JPH09180197A - 光記録方法 - Google Patents

光記録方法

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JPH09180197A
JPH09180197A JP7343483A JP34348395A JPH09180197A JP H09180197 A JPH09180197 A JP H09180197A JP 7343483 A JP7343483 A JP 7343483A JP 34348395 A JP34348395 A JP 34348395A JP H09180197 A JPH09180197 A JP H09180197A
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JP
Japan
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laser beam
optical recording
beam intensity
recording
recording medium
Prior art date
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Pending
Application number
JP7343483A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Matsumoto
広行 松本
Koichiro Ishii
浩一郎 石井
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 低レベルレーザービーム強度PL を低く設定
し過ぎて消去不良となるためにオーバーライトが十分に
行えないことのない、安定したオーバーライトが可能な
光記録方法を提供する。 【解決手段】 オーバーライト可能な光記録媒体に記録
を行うための記録レーザービーム強度を決定する方法に
おいて、 高温プロセスが起こるレーザービーム強度の
下限値を求め、その値を基に高レベルレーザービーム強
度を暫定的に設定し、その値によりテスト記録領域に磁
化反転マークを形成した後、テスト記録領域を再生し、
その後、テスト記録領域にレーザービームを照射して磁
化反転マークの消去を行った後、テスト記録領域を再生
し、消去を行う前と後の再生信号を比較することによ
り、最適な低レベルレーザービーム強度を決定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光記録方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年、高密度、大容量、高いアクセス速
度、並びに高い記録及び再生速度を含めた種々の要求を
満足する光学的記録再生方法、それに使用される記録装
置、再生装置及び記録媒体が普及している。光学的記録
再生方法には、熱による孔開け、相変化、光磁気等の原
理を用いた多数の種類がある。このうち、情報を記録し
た後、消去することができ、再び新たな情報を記録する
ことが繰り返し何度も可能である相変化や光磁気による
方法は、コンピュータの外部メモリーや民生用オーディ
オ機器向けに広く応用されてきている。
【0003】最近まで光記録再生方法では、記録済みの
媒体に消去動作なしに新たな情報を記録するオーバーラ
イトは不可能とされていた。しかし、照射する光ビーム
の強度を記録すべき2値化情報に従い変調するだけで、
オーバーライトが可能な光記録方法、それに使用される
オーバーライト可能な光記録媒体、及びそれに使用され
るオーバーライト可能な記録装置が提案された。
【0004】これを光磁気記録を例に説明する。なお、
この方法は複数国に特許出願され、このうち米国では特
許登録された(特開昭62−175948号=DE3,619,618A1 =
USP5,239,524 )。以下、この発明を「基本発明」と引
用する。この光磁気記録再生方法で使用されるオーバー
ライト可能な光磁気記録媒体は記憶する層として、垂直
磁気異方性(perpendicular magnetic layer orlayers)
を有する多層の磁性層からなる。この磁性層は、例えば
非晶質のTbFe、TbFeCo、GdFe、GdFeCo、DyFe、DyFeCo等
からなる。
【0005】基本発明に使用する媒体は、「基本的に垂
直磁化可能な磁性薄膜からなる記録及び再生層として機
能する層(以下、メモリー層またはM層という)と、同
じく垂直磁化可能な磁性薄膜からなる記録補助層(以
下、記録層またはW層という)とを含み、両層は交換結
合(exchange-coupled) しており、かつ、室温でM層の
磁化の向きは変えないでW層の磁化のみを所定の向きに
向けておくことができるオーバーライト可能な多層光磁
気記録媒体」である。W層は、M層に比べて室温におい
て低い保磁力Hc と高いキュリー点Tc を持つ。
【0006】そして、情報をM層(場合によりW層に
も)における基板に垂直な方向(「A向き」とする)の
磁化を有するマークとその反対方向(「逆A向き」とす
る)の磁化を有するマークにより記録する。この媒体
は、W層が磁界手段(例えば初期補助磁界Hini. )によ
って、その磁化の向きを一方向に揃えることができる。
しかも、そのとき、M層の磁化の向きは反転せず、更
に、一旦一方向に揃えられたW層の磁化の向きは、M層
からの交換結合力を受けても反転せず、逆にM層の磁化
の向きは、一方向に揃えられたW層からの交換結合力を
受けても反転しない。
【0007】基本発明の記録方法では、記録媒体は記録
前までに磁界手段によりW層の磁化の向きだけが一方向
に揃えられるようにする。その上で、2値化情報に従い
パルス変調されたレーザービームを媒体に照射する。レ
ーザービームの強度は、高レベルPH と低レベルPL
2値に制御され、これはパルスの高レベルと低レベルに
相当する。この低レベルは、再生時に媒体を照射する再
生レベルPR よりも高い。既に知られているように、記
録をしない時にも、例えば媒体における所定の記録場所
をアクセスするためにレーザーを「非常な低レベル」で
点灯することが一般的である。この非常な低レベルも、
再生レベルPR と同一又は近似のレベルである。
【0008】低レベルのレーザービームを媒体に照射し
た場合に媒体が達する温度においては、W層の磁化の向
きは変わらず、M層の磁化の向きは、M層とW層との間
に磁壁が存在しない状態の向きになる。これを低温プロ
セスといい、このプロセスが起こる温度領域を低温プロ
セス温度TL という。一方、高レベルのレーザービーム
を媒体に照射した場合に媒体が達する更に高い温度にお
いては、W層の磁化の向きは記録磁界の方向に倣い、M
層の磁化の向きは、M層とW層との間に磁壁が存在しな
い状態の向きになる。これを高温プロセスといい、この
プロセスが起こる温度領域を高温プロセス温度TH とい
う。
【0009】レーザービームの照射後は、磁界手段が働
くことにより、高レベルのレーザービーム照射によって
記録磁界の方向に倣ったW層の磁化は、再び磁界手段の
向きに倣う。従って、磁界手段の磁化の向きと記録磁界
の向きを逆にしておけば、既に記録されているM層に、
新たな記録が繰り返し記録(即ち、オーバーライト)で
きるのである。これが光変調オーバーライト光磁気記録
の原理である。
【0010】以上説明した内容を、若干表現を換えれ
ば、高レベルのレーザービーム照射によって記録マーク
を形成し、低レベルのレーザービーム照射によって記録
マークを消去することで、新しい情報を古い情報の上に
オーバーライト(重ね書き)するとも言える。ところ
で、光ディスクに実際に記録を行う場合には、記録マー
クの形状を最適とするために、記録しようとするディス
クの記録感度、最適記録温度、環境温度に応じてレーザ
ービーム強度の微調整が必要となる。現在、市販されて
いる光磁気ディスク記録装置には、実際に情報を記録す
る前にテスト記録を行ってレーザービーム強度の微調整
を行っているものもある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようにテスト記録を行ってレーザービーム強度の微調整
を行っても、オーバーライト光記録において誤記録と判
定される場合があった。このような場合、前回の記録マ
ークが低レベルPL のレーザービーム強度により充分に
消去されていないことがその原因の大半であった。
【0012】これは、光強度変調オーバーライト記録に
おいては、低レベルレーザービーム強度PL は、記録の
みではなく消去にも関与する重要なパラメータであるた
め、テスト記録を行って記録レーザービーム強度を求め
ても、PL を低く設定し過ぎて消去不良となるためにオ
ーバーライトが十分に行えないことによるものであっ
た。
【0013】本発明は、かかる問題点を解決し、安定し
たオーバーライト記録を行える光記録方法の提供を目的
とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明者らはかかる問題
点の解決のために、高温プロセスが起こるレーザービー
ム強度の下限値PHth を求め、その値を基に高レベルレ
ーザービーム強度を暫定的に設定し、その暫定レーザー
ビーム強度によりテスト記録領域に磁化反転マークを形
成した後、テスト記録領域を再生し、その後、テスト記
録領域にレーザービームを照射して磁化反転マークの消
去を行った後、テスト記録領域を再び再生し、消去を行
う前と後の再生信号を比較することにより、最適な低レ
ベルレーザービーム強度PL を決定することができ、そ
れにより消去不良の発生が抑えられることを見出し本発
明をなすに至った。
【0015】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図1を用い
て説明する。光変調によるオーバーライト可能な光磁気
ディスクを用意する。この光磁気ディスクは、記録周波
数の異なる複数の記録ゾーンに区切られており、所定の
領域には、各記録ゾーンにおける記録レーザービーム強
度の基準値の情報が記録されている。
【0016】この光磁気ディスクを記録再生装置にセッ
トして、所定の領域から記録レーザービーム強度に関す
る情報を読み込む。次に、テスト記録領域に対して、そ
のセクター毎に高レベルレーザービーム強度PH を変化
させながら記録を行い磁化反転マークを形成する。この
際、形成する磁化反転マークは検出を容易にするため長
めのマークとすることが好ましい。次に、記録を行った
領域を再生し、マークが記録されたレーザービーム強度
の下限値PHth を求める。ただし、PHth 付近のレーザ
ービーム強度で記録したマークは、その再生信号レベル
が極めて低いためその検出は難しいので、ある程度のレ
ベル以上の再生信号が検出されたマークの記録を行った
レーザービーム強度を下限値PHth とするのが現実的で
ある。
【0017】そして、求められた下限値PHth に係数を
掛けるなどの計算により、暫定的に高レベルレーザービ
ーム強度を設定する。係数を掛ける場合は、100 〜200
%が適当である。次に、テスト記録領域の複数のセクタ
ーに、暫定的に設定されたレーザービーム強度で記録を
行い磁化反転マークを形成した後、この領域を再生し、
その再生信号を記憶する。次に、記録を行った領域にP
L にレーザービームをDC点灯させた状態で1セクター
毎または複数セクター毎にビーム強度を変化させながら
照射して消去動作を行った後、テスト記録領域を再生
し、消去動作を行う前と後で再生信号を比較し、磁化反
転マークが消去されたかどうかを評価する。
【0018】評価には種々の方法が考えられる。例え
ば、信号を目視により比較して評価する方法もあるし、
また、予め所定の消去率を設定しておき、消去動作を行
う前と後の再生信号強度の変化から求めた消去率が所定
の値以下になったかどうかで評価する方法もある。この
場合、この所定の値は 0.01 〜0.5 程度が望ましい。こ
のようにして磁化反転マークが消去されるレーザービー
ム強度の下限値PLth を求める。そして、PLth を基に
低レベルレーザービーム強度PL を決定する。低レベル
レーザービーム強度PL は、PHth とPLth の両方を用
いて決定してもよい。例えば、PL =α* PHth +β*
Lth の式に従って決定する等である。
【0019】更に、PL を決定した後、別にテスト記録
を行うことによって最適なPH を求めるのもよい。即
ち、低レベルレーザービーム強度PL を決定した値に固
定し、高レベルレーザービーム強度PH を1セクター毎
または複数セクター毎に変化させてマークを形成するこ
とにより、最適なPH を求めるというものである。最適
なPH かどうかを判断するにはいくつかの方式が考えら
れる。例えば、テスト記録時に特定のパターンを記録し
た後、これを再生し、記録パターンと再生パターンをチ
ャネル毎に比較する。高レベルレーザービーム強度が最
適値からずれるに従って、記録が正確に行われなかった
り、あるいは、オーバーライト記録する前に記録されて
いたマークが消え残ったりすることにより、記録パター
ンとは異なるパターンが再生されるようになり、エラー
が増加する。そこで、エラーが殆ど検出されないレーザ
ービーム強度領域の中心付近を最適高レベルレーザービ
ーム強度とする。
【0020】また、別の方法としては、低レベルレーザ
ービーム強度PL を固定し、高レベルレーザービーム強
度PH を1セクター毎または複数セクター毎に変化させ
て、短いマークの繰り返しと長いマークの繰り返しが交
互になるパターンを記録し、これを再生したとき各々の
繰り返し部分の再生信号の中心のオフセット量が0にな
るような高レベルレーザービーム強度を求め、これを最
適値とするというものである。
【0021】以上のように、種々の方法により、高レベ
ルレーザービーム強度PH と低レベルレーザービーム強
度PL の組み合わせが決定される。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
オーバーライト可能な光ディスクに記録する場合、レー
ザービーム強度を最適に設定できるので、PL を低く設
定し過ぎて消去不良となるためにオーバーライトが充分
に行えないという問題がなくなり、安定したオーバーラ
イト記録が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の光記録方法を説明するフローチャー
トである。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 オーバーライト可能な光記録媒体に記録
    を行うための記録レーザービーム強度を決定する光記録
    方法において、 高温プロセスが起こるレーザービーム強度の下限値P
    Hth を求め、その値を基に高レベルレーザービーム強度
    を暫定的に設定し、前記暫定レーザービーム強度を用い
    てテスト記録領域に磁化反転マークを形成した後、前記
    テスト記録領域を再生し、その後、前記テスト記録領域
    にレーザービームを照射して磁化反転マークの消去を行
    った後、前記テスト記録領域を再生し、消去を行う前と
    後の再生信号を比較することにより、最適な低レベルレ
    ーザービーム強度を決定することを特徴とするオーバー
    ライト可能な光記録媒体の光記録方法。
  2. 【請求項2】 消去を行う前と後の再生信号の比較は、
    消去率を求めることによることを特徴とする請求項1記
    載のオーバーライト可能な光記録媒体の光記録方法。
  3. 【請求項3】 磁化反転マークを消去する際の消去レー
    ザービーム強度を、1セクター毎または複数セクター毎
    に変化させることを特徴とする請求項1記載のオーバー
    ライト可能な光記録媒体の光記録方法。
  4. 【請求項4】 0.01〜 0.5の範囲から選んだ値を消去率
    の所定値とし、前記所定の消去率を実現する消去レーザ
    ービーム強度の下限値をPLth とし、PLthを基に最適
    な低レベルレーザービーム強度を決定することを特徴と
    する請求項2記載のオーバーライト可能な光記録媒体の
    光記録方法。
  5. 【請求項5】 PLth とPHth を基に低レベルのレーザ
    ービーム強度を決定することを特徴とする請求項4記載
    のオーバーライト可能な光記録媒体の光記録方法。
  6. 【請求項6】 磁化反転マークは、データ領域に記録さ
    れる最短マークよりは長いマークであることを特徴とす
    る請求項1記載のオーバーライト可能な光記録媒体の光
    記録方法。
  7. 【請求項7】 オーバーライト可能な光記録媒体は互い
    に交換結合した複数の磁性層を有する光磁気記録媒体を
    用いることを特徴とする請求項1記載のオーバーライト
    可能な光記録媒体の光記録方法。
  8. 【請求項8】 請求項1記載の光記録方法によって最適
    な低レベルレーザービーム強度を決定した後、前記最適
    な低レベルレーザービーム強度と組み合わせて、高レベ
    ルのレーザービーム強度を1セクター毎または複数セク
    ター毎に変化させることにより記録を行い最適な高レベ
    ルレーザービーム強度を決定することを特徴とする光記
    録方法。
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