JPH09147409A - 光ピックアップ素子 - Google Patents
光ピックアップ素子Info
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- JPH09147409A JPH09147409A JP32834595A JP32834595A JPH09147409A JP H09147409 A JPH09147409 A JP H09147409A JP 32834595 A JP32834595 A JP 32834595A JP 32834595 A JP32834595 A JP 32834595A JP H09147409 A JPH09147409 A JP H09147409A
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- optical pickup
- light emitting
- pickup element
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 小型化、低コスト化を実現した光ピックアッ
プ素子を提供する。 【解決手段】 レーザチップ25と、フォトダイオード
アレイ27,28と、レーザチップ25から水平出射す
る光dを外方へ垂直に反射するようにレーザチップ25
と対向する位置に載置されかつフォトダイオードアレイ
27,28とは別体に形成されたミラーチップ26とを
備えた発光受光部AA2と、ミラーチップ26から入射
する光eを3分割した光e,e1,e2として出射する
グレーティング22Cと、外方から入射する光を集光し
てフォトダイオードアレイ27,28上へ光f,gとし
て出射するホログラム22Eとを備えたホログラム部A
A1とを有している。
プ素子を提供する。 【解決手段】 レーザチップ25と、フォトダイオード
アレイ27,28と、レーザチップ25から水平出射す
る光dを外方へ垂直に反射するようにレーザチップ25
と対向する位置に載置されかつフォトダイオードアレイ
27,28とは別体に形成されたミラーチップ26とを
備えた発光受光部AA2と、ミラーチップ26から入射
する光eを3分割した光e,e1,e2として出射する
グレーティング22Cと、外方から入射する光を集光し
てフォトダイオードアレイ27,28上へ光f,gとし
て出射するホログラム22Eとを備えたホログラム部A
A1とを有している。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は音楽や映像、情報を
記録した光ディスクを読み出す光ピックアップに用いら
れる光ピックアップ素子に関するものでである。
記録した光ディスクを読み出す光ピックアップに用いら
れる光ピックアップ素子に関するものでである。
【0002】
【従来の技術】従来、光ピックアップAは、図6に示す
ように、レーザーダイオード(パッケージ入り)1、グ
レーティング2、コリメータレンズ3、ハーフプリズム
4、1/4波長板5、対物レンズ6、アクチュエータ
7、集光レンズ8、円柱レンズ9、受光素子10などの
個々の光学部品を組み立てて構成されており、光ディス
クD上のピット信号を読み出す機能を実現している。言
うまでもないが、受光素子10で受光された光電変換信
号は再生処理回路に供給されここでトラッキングエラー
信号及び再生信号(RF信号)が生成出力される。トラ
ッキングエラー信号はトラッキング駆動回路へ供給され
ここでアクチュエータ7を制御駆動する制御信号が出力
される。
ように、レーザーダイオード(パッケージ入り)1、グ
レーティング2、コリメータレンズ3、ハーフプリズム
4、1/4波長板5、対物レンズ6、アクチュエータ
7、集光レンズ8、円柱レンズ9、受光素子10などの
個々の光学部品を組み立てて構成されており、光ディス
クD上のピット信号を読み出す機能を実現している。言
うまでもないが、受光素子10で受光された光電変換信
号は再生処理回路に供給されここでトラッキングエラー
信号及び再生信号(RF信号)が生成出力される。トラ
ッキングエラー信号はトラッキング駆動回路へ供給され
ここでアクチュエータ7を制御駆動する制御信号が出力
される。
【0003】また、前記した光ピックアップAとは異な
る構成の光ピックアップBは、図7に示すように、アク
チュエータ7、レーザーダイオード11、グレーティン
グ12、平板ビームスプリッタ13、対物レンズ14、
受光素子15などの個々の光学部品を組み立てて構成さ
れており、光ディスクD上のピット信号を読み出す機能
を実現している。ここでも受光素子15で受光された光
電変換信号は再生処理回路に供給されここでトラッキン
グエラー信号及び再生信号(RF信号)が生成出力され
る。トラッキングエラー信号はトラッキング駆動回路へ
供給されここでアクチュエータ7を制御駆動する制御信
号が出力される。
る構成の光ピックアップBは、図7に示すように、アク
チュエータ7、レーザーダイオード11、グレーティン
グ12、平板ビームスプリッタ13、対物レンズ14、
受光素子15などの個々の光学部品を組み立てて構成さ
れており、光ディスクD上のピット信号を読み出す機能
を実現している。ここでも受光素子15で受光された光
電変換信号は再生処理回路に供給されここでトラッキン
グエラー信号及び再生信号(RF信号)が生成出力され
る。トラッキングエラー信号はトラッキング駆動回路へ
供給されここでアクチュエータ7を制御駆動する制御信
号が出力される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記したいず
れの光ピックアップA,Bは多くの光学部品を組み立て
て構成されているから、小型化に限界が有り、また、生
産効率も悪くコスト低減にも不利であった。
れの光ピックアップA,Bは多くの光学部品を組み立て
て構成されているから、小型化に限界が有り、また、生
産効率も悪くコスト低減にも不利であった。
【0005】そこで、前記した光ピックアップA,Bを
構成するの数多くの光学部品を集積化した光ピックアッ
プ素子を用いることにより、光ピックアップ自体の一層
の小型化及び生産効率の向上、コストの低減を促進する
ことが考えられた。この一例として、図8に示すホログ
ラムを用いた集積化ユニット15がある。
構成するの数多くの光学部品を集積化した光ピックアッ
プ素子を用いることにより、光ピックアップ自体の一層
の小型化及び生産効率の向上、コストの低減を促進する
ことが考えられた。この一例として、図8に示すホログ
ラムを用いた集積化ユニット15がある。
【0006】この集積化ユニット15を前記した光ピッ
クアップA(図6に図示)に適用してなる光ピックアッ
プCは、光ピックアップAの構成中、対物レンズ6とア
クチュエータ7以外の光学部品が集積化ユニット15に
置換されたものに等しいものである。
クアップA(図6に図示)に適用してなる光ピックアッ
プCは、光ピックアップAの構成中、対物レンズ6とア
クチュエータ7以外の光学部品が集積化ユニット15に
置換されたものに等しいものである。
【0007】また、この集積化ユニット15を前記した
光ピックアップB(図7に図示)に適用してなる光ピッ
クアップDは、光ピックアップBの構成中、対物レンズ
14とアクチュエータ7以外の光学部品が集積化ユニッ
ト15に置換されたものに等しいものである。
光ピックアップB(図7に図示)に適用してなる光ピッ
クアップDは、光ピックアップBの構成中、対物レンズ
14とアクチュエータ7以外の光学部品が集積化ユニッ
ト15に置換されたものに等しいものである。
【0008】さて、上記した対物レンズ6,14とアク
チュエータ7以外の部分が集積化されているこの集積化
ユニット15は、図8に示すように、大きく分けて発光
受光部15Aとホログラム部15Bとの2つから構成さ
れる。
チュエータ7以外の部分が集積化されているこの集積化
ユニット15は、図8に示すように、大きく分けて発光
受光部15Aとホログラム部15Bとの2つから構成さ
れる。
【0009】発光受光部15Aは、図8に示すように、
Si(シリコン)に形成されたフォトダイオード基板1
5A1上にフォトリソグラフィ技術と異方性エッチング
により、反射ミラー構造の45度面15A2を形成し、
その面15A2での反射により、レーザチップ15A3
から水平出射されるレーザ光aを垂直出射光に変換す
る。この結果、45度面15A2で垂直方向へ反射され
たレーザ光aはホログラム部15B(グレーティング1
5B2)を介して3分割した光a,a1,a2とされて
(対物レンズ6,14側へ)出射される。一方、(対物
レンズ6,14を介して光ディスクDから反射してき
た)光はフォトダイオード基板15A1上の受光パター
ン15A4,15A上に光b,cとしてうまく照射され
るようにホログラム部15B(グレーティング15B
4)により集光される。
Si(シリコン)に形成されたフォトダイオード基板1
5A1上にフォトリソグラフィ技術と異方性エッチング
により、反射ミラー構造の45度面15A2を形成し、
その面15A2での反射により、レーザチップ15A3
から水平出射されるレーザ光aを垂直出射光に変換す
る。この結果、45度面15A2で垂直方向へ反射され
たレーザ光aはホログラム部15B(グレーティング1
5B2)を介して3分割した光a,a1,a2とされて
(対物レンズ6,14側へ)出射される。一方、(対物
レンズ6,14を介して光ディスクDから反射してき
た)光はフォトダイオード基板15A1上の受光パター
ン15A4,15A上に光b,cとしてうまく照射され
るようにホログラム部15B(グレーティング15B
4)により集光される。
【0010】上記したホログラム部15Bは、図8に示
すように、光学樹脂やガラスを用いて形成される。ホロ
グラム部15Bの発光受光部15Aに対向するその下面
15B1にはトラッキングエラー信号検出を目的として
出射するレーザ光aを光a,a1,a2に3分割するた
めのグレーティング15B2が形成されている。一方、
ホログラム部15Bの(光ディスクDに対向する)その
上面15B3には(光ディスクDから反射してきた)光
を発光受光部15Aを構成するフォトダイオード基板1
5A1上の受光パターン15A4,15A5上に光b,
cとして集光するためのグレーティング15B4が形成
されている。
すように、光学樹脂やガラスを用いて形成される。ホロ
グラム部15Bの発光受光部15Aに対向するその下面
15B1にはトラッキングエラー信号検出を目的として
出射するレーザ光aを光a,a1,a2に3分割するた
めのグレーティング15B2が形成されている。一方、
ホログラム部15Bの(光ディスクDに対向する)その
上面15B3には(光ディスクDから反射してきた)光
を発光受光部15Aを構成するフォトダイオード基板1
5A1上の受光パターン15A4,15A5上に光b,
cとして集光するためのグレーティング15B4が形成
されている。
【0011】こうした構成を有する集積化ユニット15
は、従来独立の光学部品により構成されていた光ピック
アップA,Bの要素部分が必要最小限の大きさで集積す
ることが出来、この結果、光ピックアップA,Bを飛躍
的に小型化、低コスト化できる。
は、従来独立の光学部品により構成されていた光ピック
アップA,Bの要素部分が必要最小限の大きさで集積す
ることが出来、この結果、光ピックアップA,Bを飛躍
的に小型化、低コスト化できる。
【0012】しかし、集積化ユニット15の発光受光部
15Aを構成する反射ミラー構造(45度面15A2)
は、Siのフォトダイオード基板15A1上に異方性エ
ッチングを用いて形成されるため、鏡面形成の歩留まり
が結晶性及び表面性に大きく影響されていた。このミラ
ー(45度面15A2)の歩留まりがフォトダイオード
基板15A1の歩留まりにもさらに影響する。またレー
ザチップ15A3のスクリーニングはフォトダイオード
基板15A1上へのダイボンディング後に行う必要があ
り、45度面15A2、フォトダイオード基板15A
1、レーザチップ15A3が一体化された後に良品の集
積化ユニット15を選別する必要がある。従って、集積
化ユニット15の構成では低コスト化に不利であった。
15Aを構成する反射ミラー構造(45度面15A2)
は、Siのフォトダイオード基板15A1上に異方性エ
ッチングを用いて形成されるため、鏡面形成の歩留まり
が結晶性及び表面性に大きく影響されていた。このミラ
ー(45度面15A2)の歩留まりがフォトダイオード
基板15A1の歩留まりにもさらに影響する。またレー
ザチップ15A3のスクリーニングはフォトダイオード
基板15A1上へのダイボンディング後に行う必要があ
り、45度面15A2、フォトダイオード基板15A
1、レーザチップ15A3が一体化された後に良品の集
積化ユニット15を選別する必要がある。従って、集積
化ユニット15の構成では低コスト化に不利であった。
【0013】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明は下記する(1)〜(3)の構成の光ピ
ックアップ素子を提供する。
ために、本発明は下記する(1)〜(3)の構成の光ピ
ックアップ素子を提供する。
【0014】(1)図1に示すように、発光部(半導体
レーザチップ)25と、この発光部(半導体レーザチッ
プ)25の両側に形成されかつこの発光部(半導体レー
ザチップ)25とは別体である一対の受光部(フォトダ
イオードアレイ)27,28と、前記発光部(半導体レ
ーザチップ)25から水平出射する光dを外方(図9,
図10に示すように対物レンズ6,14側)へ垂直に反
射するように前記発光部(半導体レーザチップ)25と
対向する位置に載置されかつ前記一対の受光部(フォト
ダイオードアレイ)27,28とは別体に形成された反
射部(ミラーチップ)26とを備えた発光受光手段(発
光受光部)AA2と、この発光受光手段(発光受光部)
AA2の反射部(ミラーチップ)26から入射する光e
を複数分割(3分割)した光e(情報読取り用),e1
(トラッキングエラー検出用),e2(トラッキングエ
ラー検出用)として出射する光分割部(グレーティン
グ)22Cと、外方から(光ディスクDから反射してき
た)入射する光を集光して前記発光受光手段(発光受光
部)AA2の一対の受光部(フォトダイオードアレイ)
27,28上へ(光f,gとして)出射する光集光部
(ホログラム)22Eとを備えた光分割集光手段(ホロ
グラム部)AA1とを有することを特徴とする光ピック
アップ素子AAである。
レーザチップ)25と、この発光部(半導体レーザチッ
プ)25の両側に形成されかつこの発光部(半導体レー
ザチップ)25とは別体である一対の受光部(フォトダ
イオードアレイ)27,28と、前記発光部(半導体レ
ーザチップ)25から水平出射する光dを外方(図9,
図10に示すように対物レンズ6,14側)へ垂直に反
射するように前記発光部(半導体レーザチップ)25と
対向する位置に載置されかつ前記一対の受光部(フォト
ダイオードアレイ)27,28とは別体に形成された反
射部(ミラーチップ)26とを備えた発光受光手段(発
光受光部)AA2と、この発光受光手段(発光受光部)
AA2の反射部(ミラーチップ)26から入射する光e
を複数分割(3分割)した光e(情報読取り用),e1
(トラッキングエラー検出用),e2(トラッキングエ
ラー検出用)として出射する光分割部(グレーティン
グ)22Cと、外方から(光ディスクDから反射してき
た)入射する光を集光して前記発光受光手段(発光受光
部)AA2の一対の受光部(フォトダイオードアレイ)
27,28上へ(光f,gとして)出射する光集光部
(ホログラム)22Eとを備えた光分割集光手段(ホロ
グラム部)AA1とを有することを特徴とする光ピック
アップ素子AAである。
【0015】(2) 反射部(ミラーチップ)26は、
Si(シリコン)で形成されていることを特徴とする上
記(1)記載の光ピックアップ素子。
Si(シリコン)で形成されていることを特徴とする上
記(1)記載の光ピックアップ素子。
【0016】(3) 反射部(ミラーチップ)26は、
Si(シリコン)基板面(即ちミラーチップ26の母材
としてSiウェハ基板30のウェハ面(片面30A)の
垂直軸Aa)に対して45度の角度で切断されてなる反
射面(45度面26A)を備えていることを特徴とする
請求項2記載の光ピックアップ素子。
Si(シリコン)基板面(即ちミラーチップ26の母材
としてSiウェハ基板30のウェハ面(片面30A)の
垂直軸Aa)に対して45度の角度で切断されてなる反
射面(45度面26A)を備えていることを特徴とする
請求項2記載の光ピックアップ素子。
【0017】
【発明の実施の態様】以下、本発明の光ピックアップ素
子を図1〜図5に沿って説明する。図1は本発明の光ピ
ックアップ素子の一実施例構成図、図2は本発明の光ピ
ックアップ素子の構造を説明する図、図3,図4は本発
明の光ピックアップ素子を構成するミラーチップの作成
状態を説明する図、図5はミラーチップの拡大図であ
る。
子を図1〜図5に沿って説明する。図1は本発明の光ピ
ックアップ素子の一実施例構成図、図2は本発明の光ピ
ックアップ素子の構造を説明する図、図3,図4は本発
明の光ピックアップ素子を構成するミラーチップの作成
状態を説明する図、図5はミラーチップの拡大図であ
る。
【0018】本発明の光ピックアップ素子AAは、前述
した集積化ユニット15のときと同様に、これを前記し
た光ピックアップA(図6に図示)に適用すると集積型
の光ピックアップE(図9に図示)が構成できるもので
ある。また、これを前記した光ピックアップB(図7に
図示)に適用すると、前述した集積化ユニット15のと
きと同様に、集積型の光ピックアップF(図10に図
示)が構成できるものである。
した集積化ユニット15のときと同様に、これを前記し
た光ピックアップA(図6に図示)に適用すると集積型
の光ピックアップE(図9に図示)が構成できるもので
ある。また、これを前記した光ピックアップB(図7に
図示)に適用すると、前述した集積化ユニット15のと
きと同様に、集積型の光ピックアップF(図10に図
示)が構成できるものである。
【0019】即ち、光ピックアップEは、光ピックアッ
プAの構成中、対物レンズ6とアクチュエータ7以外の
光学部品を本発明の光ピックアップ素子AAに置換した
ものに等しいものである。また、光ピックアップFは、
光ピックアップBの構成中、対物レンズ14とアクチュ
エータ7以外の光学部品を本発明の光ピックアップ素子
AAに置換したものに等しいものである。
プAの構成中、対物レンズ6とアクチュエータ7以外の
光学部品を本発明の光ピックアップ素子AAに置換した
ものに等しいものである。また、光ピックアップFは、
光ピックアップBの構成中、対物レンズ14とアクチュ
エータ7以外の光学部品を本発明の光ピックアップ素子
AAに置換したものに等しいものである。
【0020】(光ピックアップ素子AAの構成)本発明
の光ピックアップ素子AAは、図1に示すように、リー
ドフレーム20A,20Bをその両端に備えたモールド
パッケージ21内に、ホログラム部AA1と発光受光部
AA2とを備えている構造のものである。ホログラム部
AA1は樹脂ブロック22のことであり、発光受光部A
A2の上部に図示せぬ支持部材で中空状態に固定されて
いる。あるいはホログラム部AA1はこの支持部材と一
体に構成されてあっても良い。発光受光部AA2は、フ
ォトダイオード基板23、サブマウント24、半導体レ
ーザチップ25、ミラーチップ26、フォトダイオード
アレイ27,28から成る構成のものである。
の光ピックアップ素子AAは、図1に示すように、リー
ドフレーム20A,20Bをその両端に備えたモールド
パッケージ21内に、ホログラム部AA1と発光受光部
AA2とを備えている構造のものである。ホログラム部
AA1は樹脂ブロック22のことであり、発光受光部A
A2の上部に図示せぬ支持部材で中空状態に固定されて
いる。あるいはホログラム部AA1はこの支持部材と一
体に構成されてあっても良い。発光受光部AA2は、フ
ォトダイオード基板23、サブマウント24、半導体レ
ーザチップ25、ミラーチップ26、フォトダイオード
アレイ27,28から成る構成のものである。
【0021】ホログラム部AA1である樹脂ブロック2
2は、図1,図2に示すように、光学樹脂を用いて形成
されている。樹脂ブロック22の発光受光部AA2に対
向するその下面22Aにはトラッキングエラー信号検出
を目的として出射するレーザ光eを光e(情報読取り
用),光e1(トラッキングエラー検出用),光e2
(トラッキングエラー検出用)に3分割するための(リ
ニア)グレーティング22Cが一体に形成されている。
一方、樹脂ブロック22の(光ディスクDに対向する)
その上面22Dには(光ディスクDから反射してきた)
光を発光受光部AA2を構成するフォトダイオード基板
23上の受光パターンであるフォトダイオードアレイ2
7,28上に光f,gとして集光するためのホログラム
(Holographic Optical Element )22Eが一体に形成
されている。
2は、図1,図2に示すように、光学樹脂を用いて形成
されている。樹脂ブロック22の発光受光部AA2に対
向するその下面22Aにはトラッキングエラー信号検出
を目的として出射するレーザ光eを光e(情報読取り
用),光e1(トラッキングエラー検出用),光e2
(トラッキングエラー検出用)に3分割するための(リ
ニア)グレーティング22Cが一体に形成されている。
一方、樹脂ブロック22の(光ディスクDに対向する)
その上面22Dには(光ディスクDから反射してきた)
光を発光受光部AA2を構成するフォトダイオード基板
23上の受光パターンであるフォトダイオードアレイ2
7,28上に光f,gとして集光するためのホログラム
(Holographic Optical Element )22Eが一体に形成
されている。
【0022】また、発光受光部AA2のフォトダイオー
ド基板23上には、図1,図2に示すように、別体であ
るサブマウント24及びミラーチップ26が取り付け固
定されている。またフォトダイオード基板23上にはサ
ブマウント24及びミラーチップ26を介して受光用の
2つのフォトダイオードアレイ27,28が形成されて
いる。ミラーチップ26とは所定幅をもって対向してい
るサブマウント24上にはダイボンディングされた半導
体レーザチップ25がマウントされている。このサブマ
ウント24はフォトダイオード基板23と一体に形成さ
れるか、あるいはフォトダイオード基板23と別体でそ
こに載置固定される。これに対して、ミラーチップ26
はフォトダイオード基板23とは後述するように別体で
あり、フォトダイオード基板23の前記した所定位置に
載置固定されるものである。
ド基板23上には、図1,図2に示すように、別体であ
るサブマウント24及びミラーチップ26が取り付け固
定されている。またフォトダイオード基板23上にはサ
ブマウント24及びミラーチップ26を介して受光用の
2つのフォトダイオードアレイ27,28が形成されて
いる。ミラーチップ26とは所定幅をもって対向してい
るサブマウント24上にはダイボンディングされた半導
体レーザチップ25がマウントされている。このサブマ
ウント24はフォトダイオード基板23と一体に形成さ
れるか、あるいはフォトダイオード基板23と別体でそ
こに載置固定される。これに対して、ミラーチップ26
はフォトダイオード基板23とは後述するように別体で
あり、フォトダイオード基板23の前記した所定位置に
載置固定されるものである。
【0023】前記したミラーチップ26は、反射ミラー
構造の45度面26Aを有しており、この面26Aでの
反射によって、サブマウント24上にマウントされた半
導体レーザチップ25から水平出射されるレーザ光dを
垂直出射光eに変換する。この結果、45度面26Aで
垂直方向へ反射されたレーザ光eはホログラム部AA1
のグレーティング22Cによりホログラム22Eを介し
て(前記した対物レンズ6,14側へ)3分割出射され
る。一方、(対物レンズ6,14を介して光ディスクD
から反射してきた)光はフォトダイオード基板23上の
受光用の2つのフォトダイオードアレイ27,28上に
光f,gとしてうまく照射されるように樹脂ブロック2
2のホログラム22Eにより2分割集光される。
構造の45度面26Aを有しており、この面26Aでの
反射によって、サブマウント24上にマウントされた半
導体レーザチップ25から水平出射されるレーザ光dを
垂直出射光eに変換する。この結果、45度面26Aで
垂直方向へ反射されたレーザ光eはホログラム部AA1
のグレーティング22Cによりホログラム22Eを介し
て(前記した対物レンズ6,14側へ)3分割出射され
る。一方、(対物レンズ6,14を介して光ディスクD
から反射してきた)光はフォトダイオード基板23上の
受光用の2つのフォトダイオードアレイ27,28上に
光f,gとしてうまく照射されるように樹脂ブロック2
2のホログラム22Eにより2分割集光される。
【0024】(光ピックアップ素子AAの製作手順)次
に、上記した構成の光ピックアップ素子AAの製作手順
について説明する。 1. Si基板を用いて、フォトダイオードアレイ2
7,28を形成したフォトダイオード基板23を作製す
る。
に、上記した構成の光ピックアップ素子AAの製作手順
について説明する。 1. Si基板を用いて、フォトダイオードアレイ2
7,28を形成したフォトダイオード基板23を作製す
る。
【0025】2. このフォトダイオード基板23上の
サブマウント24上にダイボンディングされた半導体レ
ーザチップ25をマウントとする。サブマウント24へ
のダイマウント状態で半導体レーザチップ25は通電テ
ストが可能である。
サブマウント24上にダイボンディングされた半導体レ
ーザチップ25をマウントとする。サブマウント24へ
のダイマウント状態で半導体レーザチップ25は通電テ
ストが可能である。
【0026】3. この後、半導体レーザチップ25を
リードフレーム20A,20Bあるいはフォトダイオー
ド基板23にワイヤボンディングを行い、半導体レーザ
25の発光ができるようにする。
リードフレーム20A,20Bあるいはフォトダイオー
ド基板23にワイヤボンディングを行い、半導体レーザ
25の発光ができるようにする。
【0027】4. 次に、半導体レーザ25を発光させ
ながら、接着剤をその底面もしくは側面に塗布したミラ
ーチップ26をフォトダイオード基板23上に仮に載置
して、半導体レーザチップ25から水平出射されるレー
ザ光dを垂直出射光eに変換できるように位置調整を行
った後、この載置状態で接着剤硬化を行い、ミラーチッ
プ26を固定する。
ながら、接着剤をその底面もしくは側面に塗布したミラ
ーチップ26をフォトダイオード基板23上に仮に載置
して、半導体レーザチップ25から水平出射されるレー
ザ光dを垂直出射光eに変換できるように位置調整を行
った後、この載置状態で接着剤硬化を行い、ミラーチッ
プ26を固定する。
【0028】5. その後、発光受光部AA2に対向す
る樹脂ブロック22の位置調整を行った後、図示せぬ支
持部材を用いて両者の固定を行う。
る樹脂ブロック22の位置調整を行った後、図示せぬ支
持部材を用いて両者の固定を行う。
【0029】6. モールドパッケージ21内に樹脂ブ
ロック22及び発光受光部AA2を収納固定する。 こうして、上記した構成の光ピックアップ素子AAを作
成することができる。
ロック22及び発光受光部AA2を収納固定する。 こうして、上記した構成の光ピックアップ素子AAを作
成することができる。
【0030】さて、上記したミラーチップ26を作製す
るに当たり、ガラスもしくは樹脂により成形する方法が
あるが、その場合、成形機および金型等の費用、また、
時間当たりの作製数によりコストが決められる。そこ
で、本発明では、後述する手法を用いてミラーチップ2
6を作成することにより、光ピックアップ素子AAの小
型化と低コスト化を両立させることができる。
るに当たり、ガラスもしくは樹脂により成形する方法が
あるが、その場合、成形機および金型等の費用、また、
時間当たりの作製数によりコストが決められる。そこ
で、本発明では、後述する手法を用いてミラーチップ2
6を作成することにより、光ピックアップ素子AAの小
型化と低コスト化を両立させることができる。
【0031】即ち、ミラーチップ26の母材としてSi
ウェハ基板30(図3に図示)を用いる。Siウェハ基
板30の片面30Aを鏡面研磨し、非研磨面30Bを図
示せぬフィルムに張り付ける。次に、図4に示すよう
に、Siウェハ基板30をまずウェハ面(片面30A)
の垂直軸Aaに対して45度(図4中、45deg)に
角度をつけ、垂直軸Aa方向に等ピッチで切断する。そ
の後、Siウェハ基板30を面内で90度回転し、今度
はBb軸方向に垂直に切断する。この様に切り出された
チップの45度の傾いた鏡面研磨面を反射ミラー構造の
45度面26Aとして用いる(図5に図示)。鏡面研磨
面である面26Aの反射率を向上させるため、Al(ア
ルミニウム)、Au(金)などの金属か誘電体ミラーを
反射面26A上に形成することが望ましい。この切断の
後、通常の半導体チップ切断で用いられるように、フィ
ルムをエキスパンドし、チップを分離する。こうして、
低コストのミラーチップ26を得ることができる。
ウェハ基板30(図3に図示)を用いる。Siウェハ基
板30の片面30Aを鏡面研磨し、非研磨面30Bを図
示せぬフィルムに張り付ける。次に、図4に示すよう
に、Siウェハ基板30をまずウェハ面(片面30A)
の垂直軸Aaに対して45度(図4中、45deg)に
角度をつけ、垂直軸Aa方向に等ピッチで切断する。そ
の後、Siウェハ基板30を面内で90度回転し、今度
はBb軸方向に垂直に切断する。この様に切り出された
チップの45度の傾いた鏡面研磨面を反射ミラー構造の
45度面26Aとして用いる(図5に図示)。鏡面研磨
面である面26Aの反射率を向上させるため、Al(ア
ルミニウム)、Au(金)などの金属か誘電体ミラーを
反射面26A上に形成することが望ましい。この切断の
後、通常の半導体チップ切断で用いられるように、フィ
ルムをエキスパンドし、チップを分離する。こうして、
低コストのミラーチップ26を得ることができる。
【0032】
【発明の効果】上述の如く、本発明の光ピックアップ素
子は、特に、発光部から水平出射する光を外方へ垂直に
反射するように発光部と対向する位置に載置されかつ一
対の受光部とは別体に形成された反射部、例えばミラー
チップを備えた発光受光手段を有するから、従来のもの
に比較して、反射部を一対の受光部Siが形成されたフ
ォトダイオード基板上に異方性エッチングを用いて形成
するために、反射部における鏡面形成の歩留まりに結晶
性及び表面性が大きく影響され、このことにより光ピッ
クアップ素子自体の歩留まりが悪化するという欠点を完
全に除去できるので、光ピックアップ素子自体の歩留ま
りを向上することができ、低コストでしかも小型の光ピ
ックアップ素子提供することができるの効果がある。
子は、特に、発光部から水平出射する光を外方へ垂直に
反射するように発光部と対向する位置に載置されかつ一
対の受光部とは別体に形成された反射部、例えばミラー
チップを備えた発光受光手段を有するから、従来のもの
に比較して、反射部を一対の受光部Siが形成されたフ
ォトダイオード基板上に異方性エッチングを用いて形成
するために、反射部における鏡面形成の歩留まりに結晶
性及び表面性が大きく影響され、このことにより光ピッ
クアップ素子自体の歩留まりが悪化するという欠点を完
全に除去できるので、光ピックアップ素子自体の歩留ま
りを向上することができ、低コストでしかも小型の光ピ
ックアップ素子提供することができるの効果がある。
【図1】本発明の光ピックアップ素子の一実施例構成図
である。
である。
【図2】本発明の光ピックアップ素子の構造を説明する
図である。
図である。
【図3】本発明の光ピックアップ素子を構成するミラー
チップの作成状態を説明する図である。
チップの作成状態を説明する図である。
【図4】本発明の光ピックアップ素子を構成するミラー
チップの作成状態を説明する図である。
チップの作成状態を説明する図である。
【図5】ミラーチップを示す図である。
【図6】光ピックアップAの構成図である。
【図7】光ピックアップBの構成図である。
【図8】従来の光ピックアップ素子である集積化ユニッ
トの構成図である。
トの構成図である。
【図9】光ピックアップC,Eの構成図である。
【図10】光ピックアップD,Fの構成図である。
22C グレーティング(光分割部) 22E ホログラム(光集光部) 25 半導体レーザチップ(発光部) 26 ミラーチップ(反射部) 26A 45度面(反射面) 27,28 フォトダイオードアレイ(受光部) 30 Siウェハ基板 30A ウェハ面(片面) AA 光ピックアップ素子 AA1 ホログラム部(光分割集光手段) AA2 発光受光部(発光受光手段)
Claims (3)
- 【請求項1】発光部と、この発光部の両側に形成されか
つこの発光部とは別体である一対の受光部と、前記発光
部から水平出射する光を外方へ垂直に反射するように前
記発光部と対向する位置に載置されかつ前記一対の受光
部とは別体に形成された反射部とを備えた発光受光手段
と、 この発光受光手段の反射部から入射する光を複数分割し
た光として出射する光分割部と、外方から入射する光を
集光して前記発光受光手段の一対の受光部上へ出射する
光集光部とを備えた光分割集光手段とを有することを特
徴とする光ピックアップ素子。 - 【請求項2】前記反射部は、Si(シリコン)で形成さ
れていることを特徴とする請求項1記載の光ピックアッ
プ素子。 - 【請求項3】前記反射部は、Si(シリコン)基板面に
対して45度の角度で切断されてなる反射面を備えてい
ることを特徴とする請求項2記載の光ピックアップ素
子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32834595A JPH09147409A (ja) | 1995-11-22 | 1995-11-22 | 光ピックアップ素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32834595A JPH09147409A (ja) | 1995-11-22 | 1995-11-22 | 光ピックアップ素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09147409A true JPH09147409A (ja) | 1997-06-06 |
Family
ID=18209208
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32834595A Pending JPH09147409A (ja) | 1995-11-22 | 1995-11-22 | 光ピックアップ素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09147409A (ja) |
-
1995
- 1995-11-22 JP JP32834595A patent/JPH09147409A/ja active Pending
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