JPH09174429A - ウェーハ研磨装置 - Google Patents
ウェーハ研磨装置Info
- Publication number
- JPH09174429A JPH09174429A JP33462895A JP33462895A JPH09174429A JP H09174429 A JPH09174429 A JP H09174429A JP 33462895 A JP33462895 A JP 33462895A JP 33462895 A JP33462895 A JP 33462895A JP H09174429 A JPH09174429 A JP H09174429A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- polishing
- pair
- roller
- grinding wheels
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】研磨精度及び仕上げ面粗さが高く、生産性の高
いウェーハ研磨装置の提供。 【解決手段】ウェーハ24を一対のローラ状の研磨砥石
34a、34bの間に通過させるとともに、その研磨砥
石34a、34bの上流側から研磨砥石34a、34b
とウェーハ24との接触部に向けて加工液を供給する。
このとき、前記一対の研磨砥石34a、34bは、ウェ
ーハ24の搬送方向上流側から下流側に向かう向きに回
転させる。これにより、供給された加工液は全て研磨砥
石34a、34bの下流側に排出され、研磨砥石34
a、34bとウェーハ24との接触部には、常に新しい
加工液が供給される。したがって、切り屑等でウェーハ
24が傷つくこともなく、高い研磨精度、仕上げ面粗さ
のウェーハ24を得ることができる。また、小径の砥石
を使用することにより、砥石の高速回転化が可能とな
り、処理スピードが向上する。
いウェーハ研磨装置の提供。 【解決手段】ウェーハ24を一対のローラ状の研磨砥石
34a、34bの間に通過させるとともに、その研磨砥
石34a、34bの上流側から研磨砥石34a、34b
とウェーハ24との接触部に向けて加工液を供給する。
このとき、前記一対の研磨砥石34a、34bは、ウェ
ーハ24の搬送方向上流側から下流側に向かう向きに回
転させる。これにより、供給された加工液は全て研磨砥
石34a、34bの下流側に排出され、研磨砥石34
a、34bとウェーハ24との接触部には、常に新しい
加工液が供給される。したがって、切り屑等でウェーハ
24が傷つくこともなく、高い研磨精度、仕上げ面粗さ
のウェーハ24を得ることができる。また、小径の砥石
を使用することにより、砥石の高速回転化が可能とな
り、処理スピードが向上する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はウェーハ研磨装置に
係り、特に、半導体、セラミックス、ガラス等硬脆性材
のウェーハを研磨するウェーハ研磨装置に関する。
係り、特に、半導体、セラミックス、ガラス等硬脆性材
のウェーハを研磨するウェーハ研磨装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の研磨装置は、ウェーハテーブル上
にウェーハテーブルを載置し、そのウェーハテーブル上
のウェーハテーブルに円盤状に形成された回転する研磨
砥石を押し付け、ウェーハの外周部から加工液を供給し
ながらウェーハを研磨していた。
にウェーハテーブルを載置し、そのウェーハテーブル上
のウェーハテーブルに円盤状に形成された回転する研磨
砥石を押し付け、ウェーハの外周部から加工液を供給し
ながらウェーハを研磨していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の研磨装置では、ウェーハと円盤状の研磨砥石とが密
着されているため、加工液がウェーハ全面に均一かつ十
分に供給されず、研磨ムラ等が生じやすいという欠点が
あった。また、研磨後の加工液の排出が不十分なため、
その加工液中に含まれる切り屑等によりウェーハに傷が
つくという欠点もあった。さらに、大径の研磨砥石を使
用して研磨するため、ウェーハと研磨砥石との相対速度
を上げることができず、1回の処理に多くの時間を要す
るという欠点もあった。
来の研磨装置では、ウェーハと円盤状の研磨砥石とが密
着されているため、加工液がウェーハ全面に均一かつ十
分に供給されず、研磨ムラ等が生じやすいという欠点が
あった。また、研磨後の加工液の排出が不十分なため、
その加工液中に含まれる切り屑等によりウェーハに傷が
つくという欠点もあった。さらに、大径の研磨砥石を使
用して研磨するため、ウェーハと研磨砥石との相対速度
を上げることができず、1回の処理に多くの時間を要す
るという欠点もあった。
【0004】本発明はこのような事情に鑑みて成された
もので、研磨精度及び仕上げ面粗さが高く、生産性の高
いウェーハ研磨装置を提供することを目的とする。
もので、研磨精度及び仕上げ面粗さが高く、生産性の高
いウェーハ研磨装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決する為の手段】本発明は前記目的を達成す
るために、所定の間隔をもって配置された一対の研磨ロ
ーラと、ウェーハを保持し、前記一対の研磨ローラの間
隔に該ウェーハを通過させるウェーハ搬送手段と、前記
一対の研磨ローラを前記ウェーハの搬送方向上流側から
下流側に向かう向きに回転させる回転駆動源と、前記研
磨ローラの上流側に設置され、該研磨ローラと前記ウェ
ーハの接触部に向けて加工液を供給する加工液供給手段
と、から成り、前記一対の研磨ローラの間を通過するウ
ェーハの両面を前記研磨ローラ及び前記加工液で研磨す
ることを特徴とする。
るために、所定の間隔をもって配置された一対の研磨ロ
ーラと、ウェーハを保持し、前記一対の研磨ローラの間
隔に該ウェーハを通過させるウェーハ搬送手段と、前記
一対の研磨ローラを前記ウェーハの搬送方向上流側から
下流側に向かう向きに回転させる回転駆動源と、前記研
磨ローラの上流側に設置され、該研磨ローラと前記ウェ
ーハの接触部に向けて加工液を供給する加工液供給手段
と、から成り、前記一対の研磨ローラの間を通過するウ
ェーハの両面を前記研磨ローラ及び前記加工液で研磨す
ることを特徴とする。
【0006】本発明によれば、ウェーハを一対の研磨ロ
ーラの間に通過させ、その研磨ローラの上流側から研磨
ローラとウェーハとの接触部に向けて加工液を供給し、
ウェーハの両面を研磨する。このとき、前記一対の研磨
ローラは、ウェーハの搬送方向上流側から下流側に向か
う向きに回転するため、その研磨ローラとウェーハとの
接触部に供給された加工液は全て研磨ローラの下流側に
排出される。したがって、研磨ローラとウェーハとの接
触部には、常に新しい加工液が供給されるため、切り屑
等でウェーハが傷つくこともなく、高い研磨精度、仕上
げ面粗さのウェーハを得ることができる。また、研磨ロ
ーラの径は、大径のものを使用する必要がないので、研
磨ローラの高速回転化が可能となる。これにより、1回
の処理スピードが向上する。
ーラの間に通過させ、その研磨ローラの上流側から研磨
ローラとウェーハとの接触部に向けて加工液を供給し、
ウェーハの両面を研磨する。このとき、前記一対の研磨
ローラは、ウェーハの搬送方向上流側から下流側に向か
う向きに回転するため、その研磨ローラとウェーハとの
接触部に供給された加工液は全て研磨ローラの下流側に
排出される。したがって、研磨ローラとウェーハとの接
触部には、常に新しい加工液が供給されるため、切り屑
等でウェーハが傷つくこともなく、高い研磨精度、仕上
げ面粗さのウェーハを得ることができる。また、研磨ロ
ーラの径は、大径のものを使用する必要がないので、研
磨ローラの高速回転化が可能となる。これにより、1回
の処理スピードが向上する。
【0007】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るウェーハ研磨装置の好ましい実施の形態について詳説
する。図1は、本発明に係るウェーハ研磨装置の実施の
形態の側面図であり、図2はそのA−A断面図である。
るウェーハ研磨装置の好ましい実施の形態について詳説
する。図1は、本発明に係るウェーハ研磨装置の実施の
形態の側面図であり、図2はそのA−A断面図である。
【0008】同図に示すように、前記ウェーハ研磨装置
10は、同一ライン上にウェーハ24を供給する供給ス
テーション12、ウェーハ24を研磨加工する加工ステ
ーション14、加工後のウェーハ24の洗浄を行う洗浄
ステーション16及び加工・洗浄の終えたウェーハ24
を収納カセット46に収納する収納ステーション18を
有し、各ステーションへのウェーハ24の搬送は、スラ
イドテーブル20上を移動する搬送装置22で行う。
10は、同一ライン上にウェーハ24を供給する供給ス
テーション12、ウェーハ24を研磨加工する加工ステ
ーション14、加工後のウェーハ24の洗浄を行う洗浄
ステーション16及び加工・洗浄の終えたウェーハ24
を収納カセット46に収納する収納ステーション18を
有し、各ステーションへのウェーハ24の搬送は、スラ
イドテーブル20上を移動する搬送装置22で行う。
【0009】前記搬送装置22は、ウェーハ24を保持
するワークホルダ26及びワークホルダ26をスライド
テーブル20に沿って移動させるスライダ30を備えて
いる。このスライダ30は、図示しない駆動手段を備え
ており、連結部28を介して連結されたワークホルダ2
6を前記スライドテーブル20に沿って搬送する。ま
た、前記ワークホルダ26は、正方形状のプレートの中
央にウェーハ24と略同径の孔26Aが形成され、アー
ム26Bを介して前記連結部28に連結されている。前
記ウェーハ24は、このワークホルダ26の孔26Aに
収納され、両面が研磨可能なようにワークホルダ26の
両面上から突出した状態で前記スライドテーブル20上
を搬送される。
するワークホルダ26及びワークホルダ26をスライド
テーブル20に沿って移動させるスライダ30を備えて
いる。このスライダ30は、図示しない駆動手段を備え
ており、連結部28を介して連結されたワークホルダ2
6を前記スライドテーブル20に沿って搬送する。ま
た、前記ワークホルダ26は、正方形状のプレートの中
央にウェーハ24と略同径の孔26Aが形成され、アー
ム26Bを介して前記連結部28に連結されている。前
記ウェーハ24は、このワークホルダ26の孔26Aに
収納され、両面が研磨可能なようにワークホルダ26の
両面上から突出した状態で前記スライドテーブル20上
を搬送される。
【0010】前記供給ステーション12は、供給カセッ
ト32と図示しない移送装置を備えており、供給カセッ
ト32には、加工前のウェーハ24aが収納されてい
る。また、移送装置は、その供給カセット32に収納さ
れた加工前のウェーハ24aを前記搬送装置22のワー
クホルダ26に移送し、ワークホルダ26の孔26Aに
ウェーハ24aをセットする。
ト32と図示しない移送装置を備えており、供給カセッ
ト32には、加工前のウェーハ24aが収納されてい
る。また、移送装置は、その供給カセット32に収納さ
れた加工前のウェーハ24aを前記搬送装置22のワー
クホルダ26に移送し、ワークホルダ26の孔26Aに
ウェーハ24aをセットする。
【0011】前記供給ステーション12の下流側(図中
左側)には、加工ステーション14が配置されている。
加工ステーション14は、ウェーハ24を研磨する一対
の研磨砥石34a、34b及びその研磨部に加工液を供
給する加工液噴射ノズル36a、36bを備えている。
前記一対の研磨砥石34a、34bは、ローラ状に形成
され、前記スライドテーブル20を挟んで対向するよう
に配置されている。そして、一対の研磨砥石34a、3
4bの間には、スライドテーブル20上を搬送されてく
るウェーハ24が両砥石34a、34bに研磨されなが
ら通過できる間隔の隙間が形成されている。また、この
研磨砥石34a、34bの軸には、図示しないモータが
連結されて両軸駆動され、図中矢印方向、すなわち、ウ
ェーハ24の搬送方向上流側から下流側に向かう向きに
回転駆動される。
左側)には、加工ステーション14が配置されている。
加工ステーション14は、ウェーハ24を研磨する一対
の研磨砥石34a、34b及びその研磨部に加工液を供
給する加工液噴射ノズル36a、36bを備えている。
前記一対の研磨砥石34a、34bは、ローラ状に形成
され、前記スライドテーブル20を挟んで対向するよう
に配置されている。そして、一対の研磨砥石34a、3
4bの間には、スライドテーブル20上を搬送されてく
るウェーハ24が両砥石34a、34bに研磨されなが
ら通過できる間隔の隙間が形成されている。また、この
研磨砥石34a、34bの軸には、図示しないモータが
連結されて両軸駆動され、図中矢印方向、すなわち、ウ
ェーハ24の搬送方向上流側から下流側に向かう向きに
回転駆動される。
【0012】一方、前記加工液噴射ノズル36a、36
bは、前記研磨砥石34a、34bの上流側に配置さ
れ、ウェーハ24と研磨砥石34a、34bとの接触部
(線接触部)に向けて加工液を噴射する。この加工液
は、砥粒を含み、図示しない加工液貯留タンクに貯留さ
れ、ポンプにより送液されて前記加工液噴射ノズル36
a、36bより噴射される。
bは、前記研磨砥石34a、34bの上流側に配置さ
れ、ウェーハ24と研磨砥石34a、34bとの接触部
(線接触部)に向けて加工液を噴射する。この加工液
は、砥粒を含み、図示しない加工液貯留タンクに貯留さ
れ、ポンプにより送液されて前記加工液噴射ノズル36
a、36bより噴射される。
【0013】前記加工ステーション14の下流側(図中
左側)には、洗浄ステーション16が配置されている。
洗浄ステーション16は、一対のスラリシールド38
a、38b、洗浄液噴射ノズル40、一対の洗浄ブラシ
42a、42b及び一対のエアブロワー44a、44b
を備えている。前記スラリシールド38a、38bは、
前記研磨砥石34a、34bの下流部近傍に設置され、
加工ステーション14から排出された加工液が洗浄ステ
ーション16に飛散するのを防止している。この一対の
スラリシルード38a、38bは、前記スライドテーブ
ル20を挟んで垂直に設けられ、上側のスラリシールド
38aとスライドテーブル20との間には、搬送されて
くるウェーハ24が通過できる程度の隙間が形成されて
いる。
左側)には、洗浄ステーション16が配置されている。
洗浄ステーション16は、一対のスラリシールド38
a、38b、洗浄液噴射ノズル40、一対の洗浄ブラシ
42a、42b及び一対のエアブロワー44a、44b
を備えている。前記スラリシールド38a、38bは、
前記研磨砥石34a、34bの下流部近傍に設置され、
加工ステーション14から排出された加工液が洗浄ステ
ーション16に飛散するのを防止している。この一対の
スラリシルード38a、38bは、前記スライドテーブ
ル20を挟んで垂直に設けられ、上側のスラリシールド
38aとスライドテーブル20との間には、搬送されて
くるウェーハ24が通過できる程度の隙間が形成されて
いる。
【0014】前記洗浄液噴射ノズル40は、前記上側の
スラリシールド38aの下流部に設置され、図示しな
い、洗浄液貯留タンクから供給された洗浄液を研磨加工
されて搬送されてくるウェーハ24に向けて噴射し、ウ
ェーハ24を流水洗浄する。前記洗浄ブラシ42a、4
2bは、前記洗浄液噴射ノズル40の下流部に設置さ
れ、流水洗浄後のウェーハ24をスクラブ洗浄する。こ
の洗浄ブラシ42a、42bの軸には、図示しないモー
タが連結され、図中矢印方向に回転駆動される。
スラリシールド38aの下流部に設置され、図示しな
い、洗浄液貯留タンクから供給された洗浄液を研磨加工
されて搬送されてくるウェーハ24に向けて噴射し、ウ
ェーハ24を流水洗浄する。前記洗浄ブラシ42a、4
2bは、前記洗浄液噴射ノズル40の下流部に設置さ
れ、流水洗浄後のウェーハ24をスクラブ洗浄する。こ
の洗浄ブラシ42a、42bの軸には、図示しないモー
タが連結され、図中矢印方向に回転駆動される。
【0015】前記エアブロワー44a、44bは、前記
洗浄ブラシ42a、42bの下流側(図中左側)で上下
方向に互いに対向して配置され、スクラブ洗浄後のウェ
ーハ24の両面に圧縮エアを噴射してウェーハ24に付
着した洗浄液等を吹き飛ばして乾燥させる。ウェーハ2
4は、洗浄液噴射ノズル40の下部を通過することによ
り洗浄液が噴射供給されて流水洗浄され、一対の洗浄ブ
ラシ42a、42b間を通過することにより、スクラブ
洗浄され、さらに、一対のエアブロワー44a、44b
間を通過することにより、圧縮エアが噴射されて乾燥さ
れる。
洗浄ブラシ42a、42bの下流側(図中左側)で上下
方向に互いに対向して配置され、スクラブ洗浄後のウェ
ーハ24の両面に圧縮エアを噴射してウェーハ24に付
着した洗浄液等を吹き飛ばして乾燥させる。ウェーハ2
4は、洗浄液噴射ノズル40の下部を通過することによ
り洗浄液が噴射供給されて流水洗浄され、一対の洗浄ブ
ラシ42a、42b間を通過することにより、スクラブ
洗浄され、さらに、一対のエアブロワー44a、44b
間を通過することにより、圧縮エアが噴射されて乾燥さ
れる。
【0016】前記洗浄ステーション16の下流側(図中
左側)には、収納ステーション18が配置されている。
収納ステーション18は、収納カセット46と図示しな
い移送装置を備えており、収納カセット46は、加工・
洗浄の終了したウェーハ24bを移送装置を用いて収納
する。前記の如く構成された本発明に係るウェーハ研磨
装置の実施の形態の作用は次の通りである。
左側)には、収納ステーション18が配置されている。
収納ステーション18は、収納カセット46と図示しな
い移送装置を備えており、収納カセット46は、加工・
洗浄の終了したウェーハ24bを移送装置を用いて収納
する。前記の如く構成された本発明に係るウェーハ研磨
装置の実施の形態の作用は次の通りである。
【0017】まず、供給カセット32のウェーハ24a
は、図示しない移送装置により搬送装置22のワークホ
ルダ26の孔26Aにセットされる。ワークホルダ26
にセットされたウェーハ24は、スライダ30により、
加工ステーション14に搬送され、その加工ステーショ
ン14で両面を研磨加工される。このとき、ウェーハ2
4aは、両面が十分研磨されるように低速で搬送され
る。
は、図示しない移送装置により搬送装置22のワークホ
ルダ26の孔26Aにセットされる。ワークホルダ26
にセットされたウェーハ24は、スライダ30により、
加工ステーション14に搬送され、その加工ステーショ
ン14で両面を研磨加工される。このとき、ウェーハ2
4aは、両面が十分研磨されるように低速で搬送され
る。
【0018】この際、加工液は、加工液噴射ノズル36
a、36bにより供給されるが、加工液噴射ノズル36
a、36bは、研磨砥石34a、34bの上流部に設置
され、その研磨砥石34a、34bの上流側からウェー
ハ24との接触部(線接触部)に向けて加工液を噴射す
る。また、研磨砥石34a、34bは、ウェーハ24の
搬送方向上流側から下流側(図中矢印方向)に回転す
る。これにより、ウェーハ24と研磨砥石34a、34
bとの接触部に供給され、加工に供された加工液は、研
磨砥石34a、34bの回転により、常に研磨砥石34
a、34bの下流側に排出される。したがって、ウェー
ハ24と研磨砥石34a、34bの接触部には、常に新
しい加工液が供給されるので、従来の如く研磨後の加工
液の滞留による加工精度、仕上げ面粗さの低下が防止さ
れる。
a、36bにより供給されるが、加工液噴射ノズル36
a、36bは、研磨砥石34a、34bの上流部に設置
され、その研磨砥石34a、34bの上流側からウェー
ハ24との接触部(線接触部)に向けて加工液を噴射す
る。また、研磨砥石34a、34bは、ウェーハ24の
搬送方向上流側から下流側(図中矢印方向)に回転す
る。これにより、ウェーハ24と研磨砥石34a、34
bとの接触部に供給され、加工に供された加工液は、研
磨砥石34a、34bの回転により、常に研磨砥石34
a、34bの下流側に排出される。したがって、ウェー
ハ24と研磨砥石34a、34bの接触部には、常に新
しい加工液が供給されるので、従来の如く研磨後の加工
液の滞留による加工精度、仕上げ面粗さの低下が防止さ
れる。
【0019】また、研磨砥石34a、34b下流部に排
出された研磨後の加工液は、スラリシールド38a、3
8bにより、下流部への飛散が防止される。前記一対の
研磨砥石34a、34b間を通過したウェーハ24は、
スラリシールド38a、38bを通過して、洗浄ステー
ション16に搬送され、洗浄ステーション16で加工時
に付着した加工液等が洗浄される。
出された研磨後の加工液は、スラリシールド38a、3
8bにより、下流部への飛散が防止される。前記一対の
研磨砥石34a、34b間を通過したウェーハ24は、
スラリシールド38a、38bを通過して、洗浄ステー
ション16に搬送され、洗浄ステーション16で加工時
に付着した加工液等が洗浄される。
【0020】この洗浄工程は、まず、ウェーハ24が洗
浄液噴射ノズル40を通過することにより、その洗浄液
噴射ノズル40から噴射される洗浄液で流水洗浄され
る。そして、その洗浄液噴射ノズル40の下流部に設置
された一対の洗浄ブラシ42a、42b間を通過するこ
とにより、両面をスクラブ洗浄され、さらに、その洗浄
ブラシ42a、42bの下流部に設置された一対のエア
ブロワー44a、44bを通過することにより、両面に
噴射される圧縮エアでウェーハ24に付着した洗浄液等
を吹き飛ばされて乾燥される。
浄液噴射ノズル40を通過することにより、その洗浄液
噴射ノズル40から噴射される洗浄液で流水洗浄され
る。そして、その洗浄液噴射ノズル40の下流部に設置
された一対の洗浄ブラシ42a、42b間を通過するこ
とにより、両面をスクラブ洗浄され、さらに、その洗浄
ブラシ42a、42bの下流部に設置された一対のエア
ブロワー44a、44bを通過することにより、両面に
噴射される圧縮エアでウェーハ24に付着した洗浄液等
を吹き飛ばされて乾燥される。
【0021】前記洗浄ステーション16で洗浄の終了し
たウェーハ24は、収納ステーション18の収納カセッ
ト46の所定位置に収納される。以上の工程により、加
工は終了し、ワークホルダ26を再びスライドテーブル
20の右端部、すなわち元の位置に戻し、前記同様の操
作で供給カセット32のウェーハ24を加工する。
たウェーハ24は、収納ステーション18の収納カセッ
ト46の所定位置に収納される。以上の工程により、加
工は終了し、ワークホルダ26を再びスライドテーブル
20の右端部、すなわち元の位置に戻し、前記同様の操
作で供給カセット32のウェーハ24を加工する。
【0022】このように、本実施の形態のウェーハ研磨
装置10によれば、ウェーハ24の供給、搬送、加工、
洗浄及び収納を全て同一ラインで行うことができるの
で、極めて生産性の高い運転が可能となる。また、一回
の処理でウェーハ24両面を研磨することがきるので、
効率的である。また、ウェーハ24の加工面には、常に
新しい加工液が供給されるため、研磨精度及び仕上げ面
粗さの高いウェーハ24を得ることができる。
装置10によれば、ウェーハ24の供給、搬送、加工、
洗浄及び収納を全て同一ラインで行うことができるの
で、極めて生産性の高い運転が可能となる。また、一回
の処理でウェーハ24両面を研磨することがきるので、
効率的である。また、ウェーハ24の加工面には、常に
新しい加工液が供給されるため、研磨精度及び仕上げ面
粗さの高いウェーハ24を得ることができる。
【0023】さらに、使用する研磨砥石34a、34b
の径は、大径のものを使用する必要がないので、研磨砥
石34a、34bの高速回転化が可能となる。これによ
り、1回の処理スピードが向上し、生産性をさらに高め
ることができる。また、小径の研磨砥石34a、34b
を使用することにより、装置の小型化を図ることができ
る。
の径は、大径のものを使用する必要がないので、研磨砥
石34a、34bの高速回転化が可能となる。これによ
り、1回の処理スピードが向上し、生産性をさらに高め
ることができる。また、小径の研磨砥石34a、34b
を使用することにより、装置の小型化を図ることができ
る。
【0024】なお、図1の装置において、一対の研磨砥
石34a、34bの代わりに、ローラ状に形成した一対
の研磨布を用いて加工をしても、前記同様の効果を得る
ことができる。また、図1の装置において、研磨砥石3
4a、34bのうち一方を、研磨面を持たないローラ、
例えばポリテトラフルオロエチレン(商品名テフロン)
等の樹脂で成形したローラに変え、ウェーハ24の片側
面のみの加工をすることも可能である。また、前記樹脂
ローラには変えなくても、いずれかの研磨砥石34a、
34bの駆動源との連結を切り、従動回転させることに
よっても、片側面のみの加工は可能である。これによ
り、加工の選択幅が広がり、目的に合った加工を行うこ
とができる。
石34a、34bの代わりに、ローラ状に形成した一対
の研磨布を用いて加工をしても、前記同様の効果を得る
ことができる。また、図1の装置において、研磨砥石3
4a、34bのうち一方を、研磨面を持たないローラ、
例えばポリテトラフルオロエチレン(商品名テフロン)
等の樹脂で成形したローラに変え、ウェーハ24の片側
面のみの加工をすることも可能である。また、前記樹脂
ローラには変えなくても、いずれかの研磨砥石34a、
34bの駆動源との連結を切り、従動回転させることに
よっても、片側面のみの加工は可能である。これによ
り、加工の選択幅が広がり、目的に合った加工を行うこ
とができる。
【0025】また、ワークホルダ26を複数枚設け、順
次ウェーハ24を搬送できる構成、例えば、コンベア状
とすることにより、連続的な処理が可能となり、極めて
生産性の高い運転が可能となる。
次ウェーハ24を搬送できる構成、例えば、コンベア状
とすることにより、連続的な処理が可能となり、極めて
生産性の高い運転が可能となる。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
研磨ローラとウェーハとの接触部には、常に新しい加工
液が供給されるので、切り屑等でウェーハが傷つくこと
もなく、高い研磨精度、仕上げ面粗さのウェーハを得る
ことができる。また、研磨ローラの径は、大径のものを
使用する必要がないので、研磨ローラの高速回転化が可
能となる。これにより、1回の処理スピードが向上し、
生産性を高めることができる。
研磨ローラとウェーハとの接触部には、常に新しい加工
液が供給されるので、切り屑等でウェーハが傷つくこと
もなく、高い研磨精度、仕上げ面粗さのウェーハを得る
ことができる。また、研磨ローラの径は、大径のものを
使用する必要がないので、研磨ローラの高速回転化が可
能となる。これにより、1回の処理スピードが向上し、
生産性を高めることができる。
【図1】本発明に係るウェーハ研磨装置の実施の形態の
側面図
側面図
【図2】図1のA−A断面図
【図3】図1の要部拡大図
10…ウェーハ研磨装置 22…搬送装置 24…ウェーハ 26…ワークホルダ 32…供給カセット 34a、34b…研磨砥石 36a、36b…加工液噴射ノズル 40…洗浄液噴射ノズル 42a、42b…洗浄ブラシ 44a、44b…エアブロワー 46…収納カセット
Claims (3)
- 【請求項1】 所定の間隔をもって配置された一対の研
磨ローラと、 ウェーハを保持し、前記一対の研磨ローラの間隔に該ウ
ェーハを通過させるウェーハ搬送手段と、 前記一対の研磨ローラを前記ウェーハの搬送方向上流側
から下流側に向かう向きに回転させる回転駆動源と、 前記研磨ローラの上流側に設置され、該研磨ローラと前
記ウェーハの接触部に向けて加工液を供給する加工液供
給手段と、から成り、 前記一対の研磨ローラの間を通過するウェーハの両面を
前記研磨ローラ及び前記加工液で研磨することを特徴と
するウェーハ研磨装置。 - 【請求項2】 前記研磨ローラは、研磨砥石又は研磨布
であることを特徴とする請求項1記載のウェーハ研磨装
置。 - 【請求項3】 前記一対の研磨ローラを駆動研磨ローラ
と従動研磨ローラとで構成し、駆動研磨ローラ側で前記
ウェーハの片側面の研磨をすることを特徴とする請求項
1記載のウェーハ研磨装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33462895A JPH09174429A (ja) | 1995-12-22 | 1995-12-22 | ウェーハ研磨装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33462895A JPH09174429A (ja) | 1995-12-22 | 1995-12-22 | ウェーハ研磨装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09174429A true JPH09174429A (ja) | 1997-07-08 |
Family
ID=18279512
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33462895A Pending JPH09174429A (ja) | 1995-12-22 | 1995-12-22 | ウェーハ研磨装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09174429A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10159832A1 (de) * | 2001-12-06 | 2003-06-26 | Wacker Siltronic Halbleitermat | Halbleiterscheibe aus Silicium und Verfahren zu deren Herstellung |
US6589439B2 (en) * | 1999-10-15 | 2003-07-08 | Arch Specialty Chemicals, Inc. | Composition for selective etching of oxides over metals |
KR100508082B1 (ko) * | 1997-11-06 | 2005-11-08 | 삼성전자주식회사 | 폴리싱장치 |
CN107695858A (zh) * | 2017-09-28 | 2018-02-16 | 阜宁浔朋新材料科技有限公司 | 一种单晶硅切片生产用抛光装置 |
-
1995
- 1995-12-22 JP JP33462895A patent/JPH09174429A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100508082B1 (ko) * | 1997-11-06 | 2005-11-08 | 삼성전자주식회사 | 폴리싱장치 |
US6589439B2 (en) * | 1999-10-15 | 2003-07-08 | Arch Specialty Chemicals, Inc. | Composition for selective etching of oxides over metals |
DE10159832A1 (de) * | 2001-12-06 | 2003-06-26 | Wacker Siltronic Halbleitermat | Halbleiterscheibe aus Silicium und Verfahren zu deren Herstellung |
CN107695858A (zh) * | 2017-09-28 | 2018-02-16 | 阜宁浔朋新材料科技有限公司 | 一种单晶硅切片生产用抛光装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6643882B1 (en) | Substrate cleaning apparatus | |
TWI585838B (zh) | 基板背面之研磨方法及基板處理裝置 | |
US5868866A (en) | Method of and apparatus for cleaning workpiece | |
KR101841549B1 (ko) | 드레싱 장치 및 이를 포함하는 웨이퍼 연마 장치 | |
US20020007840A1 (en) | Substrate cleaning apparatus, substrate cleaning method and substrate processing apparatus | |
KR19980033003A (ko) | 세정 장치 | |
JP2003053662A (ja) | 加工歪除去装置 | |
JP2007194367A (ja) | 洗浄装置及び該洗浄装置を備えるダイシング装置 | |
JPH07230973A (ja) | 半導体処理装置 | |
JPH10284448A (ja) | 半導体ウェーハの研磨システム | |
US6813796B2 (en) | Apparatus and methods to clean copper contamination on wafer edge | |
JP7320358B2 (ja) | 加工装置及び洗浄方法 | |
JPH09174429A (ja) | ウェーハ研磨装置 | |
JP2012074545A (ja) | 保護フィルム貼付半導体基板の裏面研削方法 | |
JP2020184581A (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 | |
JP2001138233A (ja) | 研磨装置、研磨方法および研磨工具の洗浄方法 | |
JPH11254317A (ja) | ワーク研削加工方法及びワーク研削加工装置 | |
JP2017147334A (ja) | 基板の裏面を洗浄する装置および方法 | |
JP2007194612A (ja) | 半導体装置または半導体ウェハの製造方法 | |
JP2004090128A (ja) | 半導体ウエーハ研削盤 | |
JP7222721B2 (ja) | 洗浄機構 | |
KR102320081B1 (ko) | 처리 장치, 이것을 구비한 도금 장치, 반송 장치, 및 처리 방법 | |
JP4074118B2 (ja) | 研磨装置 | |
JP2017174940A (ja) | 研磨装置および研磨方法 | |
JPH08213352A (ja) | ウェーハ洗浄装置 |