JPH09204730A - 光学ピックアップ及び光ディスク装置 - Google Patents

光学ピックアップ及び光ディスク装置

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JPH09204730A
JPH09204730A JP8029856A JP2985696A JPH09204730A JP H09204730 A JPH09204730 A JP H09204730A JP 8029856 A JP8029856 A JP 8029856A JP 2985696 A JP2985696 A JP 2985696A JP H09204730 A JPH09204730 A JP H09204730A
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JP
Japan
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optical
optical disc
light
signal
objective lens
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Application number
JP8029856A
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English (en)
Inventor
Tsutomu Mochizuki
勉 望月
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 何れの方式の光ディスクであっても、光検出
器への戻り光の入射光量が適正に調整されて、光ディス
クの再生が正しく行われるようにした、光学ピックアッ
プ及び光ディスク装置を提供すること。 【解決手段】 再生しようとする光ディスクの種類に応
じて、出力調整手段42によって、光源の出力が調整さ
れることにより、光検出器への戻り光の入射光量が常に
適正レベルとなるように調整されるように、構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンパクトディス
ク(CD),CD−ROMや光磁気ディスク等(以下、
「光ディスク」という)の信号記録及び/又は再生用の
光学ピックアップ及び光ディスク装置に係り、特に複数
種類の光ディスクの再生が可能であるようにした光学ピ
ックアップ及び光ディスク装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、光ディスク再生用の光学ピックア
ップは、例えば、発光手段としての半導体レーザ素子
と、半導体レーザ素子からの光を光ディスク上に照射す
る対物レンズと、この対物レンズを二軸方向に移動可能
に保持する対物レンズアクチュエータとしての二軸アク
チュエータと、光ディスクからの戻り光を検出する光検
出器と、この光検出器の検出信号に基づいて、二軸アク
チュエータの対物レンズをフォーカシング方向及びトラ
ッキング方向に駆動制御するサーボ回路とから構成され
ている。また、半導体レーザ素子の出力は、光ディスク
からの戻り光が光検出器に入射する際の入射光量が適切
になるように、出力調整用抵抗の抵抗値を選定しておく
ことにより、適宜に調整されるようになっている。
【0003】このような光学ピックアップでは、光源か
らの光ビームを光ディスクの信号記録面に照射し、この
信号記録面で反射された戻り光を光検出器の受光面で受
けて、記録信号を検出するようにしている。
【0004】そして、正確な再生信号の検出のために
は、光源からの光ビームが光ディスクの信号記録面の正
しい位置にスポットを形成する必要がある。そのため、
光学ピックアップでは、光源からの光ビームを光ディス
クの信号記録面に集光させる対物レンズを、所定のサー
ボ信号に基づいて微動させるようにしている。この対物
レンズのサーボとしては、光ディスクの記録トラックに
対して、このディスクの径方向に沿って対物レンズを微
動させるトラッキングサーボと、光軸に沿って光ディス
クの信号記録面に接近,離間させる方向に対物レンズを
微動させるフォーカシングサーボとが行われている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光ディスク
は、コンピュータの補助記憶装置,音声・画像情報のパ
ッケージメディアとして、高密度化が進められている。
従来の光ディスクを第一の種類の光ディスクとすると、
この高密度化を実現するために提案されている第二の種
類の光ディスクは、光ディスクの記録トラックの間隔を
狭くして、高密度記録を実現している。
【0006】ここで、上述した第一の種類の光ディスク
と第二の種類の光ディスクは、互いに反射率等が異なる
ことから、光ディスクからの戻り光が光検出器の受光部
に入射するとき、その入射光量に差が生じてしまう。
【0007】このため、反射率が低い光ディスクに対し
て光検出器への入射光量が適切になるように、光源の出
力調整用抵抗の抵抗値が選定された場合には、反射率の
高い光ディスクを再生したとき、光検出器への入射光量
が過大になってしまい、また反射率が高い光ディスクに
対して光検出器への入射光量が適切になるように、光源
の出力調整用抵抗の抵抗値が選定された場合には、反射
率の低い光ディスクを再生したとき、光検出器への入射
光量が不足してしまう。かくして、従来の光学ピックア
ップによっては、複数の異なる形式の光ディスクを再生
することが不可能であるという問題があった。
【0008】本発明は、以上の点に鑑み、何れの方式の
光ディスクであっても、光検出器への入射光量が適切に
調整されることにより、光ディスクの再生が正しく行わ
れるようにした、光学ピックアップ及びこれを利用した
光ディスク装置を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、複数の種類の光ディスクを再生可能な光学ピック
アップであって、光源から出射された光ビームを光ディ
スクの信号記録面上に合焦するように照射する対物レン
ズと、前記光源から光ディスクに照射される光ビーム
と、この光ディスクの信号記録面で反射される戻り光ビ
ームとを分離する光分離手段と、光ディスクの信号記録
面からの戻り光ビームを受光する受光部を有する光検出
器と、各種類の光ディスクに対応して前記光源の出力を
調整するための出力調整手段と、を備えた光学ピックア
ップにより、達成される。
【0010】好ましくは、前記出力調整手段が、複数の
互いに並列に設けられた出力調整用抵抗を備えていて、
再生する光ディスクの種類に応じて、一つの抵抗が選択
的に接続される構成としてもよい。
【0011】上記構成によれば、異なる種類の光ディス
クを再生することに対応して、出力調整手段が光源の出
力を調整することにより、光検出器への戻り光の入射光
量が適正レベルになるようにしている。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図1乃至図15を参照しながら、詳細に説明する。
尚、以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例で
あるから、技術的に好ましい種々の限定が付されている
が、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を
限定する旨の記載がない限り、これらの態様に限られる
ものではない。
【0013】図1は、本発明による光学ピックアップを
組み込んだ光ディスク装置の一実施形態を示している。
図1において、光ディスク装置10は、光ディスク11
を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ12
と、光学ピックアップ13を備えている。ここで、スピ
ンドルモータ12は、光ディスクドライブコントローラ
14により駆動制御され、所定の回転数で回転される。
光ディスク11は、複数の種類の光ディスクを選択し
て、それぞれ再生できるようになっている。
【0014】また、光学ピックアップ13は、この回転
する光ディスク11の信号記録面に対して、光を照射し
て、信号の記録を行ない、またはこの信号記録面からの
戻り光を検出するために、信号復調器15に対して戻り
光に基づく再生信号を出力する。
【0015】これにより、信号復調器15にて復調され
た記録信号は、エラーコレクション回路16を介して誤
り訂正され、インターフェイス17を介して、外部コン
ピュータ等に送出される。これにより、外部コンピュー
タ等は、光ディスク11に記録された信号を再生信号と
して受け取ることができるようになっている。
【0016】上記光学ピックアップ13には、例えば光
ディスク11上の所定の記録トラックまで、トラックジ
ャンプ等により移動させるためのヘッドアクセス制御部
18が接続されている。さらに、この移動された所定位
置において、光学ピックアップ13の対物レンズを保持
する二軸アクチュエータ(後述)に対して、当該対物レ
ンズをフォーカシング方向及びトラッキング方向に移動
させるためのサーボ回路19が接続されている。
【0017】図2は、上記光ディスク装置10に組み込
まれた光学ピックアップを示している。図2において、
光学ピックアップ20は、半導体レーザ素子21,光分
割手段としてのグレーティング22,光分離手段として
のビームスプリッタ23,立上げミラー24,コリメー
タレンズ25,対物レンズ26及び光検出器27と、対
物レンズ26を二軸方向に移動させるための二軸アクチ
ュエータ30とから構成されている。
【0018】上記半導体レーザ素子21は、半導体の再
結合発光を利用した発光素子であり、光源として使用さ
れる。半導体レーザ素子21から出射した光ビームは、
グレーティング22に導かれる。
【0019】グレーティング22は、入射光を回折させ
る回折格子であって、半導体レーザ素子21から出射し
た光ビームを、0次回折光から成る主ビーム及びプラス
マイナス1次回折光から成るサイドビームの少なくとも
3本の光ビームに分割するために使用される。したがっ
て、少なくとも3本の光ビームを分割生成できれば、ホ
ログラム素子等の他の分割素子を用いてもよい。
【0020】ビームスプリッタ23は、その反射面が光
軸に対して45度傾斜した状態で配設されており、グレ
ーティング22からの光ビームと光ディスク11の信号
記録面からの戻り光を分離する。即ち、半導体レーザ素
子21からの光ビームは、ビームスプリッタ23の反射
面23aで反射され、戻り光は、ビームスプリッタ23
を透過する。
【0021】立上げミラー24は、図3及び図4に示す
ように、光路折曲げ手段であって、ビームスプリッタ2
3で反射された光ビームを上方に向かって90度反射さ
せると共に、光ディスク11からの戻り光を水平方向に
反射させる。この場合、立上げミラー24は、その傾斜
方向が、光ディスク11のトラック方向,即ちトラック
の接線方向(図2の鎖線Lで示す)に対して、45度の
角度をなすように選定され、配置されている。これによ
って、後述するように、図12,13で示す第一の受光
部において、非点収差法により、フォーカスエラーを検
出し、位相比較法により、トラッキングエラーを検出す
ることができる。
【0022】コリメータレンズ25は、図3及び図4に
示すように、凸レンズであって、立上げミラー24で反
射された光ビームを平行光に変換する。この場合、コリ
メータレンズ25は、立上げミラー24により折曲げら
れた光路、即ち光ディスクの信号記録面に対して垂直な
光路内に配設されることになる。これにより、ビームス
プリッタ23と立上げミラー24の間の距離が比較的短
く選定されることになり、二軸アクチュエータ30そし
て光学ピックアップ20さらには光ディスク装置10が
小型に構成されることになる。また、コリメータレンズ
25が対物レンズ26と立上げミラー24との間に配設
されていることから、支持軸32が比較的長く形成され
ることになり、レンズホルダー33が安定して保持され
ることになる。
【0023】さらに、コリメータレンズ25は、図5に
示すように、支持軸32側の側縁が、鎖線25aで示す
ようにカットされており、支持軸32及びその周りに配
設されたフォーカス用コイル34,フォーカス用ヨーク
36,フォーカス用マグネット37と干渉しないように
なっている。また、このようなカット25aは、コリメ
ータレンズ25の光ディスク11のトラック方向の長さ
が十分に取れることから、トラッキング等に関して影響
は殆どない。
【0024】対物レンズ26は、図3及び図4に示すよ
うに、凸レンズであって、コリメータレンズ25からの
平行光を、回転駆動される光ディスク11の信号記録面
の所望のトラック上に結像させる。
【0025】ここで、対物レンズ26は、軸摺回動型の
二軸アクチュエータ30により、二軸方向即ちフォーカ
シング方向及びトラッキング方向に移動可能に支持され
ていると共に、さらに異なる二種類の光ディスクに対応
するように設計された二つの対物レンズ26a,26b
から成り、後述のように、上記二軸アクチュエータ30
の可動部であるレンズホルダーにより、択一的に光路中
に挿入されるように、支持されている。
【0026】光検出器27は、ビームスプリッタ23を
透過した戻り光ビームに対して、受光部を有するように
構成されている。この光検出器27の分割受光部の構成
は図12及び図13に示されている。
【0027】そして、半導体レーザ素子21,グレーテ
ィング22,ビームスプリッタ23,立上げミラー2
4,コリメータレンズ25及び光検出器27は、二軸ア
クチュエータ30の固定部である二軸ベース31上に固
定配置されている。
【0028】図7及び図8は、上記二軸アクチュエータ
30の構成を示している。図7及び図8において、二軸
アクチュエータ30は、図2の光学ピックアップ20に
てガイド28に沿って光ディスク11の半径方向に移動
可能に支持された光学ベース29にスキュー調整されて
取り付けられた二軸ベース31と、二軸ベース31上に
て垂直に延びる支持軸32と、この支持軸32に対し
て、軸方向に移動可能に且つ軸の周りに回動可能に支持
されたほぼ長円形もしくは長方形のレンズホルダー33
と、レンズホルダーの回転軸から所定距離で且つ異なる
角度位置にて光軸が支持軸に平行に保持された二つの対
物レンズ26a,26bと、を含んでいる。
【0029】ここで、上記対物レンズ26aは、例えば
第二の種類の光ディスクである高密度光ディスク用の開
口数NAの比較的大きい(例えばNA=0.6)レンズ
であって、第一の種類の光ディスク(例えばCD)用の
開口数の比較的小さい(NA=0.38)対物レンズ2
6bよりも大径に形成されている。そして、比較的小径
の対物レンズ26bが、光ディスク11の回転中心側に
配設されている。
【0030】さらに、上記レンズホルダー33は、図8
に示すように、その下方に取り付けられた同心の円筒状
に形成されたフォーカス用コイル34と、その回転軸に
関して互いに反対側の端面に取り付けられた一対のトラ
ッキング用コイル35,35と、を備えている。
【0031】これに対して、二軸アクチュエータ30の
二軸ベース31上には、上記フォーカス用コイル34に
対して、互いに反対側で外側から対向するように配設さ
れた一対のフォーカス用ヨーク36,36と、その内側
に取り付けられた一対のフォーカス用マグネット37,
37と、上記トラッキング用コイル35に対して、それ
ぞれ外側から対向するように配設されたトラッキング用
ヨーク38,38と、その内側に取り付けられた一対の
トラッキング用マグネット39,39が備えられてい
る。
【0032】上記フォーカス用コイル34は、トラッキ
ング用コイル35と別個に、支持軸32の周面に対して
比較的近接して配設されるように、小径に形成されてお
り、これに対応して、フォーカス用ヨーク36及びマグ
ネット37も、支持軸32に近接している。これによ
り、フォーカス用コイル34は、全体に小型に構成され
ると共に、有効導体長を大きくすることができる。
【0033】また、上記トラッキング用マグネット39
は、それぞれ軸方向の中心から左右に関して、互いに逆
極性となるように、構成されている。例えば、トラッキ
ング用マグネット39は、図9に示すように、支持軸3
2に関して、時計周りにS極39a,N極39bとなる
ように配設されている。
【0034】さらに、上記トラッキング用コイル35の
周方向の両側には、それぞれ軸方向に延びる磁性体、例
えば鉄片40,41が取り付けられている。これによ
り、鉄片40または41の何れか一方が、トラッキング
用マグネット39の二つの極39a,39bの境界39
cに対向するように、吸着されることにより、レンズホ
ルダー33は、第一の対物レンズ26aが光路中に挿入
される第一の中点位置、または第二の対物レンズ26b
が光路中に挿入される第二の中点位置に、移動されるよ
うになっている。尚、図7においては、レンズホルダー
33は、上記第一の中点位置と第二の中点位置の中間に
位置するように、示されている。
【0035】これにより、例えば対物レンズ26aが光
路中に挿入されているときには、図9に示すように、鉄
片41が、対向するトラッキング用マグネット39の二
つの磁極39a,39bの境界39cに対向することに
より、レンズホルダー33は、第一の中点位置にあっ
て、矢印で示すように磁束が流れることにより、レンズ
ホルダー33は、第一の中点位置に保持されることにな
る。ここで、トラッキング用コイル35に対して、駆動
電流が流されることにより、第一の中点位置を基準とし
て、レンズホルダー33は支持軸32の周りに揺動され
ることにより、対物レンズ26aが実質的に接線方向で
あるトラッキング方向に移動され、トラッキングが行な
われる。
【0036】ここで、トラッキング用コイル35に対し
て、逆電流が流されると、図10に示すように、トラッ
キング用コイル35に発生する磁界が、トラッキング用
マグネット39の磁極39aと反発して、トラッキング
用コイル35が、磁極39bに対向するように移動す
る。これにより、反対側の鉄片40が、トラッキング用
マグネット39の磁極39a,39bの境界39cに対
向することになり、レンズホルダー33は、第二の中点
位置に移動され、対物レンズ26bが光路中に挿入され
ることになる。
【0037】さらに、上記半導体レーザ素子21は、図
11に示すように、その出力パワーが、再生しようとす
る光ディスクの種類に応じて、光検出器にて適正な入射
光量となるように、レーザ光調整回路42によって、調
整される。図11において、レーザ光調整回路42は、
半導体レーザ素子21に駆動電圧を印加するレーザコン
トロール電源43と、半導体レーザ素子21に隣接して
半導体レーザ素子21からの光を受光するモニタ用フォ
トトランジスタ44と、を備えており、フォトトランジ
スタ44からの検出信号に基づいて、レーザコントロー
ル電源43が、半導体レーザ素子21に対して供給する
駆動電流を適宜に調整することにより、半導体レーザ素
子21からの出射される光ビームの発光光量が適正に調
整される。
【0038】さらに、上記フォトトランジスタ44への
接続ラインが、切換えスイッチ45を介して、二つの可
変抵抗46,47を通ってアース接続されている。この
二つの可変抵抗46,47のうち、可変抵抗46が、例
えば第二の種類の光ディスクである高密度光ディスクに
最適な発光光量を与えるように、調整される。可変抵抗
47は、例えば第一の種類の光ディスクに最適な発光光
量を与えるように、調整される。従って、再生しようと
する光ディスクの形式に応じて、切換えスイッチ45が
切換えられることにより、半導体レーザ素子21は、再
生しようとする光ディスクの形式に関して最適な発光光
量で発光することになる。これにより、何れの種類の光
ディスクを再生する場合であっても、光検出器27に入
射する光ディスクからの戻り光の入射光量が、適正レベ
ルの範囲内に設定されることになり、光検出器27から
の信号に基づいて、光ディスクの再生信号やサーボ信号
が正しく得られることになる。
【0039】また、上記光検出器27は、図12の左側
に示すように、グレーティング22により分割された3
本のビームのうち、中央のメインビームを受光する第一
の受光部27aと、サイドビームを受光する第二及び第
三の受光部27b,27cとから構成されている。第一
の受光部27aは、さらに縦横に4分割された4つの受
光部A,B,C,Dに分割されている。また、第二及び
第三の受光部27b,27cは、各受光部27b,27
a,27cが並んだ方向に関して、それぞれ二分割され
た受光部E,F,G,Hに分割されている。
【0040】ここで、縦横に4分割された4つの受光部
A,B,C,Dを有する第一の受光部27aは、後述す
るように、非点収差法にてフォーカシングサーボを行う
のに必要な受光部の分割配置となっており、これと同時
に第二の種類のディスクに関して後述する位相比較法に
よりトラッキングエラー信号の生成が可能な配置となっ
ている。このようにするために、図3及び図4の立上げ
ミラー24は、その傾斜方向が、光ディスク11のトラ
ック方向(接線方向)に対して、45度の角度をなすよ
うに選定され、配置されている。これにより、ビームス
プリッタ23から立ち上げミラー24に入射する光軸
と、光ディスクからの戻り光が立ち上げミラー24によ
り反射されてビームスプリッタ23に入射する戻りの光
軸が、図2のL1で示すトラック方向(接線方向)に対
して45度傾斜して、かつスピンドルモータから離れる
方向になっている。このために、後述する光検出器の第
の受光部27aにおいては、非点収差法によるフォーカ
スエラー検出と、位相比較法によるトラッキングエラー
検出とを両方行えるようになっている。
【0041】ここで、各受光部A,B,C,D,E,
F,G,Hからの検出信号は、それぞれオペアンプによ
り電流電圧変換された後、前述したエラーコレクション
回路16によって、トラッキングエラー信号及びフォー
カシングエラー信号が生成され、それぞれサーボ回路1
9に入力されるようになっている。エラーコレクション
回路16によるトラッキングエラー信号及びフォーカシ
ングエラー信号の生成は、光ディスクの形式に応じて、
以下のようにして行なわれる。
【0042】即ち、第一の種類の光ディスクの場合に
は、図12に示すように、フォーカシングエラー信号F
CSは、第一の受光部27aの各受光部A,B,C,D
からの検出信号Sa,Sb,Sc,Sdから、所謂非点
収差法に基づいて、加算器49,50及び減算器51に
より、
【数1】 により演算される。また、トラッキングエラー信号TR
Kは、第二の受光部27bの各受光部E,F及び第三の
受光部G,Hからの検出信号Se,Sf,Sg,Shか
ら、所謂3スポット法に基づいて、加算器52,53及
び減算器54により、
【数2】 により演算される。
【0043】これに対して、例えば第二の種類の高密度
光ディスクの場合には、図13に示すように、フォーカ
シングエラー信号FCSは、第一の種類の光ディスクの
場合と同様にして、第一の受光部27aの各受光部A,
B,C,Dからの検出信号Sa,Sb,Sc,Sdか
ら、所謂非点収差法に基づいて、加算器49,50及び
減算器51により、
【数1】により演算される。また、第二の種類の光ディ
スクのトラッキングエラー信号TRKは、第一の種類の
光ディスクの場合のように、所謂3スポット法によって
は得られないので、第一の受光部27aの各受光部A,
B,C,Dからの検出信号Sa,Sb,Sc,Sdか
ら、位相比較回路55により、加算器49の出力信号
(Sa+Sc)と加算器50の出力信号(Sb+Sd)
を位相比較することにより(位相比較法)、得られる。
【0044】図14は、このトラッキングエラー検出法
としての位相比較法を説明するための図である。図14
(a)の中央の縦列は、光ディスクの信号記録面上のピ
ットPに光ビーム(メインビーム)のスポットS1がオ
ントラックしている状態を示す。この中央の縦列を挟ん
で左の縦列はスポットS1がトラックから図において左
にデトラックした状態を示す。各縦列のピットPはスポ
ットS1に対して相対的に縦列の下から上へ次第に移動
している状態を示しており、信号記録面上のスポットS
1の側にそれぞれ示すスポットS2は、図14(b)の
分割受光部上に形成されるスポットの暗くなる部分が影
の状態で示されている。
【0045】図14(a)の左の列において、スポット
S1はピットPの左側にデトラックしている。このと
き、スポットS2では、先ず暗部が左下に表れるので、
分割受光部BとDに対応した加算器50の出力信号(S
b+Sd)の出力信号が低下する。次いで、出力信号
(Sa+Sc)も低下する。つまり、(Sb+Sd)の
出力信号が、(Sa+Sc)の出力信号より先に変化し
ているので、(Sb+Sd)の出力信号は(Sa+S
c)の出力信号より位相が進む。これとは逆に、図14
(a)の右の列では、スポットS1はピットPの右側に
デトラックしている。この場合は上記と逆に、(Sa+
Sc)の出力信号は、(Sb+Sd)の出力信号より位
相が進むことになる。
【0046】図13の位相比較回路55は、加算器49
の出力信号(Sa+Sc)と加算器50の出力信号(S
b+Sd)を上記の原理に基づいて位相比較することに
より、トラッキングエラー信号を生成している。尚、上
記位相比較回路55は、例えば上記二つの信号(Sa+
Sc)及び(Sb+Sd)に関して、これらの和信号の
立上り及び立下りを検出して、この立上り及び立下りの
タイミングで、それぞれこれらの差信号をサンプルホー
ルドし、サンプルホールド信号の差を取ることにより、
トラッキングエラー信号とするものであるが、これに限
らず、他の任意の構成の位相比較回路を使用することも
可能である。例えば、検出信号のレベルが低くなると、
この欠陥部分に大きな雑音が混入し易くなるので、位相
比較をおこなうべき二つの信号(Sa+Sc)及び(S
b+Sd)に同相のバイアス信号を加えるようにしても
よい。
【0047】ここで、上述したトラッキングエラー信号
の3スポット法及び位相比較法の切換えは、再生しよう
とする光ディスクの形式を判別することにより、行なわ
れる。図15は、光ディスクの形式の判別に基づいて、
異なるトラッキングエラー信号を得るための構成を示す
ブロック図である。図において、対物レンズ26は、二
軸アクチュエータ30によって、トラッキング方向に微
動される。この二軸アクチュエータ30は、トラッキン
グサーボ回路64により駆動される。このトラッキング
サーボ回路64は図1のサーボ回路19の一部を構成し
ており、トラッキングエラー信号の演算回路62と対物
レンズの駆動回路61を含んでいる。このトラッキング
エラー信号の演算回路62は、図12及び図13にそれ
ぞれ示した3スポット法と位相比較法のトラッキングエ
ラー信号演算部を有している。そして、このトラッキン
グエラー信号の演算回路62は、選択部としてのディス
ク判別部63の指示に応じて、3スポット法もしくは位
相比較法の演算部を選択して、トラッキングエラー信号
を各演算部で算出し、対物レンズ駆動部61に与える。
ディスク判別部63は、再生しようとする光ディスクの
種類が、第一の種類の光ディスクであるか第二の種類の
光ディスクであるかを判断し、それぞれの種類のディス
クに応じたトラッキングエラー信号の演算を上記トラッ
キングエラー信号の演算回路62に指示する。
【0048】具体的には、ディスク判別部63は、例え
ば光検出器から、その時セットされた光ディスクのID
の読み取り結果を得て、第一の種類の光ディスクか第二
の種類の光ディスクかの判断を行う。あるいは、ディス
ク判別部63は、光検出器27もしくは他の光検出器に
より、セットされた光ディスクの基板厚の差による光の
反射光量の違いに基づく検出結果を得て、上記光ディス
クの種類を判別する。また、光検出器27は、その時セ
ットされた光ディスクについて、径方向の一定距離につ
いてトラック本数を計測し、その計測結果をディスク判
別部63に出力する。ディスク判別部63はこれに基づ
いて、光ディスクの種類の判別し、判別結果をトラッキ
ングエラー信号の演算回路62に出力する等種々の方法
により、光ディスクの判別を行うことができる。さら
に、このようにその時セットされた光ディスクの種類を
自動的に判別しないで、ユーザが選択部62としての操
作子を選択して、その時自分がセットした光ディスクの
種類に関する情報をトラッキングエラー信号の演算回路
62に与えるようにしてもよい。
【0049】本実施形態による光学ピックアップを組み
込んだ光ディスク装置10は、以上のように構成されて
おり、次のように動作する。先づ例えば第二の種類の光
ディスクである高密度光ディスクの再生を行なう場合に
は、レンズホルダー33は、図2に示すように、第一の
中点位置にあって、対物レンズ26aが光路中に挿入さ
れていると共に、レンズホルダー33に取り付けられた
一方の鉄片41がトラッキング用マグネット39の境界
39cに対向している。ここで、光ディスク装置10の
スピンドルモータ12が回転することにより、光ディス
ク11が回転駆動される。そして、光学ピックアップ2
0が、ガイド28に沿って、光ディスク11の半径方向
に移動されることにより、対物レンズ26aの光軸が、
光ディスク11の所望のトラック位置まで移動されるこ
とにより、アクセスが行なわれる。
【0050】この状態にて、光学ピックアップ20に
て、半導体レーザ素子21からの光ビームは、グレーテ
ィング22により3本の光ビームに分割された後、ビー
ムスプリッタ23の反射面23aで反射され、立上げミ
ラー24で光ディスク11に向かって反射される。さら
に、光ビームは、コリメータレンズ25により平行光に
変換され、対物レンズ26aを介して、光ディスク11
の信号記録面に結像される。この際、対物レンズ26a
によって、開口数が高密度光ディスクに対応した適宜
に、例えばNA=0.6に設定されており、光ビーム
は、光ディスク11の信号記録面に正しく結像すること
になる。光ディスク11からの戻り光は、再び対物レン
ズ26a及びコリメータレンズ25,立上げミラー24
を介して、ビームスプリッタ23を透過し、光検出器2
7に結像する。これにより、光検出器27の検出信号に
基づいて、光ディスク11の記録信号が再生される。
【0051】その際、光検出器27からの検出信号か
ら、信号復調器15により、図13に示すように位相比
較法によってトラッキングエラー信号が検出されると共
に、非点収差法によりフォーカシングエラー信号が検出
される。そして、光ディスクドライブコントローラ14
を介して、サーボ回路19が、フォーカス用コイル34
及びトラッキング用コイル35への駆動電流をサーボ制
御する。これにより、フォーカス用コイル35の駆動電
流の制御によって、フォーカス用コイル35に発生する
磁界が、フォーカス用マグネット37及びフォーカス用
コイル36による磁界と作用することにより、レンズホ
ルダー33が、支持軸32に沿ってフォーカシング方向
に移動調整され、フォーカシングが行なわれる。また、
トラッキング用コイル35に発生する磁界が、トラッキ
ング用マグネット39及びトラッキング用ヨーク38に
よる磁界と作用することにより、レンズホルダー33
が、第一の中点位置を基準として、支持軸32の周りに
揺動調整され、対物レンズ26aが実質的に接線方向で
あるトラッキング方向に移動調整されて、トラッキング
サーボが行なわれる。
【0052】次に、例えば第一の種類の光ディスク(例
えばCD)の再生を行なう場合には、トラッキング用コ
イル35に逆電流が流されることにより、上述のよう
に、レンズホルダー33に取り付けられた他方の鉄片4
0が、トラッキング用コイル39の境界39cに対向す
るように、レンズホルダー33が、支持軸32の周りに
回動され、第二の中点位置に移動される。これにより、
対物レンズ26bが光路中に挿入される。
【0053】ここで、同様にして、光ディスク装置10
のスピンドルモータ12が回転して、光ディスク11が
回転駆動される。そして、光学ピックアップ20が、ガ
イド28に沿って、光ディスク11の半径方向に移動さ
れることにより、対物レンズ26bの光軸が、光ディス
ク11の所望のトラック位置まで移動されることによ
り、アクセスが行なわれる。
【0054】この状態にて、光学ピックアップ20に
て、半導体レーザ素子21からの光ビームは、グレーテ
ィング22により3本の光ビームに分割された後、ビー
ムスプリッタ23の反射面23aで反射され、立上げミ
ラー24で光ディスク11に向かって反射される。さら
に、光ビームは、コリメータレンズ25により平行光に
変換され、対物レンズ26bを介して、光ディスク11
の信号記録面に結像される。
【0055】この際、対物レンズ26bによって、開口
数が第一の種類の光ディスクに対応した適宜に、例えば
NA=0.38に設定されており、光ビームは、光ディ
スク11の信号記録面に正しく結像することになる。光
ディスク11からの戻り光は、再び対物レンズ26b及
びコリメータレンズ25,立上げミラー24を介して、
ビームスプリッタ23を透過し、光検出器27に結像す
る。これにより、光検出器27の検出信号に基づいて、
光ディスク11の記録信号が再生される。
【0056】その際、光検出器27からの検出信号か
ら、信号復調器15により、図12に示すように、3ス
ポット法によりトラッキングエラー信号が検出されると
共に、非点収差法によりフォーカシングエラー信号が検
出される。そして、光ディスクドライブコントローラ1
4を介して、サーボ回路19が、フォーカス用コイル3
4及びトラッキング用コイル35への駆動電流をサーボ
制御する。これにより、フォーカス用コイル35の駆動
電流の制御によって、フォーカス用コイル35に発生す
る磁界が、フォーカス用マグネット37及びフォーカス
用コイル36による磁界と作用することにより、レンズ
ホルダー33が、支持軸32に沿ってフォーカシング方
向に移動調整され、フォーカシングが行なわれる。ま
た、トラッキング用コイル35に発生する磁界が、トラ
ッキング用マグネット39及びトラッキング用ヨーク3
8による磁界と作用することにより、レンズホルダー3
3が、第二の中点位置を基準として、支持軸32の周り
に揺動調整され、対物レンズ26aが実質的に接線方向
であるトラッキング方向に移動調整されて、トラッキン
グが行なわれる。
【0057】このように、上述の実施形態では、光学ピ
ックアップ20の光源である半導体レーザ素子21が、
再生しようとする光ディスクの種類に応じて、レーザ光
調整回路42によって、出力調整されて、戻り光の光検
出器27への入射光量が常に適正レベルとなるように調
整される。
【0058】尚、上記実施形態による光ディスク装置1
0及び光学ピックアップ20においては、トラッキング
用マグネット39の磁極39aがS極,磁極39bがN
極に設定されているが、逆極性であってもよい。この場
合、トラッキング用コイル35に流す電流の向きを逆に
すれば、同様に、レンズホルダー33は、第一の中点位
置及び第二の中点位置で、それぞれトラッキングが行わ
れることになる。また、上記実施形態による光ディスク
装置10及び光学ピックアップ20においては、レンズ
ホルダー33に、二つの対物レンズ26a,26bが保
持されているが、これに限らず、三つ以上の対物レンズ
が保持されていて、トラッキング用コイル35とトラッ
キング用マグネット39の相互作用によって、各対物レ
ンズが選択的に光路中に挿入されるようにしてもよいこ
とは明らかである。
【0059】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、何
れの方式の光ディスクであっても、光検出器への戻り光
の入射光量が適正に調整されて、光ディスクの再生が正
しく行われる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光学ピックアップを組み込んだ光
ディスク装置の一実施形態の全体構成を示すブロック図
である。
【図2】図1の光ディスク装置における光学ピックアッ
プの構成を示す平面図である。
【図3】図2の光学ピックアップにおける半導体レーザ
素子から立上げミラー,コリメータレンズそして対物レ
ンズに至る光路に沿って見た縦断面図である。
【図4】図2の光学ピックアップにおける二軸アクチュ
エータの断面図である。
【図5】図2の光学ピックアップにおける光学系を示す
平面図である。
【図6】図2の光学ピックアップにおける光学系を示す
側面図である。
【図7】図2の光学ピックアップにおける二軸アクチュ
エータの斜視図である。
【図8】図7の二軸アクチュエータの分解斜視図であ
る。
【図9】図7の二軸アクチュエータにおけるレンズホル
ダーの第一の中点位置における磁気回路を示す概略平面
図である。
【図10】図7の二軸アクチュエータにおけるレンズホ
ルダーの第一の中点位置から第二の中点位置への移動時
の状態を示す概略平面図である。
【図11】図2の光学ピックアップにおける半導体レー
ザ素子のレーザ光調整装置の構成を示す回路図である。
【図12】図2の光学ピックアップにおける第一の種類
の光ディスク再生の場合のトラッキングエラー検出回路
の構成例を示す回路図である。
【図13】図2の光学ピックアップにおける高密度光デ
ィスク再生の場合のトラッキングエラー検出回路の構成
例を示す回路図である。
【図14】本実施形態の光学ピックアップのトラッキン
グエラーの検出原理を説明するための図である。
【図15】本実施形態の光学ピックアップにおける光デ
ィスクの種類の判別に基づいて、異なるトラッキングエ
ラー信号を得るための構成を示すブロック図である。
【符号の簡単な説明】
10・・・光ディスク装置、11・・・光ディスク、1
2・・・スピンドルモータ、13・・・光学ピックアッ
プ、14・・・光ディスクトライブコントローラ、15
・・・信号復調器、16・・・エラーコレクション回
路、17・・・インターフェイス、18・・・ヘッドア
クセス制御部、20・・・光学ピックアップ、21・・
・半導体レーザ素子、22・・・グレーティング、23
・・・ビームスプリッタ、24・・・立上げミラー、2
5・・・コリメータレンズ、26,26a,26b・・
・対物レンズ、27・・・光検出器、28・・・ガイ
ド、29・・・光学ベース、30・・・二軸アクチュエ
ータ、31・・・二軸ベース、32・・・支持軸、33
・・・レンズホルダー、34・・・フォーカス用コイ
ル、35・・・トラッキング用コイル、36・・・フォ
ーカス用ヨーク、37・・・フォーカス用マグネット、
38・・・トラッキング用ヨーク、39・・・トラッキ
ング用マグネット、39a,39b・・・磁極、40,
41・・・鉄片、42・・・レーザ光調整装置、43・
・・レーザコントロール装置、44・・・モニタ用受光
素子、45・・・切換えスイッチ、46,47・・・可
変抵抗、48・・・オペアンプ、49,50,52,5
3・・・加算器、51,54・・・減算器、55・・・
位相比較回路

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の種類の光ディスクを再生可能な光
    学ピックアップであって、 光源から出射された光ビームを光ディスクの信号記録面
    上に合焦するように照射する対物レンズと、 前記光源から光ディスクに照射される光ビームと、この
    光ディスクの信号記録面で反射される戻り光ビームとを
    分離する光分離手段と、 光ディスクの信号記録面からの戻り光ビームを受光する
    受光部を有する光検出器と、 前記各種類の光ディスクに対応して前記光源の出力を調
    整するための出力調整手段と、 を備えたことを特徴とする光学ピックアップ。
  2. 【請求項2】 前記出力調整手段が、複数の互いに並列
    に設けられた出力調整用抵抗を備えていて、再生する光
    ディスクの種類に応じて、一つの抵抗が選択的に接続さ
    れることを特徴とする請求項1に記載の光学ピックアッ
    プ。
  3. 【請求項3】 異なる種類の光ディスクを読み取り可能
    な光ディスク装置であって、 光源から出射した光ビームを対物レンズを介して、光デ
    ィスクの信号記録面上にスポットとして照射する手段
    と、 光ディスクの信号記録面からの戻り光ビームを受光する
    受光部を有する光検出手段と、 前記対物レンズを少なくともトラッキング方向に移動可
    能な対物レンズ駆動手段と、 前記光検出手段からの信号に基づいてトラッキングエラ
    ー信号を得る演算部と、 前記トラッキングエラー信号を前記対物レンズ駆動手段
    に供給するサーボ手段と、 各種類の光ディスクに対応して前記光源の出力を調整す
    るための出力調整手段と、 を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
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