JPH09219793A - 画像読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 画像読取装置において、欠陥画素を排除した
適正な白基準データの迅速な取り込みを可能にするこ
と。 【解決手段】 ＣＣＤが白基準板を１ライン分読み取る
と、この読み取られた白基準データはラインバッファ３
１に格納される。ラインバッファ３１から読み出された
白基準データは、検出範囲を４分割した各ブロックの単
位で対応する４つのＭａｘ／Ｍｉｎホールド処理部４２
〜４５でデータサンプリングされる。これを演算処理部
５０が読み込むことにより、各ブロック毎の白基準デー
タの最大値と最小値の各判定を行う。演算処理部５０
は、検出した各ブロック毎の白基準データの最大値と最
小値から、欠陥画素であるか否かの判定処理を行い、さ
らに、欠陥画素が含まれるブロックの特定を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、イメージスキャ
ナ、ファクシミリ装置、複写機などに用いられるシェー
ディング補正装置を備えた画像読取装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の画像読取装置に使用され
るシェーディング装置としては、例えば特開平３−２８
９８７２号公報に記載の発明や、特開平６−１２１１６
２号公報に記載の発明が知られている。前者は、白基準
データとするための白基準板を数ライン読み込み、欠陥
画素の有無にかかわらずライン間で平均化処理を行って
シェーディング補正の白基準データとするものである。
後者は、白基準データとするための白基準板を数ライン
読み込み、欠陥画素の判定を行って、この欠陥画素デー
タを白基準データ内に取り入れないものである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、特開平３−２
８９８７２号公報に記載の発明では、読み込んだ数ライ
ンのデータの中に欠陥画素が含まれていると、平均化に
よる丸め込み処理を用いても補正が不完全になるという
問題がある。また、特開平６−１２１１６２号公報に記
載の発明では、取り入れない欠陥画素を含んだデータが
ある場合には、欠陥画素を含まないラインデータに至る
まで、ラインデータを検証しながら白基準データを取り
込む処理が起こるので、この処理がオーバーヘッドにな
り高速読み取りの支障になるという問題がある。さら
に、１ラインデータについて全て欠陥画素が存在しない
白基準データを探す処理を行うと、その分オーバーヘッ
ドが発生するという問題ある。

【０００４】そこで、本発明の目的は、欠陥画素を排除
した適正な白基準データの迅速な取り込みを可能にした
画像読取装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、ラインセンサにより白基準部材の白基準画像を予め
読み取り、原稿の画像をラインセンサで読み取る際に、
ラインセンサの出力を前記白基準画像の白基準データに
よりシェーディング補正する画像読取装置において、前
記ラインセンサの読み取った白基準画像の白基準データ
の欠陥画素を検出する範囲をＮ個のブロックに分割し、
前期ラインセンサが読み取った白基準画像の白基準デー
タとして記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶した
白基準データに基づき、前記各ブロック毎に白基準デー
タ中の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、この欠
陥画素検出手段が欠陥画素を検出したときに、欠陥画素
の存在する異常ブロックを特定する異常ブロック特定手
段とを備えたことにより、前記目的を達成する。

【０００６】請求項２記載の発明では、請求項１記載の
発明において、前記異常ブロック特定手段が異常ブロッ
クを特定したときには、前記ラインセンサが前記白基準
部材の他の読み取り位置を新たに読み取り、この読み取
った白基準データのうち異常ブロック分の白基準データ
だけを取り込み、この取り込んだ白基準データを、欠陥
画素を含む白基準データと入れ換える。請求項３記載の
発明では、請求項２記載の発明において、前記欠陥画素
検出手段が検出する欠陥画素の位置情報を記憶する位置
情報記憶手段を備え、次回に前記ラインセンサが前記白
基準部材を読み取る際には、前記位置情報記憶手段に記
憶される位置情報に基づき、欠陥画素を含むブロック分
の白基準データについては前記欠陥画素検出手段による
欠陥画素の検出を省略する。

【０００７】請求項４記載の発明では、請求項１記載の
発明において、前記欠陥画素検出手段が欠陥画素を検出
したときに、この欠陥画素の主走査方向の大きさを検出
するサイズ検出手段と、このサイズ検出手段が検出した
欠陥画素の主走査方向の大きさに基づいて、この欠陥画
素に影響されずに前記ラインセンサが読み取る白基準デ
ータを取り込める副走査方向の範囲を予測する予測手段
とを備え、前記欠陥画素検出手段が所定の欠陥画素を検
出したときには、前記ラインセンサは前記白基準部材の
読み取りを継続し、そのラインセンサの読み取る白基準
データの取り込みは、欠陥画素の読み取り位置を基準に
前記予測手段で予測した範囲では禁止し、その禁止後に
白基準データを取り込む。

【０００８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の画像読取装置にお
ける好適な実施の形態について、図１ないし図１１を参
照して詳細に説明する。図１は、本発明の実施の形態で
ある画像読取装置の概略側面図である。図２は、同画像
読取装置の主要な構成要素を示すブロック図である。図
３は、同画像読取装置のブックモード時の画像読み取り
の主要部を示す概略側面図である。図４は、同画像読取
装置のＡＤＦモード時の画像読み取りの主要部を示す概
略側面図である。図５は、同画像読取装置の画像処理部
の詳細を示すブロック図である。

【０００９】この画像読取装置は、装置本体１の右側上
部に自動給紙装置（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｄｏｃｕｍｅ
ｎｔ Ｆｅｅｄｅｒ）２が設けられ、装置本体１の上面
には原稿読み取り台３が設けられており、これによりイ
メージスキャナを構成している。装置本体１の内部に
は、光源４ａとミラー４ｂとを備えた第１の走行体４
と、ミラー５ａ、５ｂを備えた第２の走行体５と、レン
ズ６と、１次元の光電変換素子（ここでは、ＣＣＤを使
用するので、以下、ＣＣＤという）７と、第１の走行体
４および第２の走行体５を駆動するステッピングモータ
８とからなる露光走査光学系９が設けられている。な
お、この露光走査光学系９の下段の構成については、こ
こではその説明は省略する。自動給紙装置２には、ＡＤ
Ｆユニット１０と、原稿台１１とが設けられている。Ａ
ＤＦユニット１０内には、ステッピングモータ１２が備
えられている。更に、原稿読み取り台３の上部には、原
稿押さえ板１４が回動自在に取り付けられており、原稿
１３はその原稿押さえ板１４の下にセットされる。原稿
読み取り台３の端部には、シェーディング補正用の白基
準板１５が配置されている。

【００１０】このような画像読取装置では、露光走査光
学系９により読み取られた画像データの処理は、図２に
示すブロック図によって行われる。また、画像読取装置
の原稿読み取りモードとしては、図３に示すような原稿
読み取り台３を使用して画像データの読み取りを行うブ
ックモードと、図４に示すような自動給紙装置２を使用
して画像データの読み取りを行うＡＤＦモードとがあ
る。

【００１１】そこで、まず、図３に示すようなブックモ
ードにおける画像データの読み取りの基本動作について
述べる。この場合には、原稿１３を原稿押さえ板１４
（図１参照）の下の原稿読み取り台３上にセットした
後、動作が開始すると、図２に示すＣＰＵ（中央処理装
置）１６は、光源ドライバ１７を動作させて光源４ａを
点灯する。次に、ＣＣＤ駆動部１８により駆動されるＣ
ＣＤ７によって白基準板１５を読み取り、画像処理部１
９内のＡ／Ｄコンバータ（図示せず）でアナログディジ
タル変換を行ない、画像データのシェーディング補正用
の基準データとして画像処理部１９内の図示しないＲＡ
Ｍ（ランダム・アクセス・メモリ）に記憶する。さらに
ＣＰＵ１６は、モータドライバ２０を駆動してステッピ
ングモータ８を動作させ、これにより走行体４は原稿１
３のある下面位置へ移動する。この走行体４が原稿面を
一定速度で走査することにより、その原稿１３の画像デ
ータがＣＣＤ７により光電変換される。

【００１２】図５は、図２に示す画像処理部１９の最も
基本的な内部構成を示すものであり、ＣＣＤ７で光電変
換されたアナログビデオ信号ａは、アナログビデオ処理
部２１でディジタル変換の処理が行われた後、シェーデ
ィング補正処理部２２、画像データ処理部２３により、
それぞれシェーディング補正、各種の画像データ処理が
行われ、２値化処理部２４により、所望の２値化処理さ
れた２値化データｂが作成される。この２値化データｂ
は、図２に示すスキャンバッファ２５内に順次記憶され
ていく。Ｉ／Ｆコントローラ２６は、スキャンバッファ
２５内のデータを外部のホストコンピュータ（図示せ
ず）等の装置に出力する制御を行う。バッファコントロ
ーラ２７は、スキャンバッファ２５への画像データの入
出力管理を行なう。

【００１３】次に、図４に示すように、自動給紙装置２
を用いて画像の読み取りを行うＡＤＦモードの基本動作
について述べる。この場合にも、まず、白基準板１５が
読み込まれた後、ＣＰＵ１６がモータドライバ２８を駆
動してステピッングモータを動作させ、原稿台１１にセ
ットされた原稿１３を分離ローラ２９、搬送ローラ３０
で搬送して行き、走行体４の所定の読み取り位置まで搬
送する。この時、原稿１３は一定速度で搬送されて行
き、走行体４は停止したままで原稿面の画像データをＣ
ＣＤ７で読み取る。以下、ブックモードと同様の処理を
行ない、２値化された画像データはスキャンバッファ２
５に順次記憶され、Ｉ／Ｆコントローラ２６を介してホ
ストコンピュータ（図示せず）等に送られる。

【００１４】本発明の実施の形態にかかる画像読取装置
の構成と動作の概要は以上の通りであり、以下に、さら
に詳細な構成と動作について説明する。図６は、図１か
ら図５に示す画像読取装置のシェーディング補正に関す
る部分を細分化、かつ抜粋したものであり、図中、図１
から図５に示すものと同一の部分には、同一の符号を付
すものとする。図６について説明をすると、光源４ａに
よりコンタクトガラス上にある原稿１３を照明し、その
反射光をシェーディング調整板３２を通してレンズ６に
よって集光し、ラインセンサであるＣＣＤ７に結像する
構成となっている。なお、図６では、説明の簡単化のた
めに反射光を折り返すためのミラーは省略している。シ
ェーディング調整板３２は、ラインセンサであるＣＣＤ
７の中央部と端部での反射光量の差を無くすための光量
調整の役割を果たすものである。これは、シェーディン
グ演算処理において、ＣＣＤ７の中央部と端部で反射光
量の差があり過ぎると、多分に歪を含んだ演算結果しか
得られないため、予め、反射光量の差をなくした後に、
シェーディング演算処理を行なうためのものである。

【００１５】このシェーディング調整板３２の働きにつ
いて、図７（ａ）、（ｂ）を参照して説明する。図７
（ａ）は、シェーディング調整板３２が無い場合の白基
準板１５のビデオデータを読み込んだ際の再現レベル分
布であり、この場合には、中央部がレベルが高く、両端
部でレベルが落ちる。図７（ｂ）は、シェーディング調
整板３２を用いた場合の同再現レベル分布であり、平均
したレベルになっていることが判る。ＣＣＤ７で光電変
換した後、アナログビデオデータとしてプリアンプ回路
３３と可変増幅回路３４により所定にレベルとなるよう
に増幅した後（レベル調整）、Ａ／Ｄコンバータ３５に
よりアナログ・ディジタル変換を行なう。ディジタル化
したビデオデータは、黒側のオフセット分となる部分を
黒演算回路３６にて取り除き、シェーディング補正演算
回路３７に送る。

【００１６】ここで、プリアンプ回路３３と可変増幅回
路３４とは、図５中のアナログビデオ処理部２１に相当
し、Ａ／Ｄコンバータ３５、黒演算回路３６、およびシ
ェーディング補正演算回路３７は、図５中のシェーディ
ング補正処理部２２に相当する。なお、上述の黒側のオ
フセット分には、ラインセンサであるＣＣＤ７の出力が
２チャンネルである場合、そのチャンネル間の差分を含
んでおり、黒演算回路３６による演算処理は、そのチャ
ンネル間の誤差成分を除くのが大きな目的である。

【００１７】シェーディング補正演算のためには、白基
準板１５を読み取った白基準データをラインバッファ３
１に記憶し、実際の原稿読み取りの際には、この白基準
データと原稿読み取りデータ間でシェーディング演算処
理を行ない、画像データとして次段の処理部に出力する
ものである。本実施の形態での白基準板１５を読み取っ
た白基準データのラインバッファ３１への格納方法とし
ては、複数ラインのデータを読み取り、その平均化処理
を行いながら格納処理をする方法と、１ライン分のデー
タを格納する方法があるが、何れの方法でも良い。

【００１８】図８は、白基準板１５の読み取り位置で読
み取った白基準データの一例を示し、その詳細について
は後述する。図９は、図６に示したシェーディング補正
演算回路部３７とラインバッファ３１の構成部分からな
る検知処理部を模式的に示す図である。

【００１９】この検知処理部は、図９に示すように、白
基準データのラインバッファ３１の格納処理とともに、
白基準データ平均化処理部４１で平均化処理を行うよう
に構成されているが、白基準データ平均化処理部４１は
省略しても良い。ここでは、白基準データとして格納し
たデータをラインバッファ３１から取り込み、次段の演
算処理部５０に白基準データを転送する際に、図８に示
すようにＣＣＤ７の主走査方向の検出範囲を４つに分割
した各ブロックの範囲において、白基準データ中の最大
値（Ｍaximum）と最小値（Ｍinimum）をホールド処理す
る４個のＭａｘ／Ｍｉｎホールド処理部４２〜４５を備
えている。すなわち、Ｍａｘ／Ｍｉｎホールド処理部４
２は、図８のブロック１における白基準データ中の最大
値と最小値のホールド処理を行い、以下同様に、Ｍａｘ
／Ｍｉｎホールド処理部４３がブロック２、Ｍａｘ／Ｍ
ｉｎホールド処理部４４がブロック３、Ｍａｘ／Ｍｉｎ
ホールド処理部４５がブロック４のホールド処理を行う
ように構成される。また、Ｍａｘ／Ｍｉｎホールド処理
部４２〜４５に対応し、Ｍａｘ／Ｍｉｎ・Ｘ／Ｙアドレ
スホールド処理部４６〜４９を備えている。なお、図８
では、ＣＣＤ７の主走査方向の検出範囲を４つのブロッ
クに分割した場合について説明したが、この分割の個数
は２個以上であればその分割個数は特に限定されない。
従って、Ｍａｘ／Ｍｉｎホールド処理部等の個数は、そ
の分割個数に応じたものになる。

【００２０】次に、このような構成からなる本発明の実
施の形態の動作について、図８および図９を参照して説
明する。いま、ＣＣＤ７が白基準板１５を１ライン分読
み取られると、この読み取られた白基準データは、画像
処理部１９のプリアンプ回路３３、可変増幅回路３４、
Ａ／Ｄコンバータ３５、黒演算回路３６でそれぞれ処理
される。この処理済みの白基準データは、ラインバッフ
ァ３１に一旦格納される。ＣＣＤ７の読み取った白基準
データは、図８に示すような波形であり、例えばブロッ
ク２では「Ａ」が最小値であり、ブロック３では「Ｂ」
が最大値であり、ブロック４では「Ｃ」が最小値である
とする。そして、ラインバッファ３１から読み出された
白基準データは、図８に示すように、検出範囲を４分割
した各ブロックの単位で対応する４つのＭａｘ／Ｍｉｎ
ホールド処理部４２〜４５でデータサンプリングされ
る。このサンプリングされたデータを演算処理部（ＣＰ
Ｕ）５０が読み込むことにより、各ブロック毎の白基準
データの最大値と最小値の各判定を行う。

【００２１】また、これと同時に、Ｍａｘ／Ｍｉｎ・Ｘ
／Ｙアドレスホールド処理部４６〜４９は、Ｍａｘ／Ｍ
ｉｎホールド処理部４２〜４５が各ブロック毎の白基準
データの最大値と最小値をホールドした際のＸ方向およ
びＹ方向のアドレス情報をサンプリングする。このアド
レスデータは、Ｍａｘ／Ｍｉｎ・Ｘ／Ｙアドレスホール
ド処理部４６〜４９でホールド処理し、白基準データの
最大値と最小値と同様に、演算処理部５０がそのアドレ
スデータを読み込むことにより、データホールドした最
大値と最小値の各アドレスを読むことができる。演算処
理部５０は、検出した各ブロック毎の白基準データの最
大値と最小値から、欠陥画素であるか否かの判定処理を
行う。この判定処理は、予め白基準データとして取り込
むべき有効範囲（理想の範囲）を決めておき、検出した
最大値と最小値とがその有効範囲に入るか否かによっ
て、欠陥画素であるか否かの判定を行う。

【００２２】ここで、図８の例では、上記の有効範囲を
特に示さないが、例えばブロック２で検出した最小値
「Ａ」は有効範囲外であって欠陥画素と判定し、ブロッ
ク３で検出した最大値「Ｂ」は有効範囲外であって欠陥
画素と判定するが、ブロック４で検出した最小値「Ｃ」
は有効範囲内であって欠陥画素ではないと判定する。そ
して、分割されたブロックのうち、ブロック１とブロッ
ク４とを欠陥画素がない正常なブロックと特定し、ブロ
ック２とブロック３とは欠陥画素がある異常なブロック
と特定する。従って、ＣＣＤ７の読み取った白基準デー
タの異常画素の検出範囲を４分割というようにＮ分割し
た場合に、そのＮ分割したブロックの単位で欠陥画素の
有無を判定できる。

【００２３】次に、本発明の実施の形態の変形例につい
て、以下に説明する。第１の変形例は、上述のように、
欠陥画素を含むブロックが特定されたときに、その特定
された欠陥画素のブロックの白基準データを、入れ換え
るようにしたものである。ここでは、上記と同様に、ブ
ロック２とブロック３とに欠陥画素があると判定されて
いるものとして説明する。この第１の変形例では、ブロ
ック２とブロック３とに欠陥画素があるので、次にＣＣ
Ｄ７による白基準データの読み取り位置を副走査方向に
移動することにより、欠陥画素が存在しない白基準デー
タを読み込む。そして、前回に欠陥画素が存在したブロ
ック２とブロック３の範囲のみ白基準データを新たに取
り込み、前回に欠陥画素が存在しなかったブロック１と
ブロック４の範囲の白基準データは新たに取り込まず
に、最初の画像データをホールドする。

【００２４】以上説明した第１の変形例によれば、欠陥
画素を含んでいると判定したブロックのみについて欠陥
画素の無い白基準データの入れ換えにより、必要な１ラ
イン分の白基準データを確保できる。従って、１ライン
分の白基準データを確保するために、１ラインの全体に
画素の欠陥が無いラインを検出する必要がなくなるの
で、データ処理上のオーバーヘッドを防止できる。

【００２５】第２の変形例は、第１の変形例に、欠陥画
素を含むブロックが特定されたときに、白基準板１５の
欠陥画素の位置情報を記憶する記憶手段（メモリ）を備
え、欠陥画素を含むブロックの位置では、白基準データ
の取り込みおよび欠陥画素の判定処理を禁止するように
したものである。ここで、上述の記憶手段としては、バ
ッテリーバックアップ付きのメモリ構成、またはフラッ
シュ型のＲＯＭ等が好適である。この第２の変形例で
は、上述のように各ブロックにおける欠陥画素の検出を
行い、その検出した欠陥画素のアドレスデータ求め、こ
の求めたアドレスデータをメモリに記憶させておく。そ
して、次回にＣＣＤ７により白基準データを読み込むと
きには、そのメモリに記憶させた欠陥画素のアドレスデ
ータに基づき、欠陥画素を含んだブロック分の白基準デ
ータの検出処理を省略し、メモリに記憶させアドレスデ
ータに応じて、欠陥画素を含まない白基準データが取り
込める位置に読み取り位置を移動させ、この移動後に読
み込んだ白基準データにより、欠陥画素の検出処理を行
う。

【００２６】以上説明した第２の変形例によれば、欠陥
画素を含むラインの位置を記憶できるので、以後の白基
準データの取り込みの際に、欠陥画素を含んだ読み取り
位置を除いて白基準データの取り込みができ、もって、
欠陥画素を検出する作業分にけるオーバーヘッドを減少
させることができる。

【００２７】第３の変形例は、上述のように、白基準デ
ータとして取り込んだ画素データ中の欠陥画素の検出処
理に得られたアドレス情報に基づき、欠陥画素位置のア
ドレス付近の画像データを、演算処理部５０がラインバ
ッファ３１から取り込み、その画像濃度レベルを検証
し、白基準データ中に異常なデータが含まれて欠陥画素
がある場合には、その欠陥画素の影響を受けない位置の
白基準画像を読み取って新たな白基準データを得るもの
である。

【００２８】図１０は、白基準データのＭａｘホールド
を検出したアドレス近傍の画像データのレベルを示す。
この例ではＭａｘホールド値について示しているが、Ｍ
ｉｎホールド値の場合にも同様である。図１０に示すよ
うに、Ｍａｘホールド値の近傍の画素を検証すると、白
基準板１５の白画像の読み取り時に悪影響を及ぼす白基
準データのアドレス範囲が検出できる。この悪影響と考
えられる画素濃度レベルは、白基準データとして規定す
る濃度レベルとどれだけ差があるかで規定し、その規定
以上の差があるときに、欠陥画素の範囲に含める。この
ようにして求めた欠陥画素の範囲ａを図１１に示し、こ
の欠陥画素の範囲ａは、白基準データとして読み込んだ
白基準板１５にこの大きさのごみ等があって、白基準デ
ータに影響を及ぼしていると考えられる。従って、白基
準データに影響を及ぼすごみなどの主走査方向の大きさ
は、その欠陥画素の範囲ａであると予測される。

【００２９】ここで、このごみの形状を縦横比が一定と
仮定し、ごみの副走査方向の大きさを主走査方向の大き
さに基づいて求めると、主走査方向の大きさに等しいも
のと考えられる。従って、ごみに影響されずにラインセ
ンサ７が白基準画像を読み取ってその白基準データを取
り込める副走査方向の次の読み取り位置を予測すると、
欠陥画素の読み取り位置を基準に副走査方向に上述で求
めた主走査方向の大きさ分だけ移動した位置となる。す
なわち、図１１に示すように、白基準板１５をＡライン
で読み取った白基準画像に斜線部で示すような欠陥画素
（ごみ）が含まれていたときには、この欠陥画素の主走
査方向の大きさを上述のように求め、この求めた主走査
方向の大きさ分だけ副走査方向にＢラインまで読み取り
位置を移動させ、移動後のＢラインでＣＣＤ７が白基準
画像を読み取って、その読み取った白基準データをライ
ンバッファ３１に取り込むようにする。

【００３０】以上説明した第３の変形例によれば、白基
準データ中に異常なデータが含まれて欠陥画素がある場
合には、その欠陥画素の影響を受けない位置の白基準画
像を読み取って新たな白基準データを得るようにしたの
で、その欠陥画素が排除された正常な白基準データを短
時間で得ることができ、もって白基準データを取り込む
際に発生するオーバーヘッド分をなくすることができ
る。なお、この第３の変形例では、欠陥画素の範囲の検
出は各分割ブロックにおける欠陥画素の周辺で行い、そ
の検出の結果、最大の欠陥画素の大きさに応じて副走査
方向の移動量を指定し、そこで再度白基準データを取り
込むものとする。

【００３１】

【発明の効果】請求項１記載の発明では、ラインセンサ
の読み取った画像データの欠陥画素の検出範囲をＮ個の
ブロックに分割するとともに、各ブロック毎に白基準デ
ータ中の欠陥画素を検出し、欠陥画素を検出したときに
欠陥画素の存在する異常ブロックを特定するようにした
ので、ブロック単位で欠陥画素を含む白基準データが取
り扱えるようになり、もって、欠陥画素を排除した適正
な白基準データを迅速に得ることが可能となる。

【００３２】請求項２記載の発明では、欠陥画素を含む
異常ブロックを特定したときには、ラインセンサが白基
準部材の他の読み取り位置を新たに読み取り、この読み
取った白基準データのうち異常ブロック分の白基準デー
タだけを取り込み、この取り込んだ白基準データを、欠
陥画素を含む白基準データと入れ換えるようにした。従
って、１ライン分の白基準データを確保するために、１
ラインの全体に画素の欠陥が無いラインを検出する必要
がなくなるので、データ処理上のオーバーヘッドを防止
できる。請求項３記載の発明では、欠陥画素の位置情報
を記憶する位置情報記憶手段を備え、次回にラインセン
サが白基準部材を読み取る際には、位置情報記憶手段に
記憶される位置情報に基づき、欠陥画素を含むブロック
分の白基準データについては欠陥画素の検出を省略する
ようにしたので、欠陥画素を検出する作業分のオーバー
ヘッドを軽減できる。

【００３３】請求項４記載の発明では、白基準データ中
に異常なデータが含まれて欠陥画素がある場合には、そ
の欠陥画素の影響を受けない位置の白基準画像を読み取
って新たな白基準データを得るようにしたので、その欠
陥画素が排除された正常な白基準データを短時間で得る
ことができ、もって白基準データを取り込む際に発生す
るオーバーヘッド分をなくすことができる。。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態である画像読取装置の概略
側面図である。

【図２】同画像読取装置の主要な構成要素を示すブロッ
ク図である。

【図３】同画像読取装置のブックモード時の画像読み取
りの主要部を示す概略側面図である。

【図４】同画像読取装置のＡＤＦモード時の画像読み取
りの主要部を示す概略側面図である。

【図５】同画像読取装置の画像処理部の詳細を示すブロ
ック図である。

【図６】同画像読取装置におけるシェーディング補正の
動作を説明するためのブロック図である。

【図７】同画像読取装置のシェーディング補正動作時に
おけるシェーディング調整板の働きを説明するための信
号レベルの状態を示す波形図である。

【図８】同画像読取装置のシェーディング補正動作時に
おける白基準データの一例を示す波形図である。

【図９】同画像読取装置のシェーディング補正動作時に
おける白基準データを検出処理する手段を説明するため
のブロック図である。

【図１０】同画像読取装置が検出したの欠陥画素の濃度
レベルの検証をするために波形図である。

【図１１】同画像読取装置の白基準板の画像の読取にお
いて、欠陥画素が検出されて再読み取りが必要な場合の
説明図である。

【符号の説明】

１ 本体装置 ２ 自動給紙装置 ３ 原稿読取台 ４ 第１の走行体 ５ 第２の走行体 ６ レンズ ７ ＣＣＤ（ラインセンサ） ８ ステッピングモータ ９ 露光走査光学系 １０ ＡＤＦユニット １１ 原稿台 １２ ステッピングモータ １３ 原稿 １４ 原稿押さえ板 １５ 白基準板 １６ ＣＰＵ １７ 光源ドライバ １８ ＣＣＤ駆動部 １９ 画像処理部 ２０ モータドライバ ２１ アナログビデオ処理部 ２２ シェーディング補正処理部 ２３ 画像データ処理部 ２４ ２値化処理部 ２５ スキャンバッファ ２６ Ｉ／Ｆコントローラ ２７ バッファコントローラ ２８ モータドライバ ３１ ラインバッファ ３２ シェーディング調整板 ３３ プリアンプ部 ３４ 可変増幅回路 ３５ Ａ／Ｄコンバータ ３６ 黒演算回路 ３７ シェーディング補正演算回路 ４１ 白基準データ平均化処理部 ４２〜４５ Ｍａｘ／Ｍｉｎホールド処理部 ４６〜４９ Ｍａｘ／Ｍｉｎ・Ｘ／Ｙアドレスホールド
処理部 ５０ 演算処理部

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ラインセンサにより白基準部材の白基準
   画像を予め読み取り、原稿の画像をラインセンサで読み
   取る際に、ラインセンサの出力を前記白基準画像の白基
   準データによりシェーディング補正する画像読取装置に
   おいて、 前記ラインセンサの読み取った白基準画像の白基準デー
   タの欠陥画素を検出する範囲をＮ個のブロックに分割
   し、 前期ラインセンサが読み取った白基準画像の白基準デー
   タとして記憶する記憶手段と、 この記憶手段に記憶した白基準データに基づき、前記各
   ブロック毎に白基準データ中の欠陥画素を検出する欠陥
   画素検出手段と、 この欠陥画素検出手段が欠陥画素を検出したときに、欠
   陥画素の存在する異常ブロックを特定する異常ブロック
   特定手段、とを備えたことを特徴とする画像読取装置。
2. 【請求項２】 前記異常ブロック特定手段が異常ブロッ
   クを特定したときには、前記ラインセンサが前記白基準
   部材の他の読み取り位置を新たに読み取り、この読み取
   った白基準データのうち異常ブロック分の白基準データ
   だけを取り込み、この取り込んだ白基準データを、欠陥
   画素を含む白基準データと入れ換えることを特徴とする
   請求項１記載の画像読取装置。
3. 【請求項３】 前記欠陥画素検出手段が検出する欠陥画
   素の位置情報を記憶する位置情報記憶手段を備え、 次回に前記ラインセンサが前記白基準部材を読み取る際
   には、前記位置情報記憶手段に記憶される位置情報に基
   づき、欠陥画素を含むブロック分の白基準データについ
   ては前記欠陥画素検出手段による欠陥画素の検出を省略
   することを特徴とする請求項２記載の画像読取装置。
4. 【請求項４】 前記欠陥画素検出手段が欠陥画素を検出
   したときに、この欠陥画素の主走査方向の大きさを検出
   するサイズ検出手段と、 このサイズ検出手段が検出した欠陥画素の主走査方向の
   大きさに基づいて、この欠陥画素に影響されずに前記ラ
   インセンサが読み取る白基準データを取り込める副走査
   方向の範囲を予測する予測手段とを備え、 前記欠陥画素検出手段が所定の欠陥画素を検出したとき
   には、前記ラインセンサは前記白基準部材の読み取りを
   継続し、そのラインセンサの読み取る白基準データの取
   り込みは、欠陥画素の読み取り位置を基準に前記予測手
   段で予測した範囲では禁止し、その禁止後に白基準デー
   タを取り込むことを特徴とする請求項１記載の画像読取
   装置。