JPH0918074A - 光周波数基準光源 - Google Patents

光周波数基準光源

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JPH0918074A
JPH0918074A JP18843695A JP18843695A JPH0918074A JP H0918074 A JPH0918074 A JP H0918074A JP 18843695 A JP18843695 A JP 18843695A JP 18843695 A JP18843695 A JP 18843695A JP H0918074 A JPH0918074 A JP H0918074A
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JP
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light
frequency
optical
light source
signal
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JP18843695A
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English (en)
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Shigeru Kinugawa
茂 衣川
Seihan Machitori
誠範 待鳥
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Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】無変調であり、光周波数が可変であり、かつ、
発振光周波数の確度が100MHz以下で保証できる光周波数
基準光源を提供する。 【構成】第1及び第2のレーザ光源11a,11b から出射さ
れた光が所定の周波数差を持つように、光検出器16でヘ
テロダイン信号を検出し、発振器18からの基準信号と比
較して、第1のレーザ光源11a の周波数を第1の周波数
制御手段19で制御する。そして、光量調整手段2でその
光量が同じになるようにして、所定の吸収特性を持つ光
周波数基準器3に入射する。該光周波数基準器3から出
射した光を受光器4a,4b でそれぞれ受光して、その強さ
が等しくなるように、第2のレーザ光源11b の周波数を
第2の周波数制御手段5で制御する。発振器18の周波数
を変えれば光周波数は変わる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光周波数基準光源に係
り、特に、光コム信号と被測定光とのヘテロダイン信号
を観測して被測定光の光周波数を正確に(100MHz 以
下)測定するために光コムジェネレータを用いる場合、
該光コムジェネレータに入力するレーザ光を発生させる
のに適した光周波数基準光源に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光周波数基準光源は、原子や分子
の光吸収線、あるいはエタロン等の光共振器で発生する
共鳴スペクトルを光周波数基準として用い、光周波数変
化を光吸収線であれば吸収強度、光共振器の共鳴スペク
トルであれば透過強度の変化にそれぞれ変換して検出
し、検出された光強度変化信号を基に光周波数変化を抑
えるように光源の光周波数に帰還制御を施しているのが
一般的である。そして、前記光強度変化信号の検出には
変調型と無変調型の2つのタイプがある。
【0003】次に、従来の光周波数基準光源の前記2つ
のタイプについて、それぞれ説明する。図12は変調型
光周波数基準光源の構成を示す図である。発振器87に
よりレーザコントローラ88を介して微小周波数変調を
かけられたレーザ光源81からの出力を光周波数基準器
83に入射させる。ここでは、この光周波数基準器83
は原子や分子の光吸収線を光周波数基準として用いたも
のであるとして説明する。入射されたレーザ光はこの光
周波数基準器83で一部吸収され、残りは透過する。透
過したレーザ光の強度を受光器84で検出する。光周波
数基準器83の透過光量は図12中の(イ)に示すよう
にガウス型あるいはローレンツ型の光周波数特性を持つ
ため、入射するレーザの周波数が変化すると受光器84
で検出される強度信号が変化する。つまり、強度信号は
入射レーザ光の周波数のドリフトと微小周波数変調の情
報を含むことになる。図を用いて、少しく説明を補う。
図11は光周波数基準器83の透過光量の光周波数特性
と該光周波数基準器83に入射するレーザ光の周波数の
変動とそれらに応じた透過光量の変動とを示す図であ
る。図11(a)中の「イ」のような光吸収特性を持つ
光周波数基準器83に、「ロ」のような微小周波数変調
を加えられたレーザを入射すると、透過光量はレーザの
周波数に対応した透過光量となるため「ハ」のように変
動する。なお、光共振器で発生する共鳴スペクトルを光
周波数基準として用いた場合は、図11(b)及び図1
1(b)中の「イ」、「ロ」、「ハ」が図11(a)及
び図11(a)中の「イ」、「ロ」、「ハ」に相当す
る。「ハ」のような透過光量の変動を受光器84で検出
し、検出した強度信号を増幅器85で増幅した後、位相
同期検波器86により微小周波数変調を施す発振器87
の信号を参照信号として位相同期検波を行うと、光周波
数基準器83の吸収曲線の微分特性に従う光周波数情報
を持つ信号〔図12中の(ロ)に示す〕に変換すること
ができる。この吸収曲線の微分特性は吸収曲線の中心光
周波数で0レベルと交差するため、この位相同期検波器
86の出力信号をレーザコントローラ88を介してレー
ザ光源81に帰還し、前記出力信号が0レベルになるよ
うにレーザ光源81の発振周波数を制御すれば、レーザ
の発振周波数は原子や分子の光吸収線の中心周波数に安
定化される。なお、出力用ハーフミラー82は出力レー
ザ光を取り出すためのものである。
【0004】図13は無変調型光周波数基準光源の構成
を示す図である。無変調型光周波数基準光源は光周波数
基準に用いた原子や分子の吸収線や光共振器の共振スペ
クトルのスロープ部にレーザの発振周波数を安定化する
手法である。レーザ光源81から出射されたレーザ光を
光周波数基準器83に入射し、該光周波数基準器83を
透過した光を受光器84で検知する。検知された信号
(強度信号)の強度は光周波数基準器83の透過率の周
波数依存性〔図13中の(イ)に示す〕により決定され
ている。受光器84から出力された強度信号は、増幅器
85で増幅され、あらかじめ用意された特定光周波数に
おける光透過強度の受光器出力に対応する値を出力する
基準電圧源89の出力信号と、信号比較器80で比較さ
れる。この信号比較器80の出力信号のレベル〔図13
中の(ロ)参照〕は増幅器85から出力された強度信号
のレベルと基準電圧源89の出力信号のレベルとの差で
あり、この差が0となるようにレーザコントローラ88
を介してレーザ光源81の発振周波数を制御すれば、基
準電圧源89の出力値に対応する光周波数(前記特定光
周波数)にレーザ光源81を安定化することができる。
なお、出力用ハーフミラー82は出力レーザ光を取り出
すためのものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、例え
ば、光周波数基準光源を光コムジェネレータと組み合わ
せて、光コムジェネレータの出力を広帯域光周波数基準
光源として用い、光コム信号と被測定光とを合波してヘ
テロダイン信号を得ることにより被測定光の光周波数を
決定するときには、従来の光周波数基準光源は使用する
ことが出来ない。なぜならば、光コムジェネレータの出
力は多数の光周波数基準レーザ光の集合であるため、前
記ヘテロダイン信号を発生している1本の光コム信号の
光周波数を決定するための動作が光周波数基準光源に求
められるが、従来の光周波数基準光源はそのような動作
ができないからである。
【0006】上記の状況を説明するため、まず光コムジ
ェネレータの概要を以下に述べる。図8(a)は光コム
ジェネレータの構成を示す図である。光コムジェネレー
タは1対のミラー71a,71bから成る光共振器71
と、その内部に納められ図8(b)に示す光共振器のフ
リースペクトルレンジに対応するマイクロ波帯の周波数
fc で光の位相変調を行う位相変調器72とで構成され
る。変調用発振器73は前記位相変調器72に変調信号
を与える。
【0007】次に光コムジェネレータの動作を説明す
る。光周波数を光共振器71の共振周波数近傍に安定化
した光周波数基準光源から出射されたレーザ光を光コム
ジェネレータに入射する。この入射したレーザ光は内部
の位相変調器72により、光共振器71のフリースペク
トルレンジに対応する変調用発振器73の周波数fc で
位相変調を受けるため、入射レーザ光の両側にfc の光
周波数間隔で数本のサイドモードの光が発生する〔図8
(c)〕。このサイドモードの光は光共振器71の共振
条件に適合するため光共振器71を構成するミラー71
a,71bにより反射を繰り返す。この反射の繰り返し
によって、レーザ光は位相変調器72によりさらに位相
変調を受けるため、各サイドモードの光は、自分自身を
基本波モードの光としてさらにサイドモードの光を生み
出す〔図8(d)〕。これらのサイドモードの光は、光
周波数間隔がfc で固定されているため重なり合い強度
を強める〔図8(e)〕。このようにして生み出された
サイドモードの光の群は、光共振器71を構成するミラ
ー71a,71bの反射率の不完全性により外部に透過
し、この透過光は光コムジェネレータに入射したレーザ
光の光周波数を中心にfc の光周波数間隔で並ぶ数百本
の光スペクトル線から成る光コム信号となる。
【0008】前述のように、光周波数基準光源と光コム
ジェネレータとを組み合わせて広帯域光周波数基準光源
を形成し、光コム信号と被測定光とのヘテロダイン信号
を発生させて被測定光の光周波数を測定しようとする場
合、光周波数基準光源は従来のものでは達成し得ない以
下の特性を必要とする。 (A)周波数的に無変調であること 変調がかかったレ−ザを入射させると発生する光コム信
号にも変調がかかり、被測定光とのヘテロダイン信号の
S/Nが低下する。 (B)光周波数が可変であること 被測定光の光周波数を確定するため、光周波数基準光源
の発振光周波数を変化させる必要がある。 (C)(B)の操作による発振光周波数の確度変化がな
いこと
【0009】上記(B)に関して、補足説明を以下に述
べる。光コム信号を構成する数百本の光スペクトル線の
内の1本(以後、1本の光コム信号という)と被測定光
との間で発生するヘテロダイン信号には被測定光の光周
波数の情報は含まれていない。被測定光の光周波数を決
定するためには、ヘテロダイン信号を発生している1本
の光コム信号の発生次数Nと、この光コム信号に対して
被測定光の光周波数がプラス、マイナスのどちら側に位
置しているかとを確定する必要がある。すなわち、被測
定光の光周波数νL は確度が保証されている光周波数基
準光源の光周波数をνM とすると νL =νM +(±N×fc )+(±fH ) ……………(1) で表される。ここで、±Nはヘテロダイン信号を発生し
ている1本の光コム信号の発生次数および極性、fc は
光コムジェネレータの変調信号周波数、±fH はヘテロ
ダイン信号周波数とその極性を示す。式(1)でνM と
fc は既知であり、fH は測定できるので、光コム信号
の発生次数とその極性、およびヘテロダイン信号の極性
の3つが分かれば、被測定光の光周波数を決定できる。
【0010】次に、上記3つのパラメータを決定する手
法を示す。この決定には次の3つの場合分けが必要であ
る。 (fH ≠0)かつ(fH ≠fc /2) この場合は、図9のように光コムジェネレータの変調用
発振器73の信号周波数(fc )を数MHz (Δfc )程
度の範囲で掃引する。光コム信号は変調信号周波数(f
c )間隔で発生するため、この操作によりN次の光コム
信号によるヘテロダイン信号の周波数はN×Δfc の範
囲で掃引されることになる。したがって、変調用発振器
73の信号周波数の移動量に対するヘテロダイン信号の
周波数の移動量から次数Nが決定され、また、そのとき
のヘテロダイン信号の周波数移動方向から、N次の光コ
ム信号の光周波数に対して被測定光の光周波数が低次の
光コム信号側にあるのか、高次の光コム信号側にあるの
かを表す極性が決定できる。しかし、この段階では、被
測定光と合わさってヘテロダイン信号を発生している光
コム信号の次数Nの極性がプラスかマイナスか不確定で
ある。この様子を1次の例を用いて図10(a)に示
す。上述のように、変調用発振器73の信号周波数を変
化させるだけでは図に示す光周波数軸上のaの位置の被
測定光とbの位置の被測定光とを判別することはできな
い。aの位置の被測定光と−1次の光コム信号、bの位
置の被測定光と+1次の光コム信号の組合せでそれぞれ
生ずるヘテロダイン信号の周波数は、変調用発振器73
の信号周波数を変化させる前は同じであり、変化させた
ときの移動量も同じであるからである。この曖昧性を取
り除くため、図10(b)のように光周波数基準光源の
光周波数をΔνM1(Δfc≪ΔνM1≪fc )掃引して、
光コム信号全体の発生光周波数を移動させ、そのときの
ヘテロダイン信号の周波数の移動方向も考慮して、発生
次数Nの極性、および、被測定光の光周波数が低次の光
コム信号側にあるのか、高次の光コム信号側にあるのか
を決定する。
【0011】 (fH ≠0)かつ(fH ≒fc /2) この場合は、被測定光の光周波数を挟む位置に発生して
いる2つの光コム信号による2つのヘテロダイン信号が
fc /2の周波数近傍に近接して発生するため、電気的
なフィルタ等での分離が困難になる。そこで、2つのヘ
テロダイン信号がフィルタで分離できる周波数間隔を持
つように光周波数基準光源の光周波数をΔνM2(Δfc
≪ΔνM1<ΔνM2<fc )だけシフトさせ、フィルタで
高周波数側のヘテロダイン信号を除去しての状態にな
るように操作してから、と同じ操作により未知のパラ
メータを決定する。
【0012】 (fH ≒0) この場合は、光コムジェネレータの変調信号周波数をΔ
fc の範囲掃引すれば、光コム信号の次数Nは決定でき
るが、被測定光が掃引によって移動した光コム信号の低
次側にあるのか高次側にあるのか、その光周波数位置と
前記次数Nの極性とが不確定となる。なぜなら、−N次
の光コム信号の低次側にあっても高次側にあっても、ま
た、+N次の光コム信号の低次側にあっても高次側にあ
ってもヘテロダイン信号は同じになるからである。そこ
で、光周波数基準光源の光周波数を先にΔνM1だけずら
しての状態にしてから、の操作を行い未知のパラメ
ータを決定する。
【0013】以上のように、光コム信号と被測定光とで
生ずるヘテロダイン信号を観測して被測定光の光周波数
を決定するような場合は、光コムジェネレータへ基準光
を入射する光周波数基準光源は光周波数をΔνM1の範囲
で掃引でき、なおかつ、ΔνM2ずれた光周波数の位置へ
設定できる必要がある。
【0014】例えば光コムジェネレータに組み合わせる
光周波数基準光源として、前述のような特性が要求され
るのに対し、従来の変調型光周波数基準光源は出力レー
ザ光に微小周波数変調が加わるため前記(A)の要求を
満たさない。さらに、原子や分子の吸収線を光周波数基
準にすると、安定化される光周波数は吸収線の中心周波
数に固定されるため前記(B)の光周波数の可変は困難
である。また、光共振器の共振スペクトルを使用した場
合は、共振器長を変化させることにより光周波数を変え
られるが、共振スペクトルの次数を決定することが困難
で確度が保持できない。一方、無変調型光周波数基準光
源は出力レーザ光は無変調であり、また基準電圧源89
の出力値を変化させることにより安定化する光周波数を
変えられるが、光周波数の可変範囲がたかだか100MH
z 程度と狭く、また光周波数の変位量を正確に決定する
ことができず、このため発振光周波数の確度の劣化が発
生し(100MHz 以上)、前記(C)の特性を満たすこ
とができない。
【0015】この発明の目的は、光コムジェネレータを
利用して光スペクトルアナライザや光波長計などを構築
するとき要求される、前述の特性を満足する光周波数基
準光源、すなわち、無変調であり、光周波数が可変であ
り、かつ、発振光周波数の確度が100MHz 以下で保証
できる光周波数基準光源を提供することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、第一の発明の光周波数基準光源は、二つの光を出射
する光源装置であって、該出射される二つの光の周波数
差が所定の値に維持され、該出射される二つの光の光量
が相等しくなるように制御された光源装置と、該光源装
置から出射された二つの光を受けるようになっていて、
受けた光の一部がそれぞれの光の周波数に応じて減衰す
るような所定の吸収特性を有する光周波数基準器と、該
光周波数基準器を透過した二つの光をそれぞれ受光し、
それぞれの光の光量に応じた信号を出力する受光装置
と、前記受光装置が出力した信号に基づいて、前記受光
装置が受ける二つの光の光量が等しくなるように、前記
光源装置から出射される二つの光の周波数を変化させる
周波数制御装置とを備えた。
【0017】また、第二の発明の光周波数基準光源は、
第1のレーザ光源と第2のレーザ光源とを備えて、それ
ぞれの出力レーザ光の光周波数の差が所定の値となるよ
うに、前記第1のレーザ光源の周波数制御をする、つま
り、オフセットロック制御をすることとし、また、所定
の周波数の光吸収線を有する光周波数基準器を備えて、
該光周波数基準器に前記第1のレーザ光源と第2のレー
ザ光源の出力レーザ光の光量が互いに等しくなるように
して入射し、該光周波数基準器を透過した2つのレーザ
光を受光器でそれぞれ受光し、受光する光の強さが等し
くなるように前記第2のレーザ光源の周波数制御をする
こととした。
【0018】
【作用】第一の発明の光周波数基準光源では、光周波数
基準器に入射される2つの光の周波数差は所定の値に維
持されており、また、前記2つの光の光量が相等しくさ
れているため、光周波数基準器を透過し受光装置で受光
される2つの光の光量すなわち透過光量が等しくなるよ
うに、前記2つの光の周波数を変化させれば、光周波数
基準器が持つ透過スペクトルのピーク(νc )から前記
光周波数の差の1/2ずつ離れた、光が等しい吸収を受
ける両側の透過スロープの光周波数位置(νc ±(νHW
HM/2))に2つのレーザ光の光周波数は安定化される
(図6参照)。また、前記周波数差を掃引することによ
り、安定化された2つのレーザ光の光周波数も掃引する
ことができる。
【0019】第二の発明の光周波数基準光源では、光周
波数基準器を透過する2つのレーザ光、すなわち第1の
レーザ光源と第2のレーザ光源とから出射されるレーザ
光、の光周波数の差はオフセットロックにより精密に制
御されており、また、前記2つのレーザ光の光周波数基
準器への入射光量が等しくされているため、透過光量が
等しくなるように第2のレーザ光源の周波数が制御され
ることで、光周波数基準器が持つ透過スペクトルのピー
ク(νc )から前記光周波数の差の1/2ずつ離れた、
光が等しい吸収を受ける両側の透過スロープの光周波数
位置(νc ±(νHWHM/2))に2つのレーザ光の光周
波数は安定化される(図6参照)。このとき、前記透過
スペクトルの中心光周波数の確度が決定されていれば、
オフセットロック制御に使用するマイクロ波発振器の発
振周波数確度は光周波数領域の確度に比べて非常に高い
ので、透過スペクトルの確度が2つのレーザ光に移乗す
ることになる。また、オフセットロック制御に使用する
発振器のマイクロ波周波数を掃引することにより、安定
化された2つのレーザ光の光周波数も掃引することがで
きる。以上のようであるから、(A)無変調であるこ
と、(B)光周波数が可変であること、(C)光周波数
確度が高いことの要求が満たされる。
【0020】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。図3は本発明の第1の実施例の概略構成を示す図で
ある。第1の実施例では、第1及び第2のレーザ光源1
1a,11bとして半導体レーザを用い、光周波数基準
器3として原子や分子を封入したガスセルを用いてい
る。ガスセルに封入する原子としてはルビジウム、セシ
ウム、カルシウム、キセノン、リチウム、アルゴン、ク
リプトン等があり、分子としてはアセチレン、シアン化
水素、メタン、アンモニア、水、沃素等がある。
【0021】第1の実施例は図3に示すように、半導体
レ−ザ11a,11b、オフセットロック制御をかける
ための系を構成する、ヘテロダイン信号検出用ハーフミ
ラー13a,13b、ミラー14、合波器15、高速受
光器16、増幅器17、周波数可変の発振器18、光位
相比較器19a、注入電流源19b、ガスセル3へ入射
するレーザビームの光量を調整する系を構成する、光量
調整用ハーフミラー21a,21b、受光器22a,2
2b、基準電圧源23、差動増幅器24a,24b、温
度コントローラ25a,25b、2つの半導体レーザ1
1a,11bの出射光の周波数をガスセル3のガスの吸
収線の中心光周波数を中心に同じ周波数だけ離れた位置
に固定する系を構成する、ガスセル3、受光器4a,4
b、差動増幅器51、注入電流源52、出力光を取り出
すための出力用ハーフミラー12a,12b、光スイッ
チ6から構成される。
【0022】ここで、半導体レ−ザ11a,11b、出
力用ハーフミラー12a,12b、ヘテロダイン信号検
出用ハーフミラー13a,13b、ミラー14、合波器
15、高速受光器16、増幅器17、周波数可変の発振
器18、光位相比較器19a、注入電流源19b、光量
調整用ハーフミラー21a,21b、受光器22a,2
2b、基準電圧源23、差動増幅器24a,24b、温
度コントローラ25a,25bは光源装置1に相当し、
ガスセル3は光周波数基準器3に、受光器4a,4bは
受光装置4に、差動増幅器51及び注入電流源52は周
波数制御装置5にそれぞれ相当する。また、半導体レ−
ザ11a,11bは第1及び第2のレーザ光源11a,
11bに、光位相比較器19a、注入電流源19bは第
1の周波数制御手段19に、光量調整用ハーフミラー2
1a,21b、受光器22a,22b、基準電圧源2
3、差動増幅器24a,24b、温度コントローラ25
a,25bは光量調整手段2に、受光器4a,4bは第
1及び第2の受光器4a,4bに、差動増幅器51及び
注入電流源52は第2の周波数制御手段5にそれぞれ相
当し、そして、注入電流源19b,52はそれぞれ周波
数制御回路19b,52に相当する。
【0023】2つの半導体レーザ11a,11bは温度
で発振パワーを、注入電流で発振光周波数を制御されて
おり、注入電流はあらかじめガスセル3に封入された原
子や分子の吸収線に対応する光周波数を発振する値に設
定しておく。2つの半導体レ−ザ11a,11bから出
射されたレーザビームは各々出力用ハーフミラー12
a,12b、オフセットロック制御のためのヘテロダイ
ン信号検出用ハーフミラー13a,13b、および光量
調整用ハーフミラー21a,21bにより3回の分岐を
受けた後、ガスセル3に空間的に分離して入射される。
出力用ハーフミラー12a,12bで分岐された2つの
レーザビームは光スイッチ6へ入射され、光スイッチ6
でどちらかのレーザビームが選択されて図示しない光コ
ムジェネレータへ出力される。
【0024】ヘテロダイン信号検出用ハーフミラー13
a,13bで分岐された2つのレーザビームは合波器1
5により合波され、高速受光器16に入射される。高速
受光器16は2つのレーザ周波数の差に対応するヘテロ
ダイン信号を検出する。検出されたヘテロダイン信号は
増幅器17で増幅され光位相比較器19aに入力され
る。光位相比較器19aではヘテロダイン信号を分周、
ダウンコンバートして、周波数可変の発振器18からの
出力信号と位相変化速度の比較を行い、この位相変化速
度の違いに対応する出力信号を発生させる。この光位相
比較器19aからの出力信号に基づいて半導体レーザ1
1aの注入電流源19bを制御して、半導体レーザ11
aの発振周波数を半導体レーザ11bの発振周波数に対
して発振器18の出力周波数と分周、ダウンコンバート
の特性とで決定される周波数(νHWHM)だけシフトした
光周波数に安定化させる。この制御はオフセットロック
制御と呼ばれており、半導体レーザ11aと半導体レー
ザ11bの発振周波数の差は発振器18の発振周波数で
制御できる。νHWHMの値はガスセルの吸収線の半値全幅
程度の周波数に設定しておく。
【0025】光量調整用ハーフミラー21a,21bで
分岐されたレーザビームは各々別の受光器22a,22
bに入射される。受光器22a,22bはそれぞれレー
ザパワーに対応した信号を出力する。差動増幅器24
a,24bはこの出力信号と共通の基準電圧源23から
の出力値との比較を行い、この差の値に対応する値を出
力する。この差動増幅器24a,24bの出力を基に半
導体レーザ11a,11bの温度を温度コントローラ2
5a,25bを通して制御し、光周波数基準器として用
いたガスセル3に入射する2つのレーザビームのパワー
を基準電圧源23の出力値に対応する値に設定する。こ
のような制御を施すことによりガスセル3に入射される
2つのレーザビームはパワーが等しく、光周波数がνHW
HMだけずれた特性を持つことになる。
【0026】ガスセル3に入射した2本のレーザビーム
はガスの吸収を各々受けて透過し、2つの受光器4a,
4bは透過強度に対応した信号を発生する。この2つの
受光信号を差動増幅器51で減算処理する。この減算処
理された出力信号は、2つのレーザビームの光周波数を
ガスセル3の吸収線近傍で掃引すると、図7(c)に示
す分散型の特性を示す。この特性が0点をクロスする状
態は2つのレーザビームの光周波数位置が透過スペクト
ルの中心光周波数(νc )を中心に±(νHWHM/2)に
位置した状態である。したがって、この差動増幅器51
の出力信号を基に注入電流源52で半導体レーザ11b
の注入電流を、差動増幅器51の出力が0となるよう
に、制御することにより2つのレーザビームの光周波数
を同時にガスの吸収スペクトルの確度を保持したまま安
定化することができる。
【0027】以上のような構成を持つ第1の実施例にお
いて、「発明が解決しようとする課題」の欄で述べた被
測定光の光周波数を確定する際必要となる光周波数基準
光源の動作を以下に述べる。まず、ΔνM1変化させる動
作は、発振器18の出力周波数を掃引し、2つのレーザ
ビームの光周波数差νHWHMを掃引することにより行う。
また、ΔνM2変化させる動作はΔνM1と同様に2つのレ
ーザビームの光周波数差νHWHMを掃引することにより行
ってもよいが、この実施例のように光スイッチ6を設け
ておけば、該光スイッチ6で切り替えることによっても
実現できる。
【0028】数値例で説明すると、ドップラー広がりを
持つ半値全幅500MHz を持つ原子や分子の吸収線を光
周波数の基準とした場合、オフセットロック制御で安定
化できる2つの半導体レーザ11a,11bの光周波数
差は約300〜700MHz である。したがって、ΔνM1
の可変範囲は200MHz 程度となる。また、ΔνM2は光
スイッチで切り替えた場合300〜700MHz の変化幅
を確保することができる。これらの値は原子や分子のド
ップラー広がりの効果により制限を受けている。したが
って、この光周波数の可変幅は、セルの温度を高くして
ドップラー広がりを広げるか、あるいはセルに封入する
ガス圧力を増加させて圧力広がりを支配的にすることに
よりGHz オーダにすることも可能である。
【0029】図4は本発明の第2の実施例の概略構成を
示す図である。第2の実施例では、第1及び第2のレー
ザ光源11a,11bとして光回折格子を用いた外部共
振器構造の半導体レーザを用いている。光周波数基準器
3は第1の実施例と同じくガスセルである。第2の実施
例は図4に示すように、第1及び第2のレーザ光源とし
て光回折格子を用いた外部共振器型半導体レ−ザ11
a,11b、オフセットロック制御をかけるための系を
構成する、ヘテロダイン信号検出用ハーフミラー13
a,13b、ミラー14、合波器15、高速受光器1
6、増幅器17、周波数可変の発振器18、光位相比較
器19a、回折格子制御器19b、ガスセル3へ入射す
るレーザビームの光量を調整する系を構成する、光量調
整用ハーフミラー21a,21b、受光器22a,22
b、基準電圧源23、差動増幅器24a,24b、注入
電流源25a,25b、2つの外部共振器型半導体レー
ザ11a,11bの出射光の周波数をガスセル3のガス
の吸収線の中心光周波数を中心に同じ周波数だけ離れた
位置に固定する系を構成する、ガスセル3、受光器4
a,4b、差動増幅器51、回折格子制御器52、出力
光を取り出すための出力用ハーフミラー12a,12
b、光スイッチ6から構成される。
【0030】ここで、外部共振器型半導体レーザ11
a,11b、出力用ハーフミラー12a,12b、ヘテ
ロダイン信号検出用ハーフミラー13a,13b、ミラ
ー14、合波器15、高速受光器16、増幅器17、周
波数可変の発振器18、光位相比較器19a、回折格子
制御器19b、光量調整用ハーフミラー21a,21
b、受光器22a,22b、基準電圧源23、差動増幅
器24a,24b、温度コントローラ25a,25bは
光源装置1に相当し、ガスセル3は光周波数基準器3
に、受光器4a,4bは受光装置4に、差動増幅器51
及び回折格子制御器52は周波数制御装置5にそれぞれ
相当する。また、外部共振器型半導体レーザ11a,1
1bは第1及び第2のレーザ光源11a,11bに、光
位相比較器19a、回折格子制御器19bは第1の周波
数制御手段19に、光量調整用ハーフミラー21a,2
1b、受光器22a,22b、基準電圧源23、差動増
幅器24a,24b、温度コントローラ25a,25b
は光量調整手段2に、受光器4a,4bは第1及び第2
の受光器4a,4bに、差動増幅器51及び回折格子制
御器52は第2の周波数制御手段5にそれぞれ相当し、
そして、回折格子制御器19b,52はそれぞれ周波数
制御回路19b,52に相当する。
【0031】本実施例の場合は、レーザ光の光周波数は
外部共振器型半導体レーザ11a,11bの光回折格子
の回転、移動により制御し、レーザパワーは外部共振器
型半導体レーザ11a,11bへの注入電流により制御
する。他の動作は第1の実施例と同じである。本実施例
では、外部共振器構造をとることにより、レーザ光の発
振線幅が狭窄化されるため、被測定光とのヘテロダイン
信号のS/Nを向上することができる。また、外部共振
器構造にすることにより、注入電流による光周波数変調
効率が低下するため、パワーの調整と光周波数の制御を
ほぼ独立に行うことができ、安定化制御を効果的にかけ
ることができる。
【0032】図5は本発明の第3の実施例の概略構成を
示す図である。第3の実施例は第1の実施例とほぼ同じ
構成であるが、第1の実施例の差動増幅器51の代わり
に、受光器4a,4bの出力を受ける切替スイッチ53
と、該切替スイッチ53を制御する信号切り替え用発振
器54と、位相同期検波器55とを設けている。こうす
ることで、半導体レーザ11bの光周波数の制御信号を
位相同期検波器55により発生させ、制御信号のS/N
を向上させている。
【0033】本実施例の動作について、第1の実施例と
異なるところを説明する。ガスセル3を透過した2つの
レーザビームを受光器4a,4bで受光し、2つの受光
信号を信号切替え用発振器54からの信号により切り替
えて位相同期検波器55へ入力する。位相同期検波器5
5では、この切り替えられた信号を信号切り替え用発振
器54の信号と位相同期検波を行い注入電流源52に帰
還する。この帰還信号の特性は前述の実施例と同様図7
(c)に示す分散特性が得られる。しかし、この場合の
制御信号は、位相同期検波を行ったため雑音帯域を狭め
ることができ、この結果雑音が低減し良好なS/Nを得
ることができ、光の周波数安定度を向上させることがで
きる。
【0034】第1、第2及び第3の実施例では、ガスセ
ル3へ入射するレーザビームの光量調整はいずれも、レ
ーザビームの光量をモニタして、その結果に基づいて半
導体レーザのパワーを制御することで行っている。しか
し、光周波数基準光源として要求される仕様によって
は、モニタせずに半導体レーザのパワーをガスセルへの
入射光量が等しくなるように設定しておくだけでもよ
い。また、半導体レーザのパワーを調整するのではな
く、一方または両方の光路に可変アッテネータを挿入し
て2つのレーザビームのパワーを揃えてもよい。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、第一の発明の光周
波数基準光源は、光量が相等しく、かつ、周波数差が所
定の値に維持された二つの光を出射する光源装置と、受
けた光の一部がそれぞれの光の周波数に応じて減衰する
ような所定の吸収特性を有する光周波数基準器とを備え
て、該光周波数基準器に前記二つの光を入射し、該光周
波数基準器を透過した二つの光を受光装置でそれぞれ受
光し、受光する光の強さが互いに等しくなるように、前
記光源装置から出射される二つの光の周波数を制御する
こととした。また、第二の発明の光周波数基準光源は、
第1のレーザ光源と第2のレーザ光源とを備えて、それ
ぞれの出力レーザ光の光周波数の差が所定の値となるよ
うに、前記第1のレーザ光源の周波数制御をすることと
し、また、所定の周波数の光吸収線を有する光周波数基
準器を備えて、該光周波数基準器に前記第1のレーザ光
源と第2のレーザ光源の出力レーザ光の光量が互いに等
しくなるようにして入射し、該光周波数基準器を透過し
た2つのレーザ光を受光器でそれぞれ受光し、受光する
光の強さが等しくなるように前記第2のレーザ光源の周
波数制御をすることとした。その結果、無変調であり、
光周波数が可変であり、かつ、発振光周波数の確度が1
00MHz 以下で保証できる光周波数基準光源を提供する
ことができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】第一の発明の原理を示す構成図である。
【図2】第二の発明の原理を示す構成図である。
【図3】本発明の第1の実施例を示す構成図である。
【図4】本発明の第2の実施例を示す構成図である。
【図5】本発明の第3の実施例を示す構成図である。
【図6】本発明の光周波数基準光源の周波数安定化制御
を説明するための図である。
【図7】本発明の光周波数基準光源において2つのレー
ザビームの光周波数をガスセルの吸収線近傍で掃引した
ときことを説明するための図であり、(a)は差周波数
νHWHMの2つのレーザビームの光周波数の掃引を示す
図、(b)はガスセルの吸収線を示す図、(c)は第2
のレーザ光源の周波数制御の制御量として得られる信号
の特性を示す図である。
【図8】光コムジェネレータの構成およびその動作を説
明するための図であり、(a)は構成を示す図、(b)
は光共振器の共振特性を示す図、(c)〜(e)はレー
ザスペクトルが徐々に増えていく様子を説明するための
図である。
【図9】光コムジェネレータの変調周波数を変化させた
ときのヘテロダイン信号の周波数変化を説明するための
図である。
【図10】被測定光とともにヘテロダイン信号を発生す
る光コム信号の次数の極性の決定について説明する図で
あり、(a)は光コムジェネレータの変調周波数を変化
させるだけでは光コム信号の次数の極性が不確定である
ことを説明するための図、(b)は光コムジェネレータ
への入射光の光周波数をシフトすることで光コム信号の
次数の極性を決定することを説明するための図である。
【図11】光透過量と光周波数の関係を示す図であり、
(a)は原子や分子の光吸収特性を、(b)は光共振器
の光透過特性を示す図である。
【図12】従来の変調型光周波数基準光源の構成を示す
図である。
【図13】従来の無変調型光周波数基準光源の構成を示
す図である。
【符号の説明】
1 光源装置 2 光量調整手段 3 光周波数基準器(光周波数基準器として
のガスセル) 4 受光装置 4a,4b 受光器 5 周波数制御装置(第2の周波数制御手
段) 6 光スイッチ 11a,11b レーザ光源(レーザ光源としての半導
体レーザ、外部共振器型半導体レーザ) 12a,12b 出力用ハーフミラー 13a,13b ヘテロダイン信号検出用ハーフミラー 14 ミラー 15 合波器 16 光検出器(光検出器としての高速受光
器) 17 増幅器 18 発振器 19 第1の周波数制御手段 19a 光位相比較器 19b 周波数制御回路(周波数制御回路とし
ての注入電流源、回折格子制御器) 21a,21b 光量調整用ハーフミラー 22a,22b 受光器 23 基準電圧源 24a,24b 差動増幅器 25a,25b 温度コントローラ(注入電流源) 51 差動増幅器 52 周波数制御回路(周波数制御回路とし
ての注入電流源、回折格子制御器) 53 切替スイッチ 54 信号切り替え用発振器 55 位相同期検波器 71 光共振器 71a,71b ミラー 72 位相変調器 73 変調用発振器 80 信号比較器 81 レーザ光源 82 出力用ハーフミラー 83 光周波数基準器 84 受光器 85 増幅器 86 位相同期検波器 87 発振器 88 レーザコントローラ 89 基準電圧源

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 出射される二つの光の周波数差が所定の
    値に維持され、該出射される二つの光の光量が相等しく
    なるように制御された光源装置(1)と、 該光源装置から出射された二つの光を受け、該光をそれ
    ぞれの光の周波数に応じて減衰させて透過させる所定の
    吸収特性を有する光周波数基準器(3)と、 該光周波数基準器を透過した二つの光をそれぞれ受光
    し、それぞれの光の光量に応じた信号を出力する受光装
    置(4)と、 該信号を受けて、前記受光装置が受ける二つの光の光量
    が等しくなるように、前記光源装置から出射される二つ
    の光の周波数を変化させる周波数制御装置(5)とを備
    えた光周波数基準光源。
  2. 【請求項2】第1のレーザ光源(11a)と、 第2のレーザ光源(11b)と、 前記第1のレーザ光源と第2のレーザ光源の出力レーザ
    光のそれぞれ一部が合波された光を受光しヘテロダイン
    信号を出力する光検出器(16)と、 前記テロダイン信号の周波数の基準となる信号を出力す
    る発振器(18)と、 前記光検出器の出力信号と前記発振器の出力信号とを比
    較し、その周波数の差が所定の値となるように前記第1
    のレーザ光源の周波数制御をする第1の周波数制御手段
    (19)と、 前記第1のレーザ光源と第2のレーザ光源の出力レーザ
    光をそれぞれ入射し、それぞれ一部を透過させる、所定
    の周波数の光吸収線を有する光周波数基準器(3)と、 該光周波数基準器に入射される前記第1のレーザ光源と
    第2のレーザ光源の出力レーザ光の光量が互いに等しく
    なるようにする光量調整手段(2)と、 前記光周波数基準器を透過したレーザ光をそれぞれ受光
    し、受光した光の強さに応じた信号を出力する第1及び
    第2の受光器(4a,4b)と、 該第1及び第2の受光器の出力信号を受けて、前記受光
    する光の強さが等しくなるように前記第2のレーザ光源
    の周波数制御をする第2の周波数制御手段(5)とを備
    えた光周波数基準光源。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10303488A (ja) * 1997-04-30 1998-11-13 Ushio Inc 光源装置
JP2002174552A (ja) * 2000-12-05 2002-06-21 Japan Science & Technology Corp 光周波数測定システム
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