JPH09106924A - コイルの電気的特性検査方法及びその方法に用いる装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 コイルの複数項の電気的検査項目を作業効率
良く、また製品であるコイルに対して取扱いの上での影
響を及ばないようにする。 【解決手段】 コイルの複数個を固定測定専用治具に取
付けて、この測定専用治具から複数の測定機器への測定
ラインをリレーにより切り換えることにより各検査項目
の検査を行う。更にインパルス試験時に発生する磁界を
利用してコイルの極性を判定できるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術】本発明は、製造されたコイルの検
査工程におけるコイルの電気的特性を検査する方法及び
その方法に用いる装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】コイルの電気的特性検査には、インパ
ルス試験、導体抵抗測定、絶縁抵抗測定、極性測
定の４種類の試験を行なっている。従来これらの検査項
目を１項目づつ行なうか、図７に示すように、ステージ
が回転することにより各検査項目を順次行なっていくも
ので、例えばステージ０番にて、検査される製品である
コイルを回転台に載せコイルリード線を回転台端子にセ
ットし、回転台をステージ１番に回し、ステージ１番に
てインパルス試験を行い、順次、回転台を回し、ステー
ジ２番にて導体抵抗測定、ステージ３番にて絶縁抵抗測
定、ステージ４番にて極性測定を行い最後にステージ０
番に戻ってコイルの取りはずしを行うものである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記検査項目を１項目
ずつ各コイルについて行う場合は、製品であるコイルは
各検査を行う毎に専用治具に取り付け、取りはずし作業
が必要となり製品に与える影響及び作業効率の面から問
題があった。

【０００４】また、製品（コイル）を取り付けた回転台
を回転させて、順次各検査を行う場合は、製品の取り付
けは１回ですむため製品へ与える影響は殆どないと考え
られるが、回転機構を持つことから大きなスペースが必
要となり、装置も高価なものとなる。

【０００５】さらに、極性測定を単独の検査としていた
ため、それだけ検査時間を長くしていた。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記の問題点を解決する
ため、本発明のコイルの電気的特性検査方法では、製品
（コイル）を測定専用治具にセットし、この測定専用治
具からの各測定ラインをリレー回路により切り替えるこ
とによって各項目の検査を行うものである。

【０００７】さらに、極性測定については測定専用治具
にホール素子を取り付けることによりインパルス試験を
行った際に発生する磁界を利用してコイルの極性を判定
するものである。

【０００８】また、測定専用治具への製品（コイル）の
取り付けを複数個可能とし、測定ラインの切替えステッ
プごとに複数個の製品（コイル）の各製品（コイル）は
異なる検査項目の検査を同時に行い、測定ラインの切替
えステップを複数回行う制御を有するものである。

【０００９】本発明における「リレー」とは、電気機械
式の接点リレーにとどまらず、トランジスタリレー等の
電子的な切換回路も含まれる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。

【００１１】図１は本発明のコイルの電気的特性検査方
法に用いる装置の構成ブロック図であり、図２は測定専
用治具１０に３個の被検査コイルをセットした状態を示
す。先ず図２の測定専用治具１０にコイルをセットする
方法について詳細に説明すると、コイル１はコイル取付
け部品２上に拘持されている。このコイル取付け部品２
を凸軸１３にはめ込み、位置決め具１２によって動かな
いように固定する。コイル１の巻始め端１ａと巻終り端
１ｂを測定リードクランプ１１に導きそれぞれクランプ
する。なお、コイル取付け部品２及び測定リードクラン
プ１１の拡大図を図３及び図４に示し、コイル１の拡大
図を図５に示す。

【００１２】上記の如くセットしたコイルの電気的特性
検査は、図６に示すフローチャートのように行われる。
即ち、コイル（１），（２），（３）からの測定ライン
はリレー切換え部４によりリレー切換ステップ１では、
コイル（１）の測定ラインはインパルス試験機７に、コ
イル（２）の測定ラインはミリオームハイテスタ５に、
コイル（３）の測定ラインは絶縁抵抗計６に通ずる。ま
た、測定専用治具１０の各コイルの位置にホールＩＣ回
路３が設けてあり、インパルス試験の際に発生する磁界
を利用して各コイル１の極性確認を行なう。

【００１３】このホールＩＣ回路は、Ｎ形半導体に電源
を接続すると、電子によって電流が流れる。この状態に
おいて、Ｎ形半導体の上下に極性を置くと電子の流れが
直角方面に曲げられ、半導体の別の直角方向の電極間に
磁界の強さに比例した電流が流れる働きがある。これは
発見者の名からホール効果と呼ばれている。このホール
効果を利用したＩＣ回路である。

【００１４】前記各コイルについてのそれぞれの試験
（測定）を終え、リレー切換ステップ２に進む。リレー
切換ステップ２でのコイル（１）の測定ラインはミリオ
ームハイテスタ５に、コイル（２）の測定ラインは絶縁
抵抗計６に、コイル（３）の測定ラインはインパルス試
験機７に通ずる。同様に次のリレー切換ステップ３によ
りコイル（１）の測定ラインは絶縁抵抗計６に、コイル
（２）の測定ラインはインパルス試験機７に、コイル
（３）の測定ラインはミリオームハイテスタ５に通ず
る。

【００１５】また、図１において、制御部８は、事前に
プログラムされた測定順序に従ってリレーを切換えるべ
くリレー切換部４の制御を行い、各測定機からの測定デ
ータを処理して、事前に設定されている各測定値の基準
と比較して合否の判定を行う。

【００１６】なお、各測定機、リレー切換部４への電源
等の制御は制御部８を介して電源を供給し、制御部８の
メインスイッチにより装置全体のＯＮ，ＯＦＦを行う。

【００１７】各コイルは一通りの試験（測定）を終えた
後、合格不合格の判定が制御部８によって行われ、その
結果を判定表示部９に表示される。

【００１８】合否の判定は、各コイル毎に判定して表示
させる。合否の判定表示により、検査終了の判断を行え
るので各コイル毎に脱着、従って装着できる。

【００１９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の検査方法
では、コイルへの複数種類の試験がリレー切換えによっ
て行われることから製品であるコイルを測定専用治具へ
１回のみ取り付ければよく、製品へ与える影響を極力避
けることができ、また、作業時間の大幅な削減が可能と
なる。

【００２０】更に、本発明の検査方法に用いる装置で
は、製品３個を測定専用治具へ取りつけることが可能で
あり、リレー切換えによって測定ラインを切換えること
により同時に異なる試験を行うことが可能である。従っ
て、検査時間を大幅に短縮できる。

【００２１】また、測定専用治具のコイル位置にホール
ＩＣ回路を設けることによりインパルス試験と極性試験
とを同時に検査することが可能となり、検査時間が短縮
できる。

【００２２】更に、リレーにより試験（測定）項目を切
り換えることにより、従来の測定回転台等が不要であり
装置の小型化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る装置の構成ブロックである。

【図２】本発明の測定専用治具の平面構成を示す図であ
る。

【図３】図２のコイルを載せている取付け部品の拡大図
である。

【図４】図２の測定リードクランプの詳細図である。

【図５】本発明に係るコイルを示す斜視図である。

【図６】本発明の検査方法に係るフローチャートであ
る。

【図７】従来の検査方法を説明する図である。

【符号の説明】

１ コイル ２ コイル取付け部品 ３ ホールＩＣ回路 ４ リレー切換え部 ５ ミリオームハイテスタ ６ 絶縁抵抗計 ７ インパルス試験機 １０ 測定専用治具 １１ 測定リードクランプ １２ コイル位置決め治具

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コイルの複数項目の電気的特性検査を行
   うに当たり、各検査項目のコイルからの各測定ラインを
   リレーにより切り換えることにより各検査項目の検査を
   行うことを特徴とするコイルの電気的特性検査方法。
2. 【請求項２】 コイルのインパルス試験時に発生する磁
   界を利用してコイルの極性を判定することを特徴とする
   請求項１記載のコイルの電気的特性検査方法。
3. 【請求項３】 複数個のコイルを並べて固定する測定専
   用治具と、前記測定専用治具はコイル取付け部品を軸支
   し該コイル取付け部品の位置決めする部材とコイル測定
   リードクランプとコイル位置下部分にホールＩＣ回路と
   を備え、 前記測定専用治具と複数の測定機器とを結ぶ測定ライン
   を切換えるリレー切換え部とを有することを特徴とする
   コイルの電気的特性検査装置。