JPH0916907A - Thin-film magnetic head and its manufacture - Google Patents

Thin-film magnetic head and its manufacture

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JPH0916907A
JPH0916907A JP18803995A JP18803995A JPH0916907A JP H0916907 A JPH0916907 A JP H0916907A JP 18803995 A JP18803995 A JP 18803995A JP 18803995 A JP18803995 A JP 18803995A JP H0916907 A JPH0916907 A JP H0916907A
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JP
Japan
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coil
film
groove
etching
magnetic head
Prior art date
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Application number
JP18803995A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuhiko Oguri
克彦 小栗
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Victor Company of Japan Ltd
Original Assignee
Victor Company of Japan Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0916907A publication Critical patent/JPH0916907A/en
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Abstract

PURPOSE: To obtain a low-impedance-noise thin-film magnetic head. CONSTITUTION: The thin-film head is constituted by laminating an insulating film 2, magnetic cores 3, 9, and 12, and a coil 7 on a substrate 1 in order. The coil 7 is formed etching the insulating film 2 to form a coil groove 7a and then embedding a conductor film in the coil groove; and the thin-film head has a stopper film 18 for groove depth control at the coil groove etching, and the formation range of the stopper film 18 on a lower core 4 is limited to the area sandwiched almost between the upper and lower cores 4 and 12, thereby overetching the insulating film by a specific quantity at the coil groove etching. Consequently, the coil groove depth in an area where the stopper film is not present is made deeper than the coil groove depth of the area where the stopper film 18 is present to lower impedance noise.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク等の磁気
記録再生装置に使用されて好適な薄膜磁気ヘッド及びそ
の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thin film magnetic head suitable for use in a magnetic recording / reproducing apparatus such as a magnetic disk and a method for manufacturing the thin film magnetic head.

【0002】[0002]

【従来の技術】本出願人が先に提案した高密度磁気記録
に適した薄膜ヘッド(特開平4−89609号)である
が、コイル導体の断面積が小さいために直流抵抗が大き
い。そのためインピーダンスノイズが大きく、また、記
録時の通電による発熱も大きく、コイル周辺の部材がそ
の熱により歪み、クラックを生ずるなど信頼性に欠ける
ものであった。
2. Description of the Related Art A thin film head (Japanese Patent Laid-Open No. 4-89609) suitable for high-density magnetic recording proposed by the applicant of the present invention has a large DC resistance due to the small cross-sectional area of the coil conductor. Therefore, the impedance noise is large, and the heat generated by energization at the time of recording is large, so that the member around the coil is distorted by the heat and cracked, resulting in lack of reliability.

【0003】この欠点を解決するために、その後、本出
願人が提案した薄膜ヘッド(特願平6−86040号)
が図19に示すものであるが、その実施例にみるように
(図3〜図11)工程数の増加を招きコスト的に不利で
あった。また、最初に形成したコイルと後から形成する
コイルの正確な位置合わせが大変であった。
In order to solve this drawback, a thin film head proposed by the present applicant thereafter (Japanese Patent Application No. 6-86040).
19 is shown in FIG. 19, but as seen in the example (FIGS. 3 to 11), the number of steps is increased, which is disadvantageous in terms of cost. Further, it is difficult to accurately align the coil formed first and the coil formed later.

【0004】この従来の薄膜ヘッドの製造方法につい
て、以下に図と共に順次説明する。これらの図におい
て、1は基板、2は絶縁層、4は軟磁性材料から成る下
コアである。5は絶縁層で、この絶縁層5にはコイル導
体7が巻回されて埋設されている。9は中間コア、1
0,11は絶縁層、12は上部コアである。
The conventional method of manufacturing the thin film head will be described below with reference to the drawings. In these figures, 1 is a substrate, 2 is an insulating layer, and 4 is a lower core made of a soft magnetic material. Reference numeral 5 denotes an insulating layer, and the coil conductor 7 is wound and embedded in the insulating layer 5. 9 is an intermediate core, 1
0 and 11 are insulating layers, and 12 is an upper core.

【0005】第1製造工程(図3) 基板1に、例えば、Fe,Co,Niを主成分とした軟
磁性膜を形成し、ホトリソ工程とイオンミリング等によ
り下コア4を形成する。尚、(B)図には繁雑さを避け
るために基板1の図示を省略してある。これ以降の各
(B)図においても同様に省略してある。
First Manufacturing Step (FIG. 3) For example, a soft magnetic film containing Fe, Co, and Ni as main components is formed on the substrate 1, and the lower core 4 is formed by a photolithography step and ion milling. In addition, in order to avoid complexity, the substrate 1 is not shown in FIG. It is also omitted in each of the subsequent drawings (B).

【0006】第2製造工程(図4) SiO2 、TiO2 、或いは、Al2 3 等から成る絶
縁層2をスパッタや蒸着、イオンプレ−ティング等によ
り下コア4の厚みより厚く形成し、研磨工程等で表面を
平坦に形成する。
Second manufacturing process (FIG. 4) An insulating layer 2 made of SiO 2 , TiO 2 , Al 2 O 3 or the like is formed to be thicker than the thickness of the lower core 4 by sputtering, vapor deposition, ion plating or the like, and is polished. The surface is formed flat in a process or the like.

【0007】第3製造工程(図5) 絶縁層2に溝をホトリソ工程とエッチング工程等により
円形状に形成し、蒸着等によりCu等の導体膜を溝中に
形成し、研磨により平坦にしてコイル導体7の下層側と
する。ここでは、マスクパターンの形成、コイル溝エッ
チング、導体(Cu)蒸着、平坦化研磨を行なう。
Third manufacturing process (FIG. 5) A groove is formed in the insulating layer 2 in a circular shape by a photolithography process and an etching process, and a conductor film of Cu or the like is formed in the groove by vapor deposition or the like and flattened by polishing. It is on the lower layer side of the coil conductor 7. Here, mask pattern formation, coil groove etching, conductor (Cu) vapor deposition, and planarization polishing are performed.

【0008】第4製造工程(図6) 後部側の中間コア9が形成される部分を残して下コア4
の上面に磁気ギャップGとなるSiO2 ,TiO2 等か
ら成る非磁性層8を形成し、この上面に第1製造工程と
同様にしてFe,Co,Niを主成分とする軟磁性膜の
中間コア9,9を所定の間隔で夫々形成する。そして、
これらの中間コア9,9を残した他の部分に絶縁層5を
形成する。ここでは、ギャップ及び中間コア形成を行な
う。
Fourth manufacturing step (FIG. 6) The lower core 4 is left with the portion where the intermediate core 9 on the rear side is formed being left.
SiO 2 becomes the top surface and the magnetic gap G, to form a non-magnetic layer 8 made of TiO 2 or the like, an intermediate of the soft magnetic film of Fe in the same manner as in the first manufacturing step to the top, Co, and Ni as a main component The cores 9 and 9 are formed at predetermined intervals. And
The insulating layer 5 is formed on the other portion where these intermediate cores 9 and 9 are left. Here, a gap and an intermediate core are formed.

【0009】第5製造工程(図7) 既に下層側が形成されているコイル導体7に対応する上
面側と下コア4上の上面側とに渦巻き状の溝7aをホト
リソ工程とエッチング工程とにより形成する。特に、こ
の溝7aは下コア4の上面位置では、下コア4の上面に
達しないように形成する。ここでは、マスクパターンの
形成、コイル溝エッチングを行なう。
Fifth Manufacturing Step (FIG. 7) A spiral groove 7a is formed on the upper surface side corresponding to the coil conductor 7 already formed on the lower layer side and the upper surface side on the lower core 4 by a photolithography process and an etching process. To do. Particularly, the groove 7a is formed so as not to reach the upper surface of the lower core 4 at the upper surface position of the lower core 4. Here, mask pattern formation and coil groove etching are performed.

【0010】第6製造工程(図8) 下層となるコイル導体7が形成されている溝7aを、更
に、ホトリソ工程とエッチング工程とによりコイル導体
7に達するように形成し、第3製造工程と同様に溝7a
の全域にCu等の導体膜を形成する。下層と上層間でず
れなく、コイル導体7を形成するには、精度の管理がな
かなか大変であった。ここでは、マスクパターンの形
成、コイル溝追加エッチング、導体(Cu)蒸着、平坦
化研磨を行なう。
Sixth Manufacturing Process (FIG. 8) A groove 7a in which the lower layer coil conductor 7 is formed is further formed so as to reach the coil conductor 7 by a photolithography process and an etching process. Similarly, groove 7a
A conductor film of Cu or the like is formed over the entire area of. In order to form the coil conductor 7 without displacement between the lower layer and the upper layer, it was quite difficult to control the accuracy. Here, mask pattern formation, coil groove additional etching, conductor (Cu) vapor deposition, and planarization polishing are performed.

【0011】第7製造工程(図9) 中間コア9,9を除いた部分に、SiO2 ,TiO2
いはAl2 3 等の絶縁層10を形成する。
Seventh Manufacturing Step (FIG. 9) An insulating layer 10 made of SiO 2 , TiO 2 or Al 2 O 3 is formed on the portion excluding the intermediate cores 9, 9.

【0012】第8製造工程(図10) 下コア4と対応する上面領域で、中間コア9,9及び絶
縁層10上に、第1製造工程と同様にして、上コア12
を形成する。そして、この上コア12を残して絶縁層1
1を形成する。
Eighth Manufacturing Process (FIG. 10) On the upper surface region corresponding to the lower core 4, on the intermediate cores 9, 9 and the insulating layer 10, the upper core 12 is formed in the same manner as the first manufacturing process.
To form The insulating layer 1 is left with the upper core 12 left.
Form one.

【0013】第9製造工程(図11) 絶縁層10,11に、コンタクトホ−ルである導体13
を埋め、この導体13を介してコイル導体7と接続する
リ−ド部14をCu層としてエッチングにより所定形状
に形成する。その後、図19に示すように、パッド部1
5、合金層16を順次設け、さらに、所定の加工を施し
て、切断線B−B´より磁気ギャップGが端部となるよ
うにし、リードワイヤ17を設けて、薄膜磁気ヘッドを
完成する。
Ninth manufacturing process (FIG. 11) The insulating layers 10 and 11 are provided with a conductor 13 which is a contact hole.
And a lead portion 14 connected to the coil conductor 7 through the conductor 13 is formed as a Cu layer into a predetermined shape by etching. Then, as shown in FIG.
5, the alloy layer 16 is sequentially provided, and further, predetermined processing is performed so that the magnetic gap G becomes an end from the cutting line BB ′, the lead wire 17 is provided, and the thin film magnetic head is completed.

【0014】Gはギャップで、13は前記コイル導体7
に接続される導体であり、この導体13には連続してリ
−ド部14が形成されている。15はパッド部で、この
上面側に合金層16が設けられ、この合金層16にはリ
−ドワイヤ17が圧着されて、一つのヘッド素子が構成
されているものである。この様な構成の薄膜磁気ヘッド
によれば、インピーダンスノイズが低く、狭いトラック
や狭ピッチの記録再生に好適なヘッドの製造方法が得ら
れる。
G is a gap, and 13 is the coil conductor 7.
And a lead portion 14 is continuously formed on the conductor 13. Reference numeral 15 denotes a pad portion, on the upper surface side of which an alloy layer 16 is provided, and a lead wire 17 is pressure-bonded to the alloy layer 16 to form one head element. According to the thin-film magnetic head having such a configuration, impedance noise is low, and a method of manufacturing a head suitable for recording / reproducing on a narrow track or a narrow pitch can be obtained.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記の構造
のものは、上下コア間の厚みに制約がある場合にも、巻
線数を増加させるとなく、インピーダンスノイズを下げ
ることが出来るものの、その実施例にみるように(図3
〜図11)工程数の増加を招き、コスト的に不利であっ
た。
However, in the structure described above, the impedance noise can be reduced without increasing the number of windings even when the thickness between the upper and lower cores is limited. As seen in the examples (Fig. 3
(FIG. 11) The number of steps is increased, which is disadvantageous in terms of cost.

【0016】そこで、本発明は巻線数を減らすことな
く、また工程数をほとんど増加することなく、コイルの
直流抵抗を下げることができる薄膜磁気ヘッドの製造方
法を提供するものであり、インピーダンスノイズが低
下し、高S/Nの記録再生が可能となる、コイルの発
熱が減り信頼性の高いヘッドが実現出来る等の効果が期
待出来るものである。
Therefore, the present invention provides a method of manufacturing a thin film magnetic head capable of reducing the DC resistance of a coil without reducing the number of windings and the number of steps, and impedance noise. It is possible to expect effects such as reduction of the temperature, high-S / N recording / reproducing, reduction of heat generation of the coil and realization of a highly reliable head.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明の薄膜磁気ヘッド
及びその製造方法は、上記課題を解決するために、以下
の手段より構成されるものである。即ち、基板上に絶縁
膜、磁気コア、コイルを順次積層してなる薄膜磁気ヘッ
ドにおいて、コイルの形成は絶縁膜にコイル溝をエッチ
ングした後、導体膜をそのコイル溝に埋め込んで行な
い、コイル溝エッチング時の溝の深さ制御のためストッ
パ膜を有する薄膜ヘッドの構成とし、下コア上のストッ
パ膜の形成範囲を略上下コアに挟まれた領域とし、コイ
ル溝エッチング時に所定量のオーバエッチングを行なう
ことにより、ストッパ膜のない領域のコイル溝の深さ
を、ストッパ膜を有する領域のコイル溝の深さより深く
形成したことを特徴とする薄膜磁気ヘッド、及び、基板
上に絶縁膜、磁気コア、コイルを順次積層してなる薄膜
ヘッドの製造方法において、前記コイルの形成は絶縁膜
にコイル溝をエッチングした後、導体膜を前記コイル溝
に埋め込んで行ない、コイル溝エッチング時の溝の深さ
制御のためストッパ膜を有する薄膜磁気ヘッドの製造方
法とし、下コア上のストッパ膜の形成範囲を略上下コア
に挟まれた領域とし、コイル溝エッチング時に所定量の
オーバエッチングを行なうことにより、ストッパ膜のな
い領域のコイル溝の深さを、ストッパ膜を有する領域の
コイル溝の深さより深く形成したことを特徴とする薄膜
磁気ヘッドの製造方法。
In order to solve the above-mentioned problems, the thin-film magnetic head and the manufacturing method thereof according to the present invention are constituted by the following means. That is, in a thin film magnetic head in which an insulating film, a magnetic core, and a coil are sequentially laminated on a substrate, the coil is formed by etching the coil groove in the insulating film and then embedding the conductor film in the coil groove. A thin film head with a stopper film is used to control the depth of the groove during etching, and the stopper film formation range on the lower core is defined as a region between the upper and lower cores. By doing so, the depth of the coil groove in the region without the stopper film is formed deeper than the depth of the coil groove in the region with the stopper film, and an insulating film and a magnetic core on the substrate. In a method of manufacturing a thin film head, in which coils are sequentially laminated, the coil is formed by etching a coil groove in an insulating film and then forming a conductor film in the coil groove. A method for manufacturing a thin-film magnetic head having a stopper film for controlling the groove depth during coil groove etching by embedding is performed, and the stopper film formation range on the lower core is defined as a region substantially sandwiched between the upper and lower cores. Manufacture of a thin film magnetic head characterized in that the depth of the coil groove in the region having no stopper film is made deeper than the depth of the coil groove in the region having the stopper film by performing a predetermined amount of over-etching at the time of groove etching. Method.

【0018】[0018]

【実施例】以下、図面を参照して、本発明の薄膜磁気ヘ
ッドの製造方法の一実施例について説明する。図1は、
その実施例に係る薄膜磁気ヘッドの概略部分断面斜視
図、図2はコア部とコイルパタ−ンのみを示した図で、
(A)は概略斜視図、(B)は平面図、(C)は(B)
のA−A´断面図である。尚、従来例と同一構成要素に
は同一符号を付して詳細な説明を省略する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the method of manufacturing a thin film magnetic head of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG.
FIG. 2 is a schematic partial cross-sectional perspective view of a thin film magnetic head according to the embodiment, and FIG. 2 is a view showing only a core portion and a coil pattern.
(A) is a schematic perspective view, (B) is a plan view, (C) is (B).
3 is a sectional view taken along line AA ′ of FIG. The same components as those of the conventional example are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0019】これらの図において、1は基板、2は絶縁
層、4は軟磁性材料から成る下コアで、1〜9μm程度
の厚さで形成されている。更に、下コア4の上面にスト
ッパ膜18が1μm程度形成されている。そして、この
下コア4の上面の前後部にはほぼ同様の厚さで中間コア
9,9が夫々設けられ、これらの上面にはストッパ膜1
8、絶縁層5,10を挟んで上部コア12が形成されて
いる。
In these figures, 1 is a substrate, 2 is an insulating layer, and 4 is a lower core made of a soft magnetic material, and is formed with a thickness of about 1 to 9 μm. Further, a stopper film 18 is formed on the upper surface of the lower core 4 to have a thickness of about 1 μm. Intermediate cores 9 and 9 having substantially the same thickness are provided on the front and rear portions of the upper surface of the lower core 4, and the stopper film 1 is provided on the upper surfaces of these intermediate cores 9 and 9, respectively.
8, the upper core 12 is formed so as to sandwich the insulating layers 5 and 10.

【0020】そして、7はコイル導体で、後部側の中間
コア9を巻回するように渦巻き状のパタ−ンが形成され
ている。このコイル導体7はコア間の領域では、絶縁層
5に埋設されるに充分な低い高さとされ、コア間の外部
領域では、その高さが異なり、絶縁層5から更に下側の
絶縁層2に達し、コア間の高さの略2倍となっている。
Reference numeral 7 is a coil conductor, and a spiral pattern is formed so as to wind the intermediate core 9 on the rear side. The coil conductor 7 has a height sufficiently low to be embedded in the insulating layer 5 in the region between the cores, and the height is different in the outer region between the cores, and the insulating layer 2 further below the insulating layer 5 has a different height. Has reached approximately twice the height between the cores.

【0021】13はコイル導体7に接続される導体であ
り、絶縁層10,11を介してリ−ド部14に連続して
いる。15はパッド部で、この上面側に合金層16が設
けられ、この合金層16にはリ−ドワイヤ17が圧着さ
れて、一つのヘッド素子が構成されているものである。
A conductor 13 is connected to the coil conductor 7 and is continuous with the lead portion 14 via the insulating layers 10 and 11. Reference numeral 15 denotes a pad portion, on the upper surface side of which an alloy layer 16 is provided, and a lead wire 17 is pressure-bonded to the alloy layer 16 to form one head element.

【0022】次に、上述の構成による薄膜磁気ヘッドの
製造方法につき、図3、図4、図9乃至図15を参照し
て説明する。これらの図中、(A)は概略断面図を示
し、(B)は概略部分平面図を示す。下コアを形成し、
絶縁膜で平坦化する各工程は、既に説明した図3、4に
示した製造工程(第1製造工程、第2製造工程)と同様
である。
Next, a method of manufacturing the thin film magnetic head having the above structure will be described with reference to FIGS. 3, 4, and 9 to 15. In these figures, (A) shows a schematic sectional view and (B) shows a schematic partial plan view. Forming the lower core,
Each step of flattening with the insulating film is the same as the manufacturing steps (first manufacturing step, second manufacturing step) shown in FIGS.

【0023】第1製造工程(図3) 基板1に、例えば、Fe,Co,Niを主成分とした軟
磁性膜を形成し、ホトリソ工程とイオンミリング等によ
り下コア4を形成する。尚、(B)図には繁雑さを避け
るために基板1の図示を省略してある。これ以降の各
(B)図においても同様に省略してある。
First Manufacturing Step (FIG. 3) A soft magnetic film containing, for example, Fe, Co, and Ni as main components is formed on the substrate 1, and a lower core 4 is formed by a photolithography step and ion milling. In addition, in order to avoid complexity, the substrate 1 is not shown in FIG. It is also omitted in each of the subsequent drawings (B).

【0024】第2製造工程(図4) SiO2 、TiO2 、或いは、Al2 3 等から成る絶
縁層2をスパッタや蒸着、イオンプレ−ティング等によ
り下コア4の厚みより厚く形成し、研磨工程等で表面を
平坦に形成する。
Second manufacturing step (FIG. 4) An insulating layer 2 made of SiO 2 , TiO 2 , Al 2 O 3 or the like is formed to be thicker than the thickness of the lower core 4 by sputtering, vapor deposition, ion plating or the like, and polished. The surface is formed flat in a process or the like.

【0025】第3X製造工程(図12) 下コア4を埋込み平坦化した後、Al2 3 ,ZrO2
等のストッパ膜18を、例えば1μm程度成膜する。次
に、下コア4の上部で中間コアの形成領域を残し、イオ
ンミリング等の手段を用いてストッパ膜を除去する。
Third manufacturing process (FIG. 12) After the lower core 4 is embedded and flattened, Al 2 O 3 and ZrO 2 are formed.
The stopper film 18 such as is formed to a thickness of, for example, about 1 μm. Next, the stopper film is removed using a means such as ion milling while leaving the formation region of the intermediate core above the lower core 4.

【0026】なお、ストッパ膜18を残す領域は、図1
2(B)に示されているように、下コア4の領域よりも
やや広め(1〜5μm程度)にしておく必要がある。こ
の工程により、所望の領域にストッパ膜18が形成され
る。この工程はリフトオフプロセスにより行なっても差
し支えない。
The area where the stopper film 18 is left is shown in FIG.
As shown in FIG. 2 (B), it is necessary to make it slightly wider (about 1 to 5 μm) than the region of the lower core 4. By this step, the stopper film 18 is formed in the desired region. This step may be performed by a lift-off process.

【0027】第4X製造工程(図13) 後部側に中間コア9が形成される部分を残して下コア4
の上面に磁気ギャップ8(G)となるSiO2 ,TiO
2 等の非磁性層8を形成し、この上面に図3、4の工程
と同様にして、中間コア9を形成し、絶縁層(絶縁膜)
2で埋込み、平坦化する。ここで、ギャップ及び中間コ
アの形成がなされる。
Fourth manufacturing process (FIG. 13) The lower core 4 is left behind except for the portion where the intermediate core 9 is formed.
On the upper surface of SiO 2 and TiO to form a magnetic gap 8 (G)
A non-magnetic layer 8 such as 2 is formed, and an intermediate core 9 is formed on the upper surface in the same manner as in the steps of FIGS. 3 and 4, and an insulating layer (insulating film) is formed.
Embed with 2 and flatten. Here, the gap and the intermediate core are formed.

【0028】第5X製造工程(図14) この次に、後部側の中間コア9を取り巻くようにして、
渦巻き状のコイル溝7aを、フォトリソ工程とエッチン
グ工程により形成する。このエッチング工程は、下コア
4上のストッパ膜18にコイル溝7aが達した後、所定
の時間オーバエッチングすることにより、図14(A)
に示されるように、ストッパ膜18の無い部分の溝は、
ストッパ膜が有る部分と比較して、より深く掘ることが
出来る。ここで、マスクパターンの形成及びコイル溝エ
ッチングがなされる。
Fifth X manufacturing process (FIG. 14) Next, the intermediate core 9 on the rear side is surrounded,
The spiral coil groove 7a is formed by a photolithography process and an etching process. In this etching step, after the coil groove 7a reaches the stopper film 18 on the lower core 4, overetching is performed for a predetermined time, so that the etching process shown in FIG.
As shown in, the groove in the portion without the stopper film 18 is
It is possible to dig deeper as compared with the portion having the stopper film. Here, the mask pattern is formed and the coil groove is etched.

【0029】このコイル溝7aをどの程度深く掘ること
が出来るかの具体的な一例を以下に説明する。エッチン
グガスにCHF3 を用いた反応性イオンエッチングで電
力密度が、例えば1.7 W/cm2 の時、SiO2 ,Al2
3 ,ZrO2 のエッチングレートは、夫々略1000オング
ストローム/min、200 オングストローム/min、100 オン
グストローム/minである。
A specific example of how deeply the coil groove 7a can be dug will be described below. When reactive ion etching using CHF 3 as an etching gas and the power density is 1.7 W / cm 2 , for example, SiO 2 , Al 2 O
The etching rates of 3 and ZrO 2 are approximately 1000 Å / min, 200 Å / min, and 100 Å / min, respectively.

【0030】ストッパ膜厚が1μmの時、残膜厚が0.5
μmまでエッチングを行なうとオーバエッチング時間は
Al2 3 ストッパ膜の時は25min 、ZrO2 ストッパ
膜の時は50min となる。この時、SiO2 のエッチング
深さは、夫々2.5 μm、5 μmとなる。
When the stopper film thickness is 1 μm, the remaining film thickness is 0.5
When etching is performed up to μm, the over-etching time is 25 min for the Al 2 O 3 stopper film and 50 min for the ZrO 2 stopper film. At this time, the etching depths of SiO 2 are 2.5 μm and 5 μm, respectively.

【0031】従って、Al2 3 を用いた場合、ストッ
パ膜上のSiO2 膜厚を2μmとした時を例にとると、
25min のオーバエッチングを行なうことにより、ストッ
パ膜上のコイル溝7aの深さは2.5 μm、それ以外の領
域のコイル溝の深さは5μmとなり、全域にストッパ膜
が形成されている場合に比較して、コイル抵抗値を40%
程度下げることが出来る( ストッパ膜上のコイル長を全
体の25%と見積もった場合) 。
Therefore, when Al 2 O 3 is used and the SiO 2 film thickness on the stopper film is 2 μm,
By performing over-etching for 25 minutes, the depth of the coil groove 7a on the stopper film becomes 2.5 μm, and the depth of the coil groove in the other regions becomes 5 μm. Compared with the case where the stopper film is formed over the entire area. 40% coil resistance
It can be reduced to some extent (when the coil length on the stopper film is estimated to be 25% of the total).

【0032】第6X製造工程(図15) 蒸着等によりコイル溝7a中にCu等の導体膜を形成
し、研磨により平坦化して、コイル導体7を形成する。
ここで、導体(Cu)蒸着及び平坦化研磨がなされる。
この後の各製造工程は、既に説明した図9〜図11に示
した第7〜第9製造工程と大体同じである。
Sixth manufacturing process (FIG. 15) A conductor film of Cu or the like is formed in the coil groove 7a by vapor deposition or the like, and is flattened by polishing to form the coil conductor 7.
Here, conductor (Cu) vapor deposition and planarization polishing are performed.
The subsequent manufacturing steps are almost the same as the seventh to ninth manufacturing steps shown in FIGS. 9 to 11 which have already been described.

【0033】第7X製造工程(図16) 中間コア9,9を除いた部分に、SiO2 ,TiO2
いはAl2 3 等の絶縁層10を形成する。下コア4の
上面にはストッパ膜18が形成されている。
Seventh manufacturing process (FIG. 16) An insulating layer 10 made of SiO 2 , TiO 2, Al 2 O 3 or the like is formed on the portion excluding the intermediate cores 9, 9. A stopper film 18 is formed on the upper surface of the lower core 4.

【0034】第8X製造工程(図17) 下コア4と対応する上面領域(ストッパ膜18が形成さ
れている面)で、中間コア9,9及び絶縁層10上に、
第1製造工程と同様にして、上コア12を形成する。そ
して、この上コア12を残して絶縁層11を形成する。
Eighth manufacturing process (FIG. 17) In the upper surface region (the surface where the stopper film 18 is formed) corresponding to the lower core 4, on the intermediate cores 9 and 9 and the insulating layer 10,
Similar to the first manufacturing process, the upper core 12 is formed. Then, the insulating layer 11 is formed with the upper core 12 left.

【0035】第9X製造工程(図18) 絶縁層10,11に、コンタクトホ−ルである導体13
を埋め、この導体13を介してコイル導体7と接続する
リ−ド部14をCu層としてエッチングにより所定形状
に形成する。その後、図1に示すように、パッド部1
5、ボンディングパッド16を順次設け、さらに、所定
の加工を施して、切断線B−B´より磁気ギャップGが
端部となるように切断し、リ−ドワイヤ17を設けて薄
膜磁気ヘッドを完成する。
Ninth manufacturing process (FIG. 18) Conductors 13 which are contact holes are provided on the insulating layers 10 and 11.
And a lead portion 14 connected to the coil conductor 7 through the conductor 13 is formed as a Cu layer into a predetermined shape by etching. Then, as shown in FIG.
5. The bonding pad 16 is sequentially provided, and further, predetermined processing is performed, cutting is performed so that the magnetic gap G becomes an end from the cutting line BB ', and the lead wire 17 is provided to complete the thin film magnetic head. To do.

【0036】このように、本実施例の薄膜磁気ヘッドの
製造方法は、コイル導体7の高さ(厚さ)が、コア外部
の領域では、コア内部の高さ(厚さ)に比べ、略2倍に
なっていることから、断面積も略2倍になり、この領域
での抵抗値が略1/2になる。
As described above, according to the method of manufacturing the thin film magnetic head of the present embodiment, the height (thickness) of the coil conductor 7 in the region outside the core is substantially smaller than the height (thickness) inside the core. Since it is doubled, the cross-sectional area is also approximately doubled, and the resistance value in this region is approximately halved.

【0037】そして、コイル導体7のコア内部に埋設さ
れる部分のコイル導体全体に対する割合は、1〜3割程
度であり、コイル導体7の埋設された部分の割合をコイ
ル導体全体の1/4とした場合には、そのコイル導体7
の抵抗値が、従来の略60%となる。
The ratio of the part of the coil conductor 7 embedded in the core to the whole coil conductor is about 10 to 30%, and the ratio of the part of the coil conductor 7 embedded is 1/4 of the entire coil conductor. If so, the coil conductor 7
The resistance value of is about 60% of the conventional value.

【0038】したがって、本実施例の薄膜磁気ヘッドの
製造方法によれば、特に、中間コアの厚みが制限される
場合にも、インピ−ダンスノイズの低い高信頼性の薄膜
磁気ヘッドを得ることが出来る。
Therefore, according to the method of manufacturing the thin film magnetic head of the present embodiment, it is possible to obtain a highly reliable thin film magnetic head with low impedance noise even when the thickness of the intermediate core is limited. I can.

【0039】また、前述の実施例の磁気ヘッドは、コイ
ル導体7が一層の巻回パタ−ンとなっているが、二層以
上の巻回パタ−ンの場合には、一層目のコイル導体7に
本発明を適用するようにすれば良い。
Further, in the magnetic head of the above-mentioned embodiment, the coil conductor 7 is a one-layer winding pattern, but in the case of a winding pattern of two or more layers, the coil conductor of the first layer is used. The present invention may be applied to No. 7.

【0040】[0040]

【発明の効果】本発明の薄膜磁気ヘッド及びその製造方
法によれば、特に、上下コア間の厚みに制約がある場合
にも、巻線数を増加させることなくインピ−ダンスノイ
ズを下げることが出来、高精度で、信頼性のおける薄膜
磁気ヘッド及びその製造方法を提供出来る。
According to the thin-film magnetic head and the method of manufacturing the same of the present invention, impedance noise can be reduced without increasing the number of windings, especially when there is a restriction on the thickness between the upper and lower cores. It is possible to provide a thin film magnetic head and a method of manufacturing the same, which is highly accurate and reliable.

【0041】工程数を比較すると、上下コアに挟まれた
領域にストッパ膜を形成するのみで、従来例の様に改め
てコイル工程を追加して再度行なう必要がなく、ほぼ同
等のコイル形状が得られ、大幅な工数の削減が出来る。
また、1回の工程でコイルを形成するので、従来のよう
に最初に形成したコイルと後から形成するコイルの正確
な位置合わせが必要でなく、歩留まりが向上し、さら
に、発熱を抑えることも出来る。
Comparing the number of steps, it is only necessary to form the stopper film in the region sandwiched by the upper and lower cores, and it is not necessary to add a coil step again as in the conventional example and to perform again, and a substantially equivalent coil shape is obtained. Therefore, the man-hours can be significantly reduced.
In addition, since the coil is formed in a single process, it is not necessary to accurately align the coil formed first and the coil formed later as in the conventional case, the yield is improved, and heat generation can be suppressed. I can.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の薄膜磁気ヘッドの概略部分断面斜視図
である。
FIG. 1 is a schematic partial cross-sectional perspective view of a thin film magnetic head of the present invention.

【図2】コア部とコイルパタ−ンのみを示した図であ
る。
FIG. 2 is a view showing only a core portion and a coil pattern.

【図3】薄膜磁気ヘッドの製造方法の第1製造工程を示
す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a first manufacturing process of the method of manufacturing the thin film magnetic head.

【図4】第2製造工程を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a second manufacturing process.

【図5】第3製造工程を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a third manufacturing process.

【図6】第4製造工程を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a fourth manufacturing process.

【図7】第5製造工程を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a fifth manufacturing process.

【図8】第6製造工程を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a sixth manufacturing process.

【図9】第7製造工程を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a seventh manufacturing process.

【図10】第8製造工程を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an eighth manufacturing process.

【図11】第9製造工程を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a ninth manufacturing process.

【図12】本発明の薄膜磁気ヘッドの製造方法の第3X
製造工程を示す図である。
FIG. 12 is a third embodiment of the method of manufacturing a thin film magnetic head of the invention.
It is a figure which shows a manufacturing process.

【図13】本発明の第4X製造工程を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing a 4X manufacturing process according to the present invention.

【図14】本発明の第5X製造工程を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing a 5X manufacturing process according to the present invention.

【図15】本発明の第6X製造工程を示す図である。FIG. 15 is a diagram showing a 6X manufacturing process according to the present invention.

【図16】本発明の第7X製造工程を示す図である。FIG. 16 is a diagram showing a 7X manufacturing process according to the present invention.

【図17】本発明の第8X製造工程を示す図である。FIG. 17 is a diagram showing an eighth manufacturing process of the present invention.

【図18】本発明の第9X製造工程を示す図である。FIG. 18 is a diagram showing a ninth manufacturing process of the present invention.

【図19】従来の薄膜磁気ヘッドの概略部分断面斜視図
である。
FIG. 19 is a schematic partial cross-sectional perspective view of a conventional thin film magnetic head.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2,5,10,11 絶縁層(絶縁膜) 4 下コア 7 コイル導体 7a コイル溝 8,G ギャップ 9 中間コア 12 上コア 13 導体 14 リード部 15 パッド部 16 ボンディングパッド 17 リードワイヤ 18 ストッパ膜 1 Substrate 2, 5, 10, 11 Insulating Layer (Insulating Film) 4 Lower Core 7 Coil Conductor 7a Coil Groove 8, G Gap 9 Intermediate Core 12 Upper Core 13 Conductor 14 Lead Part 15 Pad Part 16 Bonding Pad 17 Lead Wire 18 Stopper film

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基板上に絶縁膜、磁気コア、コイルを順次
積層してなる薄膜磁気ヘッドにおいて、前記コイルの形
成は前記絶縁膜にコイル溝をエッチングした後、導体膜
を前記コイル溝に埋め込んで行ない、コイル溝エッチン
グ時の溝の深さ制御のためストッパ膜を有する薄膜磁気
ヘッドの構成とし、下コア上の前記ストッパ膜の形成範
囲を略上下コアに挟まれた領域とし、コイル溝エッチン
グ時に所定量のオーバエッチングを行なうことにより、
前記ストッパ膜のない領域のコイル溝の深さを、前記ス
トッパ膜を有する領域のコイル溝の深さより深く形成し
たことを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
1. A thin film magnetic head comprising an insulating film, a magnetic core and a coil which are sequentially laminated on a substrate, wherein the coil is formed by etching a coil groove in the insulating film and then burying a conductor film in the coil groove. In order to control the depth of the groove when etching the coil groove, a thin film magnetic head having a stopper film is configured, and the formation range of the stopper film on the lower core is set to a region substantially sandwiched between the upper and lower cores, and the coil groove is etched. Sometimes by performing a predetermined amount of over-etching,
A thin film magnetic head, wherein the depth of the coil groove in the region without the stopper film is formed deeper than the depth of the coil groove in the region with the stopper film.
【請求項2】基板上に絶縁膜、磁気コア、コイルを順次
積層してなる薄膜磁気ヘッドの製造方法において、前記
コイルの形成は前記絶縁膜にコイル溝をエッチングした
後、導体膜を前記コイル溝に埋め込んで行ない、コイル
溝エッチング時の溝の深さ制御のためストッパ膜を有す
る薄膜磁気ヘッドの製造方法とし、下コア上の前記スト
ッパ膜の形成範囲を略上下コアに挟まれた領域とし、コ
イル溝エッチング時に所定量のオーバエッチングを行な
うことにより、前記ストッパ膜のない領域のコイル溝の
深さを、前記ストッパ膜を有する領域のコイル溝の深さ
より深く形成したことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製
造方法。
2. A method of manufacturing a thin film magnetic head comprising a substrate on which an insulating film, a magnetic core and a coil are sequentially laminated, the coil being formed by etching a coil groove in the insulating film, and then forming a conductive film on the coil. A method of manufacturing a thin-film magnetic head having a stopper film for controlling the depth of the groove when the coil groove is etched by embedding in the groove, and the formation range of the stopper film on the lower core is defined as a region substantially sandwiched between the upper and lower cores. A thin film characterized in that the depth of the coil groove in the region without the stopper film is formed deeper than the depth of the coil groove in the region having the stopper film by performing a predetermined amount of over-etching at the time of etching the coil groove. Magnetic head manufacturing method.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7181828B2 (en) 2003-08-21 2007-02-27 Alps Electric Co., Ltd. Method for manufacturing perpendicular magnetic recording head

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