JPH09203709A - 米粒検査装置 - Google Patents
米粒検査装置Info
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- JPH09203709A JPH09203709A JP1101396A JP1101396A JPH09203709A JP H09203709 A JPH09203709 A JP H09203709A JP 1101396 A JP1101396 A JP 1101396A JP 1101396 A JP1101396 A JP 1101396A JP H09203709 A JPH09203709 A JP H09203709A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 作業者の負担を軽減し、検査基準を一定にし
て正常品の米粒の品質を一定とすることのできる米粒検
査装置を提供する。 【解決手段】 本発明の米粒検査装置は。米粒を載置す
る米粒載置板４と、米粒載置板の一面に対向する第一の
撮像部２と、米載置板の他の面に対向する第二の撮像部
３と、米粒載置板の一面に対向する照明装置５と、第一
の撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とから米
粒載置板上の米粒の品質を算出する制御部１とを有す
る。そして、照明装置が米粒載置板に載置された米粒を
照射し、第一の撮像部は米粒の反射光を撮像し、第二の
撮像部は米粒の透過光を撮像し、制御部が第一の撮像部
の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とから米粒載置板
上の米粒の品質を算出する。
て正常品の米粒の品質を一定とすることのできる米粒検
査装置を提供する。 【解決手段】 本発明の米粒検査装置は。米粒を載置す
る米粒載置板４と、米粒載置板の一面に対向する第一の
撮像部２と、米載置板の他の面に対向する第二の撮像部
３と、米粒載置板の一面に対向する照明装置５と、第一
の撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とから米
粒載置板上の米粒の品質を算出する制御部１とを有す
る。そして、照明装置が米粒載置板に載置された米粒を
照射し、第一の撮像部は米粒の反射光を撮像し、第二の
撮像部は米粒の透過光を撮像し、制御部が第一の撮像部
の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とから米粒載置板
上の米粒の品質を算出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、玄米及び精白後の
精米に対して、正常品である整粒と、不良品である青未
熟粒、乳白粒、茶米、白死米、青死米、着色粒等との比
率を検査する米粒検査装置に関する。
精米に対して、正常品である整粒と、不良品である青未
熟粒、乳白粒、茶米、白死米、青死米、着色粒等との比
率を検査する米粒検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、玄米及び精白後の精米の検査は人
間による目視検査により行っていた。そして、該目視検
査の場合、作業者の熟練と勘により正常品と不良品の比
率を見極めていた。
間による目視検査により行っていた。そして、該目視検
査の場合、作業者の熟練と勘により正常品と不良品の比
率を見極めていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従って、目視検査によ
っては、検査基準の定量化ができないため、作業者の熟
練度によって検査基準が一定せず、ある作業者が正常品
と判断しても他の作業差が検査すれば不良品と判断する
場合もあり、正常品と判断された米粒の品質が一定しな
い恐れがあるという問題点があった。また、目視検査は
作業者にとって負担の大きい作業であるという問題点も
あった。
っては、検査基準の定量化ができないため、作業者の熟
練度によって検査基準が一定せず、ある作業者が正常品
と判断しても他の作業差が検査すれば不良品と判断する
場合もあり、正常品と判断された米粒の品質が一定しな
い恐れがあるという問題点があった。また、目視検査は
作業者にとって負担の大きい作業であるという問題点も
あった。
【０００４】本発明は、上記問題点を改善するために成
されたもので、その目的とするところは、作業者の負担
を軽減し、検査基準を一定にして正常品の米粒の品質を
一定とすることのできる米粒検査装置を提供することに
ある。
されたもので、その目的とするところは、作業者の負担
を軽減し、検査基準を一定にして正常品の米粒の品質を
一定とすることのできる米粒検査装置を提供することに
ある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の問題を解
決するために、請求項１記載の発明にあっては、米粒を
載置する米粒載置板と、米粒載置板の一面に対向する第
一の撮像部と、米載置板の他の面に対向する第二の撮像
部と、米粒載置板の一面に対向する照明装置と、第一の
撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とから米粒
載置板上の米粒の品質を算出する制御部とを有すること
を特徴とするものである。
決するために、請求項１記載の発明にあっては、米粒を
載置する米粒載置板と、米粒載置板の一面に対向する第
一の撮像部と、米載置板の他の面に対向する第二の撮像
部と、米粒載置板の一面に対向する照明装置と、第一の
撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とから米粒
載置板上の米粒の品質を算出する制御部とを有すること
を特徴とするものである。
【０００６】請求項２記載の発明にあっては、第二の撮
像部の位置を変更する駆動部と、該駆動部に対して、第
一の撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とが対
称となるように第二の撮像部の位置を変更させる位置決
め手段とを有するものである。
像部の位置を変更する駆動部と、該駆動部に対して、第
一の撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とが対
称となるように第二の撮像部の位置を変更させる位置決
め手段とを有するものである。
【０００７】請求項３記載の発明にあっては、米粒を載
置する米粒載置板と、米粒載置板の一面に対向する撮像
部と、米粒載置板の一面に対向する第一の照明装置と、
米粒載置板の他の面に対向する第二の照明装置と、第一
の照明装置が点灯しているときの撮像部の撮像映像と、
第二の照明装置が点灯しているときの撮像部の撮像映像
とから米粒載置板上の米粒の品質を算出する制御部とを
有することを特徴とするものである。
置する米粒載置板と、米粒載置板の一面に対向する撮像
部と、米粒載置板の一面に対向する第一の照明装置と、
米粒載置板の他の面に対向する第二の照明装置と、第一
の照明装置が点灯しているときの撮像部の撮像映像と、
第二の照明装置が点灯しているときの撮像部の撮像映像
とから米粒載置板上の米粒の品質を算出する制御部とを
有することを特徴とするものである。
【０００８】請求項４記載の発明にあっては、上記米粒
載置板は、米粒の入る凹部を上面に有することを特徴と
するものである。
載置板は、米粒の入る凹部を上面に有することを特徴と
するものである。
【０００９】請求項５記載の発明にあっては、米粒載置
板上に載置された米粒の重量を検出する重量センサを有
することを特徴とするものである。
板上に載置された米粒の重量を検出する重量センサを有
することを特徴とするものである。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明にかかる米粒検査装置の第
一実施の形態を図１〜図６に基づいて、第二実施の形態
を図７に基づいて説明する。
一実施の形態を図１〜図６に基づいて、第二実施の形態
を図７に基づいて説明する。
【００１１】〔第一実施の形態〕図１は米粒検査装置の
構成図である。図２は米粒載置板の正面図である。図３
は位置決板の正面図である。図４は位置決板を米粒載置
板上に載置した場合の側面図である。図５は位置決板を
米粒検査装置に取り付けたときのカメラ画像のイメージ
図である。図６は米粒載置板に米粒を載置した場合の側
面図である。
構成図である。図２は米粒載置板の正面図である。図３
は位置決板の正面図である。図４は位置決板を米粒載置
板上に載置した場合の側面図である。図５は位置決板を
米粒検査装置に取り付けたときのカメラ画像のイメージ
図である。図６は米粒載置板に米粒を載置した場合の側
面図である。
【００１２】図１において、米粒検査装置は制御部１
と、第一の撮像部に相当する上部カメラ２と、第二の撮
像部に相当する下部カメラ３と、米粒載置板４と、照明
装置５と、駆動部６と、重量センサ７とを有して構成さ
れている。
と、第一の撮像部に相当する上部カメラ２と、第二の撮
像部に相当する下部カメラ３と、米粒載置板４と、照明
装置５と、駆動部６と、重量センサ７とを有して構成さ
れている。
【００１３】上部カメラ２は米粒載置板４の上方に、撮
像軸Ａ１が米粒載置板４に対して略垂直となるように設
けられ、上方から米粒載置板４を撮像する。下部カメラ
３は米粒載置板４の下方に、撮像軸Ａ２が米粒載置板４
に対して略垂直となるように設けられて、下方から米粒
載置板４を撮像する。
像軸Ａ１が米粒載置板４に対して略垂直となるように設
けられ、上方から米粒載置板４を撮像する。下部カメラ
３は米粒載置板４の下方に、撮像軸Ａ２が米粒載置板４
に対して略垂直となるように設けられて、下方から米粒
載置板４を撮像する。
【００１４】米粒載置板４は、透明部材より構成された
板体であり、図２に示すように、格子状に位置する米１
粒が入る程度の凹部４ａを上面に有する。操作者は、該
凹部４ａがあることにより、米粒を米粒載置板４上の所
定の位置に容易に配することができる。
板体であり、図２に示すように、格子状に位置する米１
粒が入る程度の凹部４ａを上面に有する。操作者は、該
凹部４ａがあることにより、米粒を米粒載置板４上の所
定の位置に容易に配することができる。
【００１５】照明装置５は、米粒載置板４の上方に設置
されており、また照明装置５の設置位置に起因する影の
発生を抑えるために２方向から米粒載置板４上の米粒を
照射するようにしている。
されており、また照明装置５の設置位置に起因する影の
発生を抑えるために２方向から米粒載置板４上の米粒を
照射するようにしている。
【００１６】駆動部６は、制御部１から駆動信号を受け
て、下部カメラ３の位置を米粒載置板４と平行な面上で
縦横に移動させ、且つ下部カメラ３を撮像軸Ａ２回りに
回動させる。
て、下部カメラ３の位置を米粒載置板４と平行な面上で
縦横に移動させ、且つ下部カメラ３を撮像軸Ａ２回りに
回動させる。
【００１７】重量センサ７は米粒載置板４上に載置され
た米粒の総重量を検出して、制御部１に出力する。
た米粒の総重量を検出して、制御部１に出力する。
【００１８】制御部１は、位置決め手段１ａと評価手段
１ｂとを有している。位置決め手段１ａは、初期設定時
において、上部カメラ２の撮像画像に基づいて、下部カ
メラ３が上部カメラ２と同一の撮像領域を左右反転して
撮像するように、下部カメラ３の位置及び撮像軸回りの
角度を調整する。即ち、位置決め手段１ａは、図３に示
すような白色のマーク点８ａ、８ｂを有する透明部材よ
りなる位置決板８が、図４に示すように米粒載置板４上
に設置された場合の上部カメラ２からの撮像画像Ｂ１
（図５（ａ））より、下部カメラ３の位置及び撮像軸回
りの角度を決定する。撮像画像Ｂ１は、左上の座標がＰ
０（０，０）、右下の座標がＰ１（ｘ１，ｙ１）である
画像であり、マーク点８ａ，８ｂのみが写されている。
位置決め手段１ａは、マーク点８ａ，８ｂの画像Ｂ１上
での座標Ｐａ（ｘａ，ｙａ）、Ｐｂ（ｘｂ，ｙｂ）を検
出する。そして、位置決め手段１ａは、下部カメラ３の
撮像画像Ｂ２において、マーク点８ａが座標Ｐｃ（ｘ１
−ｘａ、ｙａ）、マーク点８ｂが座標Ｐｄ（ｘ１−ｘ
ｂ，ｙｂ）となるように（図５（ｂ））、駆動部６に駆
動信号を出力して、下部カメラ３の位置を調整する。
１ｂとを有している。位置決め手段１ａは、初期設定時
において、上部カメラ２の撮像画像に基づいて、下部カ
メラ３が上部カメラ２と同一の撮像領域を左右反転して
撮像するように、下部カメラ３の位置及び撮像軸回りの
角度を調整する。即ち、位置決め手段１ａは、図３に示
すような白色のマーク点８ａ、８ｂを有する透明部材よ
りなる位置決板８が、図４に示すように米粒載置板４上
に設置された場合の上部カメラ２からの撮像画像Ｂ１
（図５（ａ））より、下部カメラ３の位置及び撮像軸回
りの角度を決定する。撮像画像Ｂ１は、左上の座標がＰ
０（０，０）、右下の座標がＰ１（ｘ１，ｙ１）である
画像であり、マーク点８ａ，８ｂのみが写されている。
位置決め手段１ａは、マーク点８ａ，８ｂの画像Ｂ１上
での座標Ｐａ（ｘａ，ｙａ）、Ｐｂ（ｘｂ，ｙｂ）を検
出する。そして、位置決め手段１ａは、下部カメラ３の
撮像画像Ｂ２において、マーク点８ａが座標Ｐｃ（ｘ１
−ｘａ、ｙａ）、マーク点８ｂが座標Ｐｄ（ｘ１−ｘ
ｂ，ｙｂ）となるように（図５（ｂ））、駆動部６に駆
動信号を出力して、下部カメラ３の位置を調整する。
【００１９】評価手段１ｂは、検査動作時において、重
量センサ７から入力される重量と上部カメラ２からの撮
像画像と下部カメラ３からの撮像画像とにより、米粒載
置板４上に載置された米粒の１粒の平均重量と、全体の
米粒の正常品と不良品との比率を検査するものである。
量センサ７から入力される重量と上部カメラ２からの撮
像画像と下部カメラ３からの撮像画像とにより、米粒載
置板４上に載置された米粒の１粒の平均重量と、全体の
米粒の正常品と不良品との比率を検査するものである。
【００２０】なお、上部カメラ２、下部カメラ３、重量
センサ７及びその他背景は、黒色若しくはそれに近い色
で着色されており、制御部１における画像処理におい
て、米粒及びマーク点８ａ，８ｂが容易に検出できるよ
うにしている。
センサ７及びその他背景は、黒色若しくはそれに近い色
で着色されており、制御部１における画像処理におい
て、米粒及びマーク点８ａ，８ｂが容易に検出できるよ
うにしている。
【００２１】次に、米粒検査装置の初期設定時における
下部カメラ３の位置決め操作を説明する。
下部カメラ３の位置決め操作を説明する。
【００２２】まず操作者は、図４に示すように、米粒載
置板４上に位置決板８を載置する。上部カメラ２は上方
から位置決板８を撮像し、撮像画像Ｂ１を制御部１に出
力する。制御部１の位置決め手段１ａは、撮像画像Ｂ１
からマーク点８ａの座標Ｐａ（ｘａ，ｙａ）とマーク点
８ｂの座標Ｐｂ（ｘｂ，ｙｂ）とを検出する。そして、
位置決め手段１ａは、下部カメラ３の撮像画像Ｂ２にお
いて、マーク点８ａが画像上での座標Ｐｃ（ｘ１−ｘ
ａ、ｙａ）、マーク点８ｂが画像上での座標Ｐｄ（ｘ１
−ｘｂ，ｙｂ）となるように、駆動部６に駆動信号を出
力して、下部カメラ３の位置を調整する。
置板４上に位置決板８を載置する。上部カメラ２は上方
から位置決板８を撮像し、撮像画像Ｂ１を制御部１に出
力する。制御部１の位置決め手段１ａは、撮像画像Ｂ１
からマーク点８ａの座標Ｐａ（ｘａ，ｙａ）とマーク点
８ｂの座標Ｐｂ（ｘｂ，ｙｂ）とを検出する。そして、
位置決め手段１ａは、下部カメラ３の撮像画像Ｂ２にお
いて、マーク点８ａが画像上での座標Ｐｃ（ｘ１−ｘ
ａ、ｙａ）、マーク点８ｂが画像上での座標Ｐｄ（ｘ１
−ｘｂ，ｙｂ）となるように、駆動部６に駆動信号を出
力して、下部カメラ３の位置を調整する。
【００２３】以上で、下部カメラ３の位置決めが終了
し、上部カメラ２の撮像画像と下部カメラ３の撮像画像
とは撮像領域が同一であり左右が対称となる。
し、上部カメラ２の撮像画像と下部カメラ３の撮像画像
とは撮像領域が同一であり左右が対称となる。
【００２４】次に、米粒検査装置の米粒の品質の検査の
動作を説明する。まず操作者は、図６に示すように、米
粒載置板４上に米粒を各凹部４ａに１粒づつ、所定個数
を載置する。次に、照明装置５は米粒載置板４を上方か
ら照射し、上部カメラ２は米粒載置板４を上方から撮像
する。即ち、上部カメラ２は照明装置５により照射され
た光を反射する米粒を撮像する。下部カメラ３は米粒載
置板４を下方から撮像する。即ち、下部カメラ３は照明
装置５により照射された光が透過している米粒を撮像す
る。重量センサ７は、米粒載置板４上の米粒の総重量を
検出する。
動作を説明する。まず操作者は、図６に示すように、米
粒載置板４上に米粒を各凹部４ａに１粒づつ、所定個数
を載置する。次に、照明装置５は米粒載置板４を上方か
ら照射し、上部カメラ２は米粒載置板４を上方から撮像
する。即ち、上部カメラ２は照明装置５により照射され
た光を反射する米粒を撮像する。下部カメラ３は米粒載
置板４を下方から撮像する。即ち、下部カメラ３は照明
装置５により照射された光が透過している米粒を撮像す
る。重量センサ７は、米粒載置板４上の米粒の総重量を
検出する。
【００２５】評価手段１ｂは、上部カメラ２の撮像画像
から個々の米粒について反射光評価を行い、下部カメラ
３の撮像画像から個々の米粒について透過光評価を行
う。反射光評価とは１粒の米粒の反射する光の画像上で
の輝度を検出するものであり、透過光評価とは１粒の米
粒を透過する光の画像上での輝度を検出するものであ
る。また、評価手段１ｂは重量センサ７の出力する総重
量を米粒載置板４上の全体の米粒の数で割って、一粒あ
たりの平均重量を算出する。そして、評価手段１ｂは、
反射光評価と透過光評価から、米粒載置板４上の米粒の
正常品と不良品との比率を算出する。
から個々の米粒について反射光評価を行い、下部カメラ
３の撮像画像から個々の米粒について透過光評価を行
う。反射光評価とは１粒の米粒の反射する光の画像上で
の輝度を検出するものであり、透過光評価とは１粒の米
粒を透過する光の画像上での輝度を検出するものであ
る。また、評価手段１ｂは重量センサ７の出力する総重
量を米粒載置板４上の全体の米粒の数で割って、一粒あ
たりの平均重量を算出する。そして、評価手段１ｂは、
反射光評価と透過光評価から、米粒載置板４上の米粒の
正常品と不良品との比率を算出する。
【００２６】〔第二実施の形態〕図７は米粒検査装置の
構成図である。なお、図７においては前述の第一実施の
形態で説明したところの米粒検査装置と同等の箇所には
同じ符号を付してあるので、同等の箇所の詳細な説明は
省略する。
構成図である。なお、図７においては前述の第一実施の
形態で説明したところの米粒検査装置と同等の箇所には
同じ符号を付してあるので、同等の箇所の詳細な説明は
省略する。
【００２７】図７に示す第二実施の形態の米粒検査装置
が、前述の第一実施の形態で説明したところの米粒検査
装置と異なり特徴となるのは次の構成である。
が、前述の第一実施の形態で説明したところの米粒検査
装置と異なり特徴となるのは次の構成である。
【００２８】即ち、第一実施の形態では、米粒載置板４
の上方と下方とにカメラを配し、照明装置５を米粒載置
板４の上方にのみ配していたが、第二実施の形態では上
方カメラ２のみを配し、一方、照明装置５ａ，５ｂを米
粒載置板の上方と下方とに配するようにした構成であ
る。また、下部カメラ３を設けていないので、位置決め
手段１ａ及び駆動部６は設けていない。
の上方と下方とにカメラを配し、照明装置５を米粒載置
板４の上方にのみ配していたが、第二実施の形態では上
方カメラ２のみを配し、一方、照明装置５ａ，５ｂを米
粒載置板の上方と下方とに配するようにした構成であ
る。また、下部カメラ３を設けていないので、位置決め
手段１ａ及び駆動部６は設けていない。
【００２９】そして、米粒の反射光による画像は、照明
装置５ｂを消灯して照明装置５ａを点灯させ、上方カメ
ラ２で撮像領域を撮像することにより得て、一方、米粒
の透過光による画像は、照明装置５ａを消灯して照明装
置５ｂを点灯させ、上方カメラ２で撮像領域を撮像する
ことにより得られる。
装置５ｂを消灯して照明装置５ａを点灯させ、上方カメ
ラ２で撮像領域を撮像することにより得て、一方、米粒
の透過光による画像は、照明装置５ａを消灯して照明装
置５ｂを点灯させ、上方カメラ２で撮像領域を撮像する
ことにより得られる。
【００３０】従って、評価手段１ｂは、上部カメラ２か
ら出力される米粒の反射光による画像と透過光による画
像と、重量センサ７から出力される総重量に基づいて、
米粒の品質を検査できる。
ら出力される米粒の反射光による画像と透過光による画
像と、重量センサ７から出力される総重量に基づいて、
米粒の品質を検査できる。
【００３１】
【発明の効果】本発明の米粒検査装置は上述のように構
成してあるから、請求項１記載の発明にあっては、照明
装置が米粒載置板に載置された米粒を照射し、第一の撮
像部は米粒の反射光を撮像し、第二の撮像部は米粒の透
過光を撮像し、制御部が第一の撮像部の撮像映像と第二
の撮像部の撮像映像とから米粒載置板上の米粒の品質を
算出するので、作業者は米粒を米粒載置板上に載置する
だけでよく負担が軽減され、画像上の輝度から正常品と
不良品とを判断するので、検査基準を一定にして正常品
の品質を一定とすることのできる米粒検査装置を提供す
ることができるという効果を奏する。
成してあるから、請求項１記載の発明にあっては、照明
装置が米粒載置板に載置された米粒を照射し、第一の撮
像部は米粒の反射光を撮像し、第二の撮像部は米粒の透
過光を撮像し、制御部が第一の撮像部の撮像映像と第二
の撮像部の撮像映像とから米粒載置板上の米粒の品質を
算出するので、作業者は米粒を米粒載置板上に載置する
だけでよく負担が軽減され、画像上の輝度から正常品と
不良品とを判断するので、検査基準を一定にして正常品
の品質を一定とすることのできる米粒検査装置を提供す
ることができるという効果を奏する。
【００３２】請求項２記載の発明にあっては、請求項１
記載の発明の効果に加えて、位置決め手段は、該駆動部
に対して、第一の撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮
像映像とが対称となるように第二の撮像部の位置を変更
させるので、第一の撮像部の撮像映像上に複数表示され
る米粒と第二の撮像部の撮像映像上に複数表示される米
粒との各々の対応関係を容易に取ることができ、素早く
検査処理できる米粒検査装置を提供することができると
いう効果を奏する。
記載の発明の効果に加えて、位置決め手段は、該駆動部
に対して、第一の撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮
像映像とが対称となるように第二の撮像部の位置を変更
させるので、第一の撮像部の撮像映像上に複数表示され
る米粒と第二の撮像部の撮像映像上に複数表示される米
粒との各々の対応関係を容易に取ることができ、素早く
検査処理できる米粒検査装置を提供することができると
いう効果を奏する。
【００３３】請求項３記載の発明にあっては、第一の照
明装置が米粒載置板に載置された米粒を上方から照射
し、第二の照明装置が米粒載置板に載置された米粒を下
方から照射し、撮像部は第一の照明装置が米粒を照射し
ている場合には米粒の反射光を撮像し、第二の照明装置
が米粒を照射している場合には米粒の透過光を撮像し、
制御部が反射光の映像と透過光の映像とから米粒載置板
上の米粒の品質を算出するので、撮像部の位置決め作業
が不要であり、また作業者は米粒を米粒載置板上に載置
するだけでよいので負担が軽減され、画像上の輝度から
正常品と不良品とを判断するので、検査基準を一定にし
て正常品の品質を一定とすることのできる米粒検査装置
を提供することができるという効果を奏する。
明装置が米粒載置板に載置された米粒を上方から照射
し、第二の照明装置が米粒載置板に載置された米粒を下
方から照射し、撮像部は第一の照明装置が米粒を照射し
ている場合には米粒の反射光を撮像し、第二の照明装置
が米粒を照射している場合には米粒の透過光を撮像し、
制御部が反射光の映像と透過光の映像とから米粒載置板
上の米粒の品質を算出するので、撮像部の位置決め作業
が不要であり、また作業者は米粒を米粒載置板上に載置
するだけでよいので負担が軽減され、画像上の輝度から
正常品と不良品とを判断するので、検査基準を一定にし
て正常品の品質を一定とすることのできる米粒検査装置
を提供することができるという効果を奏する。
【００３４】請求項４記載の発明にあっては、請求項１
または請求項２または請求項３記載の発明の効果に加え
て、米粒載置板の凹部は１粒の米粒が入るので、米粒を
米粒載置板上の所定の位置に容易に配することができる
米粒検査装置を提供することができるという効果を奏す
る。
または請求項２または請求項３記載の発明の効果に加え
て、米粒載置板の凹部は１粒の米粒が入るので、米粒を
米粒載置板上の所定の位置に容易に配することができる
米粒検査装置を提供することができるという効果を奏す
る。
【００３５】請求項５記載の発明にあっては、請求項１
または請求項２または請求項３または請求項４記載の発
明の効果に加えて、重量センサが米粒載置板上に載置さ
れた米粒の重量を検出するので、米粒載置板上に載置さ
れた米粒の平均重量を求めることのできる米粒検査装置
を提供することができるという効果を奏する。
または請求項２または請求項３または請求項４記載の発
明の効果に加えて、重量センサが米粒載置板上に載置さ
れた米粒の重量を検出するので、米粒載置板上に載置さ
れた米粒の平均重量を求めることのできる米粒検査装置
を提供することができるという効果を奏する。
【図１】本発明の米粒検査装置の一例を示す構成図であ
る。
る。
【図２】米粒載置板の正面図である。
【図３】位置決板の正面図である。
【図４】位置決板を米粒載置板上に載置した場合の側面
図である。
図である。
【図５】位置決板を米粒検査装置に取り付けたときのカ
メラ画像のイメージ図である。
メラ画像のイメージ図である。
【図６】米粒載置板に米粒を載置した場合の側面図であ
る。
る。
【図７】本発明の米粒検査装置の他の例を示す構成図で
ある。
ある。
１ 制御部 １ａ 位置決め手段 ２ 第一の撮像部 ３ 第二の撮像部 ４ 米粒載置板 ４ａ 凹部 ５ 照明装置 ５ａ 第一の照明装置 ５ｂ 第二の照明装置 ６ 駆動部 ７ 重量センサ
Claims (5)
- 【請求項１】 米粒を載置する米粒載置板と、米粒載置
板の一面に対向する第一の撮像部と、米載置板の他の面
に対向する第二の撮像部と、米粒載置板の一面に対向す
る照明装置と、第一の撮像部の撮像映像と第二の撮像部
の撮像映像とから米粒載置板上の米粒の品質を算出する
制御部とを有することを特徴とする米粒検査装置。 - 【請求項２】 第二の撮像部の位置を変更する駆動部
と、該駆動部に対して、第一の撮像部の撮像映像と第二
の撮像部の撮像映像とが対称となるように第二の撮像部
の位置を変更させる位置決め手段とを有する請求項１記
載の米粒検査装置。 - 【請求項３】米粒を載置する米粒載置板と、米粒載置板
の一面に対向する撮像部と、米粒載置板の一面に対向す
る第一の照明装置と、米粒載置板の他の面に対向する第
二の照明装置と、第一の照明装置が点灯しているときの
撮像部の撮像映像と、第二の照明装置が点灯していると
きの撮像部の撮像映像とから米粒載置板上の米粒の品質
を算出する制御部とを有することを特徴とする米粒検査
装置。 - 【請求項４】 上記米粒載置板は、米粒の入る凹部を上
面に有することを特徴とする請求項１または請求項２ま
たは請求項３記載の米粒検査装置。 - 【請求項５】 米粒載置板上に載置された米粒の重量を
検出する重量センサを有することを特徴とする請求項１
または請求項２または請求項３または請求項４記載の米
粒検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1101396A JPH09203709A (ja) | 1996-01-25 | 1996-01-25 | 米粒検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1101396A JPH09203709A (ja) | 1996-01-25 | 1996-01-25 | 米粒検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09203709A true JPH09203709A (ja) | 1997-08-05 |
Family
ID=11766241
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1101396A Pending JPH09203709A (ja) | 1996-01-25 | 1996-01-25 | 米粒検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09203709A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000077034A (ko) * | 1999-04-22 | 2000-12-26 | 사따께 사또루 | 입상물의 품질을 평가하기 위한 장치 및 방법 |
| JP2002162357A (ja) * | 2000-11-22 | 2002-06-07 | Kett Electric Laboratory | 穀粒の品質判定用整列装置 |
| KR20030022661A (ko) * | 2001-09-10 | 2003-03-17 | 가부시키가이샤 야마모토세이사쿠쇼 | 곡립 품질 판정 시료 용기, 곡립 품질 판정기, 곡립 품질판정 장치, 곡립 화상 판독 장치, 곡립 화상 판독 장치용시료 정렬 지그, 시료 정렬 방법, 및 곡립 화상 판독장치용 시료 정렬기 |
| JP2020173209A (ja) * | 2019-04-12 | 2020-10-22 | 東京技研工業株式会社 | 画像検査装置 |
| JPWO2022080373A1 (ja) * | 2020-10-15 | 2022-04-21 |
-
1996
- 1996-01-25 JP JP1101396A patent/JPH09203709A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000077034A (ko) * | 1999-04-22 | 2000-12-26 | 사따께 사또루 | 입상물의 품질을 평가하기 위한 장치 및 방법 |
| JP2002162357A (ja) * | 2000-11-22 | 2002-06-07 | Kett Electric Laboratory | 穀粒の品質判定用整列装置 |
| KR20030022661A (ko) * | 2001-09-10 | 2003-03-17 | 가부시키가이샤 야마모토세이사쿠쇼 | 곡립 품질 판정 시료 용기, 곡립 품질 판정기, 곡립 품질판정 장치, 곡립 화상 판독 장치, 곡립 화상 판독 장치용시료 정렬 지그, 시료 정렬 방법, 및 곡립 화상 판독장치용 시료 정렬기 |
| JP2020173209A (ja) * | 2019-04-12 | 2020-10-22 | 東京技研工業株式会社 | 画像検査装置 |
| JPWO2022080373A1 (ja) * | 2020-10-15 | 2022-04-21 | ||
| WO2022080373A1 (ja) * | 2020-10-15 | 2022-04-21 | 株式会社サタケ | 光学式選別機 |
| GB2614190A (en) * | 2020-10-15 | 2023-06-28 | Satake Eng Co Ltd | Optical sorting machine |
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