JPH09134005A - ポジ型フォトレジスト組成物 - Google Patents

ポジ型フォトレジスト組成物

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JPH09134005A
JPH09134005A JP28873595A JP28873595A JPH09134005A JP H09134005 A JPH09134005 A JP H09134005A JP 28873595 A JP28873595 A JP 28873595A JP 28873595 A JP28873595 A JP 28873595A JP H09134005 A JPH09134005 A JP H09134005A
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group
bis
carbon atoms
alkali
compound
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JP28873595A
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Atsushi Momota
淳 百田
Kenichiro Sato
健一郎 佐藤
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ライン&スペースの解像度、プロファイル、
焦点深度等の諸性能のバランスを損なうことなく、コン
タクトホールの解像力及び焦点深度、更にディープUV
キュア性が向上した超微細加工用ポジ型フォトレジスト
組成物を提供できる。 【解決手段】 アルカリ可溶性樹脂並びに特定のポリヒ
ドロキシ化合物の1,2−ナフトキノンジアジド−5−
(及び/または−4−)スルホン酸エステルうち少なく
とも1種を含有するポジ型フォトレジスト組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はアルカリ可溶性樹脂
と特定の1,2−キノンジアジド化合物を含有し、紫外
線、遠紫外線、X線、電子線、分子線、イオンビーム、
γ線、シンクロトロン放射線等の輻射線に感応するポジ
型フォトレジスト組成物に関するものであり、更に詳し
くは、ライン&スペースの解像度、プロファイル、焦点
深度等を劣化させることなく、コンタクトホールの解像
力、焦点深度、及びディープUVキュア性(以下、ディ
ープUV硬化性ともいう)が向上した微細加工用ポジ型
フォトレジスト組成物に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ポジ型フォトレジストは、半導体ウエハ
ー、ガラス、セラミックスもしくは金属等の基板上にス
ピン塗布法もしくはローラー塗布法で0.5〜2μmの
厚みに塗布される。その後、加熱、乾燥し、露光マスク
を介して回路パターン等を紫外線照射等により焼き付
け、必要により露光後ベークを施してから現像してポジ
画像が形成される。
【0003】ポジ型フォトレジスト組成物としては、一
般にノボラック等のアルカリ可溶性樹脂結合剤と感光物
としてのナフトキノンジアジド化合物とを含む組成物が
用いられている。
【0004】集積回路はその集積度をますます高めてお
り、超LSIなどの半導体基板の製造においては0.5
μmあるいはそれ以下の線輻から成る超微細パターンの
加工が必要とされる様になってきている。従って、ポジ
型フォトレジストに、より優れたプロファイル、焦点深
度及び解像度等を有するものが求められている。特に、
16〜64MDRAM作成においては、0.5μm以下
の線幅パターンや、コンタクトホール(半導体デバイス
の電極用金属を半導体表面まで通す穴)をプロファイル
良く解像することが必要とされてきている。
【0005】これまで、種々の特定構造を有するポリヒ
ドロキシ化合物の1,2−ナフトキノンジアジド化合物
が数多く提案されている。例えば、特開昭57−635
26、同60−163043、同62−10645、同
62−10646、同62−150245、同63−2
20139、同64−76047、特開平1−1896
44、同2−285351、同2−296248、同2
−296249、同3−48249、同3−4825
0、同3−158856、同3−228057、特表平
4−502519、米国特許4957846、同499
2356、同5151340、同5178986、欧州
特許530148等に開示されている。
【0006】分子内に水酸基を有する感光物を利用する
ことにより、高コントラスト、高解像力を有するレジス
トが得られることが、例えば、特公昭37−1801
5、特開昭58−150948、特開平2−1984
6、同2−103543、同3−228057、同5−
323597、同6−148878、同6−20232
1、同6−167805、米国特許3061430、同
3130047、同3130048、同313004
9、同3102809、同3184310、同3188
210、同3180733、西独特許938233、SP
IE Proceedings第631巻210頁、同第1672巻231頁(1992
年)、同第1672巻262頁(1992年)及び同第1925巻227頁(19
93年)等に記載されている。しかしながら、上記の種々
の技術では、0.5μm以下の線幅パターンや、コンタ
クトホールの解像力等は不充分であった。
【0007】一方、0.5μm以下のような超微細パタ
ーンの形成等の上記諸特性を満足させるために、種々の
キノンジアジド化合物が開発されてきている。例えば、
特開平6−167805号公報及び同7−168355
号公報には、アルカリ可溶性樹脂及び特定のポリヒドロ
キシ化合物のキノンジアジドスルホン酸エステルを用い
ることにより、感度、解像度、プロファイル、スカム及
び焦点深度等の諸性能のバランスに優れたポジ型レジス
ト組成物を得ることができると記載している。しかし、
これらのポジ型レジスト組成物ではコンタクトホールの
解像力、焦点深度、DeepUV硬化性の点については
不充分であった。
【0008】特開平7−159990号公報には、アル
カリ可溶性フェノール樹脂、フェノール性ヒドロキシ基
を持つ芳香族、及び特定の4環のポリヒドロキシ化合物
のキノンジアジドスルホン酸エステルを用いることによ
り、感度、残膜率、解像度、パターン形状等の諸性能の
バランスに優れたポジ型レジスト組成物を得ることがで
きると記載している。しかし、このポジ型レジスト組成
物ではコンタクトホールの解像力、焦点深度、Deep
UV硬化性の点については不充分であった。従って、上
述のような従来の技術では、ポジ型フォトレジストに、
良好なプロファイル、焦点深度及び解像度を有し、0.
5μm以下の線幅パターンや、ディープUVキュア性が
向上し、コンタクトホールをプロファイル良く解像する
ことができるものはなかった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明の目的
は、ライン&スペースの解像度、プロファイル、焦点深
度等の諸性能のバランスを損なうことなく、コンタクト
ホールの解像力及び焦点深度、更にディープUVキュア
性が向上した超微細加工用ポジ型フォトレジスト組成物
を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記諸特
性に留意し鋭意検討した結果、アルカリ可溶性樹脂と特
定の母核構造を有するポリヒドロキシ化合物のキノンジ
アジドスルホン酸エステルを含有するポジ型フォトレジ
ストを用いることにより、上記問題点を解決できること
を見いだし、この知見に基づき本発明を完成させるに到
った。即ち、本発明の目的は、下記構成により達成する
ことが見出された。 (1)アルカリ可溶性樹脂、並びに下記一般式(I)、
(II)又は(III) で示されるポリヒドロキシ化合物の
1,2−ナフトキノンジアジド−5−(及び/または−
4−)スルホン酸エステルうち少なくとも1種を含有す
ることを特徴とするポジ型フォトレジスト組成物。
【0011】
【化4】
【0012】ここで、R1 〜R17は各々同一でも異なっ
ていてもよく、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、無
置換または置換されていてもよい、アルキル基、アルコ
キシ基、シクロアルキル基、炭素数2〜6のアルケニル
基又はフェニル基を表す。但し、R1〜R17のうち、少
なくとも1つがアリル基である。X1 、X2 、Y1 〜Y
3 、Z1 〜Z4 の連結基は、各々同じでも異なっていて
もよく、−O−、−S−、−SO2 −、
【0013】
【化5】
【0014】から選ばれる特有の連結基、または−C
(R18)(R19)−を表す(ここでR18、R19は各々水
素原子、炭素数1〜5のアルキル基又はフェニル基を表
し、R18とR19は互いに炭素数4又は5個のメチレン鎖
で連結されていてもよい)。但し、上記各々の式中に存
在する連結基の少なくとも1つは、前記の特有の連結基
であるものとする。また、l、mは各々0〜2の整数を
表す。nは1〜3の整数を表す。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。
上記一般式(I)〜(III) においてR1 〜R17のアルキ
ル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、イソ
プロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブ
チル基、tert−ブチル基、のような炭素数1〜4の
アルキル基が好ましく、より好ましくはメチル基、エチ
ル基、プロピル基、イソプロピル基であり、特にメチル
基、エチル基が好ましい。R1 〜R17のハロゲン原子と
しては、塩素原子、臭素原子、沃素原子が好ましく、特
に塩素原子が好ましい。R1 〜R17の炭素数2〜6のア
ルケニル基としては、ビニル基、プロペニル基、アリル
基が好ましく、特にアリル基が好ましい。R1 〜R17
アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基等の低
級アルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基が
より好ましい。R1 〜R17のシクロアルキル基として
は、シクロペンチル基、シクロヘキシル基が好ましい。
上記R1 〜R17の表す置換基には、更に置換基を有して
いてもよく、その置換基としては、ハロゲン原子、水酸
基、炭素数6〜10のアリール基、炭素数1〜4のアル
コキシ基、アシル基等が挙げられる。但し、R1 〜R17
のうち、少なくとも1つがアリル基である。好ましくは
アリル基の位置は、水酸基のo−位に位置することが好
ましい。
【0016】一般式(I)〜(III) において、X1 、X
2 、Y1 〜Y3 、Z1 〜Z4 の連結基は、各々同じでも
異なっていてもよく、−O−、−S−、−SO2 −、前
記化5の連結基から選ばれる特有の連結基であり、また
は−C(R18)(R19)−を表す(ここでR18、R19
各々水素原子、炭素数1〜5のアルキル基又はフェニル
基を表し、R18とR19は互いに炭素数4又は5個のメチ
レン鎖で連結されていてもよい)。ここで、R18、R19
の表す炭素数1〜5のアルキル基としては、メチル基、
エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル
基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチ
ル基、ペンチル基等が挙げられる。但し、上記各々の式
中に存在する連結基(X1 とX2 、Y1 〜Y3 、あるい
はZ1 〜Z4 )の少なくとも1つは、前記の特有の連結
基(−O−、−S−、−SO2 −、または前記化5の連
結基から選ばれる特有の連結基)であるものとする。ま
た、l、mは各々0〜2の整数を表す。nは1〜3の整
数を表す。
【0017】各式の末端の芳香環のOH基は、少なくと
も連結鎖に対してp−位に位置することが好ましい。R
1 〜R8 の置換位置としては、R1 〜R8 が水素原子以
外の場合、OH基に対してm−位が好ましい。R9 〜R
17の置換位置としては、連結鎖に挟まれた炭素原子のp
−位に位置することが好ましい。更に好ましくは、連結
鎖に挟まれた炭素原子上及び、そのp−位の両方に位置
することが好ましい。
【0018】本発明において、上記一般式(I)として
下記一般式(IV)、上記一般式(II)として下記一般式
(V)、上記一般式(III) として一般式(VI)の示すポ
リヒドロキシ化合物を用いることが好ましい。これによ
り、本発明の効果がより顕著になる。
【0019】
【化6】
【0020】ここで、R21〜R28は各々同一でも異なっ
ていてもよく、水素原子、ハロゲン原子、水酸基、シア
ノ基、無置換または置換されていてもよい、アルキル
基、アルコキシ基、シクロアルキル基、炭素数2〜6の
アルケニル基又はフェニル基を表す。R 29〜R37は各々
同じでも異なっていてもよく、水素原子、ハロゲン原
子、シアノ基、無置換または置換されていてもよい、ア
ルキル基、アルコキシ基、シクロアルキル基、炭素数2
〜6のアルケニル基又はフェニル基を表す。但し、R21
〜R 37のうち、少なくとも1つがアリル基である。
1 、X2 、Y1 〜Y3 、Z1 〜Z4 の連結基、及び
l、mは前記一般式(I)〜(III) に記載のものと同意
である。R21〜R28、R29〜R37が表す各置換基として
は、前記一般式(I)〜(III)のR1 〜R17が表す各置
換基と同意である。また、R21〜R28、R29〜R37の表
す置換基の更なる置換基としては前記一般式(I)〜(I
II) に記載のものと同意である。R29〜R37の置換位置
としては、連結鎖に挟まれた炭素原子のp−位に位置す
ることが好ましい。更に好ましくは、連結鎖に挟まれた
炭素原子上及び、そのp−位の両方に位置することが好
ましい。
【0021】本発明の目的である、ライン&スペースの
解像力、焦点深度、プロファイルの劣化なく、コンタク
トホールの解像力、焦点深度とディープUVキュア性の
向上が、本発明の感光物を用いると、なぜ特異的に達成
されたかは明らかではないが、一般式(I)〜(III) で
表されるポリヒドロキシ化合物の構造上の特徴、即ち、
1)連結鎖に特有の連結基を有し、2)少なくとも1つ
のアリル基が導入され、3)分子が直線上で、4)芳香
環を3つ〜5つ有していること、により本発明の課題は
解決に到ったと思われる。われわれは類似構造を有する
化合物に関して鋭意検討した結果、特に1)と2)が更
なる性能向上に有効であることが判った。これは、従来
からの知見では思いもよらないものであった。
【0022】本発明における一般式(I)〜(III) で表
わされる化合物の具体例を以下に示す。しかし、本発明
の内容がこれらに限定されるものではない。これらは、
単独でもしくは2種以上混合して用いられる。
【0023】
【化7】
【0024】
【化8】
【0025】
【化9】
【0026】本発明の感光物は、例えば、前記ポリヒド
ロキシ化合物と1,2−ナフトキノンジアジド−5−
(及び/又は−4−)スルフォニルクロリドとを、塩基
触媒存在下でエステル化反応を行うことにより得られ
る。即ち、所定量のポリヒドロキシ化合物と1,2−ナ
フトキノンジアジド−5−(及び/又は−4−)スルフ
ォニルクロリドおよび、アセトン、メチルエチルケト
ン、ジオキサン、ジメトキシエタン、テトラヒドロフラ
ン、ジグライム、酢酸エチル、ジクロロメタン、クロロ
ホルム、γ−ブチロラクトン、N−メチルピロリドン等
の溶媒をフラスコ中に仕込み、塩基触媒、例えば水酸化
ナトリウム、炭酸ナトリウム、トリエチルアミン、4−
ジメチルアミノピリジン、N−メチルモルホリン、N−
メチルピペラジン、N−メチルピロリジン等を滴下して
縮合させる。得られた生成物は、水に晶析後、水洗し、
更に精製乾燥する。
【0027】通常のエステル化反応においては、エステ
ル化数およびエステル化位置の異なる混合物が得られる
が、合成条件またはポリヒドロキシ化合物の構造を選択
することにより、ある特定の異性体のみを選択的にエス
テル化させることもできる。本発明でいうエステル化率
は、この混合物の平均値として定義される。
【0028】このように定義されたエステル化率は、原
料であるポリヒドロキシ化合物と1, 2−ナフトキノン
ジアジド−5− (及び/又は−4−)スルホニルクロリ
ドとの混合比により制御できる。即ち、添加された1,
2−ナフトキノンジアジド−5− (及び/又は−4−)
スルホニルクロリドは、実質上総てエステル化反応を起
こすので、所望のエステル化率の混合物を得るために
は、原料のモル比を調整すれば良い。
【0029】必要に応じて、1, 2−ナフトキノンジア
ジド−5−スルホニルクロリドと1, 2−ナフトキノン
ジアジド−4−スルホニルクロリドとを併用することも
できる。また、前記方法における反応温度は、通常−2
0〜60℃、好ましくは0〜40℃である。
【0030】前記のような方法で合成される感光性化合
物は、樹脂組成物として使用する際に、単独でもしくは
2種以上混合してアルカリ可溶性樹脂に配合して使用さ
れるが、その配合量は、ノボラツク樹脂100重量部に
対し該化合物5〜150重量部、好ましくは20〜10
0重量部である。この使用比率が5重量部未満では残膜
率が著しく低下し、また150重量部を越えると感度及
び溶剤への溶解性が低下する。
【0031】本発明では、前記感光物を用いるべきであ
るが、必要に応じて、以下に示すポリヒドロキシ化合物
の1,2−ナフトキノンジアジド−5−(及び/又は−
4−)スルフォン酸エステルを併用することができる。
この際これらのポリヒドロキシ化合物のキノンジアジド
エステル感光物と本発明の感光物の比率は重量比で、5
/95〜50/50である。より好ましくは5/95〜
40/60である。即ち、本発明の感光物が全キノンジ
アジド系感光物の50%未満では本発明の効果を十分に
発揮できない。
【0032】該ポリヒドロキシ芳香族化合物としては、
例えば2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、
2,4,4′−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,
4,6−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,
4′−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2′,
4,4′−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,4,
6,3′,4′,5′−へキサヒドロキシベンゾフェノ
ン、2,3,4,3′,4′,5′−ヘキサヒドロキシ
ベンゾフェノン等のポリヒドロキシベンゾフェノン類、
2,3,4−トリヒドロキシアセトフェノン、2,3,
4−トリヒドロキシフェニルヘキシルケトン等のポリヒ
ドロキシフェニルアルキルケトン類、ビス(2,4−ジ
ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(2,3,4−トリ
ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(2,4−ジヒドロ
キシフェニル)プロパン−1等のビス((ポリ)ヒドロ
キシフェニル)アルカン類、3,4,5−トリヒドロキ
シ安息香酸プロピル、3,4,5−トリヒドロキシ安息
香酸フェニル等のポリヒドロキシ安息香酸エステル類、
ビス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイル)メタ
ン、ビス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイル)ベ
ンゼン等のビス(ポリヒドロキシベンゾイル)アルカン
又はビス(ポリヒドロキシベンゾイル)アリール類、エ
チレングリコール−ジ(3,5−ジヒドロキシベンゾエ
ート)等のアルキレン−ジ(ポリヒドロキシベンゾエー
ト)類、3,5,3′,5′−ビフェニルテトロ−ル、
2,4,2′,4′−ビフェニルテトロ−ル、2,4,
6,3′,5′−ビフェニルベントール、2,4,6,
2′,4′,6′−ビフェニルヘキソール等のポリヒド
ロキシビフェニル類、
【0033】4,4′,4″−トリヒドロキシ−3,
5,3′,5′−テトラメチルトリフェニルメタン、
4,4′,4″−トリヒドロキシ−3″−メトキシ−
3,5,3′,5′−テトラメチルトリフェニルメタ
ン、4,4′,2″−トリヒドロキシ−3,5,3′,
5′−テトラメチルトリフェニルメタン、4,4′,
2″−トリヒドロキシ−2,2′−ジメチル−5,5′
−ジシクロヘキシルトリフェニルメタン、4,4′,
2″−トリヒドロキシ−2,5,2′,5′−テトラメ
チルトリフェニルメタン、4,4′,3″,4″−テト
ラヒドロキシ−3,5,3′,5′−テトラメチルトリ
フェニルメタン、4,4′,2″,3″,4″−ペンタ
ヒドロキシ−3,5,3′,5′−テトラメチルトリフ
ェニルメタン、2,3,4,2′,3′,4′,3″,
4″−オクタヒドロキシ−5,5′−ジアセチルトリフ
ェニルメタン等のポリヒドロキシトリフェニルメタン
類、3,3,3′,3′−テトラメチル−1,1′−ス
ピロビ−インダン−5,6,5′,6′−テトロール、
3,3,3′,3′−テトラメチル−1,1′−スピロ
ビ−インダン−5,6,7,5′,6′,7′−ヘキソ
オール、3,3,3′,3′−テトラメチル−1,1′
−スピロビインダン−4,5,6,4′,5′,6′−
ヘキソオール、3,3,3′,3′−テトラメチル−
1,1′−スピロビ−インダン−4,5,6,5′,
6′,7′−ヘキソオール等のポリヒドロキシスピロビ
−インダン類、
【0034】3,3−ビス(3,4−ジヒドロキシフェ
ニル)フタリド、3,3−ビス(2,3,4−トリヒド
ロキシフェニル)フタリド、3′,4′,5′,6′−
テトラヒドロキシスピロ〔フタリド−3,9′−キサン
テン〕等のポリヒドロキシフタリド類、2−(3,4−
ジヒドロキシフェニル)−3,5,7−トリヒドロキシ
ベンゾピラン、2−(3,4,5−トリヒドロキシフェ
ニル)−3,5,7−トリヒドロキシベンゾピラン、2
−(3,4−ジヒドロキシフェニル)−3−(3,4,
5−トリヒドロキシベンゾイルオキシ)−5,7−ジヒ
ドロキシベンゾピラン、2−(3,4,5−トリヒドロ
キシフェニル)−3−(3,4,5−トリヒドロキシベ
ンゾイルオキシ)−5,7−ジヒドロキシベンゾピラン
などのポリヒドロキシベンゾピラン類、2,4,4−ト
リメチル−2−(2′,4′−ジヒドロキシフェニル)
−7−ヒドロキシクロマン、2,4,4−トリメチル−
2−(2′,3′,4′−トリヒドロキシフェニル)−
7,8−ジヒドロキシクロマン、2,4,4−トリメチ
ル−2−(2′,4′,6′−トリヒドロキシフェニ
ル)−5,7−ジヒドロキシクロマンなどのポリヒドロ
キシフェニルクロマン類、2,6−ビス(2,3,4−
トリヒドロキシベンジル)−4−メチルフェノール、
2,6−ビス(2,4−ジヒドロキシベンジル)−4−
メチルフェノール、2,6−ビス(5−クロロ−2,4
−ジヒドロキシベンジル)−4−メチルフェノール、
2,6−ビス(2,4,6−トリヒドロキシベンジル)
−4−メチルフェノール、2,6−ビス(2−アセチル
−3,4,5−トリヒドロキシベンジル)−4−メチル
フェノール、2,4,6−トリス(2,3,4−トリヒ
ドロキシベンジル)フェノール、2,6−ビス(3,5
−ジメチル−4−ヒドロキシベンジル)−4−メチルフ
ェノール、2,6−ビス(2,5−ジメチル−4−ヒド
ロキシベンジル)−4−メチルフェノール、2,6−ビ
ス(2,5−ジメチル−4−ヒドロキシベンジル)−4
−フェニルフェノール、2,6−ビス(2,5−ジメチ
ル−4−ヒドロキシベンジル)−4−シクロヘキシルフ
ェノール、2,6−ビス(4−ヒドロキシベンジル)−
4−シクロヘキシルフェノール、2,6−ビス{3′−
(4″−ヒドロキシベンジル)−4′−ヒドロキシ−
5′−メチルベンジル}−4−シクロヘキシルフェノー
ル、2,6−ビス{3′−(3″−メチル−4″−ヒド
ロキシベンジル)−4′−ヒドロキシ−5′−メチルベ
ンジル}−4−シクロヘキシルフェノール、2,4,6
−トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシベンジ
ル)−フェノール、4,6−ビス(3,5−ジメチル−
4−ヒドロキシベンジル)ピロガロール、2,6−ビス
(3−メチル−4−ヒドロキシベンジル)−4−メチル
フェノール、2,6−ビス(3,5−ジメチル−4−ヒ
ドロキシベンジル)フロログルシノール等のヒドロキシ
ベンジルフェノール類、
【0035】2,2′−ジヒドロキシ−5,5′−ビス
(4″−ヒドロキシベンジル)ビフェノール、2,2′
−ジヒドロキシ−3,3′−ジメトキシ−5,5′−ビ
ス(4″−ヒドロキシベンジル)ビフェノール、2,
2′−ジヒドロキシ−3,3′−ジメトキシ−5,5′
−ビス(3″,5″−ジメチル−4″−ヒドロキシベン
ジル)ビフェノール、2,2′−ジヒドロキシ−3,
3′−ジメトキシ−5,5′−ビス(3″−メチル−
4″−ヒドロキシベンジル)ビフェノール、4,4′−
ジヒドロキシ−3,3′−ジメチル−5,5′−ビス
(3″,5″−ジメチル−4″−ヒドロキシベンジル)
ビフェノール、等のビフェノール類、1,3,3,5−
テトラキス(4−ヒドロキシフェニル)ペンタン、1,
1−ビス{3′−(4″−ヒドロキシベンジル)−4′
−ヒドロキシ−5′−メチルフェニル}シクロヘキサ
ン、1,1−ビス{3′−(3″−メチル−4″−ヒド
ロキシベンジル)−4′−ヒドロキシ−5′−メチルフ
ェニル}シクロへキサン、1,1−ビス{3′−
(3″,6″−ジメチル−4″−ヒドロキシベンジル)
−4′−ヒドロキシ−5′−メチルフェニル}シクロヘ
キサン、4,4′−メチレンビス{2−(4″−ヒドロ
キシベンジル)−3,6−ジメチルフェノール}、4,
4′−メチレンビス{2−(3″−メチル−4″−ヒド
ロキシベンジル)−3,6−ジメチルフェノール}、
4,4′−メチレンビス{2−(3″−メチル−4″−
ヒドロキシベンジル)−3−シクロヘキシル−6−メチ
ルフェノール}、4,4′−メチレンビス{2−
(2″,4″−ジヒドロキシベンジル)−6−メチルフ
ェノール}、1,8−ビス{3′−(4″−ヒドロキシ
ベンジル)−4′−ヒドロキシ−5′−メチルフェニ
ル}メンタン、1,8−ビス{3′−(3″−メチル−
4″−ヒドロキシベンジル)−4′−ヒドロキシ−5′
−メチルフェニル}メンタン等のヒドロキシフェニルア
ルカン類、
【0036】3,3′−ビス(4″−ヒドロキシベンジ
ル)−4,4′−ジヒドロキシ−5,5″−ジアリルジ
フェニルエ−テル、3,3′−ビス(4″−ヒドロキシ
ベンジル)−4,4′−ジヒドロキシ−5,5″−ジメ
チルジフェニルチオエーテル、3,3′−ビス(3″−
メチル−4″−ヒドロキシベンジル)−4,4′−ジヒ
ドロキシ−5,5″−ジメチルジフェニルチオエーテ
ル、3,3′−ビス(3″,6″−ジメチル−4″−ヒ
ドロキシベンジル)−4,4′−ジヒドロキシ−5,
5″−ジメチルジフェニルチオエーテル、3,3′−ビ
ス(3″−メチル−4″−ヒドロキシベンジル)−4,
4′−ジヒドロキシ−5,5″−ジアリルジフェニルエ
ーテル等のジフェニルエーテル類、2,6−ビス(4′
−ヒドロキシベンジル)−4ーベンゼンスルフォンアミ
ド−フェノール、2,6−ビス(3′,6′−ジメチル
−4′−ヒドロキシベンジル)−4−ベンゼンスルフォ
ンアミド−フェノール等のスルフォンアミドフェノール
類あるいはケルセチン、ルチン等のフラボノ色素類等、
更にはノボラックの低核体、またはその類似物を用いる
ことができる。
【0037】またアセトンピロガロール縮合樹脂やポリ
ビニルフェノールのような芳香族水酸基を含有したポリ
マーをこれらの低分子化合物に代えて用いることもでき
る。更にノボラックの水酸基自身をキノンジアジドで適
当量置換して感光物として、あるいはバインダーとして
の機能も兼ねさせることも可能である。
【0038】これらの中では特に芳香族水酸基を、同一
芳香環上に1個以上有する部分を包含し、かつ全部で3
個以上の水酸基を有する構造を持ったものが好ましい。
また、公知の芳香族または脂肪族ポリヒドロキシ化合物
の1,2−ナフトキノンジアシド−5−(及び/又は−
4−)スルフォン酸エステル化合物としては、例えば特
公昭56-2333号、特公昭62-3411号、特公平3-2293号、特
公平3-42656号、特開昭58-150948号、特開昭60-154249
号、特開昭60-134235号、特開昭62-10646号、特開昭62-
153950号、特開昭60-146234号、特開昭62-178562号、特
開昭63-113451号、特開昭64-76047号、特開平1-147538
号、特開平1-189644号、特開平1-309052 号、特開平2-1
9846号、特開平2-84650号、特開平2-72363号、特開平2-
103543号、特開平2-285351号、特開平2-296248号、特開
平2-296249号、特開平3-48251号、特開平3-48249号、特
開平3-119358号、特開平3-144454号、特開平3-185447
号、特開平4-1652号、特開平4-60548号、特開平5-15823
4号、特開平5-224410号、特開平5-303198号、特開平5-2
97580号、特開平5-323597号、特願平5-251781号、特願
平5-251780号、特願平5-233537号、米国特許第4,797,34
5号、同4,957,846号、同4,992,356号、同5,151,340号、
同5,178,986号、欧州特許第530,148号、同573,056号等
に記載されている化合物を挙げることができる。
【0039】本発明に用いるアルカリ可溶性樹脂として
は、ノボラック樹脂、アセトン−ピロガロール樹脂やポ
リヒドロキシスチレン及びその誘導体を挙げることがで
きる。これらの中で、特にノボラック樹脂が好ましく、
所定のモノマーを主成分として、酸性触媒の存在下、ア
ルデヒド類と付加縮合させることにより得られる。
【0040】所定のモノマーとしては、フェノール、m
−クレゾール、p−クレゾール、o−クレゾール等のク
レゾール類、2,5−キシレノール、3,5−キシレノ
ール、3,4−キシレノール、2,3−キシレノール等
のキシレノール類、m−エチルフェノール、p−エチル
フェノール、o−エチルフェノール、p−t−ブチルフ
ェノール等のアルキルフェノール類、2,3,5−トリ
メチルフェノール、2,3,4−トリメチルフェノール
等のトリアルキルフェノール類、p−メトキシフェノー
ル、m−メトキシフェノール、3,5−ジメトキシフェ
ノール、2−メトキシ−4−メチルフェノール、m−エ
トキシフェノール、p−エトキシフェノール、m−プロ
ポキシフェノール、p−プロポキシフェノール、m−ブ
トキシフェノール、p−ブトキシフェノール等のアルコ
キシフェノール類、2−メチル−4−イソプロピルフェ
ノール等のビスアルキルフェノール類、m−クロロフェ
ノール、p−クロロフェノール、o−クロロフェノー
ル、ジヒドロキシビフェニル、ビスフェノールA、フェ
ニルフェノール、レゾルシノール、ナフトール等のヒド
ロキシ芳香族化合物を単独もしくは2種以上混合して使
用することができるが、これらに限定されるものではな
い。
【0041】アルデヒド類としては、例えばホルムアル
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピルアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセト
アルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−フ
ェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアル
デヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロ
キシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒド、
m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデ
ヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズ
アルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メチル
ベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−
メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒ
ド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラール、
クロロアセトアルデヒド及びこれらのアセタール体、例
えばクロロアセトアルデヒドジエチルアセタール等を使
用することができるが、これらの中で、ホルムアルデヒ
ドを使用するのが好ましい。
【0042】これらのアルデヒド類は、単独でもしくは
2種以上組み合わせて用いられる。酸性触媒としては塩
酸、硫酸、ギ酸、酢酸及びシュウ酸等を使用することが
できる。
【0043】また、特開昭60−45238、同60−
97347、同60−140235、同60−1897
39、同64−14229、特開平1−276131、
同2−60915、同2−275955、同2−282
745、同4−101147、同4−122938等の
公報に開示されている技術、即ち、ノボラック樹脂の低
分子成分を除去あるいは減少させたものを用いるのが好
ましい。
【0044】こうして得られたノボラック樹脂の重量平
均分子量は、1500〜25000の範囲であることが
好ましい。1500未満では未露光部の現像後の膜減り
が大きく、25000を越えると現像速度が小さくなっ
てしまう。ここで、重量平均分子量はゲルパーミエーシ
ョンクロマトグラフィーのポリスチレン換算値をもって
定義される。
【0045】また、ノボラック樹脂の分散度(重量平均
分子量Mwと数平均分子量Mnの比、即ちMw/Mn)
は1.5〜7.0のものが好ましく、更に好ましくは
1.5〜5.0である。分散度が7を越える場合、本発
明の効果が得られない。分散度が1.5未満の場合、ノ
ボラック樹脂を合成する上で高度の精製工程を要するた
め、実用上の現実性に欠き不適切である。
【0046】上記ノボラック樹脂の重量平均分子量と分
散度は、ノボラック樹脂の種類によって適宜設定するこ
とができる。
【0047】該アルカリ可溶性樹脂が、フェノール、ク
レゾール、キシレノール、トリメチルフェノールの2種
以上(但し、m−クレゾールを必須とする)を含有する
混合物とアルデヒド化合物との縮合反応により合成され
たノボラック樹脂の場合、重量平均分子量は、5500
〜25000であることが好ましく、より好ましくは6
000〜25000である。更に、上記ノボラック樹脂
は、重量平均分子量と数平均分子量の比が1.5〜5.
0であることが好ましい。
【0048】該アルカリ可溶性樹脂が、p−クレゾー
ル、o−クレゾール、2,3−キシレノール、2,6−
キシレノール、トリメチルフェノールのうち少なくとも
4種(o−クレゾールを必須とする)を含有する混合物
とアルデヒド化合物との縮合反応により合成された少な
くとも1種のノボラック樹脂である場合、重量平均分子
量と数平均分子量の比は1.5〜5.0であって、重量
平均分子量が1500〜6000であることが好まし
い。
【0049】上記のように、用いるノボラック樹脂の種
類により、重量平均分子量、分散度を所定範囲に設定す
ることにより、本発明の効果がより著しくなる。
【0050】本発明において必要により用いることがで
きるフェノール性水酸基を有する低分子化合物(水不溶
性アルカリ可溶性低分子)について説明する。
【0051】本発明の組成物には、更に現像液への溶解
促進のために、水不溶性アルカリ可溶性低分子を含有さ
せることが好ましい。これにより、現像ラチチュードを
向上させることができる。水不溶性アルカリ可溶性低分
子としては、具体的にポリヒドロキシ化合物を挙げるこ
とができる。好ましいポリヒドロキシ化合物としては、
フェノール類、レゾルシン、フロログルシン、2,3,
4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4′
−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,
3′,4′,5′−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、
アセトン−ピロガロール縮合樹脂、フロログルシド、
2,4,2′,4′−ビフェニルテトロール、4,4′
−チオビス(1,3−ジヒドロキシ)ベンゼン、2,
2′,4,4′−テトラヒドロキシジフェニルエーテ
ル、2,2′,4,4′−テトラヒドロキシジフェニル
スルフォキシド、2,2′,4,4′−テトラヒドロキ
シジフェニルスルフォン、トリス(4−ヒドロキシフェ
ニル)メタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニ
ル)シクロヘキサン、4,4′−(α−メチルベンジリ
デン)ビスフェノール、α,α′,α″−トリス(4−
ヒドロキシフェニル)−1,3,5−トリイソプロピル
ベンゼン、α,α′,α″−トリス(4−ヒドロキシフ
ェニル)−1−エチル−4−イソプロピルベンゼン、
1,2,2−トリス(ヒドロキシフェニル)プロパン、
1,1,2−トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキ
シフェニル)プロパン、2,2,5,5−テトラキス
(4−ヒドロキシフェニル)ヘキサン、1,2−テトラ
キス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1,1,3−
トリス(ヒドロキシフェニル)ブタン、パラ[α,α,
α′,α′−テトラキス(4−ヒドロキシフェニル)]
−キシレン等を挙げることができる。
【0052】これらの中でも、水不溶性アルカリ可溶性
低分子化合物として、一分子中の総炭素数が60以下で
あり、かつ1分子中に2〜8個のフェノール性水酸基を
有する水不溶性アルカリ可溶性低分子化合物が好まし
い。更には、該水不溶性アルカリ可溶性低分子化合物
は、フェノール性水酸基と芳香環との比が0.5〜1.
4であって、かつ1分子中の総炭素数が12〜60であ
り、1分子中に2〜10個のフェノール性水酸基を有す
る少なくとも1種の水不溶性アルカリ可溶性低分子化合
物であることが好ましい。かかる化合物のうち、水不溶
性アルカリ可溶性樹脂に添加した際に、該アルカリ可溶
性樹脂のアルカリ溶解速度を増大させる化合物が特に好
ましい。これにより、より一層現像ラチチュードが向上
するようになる。
【0053】また該化合物の炭素数が60より大きいも
のでは本発明の効果が減少する。また12より小さいも
のでは耐熱性が低下するなどの新たな欠点が発生する。
本発明の効果を発揮させるためには、分子中に少なくと
も2個の水酸基数を有することが必要であるが、これが
10を越えると、現像ラチチュードの改良効果が失われ
る。また、フェノール性水酸基と芳香環との比が0.5
未満では膜厚依存性が大きく、また、現像ラチチュード
が狭くなる傾向がある。この比が1.4を越える場合で
は該組成物の安定性が劣化し、高解像力及び良好な膜厚
依存性を得るのが困難となって好ましくない。
【0054】この低分子化合物の好ましい添加量は、ア
ルカリ可溶性樹脂に対して1〜100重量%であり、更
に好ましくは2〜80重量%である。100重量%を越
えた添加量では、現像残渣が悪化し、また現像時にパタ
ーンが変形するという新たな欠点が発生して好ましくな
い。本発明に用いられる芳香族水酸基を有する水不溶性
アルカリ可溶性低分子化合物は、例えば、特開平4−1
22938、同2−28531、同2−242973、
同2−275995、同4−251849、同5−30
3199、同5−22440、同6−301204各号
公報、米国特許第4916210、同5210657、
同5318875、欧特許第219294等に記載の方
法を参考にして、当業者に於て容易に合成することが出
来る。
【0055】本発明に用いられる感光物及びアルカリ可
溶性ノボラック樹脂等を溶解させる溶剤としては、エチ
レングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコー
ルモノエチルエーテル、メチルセロソルブアセテート、
エチルセロソルブアセテート、ジエチレングリコールモ
ノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエ
ーテル、プロピレングリコールメチルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールプロピルエーテルアセテー
ト、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、シクロ
ペンタノン、シクロヘキサノン、4−メトキシ−4−メ
チル−2−ペンタノン、2−ヒドロキシプロピオン酸エ
チル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸エチ
ル、エトキシ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸エチル、2−
ヒドロキシ−3−メチルブタン酸メチル、3−メトキシ
プロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸エチ
ル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−エトキシプ
ロピオン酸メチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチ
ル、酢酸エチル、酢酸ブチル等を用いることができる。
これらの有機溶剤は単独で、又は2種以上の組み合わせ
で使用される。
【0056】更に、N−メチルホルムアミド、N,N−
ジメチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,
N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジ
メチルスルホキシド、ベンジルエチルエーテル等の高沸
点溶剤を混合して使用することができる。
【0057】本発明のポジ型フォトレジスト用組成物に
は、ストリエーション等の塗布性を更に向上させるため
に、界面活性剤を配合する事ができる。界面活性剤とし
ては、例えばポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポ
リオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチ
レンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエー
テル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポリ
オキシエチレンオクチルフェノールエーテル、ポリオキ
シエチレンノニルフェノールエーテル等のポリオキシエ
チレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシエチレン
・ポリオキシプロピレンブロックコポリマー類、ソルビ
タンモノラウレート、ソルビタンモノパルミテート、ソ
ルビタンモノステアレート、ソルビタンモノオレエー
ト、ソルビタントリオレエート、ソルビタントリステア
レート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリオキシエ
チレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシエチレン
ソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレンソル
ビタンモノステアレート、ポリオキシエチレンソルビタ
ントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビタントリ
ステアレート等のポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸
エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフトップEF
301,EF303,EF352(新秋田化成(株)
製、)メガファックF171,F173(大日本インキ
(株)製)、フロラードFC430,431(住友スリ
ーエム(株)製)、アサヒガードAG710,サーフロ
ンS−382,SC101,SC102,SC103,
SC104,SC105,SC106(旭硝子(株)
製)等のフッ素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリ
マーKP341(信越化学工業(株)製)やアクリル酸
系もしくはメタクリル酸系(共)重合ポリフローNo.
75,No.95(共栄社油脂化学工業(株)製)等を
挙げることができる。これらの界面活性剤の配合量は組
成物中のアルカリ可溶性樹脂及びキノンジアジド化合物
100重量部当たり、通常、2重量部以下、好ましくは
1重量部以下である。
【0058】これらの界面活性剤は単独で添加してもよ
いし、また、いくつかの組み合わせで添加することもで
きる。
【0059】本発明のポジ型フォトレジスト用組成物の
現像液としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、
炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリ
ウム、アンモニア水等の無機アルカリ類、エチルアミ
ン、n−プロピルアミン等の第一アミン類、ジエチルア
ミン、ジ−n−ブチルアミン等の第二アミン類、トリエ
チルアミン、メチルジエチルアミン等の第三アミン類、
ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン等の
アルコールアミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロ
キシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、コリ
ン等の第四級アンモニウム塩、ピロール、ピペリジン等
の環状アミン類、等のアルカリ類の水溶液を使用するこ
とができる。更に、上記アルカリ類の水溶液にイソプロ
ピルアルコール等のアルコール類、ノニオン系界面活性
剤等の界面活性剤を適当量添加して使用することもでき
る。
【0060】本発明のポジ型フォトレジスト用組成物に
は、必要に応じ、吸光剤、架橋剤、接着助剤を配合する
ことができる。吸光剤は、基板からのハレーションを防
止する目的や透明基板に塗布した際の視認性を高める目
的で、必要に応じて添加される。例えば、「工業用色素
の技術と市場」(CMC出版)や、染料便覧(有機合成
化学協会編)に記載の市販の吸光剤、例えば、C. I. Di
sperse Yellow 1, 3,4, 5, 7, 8, 13, 23, 31, 49, 50,
51, 54, 56, 60, 64, 66, 68, 79, 82, 88,90, 93, 10
2, 114及び124、C. I. Disperse Orange 1, 5, 13, 25,
29, 30, 31,44, 57, 72及び73、C. I. Disperse Red
1, 5, 7, 13, 17, 19, 43, 50, 54, 58, 65, 72, 73, 8
8, 117, 137, 143, 199 及び210、C. I. Disperse Viol
et 43、C. I. Disperse Blue 96、C. I. Fluorescent B
rightening Agent 112, 135及び163、C. I. Solvent Ye
llow 14, 16, 33及び56、C. I. Solvent Orange 2及び4
5、C. I. Solvent Red 1, 3, 8, 23, 24, 25, 27及び4
9、C. I. Pigment Green10 、C. I. Pigment Brown 2等
を好適に用いることができる。吸光剤は通常、アルカリ
可溶性樹脂100重量部に対し、100重量部以下、好
ましくは50重量部以下、更に好ましくは30重量部以
下の割合で配合される。
【0061】架橋剤は、ポジ画像を形成するのに影響の
無い範囲で添加される。架橋剤の添加の目的は、主に、
感度調整、耐熱性の向上、耐ドライエッチング性向上等
である。架橋剤の例としては、メラミン、ベンゾグアナ
ミン、グリコールウリル等にホルムアルデヒドを作用さ
せた化合物、又はそのアルキル変性物や、エポキシ化合
物、アルデヒド類、アジド化合物、有機過酸化物、ヘキ
サメチレンテトラミン等を挙げることができる。これら
の架橋剤は、感光剤100重量部に対して、10重量部
未満、好ましくは5重量部未満の割合で配合できる。架
橋剤の配合量が10重量部を超えると感度が低下し、ス
カム(レジスト残渣)が生じるようになり好ましくな
い。
【0062】接着助剤は、主に、基板とレジストの密着
性を向上させ、特にエッチング工程においてレジストが
剥離しないようにするための目的で添加される。具体例
としては、トリメチルクロロシラン、ジメチルビニルク
ロロシラン、メチルジフェニルクロロシラン、クロロメ
チルジメチルクロロシラン等のクロロシラン類、トリメ
チルメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、メチ
ルジメトキシシラン、ジメチルビニルエトキシシラン、
ジフェニルジメトキシシラン、フェニルトリエトキシシ
ラン等のアルコキシシラン類、ヘキサメチルジシラザ
ン、N,N′−ビス(トリメチルシリル)ウレア、ジメ
チルトリメチルシリルアミン、トリメチルシリルイミダ
ゾール等のシラザン類、ビニルトリクロロシラン、γ−
クロロプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピ
ルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリ
メトキシシラン等のシラン類、ベンゾトリアゾール、ベ
ンゾイミダゾール、インダゾール、イミダゾール、2−
メルカプトベンズイミダゾール、2−メルカプトベンズ
チアゾール、2−メルカプトベンズオキサゾール、ウラ
ゾール、チオウラシル、メルカプトイミダゾール、メル
カプトピリミジン等の複素環状化合物や、1,1−ジメ
チルウレア、1,3−ジメチルウレア等の尿素、又はチ
オ尿素化合物を挙げることができる。
【0063】これらの接着助剤は、アルカリ可溶性樹脂
100重量部に対し、通常10重量部未満、好ましくは
5重量部未満の割合で配合される。
【0064】上記ポジ型フォトレジスト用組成物を精密
集積回路素子の製造に使用されるような基板(例:シリ
コン/二酸化シリコン被覆、ガラス基板、ITO基板等
の透明基板等)上にスピンコート法、ロールコート法、
フローコート法、ディップコート法、スプレーコート
法、ドクターコート法等の適当な塗布方法により塗布後
プリベークして、所定のマスクを通して露光し、必要に
応じて後加熱(PEB:Post Exposure Bake)を行い、
現像、リンス、乾燥することにより良好なレジストを得
ることができる。
【0065】
【実施例】以下、本発明の実施例を示すが、本発明はこ
れに限定されるものではない。なお、%は他に指定のな
い限り、重量%を示す。
【0066】合成例(1)化合物〔II−1〕の合成 n−プロパノール 300mL、 ジ(2−メチル−4ヒドロキシフェニル)エーテル 126g(0.55モル) を温度計、攪拌装置、冷却器及び滴下ロートを付設した
1リットル四つ口フラスコに入れ溶解させ、水酸化ナト
リウム44g(1.1モル)を加え均一溶液になるまで
攪拌した。次いで、これに塩化アリル84g(1.1モ
ル)を10分間かけて滴下した後、70℃まで加熱攪拌
してアリルエーテル化反応させた。
【0067】次いで、その反応液を濾別して副生した塩
化ナトリウムを除去した後、n−プロパノールを減圧下
で留去させ回収した。残留物をメチルイソブチルケトン
に溶解させ、水で洗浄後メチルイソブチルケトンを留去
させ回収した。得られたアリルエーテル化合物(145
g)を500mLのセパラブルフラスコに移し、180
℃に加熱して6時間攪拌しクライゼン転位を行わせ、ジ
(5−アリル−2−メチル−4ヒドロキシフェニル)エ
ーテルの黄色透明粘稠状液体120gを得た。次に、上
記合成で得られた、ジ(5−アリル−2−メチル−4ヒ
ドロキシフェニル)エーテル62g、テトラメチルアン
モニウムヒドロキシド25%水溶液182.3gを攪拌
機、還流冷却管、温度計、滴下装置を取り付けた4つ口
フラスコに仕込み、50℃加熱攪拌、均一溶解し室温ま
で冷却後37%ホルマリン水溶液97.4gを1時間か
けて滴下し、そのまま、36時間攪拌した。反応液を酢
酸中和し、得られた粘稠物を酢酸エチルに溶解し、蒸留
水で3回洗浄、メタノールに溶媒置換し、ジ(5−アリ
ル−2−メチル−4ヒドロキシフェニル)エーテルのメ
チロール体のメタノール溶液を得た。
【0068】同様の反応装置に、フェノール380g、
メタノール400mLを仕込み、60℃に加熱攪拌しな
がら、上記溶液を6時間かけて滴下し、滴下終了後、還
流条件下で3時間攪拌した。反応終了後、室温まで冷却
し、蒸留水5リットルに晶析し、更に温水洗浄、得られ
た粘稠物をカラムクロマトグラフィーにより精製、目的
物である化合物〔II−1〕30gを得た。
【0069】合成例(2)化合物〔II−5〕の合成 n−プロパノール 400mL、 1,8−ジフェニル−p−メンタン 177g
(0.54モル) を温度計、攪拌装置、冷却器及び滴下ロートを付設した
2リットル四つ口フラスコに入れ溶解させ、水酸化ナト
リウム44g(1.1モル)を加え均一溶液になるまで
攪拌した。次いで、これに塩化アリル84g(1.1モ
ル)を10分間かけて滴下した後、70℃まで加熱攪拌
してアリルエーテル化反応させた。次いで、その反応液
を濾別して副生した塩化ナトリウムを除去した後、n−
プロパノールを減圧下で留去させ回収した。残留物をメ
チルイソブチルケトンに溶解させ、水で洗浄後メチルイ
ソブチルケトンを留去させ回収した。得られたアリルエ
ーテル化合物(196g)を500mLのセパラブルフ
ラスコに移し、180℃に加熱して6時間攪拌しクライ
ゼン転位を行わせ、1,8−ビス−(3−アリル−4−
ヒドロキシフェニル)−p−メンタンの黄色透明粘稠状
液体192gを得た。
【0070】次に、上記合成で得られた、1,8−ビス
−(3−アリル−4−ヒドロキシフェニル)−p−メン
タン161.2g、テトラメチルアンモニウムヒドロキ
シド25%水溶液364.6gを攪拌機、還流冷却管、
温度計、滴下装置を取り付けた4つ口フラスコに仕込
み、50℃加熱攪拌、均一溶解し室温まで冷却後37%
ホルマリン水溶液194.8gを1時間かけて滴下し、
そのまま、36時間攪拌した。反応液を酢酸中和し、得
られた粘稠物を酢酸エチルに溶解し、蒸留水で3回洗
浄、メタノールに溶媒置換し、1,8−ビス−(3−ア
リル−4−ヒドロキシフェニル)−p−メンタンのメチ
ロール体のメタノール溶液を得た。同様の反応装置に、
フェノール760g、メタノール800mLを仕込み、
60℃に加熱攪拌しながら、上記溶液を6時間かけて滴
下し、滴下終了後、還流条件下3時間攪拌した。反応終
了後、室温まで冷却し、蒸留水8リットルに晶析し、更
に温水洗浄、得られた粘稠物をカラムクロマトグラフィ
ーにより精製、目的物である化合物〔II−5〕74gを
得た。
【0071】 合成例(3)化合物〔III −2〕の合成 2,6−ジ(5−アリル−2−メチル−4−ヒドロキシフェニルチオ)−4− メチル−1−ヒドロキシベンゼン 92.8g、 テトラメチルアンモニウムヒドロキシド25%水溶液 182.3g を攪拌機、還流冷却管、温度計、滴下装置を取り付けた
4つ口フラスコに仕込み、50℃加熱攪拌、均一溶解し
室温まで冷却後37%ホルマリン水溶液97.4gを1
時間かけて滴下し、そのまま36時間攪拌した。反応液
を酢酸中和し、得られた粘稠物を酢酸エチルに溶解し、
蒸留水で3回洗浄、メタノールに溶媒置換し、2,6−
ジ(5−アリル−2−メチル−4−ヒドロキシフェニル
チオ)−4−メチル−1−ヒドロキシベンゼンのメチロ
ール体のメタノール溶液を得た。
【0072】同様の反応装置に、フェノール380g、
メタノール400mLを仕込み、60℃に加熱攪拌しな
がら、上記溶液を6時間かけて滴下し、滴下終了後、還
流条件下3時間攪拌した。反応終了後、室温まで冷却
し、蒸留水5リットルに晶析し、更に温水洗浄、得られ
た粘稠物をカラムクロマトグラフィーにより精製、目的
物である化合物〔III −2〕38gを得た。
【0073】合成例(4)感光物aの合成 化合物〔II−1〕 26.2g、 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリ
ド26.9g及び アセトン 400mL を3つ口フラスコに仕込み、均一に溶解した。次いで、
N−メチルピペリジン10.4gを徐々に滴下し、25
℃で3時間反応させた。反応混合液を1%塩酸水溶液
1.4リットル中に注ぎ、生じた沈殿を濾別し、水洗、
乾燥(40℃)を行い、化合物〔II−1〕の1,2−ナ
フトキノンジアジド−5−スルフォン酸エステル(感光
物a)43gを得た。
【0074】合成例(5)感光物bの合成 化合物〔II−5〕 61.7g、 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリ
ド53.7g及び アセトン 800mL を3つ口フラスコに仕込み、均一に溶解した。次いで、
N−メチルピペリジン20.8gを徐々に滴下し、25
℃で3時間反応させた。反応混合液を1%塩酸水溶液
2.8リットル中に注ぎ、生じた沈殿を濾別し、水洗、
乾燥(40℃)を行い、化合物〔II−5〕の1,2−ナ
フトキノンジアジド−5−スルフォン酸エステル(感光
物b)94gを得た。
【0075】合成例(6)感光物cの合成 化合物〔III −2〕 22.6g、 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリ
ド17.9g及び アセトン 300mL を3つ口フラスコに仕込み、均一に溶解した。次いで、
N−メチルピペリジン7gを徐々に滴下し、25℃で3
時間反応させた。反応混合液を1%塩酸水溶液1リット
ル中に注ぎ、生じた沈殿を濾別し、水洗、乾燥(40
℃)を行い、化合物〔III −2〕の1,2−ナフトキノ
ンジアジド−5−スルフォン酸エステル(感光物c)3
4gを得た。
【0076】合成例(7)比較用感光物dの合成 下記比較例化合物〔1〕 23.5g、 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリ
ド26.9g及び アセトン 400mL を3つ口フラスコに仕込み、均一に溶解した。次いで、
N−メチルピペリジン10.4gを徐々に滴下し、25
℃で3時間反応させた。反応混合液を1%塩酸水溶液
1.4リットル中に注ぎ、生じた沈殿を濾別し、水洗、
乾燥(40℃)を行い、比較例化合物〔1〕の1,2−
ナフトキノンジアジド−5−スルフォン酸エステル(感
光物d)32gを得た。
【0077】合成例(8)比較例感光物eの合成 下記比較例化合物〔2〕 25.6g、 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリ
ド26.9g及び アセトン 400mL を3つ口フラスコに仕込み、均一に溶解した。次いで、
N−メチルピペリジン10.4gを徐々に滴下し、25
℃で3時間反応させた。反応混合液を1%塩酸水溶液
1.4リットル中に注ぎ、生じた沈殿を濾別し、水洗、
乾燥(40℃)を行い、比較例化合物〔2〕の1,2−
ナフトキノンジアジド−5−スルフォン酸エステル(感
光物e)38gを得た。
【0078】
【化10】
【0079】合成例(9)ノボラック樹脂Aの合成 m−クレゾール 50g、 p−クレゾール 25g、 2,5−ジメチルフェノール 28g、 37%ホルマリン水溶液 53g及び 蓚酸 0.15g を3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら100℃まで
昇温し14時間反応させた。その後温度を200℃まで
上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反応のモ
ノマー、ホルムアルデヒド、蓚酸等を留去した。次いで
溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収した。得ら
れたノボラック樹脂は重量平均分子量4800(ポリス
チレン換算)であった。次いでこのノボラック樹脂20
gをメタノール60gに完全に溶解させた後、これに水
30gを攪拌しながら徐々に加え、樹脂成分を沈殿させ
た。上層をデカンテーションにより除去し、沈殿した樹
脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下で24時間乾燥
させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂Aを得た。得られ
たノボラック樹脂は、重量平均分子量9960(ポリス
チレン換算)であり、分散度は3.50であった。ま
た、モノマー、ダイマー、トリマーの含量は各々、0
%、2.3%、3.5%であり、分別再沈操作により低
分子量成分が43%除去されていた。
【0080】合成例(10)ノボラック樹脂Bの合成 m−クレゾール 259.5g、 p−クレゾール 9.7g、 2,3−ジメチルフェノール 62.3g、 37%ホルマリン水溶液 218.1g を攪拌機、還流冷却管、温度計を取り付けた3つ口フラ
スコに仕込み、90℃で攪拌下、蓚酸2水和物1.13
gを添加した。30分後、浴温を130℃に上げ、更に
3時間30分攪拌し内容物を還流させた。次いで、還流
冷却管をリービッヒコンデンサーに取り替え、浴温を約
1時間かけて200℃まで昇温し、未反応のホルマリ
ン、水等を除去した。更に1時間常圧留去を行った後、
徐々に1mmHgまで減圧して、未反応のモノマー等を
留去した。減圧留去には2時間を要した。次いで溶融し
たノボラック樹脂を室温に戻して回収した。得られたノ
ボラック樹脂は重量平均分子量2290(ポリスチレン
換算)であった。次いでこのノボラック樹脂100gを
1000gのアセトンに完全に溶解させた後、攪拌下n
−ヘキサン1000gを添加して更に室温下30分攪拌
後、1時間静置した。上層をデカンテーションにより除
去し、残った下層をロータリーエバポレーターを用いて
溶媒を留去しノボラック樹脂Bを得た。得られたノボラ
ック樹脂は、重量平均分子量5430(ポリスチレン換
算)であり、分散度は2.4であった。
【0081】合成例(11)ノボラック樹脂Cの合成 p−クレゾール 30g、 o−クレゾール 14g、 2,3−ジメチルフェノール 50g、 2,3,5−トリメチルフェノール 20g、 2,6−ジメチルフェノール 4.9g を50gのジエチレングリコールモノメチルエーテルと
混合し、攪拌機、還流冷却管、温度計を取り付けた3つ
口フラスコに仕込んだ。次いで、37%ホルマリン水溶
液85gを添加、110℃の油浴で加熱しながら攪拌し
た。内温が90℃に達した時点で、6.3gの蓚酸2水
和物を添加した。その後、18時間油浴の温度を130
℃に保って反応を続け、次いで還流冷却管を取り除いて
200℃で減圧蒸留し、未反応モノマーを取り除いた。
得られたノボラック樹脂は、重量平均分子量3280
(ポリスチレン換算)であり、分散度は2.75であっ
た。
【0082】ポジ型フォトレジスト組成物の調製と評価 [実施例1〜7]上記合成例(4)〜(6)で得られた
感光物a〜c、上記合成例(9)〜(11)で得られた
ノボラック樹脂A〜C、溶剤、及び ポリヒドロキシ化合物(P):α,α,α′−トリス
(4−ヒドロキシフェニル)−1−エチル−4−イソプ
ロピルベンゼン を表1に示す割合で混合し、均一溶液とした後、孔径
0.10μmのテフロン製ミクロフィルターを用いて濾
過し、フォトレジスト組成物を調製した。このフォトレ
ジスト組成物をスピナーを用い、回転数を変えてシリコ
ンウエハー上に塗布し、真空密着式ホットプレートで9
0℃、60秒間乾燥して、膜厚が1.02μmのレジス
ト膜を得た。この膜に縮小投影露光装置(ニコン社製縮
小投影露光装置NSR−2005i9c)を用い露光し
た後、110℃で60秒間PEBを行い、2.38%の
テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で1分間
現像し、30秒間水洗して乾燥した。このようにして得
られたシリコンウエハーのレジストパターンを走査型電
子顕微鏡で観察し、レジストを評価した。結果を表2に
示す。
【0083】コンタクトホールの解像力は、0.40μ
mのコンタクトホールのマスクパターンを再現する露光
量における限界解像力を示す。焦点深度は、実効感度に
おいて0.40μmのコンタクトホール径が±10%の
範囲を再現する焦点の幅を、走査型電子顕微鏡で断面観
察して評価した。
【0084】また、DeepUV硬化性は、前記方法に
より、シリコンウエハー上に形成されたレジストパター
ンを、大日本スクリーン社製AEW612装置を使い加
熱昇温させながら(初期温度100℃、最終温度200
℃)、遠紫外線を60秒間照射し、その後、レジストパ
ターンを酢酸イソアミルに1分間浸漬(エッチング)
し、乾燥後、走査型電子顕微鏡で観察して評価した。表
中の記号を以下に示す。
【0085】 ○;レジストパターンが全くエッチングされず、また、
パターンの変形、荒れを生じない場合(硬化が完全)。 △;基板とレジストパターンの間に僅かにエッチングが
観察された場合か、あるいは、パターンの荒れや変形が
僅かである場合。 ×;基板とレジストパターンの間が大きくエッチングさ
れたり、あるいは、パターンの変形、荒れが大きい場
合。
【0086】[比較例1〜4]実施例で用いた化合物の
うち、感光物a〜cの代わりに、合成例(7)、(8)
で得られた感光物d、eを用いたほかは、実施例と同様
にレジスト組成物を調製し評価した。
【0087】
【表1】
【0088】
【表2】
【0089】本発明に係るポジ型フォトレジストは、表
2に示すようにコンタクトホールの解像力が高く、広い
焦点深度を持ち、更に、優れたDeepUV硬化性を有
することが確認された。
【0090】次に、上記で用いた実施例1、4及び比較
例1、4のレジスト組成物を用い、上記のコタクトホー
ルパターンの評価と同様にして、1.08μmの膜厚の
レジスト膜を形成し、上記と同様に露光、現像後、ライ
ン&スペースのパターンを走査型電子写真顕微鏡で観察
し、レジストを下記のように評価した。その結果を下記
表3に示す。
【0091】ライン&スペースの解像力は0.60μm
のマスクパターンを再現する露光量における限界解像力
を示す。
【0092】焦点深度は、0.40μmのライン&スペ
ースのパターンが、膜減り無く分離する焦点の幅を示
す。プロファイルは、0.40μmのレジスト壁面とウ
エハー平面のなす角度(θ)、及びその形状を評価し
た。表3中の記号を次に示す。 ○;85<θ≦90で、形状が矩形又は順テーパー型。 ×;θ≦85で、形状が強いテーパー型または形状が樽
型。
【0093】
【表3】
【0094】以上のように、本発明のレジスト組成物
は、ライン&スペースの解像力、焦点深度、プロファイ
ルを劣化することなく、コンタクトホールの解像力が高
く、広い焦点深度を持ち、更に優れたDeepUV硬化
性を有することが判る。
【0095】
【発明の効果】以上の様に、本発明に係るポジ型フォト
レジスト組成物は、ライン&スペースの解像度、プロフ
ァイル、焦点深度を劣化することなく、コンタクトホー
ルの解像力、焦点深度、及びディープUVキュア性が向
上する。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アルカリ可溶性樹脂、並びに下記一般式
    (I)、(II)又は(III) で示されるポリヒドロキシ化
    合物の1,2−ナフトキノンジアジド−5−(及び/ま
    たは−4−)スルホン酸エステルうち少なくとも1種を
    含有することを特徴とするポジ型フォトレジスト組成
    物。 【化1】 ここで、 R1 〜R17は各々同一でも異なっていてもよく、水素原
    子、ハロゲン原子、シアノ基、無置換または置換されて
    いてもよい、アルキル基、アルコキシ基、シクロアルキ
    ル基、炭素数2〜6のアルケニル基又はフェニル基を表
    す。但し、R1〜R17のうち、少なくとも1つがアリル
    基である。X1 、X2 、Y1 〜Y3 、Z1 〜Z4 の連結
    基は、各々同じでも異なっていてもよく、−O−、−S
    −、−SO2 −、 【化2】 から選ばれる特有の連結基、または−C(R18
    (R19)−を表す(ここでR18、R19は各々水素原子、
    炭素数1〜5のアルキル基又はフェニル基を表し、R18
    とR19は互いに炭素数4又は5個のメチレン鎖で連結さ
    れていてもよい)。但し、上記各々の式中に存在する連
    結基の少なくとも1つは、前記の特有の連結基であるも
    のとする。また、l、mは各々0〜2の整数を表す。n
    は1〜3の整数を表す。
  2. 【請求項2】 前記一般式(I)、(II)又は(III) で
    示されるポリヒドロキシ化合物が、各々下記一般式(I
    V)、(V)又は(VI)で示されるポリヒドロキシ化合
    物であることを特徴とする請求項1に記載のポジ型フォ
    トレジスト組成物。 【化3】 ここで、 R21〜R28は各々同一でも異なっていてもよく、水素原
    子、ハロゲン原子、水酸基、シアノ基、無置換または置
    換されていてもよい、アルキル基、アルコキシ基、シク
    ロアルキル基、炭素数2〜6のアルケニル基又はフェニ
    ル基を表す。R 29〜R37は各々同じでも異なっていても
    よく、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、無置換また
    は置換されていてもよい、アルキル基、アルコキシ基、
    シクロアルキル基、炭素数2〜6のアルケニル基又はフ
    ェニル基を表す。但し、R21〜R 37のうち、少なくとも
    1つがアリル基である。X1 、X2 、Y1 〜Y3 、Z1
    〜Z4 の連結基、l、mは請求項1記載のものと同意で
    ある。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002009890A1 (fr) * 2000-07-28 2002-02-07 Clariant (Japan) K.K. Procede pour former un film protecteur
US9944144B2 (en) 2010-02-23 2018-04-17 Renton Coil Spring Company Spring and damper systems for attenuating the transmission of energy

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