JPH09159590A - 赤外線測定装置 - Google Patents
赤外線測定装置Info
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- JPH09159590A JPH09159590A JP32054795A JP32054795A JPH09159590A JP H09159590 A JPH09159590 A JP H09159590A JP 32054795 A JP32054795 A JP 32054795A JP 32054795 A JP32054795 A JP 32054795A JP H09159590 A JPH09159590 A JP H09159590A
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- JP
- Japan
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- stress
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- measurement
- intermittent
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 亀裂の進行に対しても連続した測定データを
装置に取り込めるようにする。 【解決手段】 被検体表面の温度変化を赤外線カメラに
より検出して積算する赤外線測定装置において、間欠積
算回数や時間、トリガ信号により測定データの取り込み
タイミングを設定して該取り込みタイミングで測定中間
の積算した測定データを取り込む。これを被検体に周期
的に荷重を印加し、発熱、吸熱作用に基づく被検体表面
の温度変化を赤外線カメラにより検出して積算し、該温
度変化の分布に基づき応力分布を検出することにより、
連続的な応力状態及びその変化を検出することができ、
亀裂が発生した場合に、応力測定の再設定をしなくても
その前後の応力状態の変化を検出することができる。
装置に取り込めるようにする。 【解決手段】 被検体表面の温度変化を赤外線カメラに
より検出して積算する赤外線測定装置において、間欠積
算回数や時間、トリガ信号により測定データの取り込み
タイミングを設定して該取り込みタイミングで測定中間
の積算した測定データを取り込む。これを被検体に周期
的に荷重を印加し、発熱、吸熱作用に基づく被検体表面
の温度変化を赤外線カメラにより検出して積算し、該温
度変化の分布に基づき応力分布を検出することにより、
連続的な応力状態及びその変化を検出することができ、
亀裂が発生した場合に、応力測定の再設定をしなくても
その前後の応力状態の変化を検出することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検体に周期的に
荷重を印加し、発熱、吸熱作用に基づく被検体表面の温
度変化を赤外線カメラにより検出して積算し、該温度変
化の分布に基づき応力分布を検出するようにした赤外線
測定装置に関する。
荷重を印加し、発熱、吸熱作用に基づく被検体表面の温
度変化を赤外線カメラにより検出して積算し、該温度変
化の分布に基づき応力分布を検出するようにした赤外線
測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】物体の各部分に生ずる応力の大きさを測
定することは、機械や構造物を設計する際に、各部分の
形状、使用材料の寸法、材質等を選択して完全でしかも
経済的な設計を可能にするために極めて重要である。そ
のため、従来、被検体に歪ゲージを張り付け、被検体に
生ずる歪を検出して応力分布を測定することが行われて
いる。
定することは、機械や構造物を設計する際に、各部分の
形状、使用材料の寸法、材質等を選択して完全でしかも
経済的な設計を可能にするために極めて重要である。そ
のため、従来、被検体に歪ゲージを張り付け、被検体に
生ずる歪を検出して応力分布を測定することが行われて
いる。
【０００３】しかしながら、被検体への歪ゲージの張り
付けが面倒で、測定に多大の時間がかかってしまうとい
う問題があった。これに対し、従来の歪ゲージ等を利用
した測定方式に比べて非接触で迅速かつ簡単に測定する
ことが可能な応力分布測定方法が提案されている（例え
ば特公昭６２−１２０４号、特公昭６２−１２０５号、
特公昭６３−７３３３号、特開平６−２６９４７号、特
開平７−１１０２７２号、特開平７−１９０９０９号の
各公報参照）。この応力分布測定方法は、物体に圧縮・
引張荷重を繰り返し加えると、発熱・吸熱作用が現れる
ことに着目したものである。つまり、この発熱及び吸熱
を比較的短い周期で繰り返すと、周囲への熱の拡散、あ
るいは周囲から熱の流入が断たれた断熱状態で応力集中
部位の表面温度が変化するが、その温度変化量と応力変
化との間には比例関係があるため、これを利用して応力
分布を測定するものである。
付けが面倒で、測定に多大の時間がかかってしまうとい
う問題があった。これに対し、従来の歪ゲージ等を利用
した測定方式に比べて非接触で迅速かつ簡単に測定する
ことが可能な応力分布測定方法が提案されている（例え
ば特公昭６２−１２０４号、特公昭６２−１２０５号、
特公昭６３−７３３３号、特開平６−２６９４７号、特
開平７−１１０２７２号、特開平７−１９０９０９号の
各公報参照）。この応力分布測定方法は、物体に圧縮・
引張荷重を繰り返し加えると、発熱・吸熱作用が現れる
ことに着目したものである。つまり、この発熱及び吸熱
を比較的短い周期で繰り返すと、周囲への熱の拡散、あ
るいは周囲から熱の流入が断たれた断熱状態で応力集中
部位の表面温度が変化するが、その温度変化量と応力変
化との間には比例関係があるため、これを利用して応力
分布を測定するものである。
【０００４】図３は従来の赤外線応力画像システムの例
を説明するためのタイムチャートであり、上記のような
原理を利用し、周期的に荷重が負荷された被検体に対し
赤外線検出器の像スポットを水平、垂直走査して得られ
た温度データに基づいて応力分布を求める際のタイミン
グチャートを示したものである。被検体へ例えば引張・
圧縮の繰り返し荷重をかける加振信号ｆinとその加振に
よって発熱・吸熱作用が現れた被検体表面のカメラＨＢ
信号（カメラスキャン赤外線データ取込信号：赤外線画
像の１走査線の信号）とは、最大、最小になるときにず
れがあるので同期がとれていないが、ここでは、加振信
号ｆinと、その加振によって発生する温度信号の位相が
合っているものとして説明する。
を説明するためのタイムチャートであり、上記のような
原理を利用し、周期的に荷重が負荷された被検体に対し
赤外線検出器の像スポットを水平、垂直走査して得られ
た温度データに基づいて応力分布を求める際のタイミン
グチャートを示したものである。被検体へ例えば引張・
圧縮の繰り返し荷重をかける加振信号ｆinとその加振に
よって発熱・吸熱作用が現れた被検体表面のカメラＨＢ
信号（カメラスキャン赤外線データ取込信号：赤外線画
像の１走査線の信号）とは、最大、最小になるときにず
れがあるので同期がとれていないが、ここでは、加振信
号ｆinと、その加振によって発生する温度信号の位相が
合っているものとして説明する。
【０００５】応力分布測定では、図３に示すように、加
振信号ｆinに対して応力が最大になる位相の近傍でプラ
ストリガを発生し、応力が最小になる位相の近傍でマイ
ナストリガを発生する。このプラストリガに対して最初
のカメラＨＢ信号の位置で温度信号をプラスデータとし
て取り込み、また、マイナストリガに対して最初のカメ
ラＨＢ信号の位置で温度信号をマイナスデータとして取
り込む。温度信号の取り込みの際、１／１０００℃のよ
うな微小な温度差を検出するためには、ライン積算やフ
レーム積算などの手法を用いてＳ／Ｎを改善することが
行われる。図３に示す例では、プラス側及びマイナス側
のそれぞれの半周期において３個ずつデータを取り込ん
で加算を行うライン積算の例を示している。そして、こ
のようにして得られたプラスデータとマイナスデータの
差を画面全体についてとることで温度変化分布データが
得られ、応力分布データとして利用できる。
振信号ｆinに対して応力が最大になる位相の近傍でプラ
ストリガを発生し、応力が最小になる位相の近傍でマイ
ナストリガを発生する。このプラストリガに対して最初
のカメラＨＢ信号の位置で温度信号をプラスデータとし
て取り込み、また、マイナストリガに対して最初のカメ
ラＨＢ信号の位置で温度信号をマイナスデータとして取
り込む。温度信号の取り込みの際、１／１０００℃のよ
うな微小な温度差を検出するためには、ライン積算やフ
レーム積算などの手法を用いてＳ／Ｎを改善することが
行われる。図３に示す例では、プラス側及びマイナス側
のそれぞれの半周期において３個ずつデータを取り込ん
で加算を行うライン積算の例を示している。そして、こ
のようにして得られたプラスデータとマイナスデータの
差を画面全体についてとることで温度変化分布データが
得られ、応力分布データとして利用できる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記のような応力測定
では、被検体に繰り返し引張・圧縮荷重を加え、その表
面の温度変化を検出することにより応力分布を測定する
ことができるが、その際にしばしば亀裂が発生すること
がある。このような場合、亀裂が発生した時の応力や、
繰り返し荷重を加えている間の応力状態の変化を知りた
いという要求がある。しかし、上記従来の応力測定装置
では、測定データの連続的な加算しか行えないので、測
定の途中で亀裂が発生したとしても、測定終了までの応
力状態しか判らない。亀裂が発生した時の応力状態を知
りたい場合には、亀裂の発生を何らかの手段で検知して
その瞬間に装置（測定）を一時止めてファイルに測定デ
ータを落とさなければならず、その後、改めてファイル
名をセットして測定データを採り始めなければならな
い。そのため、亀裂の進行に対し、不連続な測定データ
しか装置に取り込めないという問題がある。
では、被検体に繰り返し引張・圧縮荷重を加え、その表
面の温度変化を検出することにより応力分布を測定する
ことができるが、その際にしばしば亀裂が発生すること
がある。このような場合、亀裂が発生した時の応力や、
繰り返し荷重を加えている間の応力状態の変化を知りた
いという要求がある。しかし、上記従来の応力測定装置
では、測定データの連続的な加算しか行えないので、測
定の途中で亀裂が発生したとしても、測定終了までの応
力状態しか判らない。亀裂が発生した時の応力状態を知
りたい場合には、亀裂の発生を何らかの手段で検知して
その瞬間に装置（測定）を一時止めてファイルに測定デ
ータを落とさなければならず、その後、改めてファイル
名をセットして測定データを採り始めなければならな
い。そのため、亀裂の進行に対し、不連続な測定データ
しか装置に取り込めないという問題がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するものであって、亀裂の進行に対しても連続した測
定データを装置に取り込めるようにするものである。そ
のために本発明は、被検体表面の温度変化を赤外線カメ
ラにより検出して積算する赤外線測定装置において、複
数の測定データの取り込みタイミングを設定して該取り
込みタイミングで測定中間の積算した測定データを取り
込むようにしたことを特徴とするものである。
決するものであって、亀裂の進行に対しても連続した測
定データを装置に取り込めるようにするものである。そ
のために本発明は、被検体表面の温度変化を赤外線カメ
ラにより検出して積算する赤外線測定装置において、複
数の測定データの取り込みタイミングを設定して該取り
込みタイミングで測定中間の積算した測定データを取り
込むようにしたことを特徴とするものである。
【０００８】また、被検体に周期的に荷重を印加し、発
熱、吸熱作用に基づく被検体表面の温度変化を赤外線カ
メラにより検出して積算し、該温度変化の分布に基づき
応力分布を検出するようにした赤外線測定装置におい
て、間欠積算回数又は時間及び全体積算回数又は時間を
設定することにより、該設定された間欠積算回数又は時
間及び全体積算回数又は時間の積算データをファイルに
蓄積して各間欠積算回数又は時間及び全体積算回数又は
時間での積算データに基づく応力分布を検出できるよう
にしたことを特徴とするものである。
熱、吸熱作用に基づく被検体表面の温度変化を赤外線カ
メラにより検出して積算し、該温度変化の分布に基づき
応力分布を検出するようにした赤外線測定装置におい
て、間欠積算回数又は時間及び全体積算回数又は時間を
設定することにより、該設定された間欠積算回数又は時
間及び全体積算回数又は時間の積算データをファイルに
蓄積して各間欠積算回数又は時間及び全体積算回数又は
時間での積算データに基づく応力分布を検出できるよう
にしたことを特徴とするものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しつつ説明する。図１は本発明に係る赤外線測定
装置の実施の形態を説明するための図である。本発明に
係る赤外線測定装置は、被検体に周期的に圧縮・引張荷
重を繰り返し印加し、発熱、吸熱作用に基づく被検体表
面の温度変化を赤外線カメラにより検出して積算し、そ
の温度変化の分布に基づき応力分布を検出する際に、全
体積算回数（時間）だけでなく測定データの取り込みタ
イミングとして繰り返し荷重を加えている間の間欠積算
回数（時間）も設定することにより間欠積算回数毎に測
定データをファイルに落とし、亀裂が発生する過程の応
力状態を知ることができるようにするものである。
を参照しつつ説明する。図１は本発明に係る赤外線測定
装置の実施の形態を説明するための図である。本発明に
係る赤外線測定装置は、被検体に周期的に圧縮・引張荷
重を繰り返し印加し、発熱、吸熱作用に基づく被検体表
面の温度変化を赤外線カメラにより検出して積算し、そ
の温度変化の分布に基づき応力分布を検出する際に、全
体積算回数（時間）だけでなく測定データの取り込みタ
イミングとして繰り返し荷重を加えている間の間欠積算
回数（時間）も設定することにより間欠積算回数毎に測
定データをファイルに落とし、亀裂が発生する過程の応
力状態を知ることができるようにするものである。
【００１０】本発明に係る赤外線測定装置では、連続取
り込みモードで赤外線応力測定を行う場合に、図１に示
すように測定条件としてまず、ｉ＝１としてファイル名
ｍiをセットし（ステップＳ１１）、さらに測定データ
の取り込みタイミングとして全体加算（積算）回数Ａ及
び間欠加算（積算）回数Ｂをそれぞれセットする（ステ
ップＳ１２、Ｓ１３）。しかる後被検体に周期的に圧縮
・引張荷重を繰り返し印加して応力測定をスタートにす
る（ステップＳ１４）。応力測定がスタートすると、間
欠加算回数及び全体加算回数をカウントして測定データ
を加算し（ステップＳ１５）、全体加算回数が先に設定
したＡ回に達したか否かを調べ（ステップＳ１６）、Ａ
回に達していなければ、同様に間欠加算回数が先に設定
したＢ回に達したか否かを調べる（ステップＳ１７）。
全体加算回数がＡ回に達するか間欠加算回数がＢ回に達
するまでステップＳ１５の測定データの加算処理を繰り
返し実行し、Ｂ回に達すると、ファイルｍi に加算処理
した測定データを落とす（ステップＳ１８）。そして、
ｉ＝ｉ＋１に更新し（ステップＳ１９）、間欠加算回数
をクリアしてからステップＳ１５に戻って再度間欠加算
回数のカウントを開始して同様の処理を繰り返す（ステ
ップＳ２０）。全体加算回数がＡ回に達すると、ファイ
ルｍi に加算処理した測定データを落とし（ステップＳ
１８）、処理を終了する。
り込みモードで赤外線応力測定を行う場合に、図１に示
すように測定条件としてまず、ｉ＝１としてファイル名
ｍiをセットし（ステップＳ１１）、さらに測定データ
の取り込みタイミングとして全体加算（積算）回数Ａ及
び間欠加算（積算）回数Ｂをそれぞれセットする（ステ
ップＳ１２、Ｓ１３）。しかる後被検体に周期的に圧縮
・引張荷重を繰り返し印加して応力測定をスタートにす
る（ステップＳ１４）。応力測定がスタートすると、間
欠加算回数及び全体加算回数をカウントして測定データ
を加算し（ステップＳ１５）、全体加算回数が先に設定
したＡ回に達したか否かを調べ（ステップＳ１６）、Ａ
回に達していなければ、同様に間欠加算回数が先に設定
したＢ回に達したか否かを調べる（ステップＳ１７）。
全体加算回数がＡ回に達するか間欠加算回数がＢ回に達
するまでステップＳ１５の測定データの加算処理を繰り
返し実行し、Ｂ回に達すると、ファイルｍi に加算処理
した測定データを落とす（ステップＳ１８）。そして、
ｉ＝ｉ＋１に更新し（ステップＳ１９）、間欠加算回数
をクリアしてからステップＳ１５に戻って再度間欠加算
回数のカウントを開始して同様の処理を繰り返す（ステ
ップＳ２０）。全体加算回数がＡ回に達すると、ファイ
ルｍi に加算処理した測定データを落とし（ステップＳ
１８）、処理を終了する。
【００１１】図２は本発明に係る赤外線応力測定装置の
システム構成例を示すブロック図である。図２におい
て、加振機１は、圧縮／引張荷重を繰り返し加えて被検
体Ｓを加振するものであり、赤外線カメラ２は、加振機
１により繰り返し荷重を受ける被検体Ｓを撮影するもの
である。周波数検出回路５は、加振機１から加振信号ｆ
inを入力してその加振信号ｆinの周波数を検出する回路
であり、プラストリガ発生回路３は、加振信号ｆinを入
力して応力の最大になる位相位置近傍でプラストリガを
発生し、マイナストリガ発生回路４は、加振信号ｆinを
入力して応力の最小となる位相位置近傍でマイナストリ
ガを発生する回路である。プラスデータメモリ６及びマ
イナスデータメモリ７は、赤外線カメラ２から所定垂直
位置の水平走査線についてカメラＨＢ信号を繰り返し入
力すると共に、プラスデータメモリ６は、プラストリガ
発生回路３で発生したプラストリガに対応して所定の個
数のプラス温度データを取り込み加算し、マイナスデー
タメモリ７は、マイナストリガ発生回路４で発生したマ
イナストリガに対応して所定の個数のマイナス温度デー
タを取り込み加算する。演算制御装置９は、赤外線カメ
ラ２から水平スキャン周波数に関するデータを入力する
と共に、周波数検出回路５から加振信号ｆinの周波数検
出信号を入力して、プラスデータメモリ６及びマイナス
データメモリ７に取り込まれたプラス温度データとマイ
ナス温度データの差を求め、さらにその差データの補正
を行って補正後の差データを積算する。そして、例えば
カウンタによる積算回数が予めレジスタに設定された所
定の間欠積算回数Ｂに達する毎にその時の積算した測定
データを測定データファイル８に蓄積し、予め設定され
た所定の全体積算回数Ａに達すると応力測定を終了す
る。表示装置１０は、例えば測定データファイル８に蓄
積したデータに基づき応力画像を表示するものである。
システム構成例を示すブロック図である。図２におい
て、加振機１は、圧縮／引張荷重を繰り返し加えて被検
体Ｓを加振するものであり、赤外線カメラ２は、加振機
１により繰り返し荷重を受ける被検体Ｓを撮影するもの
である。周波数検出回路５は、加振機１から加振信号ｆ
inを入力してその加振信号ｆinの周波数を検出する回路
であり、プラストリガ発生回路３は、加振信号ｆinを入
力して応力の最大になる位相位置近傍でプラストリガを
発生し、マイナストリガ発生回路４は、加振信号ｆinを
入力して応力の最小となる位相位置近傍でマイナストリ
ガを発生する回路である。プラスデータメモリ６及びマ
イナスデータメモリ７は、赤外線カメラ２から所定垂直
位置の水平走査線についてカメラＨＢ信号を繰り返し入
力すると共に、プラスデータメモリ６は、プラストリガ
発生回路３で発生したプラストリガに対応して所定の個
数のプラス温度データを取り込み加算し、マイナスデー
タメモリ７は、マイナストリガ発生回路４で発生したマ
イナストリガに対応して所定の個数のマイナス温度デー
タを取り込み加算する。演算制御装置９は、赤外線カメ
ラ２から水平スキャン周波数に関するデータを入力する
と共に、周波数検出回路５から加振信号ｆinの周波数検
出信号を入力して、プラスデータメモリ６及びマイナス
データメモリ７に取り込まれたプラス温度データとマイ
ナス温度データの差を求め、さらにその差データの補正
を行って補正後の差データを積算する。そして、例えば
カウンタによる積算回数が予めレジスタに設定された所
定の間欠積算回数Ｂに達する毎にその時の積算した測定
データを測定データファイル８に蓄積し、予め設定され
た所定の全体積算回数Ａに達すると応力測定を終了す
る。表示装置１０は、例えば測定データファイル８に蓄
積したデータに基づき応力画像を表示するものである。
【００１２】動作を説明する。キーボード等の設定装置
（図示せず）から演算制御装置９に応力測定データを蓄
積するファイル名、全体加算回数Ａ及び間欠加算回数Ｂ
を例えばレジスタにセットして応力測定のスタートを指
示し、加振機１により圧縮／引張荷重を繰り返し加えて
被検体Ｓを加振する。測定スタートにより加振機１の加
振信号ｆinが周波数検出回路５、プラストリガ発生回路
３、マイナストリガ発生回路４に入力されるので、周波
数検出回路５で加振信号ｆinの周波数が検出され、プラ
ストリガ発生回路３で応力の最大になる位相位置近傍で
プラストリガが、また、マイナストリガ発生回路４で応
力の最小となる位相位置近傍でマイナストリガそれぞれ
発生される。そして、このプラストリガによるデータが
プラスデータメモリ６に入力され、マイナストリガによ
るデータがマイナスデータメモリ７に入力される。一
方、赤外線カメラ２からプラスデータメモリ６及びマイ
ナスデータメモリ７に所定垂直位置の水平走査線につい
てカメラＨＢ信号が繰り返し入力される。これらの入力
により、プラスデータメモリ６では、プラス温度データ
としてプラストリガに対応して所定の個数のカメラＨＢ
信号が取り込まれ、マイナスデータメモリ７では、マイ
ナス温度データとしてマイナストリガに対応して所定の
個数のカメラＨＢ信号が取り込まれ、それぞれ加算され
る。
（図示せず）から演算制御装置９に応力測定データを蓄
積するファイル名、全体加算回数Ａ及び間欠加算回数Ｂ
を例えばレジスタにセットして応力測定のスタートを指
示し、加振機１により圧縮／引張荷重を繰り返し加えて
被検体Ｓを加振する。測定スタートにより加振機１の加
振信号ｆinが周波数検出回路５、プラストリガ発生回路
３、マイナストリガ発生回路４に入力されるので、周波
数検出回路５で加振信号ｆinの周波数が検出され、プラ
ストリガ発生回路３で応力の最大になる位相位置近傍で
プラストリガが、また、マイナストリガ発生回路４で応
力の最小となる位相位置近傍でマイナストリガそれぞれ
発生される。そして、このプラストリガによるデータが
プラスデータメモリ６に入力され、マイナストリガによ
るデータがマイナスデータメモリ７に入力される。一
方、赤外線カメラ２からプラスデータメモリ６及びマイ
ナスデータメモリ７に所定垂直位置の水平走査線につい
てカメラＨＢ信号が繰り返し入力される。これらの入力
により、プラスデータメモリ６では、プラス温度データ
としてプラストリガに対応して所定の個数のカメラＨＢ
信号が取り込まれ、マイナスデータメモリ７では、マイ
ナス温度データとしてマイナストリガに対応して所定の
個数のカメラＨＢ信号が取り込まれ、それぞれ加算され
る。
【００１３】そして、演算制御装置９により、プラスデ
ータメモリ６及びマイナスデータメモリ７に取り込まれ
たプラス温度データとマイナス温度データについて差デ
ータが求められ、さらに、加振周波数及びカメラ水平ス
キャン周波数の情報に基づいて差データの補正が行われ
補正後の差データが積算される。従来は、所定の積算回
数（全体積算回数）Ａの測定データが得られると、それ
を測定データファイル８に落として測定を終了したが、
本発明では、ここで、図１で説明した処理を行うことに
より、予め設定された間欠積算回数Ｂ毎に積算した測定
データを測定データファイル８に落としている。したが
って、測定終了後に、各間欠積算回数Ｂ毎に測定データ
ファイル８に落とした測定データに基づいて応力画像デ
ータを表示装置１０に表示することができる。
ータメモリ６及びマイナスデータメモリ７に取り込まれ
たプラス温度データとマイナス温度データについて差デ
ータが求められ、さらに、加振周波数及びカメラ水平ス
キャン周波数の情報に基づいて差データの補正が行われ
補正後の差データが積算される。従来は、所定の積算回
数（全体積算回数）Ａの測定データが得られると、それ
を測定データファイル８に落として測定を終了したが、
本発明では、ここで、図１で説明した処理を行うことに
より、予め設定された間欠積算回数Ｂ毎に積算した測定
データを測定データファイル８に落としている。したが
って、測定終了後に、各間欠積算回数Ｂ毎に測定データ
ファイル８に落とした測定データに基づいて応力画像デ
ータを表示装置１０に表示することができる。
【００１４】なお、本発明は、上記実施の形態に限定さ
れるものではなく、種々の変形が可能である。例えば上
記実施の形態では、応力画像を表示装置に出力したが、
プリンタ等に印刷出力するように構成してもよい。ま
た、１個の間欠積算回数だけを設定し、その回数毎に積
算した測定データを取り込むようにしたが、測定開始直
後は回数を多くし、中間での回数を少なくするというよ
うに、間欠積算回数を固定せず、段階的に或いは連続的
に変えるようにしてもよいし、測定期間の一部期間に限
定して適用するようにしてもよい。中間の測定データを
取り込むのに積算回数で設定したが、測定開始からの経
過時間で設定してもよいし、外部からのトリガ信号、例
えば亀裂発生及びその進行を検出する手段等から得られ
るトリガ信号を用いてもよい。トリガ信号を用いる場合
においても、一定のファイル数に限定して最新の測定デ
ータで更新し、トリガ信号によりその前後のファイルの
みを保存するようにしてもよいし、トリガ信号が発生し
た時点から測定データをファイルに落とすようにしても
よい。上記のように任意の時点での表面温度の変化を検
出して取り込む構成から、その表面温度や応力の変化の
速度や大きさを検出して温度や応力の変化の制御に利用
することもできる。
れるものではなく、種々の変形が可能である。例えば上
記実施の形態では、応力画像を表示装置に出力したが、
プリンタ等に印刷出力するように構成してもよい。ま
た、１個の間欠積算回数だけを設定し、その回数毎に積
算した測定データを取り込むようにしたが、測定開始直
後は回数を多くし、中間での回数を少なくするというよ
うに、間欠積算回数を固定せず、段階的に或いは連続的
に変えるようにしてもよいし、測定期間の一部期間に限
定して適用するようにしてもよい。中間の測定データを
取り込むのに積算回数で設定したが、測定開始からの経
過時間で設定してもよいし、外部からのトリガ信号、例
えば亀裂発生及びその進行を検出する手段等から得られ
るトリガ信号を用いてもよい。トリガ信号を用いる場合
においても、一定のファイル数に限定して最新の測定デ
ータで更新し、トリガ信号によりその前後のファイルの
みを保存するようにしてもよいし、トリガ信号が発生し
た時点から測定データをファイルに落とすようにしても
よい。上記のように任意の時点での表面温度の変化を検
出して取り込む構成から、その表面温度や応力の変化の
速度や大きさを検出して温度や応力の変化の制御に利用
することもできる。
【００１５】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、複数の測定データの取り込みタイミングとし
て全体積算回数だけでなく間欠積算回数を設定してそれ
ぞれの回数での積算した測定データをファイルに落とす
ので、最終的な測定データだけでなく、中間における任
意のポイントでの、連続的な応力状態及びその変化を検
出することができる。したがって、亀裂が発生した場合
に、応力測定の再設定をしなくてもその前後の応力状態
の変化を検出することができる。
によれば、複数の測定データの取り込みタイミングとし
て全体積算回数だけでなく間欠積算回数を設定してそれ
ぞれの回数での積算した測定データをファイルに落とす
ので、最終的な測定データだけでなく、中間における任
意のポイントでの、連続的な応力状態及びその変化を検
出することができる。したがって、亀裂が発生した場合
に、応力測定の再設定をしなくてもその前後の応力状態
の変化を検出することができる。
【図１】 本発明に係る赤外線測定装置の実施の形態を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図２】 本発明に係る赤外線応力測定装置のシステム
構成例を示すブロック図である。
構成例を示すブロック図である。
【図３】 従来の赤外線応力画像システムの例を説明す
るためのタイムチャートである。
るためのタイムチャートである。
１…加振機、２…赤外線カメラ、３…プラストリガ発生
回路、４…マイナストリガ発生回路、５…周波数検出回
路、６…プラスデータメモリ、７…マイナスデータメモ
リ、８…測定データファイル、９…演算制御装置、１０
…表示装置
回路、４…マイナストリガ発生回路、５…周波数検出回
路、６…プラスデータメモリ、７…マイナスデータメモ
リ、８…測定データファイル、９…演算制御装置、１０
…表示装置
Claims (4)
- 【請求項１】 被検体表面の温度変化を赤外線カメラに
より検出して積算する赤外線測定装置において、複数の
測定データの取り込みタイミングを設定して該取り込み
タイミングで測定中間の積算した測定データを取り込む
ようにしたことを特徴とする赤外線測定装置。 - 【請求項２】 前記取り込みタイミングを間欠積算回数
により設定し、該間欠積算回数で測定データを取り込む
ようにしたことを特徴とする請求項１記載の赤外線測定
装置。 - 【請求項３】 前記取り込みタイミングを測定開始後の
経過時間により設定することを特徴とする請求項１記載
の赤外線測定装置。 - 【請求項４】 被検体に周期的に荷重を印加し、発熱、
吸熱作用に基づく被検体表面の温度変化を赤外線カメラ
により検出して積算し、該温度変化の分布に基づき応力
分布を検出するようにした赤外線測定装置において、間
欠積算回数又は時間及び全体積算回数又は時間を設定す
ることにより、該設定された間欠積算回数又は時間及び
全体積算回数又は時間の積算データをファイルに蓄積し
て各間欠積算回数又は時間及び全体積算回数又は時間で
の積算データに基づく応力分布を検出できるようにした
ことを特徴とする赤外線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32054795A JP3306283B2 (ja) | 1995-12-08 | 1995-12-08 | 赤外線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32054795A JP3306283B2 (ja) | 1995-12-08 | 1995-12-08 | 赤外線測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09159590A true JPH09159590A (ja) | 1997-06-20 |
| JP3306283B2 JP3306283B2 (ja) | 2002-07-24 |
Family
ID=18122656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32054795A Expired - Fee Related JP3306283B2 (ja) | 1995-12-08 | 1995-12-08 | 赤外線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3306283B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000040985A1 (en) * | 1998-12-31 | 2000-07-13 | Honeywell Inc. | Prognostic system for determining infrared signature patterns emitted from electronic devices |
| JP2007163390A (ja) * | 2005-12-16 | 2007-06-28 | Jfe Steel Kk | 構造物の欠陥検出方法および装置 |
| CN113740352A (zh) * | 2021-09-08 | 2021-12-03 | 四川大学 | 一种航空发动机叶片裂纹与残余应力集成检测方法 |
-
1995
- 1995-12-08 JP JP32054795A patent/JP3306283B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000040985A1 (en) * | 1998-12-31 | 2000-07-13 | Honeywell Inc. | Prognostic system for determining infrared signature patterns emitted from electronic devices |
| JP2007163390A (ja) * | 2005-12-16 | 2007-06-28 | Jfe Steel Kk | 構造物の欠陥検出方法および装置 |
| CN113740352A (zh) * | 2021-09-08 | 2021-12-03 | 四川大学 | 一种航空发动机叶片裂纹与残余应力集成检测方法 |
| CN113740352B (zh) * | 2021-09-08 | 2022-11-22 | 四川大学 | 一种航空发动机叶片裂纹与残余应力集成检测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3306283B2 (ja) | 2002-07-24 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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