JPH09211139A - 放射線検出器 - Google Patents

放射線検出器

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JPH09211139A
JPH09211139A JP8250603A JP25060396A JPH09211139A JP H09211139 A JPH09211139 A JP H09211139A JP 8250603 A JP8250603 A JP 8250603A JP 25060396 A JP25060396 A JP 25060396A JP H09211139 A JPH09211139 A JP H09211139A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 X線に対する感度が高く、X線吸収係数の大
きな物体や大型の機械構造物に対して解像度の高い断層
像を得ることが可能な主にX線CT用の放射線検出器を
提供する。 【解決手段】 放射線により発光可能なシンチレータ
と、前記シンチレータの光を電気信号に変換する光検出
器とを組み合わせてなる放射線検出器において、前記シ
ンチレータとしてセラミックスシンチレータと単結晶シ
ンチレータとを組み合わせて使用することを特徴とする
放射線検出器。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はX線を検出する放射
線検出器に関するものであり、特にX線CT装置に用い
られる放射線検出器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】X線検査装置の一つにコンピュータ断層
撮影装置(Computed Tomography:以下CT装置と称
する)がある。このCT装置は扇状のファンビームX線
を照射するX線管と多数の放射線検出素子を併設した放
射線検出器を測定対象の断層面を中央に対向配置して構
成され、放射線検出器に向けてX線管からファンビーム
X線を照射し、1回照射を行うごとに測定対象の角度を
変えてゆくことによってX線吸収データを収集した後、
このデ−タをコンピュータで解析することによって断層
面の個々の位置のX線吸収率を算出し、その吸収率に応
じた画像を構成するものである。従来からこのCT装置
にはCdWO4単結晶シンチレータとシリコンフォトダイオ
ードを組み合わせた検出器、またはBi6Ge4O12単結晶シ
ンチレータと光電子増倍管を組み合わせた検出器が用い
られてきた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、CdWO4単結
晶シンチレータは、X線に対する発光効率が小さいた
め、X線吸収係数の大きな物体や大型の機械構造物など
の断層像を測定する場合、S/N比が小さくなってしま
い、解像度の高い断層像を得ることが困難であった。と
ころで、単結晶シンチレータには、CdWO4以外にNaIやCs
IなどX線に対する感度が大きいシンチレータもある
が、潮解性があり、また残光も大きく、CT装置には、
適用が困難であった。また、X線に対する発光効率が大
きく、残光は小さく、さらに潮解性も全くないシンチレ
ータとして、Gd2O2S:Prなどのセラミックスシンチレー
タがある。しかし、セラミックスシンチレータは、可視
光に対する光透過率が単結晶シンチレータより小さい。
このため、エネルギーの大きなX線を用いる場合、X線
の利用効率を高めるため、シンチレータの厚さを大きく
すると、発光効率は大きいが、光透過率が小さいため実
際に光検出器に到達する光が小さくなり、出力としては
小さくなってしまい、CdWO4単結晶シンチレータを用い
た場合と同様な問題が残った。
【0004】一方、Bi6Ge4O12単結晶シンチレータと光
電子増倍管を組み合わせた検出器では、Bi6Ge4O12単結
晶シンチレータのX線に対する発光効率は小さいが、光
電子増倍管の光に対する感度が非常に大きいため、検出
器感度は高くすることができる。しかし、光電子増倍管
の小型化が困難なため、検出素子が大きくなり、断層像
の解像度を高くすることは困難であった。したがって、
本発明の課題は、X線に対する感度が高く、X線吸収係
数の大きな物体や大型の機械構造物に対して解像度の高
い断層像を得ることが可能な主にX線CT用の放射線検
出器を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、発光効率の高
いセラミックスシンチレータと可視域における光透過率
が大きい単結晶シンチレータとを組み合わせた構造とす
ることにより、X線に対する発光効率が高く、X線の利
用効率も高い放射線検出器が得られることを見い出した
ものである。すなわち、本発明は、X線により発光可能
なシンチレータと、前記シンチレータの光を電気信号に
変換する光検出器とを組み合わせてなる放射線検出器に
おいて、前記シンチレータとしてセラミックスシンチレ
ータと単結晶シンチレータとを組み合わせて使用するこ
とを特徴とする放射線検出器である。本発明のセラミッ
クスシンチレータとしては、多結晶体(例えばセラミッ
クス粉末を焼結したもの等。)であって、例えばGd2O
2S:Pr,Gd2O2S:Eu,Gd2O2S:Tb、(Y,Gd)2O3:Eu,Gd3Ga5O
12:Cr のうちの1種または2種以上を用いることが本発
明の構成上好ましい。また、前記単結晶シンチレータと
してCdWO4,Bi6Ge4O12のうちの1種または2種を用いる
と良い。本発明では、前記のセラミックスシンチレータ
と光検出器との間に前記単結晶シンチレータを配置した
のでX線に対する感度が高く、かつ解像度の高い撮影が
可能である。また、前記光検出器上に前記のセラミック
スシンチレータと単結晶シンチレータとを隣接して配置
したので上記と同様にX線に対する感度が高く、かつ解
像度の高い撮影が可能である。
【0006】本発明では、上記のセラミックスシンチレ
ータを用いると、X線に対する発光効率が高いため、放
射線検出器の感度を高めることが可能である。また、上
記の単結晶シンチレータを用いるとセラミックスシンチ
レータから発光した光を光検出器に効率よく導くウェー
ブガイドとして働くと共にこれら単結晶シンチレータ自
体も発光するため、X線利用効率を高めることが可能で
ある。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の放射線検出器を詳
説する。本発明のセラミックスシンチレータと単結晶シ
ンチレータとの組合せは、基本的に2種類ある。X線は
シンチレータ中でLambertの法則に従い 指数関数的に減
少する。このとき、シンチレータは、各位置のX線強度
に比例して発光する。シンチレータの発光出力は、その
積分値となる。
【0008】図1は本発明の放射線検出器の一態様を示
す一部破砕された外観図であり、本発明のセラミックス
シンチレータと単結晶シンチレータとの組合せのひとつ
を示している。図1において、基板7上に図示されない
単結晶シンチレータ2とシリコンフォトタ゛イオート゛3とが埋設され
て、その単結晶シンチレータ2の直上にセラミックスシ
ンチレータ1が隣接配置されている。セラミックスシン
チレータ1,1間には光反射板としてのMo板5が並設
配置されて本発明の放射線検出器11を構成している。
この放射線検出器11の奥側および手前側側面11a,
11aにもMo板5が配置され、左側および右側側面1
1b,11bには端部TiO2反射材6が配置されてい
る。また、この放射線検出器11の上面部には光反射材
4が塗布されている。
【0009】上記図1において、セラミックスシンチレ
ータ1の長辺に平行な方向をx、セラミックスシンチレ
ータ1の短辺に平行な方向をy、xおよびy方向に垂直
な方向すなわち放射線検出器11の厚み方向をzとす
る。なお、セラミックスシンチレータ1と単結晶シンチ
レータ2は長方形板状に形成されている。この座標系
で、上記図1の図示される位置でのy方向−y方向断面
図を図2に示す。図2では、X線強度の大きいX線入射
側に発光効率の大きいセラミックスシンチレータ1を配
置し、シリコンフォトタ゛イオート゛3側に単結晶シンチレータ2を配
置する構造とした。単結晶シンチレータ2は、セラミッ
クスシンチレータ1の光ガイドとして機能するととも
に、セラミックスシンチレータ1を透過したX線を吸収
し発光するシンチレータとしても機能する。この構造に
より、X線の利用効率が高く感度の大きい放射線検出器
が実現される。
【0010】本発明のセラミックスシンチレータと単結
晶シンチレータとの組合せのふたつめの態様を図3の要
部断面図に示す。図3と上記図2との異なる点は、セラ
ミックスシンチレータと単結晶シンチレータの組み合わ
せ構成のみである。図3では、セラミックスシンチレー
タ10と単結晶シンチレータ20とをシリコンフォトタ゛イオート゛3
上に隣接して配置する構造とし、セラミックスシンチレ
ータ10の発光した光は、隣接した単結晶シンチレータ
20を透過し、シリコンフォトタ゛イオート゛3に導かれる。また、セ
ラミックスシンチレータ10から直接シリコンフォトダ
イオード3にも光が入射する。さらに、単結晶シンチレ
ータ20の発光した光も、当然シリコンフォトタ゛イオート゛3に入射
する。この構造によっても、上記図2の構造と同様、X
線の利用効率が高く感度の大きい放射線検出器が実現可
能となる。また、上記図2と同様に、セラミックスシン
チレータ10と単結晶シンチレータ20は長方形板状に
形成されている。ここで、この図3におけるセラミック
スシンチレータ10と単結晶シンチレータ20とのy方
向寸法の比率は、要求される放射線検出器の分解能によ
り適宜決定できる。本発明では、セラミックスシンチレ
ータ10のy方向寸法(l)に対する単結晶シンチレー
タ20のy方向寸法(m)の比率(m/l)=0.1〜
2.0とするのが好ましい。これは、(m/l)を0.
1未満とすると単結晶シンチレータ20の光導波による
効果が小さくなり、また、2.0を越えるとセラミック
スシンチレータ10のX線受光面積が小さくなって出力
が低下してしまうためである。
【0011】次に、本発明の放射線検出器を実施例によ
りさらに説明する。 (実施例1)セラミックスシンチレータ1としてサイズ
がy方向1.6mm×x方向30mm×厚さ1.2mmの長方形板状の
多結晶Gd2O2S:Prセラミックスシンチレータと、サイズ
がy方向1.6mm×x方向30mm×厚さ1.8mmの長方形板状の
CdWO4単結晶シンチレータ2とを上記図2の構造の様に
光学用エポキシ系接着剤で接着後、シリコンフォトタ゛イオート゛3に
接着した。このシンチレータの上面には、TiO2粉末を光
反射材4として塗布し、側面には光反射板としてMo板5
を接着した。X線管電圧400kV、管電流4mAの連続X線を
照射したときの、この実施例1の放射線検出器の特性を
表1に示す。
【0012】
【表1】
【0013】(実施例2)セラミックスシンチレータ1
としてサイズがy方向1.6mm×x方向30mm×厚さ1.2mmの
長方形板状の多結晶Gd2O2S:Euセラミックスシンチレー
タと、サイズがy方向1.6mm×x方向30mm×厚さ1.8mmの
長方形板状のCdWO4単結晶シンチレータ2とを上記図2
の構造の様に光学用エポキシ系接着剤で接着後、シリコンフォ
トタ゛イオート゛3に接着した。このシンチレータの上面には、
TiO2粉末を光反射材4として塗布し、側面には光反射板
としてMo板5を接着した。X線管電圧400kV、管電流4mA
の連続X線を照射したときの、この実施例2の放射線検
出器の特性を表1に示す。
【0014】(実施例3)セラミックスシンチレータ1
としてサイズがy方向1.6mm×x方向30mm×厚さ1.2mmの
長方形板状の多結晶Gd2O2S:Tbセラミックスシンチレー
タと、サイズがy方向1.6mm×x方向30mm×厚さ1.8mmの
長方形板状のCdWO4単結晶シンチレータ2とを上記図2
の構造の様に光学用エポキシ系接着剤で接着後、シリコンフォ
トタ゛イオート゛3に接着した。このシンチレータの上面には、
TiO2粉末を光反射材4として塗布し、側面には光反射板
としてMo板5を接着した。X線管電圧400kV、管電流4mA
の連続X線を照射したときの、この実施例3の放射線検
出器の特性を表1に示す。
【0015】(実施例4)セラミックスシンチレータ1
0としてサイズがy方向1.0mm×x方向30mm×厚さ3.0mm
の長方形板状の多結晶Gd2O2S:Prセラミックスシンチレ
ータと、サイズがy方向0.6mm×x方向30mm×厚さ3.0mm
の長方形板状のCdWO4単結晶シンチレータ20とを上記
図3の構造の様に光学用エポキシ系接着剤で接着後、シリ
コンフォトタ゛イオート゛3に接着した。このシンチレータの上面に
は、TiO2粉末を光反射材4として塗布し、側面には光反
射板としてMo板5を接着した。X線管電圧400kV、管電
流4mAの連続X線を照射したときの、この実施例4の放
射線検出器の特性を表1に示す。
【0016】(実施例5)セラミックスシンチレータ1
0としてサイズがy方向1.0mm×x方向30mm×厚さ3.0mm
の長方形板状の多結晶Gd2O2S:Euセラミックスシンチレ
ータと、サイズがy方向0.6mm×x方向30mm×厚さ3.0mm
の長方形板状のCdWO4単結晶シンチレータ20とを上記
図3の構造の様に光学用エポキシ系接着剤で接着後、シリ
コンフォトタ゛イオート゛3に接着した。このシンチレータの上面に
は、TiO2粉末を光反射材4として塗布し、側面には光反
射板としてMo板5を接着した。X線管電圧400kV、管電
流4mAの連続X線を照射したときの、この実施例5の
放射線検出器の特性を表1に示す。
【0017】(実施例6)セラミックスシンチレータ1
0としてサイズがy方向1.0mm×x方向30mm×厚さ3.0mm
の長方形板状の多結晶Gd2O2S:Tbセラミックスシンチレ
ータと、サイズがy方向0.6mm×x方向30mm×厚さ3.0mm
の長方形板状のCdWO4単結晶シンチレータ20とを上記
図3の構造の様に光学用エポキシ系接着剤で接着後、シリ
コンフォトタ゛イオート゛3に接着した。このシンチレータの上面に
は、TiO2粉末を光反射材4として塗布し、側面には光反
射板としてMo板5を接着した。X線管電圧400kV、管電
流4mAの連続X線を照射したときの、この実施例6の放
射線検出器の特性を表1に示す。
【0018】(比較例)次に、比較例として図4のよう
に構成された従来構造の放射線検出器での評価結果につ
いて説明する。サイズがy方向1.6mm×x方向30mm×厚
さ3.0mmの長方形板状のCdWO4単結晶シンチレータ200
を図4の通り光学用エポキシ系接着剤でシリコンフォトタ゛イオート゛
3に接着した。このシンチレータの上面には、TiO2粉末
を光反射材4として塗布し、側面には光反射板としてMo
板5を接着した。X線管電圧400kV、管電流4mAの連続X
線を照射したときの、この比較例の放射線検出器の特性
を表1に示す。
【0019】上記表1より、本発明のものはいずれもX
線に対する感度すなわち相対出力が、比較例のものに比
べて1.5〜2.5倍となっており、比較例に比べて大
幅に改良されていることがわかる。
【0020】次に、上記実施例で使用した単結晶シンチ
レータCdWO4に代えて、Bi6Ge4O12を用いた場合にも、上
記実施例と同等の相対出力が得られた。
【0021】次に、上記実施例で使用したセラミックス
シンチレータに代えて、上記図2の構成において、セラ
ミックスシンチレータ1として多結晶の(Y,G)2O3:Euま
たは多結晶のGd3Ga5O12:Crを用いた場合にも上記実施例
と同等の相対出力が得られた。また、上記図3の構成に
おいて、セラミックスシンチレータ10として多結晶の
(Y,G)2O3:Euまたは多結晶のGd3Ga5O12:Crを用いた場合
にも上記実施例と同等の相対出力が得られた。
【0022】次に、上記実施例では長方形板状のセラミ
ックスシンチレータおよび単結晶シンチレータを用いた
が、本発明はこれに限定されず、本発明の作用効果を得
ることが可能な任意の形状、寸法を採用し得ることは勿
論である。
【0023】また、上記実施例では1種類のセラミック
スシンチレータと1種類の単結晶シンチレータとを組み
合わせた放射線検出器の構成を示したが、上記のセラミ
ックスシンチレータの2種以上と単結晶シンチレータの
2種以上とを組み合わせた構成としてもよいことは勿論
である。
【0024】
【発明の効果】上記の通り、本発明の放射線検出器は、
X線に対する感度が高く、X線吸収係数の大きな物体や
大型の機械構造物の断層像測定に対しても、解像度の高
い撮影が可能で、その有用性は非常に大きいものであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一態様を示す斜視図である。
【図2】図1のy方向ーy方向要部断面図である。
【図3】本発明の他の態様を示す要部断面図である。
【図4】従来構造を示す要部断面図である。
【符号の説明】
1,10 セラミックスシンチレータ、2,20 単結
晶シンチレータ、3シリコンフォトダイオード、4 Ti
O2光反射層、5 Mo光反射板、6 端部TiO2反射材、7
基板、11 放射線検出器、11a,11b 側面、
200 単結晶シンチレータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C09K 11/78 CPB C09K 11/78 CPB 11/80 CPN 11/80 CPN 11/84 CPD 11/84 CPD G01T 1/202 G01T 1/202

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放射線により発光可能なシンチレータ
    と、前記シンチレータの光を電気信号に変換する光検出
    器とを組み合わせてなる放射線検出器において、前記シ
    ンチレータとしてセラミックスシンチレータと単結晶シ
    ンチレータとを組み合わせて使用することを特徴とする
    放射線検出器。
  2. 【請求項2】 前記セラミックスシンチレータとして、
    Gd2O2S:Re(但し、ReはPr,Eu,Tbのいずれ
    か1種以上の元素を表す。)を用いることを特徴とする
    請求項1に記載の放射線検出器。
  3. 【請求項3】 前記セラミックスシンチレータとして、
    (Y,G)2O3:Eu,Gd3Ga5O12:Crのいずれか1種以上を用い
    ることを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
  4. 【請求項4】 前記単結晶シンチレータとして、CdW
    O4,Bi6Ge4O12のいずれか1種以上を用いることを特徴
    とする請求項1または請求項2に記載の放射線検出器。
  5. 【請求項5】 前記のセラミックスシンチレータと光検
    出器との間に前記単結晶シンチレータを配置したことを
    特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
  6. 【請求項6】 前記光検出器上に前記のセラミックスシ
    ンチレータと単結晶シンチレータとが隣接して配置され
    たことを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001311779A (ja) * 2000-03-07 2001-11-09 Marconi Medical Systems Inc X線検出器
JP2002062359A (ja) * 2000-08-21 2002-02-28 Aloka Co Ltd 放射線測定装置
JP2006276014A (ja) * 2005-03-25 2006-10-12 General Electric Co <Ge> 検出器アセンブリおよびその製造方法
CN104115233A (zh) * 2012-03-30 2014-10-22 日立金属株式会社 闪烁器双阵列的制造方法
KR101636510B1 (ko) * 2014-12-29 2016-07-05 한국원자력의학원 박막 크로마토그래피 타입 방사선 검출기
JP2018508763A (ja) * 2015-01-26 2018-03-29 ▲蘇▼州瑞派▲寧▼科技有限公司 複合シンチレーション結晶、複合シンチレーション検出器及び放射線検出装置
CN113725309A (zh) * 2020-05-22 2021-11-30 睿生光电股份有限公司 X射线装置及其制造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2758656B1 (fr) * 1997-01-21 1999-04-09 Thomson Tubes Electroniques Procede de realisation d'un detecteur de rayonnement par assemblage de dalles elementaires et detecteur ainsi obtenu
US6245184B1 (en) 1997-11-26 2001-06-12 General Electric Company Method of fabricating scintillators for computed tomograph system
US6344649B2 (en) * 1997-11-26 2002-02-05 General Electric Company Scintillator for a multi-slice computed tomograph system
US6384417B1 (en) * 1998-09-30 2002-05-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Ceramic scintillator, method for producing same, and x-ray detector and x-ray CT imaging equipment using same
DE10044357A1 (de) * 2000-09-07 2002-03-21 Heimann Systems Gmbh & Co Detektoranordnung zur Detektion von Röntgenstrahlen
US6749761B1 (en) * 2000-10-10 2004-06-15 Cti Pet Systems, Inc. Method for producing a high resolution detector array
DE10063907A1 (de) * 2000-12-21 2002-07-04 Philips Corp Intellectual Pty Detektor zum Detektieren von elektromagnetischer Strahlung
DE10110673A1 (de) * 2001-03-06 2002-09-26 Siemens Ag Röntgendetektorarray und Verfahren zu seiner Herstellung
US6519313B2 (en) * 2001-05-30 2003-02-11 General Electric Company High-Z cast reflector compositions and method of manufacture
US6800858B1 (en) * 2001-11-02 2004-10-05 Varian Medical Systems Technologies, Inc. X-ray image acquisition apparatus
US7053380B2 (en) * 2002-02-08 2006-05-30 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray detector and method for producing X-ray detector
US6775348B2 (en) * 2002-02-27 2004-08-10 General Electric Company Fiber optic scintillator with optical gain for a computed tomography system and method of manufacturing same
US7054408B2 (en) * 2003-04-30 2006-05-30 General Electric Company CT detector array having non pixelated scintillator array
US6901135B2 (en) * 2003-08-28 2005-05-31 Bio-Imaging Research, Inc. System for extending the dynamic gain of an X-ray detector
US20050161609A1 (en) * 2004-01-16 2005-07-28 Bjoern Heismann X-ray detector module for spectrally resolved measurements
JP2007175294A (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc イメージセンサ及びその制御方法並びにx線検出器及びx線ct装置
US7388208B2 (en) * 2006-01-11 2008-06-17 Ruvin Deych Dual energy x-ray detector
CN102520435A (zh) * 2010-06-24 2012-06-27 江苏康众数字医疗设备有限公司 闪烁体组合板
JP5901169B2 (ja) * 2011-07-26 2016-04-06 キヤノン株式会社 シンチレータ構造体および放射線検出器
JP6169922B2 (ja) * 2012-08-29 2017-07-26 東芝メディカルシステムズ株式会社 X線検出サブモジュール、x線検出モジュールおよびx線ct装置
JP6289157B2 (ja) 2013-03-05 2018-03-07 キヤノン株式会社 シンチレータ及び放射線検出器
CN107076863A (zh) 2014-09-25 2017-08-18 皇家飞利浦有限公司 用于生成光的陶瓷材料
GB2560552B (en) 2017-03-15 2020-09-09 Smiths Heimann Sas Method and apparatus

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4525628A (en) * 1982-06-18 1985-06-25 General Electric Company Rare earth ceramic scintillator
JPS61110079A (ja) * 1984-11-02 1986-05-28 Toshiba Corp 放射線検出器
US4870667A (en) * 1985-08-29 1989-09-26 Picker International, Inc. Radiation detector
JPS639881A (ja) * 1986-06-30 1988-01-16 Shimadzu Corp 放射線検出器
JPH0274890A (ja) * 1988-09-10 1990-03-14 Aasunikusu Kk 結合型シンチレータ

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001311779A (ja) * 2000-03-07 2001-11-09 Marconi Medical Systems Inc X線検出器
JP2002062359A (ja) * 2000-08-21 2002-02-28 Aloka Co Ltd 放射線測定装置
JP4643809B2 (ja) * 2000-08-21 2011-03-02 アロカ株式会社 放射線測定装置
JP2006276014A (ja) * 2005-03-25 2006-10-12 General Electric Co <Ge> 検出器アセンブリおよびその製造方法
CN104115233A (zh) * 2012-03-30 2014-10-22 日立金属株式会社 闪烁器双阵列的制造方法
US9899113B2 (en) 2012-03-30 2018-02-20 Hitachi Metals, Ltd. Production method of scintillator dual array
DE112013001689B4 (de) 2012-03-30 2018-11-29 Hitachi Metals Ltd. Verfahren zur Herstellung einer dualen Szintillatoranordnung
KR101636510B1 (ko) * 2014-12-29 2016-07-05 한국원자력의학원 박막 크로마토그래피 타입 방사선 검출기
JP2018508763A (ja) * 2015-01-26 2018-03-29 ▲蘇▼州瑞派▲寧▼科技有限公司 複合シンチレーション結晶、複合シンチレーション検出器及び放射線検出装置
US10976450B2 (en) 2015-01-26 2021-04-13 Raycan Technology Co., Ltd. (Suzhou) Combined scintillation crystal, combined scintillation detector and radiation detection device
CN113725309A (zh) * 2020-05-22 2021-11-30 睿生光电股份有限公司 X射线装置及其制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3332200B2 (ja) 2002-10-07
US5831269A (en) 1998-11-03

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