JPH088285A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH088285A
JPH088285A JP6164520A JP16452094A JPH088285A JP H088285 A JPH088285 A JP H088285A JP 6164520 A JP6164520 A JP 6164520A JP 16452094 A JP16452094 A JP 16452094A JP H088285 A JPH088285 A JP H088285A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pellet
wire
resin
holding
bonding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6164520A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukihiro Sato
幸弘 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Tohbu Semiconductor Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP6164520A priority Critical patent/JPH088285A/ja
Publication of JPH088285A publication Critical patent/JPH088285A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/4847Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
    • H01L2224/48472Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/4901Structure
    • H01L2224/4903Connectors having different sizes, e.g. different diameters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/787Means for aligning
    • H01L2224/78743Suction holding means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/787Means for aligning
    • H01L2224/78743Suction holding means
    • H01L2224/78744Suction holding means in the lower part of the bonding apparatus, e.g. in the apparatus chuck
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/788Means for moving parts
    • H01L2224/78821Upper part of the bonding apparatus, i.e. bonding head, e.g. capillary or wedge
    • H01L2224/78822Rotational mechanism
    • H01L2224/78823Pivoting mechanism
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/852Applying energy for connecting
    • H01L2224/85201Compression bonding
    • H01L2224/85205Ultrasonic bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1015Shape
    • H01L2924/1016Shape being a cuboid
    • H01L2924/10162Shape being a cuboid with a square active surface
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/35Mechanical effects
    • H01L2924/351Thermal stress

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 タブを省略しながら、ワイヤボンディング工
程および樹脂封止体の成形工程でペレットを固定できる
半導体装置を提供する。 【構成】 インナリード5とは別の吊りリード7とペレ
ット8との間に橋絡された4本の保持用ワイヤ9によ
り、ペレット8が樹脂封止体11の内部で保持されてい
る。保持用ワイヤ9はペレット8の四隅に配線され、剛
性の高いアルミニウムワイヤ材により低いアーチで超音
波ボンディング方式で橋絡されている。 【効果】 タブが省略されているため、ペレットと樹脂
封止体との間に金属製タブが介在する場合に比べて熱膨
張係数差による熱ストレスの影響が抑制され、樹脂封止
体のクラックを防止できる。ワイヤボンディング作業、
樹脂封止体の成形作業に際して、保持用ワイヤでペレッ
トを保持できるため、ペレットが動くのを防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置、特に、樹
脂封止形パッケージを備えている半導体装置における熱
ストレスや水分等により影響を受ける耐湿性能向上技術
に関し、例えば、表面実装形樹脂封止パッケージを備え
ている半導体装置に利用して有効なものに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、樹脂封止形パッケージを備えて
いる半導体装置は、リードフレームのタブに半導体ペレ
ット(以下、ペレットという。)がペレットボンディン
グされ、続いて、ペレットの電極パッドと各インナリー
ドとの間にワイヤがワイヤボンディングされた後、樹脂
封止体がペレット、タブ、インナリードおよびワイヤを
樹脂封止するように成形されることにより、製造されて
いる。
【0003】このような樹脂封止形パッケージを備えて
いる半導体装置において、樹脂封止パッケージの耐湿性
能を高めるものとして、特開昭59−16357号公報
に記載されている半導体装置がある。すなわち、この樹
脂封止形パッケージを備えている半導体装置は、タブ
(アイランド)おけるペレットがボンディング部分(素
子が搭載または密着される部分)の一部あるいは数箇所
が打ち抜かれていることを特徴とする。そして、この半
導体装置においては、タブの打ち抜かれた部分に樹脂封
止体の樹脂が充填された状態になるため、その分、樹脂
体積が増加され、この部分の樹脂封止体が等価的に厚く
なり、その結果、熱ストレスや水分等に強くなり耐湿性
能が向上されることになる。
【0004】ところで、半導体装置の電気的作動の観点
からすると、タブは省略することができる。そこで、従
来、特開昭61−141162号公報に記載されている
ように、ペレットとインナリードとの間に橋絡されたワ
イヤ群自体によってペレットを保持することにより、タ
ブを省略した樹脂封止形パッケージを備えている半導体
装置が提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
たタブの一部を打ち抜くことによって耐湿性能が向上さ
れる半導体装置においては、その性質上、耐湿性能の向
上に限界がある。すなわち、熱ストレスや水分の溜まり
によって樹脂封止体にクラックが発生される原因は、ペ
レット、樹脂封止体およびタブをそれぞれ構成する材料
(シリコン、樹脂、金属)の熱膨張係数差に起因するた
め、樹脂封止体に樹脂封止されたシリコンペレットが金
属製のタブにボンディングされている限り、熱膨張係数
差の影響を受けクラックが発生することになる。
【0006】また、ペレットがタブにボンディングされ
ている限り、ペレットの大きさがタブの大きさに制約を
受けるため、ペレットの設計の自由度が抑制されてしま
うという問題点がある。
【0007】本発明の第1の目的は、タブを省略するこ
とができる半導体装置を提供することにある。
【0008】確かに、半導体装置の電気的作動の観点か
らすると、タブは省略することができる。しかし、タブ
は半導体装置の製造の観点から必要である。すなわち、
ペレットとインナリードとの間にワイヤが橋絡されるワ
イヤボンディング工程において、ペレットとインナリー
ドとの位置関係を固定させるために、インナリード群に
フレーム(外枠)を介して一体になったタブにペレット
が固定される。また、ペレットおよびインナリード群を
樹脂封止する樹脂封止体がトランスファー成形されるに
際して、ペレットおよびワイヤが成形装置のキャビティ
ーに圧入された樹脂によって流されるのを防止するため
に、タブによってペレットを強固に保持する必要があ
る。
【0009】したがって、本発明の第2の目的は、ワイ
ヤボンディング工程および樹脂封止体の成形工程におい
てペレットを固定することができる半導体装置を提供す
ることにある。
【0010】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0011】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
【0012】すなわち、半導体ペレットと、半導体ペレ
ットの周囲に配設されている複数本のインナリードと、
半導体ペレットの電極および各インナリードに両端部を
ボンディングされて橋絡されているワイヤと、半導体ペ
レット、インナリードおよびワイヤを樹脂封止する樹脂
封止体とを備えている半導体装置において、前記インナ
リードとは別の吊りリードと前記半導体ペレットとの間
に橋絡された4本の保持用ワイヤにより、前記半導体ペ
レットが前記樹脂封止体の内部において保持されている
ことを特徴とする。
【0013】また、前記した手段において、保持用ワイ
ヤが半導体ペレットの四隅にそれぞれ配線されているこ
とを特徴とする。
【0014】さらに、前記した第1または第2の手段に
おいて、保持用ワイヤが剛性の高いワイヤ材が用いられ
て低いアーチで超音波ボンディング方式によって橋絡さ
れていることを特徴とする。
【0015】
【作用】前記した第1の手段によれば、半導体ペレット
が4本の保持用ワイヤによって樹脂封止体の内部におい
て保持されることにより、ペレットを固定するためのタ
ブは省略された状態になっているため、半導体ペレット
の裏面は樹脂封止体の樹脂に直接的に接着した状態にな
っている。したがって、半導体ペレットと樹脂封止体の
樹脂との間に金属製のタブが介在する場合に比べて、熱
膨張係数差による熱ストレスの影響が抑制されるため、
樹脂封止体にクラックが発生するのを防止することがで
きる。
【0016】また、半導体ペレットが4本の保持用ワイ
ヤによって保持されるため、ワイヤボンディング作業に
際して、半導体ペレットとインナリード群との位置関係
を維持することができ、ワイヤボンディング作業を適正
かつ効率良く実行させることができる。同様に、樹脂封
止体の成形作業に際して、保持用ワイヤによって半導体
ペレットを保持することができるため、成形装置のキャ
ビティーに圧入された樹脂によって半導体ペレットが動
かされるのを防止することができる。
【0017】前記した第2の手段によれば、保持用ワイ
ヤが半導体ペレットの四隅にそれぞれ配線されているこ
とにより、半導体ペレットを予め設定された平面内にお
いて傾斜を確実に抑止した状態で固定することができる
ため、前記した第1の手段の作用をより一層確実に発揮
させることができる。
【0018】さらに、前記した第3の手段によれば、保
持用ワイヤが剛性の高いワイヤ材が用いられて低いアー
チで半導体ペレットと保持用リードとの間に橋絡されて
いることにより、半導体ペレットが保持用ワイヤによっ
てより一層強固に固定されるため、前記した第1の手段
の作用をより一層確実に発揮させることができる。しか
も、保持用ワイヤが超音波ボンディング方式によってボ
ンディングすることにより、保持用ワイヤの剛性はより
一層高められることになる。
【0019】
【実施例】図1は本発明の一実施例である樹脂封止形Q
FP・ICを示しており、(a)は一部切断平面図、
(b)は(a)のb−b線に沿う正面断面図である。図
2以降はその製造方法を示す各説明図である。
【0020】本実施例において、本発明にかかる半導体
装置は、高密度実装を実現するための半導体集積回路装
置(以下、ICという。)である樹脂封止形クワッド・
フラット・パッケージを備えているIC(以下、QFP
・ICという。)として構成されている。この樹脂封止
形QFP・IC12はシリコン半導体ペレット(以下、
ペレットという。)8と、ペレット8の周囲に配設され
ている複数本のインナリード5と、ペレット8の各電極
パッドおよび各インナリード5にその両端部をそれぞれ
ボンディングされて橋絡されている接続用ワイヤ(以
下、単にワイヤということがある。)10と、4本の保
持用ワイヤ9と、保持用ワイヤ9を吊持するための吊り
リード7と、これらを樹脂封止する樹脂封止体11とを
備えており、ペレット8は樹脂封止体11内において保
持用ワイヤ9によって保持された状態になっている。そ
して、このQFP・IC12は次のような製造方法によ
り製造されている。
【0021】以下、この樹脂封止形QFP・ICの製造
方法を説明する。この説明により、前記QFP・ICに
ついての構成の詳細が明らかにされる。
【0022】本実施例において、樹脂封止形QFP・I
Cの製造方法には、図2に示されている多連リードフレ
ーム1が使用されている。この多連リードフレーム1は
燐青銅や無酸素銅等のような銅系(銅またはその合金)
材料からなる薄板が用いられて、打ち抜きプレス加工ま
たはエッチング加工等のような適当な手段により一体成
形されている。この多連リードフレーム1には複数の単
位リードフレーム2が横方向に1列に並設されている。
但し、便宜上、一単位についてのみ説明および図示され
ている。
【0023】単位リードフレーム2は位置決め孔3aが
開設されている外枠(フレーム)3を備えており、外枠
3は正方形の枠形状に形成されている。外枠3の内側に
はダム部材4が正方形の枠形状に同心に配されて、一体
的に吊持されている。ダム部材4の内側には複数本のイ
ンナリード5が放射状に突設されており、各インナリー
ド5の内側端部は先端が後記するペレットに近接されて
これを取り囲むように配設されている。他方、ダム部材
4の外側には複数本のアウタリード6が、ダム部材4と
直交して各インナリード5に一体的に連結するように突
設されており、各アウタリード6の外側先端は外枠3に
接続されている。そして、ダム部材4における隣り合う
アウタリード6、6間の部分は後述する樹脂封止体の成
形時にレジンの流れをせき止めるダム4aを実質的に構
成している。
【0024】この単位リードフレーム2には通常のリー
ドフレームにおいて設けられるタブが設けられていな
い。そして、ダム部材4のコーナー部には4本の吊りリ
ード7がそれぞれ、正方形枠の対角線に沿って内向きに
突設されており、各吊りリード7の先端はインナリード
5の先端に揃えられている。
【0025】前記構成にかかる多連リードフレームにお
いてはタブが廃止されているため、ワイヤボンディング
作業が実施される以前に、図2に示されているように、
ペレット8の4箇所のコーナー部と4本の吊りリード7
との間に保持用ワイヤ9がそれぞれ橋絡される。この保
持用ワイヤ9のワイヤボンディング作業は、多連リード
フレームが横方向にピッチ送りされることにより、各単
位リードフレーム2毎に順次実施される。
【0026】ここで、保持用ワイヤ9のワイヤボンディ
ング作業について説明する。この保持用ワイヤ9の素材
としては比較的に線径の大きい(例えば、125μm〜
500μm)アルミニウムワイヤ材が使用され、このア
ルミニウムワイヤ材のボンディング作業には超音波式ワ
イヤボンディング装置が使用される。超音波式ワイヤボ
ンディング装置はペレット8の4箇所のコーナー部にそ
れぞれ形成された保持用ボンディングパッド8bと、各
単位リードフレーム2の4本の吊りリード7との間に保
持用ワイヤ9をそれぞれ橋絡させることにより、ペレッ
ト8を吊りリード7に保持用ワイヤ9によって吊持させ
るように構成されている。
【0027】図3に示されているように、この超音波式
ワイヤボンディング装置20はフィーダ21を備えてお
り、フィーダ21は多連リードフレーム1を長手方向に
ついて摺動自在に保持して、単位リードフレーム2のピ
ッチをもって歩進送りし得るように構成されている。フ
ィーダ21には真空吸着チャック22がペレット8を真
空吸着保持し得るように設備されている。
【0028】フィーダ21におけるボンディングステー
ジの外部にはXYテーブル23がXY方向に移動し得る
ように設備されており、XYテーブル23上にはボンデ
ィングヘッド24が搭載されている。ボンディングヘッ
ド24にはボンディングアーム25が基端を回転自在に
軸支されて支持されており、このアーム25はその先端
に固設されたボンディングツールとしてのウエッジ26
を上下動させるように、カム機構(図示せず)により駆
動されるように構成されている。また、ボンディングヘ
ッド24にはボンディングアーム25を通じてウエッジ
26を超音波振動させる超音波発振装置27が設備され
ている。
【0029】ボンディングアーム25の上側にはクラン
パアーム28が一対、電磁プランジャ機構等のような適
当な手段(図示せず)によりクランピング作動されるよ
うに設備されており、両アーム28、28の各先端はキ
ャピラリー26の真上位置に配されてクランパ29を構
成している。クランパ29にはリール(図示せず)から
繰り出される保持用ワイヤ素材であるアルミニウムワイ
ヤ材(後記する。)がガイド30を介して挿通されてお
り、アルミニウムワイヤ材はさらにウエッジ26に挿通
されている。
【0030】ここで、本実施例においては、ペレット8
を吊りリード7に保持させるための保持用ワイヤ9の素
材として、断面真円形の細線形状に形成されているアル
ミニウムワイヤ材31が使用される。しかも、このアル
ミニウムワイヤ材31の太さは接続用ワイヤ10に使用
される線径よりも極太で、橋絡された後の保持用ワイヤ
9におけるアーチの剛性が充分に確保される値に設定さ
れている。このように構成されているアルミニウムワイ
ヤ材31は図3に示されているように、ガイド30およ
びクランパ29を介してウエッジ26の挿通孔に予め挿
通される。
【0031】前記構成に係る単位リードフレーム2がフ
ィーダ21におけるボンディングステージにピッチ送り
されて間欠停止されると、リードフレーム押さえ具32
が下降されることにより、単位リードフレーム2が押さ
え具32により押さえつけられる。続いて、集積回路を
作り込まれたペレット8がフィーダ21の真空吸着チャ
ック22上に真空吸着コレット(図示せず)等のような
適当な手段により供給されて、これに真空吸着保持され
る。このとき、ペレット8は単位リードフレーム2にお
けるインナリード5群に対して位置合わせされる。その
後、XYテーブル23が適宜移動される。
【0032】続いて、ウエッジ26がボンディングアー
ム25を介してボンディングヘッド24により下降さ
れ、アルミニウムワイヤ材31の先端部が、ペレット8
におけるコーナー部に形成された4個の保持用ボンディ
ングパッド8bのうち、最初にボンディングするボンデ
ィングパッド8bに押着される。このとき、ウエッジ2
6に超音波振動が付勢されるため、アルミニウムワイヤ
材31の先端部はペレット8のパッド8b上に超音波圧
接される。
【0033】第1ボンディング部が形成された後、ウエ
ッジ26がXYテーブル23およびボンディングヘッド
24により、低いアーチをもって3次元的に相対移動さ
れ、4本の吊りリード7のうち、最初に第2ボンディン
グすべき吊りリード7の先端部にアルミニウムワイヤ材
31の中間部が押着される。このとき、ウエッジ26に
超音波振動が付勢されるため、アルミニウムワイヤ材3
1の押着部は吊りリード7の上に超音波圧接される。
【0034】第2ボンディング部が形成されると、クラ
ンパ29によってアルミニウムワイヤ材31が把持さ
れ、クランパ29がウエッジ26と一緒に第2ボンディ
ング部から相対的に離反移動される。この離反移動によ
り、アルミニウムワイヤ材31は第2ボンディング部か
ら引き千切られる。これにより、ペレット8の保持用ボ
ンディングパッド8bと吊りリード7との間には、保持
用ワイヤ9が低いアーチをもって橋絡されることにな
る。
【0035】その後、第2ボンディング作業を終えたア
ルミニウムワイヤ材31に対するクランパ29の把持が
解除されるとともに、ウエッジ26が若干上昇されるこ
とにより、アルミニウムワイヤ材31の先端部が第1ボ
ンディング部の形成に必要な長さだけ相対的に突き出さ
れる(所謂、テール出し動作である。)。
【0036】以降、前記作動が繰り返し実施されること
により、残りの保持用ボンディングパッド8bと吊りリ
ード7との間に保持用ワイヤ9が順次橋絡されて行く。
【0037】その後、一つの単位リードフレーム2につ
いての保持用ワイヤ9のワイヤボンディング作業が終了
すると、リードフレーム押さえ具32が上昇され、次の
単位リードフレーム2がボンディングステージの所へ位
置するように多連リードフレーム1が1ピッチ送られ
る。以後、各単位リードフレーム2について前記保持用
ワイヤ9のワイヤボンディング作業が順次実施されて行
く。
【0038】以上のようにしてペレット8が単位リード
フレーム2の吊りリード7に保持用ワイヤ9によって保
持された多連リードフレーム1には、図4に示されてい
るように、ペレット8の電極パッド8bと各インナリー
ド5との間に電気的接続のためのワイヤ10がそれぞれ
ボンディングされる。この接続用ワイヤ10のワイヤボ
ンディング作業は通常のワイヤボンディング作業と同一
であるので、その説明は省略する。そして、この接続用
ワイヤ10の素材としては、金ワイヤや銅ワイヤが使用
され、その太さは30μm程度である。
【0039】この接続用ワイヤ10のワイヤボンディン
グ作業に際して、ペレット8はその4箇所のコーナー部
が4本の吊りリード7に保持用ワイヤ9によって保持さ
れているため、ペレット8の各電極パッド8bと各イン
ナリード5群との位置関係を維持することができ、ワイ
ヤボンディング作業を適正かつ効率良く実行させること
ができる。
【0040】しかも、本実施例においては、保持用ワイ
ヤ9がペレット8の4箇所のコーナー部に放射状に橋絡
されているため、ペレット8を4本の吊りリード7が構
成する平面内において傾斜を確実に抑止した状態で固定
することができる。このため、ペレット8の各電極パッ
ド8bと各インナリード5群との位置関係を確実に維持
することができ、ワイヤボンディング作業をより一層適
正かつ効率良く実行させることができる。
【0041】さらに、本実施例においては、保持用ワイ
ヤ9が剛性が高く線径の太いアルミニウムワイヤ材31
が用いられて低いループでペレット8と吊りリード7と
の間に橋絡されているため、ペレット8が保持用ワイヤ
9によって堅牢に固定される。このため、ペレット8の
各電極パッド8bと各インナリード5群との位置関係を
確実に維持することができ、ワイヤボンディング作業を
より一層適正かつ効率良く実行させることができる。し
かも、保持用ワイヤ9が超音波ボンディング方式によっ
てボンディングされているため、保持用ワイヤ9の剛性
はより一層高められることになる。
【0042】ワイヤ・ボンディングされた多連リードフ
レーム1には各単位リードフレーム毎に樹脂封止体11
が、図5に示されているトランスファ成形装置を使用さ
れて単位リードフレーム2群について同時に成形され
る。
【0043】図5に示されているトランスファ成形装置
50はシリンダ装置等(図示せず)によって互いに型締
めされる一対の上型51と下型52とを備えており、上
型51と下型52との合わせ面には上型キャビティー凹
部53aと下型キャビティー凹部53bとが互いに協働
してキャビティー53を形成するようにそれぞれ複数組
没設されている。上型51の合わせ面にはポット54が
開設されており、ポット54にはシリンダ装置(図示せ
ず)により進退されるプランジャ55が成形材料として
の樹脂(以下、レジンという。)を送給し得るように挿
入されている。下型52の合わせ面にはカル56がポッ
ト54との対向位置に配されて没設されているととも
に、複数条のランナ57がポット54にそれぞれ接続す
るように放射状に配されて没設されている。各ランナ5
7の他端部は下側キャビティー凹部53bにそれぞれ接
続されており、その接続部にはゲート58がレジンをキ
ャビティー53内に注入し得るように形成されている。
また、下型52の合わせ面には逃げ凹所59がリードフ
レームの厚みを逃げ得るように、多連リードフレーム1
の外形よりも若干大きめの長方形で、その厚さと略等し
い寸法の一定深さに没設されている。
【0044】前記構成に係る多連リードフレーム1が用
いられて樹脂封止体11がトランスファ成形される場
合、上型51および下型52における各キャビティー5
3は各単位リードフレーム2における正方形枠形状のダ
ム部材4の内側空間にそれぞれ対応される。
【0045】トランスファ成形時において、前記構成に
かかる多連リードフレーム1は下型52に没設されてい
る逃げ凹所59内に、各単位リードフレーム2における
ペレット8が各キャビティー53内にそれぞれ収容され
るように配されてセットされる。このとき、ペレット8
は保持用ワイヤ9によって吊持された状態でキャビティ
ー53内において保持されている。
【0046】続いて、上型51と下型52とが型締めさ
れ、ポット54からプランジャ55により成形材料とし
てのレジン60がランナ57およびゲート58を通じて
各キャビティー53に送給されて圧入される。
【0047】このとき、本実施例においてはペレット8
がタブにより固定されていないため、ゲート58から圧
入されたレジン60がペレット8に吹き当たることによ
り、ペレット8が移動される危険性がある。しかし、本
実施例においては、キャビティー53内においてペレッ
ト8は4本の保持用ワイヤ9によって固定されているた
め、ペレット8が移動されることは防止される。
【0048】注入後、レジンが熱硬化されて樹脂封止体
11が成形されると、上型51および下型52は型開き
されるとともに、エジェクタ・ピン(図示せず)により
樹脂封止体11群が離型される。そして、このように樹
脂成形された樹脂封止体11の内部には、ペレット8、
インナリード5、接続用ワイヤ10および保持用ワイヤ
9が樹脂封止されることになる。この状態においては、
保持用ワイヤ9に保持されているペレット8は樹脂封止
体11によって固定された状態になる。
【0049】その後、多連リードフレーム1はリード切
断成形工程において各単位リードフレーム毎に順次、リ
ード切断装置(図示せず)により、外枠3およびダム部
材4を切り落された後、リード成形装置(図示せず)に
より、アウタリード6を所望の形状に屈曲成形される。
【0050】以上のようにして、図1に示されている前
記樹脂封止形QFP・ICが製造されたことになる。
【0051】ところで、前記構成にかかるQFP・IC
は出荷前に環境試験検査を実施される。環境試験検査と
しては、バーンイン試験、高温高湿バイアス試験、プレ
ッシャクッカ試験、および温度サイクル・熱衝撃試験等
が実施される。特に、高温高湿バイアス試験、およびプ
レッシャクッカ試験は耐湿性能(アルミニウム配線の腐
食)を検査するため、温度、湿度、バイアスが加速され
て実行される。また、QFP・ICがプリント配線基板
等に実装される際、はんだディップやリフローはんだ処
理によっても、高温高湿状況が現出されることがある。
【0052】このような環境試験または実装時に熱スト
レスが樹脂封止形パッケージを備えたICに加えられた
場合、タブを有する従来のICにおいては、ペレットの
シリコン、樹脂封止体の樹脂およびタブの金属の熱膨張
係数差によって樹脂封止体にクラックが発生する。すな
わち、これら三者の熱膨張係数差による機械的応力によ
って、タブと樹脂封止体との境界面に剥がれが発生し、
この剥がれに水分が侵入して水蒸気爆発を起こすと、樹
脂封止体にタブのコーナー部を起点とするクラックが発
生する。
【0053】しかし、本実施例においては、タブが廃止
されているため、ペレットのシリコン、樹脂封止体の樹
脂およびタブの金属の三者の熱膨張係数差によるタブと
樹脂封止体との境界面に剥がれが発生することは、必然
的に有り得ない。また、ペレットのシリコンと樹脂封止
体の樹脂との熱膨張係数差を小さく抑制することは可能
であるため、熱膨張係数差による機械的応力の大きさ自
体を小さく抑制することができ、その結果、ペレット8
と樹脂封止体11との境界面に剥がれが発生する事態を
防止することができる。そして、ペレット8と樹脂封止
体11との境界面における剥離現象が防止される結果、
その剥離空間に水分が侵入して水蒸気爆発を起こす現象
を回避することができるため、樹脂封止体11にペレッ
ト8のコーナー部を起点とするクラックが発生するのを
未然に防止することができる。
【0054】前記実施例によれば次の効果が得られる。 (1) ペレット8と吊りリード7との間に保持用ワイ
ヤ9を橋絡することにより、ペレット8を保持用ワイヤ
9によって樹脂封止体11の内部において保持すること
ができるため、ペレットを固定するためのタブを省略す
ることができる。したがって、ペレット8と樹脂封止体
11の樹脂との間に金属製のタブが介在する場合に比べ
て、熱膨張係数差による熱ストレスの影響が抑制される
ため、樹脂封止体11にクラックが発生するのを防止す
ることができる。
【0055】(2) ペレット8のコーナー部にそれぞ
れ形成された保持用ボンディングパッド8bに4本の保
持用ワイヤ9をそれぞれ橋絡してペレット8のコーナー
部を4本の保持用ワイヤ9によって保持するように構成
することにより、接続用ワイヤ10のワイヤボンディン
グ作業に際して、ペレット8とインナリード5群との位
置関係を維持することができるため、接続用ワイヤ10
のワイヤボンディング作業を適正かつ効率良く実行させ
ることができる。
【0056】(3) 同様に、樹脂封止体11の成形作
業に際して、4本の保持用ワイヤ9によってペレット8
を堅牢に固定することができるため、トランスファー成
形装置50のキャビティー53に圧入されたレジン60
によってペレット8が動かされるのを防止することがで
きる。
【0057】(4) 保持用ワイヤ9を極太で剛性の高
いアルミニウムワイヤ材を用いて低いアーチでペレット
8と保持用リード9との間に橋絡することにより、ペレ
ット8が保持用ワイヤ9によってより一層堅牢に固定さ
れるため、前記(1)、(2)および(3)の効果をよ
り一層確実に発揮させることができる。しかも、保持用
ワイヤが超音波ボンディング方式によってボンディング
することにより、保持用ワイヤの剛性はより一層高めら
れることになる。
【0058】(5) タブを廃止することにより、ペレ
ット8とインナリード5との距離および接続用ワイヤ1
0の長さを短く設定することができるため、接続用ワイ
ヤ10同士の接触による短絡不良の発生の可能性を抑制
することができるとともに、インダクタンスの低減によ
り高周波動作性能を高めることができる。
【0059】(6) タブを廃止することにより、ペレ
ット8の大きさがタブの大きさに制約を受けるのを必然
的に回避することができるため、ペレットの設計の自由
度を高めることができる。また、タブの厚さの分だけ、
QFP・ICの厚さを薄く構成することができる。
【0060】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
【0061】例えば、保持用ワイヤはアルミニウムワイ
ヤ材を使用するに限らず、剛性の大きい金属材料または
非金属材料のワイヤ材を使用することができる。
【0062】また、接続用ワイヤは金ワイヤ材や銅ワイ
ヤ材を使用するに限らず、アルミニウムワイヤ材を使用
してもよい。
【0063】4本の保持用ワイヤはペレットの4箇所の
コーナー部に配線するに限らず、適当な間隔を置いて中
間部に配線してもよい。要は、4本の保持用ワイヤはペ
レットの遊動を防止する状態に配線すればよい。
【0064】吊りリードはクランド端子として使用して
もよい。
【0065】保持用ワイヤをペレットと吊りリードとの
間に橋絡するワイヤボンディング作業と、接続用ワイヤ
をペレットとインナリードとの間に橋絡するワイヤボン
ディング作業とは、別のステージにおいて実施するに限
らず、所謂マルチワイヤボンディング装置を使用して同
一のステージにおいて同時に実施してもよい。
【0066】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である樹脂封
止形QFP・ICに適用した場合について説明したが、
それに限定されるものではなく、樹脂封止形パッケージ
を備えているIC等の半導体装置全般に適用することが
できる。
【0067】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
【0068】半導体ペレットと吊りリードとの間に保持
用ワイヤを橋絡することにより、半導体ペレットを保持
用ワイヤによって樹脂封止体の内部において保持するこ
とができるため、半導体ペレットを固定するためのタブ
を省略することができる。したがって、半導体ペレット
と樹脂封止体の樹脂との間に金属製のタブが介在する場
合に比べて、熱膨張係数差による熱ストレスの影響が抑
制されるため、樹脂封止体にクラックが発生するのを防
止することができる。また、タブが省略される分だけ、
樹脂封止形パッケージを備えている半導体装置の厚さを
抑制することができる。
【0069】半導体ペレットを4本の保持用ワイヤによ
って保持するように構成することにより、接続用ワイヤ
のワイヤボンディング作業に際して、半導体ペレットと
インナリード群との位置関係を維持することができるた
め、接続用ワイヤのワイヤボンディング作業を適正かつ
効率良く実行させることができる。同様に、樹脂封止体
の成形作業に際して、4本の保持用ワイヤによって半導
体ペレットを堅牢に固定することができるため、トラン
スファー成形装置のキャビティーに圧入されたレジンに
よって半導体ペレットが動かされるのを防止することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である樹脂封止形QFP・I
Cを示しており、(a)は一部切断平面図、(b)は
(a)のb−b線に沿う正面断面図である。
【図2】ペレットと吊りリードとの間に保持用ワイヤが
橋絡されている状態を示しており、(a)は一部省略平
面図、(b)は(a)のb−b線に沿う正面断面図であ
る。
【図3】そのペレットと吊りリードとの間に保持用ワイ
ヤが橋絡される工程を示す一部切断正面図である。
【図4】接続用ワイヤのワイヤボンディング後を示す拡
大部分平面図である。
【図5】樹脂封止体の成形工程を示す縦断面図である。
【符号の説明】
1…多連リードフレーム、2…単位リードフレーム、3
…外枠、4…ダム部材、4a…ダム、5…インナリー
ド、6…アウタリード、7…吊りリード、8…半導体ペ
レット、8a…電極パッド、8b…保持用ボンディング
パッド、9…保持用ワイヤ、10…接続用ワイヤ、11
…樹脂封止体、12…樹脂封止形QFP・IC(半導体
装置)、20…超音波式ワイヤボンディング装置、21
…フィーダ、22…真空吸着チャック、23…XYテー
ブル、24…ボンディングヘッド、25…ボンディング
アーム、26…ウエッジ(ボンディングツール)、27
…超音波発生装置、28…クランパアーム、29…クラ
ンパ、30…ガイド、31…アルミニウムワイヤ材、3
2…リードフレーム押さえ具、50…トランスファ成形
装置、51…上型、52…下型、53…キャビティー、
54…ポット、55…プランジャ、56…カル、57…
ランナ、58…ゲート、59…リードフレーム逃げ凹
所、60…樹脂(レジン、成形材料)。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体ペレットと、半導体ペレットの周
    囲に配設されている複数本のインナリードと、半導体ペ
    レットの電極および各インナリードに両端部をボンディ
    ングされて橋絡されているワイヤと、半導体ペレット、
    インナリードおよびワイヤを樹脂封止する樹脂封止体と
    を備えている半導体装置において、 前記インナリードとは別の吊りリードと前記半導体ペレ
    ットとの間に橋絡された4本の保持用ワイヤにより、前
    記半導体ペレットが前記樹脂封止体の内部において保持
    されていることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 4本の保持用ワイヤが、半導体ペレット
    の四隅にそれぞれ配線されていることを特徴とする請求
    項1に記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 保持用ワイヤが、剛性の高いワイヤ材が
    用いられて低いアーチで超音波ボンディング方式によっ
    て橋絡されていることを特徴とする請求項1または請求
    項2に記載の半導体装置。
JP6164520A 1994-06-23 1994-06-23 半導体装置 Pending JPH088285A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6164520A JPH088285A (ja) 1994-06-23 1994-06-23 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6164520A JPH088285A (ja) 1994-06-23 1994-06-23 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH088285A true JPH088285A (ja) 1996-01-12

Family

ID=15794730

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6164520A Pending JPH088285A (ja) 1994-06-23 1994-06-23 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH088285A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1154551A (ja) * 1997-08-04 1999-02-26 Matsushita Electron Corp 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JPH1174421A (ja) * 1997-08-30 1999-03-16 Mitsui High Tec Inc 複合型半導体装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1154551A (ja) * 1997-08-04 1999-02-26 Matsushita Electron Corp 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JPH1174421A (ja) * 1997-08-30 1999-03-16 Mitsui High Tec Inc 複合型半導体装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100462105B1 (ko) 수지밀봉형 반도체장치의 제조방법
US9324644B2 (en) Semiconductor device
US9502339B2 (en) Resin-encapsulated semiconductor device and its manufacturing method
KR101131353B1 (ko) 반도체 장치
KR101286874B1 (ko) 반도체 장치 및 그 제조 방법
JP2003243600A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2004048022A (ja) 半導体集積回路装置の製造方法
JPH1167809A (ja) 半導体装置
JP2003282809A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH088285A (ja) 半導体装置
JPH10135399A (ja) 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用されるリードフレーム
JPWO2004030075A1 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH05144865A (ja) 半導体装置の製造方法と製造装置
WO2006090196A1 (en) Rectangular bond pad and method of wire bonding the same with an elongated ball bond
JPH05114688A (ja) 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用されるリードフレーム
JPH02181956A (ja) 半導体装置
JPH03276667A (ja) 半導体装置
JP2000031369A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH06177313A (ja) 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用されるリードフレーム
JPH11195743A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH07142645A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH09246310A (ja) 半導体装置
KR100949443B1 (ko) 와이어 테일 커팅부를 갖는 와이어 본더 및 이를 이용한와이어 본딩방법
JPH06140550A (ja) 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用されるリードフレーム
JPH0637221A (ja) 樹脂封止型半導体装置