JPH09189568A

JPH09189568A - 収束値予測方法および装置

Info

Publication number: JPH09189568A
Application number: JP8002387A
Authority: JP
Inventors: Akira Miyamoto; 章宮本; Shunji Mori; 俊二森; Yuji Yamazawa; 雄二山沢; Koji Ono; 耕治大野; Takanori Ito; 貴則伊藤
Original assignee: Hitachi Ltd; Hitachi Naka Electronics Co Ltd; Hitachi Electric Systems Co Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd; Hitachi High Tech Control Systems Corp; Hitachi Electric Systems Co Ltd
Priority date: 1996-01-10
Filing date: 1996-01-10
Publication date: 1997-07-22

Abstract

(57)【要約】【課題】測定値に関する収束値を容易に予測するこ
と。【解決手段】被測定信号ｅをサンプルホールド回路１
２により各サンプリング周期毎にサンプリングし、この
サンプリング値をサンプリング周期間アナログメモリ３
０に記憶すると共に、引算回路１４を介して積分器１６
に入力する。積分器１６でサンプリング値とその後に入
力された被測定信号ｅとの偏差をサンプリング周期間順
次積分し、この積分値を次のサンプリング周期に相当す
る時間だけアナログメモリ４６に記憶すると共に、この
積分値に係数設定器２０で係数Ｋを積算し、この積算値
を加算器２２に転送する。そして、加算器２２で、積算
値とサンプリング値とを加算し、この加算値をサンプル
ホールド回路２４に転送し、この加算値を被測定信号の
収束値として、次のサンプリング周期に相当する時間だ
けアナログメモリ５０に記憶する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、収束値予測方法お
よび装置に係り、特に、水位、水圧などのプロセス量や
プラントの状態量など測定対象から得られた測定値の変
化の度合いが極めて緩やかな場合でも、その変化量の収
束値を精度よく予測するに好適な収束値予測方法および
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】プラントなどの測定対象を測定して得ら
れた測定値の変化量を検出する方法として、例えば、特
開昭６０−２４４２８号公報に記載されているものが知
られている。この方法は、被測定量を所定時間毎にサン
プリングして検出し、検出値を記憶するとともにその記
憶値とその後の被測定量とを比較してサンプリング周期
内における両者の差をサンプリング周期間積分し、この
積分値の大きさによって被測定量の変化量を検出するも
のである。この方法によれば、サンプリング周期間にお
ける測定値（被測定量）の変化量をサンプリング周期ご
とに断続的に検出することができる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の検出方
法では、測定値の変化量を断続的に検出することはでき
るが、測定値が収束すると予測される収束値を測定値か
ら予測することはできない。

【０００４】すなわち、測定値の変化はプロセス、プラ
ントなどを構成する機器（測定対象）の特性に依存して
おり、しかも、測定対象は、一次遅れ要素、二次遅れ要
素、三次遅れ要素、不感帯要素、むだ時間要素、非線形
要素などを含む複合体で構成されていることが多く、測
定対象の応答のしかたをすべて考慮して測定値に関する
収束値を予測することは困難である。さらに、測定値が
アナログ量で得られた場合、測定値は時々刻々と連続的
に変化するので、測定値の変化量を検出し、この検出値
から測定値に関する収束値を予測したとしても、予測に
より得られた収束値も時々刻々と変化し、予測した収束
値を事前警報、異常警報などの設定値に利用することは
実用上困難である。なお、コンピュータを用いて測定値
を統計的手法で処理したり、制御対象に関する制御モデ
ルに測定値を適用したりして測定値に関する収束値を予
測する方法を採用することもできるが、この方法では、
測定対象に応じてプログラムや制御モデルを作成しなけ
らばならず、構成が複雑になるとともに汎用性が低下す
る。

【０００５】本発明の目的は、測定対象についての測定
値から測定値に関する収束値を容易に予測することがで
きる収束値予測方法および装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、測定対象についての測定値を示す被測定
信号を入力してサンプリングし、このサンプリングによ
り得られたサンプリング値を記憶し、この記憶値とその
後に入力された被測定信号とを順次比較して所定時間内
における両者の偏差を積分し、この積分値に係数を積算
し、この積算値と記憶されたサンプリング値とを加算
し、この加算値から被測定信号の収束値を予測する収束
値予測方法を採用したものである。

【０００７】また、本発明は、被測定信号を所定周期毎
にサンプリングするものとして、測定対象についての測
定値を示す被測定信号を入力して所定周期毎に順次サン
プリングし、このサンプリングにより得られたサンプリ
ング値を順次記憶し、この記憶値とその後に入力された
被測定信号とを順次比較してサンプリング周期内におけ
る両者の偏差を積分し、この積分値を次のサンプリング
周期間記憶し、記憶した積分値に係数を積算し、この積
算値とこの積算値に関連する積分値に属する値として記
憶されたサンプリング値とを加算し、この加算値から被
測定信号の収束値を予測する収束値予測方法を採用した
ものである。この場合、この加算値を記憶し、記憶した
加算値から被測定信号の収束値を予測する方法とするこ
ともできる。

【０００８】前記各方法を採用するに際しては、積分値
に積算される係数を、測定対象の応答遅れに相当する時
間を積分時間の２乗で除算した値に設定することができ
る。

【０００９】また、本発明は、測定対象についての測定
値を示す被測定信号を入力してサンプリングするサンプ
リング手段と、サンプリング手段のサンプリングにより
得られたサンプリング値を記憶するサンプリング値記憶
手段と、サンプリング値記憶手段の記憶値とこの記憶値
に対応した被測定信号より後に入力された被測定信号と
を順次比較して所定時間内における両者の偏差を積分す
る積分手段と、積分手段の積分による積分値に係数を積
算する係数積算手段と、係数積算手段の積算による積算
値とサンプリング値記憶手段に記憶されたサンプリング
値とを加算し加算値を被測定信号の収束値に関する予測
値として出力する加算手段とを備えている収束値予測装
置を構成したものである。

【００１０】さらに、本発明は、被測定信号を所定周期
毎にサンプリングする装置として、測定対象についての
測定値を示す被測定信号を入力して所定周期毎にサンプ
リングするサンプリング手段と、サンプリング手段のサ
ンプリングにより得られたサンプリング値をサンプリン
グ周期間順次記憶するサンプリング値記憶手段と、サン
プリング値記憶手段の記憶値とこの記憶値に対応した被
測定信号より後に入力された被測定信号とを順次比較し
てサンプリング周期内における両者の偏差を積分する積
分手段と、積分手段の積分による積分値を次のサンプリ
ング周期間記憶する積分値記憶手段と、積分値記憶手段
に記憶された積分値に係数を積算する係数積算手段と、
係数積算手段の積算による積算値とサンプリング値記憶
手段に記憶されたサンプリング値とを加算し加算値を被
測定信号の収束値に関する信号として出力する加算手段
とを備えている収束値予測装置を構成したものである。
この装置を構成する場合、加算手段の出力による収束値
を記憶する収束値記憶手段を設けることもできる。

【００１１】前記各収束値予測装置を構成するに際して
は、係数積算手段の係数は、測定対象の応答遅れに相当
する時間を積分時間の２乗で除算した値に設定してなる
ものとすることができる。

【００１２】前記した手段によれば、測定対象の応答を
すべて一次遅れとみると、被測定信号に関する収束値
は、被測定信号の現在値と、測定対象の時定数×被測定
信号の微分値との和で表される。しかも、被測定信号の
微分値は、被測定信号の所定時間（サンプリング周期
間）における積分値と定数とを積算した式で表される。
そして、定数と測定対象の時定数とを積算したものを係
数とすると、被測定信号の現在値は被測定信号をサンプ
リングして得られたサンプリング値で表され、測定対象
の時定数×被測定信号の微分値は、係数と被測定信号の
所定時間（サンプリング期間）における積分値との積で
表される。このため、被測定信号に関するサンプリング
値と被測定信号を所定時間（サンプリング周期間）積分
した積分値とを加算すれば、この加算値から被測定信号
に関する収束値を予測することができる。

【００１３】測定対象の応答をすべて一次遅れとみなし
た場合、被測定信号に関する収束値がすべての測定対象
について高精度に得られることはない。しかし、測定対
象を制御する自動制御系における制御設定値の近傍、例
えば、±３０％以内や異常値近傍、例えば、上限異常値
の＋３０％内、下限異常値の−３０％内では、制御対象
の応答は一次遅れに近く、測定対象の応答をすべて一次
遅れとみなして得られた収束値を制御信号や警報信号の
設定値等に用いても十分実用に供せられる。

【００１４】さらに、収束値を一定時間記憶すること
で、収束値が被測定信号の変化に応じて時々刻々変換す
るのを防止することができ、収束値を制御信号や警報信
号の設定値等に用いても、制御系や測定系に不必要なじ
ょう乱を与えるの防止することができる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
に基づいて説明する。

【００１６】図１は、本発明の一実施形態を示す収束値
予測装置の全体構成図である。

【００１７】図１において、収束値予測装置は、サンプ
ルホールド回路１２、引算回路１４、積分器１６、サン
プルホールド回路１８、係数設定器２０、加算器２２、
サンプルホールド回路２４を備えており、サンプルホー
ルド回路１２が入力端子１０に接続され、サンプルホー
ルド回路２４が出力端子２６に接続されている。

【００１８】入力端子１０には、測定対象（プロセス、
プラントなど）を測定して得られた測定値を示す被測定
信号、例えば、水道施設などにおける水位、水圧、火力
発電プラントの温度、圧力、電圧、電流等に関する信号
が入力されている。サンプルホールド回路１２は、スイ
ッチ２８、アナログメモリ３０を備えており、入力端子
１０から被測定信号ｅを入力すると共に、タイミングパ
ルス発生器（図示省略）から出力されるタイミングパル
ス１００を所定の周期で順次受け、図２（ａ）〜（ｃ）
に示すように、タイミングパルス１００に応答してスイ
ッチ２８を一定時間のみ閉じて被測定信号ｅをサンプリ
ング周期毎に順次サンプリングし、サンプリングにより
得られたサンプリング値（アナログ値）ｅ１、ｅ２、ｅ
３を各サンプリング周期間アナログメモリ３０に記憶
し、記憶したサンプリング値ｅ１、ｅ２、ｅ３を順次引
算回路１４に出力するサンプリング手段およびサンプリ
ング値記憶手段を構成するようになっている。

【００１９】引算回路１４は抵抗３２、３４、インバー
タ３６を備えて構成されており、サンプルホールド回路
１２の出力信号を抵抗３２を介して積分器１６に出力す
るとともに、入力端子１０に入力された被測定信号ｅを
インバータ３６で反転し、反転した信号を抵抗３４を介
して積分器１６に出力するようになっている。すなわ
ち、引算回路１４は、サンプルホールド回路１２に記憶
されたサンプリング値とその後に入力された被測定信号
ｅとの偏差を算出する偏差算出手段を構成するようにな
っている。積分器１６は、リセットスイッチ３８、コン
デンサ４０、演算増幅器４２を備えて構成されており、
演算増幅器４２の入出力間にリセットスイッチ３８、コ
ンデンサ４０がそれぞれ並列に接続されている。積分器
４２は、図２（ａ）、（ｅ）に示すように、リセットス
イッチ３８が開いているときに、引算回路１４の出力信
号を各サンプリング周期間（Δｔ０〜Δｔ３）積分し、
積分値Ｓ０、Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３を順次サンプルホールド
回路１８に出力するようになっている。リセットスイッ
チ３８は、スイッチ２８と同期してタイミングパルス１
００により接点を一定時間のみ閉じて積分器４２による
積分値をリセットするようになっている。すなわち、引
算回路１４と積分器１６は、サンプルホールド回路１２
に記憶されたサンプリング値とその後に入力された被測
定信号ｅとを順次比較して各サンプリング周期内におけ
る両者の偏差を積分する積分手段として構成されてい
る。

【００２０】サンプルホールド回路１８は、スイッチ４
４、アナログメモリ４６を備えて構成されている。スイ
ッチ４４は、図２（ｄ）に示すように、タイミングパル
ス１０２（タイミングパルス１００が発生する直前に発
生するタイミングパルス）に応答して一定時間のみ接点
を閉じ、積分器１６による積分値Ｓ０、Ｓ１、Ｓ２、Ｓ
３を順次アナログメモリ４６に転送するようになってい
る。アナログメモリ４６はスイッチ４４から順次転送さ
れる積分値Ｓ０、Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３をそれぞれ次のサン
プリング周期間記憶するようになっている。例えば、サ
ンプリング周期Δｔ１で得られた積分値Ｓ１を次のサン
プリング周期Δｔ２の間（正確に次のサンプリング周期
に相当する時間）だけ記憶する。すなわち、サンプルホ
ールド回路１８は、積分器１６により各サンプリング周
期毎に積分された積分値を次のサンプリング周期間記憶
する積分値記憶手段として構成されている。

【００２１】係数設定器２０はサンプルホールド回路１
８の出力に係数を積算する係数積算手段を構成するよう
になっており、係数設定器２０の出力が加算器２２に入
力されている。加算器２２は、係数設定器２０の出力と
サンプルホールド回路１２の出力とを加算し、この加算
値を被測定信号ｅの収束値に関する予測値として出力す
る加算手段として構成されている。具体的には、係数設
定器２０と加算器２２は以下の点を考慮して構成されて
いる。

【００２２】（１）被測定信号の収束値を自動制御系の
フィードバック値として使用する場合：制御設定値近
傍、例えば、設定値の±３０％内では、制御対象は、ほ
とんど一次遅れに近い応答を示す。また、設定値の誤差
は自動制御系の制御ループ内で吸収される（自動制御系
では、偏差が０になるように補正される）。

【００２３】（２）被測定信号の収束値を異常警報に使
用する場合：異常値の近傍、例えば、異常値の±３０％
内では、一般に、機械（制御対象）の経済的設計の考え
方により、異常値は飽和するので、制御対象は、ほとん
ど一次遅れに近い応答を示す。

【００２４】（１）〜（２）で示したことを考慮する
と、被測定信号の収束値を、例えば、自動制御系のフィ
ードバック信号として使用したり、プロセス量の異常警
報用に使用したりすることに限定すれば、測定対象の応
答を一次遅れで近似してもほとんど問題なく実用化でき
る。

【００２５】そこで、測定対象の応答を一次遅れとみな
すと、被測定信号については次の式が成り立つ。

【００２６】すなわち、被測定信号をＥ（ｔ）とし、Ｅ
（ｔ）のｔ＝０のときの値を０とし、ｔ＝ｔにおけるＥ
（ｔ）の応答を一次遅れとすると、被測定信号Ｅ（ｔ）
は次の数１式で表せる。

【００２７】

【数１】

【００２８】

【数２】

【００２９】

【数３】

【００３０】数３から、現在値と、Ｔ×微分値（変化
率）が検出できれば、被測定信号の収束値（予測値）が
求められることになる。

【００３１】ここで、図３に示すように、被測定信号を
ｙ＝ａｘｔで表した場合、積分器１６の積分値Ｓはサン
プリング周期Δｔを底辺とし、変化量εを高さとする三
角形の面積に相当し、次の式で表せる。Ｓ＝（１／２）
×Δｔ×ε また、変化量εは、Δｔ×ｄＥ／ｄｔで表せるから、Ｓ
＝（１／２）×Δｔ×ε＝（１／２）×Δｔ×Δｔ×ｄ
Ｅ／ｄｔとなる。このため、ｄＥ／ｄｔ＝２／（Δｔ）
²×Ｓで表せる。従って、前記数３式は次の数４式で表
せる。

【００３２】

【数４】

【００３３】数４式から分かるように、係数設定器２０
には、係数Ｋ＝Ｔ×２／（Δｔ）²が設定されており、
この係数Ｋが係数設定器２０で積分器１６の積分値Ｓ
（サンプルホールド回路１８の出力）に積算される。な
お、Ｔは、制御対象（プロセス、プラント）の応答によ
って定まる時定数である。

【００３４】一方、加算器２２には、係数設定器２０の
出力（Ｔ×２／（Δｔ）²×Ｓ）ととともに、Ｅ（ｔ）
の現在値として、サンプルホールド回路１２のサンプリ
ング値が入力されている。このため、サンプルホールド
回路１８から係数設定器２０に各サンプリング周期毎に
積分値Ｓ０、Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３が入力されると、この積
分値に係数Ｋが積算され、係数設定器２０からは、図２
（ｆ）に示すような信号が出力される。この信号が加算
器２２において、図２（ｃ）に示すサンプリング値と加
算されると、加算器２２からは、図２（ｇ）に示すよう
に、収束値を示す信号が出力される。このように、加算
器２２において、数４式に従った演算を実行すること
で、被測定信号の収束値を予測演算することができる。
そして、この収束値は、サンプルホールド回路２４を介
して出力端子２６から出力される。

【００３５】サンプルホールド回路２４は、スイッチ４
８、アナログメモリ５０を備えて構成されている。スイ
ッチ４８は、タイミングパルス１０２によりスイッチ４
４と同期して一定時間のみ接点を閉じ、加算器２２から
の信号をアナログメモリ５０に転送するようになってい
る。アナログメモリ５０は、スイッチ４８からの信号を
各サンプリング周期間記憶し、記憶した信号を出力端子
２６に順次出力するようになっている。すなわち、サン
プルホールド回路２４は、加算器２２からの信号（収束
値）を記憶する収束値（予測値）記憶手段として構成さ
れている。そして、一定時間記憶される収束値を用いる
ことで、収束値が被測定信号の変化に応じて時々刻々変
換するのを防止することができる。さらに、一定時間記
憶される収束値を、事前警報や異常警報の設定値等に用
いても、制御系や測定系に不必要なじょう乱（ハンチン
グ、オーバーシュート）を与えるの防止することができ
る。

【００３６】上記構成において、図２に示すように、入
力端子１０に被測定信号ｅが入力されたときに、この被
測定信号ｅを時刻ｔ１でサンプルホールド回路１２がサ
ンプリングすると、サンプリング値ｅ１がサンプリング
周期Δｔ１間アナログメモリ３０に記憶されると共に、
サンプリング値ｅ１が引算回路１４を介して積分器１６
に入力される。積分器１６はサンプリング値ｅ１とその
後に入力された被測定信号ｅとの偏差をサンプリング周
期Δｔ１間順次積分する。積分器１６により得られた積
分値Ｓ１は、時刻ｔ２でタイミングパルス１００に同期
してリセットされるが、リセットされる直前の積分値Ｓ
１がタイミングパルス１０２に同期してサンプルホール
ド回路１８のアナログメモリ４６に記憶される。この積
分値Ｓ１は次のサンプリング周期Δｔ２に相当する時間
アナログメモリ４６に記憶されると共に、係数設定器２
０に転送される。係数設定器２０で積分値Ｓ１に係数Ｋ
が積算されると、この積算値Ｍ２が加算器２２に転送さ
れる。加算器２２では、積算値Ｍ２とサンプリング値ｅ
１とを加算し、加算値をサンプルホールド回路２４に転
送する。サンプルホールド回路２４ではタイミングパル
ス１０２に同期して加算値を次のサンプリング周期Δｔ
２に相当する時間アナログメモリ５０に記憶する。

【００３７】次に、被測定信号ｅを時刻ｔ２でサンプル
ホールド回路１２がサンプリングすると、サンプリング
値ｅ２がサンプリング周期Δｔ２間アナログメモリ３０
に記憶されると共に、サンプリング値ｅ２が引算回路１
４を介して積分器１６に入力される。積分器１６がサン
プリング値ｅ２とその後に入力された被測定信号ｅとの
偏差をサンプリング周期Δｔ２間順次積分すると、時刻
ｔ３でタイミングパルス１００に同期してリセットされ
る直前の積分値Ｓ２がタイミングパルス１０２に同期し
てサンプルホールド回路１８のアナログメモリ４６に記
憶される。この積分値Ｓ２は次のサンプリング周期Δｔ
３に相当する時間アナログメモリ４６に記憶されると共
に、係数設定器２０に転送される。係数設定器２０で積
分値Ｓ２に係数Ｋが積算されると、この積算値Ｍ３が加
算器２２に転送される。加算器２２では、積算値Ｍ３と
サンプリング値ｅ２とが加算され、この加算値がサンプ
ルホールド回路２４に転送される。そして、この加算値
は次のサンプリング周期Δｔ３に相当する時間アナログ
メモリ５０に記憶される。

【００３８】このように、本実施形態においては、各サ
ンプリング周期毎に、現在値（サンプリング値）と、Ｔ
×微分値（係数設定器２０の出力）を検出し、各検出値
を加算し、この加算値を求めているため、この加算値
を、被測定信号の収束値（予測値）として用いることが
できる。しかも、測定対象の応答を一次遅れとみなして
いるため、各サンプリング周期で求められた収束値は、
図２（ｇ）に示すように、一定の値を示すことになる。

【００３９】前記実施形態においては、各サンプリング
周期毎に、現在値と、Ｔ×微分値（変化率）を検出し、
各検出値を加算するものについて述べたが、あるサンプ
リング周期のみについて、現在値と、Ｔ×微分値（変化
率）を検出し、各検出値を加算し、この加算値を被測定
信号の収束値として用いることもできる。

【００４０】また、前記実施形態においては、各サンプ
リング周期毎に算出された加算値を一定時間アナログメ
モリ５０に記憶するようにしているため、この加算値を
被測定信号の収束値として用いても、収束値が被測定信
号の変化に応じて時々刻々変換するのを防止することが
できる。さらに、一定時間記憶される収束値を、事前警
報や異常警報の設定値等に用いても、制御系や測定系に
不必要なじょう乱（ハンチング、オーバーシュート）を
与えるの防止することができる。

【００４１】また、本発明の応用例として、図４に示す
ように、指令値と設定値との偏差に応じた信号を出力す
る偏差信号発生器５２、偏差信号発生器５２の出力信号
を零に抑制するための制御信号をプロセス５６に出力す
る制御回路５４、プロセス５６の状態量を計測するセン
サ５８を有する制御システムのフィードバック系に収束
値予測装置を設けたものを構成することができる。この
場合、収束値予測装置は、センサ５８の出力（被測定信
号）から常に収束値を予測演算し、この予測演算値を設
定値としているので、図５（ａ）に示すように、プロセ
ス５６の応答がオーバーシュートすることなく、設定値
に近付けることができる。なお、従来の制御系の構成で
は、図５（ｂ）に示すように、プロセスの応答にオーバ
ーシュートが生じる。

【００４２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
測定対象の応答を一次遅れとみなし、被測定信号のサン
プリング値と被測定信号の時定数×微分値との和を基
に、被測定信号が収束すると予測される収束値を求める
ようにしたため、簡単な構成でも被測定信号から被測定
信号の収束値を予測することができる。さらに、予測演
算された収束値を自動制御系の設定値に用いても、制御
対象の応答にハンチングやオーバーシュートが生じるの
を防止することができ、制御対象を制御する制御系の制
御性能の向上および制御対象の信頼性の向上に寄与する
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態を示す収束値予測装置の全
体構成図である。

【図２】図１に示す装置の各部の動作を説明するための
波形図である。

【図３】被測定信号に対する積分値の算出方法を説明す
るための図である。

【図４】本発明の応用例を示すシステム構成図である。

【図５】図４に示すシステムの特性と従来システムの特
性を説明するための特性図である。

【符号の説明】

１０入力端子１２サンプルホールド回路１４引算回路１６積分器１８サンプルホールド回路２０係数設定器２２加算器２４サンプルホールド回路２６出力端子２８スイッチ３０アナログメモリ４４スイッチ４６アナログメモリ４８スイッチ５０アナログメモリ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者森俊二茨城県日立市東金沢町一丁目15番25号株式会社日立エレクトリックシステムズ内 (72)発明者山沢雄二東京都千代田区神田駿河台四丁目６番地株式会社日立製作所内 (72)発明者大野耕治茨城県東茨城郡内原町三湯字訳山500番地日立那珂エレクトロニクス株式会社内 (72)発明者伊藤貴則茨城県東茨城郡内原町三湯字訳山500番地日立那珂エレクトロニクス株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】測定対象についての測定値を示す被測定
信号を入力してサンプリングし、このサンプリングによ
り得られたサンプリング値を記憶し、この記憶値とその
後に入力された被測定信号とを順次比較して所定時間内
における両者の偏差を積分し、この積分値に係数を積算
し、この積算値と記憶されたサンプリング値とを加算
し、この加算値から被測定信号の収束値を予測する収束
値予測方法。
【請求項２】測定対象についての測定値を示す被測定
信号を入力して所定周期毎に順次サンプリングし、この
サンプリングにより得られたサンプリング値を順次記憶
し、この記憶値とその後に入力された被測定信号とを順
次比較してサンプリング周期内における両者の偏差を積
分し、この積分値を次のサンプリング周期間記憶し、記
憶した積分値に係数を積算し、この積算値とこの積算値
に関連する積分値に属する値として記憶されたサンプリ
ング値とを加算し、この加算値から被測定信号の収束値
を予測する収束値予測方法。
【請求項３】測定対象についての測定値を示す被測定
信号を入力して所定周期毎に順次サンプリングし、この
サンプリングにより得られたサンプリング値を順次記憶
し、この記憶値とその後に入力された被測定信号とを順
次比較してサンプリング周期内における両者の偏差を積
分し、この積分値を次のサンプリング周期間記憶し、記
憶した積分値に係数を積算し、この積算値とこの積算値
に関連する積分値に属する値として記憶されたサンプリ
ング値とを加算し、この加算値を記憶し、記憶した加算
値から被測定信号の収束値を予測する収束値予測方法。
【請求項４】積分値に積算される係数を、測定対象の
応答遅れに相当する時間を積分時間の２乗で除算した値
に設定する請求項１、２または３記載の収束値予測方
法。
【請求項５】測定対象についての測定値を示す被測定
信号を入力してサンプリングするサンプリング手段と、
サンプリング手段のサンプリングにより得られたサンプ
リング値を記憶するサンプリング値記憶手段と、サンプ
リング値記憶手段の記憶値とこの記憶値に対応した被測
定信号より後に入力された被測定信号とを順次比較して
所定時間内における両者の偏差を積分する積分手段と、
積分手段の積分による積分値に係数を積算する係数積算
手段と、係数積算手段の積算による積算値とサンプリン
グ値記憶手段に記憶されたサンプリング値とを加算し加
算値を被測定信号の収束値に関する信号として出力する
加算手段とを備えている収束値予測装置。
【請求項６】測定対象についての測定値を示す被測定
信号を入力して所定周期毎にサンプリングするサンプリ
ング手段と、サンプリング手段のサンプリングにより得
られたサンプリング値をサンプリング周期間順次記憶す
るサンプリング値記憶手段と、サンプリング値記憶手段
の記憶値とこの記憶値に対応した被測定信号より後に入
力された被測定信号とを順次比較してサンプリング周期
内における両者の偏差を積分する積分手段と、積分手段
の積分による積分値を次のサンプリング周期間記憶する
積分値記憶手段と、積分値記憶手段に記憶された積分値
に係数を積算する係数積算手段と、係数積算手段の積算
による積算値とサンプリング値記憶手段に記憶されたサ
ンプリング値とを加算し加算値を被測定信号の収束値に
関する信号として出力する加算手段とを備えている収束
値予測装置。
【請求項７】測定対象についての測定値を示す被測定
信号を入力して所定周期毎にサンプリングするサンプリ
ング手段と、サンプリング手段のサンプリングにより得
られたサンプリング値をサンプリング周期間順次記憶す
るサンプリング値記憶手段と、サンプリング値記憶手段
の記憶値とこの記憶値に対応した被測定信号より後に入
力された被測定信号とを順次比較してサンプリング周期
内における両者の偏差を積分する積分手段と、積分手段
の積分による積分値を次のサンプリング周期間記憶する
積分値記憶手段と、積分値記憶手段に記憶された積分値
に係数を積算する係数積算手段と、係数積算手段の積算
による積算値とサンプリング値記憶手段に記憶されたサ
ンプリング値とを加算し加算値を被測定信号の収束値に
関する信号として出力する加算手段と、加算手段の出力
による収束値を記憶する収束値記憶手段とを備えている
収束値予測装置。
【請求項８】係数積算手段の係数は、測定対象の応答
遅れに相当する時間を積分時間の２乗で除算した値に設
定してなる請求項５、６または７記載の収束値予測装
置。