JPH0877372A - アウトライン塗りつぶし装置 - Google Patents

アウトライン塗りつぶし装置

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JPH0877372A
JPH0877372A JP6230345A JP23034594A JPH0877372A JP H0877372 A JPH0877372 A JP H0877372A JP 6230345 A JP6230345 A JP 6230345A JP 23034594 A JP23034594 A JP 23034594A JP H0877372 A JPH0877372 A JP H0877372A
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JP
Japan
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scan line
outline
painting
storage unit
coordinates
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Pending
Application number
JP6230345A
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English (en)
Inventor
Yukio Yamamoto
由紀雄 山本
Osamu Sagata
修 佐潟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 塗り残しを防止し、高品質の塗りつぶしを行
なう。 【構成】 塗りつぶし処理部3は、スキャンラインごと
にアウトラインとの交点の座標を求めてそれらの交点座
標間の画素の塗りつぶしを行なう。これらの交点座標は
前スキャンライン情報格納部1に格納される。一方、補
正ルール格納部2には現在のスキャンラインより前のス
キャンラインの交点座標と、現在のスキャンラインの交
点座標との相互関係により、現在のスキャンラインの交
点座標を補正するルールが格納されている。そして、塗
りつぶし処理部3は、前スキャンライン情報格納部1に
格納された現在より前のスキャンラインの交点座標によ
り、1又は2以上前のスキャンラインにおける塗りつぶ
し状態を参照しつつ、補正ルールに従った塗りつぶし補
正を行なう。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ベクトルによって表現
された文字のアウトラインの内部をスキャンライン毎に
塗りつぶす場合にスキャンラインとアウトライトの交点
を補正するようにしたアウトライン塗りつぶし装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、文字のアウトラインの内側を塗り
つぶす方法としては、各種の方法があるが、一例として
以下のような方法がある。まず、画面の一番上側におい
てそこの画素(ピクセル)の中央に水平方向のスキャン
ラインを引く。そして、そのスキャンラインが文字のア
ウトラインと交わらない場合には、次の行のピクセルの
中央にスキャンラインを引く。スキャンラインがアウト
ラインと交わった場合には、各交点のX座標(水平方向
の座標)を求める。そして、各交点の間にあるピクセル
を塗りつぶす。このような処理を画面上のすべてのスキ
ャンラインについて順次行なって、塗りつぶしを完了さ
せる(例えば、Super ASCII Vol.2 #8 August 1991「DTP
の基礎技術(5)」参照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の技術には、次のような課題があった。即ち、塗
りつぶすべき部分が細く、スキャンラインに対してアウ
トラインの傾斜が緩やかであり、スキャンラインとアウ
トラインとが平行に近いような場合には、図7に示すよ
うに塗り残しができてしまう。このため、アウトライン
では連続している部分であっても、塗りつぶしを行なっ
た後はとぎれてしまい、文字の印字品質が低下してしま
うという課題があった。一方、このような塗りつぶしの
とぎれ(ドロップアウト)を防止するため、スキャンラ
インの方向に1ドット余分に塗りつぶす方法が考えられ
る。ところが、ドロップアウトは、1ドットであるとは
限らず、2ドット以上である場合もあり、その場合、依
然としてドロップアウトが生じることになる。また、こ
の方法では、無条件に1ビット余分に塗りつぶすため、
塗りつぶし後に元のアウトラインの形状が忠実に残され
ないおそれがある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のアウトライン塗
りつぶし装置は、上述した課題を解決するため、以下の
点を特徴とするものである。 (1) 現在のスキャンラインより前のスキャンラインとアウ
トラインとの交点の座標を格納する前スキャンライン情
報格納部を備える。 当該前スキャンライン情報格納部に格納された交点の
座標、及び現在のスキャンラインとアウトラインとの交
点の座標の相互関係により、現在のスキャンラインとア
ウトラインとの交点の座標を補正するためのルールを予
め格納した補正ルール格納部を備える。 当該補正ルール格納部に格納されたルールに従って、
現在のスキャンラインとアウトラインとの交点の座標を
補正し、補正後の交点間の画素を塗りつぶす塗りつぶし
処理部を備える。 (2)前スキャンライン情報格納部は、現在のスキャン
ラインより1つ前のスキャンラインとアウトラインとの
交点の座標のみを格納する。
【0005】
【作用】
(1)塗りつぶし処理部は、スキャンラインごとにアウ
トラインとの交点の座標を求めてそれらの交点座標間の
画素の塗りつぶしを行なう。これらの交点座標は前スキ
ャンライン情報格納部に格納される。一方、補正ルール
格納部には現在のスキャンラインより前のスキャンライ
ンの交点座標と、現在のスキャンラインの交点座標との
相互関係により、現在のスキャンラインの交点座標を補
正するルールが格納されている。そして、塗りつぶし処
理部は、前スキャンライン情報格納部に格納された現在
より前のスキャンラインの交点座標により、1又は2以
上前のスキャンラインにおける塗りつぶし状態を参照し
つつ、補正ルールに従った塗りつぶし補正を行なう。こ
の結果、比較的単純な補正処理により、処理速度をほと
んど低下させずに、高品質の塗りつぶしを行なうことが
できる。
【0006】(2)(1)において、前スキャンライン
情報格納部は、現在のスキャンラインより1つ前のスキ
ャンラインとアウトラインとの交点の座標のみを格納す
るようにした結果、使用メモリ量の増大を最小限に抑制
することができる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細
に説明する。図1は、本発明のアウトライン塗りつぶし
装置の一実施例のブロック図である。図示の装置は、前
スキャンライン情報格納部1、補正ルール格納部2、塗
りつぶし処理部3等から成る。前スキャンライン情報格
納部1は、RAM等から成り、現在より1つ前のスキャ
ンラインとアウトラインとの交点のX座標(水平方向の
座標)を格納する。
【0008】補正ルール格納部2は、現在のスキャンラ
イン上の交点の座標を、1つ前のスキャンライン上の交
点の座標に基づいて補正するためのルールを格納してい
る。このような補正ルールは、1つ前のスキャンライン
上の画素の塗りつぶし部分と、現在のスキャンライン上
の画素の塗りつぶし部分とを連続させるようなものであ
る。この補正ルールの一例を後述する図6に示す。塗り
つぶし処理部3は、補正ルール格納部2に格納された補
正ルールに従って補正された後の交点間の画素を塗りつ
ぶす処理を行なう。現スキャンライン情報格納部4は、
RAM等から成り、現在のスキャンラインとアウトライ
ンとの交点のX座標を一時的に格納する。即ち、現スキ
ャンライン情報格納部4に格納されたX座標は、塗りつ
ぶし処理部3により前スキャンライン情報格納部1に格
納されたX座標と比較され、補正ルールに従って補正さ
れる。その後、補正後のX座標によりビットマップデー
タが作成される。
【0009】次に、上述した装置の動作を説明する。塗
りつぶし処理部3には、例えば、図2に示すようなアウ
トラインのデータ(各スキャンラインのX座標)が入力
される。図2において、アウトラインと平行な矢印はア
ウトラインの向きを示す。塗りつぶしは、このアウトラ
インの向きに対して左側の画素について行なわれる。図
2中の格子(グリッド)で囲まれた正方形は画素(ピク
セル)を示す。図2のアウトラインの塗りつぶし結果
は、例えば、図3に示すようになる。一方、図4におい
ては、図2のアウトラインの上部の一部のみを示す。こ
の図4を参照してスキャンコンバージョンによる塗りつ
ぶし手順を説明する。
【0010】スキャンラインはすべてピクセルの中央に
引くものとする。まず、図4(a)では横方向のスキャ
ンライン11を引く。このスキャンライン11はアウト
ライン10と交わっていない。そこで、図4(b)で次
のスキャンライン12を引く。このスキャンライン12
はアウトライン10と交わっている。従って、スキャン
ライン12とアウトライン10との交点を求める。次
に、図4(c)で各交点のX座標を整数化する。これに
より、各交点が格子上からずれている場合は、それらの
交点が左右どちらか近い方の格子上に揃えられる。
【0011】その後、図4(d)で各交点の間にあるピ
クセルを塗りつぶしてビットマップを作成する。アウト
ラインには、図2の矢印に示すように方向があるので、
各交点についてその左右どちら側を塗りつぶすべきかを
判断できる。このようにして、スキャンコンバージョン
を用いた塗りつぶし処理が行なわれ、図3に示すような
塗りつぶし結果が得られる。次に、上述した塗りつぶし
において、ドロップアウトが生じる場合の補正処理の動
作について説明する。図5は、補正を伴なう場合の塗り
つぶし処理手順を説明するフローチャートである。ま
た、図6に、補正ルールの一例を示し、図7に、ドロッ
プアウトの発生状況を示し、図8に、塗りつぶし補正状
況を示す。
【0012】即ち、図7(a)及び(b)に示すよう
に、塗りつぶすべき部分が細くスキャンラインに対する
傾斜が緩やかな場合には、ドロップアウト(1)〜
(4)が発生してしまう。ドロップアウト(1)、
(4)では、2ドットの塗り残しが生じており、また、
ドロップアウト(2)、(3)では、1ドットの塗り残
しが生じている。図5においては、図6の補正ルールに
従い、補正を伴なう塗りつぶしを行ない、図8のよう
に、ドロップアウトのない塗りつぶしを行なう。まず、
図5のステップS1では、前スキャンライン情報格納部
1の内容を空にする。即ち、前スキャンライン情報格納
部1には、現在より1つ前のスキャンラインとアウトラ
インとの交点のX座標が格納されるが、1番先頭のスキ
ャンライン0についてはその前にスキャンラインがない
ので、その内容を“0”とする。
【0013】次に、ステップS2では、図8(a)に示
すようにスキャンライン0を引く。そして、ステップS
3では、スキャンライン0とアウトラインとの交点を求
める。ステップS4では、交点の格子合せ処理を行な
う。即ち、交点のX座標の整数化を行なう。この結果、
図8に示すように、交点はL0、R0、L10、R10
になる。ステップS5では、前スキャンライン情報格納
部1を参照する。この場合は、ステップS1によりその
内容は空になっている。ステップS6では、補正ルール
に従い、補正処理を行なうが、スキャンライン0につい
ては補正ルールは適用されない。
【0014】ステップS7では、交点の間にあるピクセ
ルを塗りつぶす。この結果、図8に示すように、L0と
R0の間のピクセル及びL10とR10の間のピクセル
が塗られる。ステップS8では、現在のスキャンライン
の情報(L0とR0のX座標及びL10とR10のX座
標)を前スキャンライン情報格納部1に格納する。そし
て、ステップS2に戻り、スキャンライン1を引く。ス
テップS3、S4の処理は、スキャンライン0の時の処
理と同様である。ステップS5では、前スキャンライン
情報格納部1を参照する。これにより、前スキャンライ
ンであるスキャンライン0の情報が得られる。ステップ
S6では、図6に従い、補正処理を行なう。これによ
り、補正ルール格納部2内のルールが適用されて、R1
は1つ右へ移動する。また、L11は1つ左へ移動す
る。
【0015】即ち、図6(a)、図7(a)、図8
(a)では、L1<R1<L0<R0ならば、R1をL
0と等しくするという補正ルールを適用している。ま
た、図6(b)、図7(b)、図8(b)では、L10
<R10<L11<R11ならば、L11をR10と等
しくするという補正ルールを適用している。これらのル
ールは、フォントに応じて自由に変更することができ、
例えば、図6(a)で、L1<R1<L0<R0なら
ば、R1をL0+1とするようにしてもよい。また、L
1<R1<L0<R0か否かという条件式の方を変更
し、例えば、2つ前のスキャンラインの情報も考慮した
条件式としてもよい。
【0016】ステップS7、S8の処理はスキャンライ
ン0の時と同様である。このように、ステップS2から
S8までの処理が最終のスキャンラインのスキャニング
が終了するまで繰り返される(ステップS9)。このよ
うな処理がなされる結果、作成されるビットマップデー
タには、図8に示すように、ドロップアウトは発生しな
くなる。以上のようにして、アウトラインの塗りつぶし
後、文字の一部がとぎれることを防止することができ
る。また、上述した実施例の装置は現スキャンラインの
1つ前の前スキャンラインのみを参照して現スキャンラ
インのみを補正する方法であるため、処理が単純であ
り、処理速度もほとんど低下せず、余分にメモリを使用
することもない。
【0017】尚、本発明は上述した実施例に限定される
ものではなく、種々の変形が可能であることはもちろん
である。例えば、上述した実施例では、スキャンライン
が水平方向でスキャニングが画面の上から下に行なわれ
る場合について説明したが、スキャニングが画面の下か
ら上に行なわれる場合も同様であり、スキャンラインが
垂直方向で、スキャニングが画面の右又は左から行なわ
れる場合も同様である。また、スキャンラインとアウト
ラインとの交点が2点の場合の塗りつぶしについて説明
したが、交点が3点以上の場合の塗りつぶしも図2に示
すようにアウトラインの方向を考慮しつつ同様に行なう
ことができる。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のアウトラ
イン塗りつぶし装置によれば、現スキャンラインの1つ
前のスキャンラインの情報を参照して現スキャンライン
の情報を補正するようにしたので、塗りつぶすべき部分
が細く、スキャンラインに対してアウトラインの傾斜が
緩やかであり、スキャンラインとアウトラインとが平行
に近いような場合にも、塗り残しが生じないようにする
ことができる。このため、アウトラインで連続している
部分が塗りつぶしを行なった後にとぎれることを防止で
き、文字の印字品質を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のアウトライン塗りつぶし装置の一実施
例のブロック図である。
【図2】アウトラインの一例の説明図である。
【図3】塗りつぶし結果の一例の説明図である。
【図4】スキャンコンバージョンの手順の説明図であ
る。
【図5】塗りつぶし処理手順を説明するフローチャート
である。
【図6】補正ルールの一例の説明図である。
【図7】ドロップアウトの発生状況の説明図である。
【図8】塗りつぶし補正状況の説明図である。
【符号の説明】
1 前スキャンライン情報格納部 2 補正ルール格納部 3 塗りつぶし処理部 4 現スキャンライン情報格納部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 現在のスキャンラインより前のスキャン
    ラインとアウトラインとの交点の座標を格納する前スキ
    ャンライン情報格納部と、 当該前スキャンライン情報格納部に格納された交点の座
    標、及び現在のスキャンラインとアウトラインとの交点
    の座標の相互関係により、現在のスキャンラインとアウ
    トラインとの交点の座標を補正するためのルールを予め
    格納した補正ルール格納部と、 当該補正ルール格納部に格納されたルールに従って、現
    在のスキャンラインとアウトラインとの交点の座標を補
    正し、補正後の交点間の画素を塗りつぶす塗りつぶし処
    理部とから成ることを特徴とするアウトライン塗りつぶ
    し装置。
  2. 【請求項2】 前記前スキャンライン情報格納部は、現
    在のスキャンラインより1つ前のスキャンラインとアウ
    トラインとの交点の座標のみを格納することを特徴とす
    る請求項1記載のアウトライン塗りつぶし装置。
JP6230345A 1994-08-31 1994-08-31 アウトライン塗りつぶし装置 Pending JPH0877372A (ja)

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JP6230345A JPH0877372A (ja) 1994-08-31 1994-08-31 アウトライン塗りつぶし装置

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JP6230345A JPH0877372A (ja) 1994-08-31 1994-08-31 アウトライン塗りつぶし装置

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JPH0877372A true JPH0877372A (ja) 1996-03-22

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ID=16906400

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JP6230345A Pending JPH0877372A (ja) 1994-08-31 1994-08-31 アウトライン塗りつぶし装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010009350A (ja) * 2008-06-27 2010-01-14 Fujitsu Microelectronics Ltd ライン描画方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010009350A (ja) * 2008-06-27 2010-01-14 Fujitsu Microelectronics Ltd ライン描画方法
US9129437B2 (en) 2008-06-27 2015-09-08 Cypress Semiconductor Corporation Line plotting method

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