JPH08287538A

JPH08287538A - 光記録方法及び光記録媒体

Info

Publication number: JPH08287538A
Application number: JP7083629A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Matsumoto; 広行松本; Shinichi Kurita; 信一栗田; Koichiro Ishii; 浩一郎石井; Masafumi Horikawa; 雅史堀川
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1995-04-10
Filing date: 1995-04-10
Publication date: 1996-11-01

Abstract

(57)【要約】【目的】低レベルＰ_Lの設定が低くなり過ぎて、オーバ
ーライト記録の際に消去不良が起こることのない最適な
レーザービーム強度を求める方法を提供する。【構成】低レベルと高レベルのレーザービーム強度比を
周囲温度に応じて変化させてテスト記録を行うことで、
最適な記録レーザービーム強度を求める。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、オーバーライト可能な
光記録媒体に情報を記録する光記録方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、高密度、大容量、高いアクセス速
度、並びに高い記録及び再生速度を含めた種々の要求を
満足する光学的記録再生方法、それに使用される記録装
置、再生装置及び記録媒体が普及している。光学的記録
再生方法には、熱による孔開け、相変化、光磁気等の原
理を用いた多数の種類がある。このうち、情報を記録し
た後、消去することができ、再び新たな情報を記録する
ことが繰り返し何度も可能である相変化や光磁気による
方法は、コンピュータの外部メモリーや民生用オーディ
オ機器向けに広く応用されてきている。

【０００３】最近まで光記録再生方法では、記録済みの
媒体に消去動作なしに新たな情報を記録するオーバーラ
イトは不可能とされていた。しかし、照射する光ビーム
の強度を記録すべき２値化情報に従い変調するだけで、
オーバーライトが可能な光記録方法、それに使用される
オーバーライト可能な光記録媒体、及びそれに使用され
るオーバーライト可能な記録装置が提案された。

【０００４】これを光磁気記録を例に説明する。なお、
この方法は複数国に特許出願され、このうち米国では特
許登録された（特開昭62−175948号＝DE3,619,618A1 ＝
USP5,239,524 ）。以下、この発明を「基本発明」と引
用する。この光磁気記録再生方法で使用されるオーバー
ライト可能な光磁気記録媒体は記憶する層として、垂直
磁気異方性(perpendicular magnetic layer orlayers)
を有する多層の磁性層からなる。この磁性層は、例えば
非晶質のTbFe、TbFeCo、GdFe、GdFeCo、DyFe、DyFeCo等
からなる。

【０００５】基本発明に使用する媒体は、「基本的に垂
直磁化可能な磁性薄膜からなる記録及び再生層として機
能する層（以下、メモリー層またはＭ層という）と、同
じく垂直磁化可能な磁性薄膜からなる記録補助層（以
下、記録層またはＷ層という）とを含み、両層は交換結
合（exchange-coupled) しており、かつ、室温でＭ層の
磁化の向きは変えないでＷ層の磁化のみを所定の向きに
向けておくことができるオーバーライト可能な多層光磁
気記録媒体」である。Ｗ層は、Ｍ層に比べて室温におい
て低い保磁力Ｈc と高いキュリー点Ｔc を持つ。

【０００６】そして、情報をＭ層（場合によりＷ層に
も）における基板に垂直な方向（「Ａ向き」とする）の
磁化を有するマークとその反対方向（「逆Ａ向き」とす
る）の磁化を有するマークにより記録する。この媒体
は、Ｗ層が磁界手段（例えば初期補助磁界Hini. ）によ
って、その磁化の向きを一方向に揃えることができる。
しかも、そのとき、Ｍ層の磁化の向きは反転せず、更
に、一旦一方向に揃えられたＷ層の磁化の向きは、Ｍ層
からの交換結合力を受けても反転せず、逆にＭ層の磁化
の向きは、一方向に揃えられたＷ層からの交換結合力を
受けても反転しない。

【０００７】基本発明の記録方法では、記録媒体は記録
前までに磁界手段によりＷ層の磁化の向きだけが一方向
に揃えられるようにする。その上で、２値化情報に従い
パルス変調されたレーザービームを媒体に照射する。レ
ーザービームの強度は、高レベルＰ_Hと低レベルＰ_Lの
２値に制御され、これはパルスの高レベルと低レベルに
相当する。この低レベルは、再生時に媒体を照射する再
生レベルＰ_Rよりも高い。既に知られているように、記
録をしない時にも、例えば媒体における所定の記録場所
をアクセスするためにレーザーを「非常な低レベル」で
点灯することが一般的である。この非常な低レベルも、
再生レベルＰ_Rと同一又は近似のレベルである。

【０００８】低レベルのレーザービームを媒体に照射し
た場合に媒体が達する温度においては、Ｗ層の磁化の向
きは変わらず、Ｍ層の磁化の向きは、Ｍ層とＷ層との間
に磁壁が存在しない状態の向きになる。これを低温プロ
セスといい、このプロセスが起こる温度領域を低温プロ
セス温度Ｔ_Lという。一方、高レベルのレーザービーム
を媒体に照射した場合に媒体が達する更に高い温度にお
いては、Ｗ層の磁化の向きは記録磁界の方向に倣い、Ｍ
層の磁化の向きは、Ｍ層とＷ層との間に磁壁が存在しな
い状態の向きになる。これを高温プロセスといい、この
プロセスが起こる温度領域を高温プロセス温度Ｔ_Hとい
う。

【０００９】レーザービームの照射後は、磁界手段が働
くことにより、高レベルのレーザービーム照射によって
記録磁界の方向に倣ったＷ層の磁化は、再び磁界手段の
向きに倣う。従って、磁界手段の磁化の向きと記録磁界
の向きを逆にしておけば、既に記録されているＭ層に、
新たな記録が繰り返し記録（即ち、オーバーライト）で
きるのである。これが光変調オーバーライト光磁気記録
の原理である。

【００１０】以上説明した内容を、若干表現を換えれ
ば、高レベルのレーザービーム照射によって記録マーク
を形成し、低レベルのレーザービーム照射によって記録
マークを消去することで、新しい情報を古い情報の上に
オーバーライト（重ね書き）するとも言える。光記録媒
体に記録を行う際には、信号パルスに対するマークの長
さや太さ等の形状を最適化するために、媒体の記録感度
や環境温度に応じて最適なレーザービーム強度を設定す
ることが必要となる。この最適なレーザービーム強度を
求める過程をテスト記録と呼んでいる。現在、市販され
ている光磁気ディスク記録装置にも、情報を記録する前
にテスト記録を行って最適なレーザービーム強度を求め
ているものがある。

【００１１】テスト記録は、オーバーライトでない従来
の光記録媒体（非オーバーライト媒体）においては、２
値のレーザービーム強度の比を一定に保ったまま、強度
を変化させることで、最適のレーザービーム強度を求め
ていた。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかし、光強度変調オ
ーバーライト記録では、低レベルＰ_Lのレーザービーム
強度は記録のみならず消去にも関与している。従って、
非オーバーライト媒体のように、２値のレーザービーム
強度の比を一定に保ったまま、強度を変化させるだけで
は、低レベルＰ_Lの設定が低くなり過ぎて、オーバーラ
イト記録の際に消去不良が起こる傾向があった。

【００１３】本発明はかかる問題点を解決し、オーバー
ライト記録にとって最適なレーザービーム強度を求める
方法を提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明者らは、テスト記
録を行う場合、ディスクの温度を測定し、その結果を基
に強度比を変えてテスト記録を行うことで、消去不良を
起こさない最適なレーザービーム強度が求められること
を見出し、本発明をなすに至った。従って、本発明は第
１に「オーバーライト可能な光記録媒体に情報を記録す
る光記録方法において、低レベルと高レベルのレーザー
ビーム強度比を周囲温度に応じて変化させてテスト記録
を行うことで、最適な記録レーザービーム強度を求める
ことを特徴とする光記録方法」を提供し、第２に「光記
録媒体は、互いに交換結合した２層以上の磁性層を含む
光磁気記録媒体であることを特徴とする請求項１に記載
の光記録方法」を提供し、第３に「低レベルと高レベル
のレーザービーム強度比を光記録媒体の低温プロセス温
度Ｔ_L、高温プロセス温度Ｔ_H、及び周囲温度Ｔ_Rか
ら、 α＝（Ｔ_H−Ｔ_R）／（Ｔ_L−Ｔ_R）とすることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法」
を提供し、第４に「低レベルと高レベルのレーザービー
ム強度比の情報を記録したことを特徴とするオーバーラ
イト可能な光記録媒体」を提供し、第５に「複数の記録
媒体温度における低レベルと高レベルのレーザービーム
強度比の情報を記録したことを特徴とする請求項４に記
載の光記録媒体」を提供する。

【００１５】

【作用】低レベルと高レベルのレーザービーム強度の最
適な強度比αは、低温プロセス温度Ｔ_L、高温プロセス
温度Ｔ_H、及び媒体温度Ｔ_Rにより、 α＝（Ｔ_H−Ｔ_R）／（Ｔ_L−Ｔ_R） (1) と表せる。Ｔ_L、Ｔ_H、及びＴ_Rは環境温度によって影
響を受けるので、αは媒体温度により変化する。言い換
えれば媒体温度によってαを変化させる必要がある。し
かし、実際には媒体は高速で移動しているので、温度計
を媒体に接触して常に温度測定するのは困難である。そ
こで間接的に媒体温度を推定し、それによりαを決める
のが一般的である。例えば、媒体の周囲の温度を測定
し、その温度を基にαを決める等である。

【００１６】Ｔ_LとＴ_Hを実測することも容易ではない
ので、予め媒体に、テスト記録を開始する際に使用する
これらの値を記録しておくことが望ましい。この場合、
Ｔ_LとＴ_Hの強度比を記録しておくと更に望ましい。こ
の情報は記録装置側に記録しておいてもよい。以下、実
施例により本発明をより具体的に説明するが、本発明は
これに限られるものではない。

【００１７】

【実施例】光変調によるオーバーライト可能な光磁気デ
ィスクを用意する。この光磁気ディスクは、記録周波数
の異なる複数の記録ゾーンに区切られており、所定の領
域には、複数の記録ゾーンでの10℃及び40℃における記
録レーザービーム強度に関する情報が記録されている。

【００１８】この光磁気ディスクを記録再生装置にセッ
トして、所定の領域から記録レーザービーム強度に関す
る情報を読み込む。同時に周囲温度を測定し、これらの
値より、低レベルと高レベルのレーザービーム強度の強
度比を設定する。次に、連続の短マークと連続の長マー
クを交互に繰り返すテスト記録用パターンに基づいて、
上記強度比は変えずに低レベルと高レベルのレーザービ
ーム強度を段階的に変化させてテスト記録を行う。

【００１９】次に、テスト記録した信号を再生して、連
続の短マークの再生信号の振幅中心と連続の長マークの
再生信号の振幅中心の差（オフセット量）を測定する。
この値がゼロとなるレーザービーム強度を図２に示すよ
うに求め、低レベルと高レベルのレーザービーム強度を
決定する。以上のような手順で、記録レーザービーム強
度の組み合わせが決定される。

【００２０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光強度変調オーバーライト可能な光ディスクに記録する
場合、低レベルレーザービーム強度と高レベルレーザー
ビーム強度の比を最適に設定できるため、低レベルの設
定が低くなり過ぎて、オーバーライト記録の際に消去不
良が起こることのない光記録方法を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光記録方法を説明するフローチ
ャートである。

【図２】本発明の実施例で用いたテスト記録の高レベ
ルレーザービーム強度Ｐ_Hとオフセット量の差を示した
グラフである。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者堀川雅史東京都千代田区丸の内３丁目２番３号株式会社ニコン内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】オーバーライト可能な光記録媒体に情報
を記録する光記録方法において、低レベルと高レベルの
レーザービーム強度比を周囲温度に応じて変化させてテ
スト記録を行うことで、最適な記録レーザービーム強度
を求めることを特徴とする光記録方法。
【請求項２】光記録媒体は、互いに交換結合した２層
以上の磁性層を含む光磁気記録媒体であることを特徴と
する請求項１に記載の光記録方法。
【請求項３】低レベルと高レベルのレーザービーム強
度比を光記録媒体の低温プロセス温度Ｔ_L、高温プロセ
ス温度Ｔ_H、及び周囲温度Ｔ_Rから、 α＝（Ｔ_H−Ｔ_R）／（Ｔ_L−Ｔ_R）とすることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項４】低レベルと高レベルのレーザービーム強
度比の情報を記録したことを特徴とするオーバーライト
可能な光記録媒体。
【請求項５】複数の記録媒体温度における低レベルと
高レベルのレーザービーム強度比の情報を記録したこと
を特徴とする請求項４に記載の光記録媒体。