JPH09189532A - 平面光測定方法及び装置 - Google Patents

平面光測定方法及び装置

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JPH09189532A
JPH09189532A JP225996A JP225996A JPH09189532A JP H09189532 A JPH09189532 A JP H09189532A JP 225996 A JP225996 A JP 225996A JP 225996 A JP225996 A JP 225996A JP H09189532 A JPH09189532 A JP H09189532A
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JP
Japan
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plane light
measured
ccd element
video signal
signal
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Application number
JP225996A
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English (en)
Inventor
Tetsuya Suzuki
哲也 鈴木
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PARUSUTETSUKU KOGYO KK
Original Assignee
PARUSUTETSUKU KOGYO KK
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 簡単に被測定平面光の傾斜角を測定できる平
面光測定装置を提供することを目的とする。 【構成】 被測定平面光10を入射させるCCD素子2
0と、CCD素子20から出力された映像信号に基づい
てCCD素子20を回転させる回転ステージ30とを備
えている。そして、映像信号の信号幅が最小になる位置
で回転ステージ30を停止させてCCD素子20の回転
角を測定することにより、被測定平面光10の投影像1
0aの傾斜角を容易かつ正確に検出することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定平面光の投
影像の傾斜角を測定する平面光測定方法及び装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の平面光測定方法としては、図4に
示すように、被測定平面光100の両サイドに位置検出
素子101,102が配置されて、これらの位置検出素
子101,102に入射する光の入射位置を検出するこ
とによって、被測定平面光の投影像の傾斜角を測定する
方法があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
平面光測定方法は、位置検出素子101,102を被測
定平面光100の各端部に正確に配置する必要があり、
位置合せに手間がかかった。また、位置検出素子10
1,102で測定した光入射の位置データと、位置検出
素子101,102間の距離データとから三角法によっ
て傾斜角を算出する必要があり、演算処理が繁雑であっ
た。
【0004】本発明は、このような問題を解決して、正
確な位置合せ及び複雑な演算処理を行うことなく、簡単
に被測定平面光の傾斜角を測定することができる平面光
測定方法及び装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の平面光測定方法は、被測定平面光をCCD
素子の撮像面に垂直に入射させると共に、撮像面と垂直
な回転軸線を中心にしてCCD素子を回転させて、CC
D素子から出力される被測定平面光の映像信号の信号幅
が最小になる位置でのCCD素子の回転角を測定するこ
とにより、被測定平面光の投影像の傾斜角を検出するこ
とを特徴とする。
【0006】また、本発明の平面光測定装置は、被測定
平面光を撮像面に垂直に入射させるCCD素子と、CC
D素子で撮像された被測定平面光の映像信号に基づい
て、撮像面と垂直な回転軸線を中心にしてCCD素子を
回転させる回転ステージとを備えている。そして、映像
信号の信号幅が最小になる位置で回転ステージを停止さ
せてCCD素子の回転角を測定することにより、被測定
平面光の投影像の傾斜角を極めて容易に検出することが
できる。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態に
ついて添付図面を参照して説明する。
【0008】図1は、本発明の実施形態に係る平面光測
定方法を示す斜視図である。図1に示すように、CCD
(Charge Coupled Device )素子20は、被測定平面光
10が撮像面21に垂直に入射するように配置されてい
る。ここで、被測定平面光10は、例えばシリンドリカ
ルレンズ(図示せず)から出射することによって形成さ
れる投影像10aがスリット状の光束である。そして、
CCD素子20の撮像面21は、この撮像面21と垂直
な回転軸線22を中心に回転させることができる。CC
D素子20の撮像面21には、水平方向Aと垂直方向B
に配列された複数の画素が設けられており、これらの画
素に蓄積された信号電荷は水平方向Aに順番に読み出さ
れる。各画素から順番に読み出された信号電荷の列は、
一本のビデオ信号(NTSCビデオ信号)としてCCD
素子20から出力される。さらに、このビデオ信号に
は、水平方向Aの各ラインの間に水平同期信号が重畳さ
れ、各フレームの間に垂直同期信号が重畳される。
【0009】被測定平面光10がCCD素子20に入射
した場合、CCD素子20から出力されるビデオ信号に
は、図2(a)に示すように一対の水平同期信号の間に
映像信号が現れる。この映像信号は被測定平面光10の
被写体情報を示す信号である。そして、被測定平面光1
0の投影像10aの延在方向が撮像面21の垂直方向B
と一致するようにCCD素子20を回転させれば、この
映像信号の信号幅は徐々に狭くなる。
【0010】このため、図2(b)に示すように、CC
D素子20から出力される映像信号の幅が最も狭くなる
ようにCCD素子20を回転させれば、被測定平面光1
0の投影像10aの延在方向と撮像面21の垂直方向B
とが一致する。従って、撮像面21の垂直方向Bの角度
を測定することによって、被測定平面光10の傾斜角を
容易に検出することができる。
【0011】また、一対の垂直同期信号の間の映像信号
の信号幅からも、被測定平面光10の傾斜角を検出する
ことができる。即ち、映像信号は水平同期区間ごとに現
れる信号であり、これらの映像信号の極大点を順に結ぶ
と、図2(a)の波形に類似した台形状の波形になる
(図2(c)参照)。そこで、この波形の幅が最も狭く
なるようにCCD素子20を回転させれば、被測定平面
光10の投影像10aの延在方向と撮像面21の水平方
向Aとが一致する。従って、撮像面21の水平方向Aの
角度を測定することによって、被測定平面光10の傾斜
角を容易に検出することができる。
【0012】次に、本発明の実施形態に係る平面光測定
装置1について、図3を用いて説明する。
【0013】図3に示すように、平面光測定装置1は、
被測定平面光を撮像面21に垂直に入射させるCCD素
子20と、撮像面21と垂直な回転軸線22を中心にし
てCCD素子20を回転させる回転ステージ30と、C
CD素子20で撮像された被測定平面光10の映像信号
を表示する表示器40とを備えている。なお、表示器4
0としては、電流計やオシロスコープなどが用いられ
る。
【0014】回転ステージ30は直方体形状の基体部3
1を備え、基体部31の光入射側の側面31aには円筒
形状のステージ支持部32が設けられている。そして、
このステージ支持部32の光入射側には、ステージ支持
部32と同一の径を持った中空円柱形状のステージ部3
3が、回転軸線22を中心にして回転可能に取り付けら
れている。さらに、ステージ部33の光入射側の面33
aにはCCD素子20が固定されている。ここで、CC
D素子20の撮像面21は回転軸線22と直交してお
り、撮像面21と基体部31の側面31aとは平行にな
っている。
【0015】ステージ部33の周壁の内面には歯面33
bが形成されており、基体部31に内蔵されたステッピ
ングモータ34の歯車34aがこの歯面33bの歯と噛
み合っている。このため、ステッピングモータ34の駆
動によってステージ部33は回転して、ステージ部33
に固定されたCCD素子20も回転する。ステージ支持
部32及びステージ部33の周壁の外面には目盛りDが
刻まれており、この目盛りDを読み取ることによってス
テージ部33の回転角度を計測することができる。
【0016】さらに、基体部31には演算アンプ35が
内蔵されており、CCD素子20から出力されたビデオ
信号がこの演算アンプ35で増幅される。そして、演算
アンプ35で増幅されたビデオ信号が表示器40に入力
されて、表示器40ではビデオ信号に重畳された映像信
号が表示される。
【0017】次に、このような構成を有する平面光測定
装置1の動作について説明する。
【0018】被測定平面光10がCCD素子20の撮像
面21に垂直に入射すると、CCD素子20からビデオ
信号が出力される。このビデオ信号は演算アンプ35で
増幅されて、表示器40に入力される。表示器40では
ビデオ信号に重畳された映像信号が表示されて、この映
像信号を観察した操作者がコントローラ(図示せず)を
操作することによってステージ部33は回転する。そし
て、ステージ部33の回転に合わせてCCD素子20は
回転して、CCD素子20の撮像面21と被測定平面光
10の投影像10aとの角度が変化する。
【0019】上述したように、被測定平面光10の投影
像10aの延在方向と撮像面21の垂直方向Bとが一致
すれば、水平同期の期間における映像信号の信号幅は最
も狭くなる。そこで、表示器40に表示される映像信号
の信号幅が狭くなるように操作者がコントローラを操作
してステージ部33を回転させることによって、被測定
平面光10の投影像10aの延在方向と撮像面21の垂
直方向Bとを一致させることができる。そして、このと
きの目盛りDを読み取ることによってステージ部33の
回転角度が測定でき、測定した角度から被測定平面光1
0の投影像10aの傾斜角を容易に検出することができ
る。なお、垂直同期の期間における映像信号の信号幅が
最も狭くなるように操作してもよい。このように操作す
れば、被測定平面光10の投影像10aの延在方向と撮
像面21の水平方向Aとを一致させることができ、目盛
りDを読み取ることによって被測定平面光10の投影像
10aの傾斜角を検出することができる。
【0020】以上のように、CCD素子20を回転させ
るだけで被測定平面光10の投影像10aの傾斜角を極
めて容易に検出することができ、この検出によって得ら
れた傾斜角は非常に正確である。
【0021】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ことなく、本発明の趣旨から逸脱しない範囲内におい
て、例えば以下のように変更することも可能である。
【0022】(1)上記実施形態では、回転ステージ3
0のステージ部33をステッピングモータ34を用いて
自動的に回転させていたが、手動でステージ部33を回
転させてもよい。
【0023】(2)上記実施形態では、表示器40に表
示された映像信号を操作者の目視によって確認しつつ、
操作者の制御によってステージ部33を回転させていた
が、一般的な信号処理技術及び自動制御技術を用いて自
動的に映像信号を確認して、映像信号の信号幅が最小に
なるように自動的にステージ部33を回転させてもよ
い。
【0024】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の平
面光測定方法であれば、被測定平面光をCCD素子の撮
像面に垂直に入射させながらCCD素子を回転させて、
CCD素子から出力される映像信号の信号幅が最小にな
る位置でのCCD素子の回転角を測定することによっ
て、被測定平面光の投影像の傾斜角を容易かつ正確に検
出することができる。
【0025】また、本発明の平面光測定装置であれば、
被測定平面光を入射させるCCD素子と、CCD素子か
ら出力された映像信号に基づいてCCD素子を回転させ
る回転ステージとを備えている。そして、映像信号の信
号幅が最小になる位置で回転ステージを停止させてCC
D素子の回転角を測定することにより、被測定平面光の
投影像の傾斜角を容易かつ正確に検出することができ
る。
【0026】特に、CCD素子、回転ステージ、及び表
示器といった少ない部品で装置が構成できるので、製造
コストを大幅に低減させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る平面光測定方法を示す
斜視図である。
【図2】(a)(b)は、水平同期の期間における映像
信号を示す図である。(c)は、垂直同期の期間におけ
る映像信号を示す図である。
【図3】本発明の実施形態に係る平面光測定装置を示す
斜視図である。
【図4】従来の平面光測定装置を示す斜視図である。
【符号の説明】
1…平面光測定装置、10…被測定平面光、10a…投
影像、20…CCD素子、21…撮像面、22…回転軸
線、30…回転ステージ、40…表示器。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定平面光をCCD素子の撮像面に垂
    直に入射させると共に、前記撮像面と垂直な回転軸線を
    中心にして前記CCD素子を回転させて、前記CCD素
    子から出力される前記被測定平面光の映像信号の信号幅
    が最小になる位置での前記CCD素子の回転角を測定す
    ることにより、前記被測定平面光の投影像の傾斜角を検
    出することを特徴とした平面光測定方法。
  2. 【請求項2】 被測定平面光を撮像面に垂直に入射させ
    るCCD素子と、 前記CCD素子で撮像された前記被測定平面光の映像信
    号に基づいて、前記撮像面と垂直な回転軸線を中心にし
    て前記CCD素子を回転させる回転ステージとを備え、 前記映像信号の信号幅が最小になる位置で前記回転ステ
    ージを停止させて前記CCD素子の回転角を測定するこ
    とにより、前記被測定平面光の投影像の傾斜角を検出す
    ることを特徴とした平面光測定装置。
JP225996A 1996-01-10 1996-01-10 平面光測定方法及び装置 Pending JPH09189532A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113074675A (zh) * 2020-01-03 2021-07-06 中华精测科技股份有限公司 旋转及定位复数测物的方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113074675A (zh) * 2020-01-03 2021-07-06 中华精测科技股份有限公司 旋转及定位复数测物的方法
CN113074675B (zh) * 2020-01-03 2023-04-04 台湾中华精测科技股份有限公司 旋转及定位复数测物的方法

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