JPH09102137A - 光記録媒体記録再生装置、発光駆動装置及び集積回路 - Google Patents
光記録媒体記録再生装置、発光駆動装置及び集積回路Info
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- JPH09102137A JPH09102137A JP7276705A JP27670595A JPH09102137A JP H09102137 A JPH09102137 A JP H09102137A JP 7276705 A JP7276705 A JP 7276705A JP 27670595 A JP27670595 A JP 27670595A JP H09102137 A JPH09102137 A JP H09102137A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、光記録媒体記録再生装置、発光駆動
装置及び集積回路において、発光手段の劣化や破損を防
止し得るようにする。 【解決手段】駆動出力（Ｓ２）の値及び又は、発光手段
が生成した光束量の値に基づいて異常を検出したとき、
プログラム制御する制御手段（２）による制御を経ず
に、駆動出力値制限手段（２６）によつて直ちに駆動出
力（Ｓ２）の値を制限する。
装置及び集積回路において、発光手段の劣化や破損を防
止し得るようにする。 【解決手段】駆動出力（Ｓ２）の値及び又は、発光手段
が生成した光束量の値に基づいて異常を検出したとき、
プログラム制御する制御手段（２）による制御を経ず
に、駆動出力値制限手段（２６）によつて直ちに駆動出
力（Ｓ２）の値を制限する。
Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 発明の属する技術分野 従来の技術（図４及び図５） 発明が解決しようとする課題（図４及び図６） 課題を解決するための手段（図１） 発明の実施の形態（図１〜図３） 発明の効果
【０００２】
【発明の属する技術分野】本発明は光記録媒体記録再生
装置、発光駆動装置及び集積回路に関し、例えば光磁気
デイスク記録再生装置に適用し得る。
装置、発光駆動装置及び集積回路に関し、例えば光磁気
デイスク記録再生装置に適用し得る。
【０００３】
【従来の技術】従来、光磁気デイスク記録再生装置にお
いては、光ピツクアツプ内のレーザダイオードの光強度
に基づいて、レーザダイオードの異常の有無を検出して
いた。即ち、図４に示すように、光磁気デイスク記録再
生装置の発光制御系１は、マイクロコンピユータ（図
中、ＣＰＵで示す）２がレーザ駆動ブロツク３内のレー
ザ駆動部４を制御信号Ｓ１で制御する。これにより、レ
ーザ駆動部４は駆動信号Ｓ２を生成し、この駆動信号Ｓ
２を光学ブロツク５内のレーザダイオード（図示せず）
に与えて駆動する。
いては、光ピツクアツプ内のレーザダイオードの光強度
に基づいて、レーザダイオードの異常の有無を検出して
いた。即ち、図４に示すように、光磁気デイスク記録再
生装置の発光制御系１は、マイクロコンピユータ（図
中、ＣＰＵで示す）２がレーザ駆動ブロツク３内のレー
ザ駆動部４を制御信号Ｓ１で制御する。これにより、レ
ーザ駆動部４は駆動信号Ｓ２を生成し、この駆動信号Ｓ
２を光学ブロツク５内のレーザダイオード（図示せず）
に与えて駆動する。
【０００４】光学ブロツク５は、レーザ光を検出するフ
オトダイオード（図示せず）が配されており、このフオ
トダイオードが出力した光強度信号Ｓ３をレーザ駆動ブ
ロツク３内のレーザ異常検出部６に与える。レーザ異常
検出部６は、光強度信号Ｓ３に基づいて、レーザ光強度
の異常を検出し、検出信号Ｓ４をマイクロコンピユータ
２に与える。これにより、マイクロコンピユータ２は、
光強度信号Ｓ３の値が基準値を越えたとき、レーザ駆動
部４を制御して駆動信号Ｓ２のレベルを減少させる。
オトダイオード（図示せず）が配されており、このフオ
トダイオードが出力した光強度信号Ｓ３をレーザ駆動ブ
ロツク３内のレーザ異常検出部６に与える。レーザ異常
検出部６は、光強度信号Ｓ３に基づいて、レーザ光強度
の異常を検出し、検出信号Ｓ４をマイクロコンピユータ
２に与える。これにより、マイクロコンピユータ２は、
光強度信号Ｓ３の値が基準値を越えたとき、レーザ駆動
部４を制御して駆動信号Ｓ２のレベルを減少させる。
【０００５】因みに、レーザ駆動ブロツク３は、駆動信
号Ｓ２の強度を光強度信号Ｓ３によつてフイードバツク
制御する。即ち、図５に示すように、レーザ駆動ブロツ
ク３は、制御信号Ｓ１を抵抗Ｒ1 を介してレーザ異常検
出部６のレーザ用ループ増幅器７の反転入力端に与える
と共に、レーザパワー設定レジスタ８にセツトされた基
準値による電位を電位バツフア９を介してループ増幅器
７の非反転入力端に与える。またレーザ駆動ブロツク３
は、フオトダイオード１０より得た光強度信号Ｓ３をル
ープ増幅器７の反転入力端に与える。
号Ｓ２の強度を光強度信号Ｓ３によつてフイードバツク
制御する。即ち、図５に示すように、レーザ駆動ブロツ
ク３は、制御信号Ｓ１を抵抗Ｒ1 を介してレーザ異常検
出部６のレーザ用ループ増幅器７の反転入力端に与える
と共に、レーザパワー設定レジスタ８にセツトされた基
準値による電位を電位バツフア９を介してループ増幅器
７の非反転入力端に与える。またレーザ駆動ブロツク３
は、フオトダイオード１０より得た光強度信号Ｓ３をル
ープ増幅器７の反転入力端に与える。
【０００６】これにより、レーザ駆動ブロツク３は、こ
の反転入力端の電位がレーザパワー設定レジスタ８にセ
ツトされた基準値による電位と同一となるようにループ
利得を制御した制御信号Ｓ５を駆動電流発生回路１１に
与えて駆動信号Ｓ２を生成する。一方、レーザ駆動ブロ
ツク３は、光強度信号Ｓ３を比較器１２に与えると共
に、レーザパワー設定レジスタ８にセツトされた基準値
による電位を電位バツフア１３を介して比較器１２に与
えて、レーザ光強度の異常を検出する。
の反転入力端の電位がレーザパワー設定レジスタ８にセ
ツトされた基準値による電位と同一となるようにループ
利得を制御した制御信号Ｓ５を駆動電流発生回路１１に
与えて駆動信号Ｓ２を生成する。一方、レーザ駆動ブロ
ツク３は、光強度信号Ｓ３を比較器１２に与えると共
に、レーザパワー設定レジスタ８にセツトされた基準値
による電位を電位バツフア１３を介して比較器１２に与
えて、レーザ光強度の異常を検出する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の構成
では、レーザ異常検出部６は、レーザ光の異常発生を比
較器１２よりマイクロコンピユータ２に伝えるだけであ
る。このため、レーザ光の異常自体は、マイクロコンピ
ユータ２によつて異常の存在が認識され、異常処理命令
がレーザ駆動ブロツク３に与えられることによつて回避
される。
では、レーザ異常検出部６は、レーザ光の異常発生を比
較器１２よりマイクロコンピユータ２に伝えるだけであ
る。このため、レーザ光の異常自体は、マイクロコンピ
ユータ２によつて異常の存在が認識され、異常処理命令
がレーザ駆動ブロツク３に与えられることによつて回避
される。
【０００８】ところが、レーザ光の異常発生をマイクロ
コンピユータ２に伝えてから、レーザ駆動ブロツク３が
異常を回避するまでの処理に時間がかかる。またこの処
理時間はマイクロコンピユータ２の異常処理用コードに
依存する。このため、実際には、レーザ駆動ブロツク３
が駆動信号をある値に制限する迄の期間に、定格を越え
る駆動信号Ｓ２の電流がレーザダイオードに流れて、レ
ーザダイオードの劣化が進んだり損傷するという問題が
あつた。またマイクロコンピユータ２やＤＳＰ（Digita
l Signal Processor）や他の制御用集積回路等のインテ
リジエンスチツプが無いと、レーザ光の異常を完全に処
理することができないという欠点があつた。
コンピユータ２に伝えてから、レーザ駆動ブロツク３が
異常を回避するまでの処理に時間がかかる。またこの処
理時間はマイクロコンピユータ２の異常処理用コードに
依存する。このため、実際には、レーザ駆動ブロツク３
が駆動信号をある値に制限する迄の期間に、定格を越え
る駆動信号Ｓ２の電流がレーザダイオードに流れて、レ
ーザダイオードの劣化が進んだり損傷するという問題が
あつた。またマイクロコンピユータ２やＤＳＰ（Digita
l Signal Processor）や他の制御用集積回路等のインテ
リジエンスチツプが無いと、レーザ光の異常を完全に処
理することができないという欠点があつた。
【０００９】因みに、発光制御系１は、例えば図６に示
す異常処理手順に従つてレーザダイオードの発光異常を
処理する。即ち、発光制御系１は、開始ステツプＳＰ０
から入り、ステツプＳＰ１において、異常を検出したか
否かを判断する。否定結果を得ると、発光制御系１は、
ステツプＳＰ１に戻つて上述の手順を繰り返す。肯定結
果を得ると、発光制御系１は、異常が発生したと判断し
て、レーザ異常検出部６より検出信号Ｓ４を出力して、
ステツプＳＰ２に移る。
す異常処理手順に従つてレーザダイオードの発光異常を
処理する。即ち、発光制御系１は、開始ステツプＳＰ０
から入り、ステツプＳＰ１において、異常を検出したか
否かを判断する。否定結果を得ると、発光制御系１は、
ステツプＳＰ１に戻つて上述の手順を繰り返す。肯定結
果を得ると、発光制御系１は、異常が発生したと判断し
て、レーザ異常検出部６より検出信号Ｓ４を出力して、
ステツプＳＰ２に移る。
【００１０】ステツプＳＰ２において、発光制御系１
は、マイクロコンピユータ２にレーザ異常処理用割り込
みをコールして、ステツプＳＰ３に移る。ステツプＳＰ
３において、発光制御系１は、マイクロコンピユータ２
によつてレーザ駆動ブロツク３に異常内容を確認して、
ステツプＳＰ４に移る。ステツプＳＰ４において、発光
制御系１は、は、確認した異常内容に応じた異常処理命
令をレーザ駆動ブロツク３に与えて、ステツプＳＰ５に
移り、異常処理手順を終了する。
は、マイクロコンピユータ２にレーザ異常処理用割り込
みをコールして、ステツプＳＰ３に移る。ステツプＳＰ
３において、発光制御系１は、マイクロコンピユータ２
によつてレーザ駆動ブロツク３に異常内容を確認して、
ステツプＳＰ４に移る。ステツプＳＰ４において、発光
制御系１は、は、確認した異常内容に応じた異常処理命
令をレーザ駆動ブロツク３に与えて、ステツプＳＰ５に
移り、異常処理手順を終了する。
【００１１】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、発光手段の劣化や破損を防止し得る光記録媒体記録
再生装置、発光駆動装置及び集積回路を提案しようとす
るものである。
で、発光手段の劣化や破損を防止し得る光記録媒体記録
再生装置、発光駆動装置及び集積回路を提案しようとす
るものである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、発光手段と、発光手段を駆動する
駆動出力を生成する駆動出力生成手段と、駆動出力生成
手段をプログラムに従つて制御する制御手段とを有し、
発光手段が生成した光束を光記録媒体に照射して、デー
タを光記録媒体に記録及び又は再生する光記録媒体記録
再生装置において、駆動出力の値及び又は光束量の値に
基づいて、制御手段による制御を経ずに、駆動出力を制
限する駆動出力制限手段を設ける。
め本発明においては、発光手段と、発光手段を駆動する
駆動出力を生成する駆動出力生成手段と、駆動出力生成
手段をプログラムに従つて制御する制御手段とを有し、
発光手段が生成した光束を光記録媒体に照射して、デー
タを光記録媒体に記録及び又は再生する光記録媒体記録
再生装置において、駆動出力の値及び又は光束量の値に
基づいて、制御手段による制御を経ずに、駆動出力を制
限する駆動出力制限手段を設ける。
【００１３】駆動出力の値及び又は、発光手段が生成し
た光束量の値に基づいて異常を検出したとき、制御手段
による制御を経ずに、駆動出力制限手段によつて直ちに
駆動出力の値を制限することにより、発光手段の劣化や
破損を防止することができる。
た光束量の値に基づいて異常を検出したとき、制御手段
による制御を経ずに、駆動出力制限手段によつて直ちに
駆動出力の値を制限することにより、発光手段の劣化や
破損を防止することができる。
【００１４】また本発明においては、駆動出力生成手段
は、発光手段を駆動する駆動出力を生成する。駆動出力
制限手段は、駆動出力の値及び又は、発光手段が生成し
た光束量の値に基づいて、プログラムに従つて制御する
制御手段による制御を経ずに、駆動出力を制限する。
は、発光手段を駆動する駆動出力を生成する。駆動出力
制限手段は、駆動出力の値及び又は、発光手段が生成し
た光束量の値に基づいて、プログラムに従つて制御する
制御手段による制御を経ずに、駆動出力を制限する。
【００１５】さらに本発明においては、基板上に駆動出
力生成手段と駆動出力制限手段とを設ける。駆動出力生
成手段は、発光手段を駆動する駆動出力を生成する。駆
動出力制限手段は、駆動出力の値及び又は、発光手段が
生成した光束量の値に基づいて、プログラムに従つて制
御する制御手段による制御を経ずに、駆動出力を制限す
る。
力生成手段と駆動出力制限手段とを設ける。駆動出力生
成手段は、発光手段を駆動する駆動出力を生成する。駆
動出力制限手段は、駆動出力の値及び又は、発光手段が
生成した光束量の値に基づいて、プログラムに従つて制
御する制御手段による制御を経ずに、駆動出力を制限す
る。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。
施例を詳述する。
【００１７】図４との対応部分に同一符号を付して示す
図１は、全体としてコンピユータ用データを光記録媒
体、例えば光磁気デイスク（図示せず）に記録再生する
光磁気デイスク記録再生装置の発光制御系２０を示す。
発光制御系２０は、従来の発光制御系１の構成のうち、
レーザ駆動ブロツク３に代えて、発光駆動装置、例えば
集積回路構成のレーザ駆動ブロツク２２が配されてい
る。
図１は、全体としてコンピユータ用データを光記録媒
体、例えば光磁気デイスク（図示せず）に記録再生する
光磁気デイスク記録再生装置の発光制御系２０を示す。
発光制御系２０は、従来の発光制御系１の構成のうち、
レーザ駆動ブロツク３に代えて、発光駆動装置、例えば
集積回路構成のレーザ駆動ブロツク２２が配されてい
る。
【００１８】レーザ駆動ブロツク２２は、駆動出力、例
えば駆動信号Ｓ２の値を監視して、駆動信号Ｓ２の値の
異常を検出し、光学ブロツク５内の発光手段、例えばレ
ーザダイオード１４に過電流が流れることをレーザ駆動
ブロツク２２自体で防止する。発光制御系２０は、プロ
グラムに従つて制御する制御手段、例えばマイクロコン
ピユータ２より制御信号Ｓ１を与えて、レーザ駆動ブロ
ツク２２内の駆動出力生成手段、例えばレーザ駆動部２
３を制御する。これにより、レーザ駆動部２３は駆動信
号Ｓ２を生成し、この駆動信号Ｓ２を光学ブロツク５内
のレーザダイオード（図示せず）に与えて駆動する。
えば駆動信号Ｓ２の値を監視して、駆動信号Ｓ２の値の
異常を検出し、光学ブロツク５内の発光手段、例えばレ
ーザダイオード１４に過電流が流れることをレーザ駆動
ブロツク２２自体で防止する。発光制御系２０は、プロ
グラムに従つて制御する制御手段、例えばマイクロコン
ピユータ２より制御信号Ｓ１を与えて、レーザ駆動ブロ
ツク２２内の駆動出力生成手段、例えばレーザ駆動部２
３を制御する。これにより、レーザ駆動部２３は駆動信
号Ｓ２を生成し、この駆動信号Ｓ２を光学ブロツク５内
のレーザダイオード（図示せず）に与えて駆動する。
【００１９】発光制御系２０は、光学ブロツク５内のフ
オトダイオード（図示せず）で生成した光強度信号Ｓ３
をレーザ駆動部２３に与えて、駆動信号Ｓ２の強度をフ
イードバツク制御する。発光制御系２０は、駆動信号Ｓ
２をレーザ駆動ブロツク２２内の駆動出力値検出手段、
例えば駆動電流検出部２４に与えて駆動信号Ｓ２の電流
値を検出し、電流値検出信号Ｓ６を生成させる。発光制
御系２０は、電流値検出信号Ｓ６をレーザ駆動ブロツク
２２内の駆動出力比較手段、例えば異常検出部２５に与
えて、駆動信号Ｓ２の電流値の異常を検出させ、異常で
あるとき異常検出信号Ｓ７を生成させる。
オトダイオード（図示せず）で生成した光強度信号Ｓ３
をレーザ駆動部２３に与えて、駆動信号Ｓ２の強度をフ
イードバツク制御する。発光制御系２０は、駆動信号Ｓ
２をレーザ駆動ブロツク２２内の駆動出力値検出手段、
例えば駆動電流検出部２４に与えて駆動信号Ｓ２の電流
値を検出し、電流値検出信号Ｓ６を生成させる。発光制
御系２０は、電流値検出信号Ｓ６をレーザ駆動ブロツク
２２内の駆動出力比較手段、例えば異常検出部２５に与
えて、駆動信号Ｓ２の電流値の異常を検出させ、異常で
あるとき異常検出信号Ｓ７を生成させる。
【００２０】発光制御系２０は、異常検出信号Ｓ７をレ
ーザ駆動ブロツク２２内の駆動出力制限手段、例えば異
常処理部２６に与えて制御信号Ｓ８を生成させ、この制
御信号Ｓ８をレーザ駆動部２３に与えて駆動信号Ｓ２を
所定値に制限させる。発光制御系２０は、異常検出部２
５で異常検出信号Ｓ７を生成させると同時に、異常検出
信号Ｓ９をマイクロコンピユータ２に与える。これによ
り、発光制御系２０は、マイクロコンピユータ２によつ
て異常処理プログラムを実行し、レーザ駆動部２３の電
流制限動作をリセツトする。
ーザ駆動ブロツク２２内の駆動出力制限手段、例えば異
常処理部２６に与えて制御信号Ｓ８を生成させ、この制
御信号Ｓ８をレーザ駆動部２３に与えて駆動信号Ｓ２を
所定値に制限させる。発光制御系２０は、異常検出部２
５で異常検出信号Ｓ７を生成させると同時に、異常検出
信号Ｓ９をマイクロコンピユータ２に与える。これによ
り、発光制御系２０は、マイクロコンピユータ２によつ
て異常処理プログラムを実行し、レーザ駆動部２３の電
流制限動作をリセツトする。
【００２１】図２に示すように、レーザ駆動ブロツク２
２は、制御信号Ｓ１をレーザ駆動部２３内の駆動電流設
定回路２７に与えて電流設定信号Ｓ１０を生成する。レ
ーザ駆動ブロツク２２は、電流設定信号Ｓ１０をトラン
ジスタＱ１のベースに与え、トランジスタＱ１のエミツ
タ電位をレベルシフト回路２８でレベルシフトしてトラ
ンジスタＱ２及びＱ３のベースに与える。これにより、
レーザ駆動ブロツク２２は、トランジスタＱ３のコレク
タに接続された光学ブロツク５内のレーザダイオード１
４より、制御信号Ｓ１に応じた電流値の駆動信号Ｓ２を
流して駆動する。
２は、制御信号Ｓ１をレーザ駆動部２３内の駆動電流設
定回路２７に与えて電流設定信号Ｓ１０を生成する。レ
ーザ駆動ブロツク２２は、電流設定信号Ｓ１０をトラン
ジスタＱ１のベースに与え、トランジスタＱ１のエミツ
タ電位をレベルシフト回路２８でレベルシフトしてトラ
ンジスタＱ２及びＱ３のベースに与える。これにより、
レーザ駆動ブロツク２２は、トランジスタＱ３のコレク
タに接続された光学ブロツク５内のレーザダイオード１
４より、制御信号Ｓ１に応じた電流値の駆動信号Ｓ２を
流して駆動する。
【００２２】トランジスタＱ２は、エミツタがトランジ
スタＱ３のエミツタと共通に接続され、抵抗Ｒ2 を介し
て接地ラインに接続されている。またトランジスタＱ２
は、コレクタが抵抗Ｒ3 を介して電源電圧ＶCCに接続さ
れており、コレクタ電位が駆動信号Ｓ２の電流値の増減
に応じて増減する。レーザ駆動ブロツク２２は、トラン
ジスタＱ２のコレクタ電位を電流値検出信号Ｓ６として
異常検出部２５に与える。
スタＱ３のエミツタと共通に接続され、抵抗Ｒ2 を介し
て接地ラインに接続されている。またトランジスタＱ２
は、コレクタが抵抗Ｒ3 を介して電源電圧ＶCCに接続さ
れており、コレクタ電位が駆動信号Ｓ２の電流値の増減
に応じて増減する。レーザ駆動ブロツク２２は、トラン
ジスタＱ２のコレクタ電位を電流値検出信号Ｓ６として
異常検出部２５に与える。
【００２３】因みに、駆動電流設定回路２７は、例えば
上述の抵抗Ｒ1 、ループ増幅器７、レーザパワー設定レ
ジスタ８及び電位バツフア９によつて構成されており、
レーザパワー設定レジスタ８に設定した電流設定用基準
値に応じた値の電流設定信号Ｓ１０を出力する。またレ
ーザ駆動ブロツク２２は、光強度信号Ｓ３を駆動電流設
定回路２７に与えて、電流設定信号Ｓ１０の値をフイー
ドバツク制御する。抵抗Ｒ3 には、駆動信号Ｓ２の電流
値が正常のとき、例えば駆動信号Ｓ２の電流値の1/20の
値の電流が流される。
上述の抵抗Ｒ1 、ループ増幅器７、レーザパワー設定レ
ジスタ８及び電位バツフア９によつて構成されており、
レーザパワー設定レジスタ８に設定した電流設定用基準
値に応じた値の電流設定信号Ｓ１０を出力する。またレ
ーザ駆動ブロツク２２は、光強度信号Ｓ３を駆動電流設
定回路２７に与えて、電流設定信号Ｓ１０の値をフイー
ドバツク制御する。抵抗Ｒ3 には、駆動信号Ｓ２の電流
値が正常のとき、例えば駆動信号Ｓ２の電流値の1/20の
値の電流が流される。
【００２４】レーザ駆動ブロツク２２は、電流値検出信
号Ｓ６を、異常検出部２５内の抵抗Ｒ4 及びコンデンサ
Ｃでなるローパスフイルタを介して、比較器２９に与え
ると共に、異常検出用基準電位を抵抗Ｒ5 を介して、比
較器２９に与える。これにより、比較器２９は、トラン
ジスタＱ２のコレクタ電位と異常検出用基準電位とを比
較して、トランジスタＱ２のコレクタ電位が異常検出用
基準電位を越えるとき反転する比較信号Ｓ１１を生成す
る。
号Ｓ６を、異常検出部２５内の抵抗Ｒ4 及びコンデンサ
Ｃでなるローパスフイルタを介して、比較器２９に与え
ると共に、異常検出用基準電位を抵抗Ｒ5 を介して、比
較器２９に与える。これにより、比較器２９は、トラン
ジスタＱ２のコレクタ電位と異常検出用基準電位とを比
較して、トランジスタＱ２のコレクタ電位が異常検出用
基準電位を越えるとき反転する比較信号Ｓ１１を生成す
る。
【００２５】レーザ駆動ブロツク２２は、比較信号Ｓ１
１をＤフリツプフロツプ３０のクロツク入力端に与えて
ラツチさせる。これにより、レーザ駆動ブロツク２２
は、駆動信号Ｓ２の電流値が所定値を越えると、Ｑ出力
端より異常検出信号Ｓ７を異常処理部２６に出力させ
る。またレーザ駆動ブロツク２２は、異常検出信号Ｓ７
を異常検出信号Ｓ９としてマイクロコンピユータ２に出
力する。
１をＤフリツプフロツプ３０のクロツク入力端に与えて
ラツチさせる。これにより、レーザ駆動ブロツク２２
は、駆動信号Ｓ２の電流値が所定値を越えると、Ｑ出力
端より異常検出信号Ｓ７を異常処理部２６に出力させ
る。またレーザ駆動ブロツク２２は、異常検出信号Ｓ７
を異常検出信号Ｓ９としてマイクロコンピユータ２に出
力する。
【００２６】レーザ駆動ブロツク２２は、異常検出信号
Ｓ７を異常処理部２６内のスイツチ３２に与えて投入さ
せ、電源電圧ＶCCを比較器３１に与える。これにより、
比較器３１は、制御信号Ｓ１２を出力してトランジスタ
Ｑ４を導通させ、トランジスタＱ４のコレクタに接続さ
れたトランジスタＱ１のベース電位を所定値に低下させ
る。従つて、レーザ駆動ブロツク２２は、トランジスタ
Ｑ１のエミツタ電位を低下させて、トランジスタＱ３が
流す駆動信号Ｓ２の値を所定値に制限することができ
る。因みに、比較器３１は、電流値検出信号Ｓ６の電位
を所定の基準電位と比較する。
Ｓ７を異常処理部２６内のスイツチ３２に与えて投入さ
せ、電源電圧ＶCCを比較器３１に与える。これにより、
比較器３１は、制御信号Ｓ１２を出力してトランジスタ
Ｑ４を導通させ、トランジスタＱ４のコレクタに接続さ
れたトランジスタＱ１のベース電位を所定値に低下させ
る。従つて、レーザ駆動ブロツク２２は、トランジスタ
Ｑ１のエミツタ電位を低下させて、トランジスタＱ３が
流す駆動信号Ｓ２の値を所定値に制限することができ
る。因みに、比較器３１は、電流値検出信号Ｓ６の電位
を所定の基準電位と比較する。
【００２７】レーザ駆動ブロツク２２は、電流値検出信
号Ｓ６を比較器３３に与えて、電流値検出信号Ｓ６の電
位をリセツト用基準電位と比較させる。これにより、レ
ーザ駆動ブロツク２２は、電流値検出信号Ｓ６の電位が
リセツト用基準電位に比して低下したとき比較器３３で
リセツト信号Ｓ１３を生成させ、このリセツト信号Ｓ１
３をＤフリツプフロツプ３０に与えてリセツトする。
号Ｓ６を比較器３３に与えて、電流値検出信号Ｓ６の電
位をリセツト用基準電位と比較させる。これにより、レ
ーザ駆動ブロツク２２は、電流値検出信号Ｓ６の電位が
リセツト用基準電位に比して低下したとき比較器３３で
リセツト信号Ｓ１３を生成させ、このリセツト信号Ｓ１
３をＤフリツプフロツプ３０に与えてリセツトする。
【００２８】以上の構成において、発光制御系２０は図
３に示す異常処理手順に従って動作する。即ち、発光制
御系２０は、ステツプＳＰ１０から入り、ステツプＳＰ
１１において、駆動信号Ｓ２の電流値の異常を検出した
か否かを判断する。ステツプＳＰ１１において、否定結
果を得ると、発光制御系２０は、ステツプＳＰ１１に戻
つて上述の手順を繰り返す。
３に示す異常処理手順に従って動作する。即ち、発光制
御系２０は、ステツプＳＰ１０から入り、ステツプＳＰ
１１において、駆動信号Ｓ２の電流値の異常を検出した
か否かを判断する。ステツプＳＰ１１において、否定結
果を得ると、発光制御系２０は、ステツプＳＰ１１に戻
つて上述の手順を繰り返す。
【００２９】ステツプＳＰ１１において肯定結果を得る
と、発光制御系２０は、異常が発生したと判断して、異
常検出部２５より異常検出信号Ｓ７を出力して、ステツ
プＳＰ１２に移り、直ちに駆動信号Ｓ２の電流値を例え
ば160 〔mA〕から100 〔mA〕に制限する。この後、発光
制御系２０はステツプＳＰ１３に移り、異常検出信号Ｓ
９によつてマイクロコンピユータ２にレーザ異常処理用
割り込みをコールして、ステツプＳＰ１４に移る。
と、発光制御系２０は、異常が発生したと判断して、異
常検出部２５より異常検出信号Ｓ７を出力して、ステツ
プＳＰ１２に移り、直ちに駆動信号Ｓ２の電流値を例え
ば160 〔mA〕から100 〔mA〕に制限する。この後、発光
制御系２０はステツプＳＰ１３に移り、異常検出信号Ｓ
９によつてマイクロコンピユータ２にレーザ異常処理用
割り込みをコールして、ステツプＳＰ１４に移る。
【００３０】ステツプＳＰ１４において、発光制御系２
０は、駆動信号Ｓ２の電流値の異常に応じた異常処理命
令をマイクロコンピユータ２よりレーザ駆動ブロツク２
２や必要な他の系に与えて、ステツプＳＰ１５に移る。
ステツプＳＰ１５において、発光制御系２０は、異常処
理命令によつてレーザ駆動ブロツク２２の駆動電流設定
回路２７を制御し、駆動信号Ｓ２の電流値を例えば60
〔mA〕に減少させる。これにより、発光制御系２０は、
比較器３３よりリセツト信号Ｓ１３を与えてＤフリツプ
フロツプ３０をリセツトし、異常処理部２６を通常モー
ドに戻す。続いて、発光制御系２０は、ステツプＳＰ１
６に移つて異常処理手順を終了する。
０は、駆動信号Ｓ２の電流値の異常に応じた異常処理命
令をマイクロコンピユータ２よりレーザ駆動ブロツク２
２や必要な他の系に与えて、ステツプＳＰ１５に移る。
ステツプＳＰ１５において、発光制御系２０は、異常処
理命令によつてレーザ駆動ブロツク２２の駆動電流設定
回路２７を制御し、駆動信号Ｓ２の電流値を例えば60
〔mA〕に減少させる。これにより、発光制御系２０は、
比較器３３よりリセツト信号Ｓ１３を与えてＤフリツプ
フロツプ３０をリセツトし、異常処理部２６を通常モー
ドに戻す。続いて、発光制御系２０は、ステツプＳＰ１
６に移つて異常処理手順を終了する。
【００３１】このようにして、レーザ駆動ブロツク２２
は、マイクロコンピユータ２による異常処理を待つこと
なく、レーザダイオード１４が過電流で発光する前に駆
動信号Ｓ２を素早く制限することができる。これによ
り、レーザ駆動ブロツク２２は、レーザダイオード１４
に所定値を越える駆動信号Ｓ２が流れて劣化したり損傷
することをレーザ駆動ブロツク２２自体で未然に防止す
ることができる。
は、マイクロコンピユータ２による異常処理を待つこと
なく、レーザダイオード１４が過電流で発光する前に駆
動信号Ｓ２を素早く制限することができる。これによ
り、レーザ駆動ブロツク２２は、レーザダイオード１４
に所定値を越える駆動信号Ｓ２が流れて劣化したり損傷
することをレーザ駆動ブロツク２２自体で未然に防止す
ることができる。
【００３２】以上の構成によれば、駆動信号Ｓ２の値を
監視し、駆動信号Ｓ２の異常を検出したとき、マイクロ
コンピユータ２による制御を経ずに、異常処理部２６に
よつて直ちに駆動信号Ｓ２の値を所定値に制限すること
により、レーザダイオード１４の劣化や破損を未然に防
止することができる。
監視し、駆動信号Ｓ２の異常を検出したとき、マイクロ
コンピユータ２による制御を経ずに、異常処理部２６に
よつて直ちに駆動信号Ｓ２の値を所定値に制限すること
により、レーザダイオード１４の劣化や破損を未然に防
止することができる。
【００３３】また異常処理内容（ここではレーザパワー
の制限量）が内部で固定されていることにより、マイク
ロコンピユータ２に対する異常処理設定の手間を省くこ
とができる。さらに駆動信号Ｓ２をフイードバツク制御
する開ループの一部、例えばフオトダイオード１０が破
損した場合でも、レーザダイオード１４の破損を未然に
防止することができる。
の制限量）が内部で固定されていることにより、マイク
ロコンピユータ２に対する異常処理設定の手間を省くこ
とができる。さらに駆動信号Ｓ２をフイードバツク制御
する開ループの一部、例えばフオトダイオード１０が破
損した場合でも、レーザダイオード１４の破損を未然に
防止することができる。
【００３４】また従来はマイクロコンピユータ２やＤＳ
Ｐ等のコードにより異常を処理していたが、異常処理の
コードを省略することができる。さらに異常処理と平行
して、異常発生をマイクロコンピユータ２に知らせるこ
とにより、全体として異常を一段とスムースに処理する
ことができる。
Ｐ等のコードにより異常を処理していたが、異常処理の
コードを省略することができる。さらに異常処理と平行
して、異常発生をマイクロコンピユータ２に知らせるこ
とにより、全体として異常を一段とスムースに処理する
ことができる。
【００３５】またレーザ駆動ブロツク２２自体で異常を
処理することにより、マイクロコンピユータ２やＤＳＰ
のプログラムコードのバグによる、異常見逃しや不適切
な処理を回避することができる。これにより、レーザダ
イオード１４を損傷する機会を一段と減少させることが
できる。さらにマイクロコンピユータ２やＤＳＰを使用
せずに、光学ブロツク５を調整するときもレーザダイオ
ード１４を損傷するおそれが無い。これにより、生産性
を一段と向上させることができる。
処理することにより、マイクロコンピユータ２やＤＳＰ
のプログラムコードのバグによる、異常見逃しや不適切
な処理を回避することができる。これにより、レーザダ
イオード１４を損傷する機会を一段と減少させることが
できる。さらにマイクロコンピユータ２やＤＳＰを使用
せずに、光学ブロツク５を調整するときもレーザダイオ
ード１４を損傷するおそれが無い。これにより、生産性
を一段と向上させることができる。
【００３６】なお上述の実施例においては、駆動電流検
出部２４が抵抗Ｒ3 及びトランジスタＱ２で構成され、
駆動信号Ｓ２の電流値をトランジスタＱ２のコレクタ電
位に変換して検出する場合について述べたが、本発明は
これに限らず、異常検出手段は任意の構成で良い。この
場合にも上述と同様の効果を得ることができる。
出部２４が抵抗Ｒ3 及びトランジスタＱ２で構成され、
駆動信号Ｓ２の電流値をトランジスタＱ２のコレクタ電
位に変換して検出する場合について述べたが、本発明は
これに限らず、異常検出手段は任意の構成で良い。この
場合にも上述と同様の効果を得ることができる。
【００３７】また上述の実施例においては、異常処理部
２６に比較器３３を配し、この比較器３３でリセツト信
号Ｓ１３を生成する場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、異常処理手段で必ずしもリセツト信号を生
成しなくても良く、例えばマイクロコンピユータ２から
リセツト信号を与えても良い。
２６に比較器３３を配し、この比較器３３でリセツト信
号Ｓ１３を生成する場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、異常処理手段で必ずしもリセツト信号を生
成しなくても良く、例えばマイクロコンピユータ２から
リセツト信号を与えても良い。
【００３８】さらに上述の実施例においては、駆動信号
Ｓ２の電流値を制限する際、トランジスタＱ１のベース
電位を所定値に低下させる場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、例えばトランジスタＱ３のベース電
位を低下させる等、任意の方法で制限して良い。
Ｓ２の電流値を制限する際、トランジスタＱ１のベース
電位を所定値に低下させる場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、例えばトランジスタＱ３のベース電
位を低下させる等、任意の方法で制限して良い。
【００３９】さらに上述の実施例においては、駆動電流
検出部２４が生成した電流値検出信号Ｓ６によつて駆動
信号Ｓ２の値の異常を検出する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、電流値検出信号Ｓ６に加えて、
フオトダイオードが出力した光強度信号Ｓ３によつて異
常を検出する場合にも適用できる。
検出部２４が生成した電流値検出信号Ｓ６によつて駆動
信号Ｓ２の値の異常を検出する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、電流値検出信号Ｓ６に加えて、
フオトダイオードが出力した光強度信号Ｓ３によつて異
常を検出する場合にも適用できる。
【００４０】さらに上述の実施例においては、駆動信号
Ｓ２の値の異常を検出する際、駆動電流検出部２４が生
成した電流値検出信号Ｓ６を異常検出用基準電位と比較
する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例
えばトランジスタＱ３のエミツタと抵抗Ｒ2 との接続中
点の電位や抵抗Ｒ2 の中間の電位を異常検出用基準電位
と比較する場合にも適用できる。
Ｓ２の値の異常を検出する際、駆動電流検出部２４が生
成した電流値検出信号Ｓ６を異常検出用基準電位と比較
する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例
えばトランジスタＱ３のエミツタと抵抗Ｒ2 との接続中
点の電位や抵抗Ｒ2 の中間の電位を異常検出用基準電位
と比較する場合にも適用できる。
【００４１】さらに上述の実施例においては、駆動信号
を所定値に制限する際、異常検出部２５が生成した異常
検出信号Ｓ７を使用して制限する場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、フオトダイオード１０より
得た光強度信号Ｓ３に基づいて異常を検出する光量比較
手段、例えばレーザ異常検出部６が生成した検出信号Ｓ
４を使用して制限する場合にも適用できる。
を所定値に制限する際、異常検出部２５が生成した異常
検出信号Ｓ７を使用して制限する場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、フオトダイオード１０より
得た光強度信号Ｓ３に基づいて異常を検出する光量比較
手段、例えばレーザ異常検出部６が生成した検出信号Ｓ
４を使用して制限する場合にも適用できる。
【００４２】さらに上述の実施例においては、レーザダ
イオード１４を駆動する駆動信号Ｓ２を制限する場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、任意の発光手
段を駆動する駆動出力を制限する場合にも広く適用でき
る。
イオード１４を駆動する駆動信号Ｓ２を制限する場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、任意の発光手
段を駆動する駆動出力を制限する場合にも広く適用でき
る。
【００４３】さらに上述の実施例においては、マイクロ
コンピユータ２でレーザ駆動ブロツク２２を制御する場
合について述べたが、本発明はこれに限らず、ＤＳＰ
（Digital Signal Processor）や他の制御用集積回路等
のインテリジエンスチツプで制御する場合にも適用でき
る。
コンピユータ２でレーザ駆動ブロツク２２を制御する場
合について述べたが、本発明はこれに限らず、ＤＳＰ
（Digital Signal Processor）や他の制御用集積回路等
のインテリジエンスチツプで制御する場合にも適用でき
る。
【００４４】さらに上述の実施例においては、光磁気デ
イスク記録再生装置の発光制御系２０に本発明を適用す
る場合について述べたが、本発明はこれに限らず、デー
タを記録する際に、発光手段より得た光束を照射し、記
録面の蒸発、溶融等の変形や、光物性値の変化等、任意
の変化を与えてデータを記録したり、この任意の変化に
よるデータを再生する場合にも広く適用できる。
イスク記録再生装置の発光制御系２０に本発明を適用す
る場合について述べたが、本発明はこれに限らず、デー
タを記録する際に、発光手段より得た光束を照射し、記
録面の蒸発、溶融等の変形や、光物性値の変化等、任意
の変化を与えてデータを記録したり、この任意の変化に
よるデータを再生する場合にも広く適用できる。
【００４５】さらに上述の実施例においては、光磁気デ
イスクにデータを記録する場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、任意の形状を有する光記録媒体に、
発光手段が生成した光を使用してデータを記録したり再
生する場合にも広く適用できる。
イスクにデータを記録する場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、任意の形状を有する光記録媒体に、
発光手段が生成した光を使用してデータを記録したり再
生する場合にも広く適用できる。
【００４６】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、駆動出力
の値及び又は、発光手段が生成した光束量の値に基づい
て異常を検出したとき、プログラム制御する制御手段に
よる制御を経ずに、駆動出力制限手段によつて直ちに駆
動出力の値を制限することにより、発光手段の劣化や破
損を未然に防止し得る光記録媒体記録再生装置、発光駆
動装置及び集積回路を実現することができる。
の値及び又は、発光手段が生成した光束量の値に基づい
て異常を検出したとき、プログラム制御する制御手段に
よる制御を経ずに、駆動出力制限手段によつて直ちに駆
動出力の値を制限することにより、発光手段の劣化や破
損を未然に防止し得る光記録媒体記録再生装置、発光駆
動装置及び集積回路を実現することができる。
【図１】本発明による光記録媒体記録再生装置、発光駆
動装置及び集積回路の一実施例による光磁気デイスク記
録再生装置の発光制御系を示すブロツク図である。
動装置及び集積回路の一実施例による光磁気デイスク記
録再生装置の発光制御系を示すブロツク図である。
【図２】実施例によるレーザ駆動ブロツクの詳細な構成
の説明に供する接続図である。
の説明に供する接続図である。
【図３】実施例による異常処理手順の説明に供するフロ
ーチヤートである。
ーチヤートである。
【図４】従来の光磁気デイスク記録再生装置の発光制御
系を示すブロツク図である。
系を示すブロツク図である。
【図５】従来のレーザ駆動ブロツクの詳細な構成を示す
接続図である。
接続図である。
【図６】従来の異常処理手順を示すフローチヤートであ
る。
る。
１、２０……光磁気デイスク記録再生装置の発光制御
系、２……マイクロコンピユータ、３、２２……レーザ
駆動ブロツク、４、２３……レーザ駆動部、５……光学
ブロツク、６……レーザ異常検出部、７……ループ増幅
器、８……レーザパワー設定レジスタ、９、１３……電
位バツフア、１０……フオトダイオード、１１……駆動
電流発生回路、１２、２９、３１、３３……比較器、１
４……レーザダイオード、２４……駆動電流検出部、２
５……異常検出部、２６……異常処理部、２７……駆動
電流設定回路、２８……レベルシフト回路、３０……Ｄ
フリツプフロツプ、３２……スイツチ。
系、２……マイクロコンピユータ、３、２２……レーザ
駆動ブロツク、４、２３……レーザ駆動部、５……光学
ブロツク、６……レーザ異常検出部、７……ループ増幅
器、８……レーザパワー設定レジスタ、９、１３……電
位バツフア、１０……フオトダイオード、１１……駆動
電流発生回路、１２、２９、３１、３３……比較器、１
４……レーザダイオード、２４……駆動電流検出部、２
５……異常検出部、２６……異常処理部、２７……駆動
電流設定回路、２８……レベルシフト回路、３０……Ｄ
フリツプフロツプ、３２……スイツチ。
Claims (17)
- 【請求項１】発光手段と、上記発光手段を駆動する駆動
出力を生成する駆動出力生成手段と、上記駆動出力生成
手段をプログラムに従つて制御する制御手段とを有し、
上記発光手段が生成した光束を光記録媒体に照射して、
データを上記光記録媒体に記録及び又は再生する光記録
媒体記録再生装置において、 上記駆動出力の値及び又は上記光束量の値に基づいて、
上記制御手段による制御を経ずに、上記駆動出力を制限
する駆動出力制限手段を具えることを特徴とする光記録
媒体記録再生装置。 - 【請求項２】上記駆動出力に基づいて検出された上記駆
動出力の値を基準値と比較する駆動出力比較手段を有
し、 上記駆動出力制限手段は、 上記駆動出力比較手段の比較結果に基づいて、上記駆動
出力を制限することを特徴とする請求項１に記載の光記
録媒体記録再生装置。 - 【請求項３】上記駆動出力に基づいて、上記駆動出力の
値を検出する駆動出力値検出手段を有することを特徴と
する請求項１又は請求項２に記載の光記録媒体記録再生
装置。 - 【請求項４】上記光束量の値の検出結果を当該光束量の
基準値と比較する光量比較手段を有することを特徴とす
る請求項１に記載の光記録媒体記録再生装置。 - 【請求項５】上記発光手段は、レーザダイオードである
ことを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体記録再生
装置。 - 【請求項６】上記光記録媒体は、デイスク状光記録媒体
であることを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体記
録再生装置。 - 【請求項７】上記デイスク状光記録媒体は、光磁気デイ
スクであることを特徴とする請求項１又は請求項６に記
載の光記録媒体記録再生装置。 - 【請求項８】発光手段を駆動する駆動出力を生成する駆
動出力生成手段と、 上記駆動出力の値及び又は、上記発光手段が生成した光
束量の値に基づいて、プログラムに従つて制御する制御
手段による当該制御を経ずに、上記駆動出力を制限する
駆動出力制限手段とを具えることを特徴とする発光駆動
装置。 - 【請求項９】上記駆動出力に基づいて検出された上記駆
動出力の値を基準値と比較する駆動出力比較手段を有
し、 上記駆動出力制限手段は、 上記駆動出力比較手段の比較結果に基づいて、上記駆動
出力を制限することを特徴とする請求項８に記載の発光
駆動装置。 - 【請求項１０】上記駆動出力に基づいて、上記駆動出力
の値を検出する駆動出力値検出手段を有することを特徴
とする請求項８又は請求項９に記載の発光駆動装置。 - 【請求項１１】上記光束量の値の検出結果を当該光束量
の基準値と比較する光量比較手段を有することを特徴と
する請求項８に記載の発光駆動装置。 - 【請求項１２】上記発光手段は、レーザダイオードであ
ることを特徴とする請求項８に記載の発光駆動装置。 - 【請求項１３】基板上に、 発光手段を駆動する駆動出力を生成する駆動出力生成手
段と、 上記駆動出力の値及び又は、上記発光手段が生成した光
束量の値に基づいて、プログラムに従つて制御する制御
手段による当該制御を経ずに、上記駆動出力を制限する
駆動出力制限手段とを具えることを特徴とする集積回
路。 - 【請求項１４】上記駆動出力に基づいて検出された上記
駆動出力の値を基準値と比較する駆動出力比較手段を有
し、 上記駆動出力制限手段は、 上記駆動出力比較手段の比較結果に基づいて、上記駆動
出力を制限することを特徴とする請求項１３に記載の集
積回路。 - 【請求項１５】上記駆動出力に基づいて、上記駆動出力
の値を検出する駆動出力値検出手段を有することを特徴
とする請求項１３又は請求項１４に記載の集積回路。 - 【請求項１６】上記光束量の値の検出結果を当該光束量
の基準値と比較する光量比較手段を有することを特徴と
する請求項１３に記載の集積回路。 - 【請求項１７】上記発光手段は、レーザダイオードであ
ることを特徴とする請求項１３に記載の集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7276705A JPH09102137A (ja) | 1995-09-30 | 1995-09-30 | 光記録媒体記録再生装置、発光駆動装置及び集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7276705A JPH09102137A (ja) | 1995-09-30 | 1995-09-30 | 光記録媒体記録再生装置、発光駆動装置及び集積回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09102137A true JPH09102137A (ja) | 1997-04-15 |
Family
ID=17573184
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7276705A Pending JPH09102137A (ja) | 1995-09-30 | 1995-09-30 | 光記録媒体記録再生装置、発光駆動装置及び集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09102137A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008227005A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Ricoh Co Ltd | 光制御装置、画像形成装置、および光制御方法 |
-
1995
- 1995-09-30 JP JP7276705A patent/JPH09102137A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008227005A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Ricoh Co Ltd | 光制御装置、画像形成装置、および光制御方法 |
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