JPH09153802A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPH09153802A
JPH09153802A JP7310593A JP31059395A JPH09153802A JP H09153802 A JPH09153802 A JP H09153802A JP 7310593 A JP7310593 A JP 7310593A JP 31059395 A JP31059395 A JP 31059395A JP H09153802 A JPH09153802 A JP H09153802A
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JP
Japan
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circuit
digital
sampling
timing
signal
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Withdrawn
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JP7310593A
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English (en)
Inventor
Takeshi Yamamoto
剛 山本
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】デジタルアナログ混載ICにおいて、デジタル
回路で発生するパルスノイズの影響がアナログ回路のサ
ンプリング処理に及ばないようにする。 【解決手段】デジタル回路11のサンプルタイミング発
生部12で生成したタイミング信号を遅延させてアナロ
グ回路13のサンプリング信号SP1〜SP3とする。
デジタル回路11は共通のマスタークロックCKで動作
させる。サンプリングパルスSP1〜SP3は同じ遅延
時間τを持つ遅延部D1〜D3を介して、アナログ回路
13のサンプリング処理部14へサンプリングパルスと
して供給する。これにより、デジタル回路11ではマス
タークロックCKの反転タイミングで、電源ラインVD
D,VSSに発生するノイズパルスに対し、パルスS1〜
S3の動作タイミングは、これより遅延回路D1〜D3
の遅延時間τ分だけ、ずれているため、パルスノイズの
影響を受けることなくサンプリング処理できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、アナログ回路と
デジタル回路を1チップ上に混載した場合に生じる、デ
ジタル回路で発生したパルスノイズがアナログ回路へ混
入してアナログ信号の品位劣化を防止した半導体集積回
路に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体プロセスの微細化とともに
高集積化が著しく進み、これまでアナログとデジタルで
分かれていたIC(半導体集積回路)も、統合して大規
模アナデジLSIとしたり、A/D、D/Aコンバータ
を内蔵したデジタル信号処理LSIなどの開発が盛んに
進められている。
【0003】このようなアナログデジタル混載のIC
は、デジタルの集積度が上がるという利点からCMOS
あるいはBi−CMOSプロセスが用いられる。この
種、ICで問題となるのがCMOSデジタル回路で発生
するパルスノイズである。特にCMOSプロセスの場
合、その特徴を活かすためアナログ回路にサンプリング
処理が多用される。例えば、A/Dコンバータの前段や
SCF(スイッチトキャパシタフィルタ)やサンプルホ
ールドフィルタやオフセットキャンセル回路などのサン
プルホールド処理である。
【0004】サンプリングのタイミングを決めるサンプ
リングパルスSP1〜SP3は、図9に示すようにマス
タークロックCKに基づいてデジタル回路91のサンプ
ルタイミング発生部92により生成し、これをそのまま
アナログ回路93のサンプリング処理部94へ供給して
いる。
【0005】サンプリング処理部94の構成要素となる
サンプルホールド回路において、サンプルからホールド
へ移る瞬間に、デジタルからのノイズが混入してホール
ド電圧に誤差を生じると、この誤差がホールド期間中ず
っと保持されることになる。混入時の瞬間的なノイズで
あっても、この影響はある時間維持されることになるた
め、ノイズエネルギーは時間拡大され出力信号の品位を
著しく損なうことになる。
【0006】これについて図10を用い、さらに詳しく
説明する。まず、CMOSのデジタル回路101でパル
スノイズを発生する過程について述べる。簡単にするた
め図のようにNチャンネルMOSとPチャンネルMOS
を1個ずつ組み合わせた最も単純なインバータで考え
る。
【0007】インバータの出力には次段入力のゲートを
接続し、その寄生容量により容量負荷となっている。C
MOSのゲート回路は、入力の論理が反転する瞬間だけ
電流が流れる。入力が反転途中のVDDとVSSの中間的な
値を取っているとき、NチャンネルMOSとPチャンネ
ルMOSが両方ONしていてVDDからVSSへ、貫通電流
i1が流れる。また、入力レベルがHからLに変わると
き、出力レベルはLからHに変わるので、寄生容量を充
電するためのチャージ電流i2が流れる。
【0008】同様に、入力レベルがLからHに変わると
き、出力レベルがHからLに変わるので、寄生容量を放
電するためのディスチャージ電流i3が流れる。このよ
うにして、入力レベルがHからLに変わるときは、VDD
ラインに電流i1+i2、VSSラインに電流i1が、入
力レベルがLからHに変わるときは、VDDラインに電流
i1、VSSラインに電流i1+i3がそれぞれ流れる。
CMOSゲート回路は全てが同じ様な動作で、状態が変
わるたびに電源ラインにパルス電流を流す。これはフリ
ップフロップなどの回路でも同じで、入力やクロックの
論理が反転するたびに電源ラインにパルス電流が流れ
る。
【0009】このように全てのデジタル回路において、
状態が変わるのは必ずマスタークロックCKが反転する
タイミングに一致しているので、マスタークロックCK
の反転ごとに全体として相当大きなパルス電流が電源ラ
インに流れることになる。電源ラインといえども電源パ
ッドあるいは電源ピンからアルミ配線の抵抗分によって
あるインピーダンスを持っているので、このインピーダ
ンスにより電源ラインVDD、VSSには図中に示したよう
なパルスノイズ波形が表われる。これがアナログ部とデ
ジタル部の電源ラインの共通インピーダンスによってア
ナログ回路102の電源ラインVcc、接地ラインGND
へ乗る。電源ラインとボンディングワイヤはインダクタ
成分も持っているので、デジタル回路101が発生する
パルス電流による電磁誘導によって、これがアナログ回
路102へも洩れこんでいく。また、デジタル回路10
1とアナログ回路102を、同一チップ上に形成する限
りはサブストレートを共通にしているので、デジタルの
VSSとアナログのGNDを分離していたとしても、サブ
ストレートを経由してアナログ回路102へ洩れこんで
いくルートもある。
【0010】このように、デジタル回路102で発生す
るマスタークロックCKの反転による半周期間隔のパル
スノイズは、アナログ回路102のサンプルホールド回
路103へ、電源ラインを介して、サブストレートとホ
ールドコンデンサの寄生容量を介して、あるいは直接空
間的な輻射ノイズとして、さまざまな経路で混入する。
サンプルホールド回路103では、そのサンプリングパ
ルスをデジタル回路101で生成するため、サンプリン
グのタイミングがマスタークロックCKの反転のタイミ
ング、すなわちパルスノイズが発生する位置と一致して
いる。従って、サンプリングタイミングとしては、この
ノイズの影響を最も受けやすい位置になっている。
【0011】こうしてサンプルホールド回路103は、
デジタル回路101が発生するパルスノイズの影響で、
図10の中の出力信号に示したようにサンプリング誤差
(ホールド誤差)を持つ。しかも、前述のように、この
誤差がホールド期間維持されることによりノイズエネル
ギーとしては拡大され、出力信号の品位を著しく落とす
ことになる。
【0012】この問題は、デジタルアナログ混載のLS
IあるいはA/D変換器内蔵のデジタルLSIでは必ず
発生し、有効な対策がないため深刻な問題となることが
多い。従来では、この解決法としてパターンレイアウト
での対策が中心であった。例えば、アナログ回路とデジ
タル回路とで、電源ピンを分けるまたは電源ラインをパ
ッドから完全に分岐させる、電源ラインを太くしてイン
ピーダンスを下げる、あるいはレイアウト領域を分離す
る、その境界に分離帯を設ける、などの対策を取ってい
た。
【0013】しかし、これらの方法は、ICのピン数や
チップ面積の増大を招き経済性が悪いこと、どの程度の
対策を施せば良いのかの見積もりが困難であること、作
ってみた結果、不十分のためさらに強化対策が必要な場
合下地(埋め込み層)からの根本修正が必要なこと、な
どの問題があった。そして何よりも、これらのレイアウ
ト的対策は限界があり、十分満足できる分離度が得られ
ないことが多い。このようなデジタルアナログ間の干渉
問題に根本的な対策が求められていた。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】以上述べてきたよう
に、従来のデジタルアナログ混載のLSIあるいはA/
D変換器内蔵のデジタルLSIではデジタル回路で発生
するパルスノイズがさまざまな経路でアナログ回路へ混
入し、サンプリング処理回路にホールド誤差を生じさせ
て信号の品位を劣化させるという問題があった。この解
決法としてパターンレイアウトでの対策を行ってきた
が、その効果には限界があった。
【0015】この発明は、デジタルアナログ混載ICに
おいて、デジタル回路で発生するパルスノイズの影響が
アナログ回路のサンプリング処理に及ばないようにし
て、アナログ信号の劣化を防止することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】この発明は上記目的を達
成するため、アナログ回路とデジタル回路が混在し、ア
ナログ回路は信号のサンプリング処理を含み、そのサン
プリング時間を決めるタイミング信号はデジタル回路に
おいて他のデジタル回路と共通のマスタークロックを使
って生成する半導体集積回路において、前記タイミング
信号の反転タイミングが前記マスタークロックの立ち上
がりまたは立ち下がりに対してデジタル回路のゲート1
段あたりの遅延時間より十分大きな一定時間以上の時間
差を持つようにしてアナログ回路に供給するという手段
を用いる。
【0017】このような構成とすることにより、デジタ
ル回路で作ったサンプリングパルスを少しずらし、その
タイミングにマタークロックの反転位置に対して時間差
を設けることができる。すなわち、デジタル回路でパル
スノイズを発生する位置を避けてサンプリングすること
により、パルスノイズによる誤差の発生がなくなり信号
の品位を保つことができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、図面を参照しながら詳細に説明する。図1は、こ
の発明の第1の実施の形態について説明するための回路
構成図である。図1に示すように、デジタル回路11の
サンプルタイミング発生部12で生成したタイミング信
号を、一定時間遅延させてアナログ回路13のサンプリ
ング信号SP1〜SP3とする。デジタル回路11は全
て共通のデジタル回路を駆動する、図2の(a)に示す
マスタークロックCKで動作させる。サンプリングパル
スSP1〜SP3は、それぞれ図2(c)に示す、同じ
遅延時間τを持つ遅延部D1〜D3を介して、アナログ
回路13のサンプリング処理部14へサンプリングパル
スとして供給する。
【0019】このようにすれば、デジタル回路11では
マスタークロックCKの反転タイミングで、電源ライン
VDD,VSSに発生する図2(b),(d)に示すノイズ
パルスに対し、サンプリングパルスS1〜S3の動作タ
イミングは、これより遅延回路D1〜D3の遅延時間τ
分だけ、それぞれずれているため、パルスノイズの影響
を受けることなくサンプリング処理できる。パルスノイ
ズ発生の瞬間は、サンプリング処理部14のサンプルホ
ールド回路はサンプル中またはホールド中であるため、
一瞬ノイズが乗ることはあっても、ホールド値そのもの
に影響を与えることはほとんどない。
【0020】この実施の形態では、電源ラインなどに発
生するパルスノイズの位置を避けるように、サンプリン
グタイミング信号を供給することにより、デジタル回路
11で発生するパルスノイズの影響がアナログ回路13
のサンプリング処理に及ばないようにして、アナログ信
号の劣化を防止することができる。
【0021】アナログ的な遅延回路は、図1のものに限
らずまざまな方式が考えられる。図3〜図6を用いて、
第1の実施の形態の遅延回路の具体的な回路例について
説明する。
【0022】まず、図3に図1の遅延回路の第1の具体
的な回路例を示す。デジタル回路11で生成したタイミ
ングパルスTPを、抵抗R1とコンデンサC1とで1次
遅れを構成し、インバータG1とG2で波形整形してサ
ンプリングパルスSPとして出力する。これによりR1
×C1の時定数とインバータのしきい値電圧できまる時
間だけ遅延したサンプリングパルスとなる。
【0023】図4を用い、図1の遅延回路の第2の具体
的な回路例について説明する。電流源I1/I2とコン
デンサC2とで積分回路を構成し、電流源I1とI2を
デジタル回路11で生成したタイミングパルスTPで切
り換える。この出力をコンパレータにて抵抗R2とR3
で作る基準電圧と比較してサンプリングパルスSPとし
て出力する。タイミングパルスTPのレベルがL→Hと
なった瞬間、コンデンサC2端の電圧はGNDから上昇
していき、一定時間経って基準電圧を越えたとき出力レ
ベルがL→Hに変わる。この遅れ時間は、R2=R3と
すると、Tdelay =C2×VCC/(2×I1)となる。
【0024】図5を用い、図1の遅延回路の第3の具体
的な回路例について説明する。図のようにインバータを
多段接続し、ゲートあたりの遅れ時間を利用して遅延し
たサンプリングパルスSPを得るものである。
【0025】図6を用い、アナログ的な遅延回路を使っ
た、この発明の第2の実施の形態について説明する。第
1の実施の形態と同一の構成部分に同一の符号を付し、
ここでは異なる部分を中心にして説明する。この実施の
形態は、ラッチ回路L1〜L3を利用してタイミングパ
ルスを遅らすものである。しかし、そのままでは遅れな
いので今度はラッチ回路L1〜L3にトリガとして与え
るマスタークロックCKの経路に、遅延回路Dを置いて
その遅延時間分だけ遅らせる。なお、遅延回路Dとして
は、例えば、図3〜図5に示した遅延回路と同じ回路を
そのまま使用することができる。
【0026】この実施の形態でも、デジタル回路11で
発生するパルスノイズの影響がアナログ回路12のサン
プリング処理に及ばないようにしたため、アナログ信号
の劣化を防止することができる。
【0027】ここで、第1および第2の実施形態である
アナログ的な遅延回路を使った例には、図3〜図5の回
路例を挙げたが、これ以外にも、例えばゲート回路にス
レッシュホールドレベルを変えたものを用い、他のゲー
トとの間で故意に反転時間差を設ける、などさまざまな
方法があり、どの方法を使っても目的とする効果を得る
ことができる。
【0028】図7は、この発明の第3の実施の形態につ
いて説明するための回路構成図である。この実施の形態
は、図6の実施の形態と同様にラッチ回路L1〜L3を
用いてタイミングパルスを遅らすものである。しかし、
今度は遅延回路を用いないでマスタークロックCKの立
ち上がりと立ち下がりの時間差を利用する。すなわち、
ラッチ回路L1〜L3の出力を、マスタークロックCK
の立ち上がりで行うのであれば、他の全てのデジタル回
路11はマスタークロックCKの立ち下がりで動作する
ようにしておく。例えば、直接マスタークロックで動か
すのは立ち下がりで動作するフリップフロップのみと
し、このフリップフロップ出力で他の全てのデジタル回
路を動作させるようにする。
【0029】このようにすれば、デジタル回路11では
大部分のパルスノイズがマスタークロックCKの立ち下
がりのタイミングで発生するのに対し、サンプリングパ
ルスの動作タイミングは、マスタークロックCKの立ち
上がりに一致することになり、マスタークロックCKの
半周期分だけずれているため、パルスノイズの影響を受
けることなくサンプリング処理できる。
【0030】この実施の形態でも、デジタル回路11で
発生するパルスノイズの影響がアナログ回路13のサン
プリング処理に及ばないようにしたため、アナログ信号
の劣化を防止することができる。
【0031】図8は、この発明の第4の実施の形態につ
いて説明するための回路構成図である。この実施の形態
も、図6のの実施の形態と同様に、ラッチ回路L1〜L
3を用いてタイミングパルスを遅らすものである。しか
し、この実施の形態では、遅延回路Dをマスタークロッ
クCKがデジタル回路11へ供給される経路に設ける。
一方、タイミングパルスのラッチのためのタイミング
は、遅延回路Dの手前のマスタークロックを用いる。
【0032】このようにすれば、今度はサンプリングパ
ルスのタイミングに対し、デジタル回路11ではマスタ
ークロックの遅延時間分だけ遅れてパルスノイズが発生
することになり、これまでの例と同様に、アナログ回路
13ではパルスノイズの影響を受けることなくサンプリ
ング処理できることになる。
【0033】従って、この実施の形態でも、デジタル回
路11で発生するパルスノイズの影響がアナログ回路1
3のサンプリング処理に及ばないようにしたため、アナ
ログ信号の劣化を防止することができる。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、パルスノイズの発生に対し、サンプリングに時間差
を設けるという極めて簡単な対策により、デジタル回路
のパルスノイズがアナログ回路に洩れこんでサンプリン
グ誤差の発生をなくし、信号品位の劣化を防止すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施の形態について説明する
ための回路構成図。
【図2】図1の動作を説明するための信号波形図。
【図3】図1の遅延回路の第1の具体的な回路構成図。
【図4】図1の遅延回路の第2の具体的な回路構成図。
【図5】図1の遅延回路の第3の具体的な回路構成図。
【図6】この発明の第2の実施の形態について説明する
ための回路構成図。
【図7】この発明の第3の実施の形態について説明する
ための回路構成図。
【図8】この発明の第4の実施の形態について説明する
ための回路構成図。
【図9】従来のアナログ回路とデジタル回路を1チップ
上に混載した回路について説明するための説明図。
【図10】図9をより具体的に説明するための回路構成
図。
【符号の説明】
11…デジタル回路、12…サンプルタイミング処理
部、13…アナログ回路、14…サンプリング処理部、
CK…マスタークロック、SP1〜SP3…サンプリン
グパルス、D1〜D3,D…遅延回路、L1〜L3…ラ
ッチ回路。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アナログ回路とデジタル回路が同半導体
    チップ上に混在し、アナログ回路には少なくとも信号の
    サンプリング処理部を含み、そのサンプリング時間を決
    めるタイミング信号は、デジタル回路において他のデジ
    タル回路と共通のマスタークロックを使って生成する半
    導体集積回路において、 前記タイミング信号の反転タイミングが、前記マスター
    クロックの立ち上がりまたは立ち下がりに対し、前記デ
    ジタル回路のゲート1段あたりの遅延時間より十分大き
    な一定時間以上の時間差を持つようにして前記アナログ
    回路に供給することを特徴とする半導体集積回路。
  2. 【請求項2】 デジタル回路で生成する前記タイミング
    信号の全てに対し、一定時間遅延させる手段を介してア
    ナログ回路へのサンプリング信号とすることを特徴とす
    る請求項1記載の半導体集積回路。
  3. 【請求項3】 デジタル回路で生成する前記タイミング
    信号の全てに対し、抵抗とコンデンサから成る時定数回
    路を通しその後インバータなどの整形回路で波形整形す
    ることで一定時間遅延したタイミング信号に作り直し、
    これをアナログ回路へのサンプリング信号とすることを
    特徴とする請求項2記載の半導体集積回路。
  4. 【請求項4】 デジタル回路で生成する前記タイミング
    信号によって積分回路を動作させ、その後コンパレータ
    で波形整形することで一定時間遅延したタイミング信号
    に作り直し、これをアナログ回路へのサンプリング信号
    とすることを特徴とする請求項2記載の半導体集積回
    路。
  5. 【請求項5】 デジタル回路で生成する前記タイミング
    信号を多段接続したゲート回路に通して一定時間遅延さ
    せ、これをアナログ回路へのサンプリング信号とするこ
    とを特徴とする請求項2記載の半導体集積回路。
  6. 【請求項6】 デジタル回路で生成する前記タイミング
    信号を入力とし、前記マスタークロックまたはその分周
    信号を一定時間遅延させる手段を介して制御端子に供給
    し、その制御信号の立ち上がりまたは立ち下がりをトリ
    ガタイミングとするラッチ回路を備え、その出力をアナ
    ログ回路へのサンプリング信号とすることを特徴とする
    請求項2記載の半導体集積回路。
  7. 【請求項7】 デジタル回路は、一部を除いてマスター
    クロックの立ち上がりまたは立ち下がりのどちらがで動
    作するようにし、デジタル回路で生成する前記タイミン
    グ信号を入力とし、前記デジタル回路の動作位置がマス
    タークロックの立ち上がりの場合はその立ち下がりをト
    リガタイミングとし、前記デジタル回路の動作位置がマ
    スタークロックの立ち下がりの場合はその立ち上がりを
    トリガタイミングとするラッチ回路を備え、その出力を
    アナログ回路へのサンプリング信号とすることを特徴と
    する請求項1記載の半導体集積回路。
  8. 【請求項8】 サンプリングパルス発生回路を含む大部
    分のデジタル回路は、マスタークロックを一定時間遅延
    させる手段を介して供給するクロックで動作させ、サン
    プリングパルス発生回路で生成する前記タイミング信号
    を入力とし、遅延前の位置の前記マスタークロックを直
    接制御端子に供給し、その制御信号の立ち上がりまたは
    立ち下がりをトリガタイミングとするラッチ回路を備
    え、その出力をアナログ回路へのサンプリング信号とす
    ることを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路。
  9. 【請求項9】 アナログ回路は、サンプルホールド回路
    を前段に持つAD変換器を含み、入力アナログ信号をデ
    ジタルに変換して、信号処理はデジタル回路にて行うこ
    とを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路。
JP7310593A 1995-11-29 1995-11-29 半導体集積回路 Withdrawn JPH09153802A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6954096B2 (en) 2003-01-22 2005-10-11 Denso Corporation Semiconductor integrated circuit device having a sampling signal generation circuit
US7999715B2 (en) 2009-05-19 2011-08-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Interference reduction device
JP2012119941A (ja) * 2010-12-01 2012-06-21 Toyota Central R&D Labs Inc 反転電圧出力回路

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