ウェハシート13の張力が変動して
も一層安定したピックアップ動作を実現することができ
る。
Therefore, the thrust height of the needle 19 is
As shown in FIG. 4 (a), when the pellet 5 on the outer periphery is picked up, it is set to the lowest, and as shown in FIG. 4 (b), the tension is lowered to be picked up by gradually increasing the height toward the center. Pellets 5
The wafer sheet 13 that follows the sheet is forcibly peeled from this. Therefore, even if the tension of the wafer sheet 13 changes, a more stable pickup operation can be realized.

【0035】なお、ペレット5をウェハシート13から
剥離する力は、このようにニードル19の突き上げ高さ
を高くすることのみではなく、ニードル19の突き上げ
速度を速くする(第2の動作条件)ことによっても制御
することができる。したがって、中心に位置するペレッ
ト5に向かうにしたがってニードル19の突き上げ速度
が速くなるようにしても、さらには、突き上げ高さ制御
という第1の動作条件と、突き上げ速度制御という第2
の動作条件とを併用しても、同じように一層安定したピ
ックアップ動作を実現することが可能になる。
The force for peeling the pellets 5 from the wafer sheet 13 is not only to increase the height of pushing up the needle 19 as described above, but also to increase the speed of pushing up the needle 19 (second operating condition). Can also be controlled by. Therefore, even if the push-up speed of the needle 19 increases toward the pellet 5 located at the center, the first operating condition of the push-up height control and the second push-up speed control of the second push-up speed control.
Even when the operating conditions of (1) and (2) are used together, it is possible to realize a more stable pickup operation.

【0036】以上、本発明者によってなされた発明をそ
の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前
記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸
脱しない範囲で種々変更可能であることは言うまでもな
い。
Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiment, the invention is not limited to the embodiment, and various modifications may be made without departing from the gist of the invention. It goes without saying that it is possible.

【0037】たとえば、本実施の形態においては、ダイ
パッド1aを有するリードフレーム1にペレット5をマ
ウントした例が開示されているが、ダイパッド1aのな
い、たとえばCOL(Chip On Lead)構造のリードフレ
ームの場合には、ペレット5は予め定められた位置にマ
ウントされる。このように、ダイパッドのないリードフ
レームを含め、ペレット5はリードフレームの所定位置
にマウントされる。
For example, in the present embodiment, an example in which the pellet 5 is mounted on the lead frame 1 having the die pad 1a is disclosed. However, in a lead frame having no die pad 1a, for example, of a COL (Chip On Lead) structure. In some cases, the pellet 5 is mounted in a predetermined position. Thus, the pellet 5 including the lead frame without the die pad is mounted at a predetermined position of the lead frame.

【0038】また、ウェハシート13の張力の調整やニ
ードル19の突き上げ高さの調整はは、カム機構等を用
いた機械的手段やステップモータ等を用いた電気的手段
の何れをも採用することができる。
In order to adjust the tension of the wafer sheet 13 and the height of the needle 19 to be pushed up, any mechanical means such as a cam mechanism or electrical means such as a step motor may be employed. You can

【0039】[0039]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以
下のとおりである。
The effects obtained by typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0040】(1).すなわち、本発明のペレットのピック
アップ技術によれば、ウェハシート上の最外周に位置す
るペレットから渦巻き状を形成しながら中心に至る順序
でピックアップしているので、ピックアップの軌跡が同
心円状の張力分布に近似してピックアップされるペレッ
トでの張力の変化量は緩やかになる。これにより、ウェ
ハシート上のペレットのピックアップ動作を安定化させ
ることができる。
(1) That is, according to the pellet pick-up technique of the present invention, the pellets located at the outermost periphery on the wafer sheet are picked up in the order from the center to the center while forming a spiral shape. The amount of change in tension of the pellet picked up becomes gentle as the trajectory approximates to a concentric circular tension distribution. As a result, the pickup operation of the pellets on the wafer sheet can be stabilized.

【0041】(2).したがって、大口径の半導体ウェハを
ダイシングしたペレットでも張力の変化幅は僅かとな
り、安定したピックアップが可能になる。
(2) Therefore, even in the case of pellets obtained by dicing a large-diameter semiconductor wafer, the range of change in tension is small, and stable pickup is possible.

【0042】(3).また、張力の変化量が緩やかになるの
で、電気的テストのデータにより良品のみを選択的にピ
ックアップすることも可能になる。
(3) Further, since the amount of change in tension becomes gentle, it becomes possible to selectively pick up only non-defective products according to the data of the electrical test.

【0043】(4).中心に位置するペレットに向かってウ
ェハシートの張力を大きくすれば、ピックアップされる
ペレットにおける張力が均一化されて一層安定したピッ
クアップ動作が実現される。
(4) If the tension of the wafer sheet is increased toward the pellet located at the center, the tension in the pellets to be picked up is made uniform and a more stable pickup operation is realized.

【0044】(5).さらに、突き上げ高さや突き上げ速度
を中心に位置するペレットに向かってアップするように
しても、張力が小さくなってピックアップされたペレッ
トに追随するウェハシートが強制的に剥離されるので、
前記した(4) の場合と同様に一層安定したピックアップ
動作が実現される。
(5) Further, even if the push-up height and push-up speed are increased toward the pellet located in the center, the tension is reduced and the wafer sheet following the picked-up pellet is forcibly peeled off. So
As in the case of (4) above, more stable pickup operation is realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態1によるペレットのピック
アップ方法が実行されるダイボンダを示す斜視図であ
る。
FIG. 1 is a perspective view showing a die bonder in which a pellet pickup method according to a first embodiment of the present invention is executed.

【図2】図1のダイボンダにおけるペレットのピックア
ップ順序を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory view showing a pickup order of pellets in the die bonder of FIG.

【図3】(a)、(b)は本発明の実施の形態2による
ペレットのピックアップ方法が実行されるダイボンダに
おけるウェハシートの張力変化を示す説明図である。
3 (a) and 3 (b) are explanatory views showing changes in the tension of a wafer sheet in a die bonder in which the pellet pickup method according to the second embodiment of the present invention is executed.

【図4】(a)、(b)は本発明の実施の形態3による
ペレットのピックアップ方法が実行されるダイボンダに
おけるニードルの突き上げ高さの変化を示す説明図であ
る。
4 (a) and 4 (b) are explanatory views showing changes in needle push-up height in a die bonder in which the pellet pick-up method according to the third embodiment of the present invention is executed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 リードフレーム 1a ダイパッド 2 フィーダ部 3 ローダ部 4 コレット 5 ペレット 6 ボンディングヘッド部 7 ペレットローディング部 8 アンローダ部 9 位置決めステージ 9a ゲージ 10 ペースト供給部 11 ペーストディスペンサ 12 ノズル 13 ウェハシート 14 ウェハリング 15 ステージ 16 移送治具 17 モニタ 18 カメラ 19 ニードル 20 エキスパンダ 1 Lead Frame 1a Die Pad 2 Feeder Part 3 Loader Part 4 Collet 5 Pellet 6 Bonding Head Part 7 Pellet Loading Part 8 Unloader Part 9 Positioning Stage 9a Gauge 10 Paste Supply Part 11 Paste Dispenser 12 Nozzle 13 Wafer Sheet 14 Wafer Ring 15 Stage 16 Transfer Jig 17 Monitor 18 Camera 19 Needle 20 Expander

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ダイシングにより個々に分離されたウェ
ハシート上の複数のペレットをピックアップしてリード
フレームの所定位置にマウントするペレットのピックア
ップ方法であって、最外周に位置する前記ペレットから
開始して渦巻き状を形成する順序で中心に位置する前記
ペレットまでピックアップして行くことを特徴とするペ
レットのピックアップ方法。
1. A method of picking up a plurality of pellets individually separated by dicing on a wafer sheet and mounting the pellets on a predetermined position of a lead frame, starting from the pellets located at the outermost periphery. A method of picking up a pellet, characterized in that the pellets located at the center are picked up in the order of forming a spiral shape.
【請求項2】 請求項1記載のペレットのピックアップ
方法であって、中心に位置する前記ペレットに向かうに
したがって前記ウェハシートの張力を大きくしてピック
アップされる前記ペレットにおける張力を均一化するこ
とを特徴とするペレットのピックアップ方法。
2. The method for picking up pellets according to claim 1, wherein the tension of the wafer sheet is increased toward the pellet located at the center so as to equalize the tension in the pellets to be picked up. Characteristic pellet pick-up method.
【請求項3】 請求項2記載のペレットのピックアップ
方法であって、前記ウェハシートの張力は、このウェハ
シートを広げた状態に保持するウェハリングおよび該ウ
ェハリングの内側に位置して前記ウェハシートに張力を
与えるエキスパンダの少なくとも何れか一方を移動させ
て変化させることを特徴とするペレットのピックアップ
方法。
3. The pellet pick-up method according to claim 2, wherein the tension of the wafer sheet holds the wafer ring in an unfolded state, and the wafer sheet is positioned inside the wafer ring. A method for picking up pellets, which comprises moving and changing at least one of expanders that gives tension to the.
【請求項4】 請求項1記載のペレットのピックアップ
方法であって、前記ペレットを前記ウェハシートの下方
から突き上げるニードルに、中心に位置する前記ペレッ
トに向かうにしたがって突き上げ高さを高くする第1の
動作条件、および中心に位置する前記ペレットに向かう
にしたがって突き上げ速度を速くする第2の動作条件の
少なくとも何れか1つの動作条件を適用することを特徴
とするペレットのピックアップ方法。
4. The method for picking up pellets according to claim 1, wherein a needle that pushes up the pellets from below the wafer sheet increases the push-up height toward the pellets located at the center. A pellet pick-up method, characterized in that at least one of operating conditions and a second operating condition of increasing a push-up speed toward the pellet located at the center is applied.
【請求項5】 請求項1、2、3または4記載のペレッ
トのピックアップ方法であって、良品の前記ペレットの
みを選択的にピックアップすることを特徴とするペレッ
トのピックアップ方法。
5. The method for picking up pellets according to claim 1, 2, 3 or 4, wherein only the good pellets are selectively picked up.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012199456A (en) * 2011-03-23 2012-10-18 Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd Die bonder and pick up method of die bonder
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WO2022201278A1 (en) * 2021-03-23 2022-09-29 株式会社新川 Wafer sheet initial peeling generation method and semiconductor die pick-up device

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