JPH09166643A - 電子部品用手動測定治具 - Google Patents

電子部品用手動測定治具

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JPH09166643A
JPH09166643A JP7346719A JP34671995A JPH09166643A JP H09166643 A JPH09166643 A JP H09166643A JP 7346719 A JP7346719 A JP 7346719A JP 34671995 A JP34671995 A JP 34671995A JP H09166643 A JPH09166643 A JP H09166643A
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JP
Japan
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cam
measuring
fixed
electronic component
lever
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP7346719A
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English (en)
Inventor
Kozo Kiyota
耕三 清田
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電気的特性を測定するために、被測定対象電
子部品が装着される試料台が取り付けられた測定ステー
ジを1回のレバーの動作で、前後方向及び上下方向の2
つの方向へ同時に移動させる構造の電子部品用手動測定
治具を提供する。 【解決手段】 上下用移動台53上に取り付けた測定ス
テージ11を、カム2上のノッチ5の移動とそれに伴う
アームガイド部7の変位によって前後方向に移動させる
アーム6を設け、上記測定ステージ11を支持枠31に
連結した上下用移動台53をカムフォロア3を介して上
下方向に移動させるカム2を設け、上記カム2が固定さ
れた同一カムシャフト41軸上に固定した固定位置調整
カム43とその固定位置ストッパー42と、前後及び左
右の方向に動作することでカム2に回転力を与えるレバ
ー1とを設ける構成とした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気的特性を測定
するために、被測定対象電子部品が装着される試料台が
取り付けられた測定ステージを1回のレバーの動作で前
後方向及び上下方向の2つの方向へ同時に移動させるこ
とが可能な構造の電子部品用手動測定治具に関する。
【0002】
【従来の技術】図3に示すように、電子計測機器を用い
て電子部品の電気的特性を測定するためには、図示はし
てないが電子計測機器に測定用ケーブル24で接続され
た測定ヘッド23の測定端子22と被測定対象電子部品
60の端子とを適正に接触させることが必要である。そ
の為には所定位置にある測定端子22の位置に合致させ
るべく被測定対象電子部品60を装着したり取り出した
りする試料台61が取り付けられている測定ステージ1
1も、前後方向移動線14及び上下方向移動線15方向
の調整を行うことで所定の位置に移動させねばならな
い。
【0003】従来技術の電子部品用手動測定治具の構成
においては、図3に示したように測定ステージ11をカ
ムフォロア4を介して前後方向に移動する前後移動用カ
ム8と、測定ステージ11をベアリング12を介して取
り付け支持枠31とベアリング13で連結した上下用移
動台53を上下方向に移動する上下移動用カム9と、所
定の前後方向移動量及び上下方向移動量が設定された位
置を固定位置ストッパー42を用いて固定する固定位置
調整カム43と、それら前後移動用カム8と上下移動用
カム9及び固定位置調整カム43とを固定するカムシャ
フト41と、上記カムシャフト41の同一軸上に固定
し、前後または左右に動作することで上記各カムに回転
力を与えるレバー1とでなる。
【0004】従って、従来技術による電子部品用手動測
定治具の構成において、所定位置にある測定端子22と
被測定対象電子部品60の端子とを適正に接触させるた
めには、測定ステージ11を前後方向に移動させるため
の前後移動用カム8と上下方向に移動させるための上下
移動用カム9と2つのカムを必要としていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の電子部品の電気
的特性を測定するのに用いる手動測定用治具において、
測定ステージを所定の位置に移動させる構造にあって
は、レバーの1回の動作によって前後方向及び上下方向
への移動量を得るべきカムの数が2つ以上必要とされて
いた。その為に所定のカム線図に基づく高精度加工が
必要な部品であるカムが増えてしまうのでコスト上昇が
生じまたその分の組立、調整工数も必要でありさら
に取り付けるスペースが必要となりその分だけ小型化が
妨げられてしまうという問題点を有していた。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに本発明では、上下用移動台53にベアリング12を
介して取り付けた測定ステージ11を、カム2の回転動
作に伴うノッチ5の移動とスプリング52の引っ張り力
を受けたアームガイド部7の変位によって前後方向に移
動させるアーム6を設け、上記測定ステージ11をベア
リング12を介して取り付けて支持枠31とベアリング
13とで連結した上下用移動台53を、カムフォロア3
を介して上下方向に移動させるカム2を設け、上記カム
2が固定された同一カムシャフト41軸上に固定した固
定位置調整カム43と、前後又は左右の方向に動作する
ことでカム2に回転力を与えるレバー1とを設けた。そ
のことで上記レバー1の1回の動作によってカム2は、
測定ステージ11を前後方向及び上下方向の2方向へ移
動させ、測定ステージ11が所定位置に到達することを
可能にした。
【0007】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態を実
施例と共に詳細に説明する。
【0008】
【実施例】図1は、本発明の実施例における電子部品用
手動測定治具の要部構成側面図である。また図2は、本
発明の実施例における電子部品用手動測定治具の要部構
成正面図である。即ち、本発明の実施例の要部構成にお
いては、図1に示した側面図で、測定ステージ11があ
る方の左側から見たものが図2に示した正面図である。
【0009】(1)実施例について図面を参照しながら
説明すると、図1及び図2において本発明による電子部
品用手動測定治具の要部構成は、上下用移動台53上に
ベアリング12を介して結合し、被測定対象電子部品6
0を装着し取り外す試料台61を取り付けた測定ステー
ジ11と、支持枠31とベアリング13を介して結合し
た上下用移動台53下方部に設けたカムフォロア3と、
レバー1を動作させカムシャフト41に固定したカム2
が回転方向線16のように回転し、スプリング52の引
っ張り力を保持するアームガイド部7がカム2に設けた
ノッチ5に接触しながら前後方向の所定位置に移動する
アーム6と、支持台32上の支持枠31で固定したカム
シャフト41に取り付けて、レバー1が動作するとカム
フォロア3を介して上下用移動台53を上下方向の所定
位置に移動するカム2と、上記カム2が固定された同一
カムシャフト41軸上に固定した固定位置調整カム43
とその固定位置ストッパー42と、前後及び左右の方向
に動作することでカム2に回転力を与えるレバー1とで
成る。
【0010】図1及び図2に示したように、本発明の1
実施例ではレバー1を測定者が手で、図示した回転方向
線16である反時計回り方向に操作するとカムシャフト
41に取り付けたカム2が回転中心に対し偏芯した回転
をする。また測定ステージ11と連結したアーム6は、
支持枠31との間に設けたスプリング52による引っ張
り力が加わっている。そのためにアーム6に設けたアー
ムガイド部7は、カム2が偏芯した回転を始めると、当
初はカム2に設けたノッチ5に接触しながらフォローし
移動するので、被測定対象電子部品60が装着、取り外
される試料台61を搭載しベアリング12を介して上下
用移動台53上に設けた測定ステージ11が移動を開始
する。続いてカム2が一定量回転するとスプリング52
の引っ張り力でさらに移動し、前後方向位置調整ネジ2
1の先端部分に到達、接触することで、前後方向の所定
の位置決めが行われる。
【0011】さらに上下方向への移動については、上記
記載のようにカム2上のノッチ5からアームガイド部7
が離れた後もカム2が回転し続け、支持枠31にベアリ
ング13を介して取り付けた上下用移動台53の下方部
に設けたカムフォロア3を通じて、カム2が所定のカム
線図に従って上下用移動台53を上方向に所定の位置ま
で押し上げて移動する。上方向の所定位置まで達すると
測定ステージ11上の試料台61に装着された被測定対
象電子部品60の端子に測定ヘッド23部の測定端子2
2が適正に接触することで測定可能状態となる。
【0012】本発明の電子部品用手動測定治具の構成に
よれば、測定者の手前側にせり出した測定ステージ11
上の試料台61に被測定対象電子部品60を装着した
ら、1回のレバー1の操作で先ず前後方向の動作が、次
いで上下方向の動作が起こり測定ステージ11の前後及
び上下の両方向の所定位置が適正に得られる。測定が完
了したらレバー1を逆方向に操作することで、先ず上下
方向の動作が、次いで前後方向の動作が起こり測定ステ
ージ11が再び測定者の手前側にせり出し試料台61上
の被測定対象電子部品60を取り出し、次のものを装着
することを繰り返すことができる。
【0013】本発明の構成によれば、測定ステージ11
が測定者の手前側にせり出してくるので、被測定対象電
子部品60を試料台61から取り出したり装着すること
が容易になった。また上下用移動台53と支持台32と
の間に設けたスプリング51は、カムフォロア3がカム
2に密着させて所定のカム線図に忠実に動作することで
正しい上下方向の位置決めをするためのものである。ま
た固定位置調整カム43は、カムシャフト41に取り付
けられるが、それは測定ステージ11が所定の位置まで
手前側にせり出し、かつカム2の動作による最下方位に
なる点を基準点として設け、固定位置ストッパー42で
固定した上で被測定対象電子部品60を装着したり取り
出したりする。また、図示はしていないが測定ヘッド2
3からは測定用ケーブル24で電子計測機器に接続す
る。
【0014】上記記載のように、本発明の1実施例につ
いて述べたが、図2の正面図に示したレバー1は支持台
32上の支持枠31の右側に、つまり勝手違いに設ける
ことや同様に固定位置調整カム43と固定位置ストッパ
ー42も勝手違いの位置に設けることも可能である。ま
た、図1及び図2によって前後及び上下方向と表現した
が、支持台32の方向は水平である必要はなく、どんな
角度に置くことも或いは取り付けることも可能である。
なお、カム2は本発明の構成としたことで、複雑な形状
を避けて円形で回転中心から偏芯したのみの加工が極め
て容易なカム形状とすることができた。
【0015】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。 (1)本発明による電子部品用手動測定治具の構成とし
たことで、所定のカム線図に基づいた高精度な加工が必
要な高価なカムを不要とし、しかも単純な円形の回転中
心から偏芯した廉価なカムを1個のみ設ければよいもの
としてコストダウンが実現した。 (2)従ってカムが1つしかない分だけその分の組立、
調整工数が不要となった。 (3)更にカムを2つ取り付けるスペースが不要となり
その分だけ小型化が実現できた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例における電子部品用手動測定治
具の要部構成側面図である。
【図2】本発明の実施例における電子部品用手動測定治
具の要部構成正面図である。
【図3】従来技術による電子部品用手動測定治具の要部
構成を示す正面図及び側面図である。
【符号の説明】
1 レバー 2 カム 3、4 カムフォロア 5 ノッチ 6 アーム 7 アームガイド部 8 前後移動用カム 9 上下移動用カム 11 測定ステージ 12、13 ベアリング 14 前後方向移動線 15 上下方向移動線 16 回転方向線 21 前後方向位置調整ネジ 22 測定端子 23 測定ヘッド 24 測定用ケーブル 31 支持枠 32 支持台 41 カムシャフト 42 固定位置ストッパー 43 固定位置調整カム 51、52 スプリング 53 上下用移動台 60 被測定対象電子部品 61 試料台

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子計測機器を用いて電子部品の電気的
    特性を測定するための測定治具において、 上下用移動台(53)にベアリング(12)を介して結
    合し被測定対象電子部品(60)を装着、取り外す試料
    台(61)を取り付けた測定ステージ(11)と、 支持枠(31)とベアリング(13)を介して結合した
    上下用移動台(53)下方部に設けたカムフォロア
    (3)と、 レバー(1)を動作させカムシャフト(41)に固定し
    たカム(2)が回転方向線(16)のように回転し、ス
    プリング(52)の引っ張り力を保持するアームガイド
    部(7)がカム(2)に設けたノッチ(5)に接触しな
    がら前後方向の所定位置に移動するアーム(6)と、 支持台(32)上の支持枠(31)で固定したカムシャ
    フト(41)に取り付けてレバー(1)の操作によりカ
    ムフォロア(3)を介して上下用移動台(53)を上下
    方向の所定位置に移動するカム(2)と、 上記カム(2)が固定された同一カムシャフト(41)
    軸上に固定した固定位置調整カム(43)とそれに対応
    する固定位置ストッパー(42)と、 カム(2)に回転力を与える操作用のレバー(1)と、 以上の構成を具備することを特徴とする電子部品用手動
    測定治具。
JP7346719A 1995-12-13 1995-12-13 電子部品用手動測定治具 Withdrawn JPH09166643A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004138546A (ja) * 2002-10-18 2004-05-13 Hioki Ee Corp チップ部品測定用治具
CN114325191A (zh) * 2021-12-30 2022-04-12 江苏商贸职业学院 电气接口检测维护装置及其检测维护方法

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