JPH0896368A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスクのトラックピッチを小さくするこ
とができ、高密度化を図ることができる。 【構成】 光ディスクのトラックに沿って配列された少
なくとも２つ検出領域で光ディスクからの反射光ビーム
が検出され、その検出信号の差が前後差信号として発生
される。この前後差信号からピットの中心、或いは、ピ
ットのエッジが検出される。このピットの検出信号を基
にトラックに固有のクロックを参照してデータが再生さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク装置に係
り、特に、光ディスクから情報を再生する光ディスク装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に光ディスクには、スパイラル状、
或いは、同心円状にトラッキングガイド、即ち、トラッ
クが設けられ、このトラックに情報が記録され、このト
ラックが検索されて情報が検索される。通常、光ディス
ク装置では、半導体レーザを含んだ光学ヘッドから光デ
ィスクのトラック上に光ビームが集光されて光スポット
がこのトラック上に形成され、強度変調された光ビーム
で情報が記録され、略一定強度の光ビームがトラック上
のピット等で変調されて情報が再生される。

【０００３】このような光ディスク装置では、光ビーム
が検索するトラックに隣接するトラックから影響、具体
的には、クロストークを受けないようにトラック間の間
隔、即ち、トラックピッチが定められている。通常、こ
のトラックピッチは、光ビームのスポットサイズと略同
等、或いは、このスポットサイズよりも大きく定められ
ている。

【０００４】通常、光ディスク装置では、光ディスクか
らの反射光ビームは、光学ヘッドに設けられた４分割デ
ィテクタで検出され、このディテクタからの検出信号が
加算されてこの和信号が再生信号として出力される。こ
の再生信号は、通常、基準信号レベルと比較されて２値
化されて再生データに変換される。この２値化では、マ
ーク間記録方式の場合、再生信号のピットの先端を包絡
線検波し、そのピットの先端を揃えた信号からダイオー
ドの順電圧分だけ離れた電圧をコンデンサに保持し、こ
の信号と再生信号を比較することにより、再生信号のピ
ークを検出している。また、マーク長記録の場合、出願
番号ＰＨ０４−０６５９７４に開示されるように、再生
信号がデータＰＬＬ回路からのチャージ幅信号に応じた
所定のスライスレベルで２値化される。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】従来の光ディスク装置
では、光ディスクの記録密度を上げるためにトラックピ
ッチを詰めてスポットサイズよりもトラックピッチを小
さくすると、隣接トラックからのクロストークの影響を
受ける為、むやみに光ディスクの密度を上げることがで
きない問題点がある。また、２値化回路では、光ディス
ク上に生じた欠陥によって再生信号の反射率が変化さ
れ、再生信号の振幅が変化されてエラーが発生され、特
に、マーク間記録方式においては、包絡線検波の時定数
によりピットの先端が揃うまでの間がエラーとなってし
まい、また、マーク長記録方式においては、エラーによ
りスライスレベルが振幅の中心以外の電圧に引き込んで
しまいエラーが伝搬してしまうという問題がある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明の目的は、光デ
ィスクのトラックピッチを小さくすることができ、高密
度化を図ることができる光ディスク装置を提供すること
にある。また、この発明の目的は、光ディスク上の欠陥
による反射率の変化、再生信号の振幅の変化によるエラ
ーを減少することができる光ディスク装置を提供するこ
とにある。

【０００７】この発明によれば、複数のトラックを有す
るとともにトラック上に記録マークを有する光ディスク
に光ビームを集光する集光手段と、トラック方向に沿っ
て配列された少なくとも２つ検出領域を有し、光ディス
クからの反射光ビームを検出する検出手段と、この検出
領域からの２つの検出信号の差を示す差信号を出力する
差信号手段と、前記差信号に基づいて前記記録マークを
示す情報を再生する信号処理手段と、を具備することを
特徴とする光ディスク装置が提供される。

【０００８】また、この発明によれば、複数のトラック
を有するとともにトラック上に記録マークを有する光デ
ィスクに光ビームを集光する集光手段と、トラック方向
に沿って配列された少なくとも２つ検出領域を有し、光
ディスクからの反射光ビームを検出する検出手段と、こ
の検出領域からの２つの検出信号の差を示す差信号を出
力する差信号手段と、クロック信号を出力するクロック
信号出力手段と、前記クロック信号と前記差信号に基づ
いて前記記録マークを示す情報を再生する信号処理手段
と、を具備することを特徴とする光ディスク装置が提供
される。

【０００９】更にこの発明によれば、複数のトラックを
有し、このトラックにマークを形成してこのマークの間
隔により情報が記録されるべき光ディスクに光ビームを
集光する集光手段と、この集光手段からの反射光ビーム
を検出するトラック方向に沿って配列された少なくとも
２つ検出領域を有する第１の検出手段と、この検出領域
からの２つの検出信号の差を取る差信号手段と、この検
出領域からの２つの検出信号の和を取る和信号手段と、
差信号をゼロレベルでスライスする第１の２値化手段
と、和信号を所定のレベルでスライスし、マークがある
ことを検出する第２の２値化手段と、上記第１、第２の
２値化手段からの信号を論理演算してマークの中心を検
出する第２の検出手段と、を具備したことを特徴とする
光ディスク装置が提供される。

【００１０】更にまた、この発明によれば、複数のトラ
ックを有し、このトラックにマークを形成してこのマー
クの長さにより情報を記録されるべき光ディスクに光ビ
ームを集光する集光手段と、この集光手段からの反射光
ビームを検出するトラック方向に沿って配列された少な
くとも２つ検出領域を有する第１の検出手段と、この検
出領域からの２つの検出信号の差を取る差信号手段と、
この差信号を微分信号に変換する変換手段と、この変換
手段からの微分信号をピーク値より所定の値だけゼロに
近いレベルでスライスし、マークのエッジを検出する第
１の２値化手段と、上記差信号手段からの信号をゼロレ
ベルからプラス側、マイナス側に所定の値だけずれたレ
ベルでスライスすることによりマークの立ち上がり部及
び立ち下がり部を検出する第２の２値化手段と、上記第
１、第２の２値化手段からの信号を論理演算してマーク
の立ち上がりエッジ、立ち下がりエッジを検出する第２
の検出手段と、を具備したことを特徴とする光ディスク
装置が提供される。

【００１１】

【作用】トラック方向に沿って少なくとも２分割された
検出領域からの検出信号の差が前後差信号として取ら
れ、この前後差信号でマークの中心、或いは、マークの
エッジが判別される為、光ディスクの上の隣接トラック
からのクロストークの影響を受け難くなる。また、この
ことから、スポットサイズよりもトラックピッチを小さ
くすることができ、高密度化を図ることができる。ま
た、同様に、光ディスク上の欠陥による反射率の変化、
再生信号の振幅の変化によるエラーを減少することがで
きるため、信頼性を上げることができる。

【００１２】

【実施例】以下、本発明の一実施例に係る光ディスク装
置ついて図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発
明の光ディスク装置、例えば、画像ファイリング装置の
概略の構成を示すブロック図である。図１に示すディス
ク装置においては、光検出器８、半導体レーザ１０及び
光学系が組み込まれた光学ヘッド３がキャリッジ（図示
せず）に載置され、リニアモータ２４によって光ディス
ク１の半径方向に移動可能に保持されている。このよう
な光学ヘッド３においては、半導体レーザ１０から発生
された光ビームがコリメータレンズ１１ａでコリメート
され、ハーフプリズム１１ｂを介して対物レンズ６にガ
イドされる。このレーザビームは、この対物レンズ６に
よって光ディスク１に集束される。この光ディスク１
は、モータ制御回路２９によって制御されているモータ
２によって一定の回転速度で回転されている。

【００１３】再生モード時には、半導体レーザ１０から
は、一定の光強度を有する再生レーザビームが発生さ
れ、記録モード時には、再生ビームの光強度よりも大き
な光強度に記録信号で強度変調された記録レーザビーム
が半導体レーザ１０から発生される。また、消去モード
では、再生ビームの光強度よりも大きな光強度の消去レ
ーザビームが半導体レーザ１０から発生される。

【００１４】光ディスク１からは、反射光ビームが再び
対物レンズ６に向けられ、この対物レンズ６からの反射
光ビームは、ハーフミラー１１ｂを通過して集光レンズ
１０ａ及びシリンドリカルレンズ１０ｂから成るフォ―
カスを検出する為の非点収差検出光学系に向けられる。
この検出光学系を通過した光ビームは、この光学系によ
って４つの光検出セル８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄを有する
光検出器８に集光され、この検出器８上に光ビームスポ
ットが形成される。対物レンズ６のフォ―カス状態に応
じて検出器８上に形成されるビームスポットの形状が変
化されることから、このビーム形状の変化を光検出セル
８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄで検出することによってフォ―
カスが検出される。また、光ディスク１のトラックを光
ビームが正しく追跡しているか否かを表す対物レンズ１
のトラッキング状態は、トラックの像が検出器８上のビ
ームスポットに形成されることから、このビームスポッ
トをを光検出セル８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄで検出するこ
とによってトラッキング状態が検出される。再生モード
時には、再生光ビームが光ディスクで反射の際に変調さ
れ、その変調された光ビームが光検出器８に入射される
ことから、光検出器８からの検出信号を処理することに
よって再生信号を発生することができる。

【００１５】光検出セル８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄは、増
幅器１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄに接続され、増幅
器１２ａ，１２ｃからの検出信号が加算器３０ａで加算
され、また、増幅器１２ｂ，１２ｄからの検出信号が加
算器３０ｂで加算され、加算器３０ａ及び３０ｂからの
加算信号が差動増幅器ＯＰ２に供給される。従って、２
つの加算信号の差に相当する差信号がフォ―カス信号と
してこの差動増幅器ＯＰ２から発生され、このフォ―カ
ス信号がフォ―カス制御回路２０に供給される。また、
増幅器１２ａ，１２ｄからの検出信号が加算器３０ｃで
加算され、また、増幅器１２ｂ，１２ｃからの検出信号
が加算器３０ｄで加算され、加算器３０ｃ及び３０ｄか
らの加算信号が差動増幅器ＯＰ１に供給される。従っ
て、加算信号の差に相当する差信号がトラッキング信号
としてこの差動増幅器ＯＰ１から発生され、トラッキン
グ信号がトラック制御回路２１に供給される。

【００１６】更に、この実施例に係る光ディスク装置に
おいては、図１に示すように増幅器１２ａ，１２ｂから
の検出信号が加算器３０ｅで加算され、また、増幅器１
２ｃ，１２ｄからの検出信号が加算器３０ｆで加算さ
れ、加算器３０ｅ，３０ｆからの加算信号は、加算器３
０ｇで加算されて再生信号として再生信号処理回路２２
に供給される。後に詳述するように加算器３０ｅ、３０
ｆからの検出信号が差動増幅器ＯＰ３に供給され、この
差信号が同様に再生信号処理回路２２に供給されてい
る。ここで、光検出器８上には、トラックの像が形成さ
れるが、このトラックの像の延出方向に沿って検出領域
８ａ，８ｂが配列され、また、検出領域８ｂ，８ｃが配
列されている。また、光ディスク１の回転に伴い光ビー
ムは、トラックを追跡してピットを検出することとな
り、光ビームスポットに現れるピットの影は、この光検
出器８を横切ることとなるが、その横切る順序は、検出
領域８ａ，８ｂを横切った後、検出領域８ｂ，８ｃを横
切るものとする。このような配列された検出領域８ａ，
８ｂ，８ｃ，８ｄでは、検出領域８ａ，８ｂからの検出
信号の加算信号でピットによる信号変化が生じ、その
後、検出領域８ｃ，８ｄからの検出信号の加算信号で同
様のピットによる信号変化が生じることとなる。即ち、
加算器３０ｅから前側の再生変化信号が生じ、加算器３
０ｆから後側の再生変化信号が生じることとなり、差動
増幅器ＯＰ３からは、両者の差に相当する前後差信号が
発生されることとなる。

【００１７】フォ―カス制御回路２０からは、フォーカ
シング駆動コイル５を駆動するコイル駆動信号がフォ―
カス信号に応じて発生され、対物レンズ６がフォーカシ
ング駆動コイル５によってその光軸方向に駆動され、対
物レンズ６が常にフォ―カス状態に維持され、光ビーム
が対物レンズ６によって光ディスク１上にフォ―カスさ
れる。また、トラック制御回路２１からは、トラッキン
グ用の駆動コイル４を駆動する駆動信号がトラッキング
信号に応じて発生され、対物レンズ６がその光軸に直交
する方向に移動され、常に光ディスク１上のトラックに
向けられる。従って、対物レンズ６は、トラック状態に
維持され、対物レンズ６からの光ビームは、ターゲット
トラックを追跡することとなる。

【００１８】トラッキング用の駆動コイル４で補正でき
る範囲を越えてトラックエラーが発生した場合には、リ
ニアモータ制御回路２３に与えられ、このリニアモータ
制御回路２３からリニアモータ２４に駆動信号が供給さ
れ、リニアモータ２４が駆動される。従って、光学ヘッ
ド３が載置されたキャリッジが移動され、キャリッジが
微動される。このとき、キャリッジの微動に連動してト
ラッキング用の駆動コイル４によって光ビームがターゲ
ットトラックを追跡するように対物レンズ６が移動され
る。このようにリニアモータ２４が作動されることによ
って、常にトラックエラーが補正可能な範囲に対物レン
ズ６が移動される。

【００１９】光学ヘッド３が載置されたキャリッジの位
置は、位置センサ２５によって検出され、その位置セン
サ２５からの位置信号は、リニアモータ制御回路２３、
Ｄ／Ａ変換器２６及びバス３２を介してＣＰＵ３４に伝
達される。従って、ＣＰＵ３４は、常にキャリッジの位
置を認識することができる。ターゲットトラックをアク
セスする際には、外部から入力されたターゲットトラッ
クのトラック番号と現在検索しているトラックのトラッ
ク番号とがＣＰＵ３４で比較され、その差に相当する移
動信号がこのＣＰＵ３４からＤ／Ａ変換器２６を介して
リニアモータ制御回路２３に与えられてリニアモータ２
４が駆動される。従って、アクセスの際には、迅速にキ
ャリッジが移動され、ターゲットトラックが検索され
る。このアクセスの際には、ＣＰＵ３４からＤ／Ａ変換
器２６を介してアクセス信号がフォ―カス制御回路２０
及びトラック制御回路２１に与えられ、対物レンズ６が
フォ―カス及びトラック動作に関してのホームポジショ
ンに移動される。

【００２０】再生モード時には、レーザ駆動回路２８か
ら一定レベルの再生駆動信号が半導体レーザ１０に与え
られて半導体レーザ１０が駆動され、再生光ビームがこ
の半導体レーザ１０から発生されるとともに再生信号処
理回路２２から再生信号を２値化した再生信号が発生さ
れ、データ処理回路２７に与えられ、再生信号が得られ
たトラックに固有のクロックを参照して再生データに変
換される。この再生データは、データバス３２を介して
ＣＰＵ３４に与えられ、メモリ３６に格納される。ま
た、記録モードでは、光ディスク装置外のシステム制御
装置３８からインターフェース４０を介して記録データ
がバス３２に供給され、ＣＰＵ３６の制御下の基に記録
データがデータ処理部２７に供給される。このデータ処
理部２７では、情報が書き込まれるベきトラックに固有
のクロックを参照して記録データが記録信号に変換され
る。この記録信号がレーザ駆動回路２８に供給され、こ
の記録信号に応じた駆動信号で半導体レーザ１０が駆動
され、半導体レーザ１０からは、記録信号に応じて強度
変調されたレーザビームが発生される。

【００２１】図２には、フォーマットされた光ディスク
が示されている。この光ディスクは、Ｍ・ＣＡＶ方式で
フォーマットされ、トラックが略同心円状に配列され、
半径方向に複数のトラックからなる複数の帯状の領域、
即ち、複数のゾーンに区分されるとともに円周方向に沿
ってデータを記録する単位としての複数のセクタに区分
され、各ゾーンでは、セクタ数が同一に設定されてい
る。また、各ゾーン毎に、そのゾーンに属するトラック
からデータを再生する為、及び、データを記録するの為
の夫々異なる固有の所定周波数を有するデータクロック
が定められ、そのトラックのヘッダ部ＰＦに予め記録さ
れている。

【００２２】光ディスク１の各ゾーンの各セクタは、予
めフォーマット情報として記録されているプリフォーマ
ットエリアとしてのヘッダ部ＰＦと後にユーザが情報を
記録するデータエリアとしてのデータフィールドとから
構成されている。ヘッダ部は、１セクタの開始を明示す
るセクタマーク部、データクロックを導出する同期コー
ドが記録されているＶＦＯ部、ＩＤ情報が記録されてい
るＩＤ部が複数個周期的に配列されている。また、デー
タフィ―ルドの最後尾には、次のセクターとデータフィ
―ルドとの境を明らかにする為にデータが書き込まれて
いないギャップ領域が設けられている。ＶＦＯ部、ＩＤ
情報部、データフィ―ルドは、（２−７）変調されたデ
ータで、“１”と“１”の間に“０”が２ヶ〜７ヶ挿入
された形式の変調データで光ディスク１上にピットマー
クが形成され、これが再生される。ＩＤ部には、ＩＤ情
報としてトラックナンバ、セクタナンバ及びＣＲＣコー
ドが記録されている。ＶＦＯ部には、「１００１００１
００…」のような一定周期で“１”が読み出される同期
コードが記録されている。

【００２３】これらの信号は、再生信号として図１に示
されたデータ処理回路２７に供給され、このデータ処理
回路２７において、各ゾーンに固有のデータクロックで
プリフォーマットデータとしてのＩＤ情報、即ち、アド
レス情報（トラック番号、セクタ番号等）及び再生デー
タが読み出される。

【００２４】図３（ａ）には、再生信号からデータを復
調する為のデータクロックが示され、このデータクロッ
クで読み出される光ディスク１の一部の領域が図３
（ｂ）に拡大して示されている。この光ディスク１で
は、溝５２とランド５３によりトラックが規定されてい
る。図３（ａ）に示すデータクロックにより、トラック
Ｔｒ及びこれに隣接するトラックＴｒ＋１，Ｔｒ−１の
ランド５３に、（２−７）変調のマーク間記録方式によ
りピットが記録されている。点線で示した円は、トラッ
クＴｒ上に集光されたビームスポット５４を示してい
る。この光ディスクでは、トラックＴｒ上のピットの中
心にスポットがあるとき、トラックＴｒ−１の同一クロ
ックのタイミングで記録されたピットの一部がビームス
ポット５４にかかるが、トラックＴｒ＋１の１クロック
分ずれた位置にあるピットは、ほとんどビームスポット
５４にかからないようなトラックピッチでトラックが光
ディスク１に形成され、また、書き込み時にこのような
タイミングでピットが形成されている。尚、図３（ｂ）
中の矢印は、光ディスク１のトラックを追跡するビーム
スポットの移動方向を示している。

【００２５】図４（ａ）及び（ｂ）には、図３と同様に
再生信号からデータを復調する為のデータクロック及び
このデータクロックで読み出される光ディスク１の一部
の領域が拡大して示されている。この光ディスク１で
は、（１−７）変調のマーク長記録方式によりピットが
記録されている。点線で示したビームスポット５４が矢
印で示す方向にトラックＴｒを追跡する際、光ビームス
ポットの先端がトラックＴｒ上のピットのエッジを脱出
するときに、このピットと同一タイミングのクロックで
トラックＴｒ＋１に記録されたピットにビームスポット
４がかかるが、トラックＴｒ−１上の対応するクロック
タイミングにあるピットの立ち下がりエッジには、ほと
んどスポット４がかからないようなトラックピッチでト
ラックが光ディスク１に形成されている。

【００２６】このようなトラックピッチとすることによ
って光ビームスポットが隣接するトラックのピットにそ
の一部がかかってクロストーク成分が再生信号に混入し
ても、後に説明するように差動増幅器ＯＰ３からの前後
差信号を利用して再生信号からクロストーク成分を除去
した２値化信号を得ることができる。即ち、前後差信号
を用いて情報を再生する場合には、光ビームスポット５
４がピットの中心に来たとき真横にピットがあったとし
ても、即ち、隣接トラックの同一クロック位置にピット
があったとしても、光検出器８の前側の光検出セル８
ａ，８ｂと後側の光検出セル８ｃ，８ｄが出力する信号
は等しくなり、隣接トラックからの影響を受けないで、
情報を再生することが可能になる。

【００２７】図５は、マーク間記録により記録された信
号を処理する信号処理回路２２の回路構成を示す回路図
である。この信号処理回路では、差動増幅器ＯＰ３で生
成された前後差信号が比較器５９の−端子に供給され、
比較器５９の＋端子に所定の電圧Ｖref1が入力されてい
る。この所定電圧Ｖref1は、光検出器８のトラック方向
の前側の光検出セル８ａ，８ｂの加算検出信号と後側の
光検出セル８ｃ，８ｄの加算検出信号が等しいときに差
動増幅器ＯＰ３から出力される電圧に定められている。
従って、この比較器５９からは、光ビームスポットがピ
ットの中心に位置された際、また、ピットがない部分に
位置された際に正論理の信号が出力される。

【００２８】また、加算器３０ｇで生成された加算信号
が比較器６０の＋端子に、比較器６０の−端子に所定電
圧Ｖref2が入力されている。この所定電圧Ｖref2は、光
ビームスポットがピットの中心に位置された際に加算器
３０ｇから出力される電圧と、ピットがない部分に位置
された際に加算器３０ｇから出力される電圧の間の電圧
に定められている。従って、比較器６０からは、ビーム
スポットがピットにかかったときに正論理の信号が出力
される。

【００２９】比較器１５，６０からの出力信号は、ＡＮ
Ｄ回路６１に入力され、ピットの中心で正論理になる信
号をデータ信号処理回路２７に出力し、データ信号処理
回路２７内の復調回路でこの信号から再生データが復調
される。

【００３０】図６を参照して図５に示した信号処理回路
の動作を説明する。図６（ａ）に示すように光ディスク
上のトラックに形成されたピットを点線で示す集光ビー
ムスポットが横切る場合には、差動増幅器ＯＰ３から
は、図６（ｂ）で示すような前後差信号が発生される。
この前後差信号は、図６（ａ）と図６（ｂ）との比較か
ら明かなように、ビームスポットがピットの無いところ
にあるときには、電圧Ｖref1付近に維持され、スポット
先端がピットにかかり始め、前側の光検出セル８ａ，８
ｂにだけピットからの反射光線が入ったときに上がりは
じめる。その後、後側の光検出セル８ｃ，８ｄにピット
からの反射光線が入り始めたところで前後差信号は、＋
側のピークを取り、下がりはじめる。ビームスポットが
ピットの中心に位置されると、前側の光検出セル８ａ，
８ｂと上記後側の光検出セル８ｃ，８ｄの出力信号が、
また、等しくなるため前後差信号の電圧は、電圧Ｖref1
になる。前側の光検出セル８ａ，８ｂにピットからの反
射光線がほとんど入らなくなり、後側の光検出セル８
ｃ，８ｄにだけピットからの反射光が入っているときに
前後差信号は、−側のピークを取り、上がりはじめ、ま
たピットがないところになると電圧Ｖref1付近の電圧に
なる。

【００３１】このような差動増幅器ＯＰ３からの前後差
信号を比較器５９で上記電圧Ｖref1と比較したときの比
較器５９からの出力信号は、図６（ｄ）のように変化
し、ピットのない部分とピットの中心で正論理の信号が
出力される。

【００３２】加算器３０ｇで生成された加算信号は、図
６（ｃ）で示すように、スポット先端がピットにかかり
始めたときに上がりはじめ、ピットの中心でピークを取
り、スポットがピットを過ぎるとまたもとの電圧に戻
る。

【００３３】このような加算器３０ｇからの加算信号を
比較器６０で上記電圧Ｖref2と比較したときの出力信号
は、図６（ｅ）のようになり、ピットからの反射光線が
光検出器１３に所定の量入ったときに正論理の信号を出
すこととなる。

【００３４】ＡＮＤ回路２１の入力に図（ｄ）及び
（ｅ）の出力信号を入力したときには、ＡＮＤ回路２１
の出力信号は、図６（ｆ）のようになり、ピットの中心
でのみ正論理の信号を出すようになる。

【００３５】以上説明したように図５に示した回路で
は、マーク間記録の２値化に前後差信号を用いているた
め常に信号がゼロレベルを中心になり、ピットの中心で
ゼロレベルになるため、ピットより十分に大きな部分の
反射率の変化や記録パワーによるピットの大きさの変化
があっても正しくピットの中心で信号を出すことが可能
となる。

【００３６】図７は、マーク長記録により記録された信
号を処理する信号処理回路２２の回路図を示している。
この信号処理回路では、差動増幅器１６で生成された前
後差信号がコンデンサ、抵抗及びＯＰアンプで構成され
た微分回路７２に入力されて微分信号に変換される。こ
の微分信号は、抵抗Ｒ１，Ｒ２、ダイオードＤ１，Ｄ
２、コンデンサＣ及び比較器７４からなる２値化回路７
３に入力され、双方向に並べたダイオードＤ１，Ｄ２の
順電圧と抵抗Ｒ１，Ｒ２により分割され、比較器７４の
−端子の電位差を抵抗Ｒ２とコンデンサＣで平滑化し、
２値化の判定点を得て２値化を行い、ピットのエッジが
スポットの中心に来たときと、ピットの立ち下がりエッ
ジがスポットにかかったときに正論理の信号を出すよう
になる。

【００３７】また、差動増幅器ＯＰ３で生成された前後
差信号を比較器７５の＋端子に、比較器７５の−端子
に、スポットがピットの立ち上がりエッジにかかったと
きに差動増幅器ＯＰ３から出力される所定の電圧Ｖref3
が入力され、比較器７５の出力信号として光ビームスポ
ットがピットの立ち上がりエッジにスポットがかかった
ときに正論理の信号が出力されるようになっている。

【００３８】また、差動増幅器ＯＰ３で生成された前後
差信号を比較器７６の−端子に、比較器７６の＋端子
に、スポットがピットの立ち下がりエッジにかかったと
きに差動増幅器ＯＰ３から出力される所定の電圧Ｖref4
が入力され、上記比較器７６の出力信号としてピットの
立ち下がりエッジスポットがかかったときに正論理の信
号が出力されるようになっている。

【００３９】２値化回路７３の出力信号と比較器７５の
出力信号をＡＮＤ回路７７の入力に入力することによ
り、スポットの中心がピットの立ち上がりエッジに来た
ときに正論理の信号が出力される。

【００４０】また、２値化回路７３の出力信号と比較器
７６の出力信号をＡＮＤ回路７８の入力に入力すること
により、スポットの中心がピットの立ち下がりエッジに
来たときに正論理の信号が出力される。

【００４１】ＡＮＤ回路７７，７８の出力信号をＯＲ回
路７９に入力することにより、スポットの中心にピット
のエッジが来たときに正論理の信号を出力するようにな
る。図８は、図７で示した回路の各部分の信号波形を示
すものである。図８（ａ）のような光ディスク上のトラ
ックに形成されたピットを点線で示す集光スポットで再
生したとき、差動増幅器ＯＰ３で生成された前後差信号
は、図８（ｂ）に示すように、スポットがピットの無い
ところにあるときには、電圧Ｖref1付近に維持されてい
る。ビームスポットがピットにかかり始め前側の光検出
セル８ａ，８ｂにだけピットからの反射光線が入ったと
きに上がりはじめ、後側の光検出セル８ｃ，８ｄにピッ
トからの反射光線が入り始めたところで＋側のピークを
取り、下がりはじめる。ビームスポットピットの中心に
至ると、また、前側の光検出セル８ａ，８ｂと後側の光
検出セル８ｃ，８ｄの出力信号が等しくなるため、前後
差信号は、電圧Ｖref1になる。前側の光検出セル８ａ，
８ｂにピットからの反射光線がほとんど入らなくなり、
後側の光検出セル８ｃ，８ｄにだけピットからの反射光
線が入っているときに、前後差信号は、−側のピークを
取り、上がりはじめ、またピットがないところになると
上記電圧Ｖref1付近になる。

【００４２】このような差動増幅器ＯＰ３からの前後差
信号を上記微分回路７２で微分変換した微分信号は、図
８（ｃ）の実線に示すように、スポットがピットの立ち
上がりエッジにかかり始めたときに上がりはじめ、スポ
ットの中心にピットの立ち上がりエッジが来たときにピ
ークを取る。また、スポットの中心がピットの立ち上が
りエッジを過ぎると下がりはじめ、もとの値以下にな
り、スポットがピットの立ち上がりエッジを過ぎるとも
との値に戻るようになる。更に、スポットがピットの立
ち下がりエッジにかかると、微分信号は、この逆に変化
する信号となる。

【００４３】２値化回路７３に含まれる比較器７４の＋
端子の信号は、図８（ｃ）の実線と同じ波形となり、−
端子の信号は、図８（ｃ）の破線で示すように、＋端子
の信号と−端子の信号の差がダイオードの順電圧になる
と＋端子の信号に追従し、その他のときはその電圧を保
持するような信号になる。

【００４４】この図８（ｃ）の２つの信号を比較器７４
で比較することにより、比較器７４の出力信号は、図８
（ｄ）のように、スポットの中心にエッジが来たとき
と、スポットがピットの立ち下がりエッジにかかったと
きに正論理となる信号となる。

【００４５】差動増幅器ＯＰ３からの前後差信号を比較
器７５，７６によりそれぞれ上記所定の電圧Ｖref3，Ｖ
ref4と比較することにより図８（ｅ）、（ｆ）のような
スポットがピットの立ち上がりエッジにかかったとき
と、スポットがピットの立ち下がりエッジにかかったと
きに正論理となる信号になる。

【００４６】図８（ｄ）と図８（ｅ）をＡＮＤ回路２７
に、図８（ｄ）と図８（ｆ）をＡＮＤ回路７８に入力す
ることにより、それぞれの出力信号は図８（ｇ）、図８
（ｈ）となり、この信号をＯＲ回路７９に入力すること
により、図８（ｉ）のようにスポットの中心がピットの
エッジに来たときに正論理の信号となる。

【００４７】以上説明したように図７に示す回路におい
ては、マーク長記録の２値化に前後差信号を用いている
ため常に信号がゼロレベルを中心になるため、ピットよ
り十分に大きな部分の反射率の変化があっても正しくピ
ットのエッジで信号を出すことが可能となる。

【００４８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光ディスクの上の隣接トラックからのクロストークの影
響を受け難くなるため、スポットサイズよりもトラック
ピッチを小さくすることができるため、高密度化を図る
ことができる。また、光ディスク上の欠陥による反射率
の変化、再生信号の振幅の変化によるエラーを減少する
ことができるため、信頼性を上げることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例に係る光ディスク装置を概
略的に示すブロック図。

【図２】光ディスク装置で用いられる光ディスクを示す
平面図。

【図３】データ再生用のクロックとマーク間記録方式で
トラック上に記録されたマークとの関係を示すタイミン
グチャート及び平面図。

【図４】データ再生用のクロックとマーク長記録方式で
トラック上に記録されたマークとの関係を示すタイミン
グチャート及び平面図。

【図５】図１に示された信号処理回路であってマーク間
記録方式を採用した信号処理回路の詳細を示すブロック
図。

【図６】図５に示されたマーク間記録方式の信号処理回
路の各部分の信号波形図。

【図７】図１に示された信号処理回路であってマーク長
記録方式を採用した信号処理回路の詳細を示すブロック
図。

【図８】図７に示されたマーク長記録方式の信号処理回
路の各部分の信号波形図。

【符号の説明】

１・・・光ディスク ３・・・光学ヘッド ８・・・光検出器 １０・・・半導体レーザ ２２・・・信号処理部 ２７・・・データ処理部 ＯＰ３・・・差動増幅器 ５２・・・グルーブ ５３・・・ランド

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数のトラックを有するとともにトラック
   上に記録マークを有する光ディスクに光ビームを集光す
   る集光手段と、 トラック方向に沿って配列された少なくとも２つ検出領
   域を有し、光ディスクからの反射光ビームを検出する検
   出手段と、 この検出領域からの２つの検出信号の差を示す差信号を
   出力する差信号手段と、 前記差信号に基づいて前記記録マークを示す情報を再生
   する信号処理手段と、を具備することを特徴とする光デ
   ィスク装置。
2. 【請求項２】複数のトラックを有するとともにトラック
   上に記録マークを有する光ディスクに光ビームを集光す
   る集光手段と、 トラック方向に沿って配列された少なくとも２つ検出領
   域を有し、光ディスクからの反射光ビームを検出する検
   出手段と、 この検出領域からの２つの検出信号の差を示す差信号を
   出力する差信号手段と、 クロック信号を出力するクロック信号出力手段と、 前記クロック信号と前記差信号に基づいて前記記録マー
   クを示す情報を再生する信号処理手段と、 を具備することを特徴とする光ディスク装置。
3. 【請求項３】複数のトラックを有し、このトラックにマ
   ークを形成してこのマークの間隔により情報が記録され
   るべき光ディスクに光ビームを集光する集光手段と、 この集光手段からの反射光ビームを検出するトラック方
   向に沿って配列された少なくとも２つ検出領域を有する
   第１の検出手段と、 この検出領域からの２つの検出信号の差を取る差信号手
   段と、 この検出領域からの２つの検出信号の和を取る和信号手
   段と、 差信号をゼロレベルでスライスする第１の２値化手段
   と、 和信号を所定のレベルでスライスし、マークがあること
   を検出する第２の２値化手段と、 上記第１、第２の２値化手段からの信号を論理演算して
   マークの中心を検出する第２の検出手段と、 を具備したことを特徴とする光ディスク装置。
4. 【請求項４】複数のトラックを有し、このトラックにマ
   ークを形成してこのマークの長さにより情報を記録され
   るべき光ディスクに光ビームを集光する集光手段と、 この集光手段からの反射光ビームを検出するトラック方
   向に沿って配列された少なくとも２つ検出領域を有する
   第１の検出手段と、 この検出領域からの２つの検出信号の差を取る差信号手
   段と、 この差信号を微分信号に変換する変換手段と、 この変換手段からの微分信号をピーク値より所定の値だ
   けゼロに近いレベルでスライスし、マークのエッジを検
   出する第１の２値化手段と、 上記差信号手段からの信号をゼロレベルからプラス側、
   マイナス側に所定の値だけずれたレベルでスライスする
   ことによりマークの立ち上がり部及び立ち下がり部を検
   出する第２の２値化手段と、 上記第１、第２の２値化手段からの信号を論理演算して
   マークの立ち上がりエッジ、立ち下がりエッジを検出す
   る第２の検出手段と、 を具備したことを特徴とする光ディスク装置。